DE2734361A1 - Adressenwaehlschaltung fuer halbleiterspeichereinrichtungen - Google Patents
Adressenwaehlschaltung fuer halbleiterspeichereinrichtungenInfo
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Description
— S —
2 7 3 A 3 f3
Die Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiterspeichereinrichtung
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Sie betrifft im einzelnen eine Adressenwählsrhaltung und insbesondere
die Adre^senwahl für eine Halbleiterspeichereinrichtung, welche Feldeffekttransistoren mit isolierter Gate-Elektroue
verwendet (nachstehend der Einfachheit halber mit "FET" bezeichnet).
In einer herkömmtichen Halbleiterspeichereinrichtung, beispielsweise
einem Speicher mit wahlfreiem Zugriff mit 4096
Speicherzellen (nachstehend der Einfachheit halber mit "4KRAM" bezeichnet), welcher beispielsweise in den Figuren 1,
3 und 5 der US-Patentschrift 3 969 706 beschrieben ist, werden die Zahl 6-Bit-Zeilen- und 6-Bit-Spaltenndressendaten
zugeführt zu sechs Adresseneingangsstiften, wobei jeder Adresseneingangsstift verbunden ist mit Zeilen- und Spalten-Adressenpuff
erschaltungen, von denen jede ein Adresseneingangssignal A. von TTL (Transistor-Transistor-Logik)-Niveau
empfängt, um wahre und komplementäre Signale a ^ und a~ voll
MIS- oder MOS-Niveau zu erzeugen, und diese Signale a. und a7
verwendet werden zum Treiben von Reihen- und Spalten-Dekodern für das Wählen einer bestimmten Speicherzelle. Tn einer derartigen
4KRAM-Einrichtung müssen für jeden Adresseneingangsstift
zwei Adressenpufferschaltungen (für Reihen-Adressenwahl und Spalten-Adressenwahl) vorgesehen sein, so daß die benötigten
Adressenpufferschaltungen insgesamt 12 (6x2*12) sind. Das Vorsehen einer großen Anzahl von Adressenpufferschaltungen
würde die folgenden Probleme herbeiführen: Im Falle eines Speichers mit wahlfreiem Zugriff, welcher eine große Kapazität
hat, würde zu viel Energie verbraucht werden. Die Integration der Schaltungsdichte kann nicht verbessert werden. Die
Eingangskapazität an dem Adresseneingangsstift wird groß. Fehl-
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operationen, wie beispielsweise fehlerhafte Adressenwahl, treten aufgrund der damit verbundenen Erhöhun,; der Anzahl
von periphären Schaltungen leicht auf, so daß die Zuverlässigkeit der Gesamtschaltungsanordnung gering ist.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Adressenwählschaltung für eine Halbleiterspeichereinrichtuns;
zu schaffen, in welcher der Energieverbrauch gering ist. Ein anderes Ziel der Erfindung liegt darin, eine Adressensignalsetzschal
tung (Adressenpufferschaltuiig) zu schaffen, welche
mit geringem Energieverbrauch stabil arbeitet. Ein weiteres Ziel der Erfindung ist es, eine Adressenwählschaltung zu schaffen,
welche eine verringerte Anzahl von Adressensignalsetzschal tungen aufweist und daher mit geringem Energieverbrauch
arbeiten kann. Ein noch weiteres Ziel der Erfindung liegt in der Schaffung einer Adressenwählschaltung, deren Integrationsdichte
verbessert werden kann. Schließlich ial ea noch jin
Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Adressenwählschaltung zu schaffen, welche eine kleinere Eingttngskupazität an jedem
Adresseneingangsstift, eine hohe Stabilität und eine hohe Zuverlässigkeit aufweist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Kennzeichenmerkmale
des Anspruchs 1 gelöst. Weitere Erfindungsmerkmale ergeben sich aus den Ansprüchen 2 bis 9.
Erfindungsgemäß wird also bei Adreusenwähluchaltung für eine
Halbleiterspeichereinrichtung ein Adresseneingangssignal A. für jedes gegebene Bit von Adressendaten zugeführt zu einer einzelnen
Adressensignalsetzschaltung, um eine Gruppe von zwei unter»
echiedlichen logischen Signalen a,, und aT in Übereinstimmung
mit dem Zustand des Adresseneingangssignals zu erzeugen, wobei die Gruppe von logischen Signalen a^ und a"^ zugeführt wird zu
einer Zeilen-Dekodertreiberschaltung sowie zu einer Spalten-Dekodertreiberschaltung,
welche jeweils angeschlossen sind an Reihen- und Spalten-Dekoderschaltungen, und wobei die Reihen-
und Spalten-Dekodertreiberschaltungen jeweils getrieben werden durch Reihen- und Spalten-Dekodertreibertaktsignale, um gewählte
Reihen- und Spalten-Dekoder zu treiben, so daß vorgegebene Rei-
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hen- und Spalten-Leitungen gewählt werden.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von in der Zeichnung schematisch dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine Adressenwählschaltung gemäß einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 Signalwellenformen .ur Erläuterung der Arbeitsweise
der in Fig. 1 gezeigten Schaltung,
Fig. 3 in schematisierter Darstellung ein Ausführungsbeispiel
der Erfindung, in welchem die in Fig. 1 gezeigte Adressenwählschaltung
auf eine 4KRAM-Einrich'ung angewandt
ist, und
Fig. 4 einen Teil einer ^KRAM-Einrichtung, welche vom Erfinder
vorgeschlagen wurde, öedo h nicht die Merkmale der
vorliegenden Erfindung enthält.
Vor Beschreibung der Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung
wird anhand der Fig. 1I eine 4KRAM-Einrichtung erläutert,
welche vom Erfinder vorgeschlagen wurde, ,jedoch nicht die Merkmale
der vorliegenden Erfindung enthält.
Fig. 4 zeigt einen Teil einer '!KRAM-Einrichtung, welche sechs
äquivalente Eingangsschaltungen mit sechs Adresseneingangsstiften aufweist, welchen sechs Adresseneingangosignale Aq-Ac Jeweils
zugeführt werden, von denen nur ein Adresseneingangssignal Aq als einem Speicherzellenabschnitt zugeordnet dargestellt
ist. Line X(Zeile)-Leitungsadresoensignalsetzschaltung 10 wird durch ein Treibersignal 0χ angetrieben, um das Adresseneingangesignal
Aq von TTL-Niveau in zwei unterschiedliche Signale
Sq und Bq" von MIS- oder MOS-Niveau (VDD-Niveau) umzuwandeln,
und eine X(Zeile)-L6itungedekodertreiberechaltung 11 gibt X-Dekodertreibersignale
aQX und Sq^ ab. Andererseits wird eine
Y(Spalte)-Leitungs-Adressensignalsetzschaltung 12 angetrieben
durch ein Treibersignal 0γ und wandelt das Adresseneingangs-
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signal A0 von TTL-Niveau in zwei unterschiedliche Signale ao
und ΊΪΖ von MIS-Niveau um, und eine Y(Spalte)-Leitungs-Dekodertreiberschaltung
13 gibt zwei Y-Dekodertreibersignale aQY und
a0Y ab. Somit ist das in Fig. 4 dargestellte Ausführunßabeispiel
eine Adressenwählschaltung, bei welcher ein Adresseneingangssignal A0 X- und Y-Adressensignalsetzschaltungen zugeführt
wird, um X- und Y-Dekodiereinrichtungen zu treiben. Die Adressensignalsetzschaltung wird auch mit Adressenpuffer- oder
Verklinkungsschaltung bezeichnet.
Nachstehend wird die Verbindung mit der Speicherzelle beschrieben.
In Fig. 4 bezeichnen die Bezugsziffern 4a una 4d X(Zeile)-Leitungs-Wähldekoder,
die Bezugsziffern 6a bis 6h Torschaltungen und 7a und 7b selektive Vorverstärker. Die Speicherzellen
8a bis 8p, welche mit X- und Y-Leitungen verbunden sind, sind durch die selektiven Vorverstärker 7a und 7b in zwei
symmetrisch zueinander angeordneten Gruppen geteilt. Die Wirkung einer derartigen symmetrischen Aufteilung liegt darin,
die Differentialstörung im Eingangssignal zu den Vorverstärkern
zu verringern. Ferner empfangen zur Verringerung der Ausgangsbelastungskapazität
der Adressenpufferschaltung die X-Dekoder
4a bis 4d nicht nur die Ausgangsgrößen aQX und B0x der
Treiberschaltung 11, welcher das Adressensignal Aq zugeführt
wird, sondern auch die Ausgangsgrößen von den anderen Treiberschaltungen, welclieu die anderen Adressensignale (A^-Ac)
zugeführt werden. Darüber hinaus werden gemäß Fig. 4 zwei Torschaltungen durch einen Dekoder getrieben (beispielsweise die
Torschaltungen 6a und 6b für den Dekoder 4a), so daß zweckmäßigerweise
ein einzelner Dekoder eine 2-Bit-Konfiguration schaffen kann. Das Paar von Torschaltungen empfängt Bit-Wählsignale
0YA und 0YTi, welche unterschiedliche Phasen haben und durch
die anderen Adressensignale gesteuert werden, damit die Türschaltungen nicht gleichzeitig Ausgangsgrößen M1" abgeben.
T(Spalte)-Leitungs-Wähldekoder 5a und 5b empiangen die Ausgangsgrößen
a^Y und &QY der Y-Dekodertreiberschaltung 13 sowie ebenfalls
die Ausgangsgrößen von den anderen Treibe schaltungen, welchen
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die anderen Adressensignale (A^-A1-) zugeführt werden. Die
Ausgangsgrößen der Y-Dekoder 5a und 5b werden an I/O(Eingangs/
Ausgangs)-Pufferschaltungen 9a und 9b gegeben. FET-Transistoren
Q und Q, dienen zum Vorbelasten der Leitungen (d.h. Ziffernleitungen) zu den selektiven Vorverstärkern 7a und 7b
bei einem V^p-Niveau zur Zeit des Nichtwählens des Plättchens
(CE) ι d.h. wenn das Plättchen nicht gewählt wird, und die
FET-Transistören Q und Qd dienen zum Vorbelasten der Leitungen
(d.h. Ziffernleitunpren) zu den selektiven Vorverstärkern 7a und 7b bei einem V^p-Niveau zur Zeit des Nichtwählens des
Plättchens.
Bei der Schaltung gemäß Fig. 4- ist zu bem. rken, daß jeder der
nur vier X-Dekoder und nur zwei Y-Dekoder .'ediglich der besseren
Übersichtlichkeit halber in der Zeichnung nur drei Eingänge
hat. Tatsächlich erzeugen die den anderen Adresseneingangssignalen A^. bis A1- zugeordneten X-Dekodertreiberschaltungen jeweils
ihre Ausgangsgrößen a,.x, β,.χ bis a™, a^ , und jeder
X-Dekoder hat fünf Eingänge, welchen die Aunpjangssignale aQX,
a1X' a2X» a3X und a4X Jewe^s zugeführt werden bei einer geeigneten
Kombinaten der »ahren Eigen größe und <\qt Komplementärgröße ihrer Signale. Beider gesamten Einrichtung sind 32 (=? )
X-Dekoder und folglich 64 (=2x3*0 Torschaltungen vorgesehen.
Beispielsweise empfängt der erste X-Dekoder βφχ, a1X» a2X*
a^y und a^y, der 16. X-Dekoder empfängt β^χ, a^y, a^y, a^y
und a,x, der 17. X-Dekoder empfängt aQX, a^x, a2X» a3X und a4x
und der 32. X-Dekoder empfängt aQX, a^x, a^x, β,χ und β^χ .
Die Ausgangsgrößen a^x und a^x der X-Dekodertreiberschaltung,
welche dem Adresseneingangssignal Ar zugeordnet fet, werden für
die Bit-Wählsignale 0χΑ und 0^ verwendet, welche den Torschaltungen
6a bis 6h zugeführt werden. Andererseits ist zu bemerken, daß jeder Y-Dekoder sechs Eingänge hat, zu welchen die Ausgangsgrößen
&0Y* a-iY» a2Y' a3Y' a4Y un<* a5Y von sec^s den Adresseneingangssignalen
Aq-Ac zugeordneten Y-Dekodertreiberschaltungen
jeweils zugeführt werden bei einer geeigneten Kombination der wahren Edgengröße und der Komplementärgröße ihrer Signale.
In der gesamten Einrichtung sind 64 Y-Dekoder vorgesehen.
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Beispielsweise empfängt der erste Y-Dekoder Bqy' aiy» a2Y»
a3Y* a4Y und a5Y' "1^
a2Y» *3T« %Ύ xmd a5Y*
a3Y* a4Y und a5Y' "1^ der 6^* Y~Dekoder empfängt
Entsprechend den Adressenwählschaltunfren mit einer derartigen
Anordnung wie oben beschrieben werden iie den gewählten Adressen entsprechenden X- und Y-Adressensignalsetzschaltungen
gesetzt, die mit den X- und Y-Adressensignalsetzschaltungen verbundenen
X- und Y-Dekoder werden getrieben und gewünschte X- und Y-Leitungen werden gewählt, um die in der Speicherzelle
gespeicherte Information zu verarbeiten.
Jedoch benötigt die oben beschriebene Adressenwählschaltung zwei Adressensigaalsetzschaltungen (für X-Adressenwahl und Y-Adressenwahl)
für jedes Adresseneingangssignal. Das heißt, es werden 12 Adressensignalsetzschaltungen für eine vollständige
4KRAM-Einrichtung benötigt und somit treten die folgenden
Probleme auf: Die 12 Adressensignalsetzachaltungen (Adressenpuff
er schal ti igen), welche in einer 4-KRAM-Einrichtung verwendet
werden, verbrauchen t;ine ziemlich hohe Energie, was
insbesondere für einen Speicher mit wahlfreiem Zugriff (RAM) ,welcher
eine größere Kapazität hat, ungünstig ist. Ferner wirkt sich die Tatsache, daß eine große Anzahl von Adressenpufferschal
tungen verwendet werden, nachteilig auf die Verbesserung in der Integrationsdichte aus und erhöht auch die Eingangskapazität an jedem Adresseneingangsstift. Außerdem führt die
sich ergebende Erhöhung der Anzahl von periphären Schaltungen zur Erhöhung der Gefahr von Fehloperationen, wie beispielsweise
fehlerhafte Adressenwahl etc., so daß die Zuverlässigkeit der Einrichtung gering wird.
Die vorliegende Erfindung wurde gemacht, um diese Probleme zu
beseitigen.
Fig. 1 zeigt eine Adressenwählschaltung gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung. Wie in deser Zeichnungsfigur gezeigt, wird
ein Adresseneingangssignal A0 einer Adressensignalsetzschaltung
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(Adressenpufferschnltung) 1 zugeführt, deron Ausgangsgrößen
aQ und äT einer X(Zeile)Leitungs-Dekodertreiberschaltung 2
und einer Y(Spalte)-Leitungswähl-Dekodertreiberschaltung 3
zugeführt werden. Die X-Dekodertreiberschaltung 2 wird durch
ein X-Dekodertreiber-Taktsignal 0χ angetrieben, während die
Y-Dekodertreiberschaltung 3 durch ein Y-Dekodertreiber-Taktsignal
0γ angetrieben wird, welches mit Bezug auf das Taktsignal
0y phasenverzögert ist. X- und Y-Dekoder (nicht dargestellt)
v/erden auf eine Zeitteilweise durch die Ausgangsgrößen der Treiberschaltungen angetrieben.
Die AdressensignnlsetzschEi1 tung (Adresnenpufferschaltung) 1
ist mit einer dynamischen Flipflopschaltung versehen, welche die FET-Transistoren CL· bis Qg umfaßt, um den Energieverbrauch
zu verringern. Eine Quellspannung V^p (12 V) wird den Drain-Elektroden
der Last-FET-Transistoren Q^ und Q2 zugeführt, deren
Gate-Elektroden mit einem Last-FET-Transistor-Treibersignal 0Q (14· V) versorgt wird, welches ein Spannungr.niveau hat, das
hoch genug ist, um eine Ausgangsgröße abzugeben, die der Quellspannung an ,jedem der Ausgangsknotenpunkte 8q und äTT der Adrossensignalsetzschaltung
1 zur Zeit der Plättchenwahl gleich ist. Für die Treiber-FET-Transistoren Q, und Q1^ ist die Gate-Elektrode
eines FET-Transistors verbunden mit der Drain-Elektrode des anderen und ihre Source-Elektroden sind gemeinsnm mit einem
Bezug- oder Erdpotential durch den Steuer-FET-Transistor Qg
verbunden, dessen Gate-Elektrode durch ein Adressenpuffertreibersignal
0o gesteuert wird.
Um diese Flipflop-Schaltung unausgeglichen zu machen, wird das
Verhältnis W/L der Kanalbreite W zur Kanallänge L des FET-Transistors
Q^ unterschiedlich zu dem des FET-Transistors Q^
gemacht, so daß die Steilheit gm des FET Q^ großer ist als
die des FET O5.
D ;r FET Qc, dessen Gate-Elektrode durch ein Flipflop-Rücksetzsignal
0^ gesteuert wird, ist vorgesehen zum Rücksetzen der Ausgangsknotenpunkte
Bq und a^ der Adressensetzschaltung 1 zu dem-
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selben Potentialniveau, wenn die Kapazitäten C^ und C2 an
den Knotenpunkten aQ und aT geladen werden. Zwischen die
Drain-Elektrode des FET Q, und das Bezugs- oder Erdpotential
ist eine Reihenschaltung der FET-Transistören Qr7 und Q8 geschaltet.
Die Gate-Elektr ,de des Adresseneingangs-FET Q1-, wird
mit den Adresseneingangssignal AQ beaufschlagt und die Gate-Elektrode
des Steuer-FET Q8 wird durch das Adressenpuffertreibersignal
02 gesteuert.
Die X-Dekodertreiberschaltung 2 weist eine parallele Verbindungsschaltung
von in Serie geschalteten Treiber-FET-Transistoren Q^0 und Q^2 ^d in Serie geschalteten Treiber-FET-Transistoren
Q,. und Q^, auf . Der Ausgang i^ der Adressensignal setzschaltung
1 wird auf die beiden FET-Transistören Q^0 und
Q^, aufgeprägt, und der Ausgang ä^ der Schaltung 1 wird auf
die beiden FET-Transi stören Q^2 und Qx.^ aufgeprägt. Am Ende
der parallelen Vfrbindungssdi altung ist die Quellspannung VDD
über einen Steuer-FET Qq angeschaltet, deren Gate-Elektrode
durch ein X-Dekodertreiber-Taktsignaü 0y gesteuert wird. Die
Adressensignalsetzschaltung 1 ist mit der X-Dekodertreiberschaltung
2 über IJbertragungs-FET-Transi stören Q^ und Q'^zj.
verbunden, welche das Taktsignal 0χ empfangen. Die Ausgangsgröße
B.QY wird von dem Verbindungspunkt der in Serie geschalteten
FET-Transistören Q^0 und Q^2 abgenommen, während die
Ausgangsgröße aQX von dem Verbindungspunkt der in Serie geschalteten
FET-Transi stören Q^-- und Q^., abgenommen wird. Die
FET-Transistören Q^r, Q^g» Q25 und Q125» deren Gate-Elektroden
durch ein Zeilen(oder X)-Adressenabtastimpulssignal RAS gesteuert
werden, sind vorgesehen, um ein Schwanken der Ausgangsgrößen su verhindern.
Die Y-Dekodertreiberschaltung 3 ist ähnlich der X-Dekodertreiberschaltung
2 ausgebildet. Insbesondere ist eine parallele Verbindungsschaltung von in Serie verbundenen Antriebs-FET-Transistoren
Q^8 und Q20 und in Serie geschalteten Antriebe-FET-Transistören
Q^q und Q2^ vorgesehen. Die Ausgangsgröße aQ
der Adressensignalsetzschaltung 1 wird auf die Gate-Elektroden
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der Treiber-FET-Q^Q und Q2 aufgeprägt über einen Ubertragungs-FET
Qop» welcher ein Y-Dekodertreibertaktsignal 0γ
empfängt. Andererseits wird die Ausgangsgröße a^ auf die
Gateelektroden der Treiber-FET-Transistoren Q20 "1^ Q^Q auf~
geprägt über einen tJbertragungs-FET Q*22i welcher ebenfalls
das Y-Dekodertreibertaktsignal 0γ empfängt. Ein Ende der
Parallelverbindungsschaltung ist mit der Quellspannung Vj^
verbunden über einen Steuer-FEl l*n, dessen Gateelektrode
durch das Taktsignal 0y gesteuert wird. Die Ausgangsgrößen
aQY und a-νγ werden jeweils von dem Verbindungspunkt der in
Serie , eschalteten FET-Transistören Q^q und O** und dem Verbindungspunkt
der in Serie geschalteten FET-Transistören
und Qp0 abgenommen. Die FET-Tr ansi stören O2*, Qp/f» Q26
Q'26, deren Gate-Elektroden durch ein Spalten Coder Y)-Adressenabtastimpulssignal
CAS gesteuert werden, sind vorgesehen, um ein Schwanken der Ausgangsgrößen zu verhindern.
Sämtliche oben genannten FET-Transistoren sind vom n-Kanal-Anreicherungs-Isolierschicht-Typ.
Nachfolgend wird die Funktionsweise der Adressenwahl in der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 1 erklärt anhand der Fig. 2,
welche Signalwellenformen zeigt, die bei der Erläuterung der
Betriebsweise der in Fig. 1 gezeigten Schaltung nützlich sind·
Gemäß Fig. 2 hat das Signal 0Q zum Treiben der Last-FET-Transistören
Q. und Q2 der Adreseensignalsetzschaltung 1 ein
erstes Spannungsniveau (8 V) während einer Periode vom Zeitpunkt tQ bis zum Zeitpunkt t2» so daß die Last-FET-Transistören
Q^ und Q2 leitend sind. Entsprechend sind die den Ausgangsknotenpunkten
Bq und aT zugeordneten Kapazitäten CL und
C2 aufgeladen bis zur Hälfte (6 V) der Quell spannung VDD (12 V)
über die Last-FET-Transistören Q,. und Q2. Andererseits hat
das Flipflop-Rücksetzsignal 0^ ein hohes Niveau während der
Periode von tQ bis t2, so daß der FET Qc leitend ist. Infolgedessen
werden die Kapazitäten C^ und C2 genau auf dasselbe
Niveau (6 V) zurückgesetzt.
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Wenn das Plipflop-Rücksetzsignal 0^ das Bezugspotential-Niveau
(GND) über den Zeitpunkt T, hinaus annimmt, wird der FET Q,-ausgeschaltet.
Inzwischen steigI das Last-FET-Antriebssignal
0O von dem eraten Spannungsniveau auf ein höheres Niveau über
VDD + Δνΐ ^Vt = Vth + ^Vth^ und daner können die dem Quellspannungsniveau
Vjjjj entsprechenden Spannungswerte, welche den
Drain-Elektroden der Last-FET-Transistoren Q1 und Q2 aufgeprägt
werden, von den Source-Elektroden der Last-FET-Transistoren Q^ und Q2 abgenommen werden. Zur gleichen Zeit nimmt das Adressenpuff
ertreibersignal 02 das Niveau VDD an, so daß der FET
Qc eingeschaltet wird, um die in den Kapazitäten CL und G2
gespeicherten Ladungen freizugeben. Infolgedessen wird die Adressensignalsetzschaltung 1 in einen der beiden Zustände
entsprechend de;· Beschaffenheit oder dem Wert des Adresaeneingangssignals
AQ gesetzt.
Wenn das Adresseneingangssignal Aq auf einem niedrigen oder
nOM-Niveau ist, wird der FET Qn, welchem das Signal Aq aufgeprägt
wird, abgetrennt, so daß die dem Aungangsknotenpunkt aQ zugeordnete Kapazität C2 ihre gespeicherte Ladling als
einon Strom I2 entlädt, welcher durch den Antriebs-FET Q,
und den FET Q^- fließt, während die in der dem Ausgangsknotenpunkt
aQ zugeordneten Kapazität C^. gespeicherte Ladung als
ein Strom I-. freigegeben wird, welcher durch den Antriebs-FET Q^ und den FET Q6 fließt. Da die Steilheit gffl des Antriebs-FET
Q^ größer gemacht ist als die des Antriebs-FET Qx, wie oben beschrieben, ist die Kapazität CL früher aufgeladen,
als die Kapazität G2, so daß die Ausgangsgrößen aQ und
Üq" jeweils beim niedrigen ("Ο") und hohen ("1") Niveau gesetzt
werden.
Andererseits ist, wenn das Adresseneingangssignal A0 in einem
hohen oder "1"-Niveau ist, der FET Q« leitend. Polglich werden
die in der dem Ausgangsknotenpunkt a^ zugeordneten Kapazität
Co gespeicherten Ladungen als ein Strom I2 durch die
PET-Transistoren Q, und Qg sowie ein Strom I,. durch die FET-Transistoren
Qr7 und Qq freigegeben. Und wenn die Steilheit
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der FET-Transistören Q,, Q^, Q6 und Q1-; derart gewählt werden,
daß .,. + I2 >I7, entlädt sich die Kapazität C2 früher als
die Kapazität C., so daß die Ausgangsgrößen aQ und Üq" jeweils
bei dem hohen ("1") und niedrigen ("O")-Niveau gesetzt werden.
Somit wird die dynamische Flipflop-Schaltung, welche die Antriebs-FET-Transistoren
Q5, und Q^ mit unterschiedlichen Steilheiten
aufweisen, für eine Adrecsensignalsetzschaltung verwendet.
Daher ist es, wenn der Unterschied zwischen den Steilheiten groß genug gemacht wird, möglich, zu verhindern, daß eine
kleine Differenz zwischen C1 und C2 eine Feliloperation herbeiführt,
in welcher die Adressensignalsetz^-haltung 1 unabhängig
von dem Adresseneingangssignal Aq gesetzt wird.
Wie oben beschrieben, gibt, wenn das Eingang^signal Aq das niedrige
Niveau hat, die Adressensignalsetzschaltung 1 die GND- und VDD-Niveau-Signale an den Ausgangsknotenpunkten a0 und a^
ab. Dann nimmt zum Zeitpunkt t^ das X-Dekodertreiber-Taktsignal
0χ das Vßjj-Niveau an, um einen Betrieb der X-Dekodertreiberschaltung
2 zu bewirken. Folglich werden die Ausgangsgröße aQy
von GND-Niveau und diö Ausgangsgröße eÜqT von VD,(-Niveau erzeugt
in Übereinstimmung mit der GND-Niveau-Ausgangsgröße aQ und der V^-Niveau-Ausgangsgröße "äZ der Adressensignalsetzschaltung
1, so daß der X-Dekoder eine vorgegebene X-Leitung wählt· Wenn das Y-Adressenabtastimpulssignal CAS das GND-Niveau annimmt,
nach Beendigung der X-Adressenwähloperation, nimmt das
Last-FET-Treibersignal 0Q entsprechend das hohe Niveau (höher
als Vp1J+ AVj.) und das Adressenpuff ertreibersignal 02 nimmt
das Vjjjj-Niveau an. Infolgedessen wird die Flipflop-Schaltung
gesetzt, so daß, wenn das Adresseneingangsr.ignal Aq beispielsweise
das hohe Niveau aufweist, die Ausgangsgrößen aQ und 8Lq*
sich jeweils beim Vpp- bzw. GND-Niveau befinden. Gleichzeitig
mit der Änderung des Spalten-Adressen-Abtastimpulssignals CAS nimmt das Y-Dekodertreiber-Taktsignal 0γ das V^-Niveau an,
so daß die Y-Dekodertreiberschaltung 3 betätigt wird, um ihre
Ausgangsgrößen aoy und a0Y, welche das hohe bzw. das GND-Niveau
haben, zu erzeugen. Demzufolge wird der Y-Dekoder getrieben,
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um eine vorgegebene Y-Leitung zu wählen.
Zur Zeit des Nichtwählens eines Plättchens, wenn beide Signale
RAS und CAS auf dem hohen Niveau sind, sind die ein Schwanken der Ausgangsgröße verhindernden FET-Transi stören Q^c, Q-iß1
Q23» Q24» Q25* Q*25' Q26 und Ql26 leitend» u* die Ausgangsgrößen
auf dem GND-Niveau zu halten, so daß eine fehlerhafte
Adressenwahl aufgrund einer Störung niemals eintritt.
Wie aus der Erläuterung der Betriebsweise leicht einzusehen, bilden die PET-Transistoren Q^0 und Q^2» die FET-Transistoren
Q^.^ und Qxixi die PET-Transistoren Q^ß und 0,0 sowie die FET-Transistoren
Q^ und Q2,, in den X- und Y-Dekodertreiberschaltungen
2 und 3 gemäß Pig. 1 jeweils Gegentaktpuffer. Somit
hat jede der X- und Y-Dekodertreiberschaltungen 2 und 3 eine
große sogenannte Treibfähigkeit zum Treiben von Dekodern.
Pig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel, in welchem die oben beschriebene
Adressenwählschaltun.; gemäß der vorliegenden Erfindung auf eine ^KRAM-Einrichtung angewandt ist»
Die dargestellte erfindungsgemäße Adressenwählschaltung weist
eine Adressensignalsetzschaltung (oder Adressenpufferschaltung)
1, welcher das Adresseneingangssigna] Aq zugeführt wird, sowie
Je eine X (Zeile)- und Y(Spalte)-Dekodertreiberschaltung
2 bzw· 3 auf, welchen die Ausgangsgrößen a0 und Bq" der AdreseeneignalsetZBChaltung
1 gemeinsam aufgeprägt werden. Die Anordnung und die Verbindungen zwischen den X(Zeile)-Dekodern
4a bis 4-d, den Torschaltungen 6a bis 6h, den Speicherzellen
8a bis 8p, den selektiven Vorverstärkern 7a und 7b, den Y(Spalte)-Dekodern
5a und 5b und den Eingangs-Ausgangs-Schaltungen
9a und 9b entsprechen vollkommen denen gemäß Fig. 4, so daß
zur Vermeidung von Wiederholungen auf die dortigen Ausführungen Bezug genommen wird.
Ein Merkmal des Ausführungsbeispiels gemäii Fig. 3 liegt darin,
daß das Halbleiterplättch en 20 zwischen jedem der Adressen-
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eingangsstifte AQ bis A,- und den X- und Y-Dekodern eine
Adressensignalsetzschaltunß und X- und Y-Dekodertreiberschaltungen
aufweist, zu welchen die Ausgangsgröße der Adressensignalsetzschaltung gemeinsam zugeführt wird.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung der erfindungsgemäßen Ausführungsform ersichtlich, kann in dem Fall, in welchem
die Erfindung auf eine 4-KRAM-Einrichtung angewandt wird,
die 4KRAM-Einrichtung realisiert werden durch Vorsehen von
nur 6 Adressensignalsetzschaltungen oder Pufferschaltungen für 6 Adresseneingangssignale Aq bis A^.
Gemäli der vorliegenden Erfindung kann somit die Anzahl der
Adressenpufferschaltungen kleiner sein verglichen mit der
herkömmlichen Halbleiterspeichereinrichtung, so daß der Energieverbrauch beträchtlich verringert worden kann. Die
vorliegende Erfindung verwendet 6 Adressenpufferschaltungen,
während die in Fdg. 4 gezeigte Einrichtung 12 Adressenpufferschaltungen
verwendet, und somit beträgt die durch die Pufferschaltungen bei der Erfindung verbrauchte Energie nur etwa
die Hälfte der Energie, welche durch die Pufferschaltungen in der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 4- verbraucht wird.
Ferner ermöglicht die Verringerung der Anzahl der verwendeten Pufferschaltungen eine Verbesserung in der Integrationsdichte,
und die Verringerung der Anzahl von Adresseneingangsstifen und der Anzahl von periphfiren Schaltungen stellt eine
stabile Funktion und eine hohe Zuverlässigkeit der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung sicher. Ferner sind erfindungsgemäß
die ein Schwanken der Ausgangsgrößen verhindernden FET-Transistoren vorgesehen, so daß eine fehlerhafte Adreseenwahl
verhindert und ein großer Störungespielraum erreicht werden kann. Die Taktimpulssignale 0χ und 0γ zum Treiben der X- und
Y-Dekoder auf eine Zeitteilweiee können auf bekannte Weise
durch Hindurchleiten der Zeilen- und Bpalten-Adressenabtastimpulssignale
RAS und CAS jeweils durch geeignete Verzögerungsstufen erzeugt werden (vgl. beispielsweise Figuren 3, ^1 5 und
der US-Patentschrift 3 969 706). Das Zeilen-Adressenabtastim-
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pulssignal RAS ist dasselbe wie ein gewöhnliches Plättchensteuersignal
(CE), während das Spalten-Adressenabtastimpulssignal
CAS durch ein Signal gebildet werden kann, welches man durch das verzögerte ÖAS-Signal und döj Y-Leitungswählsignal
erhält, das von außen zugeführt wird. Somit benötigt die Erfindung keine neue Schaltung, sondern nur übliche Schaltungen,
und der Steuermechanismus ist ebenfalls einfach, so daß die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung einfach und besonders
nützlich ist.
Die vorliegende Erfindung ist keinesfalls auf die oben beschriebene
Ausführungsform beschränkt, sondern kann zahlreiche Varianten umfassen.
Die konkrete Ausbildung der Adressensignalsetζschaltung (Adressenpuff
erschaltung) 1 kann von jeder Art sein, welche die gewünschte Funktion ermöglicht. Das gleiche gilt für die X- und
Y-Dekodertre iberschaltungen.
Beispielsweise können, um die Flipflop-Schaltung der Adressensignalsetzschaltung
unausgeglichen zu machen, entweder die den Ausgangsknotenpunkten zugeordneten Kapazitäten C1 und C2 oder
die Steilheiten ^ der Last-FET-Transistoren Q1 und Q2 unterschiedlich
zueinander gemacht werden.
In dem Fall, wenn die Kapazitäten C1 und C2 derart sind, daß
0I* °2» werden die Steilheiten ^1n der Last-FET-Transistoren
Q1 und Q2 einander gleichgesetzt und die Steilheiten der Treiber-FET-Transistoren
Q, und Q^ werden ebenfalls zueinander gleichgesetzt. Zum Zeitpunkt des Nichtwählens eines Plättchens
ist, wenn die Ausgangeknotenpunkte a« und a^ an demselben Potential
sind, die in der dem Auegangsknotenpunkt a^ zugeordneten
Kapazität C2 gespeicherte Ladung größer als die Ladung,
welche in der Kapazität C1 gespeichert ist, die mit dem Ausgang
sknotenpunkt B.Q verbunden ist. Wenn das Adresseneingangssignal
A0 auf dem niedrigen Niveau zur Zeit des Nichtwählens eines Plättchens ist, entlädt sich daher die Kapazität C1
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früher als die Kapazität C2. Dann werden die Ausgangsgrößen
aQ und Üq" auf das GND-Niveau bzw. das VDD-Niveau gesetzt.
Wenn das Adresseneingangssignal Aq auf dem hohen Niveau ist,
wird der PET Q7 eingeschaltet. In diesem Fall werden, da der
Pfad des Stroms I^ herbeigeführt ist, die Ausgangsgrößen aQ
und äüT auf die Niveaus VDp bzw. GND gesetzt.
Andererseits werden in dem Fall, wenn die Steilheit des Last-FET
Q,. größer gemacht ist als die des Last-FET Q2, die Ausgangskapazitäten
Oy. und C- und de Steilheiten der Antriebs-FET-Transistoren
Q^ und Q^ einander gleichgesetzt. Nachdem
die Ausgangsgrößen aß und a^ dasselbe Potential durch das
Leiten des FET Q,- zur Zeit des Nichtwählens eines Plättehens
angenommen haben, werden die in den mit den Ausgangsknotenpunkten verbundenen Kapazitäten gespeicherten Ladungen entladen
als Ströme Ip und I^ zum Zeitpunkt des Wählens eines
Plättehens. Wenn das Adresseneingangssignal AQ auf dem niedrigen
Niveau liegt, werden de Kapazitäten C1 und C2 über die
Last-FET-Transistören Q^. und Qo wieder aufgeladen. In diesem
Fall wird die Kapazität C2 früher aufgeladen als die Kapazität
C^, da die Steilheit des FET Q^ größer ist als die des
FET Q2, so daß die Ausgangsgrößen ä^ und aQ auf das VDD-Niveau
bzw. das GND-Niveau gesetzt werden. Wenn das Adresseneingangssignal Aq auf dem hohen Niveau ist, wird der FET Qn eingeschaltet.
Folglich entlädt sich die Kapazität C2 aufgrund der
Ströme I^ und I2 früher als die Kapazität C^, so daß die Ausgangsgrößen
Sq" und aQ auf das GND- bzw. VDD-Niveau gesetzt
werden.
Wenn auch X-und Y-Dekoderschaltungen, welche durch den Ausgang
der Adressenwahlschaltung getrieben werden, vorstehend beschrieben
und zeichnerisch dargestellt sind, können diese jede andere Ausbildung haben, welche die gewünschte Funktion ermöglicht.
Beispielsweise können sie durch die bekannte Anordnung gemäß Fig. 10 der US-Patentschrift 3 969 706 ersetzt werden.
Ferner wenn auch in dem oben beschriebenen besonderen Ausfüh-
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rungsbeispiel die vorliegende Erfindung bei einer ^KRAM-Einrichtung
angewandt wurde, ist darauf hinzuweisen, daß die Erfindung auf irgend einen Speicher mit wahlfreiem Zugriff
(RAM), wie beispielsweise einen 1KRAM oder einen 16KRAM,
angewandt werden kann.
Weiterhin sollen in dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel samtliche FET-Transistören vom n-Kanal-Anroicherungstyp sein,
jedoch erhält man dieselbe Wirkung durch Verwendung von FET-Transistoren vom p-Kanal-Anreicherungstyp anstelle der zuerst
genannten. In einem derartigen Fall ist es nur notwendig, die Polarität der verwendeten Energiequelle umzukehren.
Die vorliegende Erfindung ist in weitem Umfang anwendbar auf Adressenwählschaltungen für Halbleiterspeichereinrichtungen,
bei welchen sich die Notwendigkeit von zwei unterschiedlichen logischen Ausgangssignalen für jedes Adresseneingangssignal
ergibt.
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Claims (9)
1.) Halbleiterspeichereinrichtung mit einer Fatrix von in
Zeilen und Spalten angeordneten Speicherzellen, einer Adressenwählschaltung zum Treiben von Zeilen- und Spaltendekoderschaltungen,
welche mit den Zei'J en bzw. Spalten verbunden sind, gekennzeichnet durch eine Adressensignalsetzschal
tung (1) zum Empfangen eines Adresseneingangssignals (Aq) zur Erzeugung von zwei gewählten unterschiedlichen
Adressensetzsignalen (aQ1 äT) an ihren Ausgangsknotenpunkten
in Übereinstimmung mit dem Adresseneingangr,-signal,
eine Zeilen-Dekodertreiberschaltung (2), von welcher zwei Eingangsknotenpunkte jeweils mit den zwei Aus-
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gangsK.iotenpunkten der Adressensignalsetzschaltung gekoppelt
sind und von welcher zwei Ausgangsknotenpunkte mit der Zeilen-Dekoderschaltung gekoppelt sind, wobei
die Zeilen-Dekodertreiberschaltung anspricht auf ein Zeilen-Dcicodertreibertaktsignal (0γ) zur Erzeugung von
zwei unterschiedlichen 7*eilen-Dekodertreibersigualen
^a0X* any)' welche den zwei Adressensetüsignalen jeweils
entsprechen, an den Ausgangsknotenpunkten, sowie eine Spalten-Dekodertreiberschaltung (3)» von velcher zwei
Eingangsknotenpunkte mit den zwei Ausgangsknotenpunkten
der Adrtüsensignalsetzschaltung jeweils gekoppelt sind
und von welcher zwei Ausgangsknotenpunkte mit der Spalten-Dekoderschaltung
gekoppelt sind, wobei die Spalten-Dekodertreiberschaltung anspricht auf ein Spalten-Dekodertreibertaktsignal
(0γ) zur Erzeugung von zwei unterschiedlichen Spalten-Dekodertreibersignalen (aüf, aQY), welche jeweils
den zwei Adressensetzsignalen entsprechen, an den zwei Ausgangsknotenpunkten.
2. Adressenwählschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeilen- und Spalten-üekodertreibertaktsignale
zueinander phasenverschoben sind, wobei die Zeilen- und Spalten-Dekoderschaltungen in einer Zeitteilungsweise
angetrieben werden.
3. Adressenwählschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Adressensignalsetzschaltung aufweist
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a) eine Flipflop-Schaltungseinrichtung mit einem ersten und einem zweiten Treiber-Feldeffekttransistor (FET)
(Q,, Q^) und einem ersten und zweiten Last-FET (Q.,
Q2), wobei die Gate-Elektrode und die Drain-Elektrode des ersten Treiber-FET jeweils verbunden sind mit der
Drain-Elektrode und Gate-Elektrode des zweiten Treiber-FET, die Source-Elektroden des ersten und zweiten Treiber-FET
gemeinsam verbunden sind, der erste und zweite Last-FET (Qyj, Qo) jeweils geschaltet sind zwischen die
Drain-Elektrode des ersten Treiber-FET und ein erstes Bezugspotential (VDD) bzw. zwischen die Drain-Elektrode
des zweiten Treiber-FET und das erste Bezugspotential, die Drain-Elektroden des ersten und zweiten Treiber-FET
jeweils die zwei Ausgangsknotenpunkte der Adressensignalsetzschaltung
bilden und wobei die Gate-Elektroden des ersten und zweiten Last-FET durch ein erstes Taktsignal
(0O) gesteuert werden,
b) einen ersten Steuer-FET (Q6), welcher zwischen die
Source-Elektroden des ersten und zweiten Treiber-FET und ein zweites Bezugspotential (GND) geschaltet ist
und dessen Gate-Elektrode durch ein zweites Taktsignal (02) gesteuert wird,
c) eine Einrichtung (Q1-), welche auf ein drittes Taktsignal
(0^) anspricht, um die beiden Ausgangsknotenpunkte der
Adressensignalsetzschaltung auf dasselbe Potentialniveau
rückzusetzen, sowie
c) einen Adresseneingangs-FET (Q„) und einen zweiten Steuer-
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FET (Qg), welche in Reihe geschaltet sind zwischen die
Drain-Elektrode des ersten Treiber-ΐ'ΈΤ und das zweite
Bezugspotential, wobei die Gate-Elektrode des Adresseneingangs-FET
mit dem Adresseneingangssignal beaufschlagt
wird und die Gate-Elektrode des zweiten Steuer-FET gesteuert
wird durch das zweite TaktsJf^nal (0o).
4. Adressenwählschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Steilheiten des ersten und des zweiten Treiber-FET (Q*, Q^.) in der Adressensignalsetzschaltung
(Ό unterschiedlich zueinander sind.
5. Adressenwählschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Steilheiten des ersten und des zweiten Last-FET (Q/,, Qp) in der Adressensignalsetzschaltung (1)
unterschiedlich zueinander sind.
6. Adressenwählschaltung nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet,
daß die Adressensignalsetzschaltung (1) eine erste und eine zweite Kapazität (C^, C2) aufweist, welche
jeweils mit den zwei Ausgangsknotenpunkten gekoppelt sind und deren Werte unterschiedlich zueinander sind.
7. Adressenwählschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß jede der Zeilen- und Spalten-Dekodertreiberschaltungen (2, 3) aufweist
a) eine parallele Verbindungaschaltung von in Serie geschalteten
dritten und vierten Treiber-FET (Q^q»
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Q18, Q20) und in serie geschalteten fünften und
sechsten Treiber-FET (Q11, Q1^; Q1Q* °21^' wobei die
Gate-Elektroden der dritten und sechsten Treiber-FET gemeinsam verbunden sind und die Go te-Elektroden
der vierten und achten Treiber-FET gemeinsam verbunden sind und ein Ende der parallelen Verbindungsschaltung
angeschlossen ist an das zweite Boüugspotential,
b) einen dritten Steuer-FET (QqJQ17), welcher zwischen
das andere Ende der parallelen Verbindungsschaltung und das erste Bezugspotential geschaltot ist, sowie
c) erste und zweite ibertragungs-FET (Q1^1 Q'^? Q22*
Q'p?)» welche jeweils zwischen die zwei Ausgangsknotenpunkte
der Adresuensignalsetzschaltung (1) und die Gate-Elektroden der dritten und vierten Treiber-FET
geschaltet sind, wobei die Gate-Elektroden des dritten Steuer-FET und des ersten und zweiten Übertragungs-FET
in der Zeilen-Dekodertreiberschaltung gesteuert werden durch das Zeilen-Dekodertreibertaktsignal, der Verbindungspunkt
des dritten und vierten Treiber-FET und der Verbindungspunkt des fünften und sechsten Treiber-FET
in der Zeilen-Dekodertreiberschaltung jeweils die beiden Ausgangsknotenpunkte der Zeilen-Dekodertreiberschaltung
bilden, die Gate-Elektroden des dritten Steuer-FET und des ersten und zweiten Übertragungs-FET
in der Spalten-Dekodertreiberschaltung (3) gesteuert werden durch das Spalten-Dekodertreibertaktsignal, und
wobei der Verbindungspunkt des dritten und vierten
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-G-
Treiber-FET und der Verbindungspunkt des fünften und
sechsten Tieiber-FET in der Spalten-Dekodertreiberschaltung
jeweils die beiden Ausgangnknotenpunkte der Spalten-Dekodertreiberschaltung bilden.
8. Adressenwählschaltung nach Anspruch 7, duaurch gekennzeichnet,
daß ein Ausgangsgrößen-Schwanken verhindernde FET-Transistoren (Q,,g, Q1 c, Q'05» ^25^ deren Gate-Elektroden
durch ein Zeilen-Adressenabtastimpulssignal (feAS) gesteuert werden, jeweils mit den zwei Ausgang., knotenpunkten,
der Gate-ELektrode des dritten Treiber-Fi/T und der Gate-Elektrode
des vierten Treiber-FET in der Zeilen-Dekodertreiberschaltung (2) verbunden sind, und Ausgangsgrößen-Schwankungen
verhindernde FET-Transistoren (Q04.» Q^x» Q*26»
Q2ß), deren Gate-Elektroden durch ein Spalten-Abtastimpulssignal
(CAS) gesteuert werden, jeweils mit den zwei Ausgangsknotenpunkten,
der Gate-Elektrode des dritten Treiber-FET und der Gate-Elektrode des vierten Treiber-FET in der
Spalten-Dekodertreiberschaltung (3) verbunden sind.
9. Adressenwähleinrichtung für eine Halbleiterspeichereinrichtung mit einem Halbleiterplättchen, welches eine vorgegebene
Anzahl von Adresseneingangsstiften, denen Zeilen- und Spalten-Adressendaten zugeführt werden, sowie Zeilen- und
Spaltendekoderschaltungen aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleiter-Schaltungsplättchen (20) zwischen
jedem Adresseneingangsstift und den Zeilen- und Spalten-
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Dekodurschaltungen eine Adressensignal setzschaltung zum
Empfangen eines Adresseneingangssigna]3 von dem Adresseneingangsstift
zur Erzeupung einer Gruppe von zwei unterschiedlichen
logischen Signalen sowie Zeilen- und Spalten-Dekodertreibschaltungen aufweist, welcnun die Gruppe von
zwei unterschiedlichen logischen Signalen gemeinsam zugeführt wird.
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