DE2654945C2 - Auf dem EFG-Verfahren beruhendes Verfahren zur Herstellung von im wesentlichen ebenen, insbesondere im wesentlichen einkristallinen Bändern aus kristallinem Festkörpermaterial zur Verwendung für elektronische Festkörperanordnungen, insbesondere Halbleiterbauelemente und Solarzellen - Google Patents
Auf dem EFG-Verfahren beruhendes Verfahren zur Herstellung von im wesentlichen ebenen, insbesondere im wesentlichen einkristallinen Bändern aus kristallinem Festkörpermaterial zur Verwendung für elektronische Festkörperanordnungen, insbesondere Halbleiterbauelemente und SolarzellenInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 42
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 27
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 title description 20
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 17
- 239000011343 solid material Substances 0.000 claims description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 21
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 21
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000005231 Edge Defined Film Fed Growth Methods 0.000 description 18
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 15
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 8
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 8
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 5
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 5
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 5
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- XHXFXVLFKHQFAL-UHFFFAOYSA-N phosphoryl trichloride Chemical compound ClP(Cl)(Cl)=O XHXFXVLFKHQFAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N Trichloroethylene Chemical group ClC=C(Cl)Cl XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 241001233037 catfish Species 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001416181 Axis axis Species 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000089486 Phragmites australis subsp australis Species 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 244000309464 bull Species 0.000 description 1
- RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N cadmium telluride Chemical compound [Te]=[Cd] RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 239000008246 gaseous mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 210000003041 ligament Anatomy 0.000 description 1
- 239000006193 liquid solution Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000005499 meniscus Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 239000003238 silicate melt Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- IHQKEDIOMGYHEB-UHFFFAOYSA-M sodium dimethylarsinate Chemical class [Na+].C[As](C)([O-])=O IHQKEDIOMGYHEB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000006163 transport media Substances 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1804—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L31/182—Special manufacturing methods for polycrystalline Si, e.g. Si ribbon, poly Si ingots, thin films of polycrystalline Si
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
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- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/34—Edge-defined film-fed crystal-growth using dies or slits
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
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Description
(a) nach dem EFG-Verfahren ein aus dem Festkorpermaterial
bestehendes Rohr (12) mit flachovalem Querschnitt hergestellt wird, das aus zwei
sich mit vergleichsweise geringem Abstand gegenüberliegenden, im wesentlichen ebenen
Seitenwandungsabschnitten (14, 16) gebildet ist, die durch zwei sich mit vergleichsweise großem
Abstand gegenüberliegende Seltenkantenabschnitte 418, 20) miteinander verbunden sind,
und daß
(b) die Seitenkantenabschnitte (18, 20) von dem Rohr (12) abgetrennt werden, derart daß die
Seitenwandungsabschnitte (14, 16) diskrete Bänder (14/1, 16/1) bilden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtrennung der Seitenkantenabschnitte
(18, 20) von dem Rohr (12) durch selektives Herauslösen, insbesondere selektives Wegätzen,
vorgegebener berelche (24) des Rohrmatriais mit einem flüssigen Lösung!·,-, insb-iondere Ätzmittel,
erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 2. dadurch gekennzeichnet, daß zum selektiven Herauslösen bzw.
Wegätzen der vorgegebenen Berelche (24; das Rohr (12) mit einer gegenüber dem Lösungs- bzw. Ätzmittel
beständigen Schutzschicht (22) überzogen, diese Schutzschicht In den vorgegebenen Bereichen (24)
selektiv entfernt und sodann das Rohr (12) mit der Schutzschicht (22) der Behandlung mit dem Lösungsbzw. Ätzmittel ausgesetzt wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Festkörpermateriai aus Halbleitermaterial,
Insbesondere Silizium, besteht, dadurch gekennzeichnet, daß das Rohr (12) aus entsprechend
dotiertem P- bzw. N-Halbleltermaterlai hergestellt
wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß In dem aus Halbleitermaterial eines
ersten LeitfählgkelUtyps bestehenden Rohr (12) vor dessen Auftrennung an der Außenoberfläche des
Rohrs eine Zone entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps erzeugt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Rohr (12) aus
«-Aluminiumoxid hergestellt wird.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff
des Anspruchs 1. Ein derartiges Verfahren Ist beispielsweise aus der Veröffentlichung In Electronics,
4. April 1974, S. 99-111, bekannt.
Die Technologie der Herstellung von elektronischen Festkörperanordnungen mit Im wesentlichen ebenen
Oberflächen besitzt einen hohen Entwicklungsstand; die Herstellung von Solarzellen oder anderweitigen Anordnungen
mit im wesentlichen monokristallinen flachen Bändern aus Silizium oder einem anderweitigen Halbleitermaterial
läßt sich daher einfach verwirklichen.
Bekannt ist auch, daß dünne Bänder aus Silizium oder anderweitigen Werkstoffen durch Ziehen nach dem in
der US-PS 35 91 348 beschriebenen Verfahren herstellbar sind; (dieses Verfahren ist häufig unter der Bezeichnung
»EFG«-Verfahren bekannt, was als Abkürzung für »Edge-defined film-fed growth« steht und etwa als
»Ziehen aus einem Schmelzfilm mit Konfigurationsbestimmung durch Randkantenbegrenzung« wiedergegeben
werden kann). Nach diesem Verfahren lassen sich im v.-esentlichen einkristalline Körper aus Silizium oder
anderweitigem Material in verschiedenen Formgebungen mit kontrollierten Abmessungen, beispielsweise als
Rundstäbe, Rohre oder flache Bänder, mit Hilfe sogenannter Kapiliar-Formgebungsteiie ziehen, welcne auf
einer Kapillarwirkung zur Nachfüllung der durch das Kristallwachstum verbrauchten Schmelze beruhen. Nach
diesem EFG-Verfahren lassen sich unter Verwendung von Formgebungsteilen aus Graphit oder mit Siliziumkarbid
überzogenem Graphit in einfacher Weise Siliziumkörper vorgegebener Querschnittskonfiguration herstellen
(vgl. Mat. Res. Bull., Vol.7, 1972, S. 731-737). Bekannt sind ferner aus der bereits erwähnten US-PS
35 91 348 sowie auch aus der US-PS 36 87 633 verschiedene Formen von Formgebungstetien für das EFG-Verfahren,
die zur Herstellung von rohrförmigen Körpern bzw. von fischen Bändern verwendet werden
können. Durch kontrollierte Steuerung der Urrgebungsbedingungen des Ziehvorgangs und unter Verwendung
einer Siliziumschmelze von Halbleiterreinheitsgrad lassen sich auf diese Weise im wesentlichen einkristalline
Rohre oder Bänder aus Silizium mit einer Reinheit und rnii elektronischen Eigenschaften, wie sie sich für Halbleiteranordnungen
eignen, herstellen. Des weiteren ist es durch Einbringung geeigneter, den Leitfähigkeitstyp
bestimmender Verunreinigungin, ά.Ιΐ. se enannter
Dotierungssubstanzen, in die Schmelze möglich, nach dem erwähnten EFG-Verfahren Halbleiterkörper herzustellen,
die entweder P- oder N-Leltfähigkelt und einen
vorgegebenen spezifischen Widerstand besitzen. Die Zugabe einer Dotierungssubstanz zu einer Schmelze (aus
welcher ein Kristall gezogen wird) Ist beispielsweise bei
Verfahren vom Czochralskl-Typ üblich und geläufig.
Die Anwendung des EFG-Verfahrens zur Herstellung von Silizium-Band zum Zweck der Fabrikation ebener
Solarzellen ist deshalb attraktiv, da nach diesem Verfahren bandförmiges Material mit kontrollierten Querschnittsabmessungen
und kontrollierter Form sowie unbegrenzter Länge mit einer verhältnismäßig hohen
Wachstumsgeschwindigkeit erhalten werden kann, ja sogar mehrere Bänder gleichzeitig In ein und demselben
Kristallziehofen unter Verwendung mehrerer Formgebungstelle In einem einzigen Schmelztiegel gezogen
werden können. Jedoch besteht ein Problem bei derartigen EFG-Bändern hinsichtlich des Auftretens von
Defekten an den Rändern des Bandes. Obwohl hierüber noch keine vollständige Gewißheit besteht, darf man
annehmen, daß derartige Randdefekte aus der Form des Meniskus oder der Fest-Flüsslg-Grenzfläche an den
Bandrändern und/oder aus der Akkumulation von In der Schmelze vorliegenden Verunreinigungen an oder nahe
fi5 den Bandkanten resultieren. Diese Randdefekte sind
nachteilig und bedingen In vielen Fällen eine Nachbehandlung der Bänder zur Beseitigung dieser Defekte,
bevor die Bänder weiterverwendet werden können.
Der Erfindung liegt als Aufgabe die Schaffung eines Verfahrens dar eingangs genannten Art zugrunde, mit
dem in verhältnismäßig einfacher und billiger Vorgehensweise bandförmige Kristallkörper mit einer verbesserten
Qualität, insbesondere mit geringeren Randfeh- s lern, als dies bisher bei nach dem EFG-Verfahren hergestellten
Bändern möglich war, herstellbar sind.
Zu diesem Zweck ist bei einem Verfahren der vorstehend genannten Art gemäß der Erfindung vorgesehen,
daß (a) nach dem EFG-Verfahren ein aus dem Festkörpermaterial
bestehendes Rohr mit flach-ovalem Querschnitt hergestellt wird, das aus zwei sich mit vergleichsweise
geringem Abstand gegenüberliegenden, im wesentlichen ebenen Seitenwandungsabschnitten gebildet ist,
die durch zwei sich mit vergleichsweise großem Abstand gegenüberliegende Seltenkantenabschnltte miteinander
verbunden sind, und das (b) die Seitenkantenabschnltte
von dem Rohr abgetrennt werden, derart, daß die Seitenwandungsabschnitte diskrete Bänder bilden.
In der älteren DE-OS 25 37 099 ist die Verwendung von in beliebiger Weise, darunter aucb nach dem EFG-Verfahren,
hergestellten rohrförmigen Halbleiterkörpern für Solarzellen vorgeschlagen; die Rohrkörper können
mit unterschiedlichen Querschnitten ausgebildet sein und einen definierten Leitfähigkeitstyp aufweisen und
zur Erzeugung eines nahe an der Außenoberfläche gelegenen PN-Übergangs mit einer Zone entgegengesetzten
Leitfähigkeitstyps versehen werden. Jedoch bezieht sich dieser ältere Vorschlag gerade auf die Herstellung rohrförmiger
Solarzellen, in denen also das Enderzeugnis selbst ebenfalls rohrförmig ist. Ein Hinweis auf die
Herstellung von im wesentlichen ebenen Bändern aus dem kristallinen Material, beispielsweise für entsprechende
ebene Solarzellenaggregate, ist hieraus nicht zu entnehmen.
Nach dem Grundgedanken der Erfindung lassen sich demgegenüber ebene Bänder aus einem kristallinen Festkörpermaterial
In besonders einfacher und zugleich qualitativ verbesserter Vorgehensweise nach dem EFG-Verfahren
gewinnen, indem zunächst ein rohrförmiger Körper von flach-ovalem Querschnitt aus dem kristallinen
Festkörpermaterial hergestellt wird, aus welchem sodann durch Abtrennen der die im wesentlichen ebenen
Hauptflächen verbindenden Randabschnitte zwei ebene Bänder gewonnen werden. Bei der bevorzugten Anwendung
der Erfindung im Zusammenhang mit der Herstellung von Halbleiter-Solarzellen können die für die Zellen
erforderlichen PN-Übergänge durch geeignete Dotlerungs- bzw. Umdotlerungsbehandlung entweder der
rohrförmigen Körper selbst (d. h. vor dem Auftrennen) oder auch der aus diesen durch Auftrennung erhaltenen
Bänder erzeugt werden.
Infolge seines kontinuierlichen Querschnitts besitzt ein
rohrförmiger Körper keine mit den Längsseitenkanten eines Bandes vergleichbare Rand- oder Kantenbereiche.
Daher weisen rohrförmlge Körper nicht die Randkantenoberflächendefekte
auf, wie sie normalerweise an flachen Bändern oder anderweitigen Konfigurationen mit zwei
oder mehr definierten Seltenkanien auftreten. Insgesamt weist ein durch Ziehen nach dem EFG-Verfahren hergestellter
rohrförmiger Körper eine bessere Krlstalllnität auf als nach dem gleichen EFG-Verfahren unter denselben
Bedingungen hergestellte Bänder. Außerdem führt das Fehlen von Randkanten zu einer besseren Stabilität
während des Kristallwachstums, was eine größere Flexlbilltät
des Zlehvorgar.gs und damit eine höhere Qualität der Kristalle ermöglicht. Des weiteren lassen sich Siilzlumrohre
hoher Qualität mit kreisförmigem Querschnitt mit Ziehgeschwindigkeiten von bis zu 76 mm/min,
ziehen, während Siliziumband hoher Qualität im allgemeinen nur mit einer Geschwindigkeit von etwa
38 mm/min, gezogen werden kann. Rohre mit einer flach-ovalen Querschnittsform können mit der gleichen
Geschwindigkeit wie zylindrische Rohre gezogen werden.
Das Wesen der Erfindung besteht somit in der Herstellung von ebenen oder nahezu ebenen Bändern zur
Verwendung für elektronische Festkörperanordnungen, wobei zunächst ein im wesentlichen einkristallines Rohr
mit flach-ovalem Querschnitt durch Kristallziehwachstum
erzeugt und sodann dieses Rohr längsweise so aufgeschnitten wird, daß die gekrümmten Randabschnitte
entfernt und somit zwei diskrete Bänder erhalten werden, die zur Herstellung der elektronischen Anordnungen
verwendet werden können. Die Erfindung eignet sich zur Herstellung von Bändern aus verschiedenen Werkstoffen,
beispielsweise von Saphirbändem zur Verwendung als Substrat für integrierte Schaltungsanordnungen; im
folgenden werden als bevorzugte Anwendungsbeispiele der Erfindung die Herstellung von i.iziumbändem zur
Verwendung bei der Fabrikation von S' iarzeilen oder
anderweitigen Festkörperanordnungen beschrieben.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird zunächst ein flach-ovales Rohr von einem
ersten ' sltfähigkeitstyp hergestellt und dieses Rohr
sodann durch Abtrennen der gekrümmten Seitenabschnitte beschnitten, wodurch zwei flache Bänder erhalten
werden. Diese Bänder werden sodann zur Erzeugung von Solarzellen oder anderweitigen Anordnungen weiterbehandelt.
Beispielsweise kann jeweils jedes Band zur Erzeugung einer Zone eines zweiten, entgegengesetzten
Leitfähigkeitstyps behandelt werden, wobei an der Grenzfläche dieser Zone und der Zone des ersten Leitfähigkeitstyps
ein PN-Übergang erzeugt wird; anschließend werden sodann zur Herstellung einer Solarzelle Elektroden
auf die gegenüberliegenden breiten oder liauptoberflächen
des Bandes aufgebracht. Nach einer alternativen Ausführungsform der Erfindung wird zunächst ein flachovales
Halbleiterrohr hergestellt, das nicht überwiegend P- oder N-Leltfählgkeit besitzt. Dieses Rohr wird sodann
in zwei Bänder zerschnitten und die Bänder zur Herstellung einer Solarzelle oder anderweitigen elektronischen
Anordnung verwendet. Beispielsweise können die Bänder jeweils so behandelt werden, daß sich aufeinanderfolgend
anelnandergrenzende Zonen von P- und N-Leitfähigkelt ergeben, die miteinander einen P-N-Übergang
in solcher Anordnung bilden, daß er auf Sonnenstrahlung, »'eiche auf eine ausgewählte vorgegebene
Oberfläche des Randes aufirlfft, mit einem Photospannungsverhalten
anzusprechen vermag. Selbstverständlich können die Bänder wuch zur Herstellung von Schottky-Sperrschlcht-Anordnunge.i
verwendet werden.
Die Behandlung des Bandes zur Erzeugung von P-
und/oder N-Leitfähigkelt kann auf verschiedene, dem Fachmann bekannte Welsen erfolgen, beispielsweise
durch Eindiflundieren oder Ionenimplantation von Dotierungssubstanzen, oder durch Epitaxialabscheldung
von Material mit ausgewählter Leitfähigkeit. Die Art des
jeweils verwendeten Dotierungsmittels hängt von dem Material, aus welchem die flach-ovalen Rohre bestehen,
sowie auch von seinem Leitfählgkeitstyn ab. St/ kann
beispielsweise in N-Slllclum Bor zur Erzeugung einer P-Leltfählgkeltszone
eindiffundiert werden, während entsprechend beispielsweise Phosphor In P-Slllclum zur
Erzeugung einer N-Leltfäh!gkeltszone eindiffundiert werden kann. Die verschiedenen Dotierungszusätze, die
zur Beeinflussung des Leitfähigkeitstyps von Silicium
verwendet werden können, und die Art und Welse, auf welche derartige, den Leitfähigkeitstyp modifizierende
Verunreinigungen in einen Sillciumkörper eindlffundlert
werden können, sind bekannt. Die zur Beeinflussung des Leilfählgkeltstyps von anderen Werkstoffen, wie
beispielsweise Gallium-Arsenid, Cadmium-Tellurld usw. erforderlichen Dotierstoffe sind dem Fachmann ebenfalls
bekannt. Die Konzentration der Dotierstoffe wird In bekannter Welse so gesteuert, daß sich der gewünschte
spezifische Widerstand der P- und N-Bereiche ergibt. Beispielsweise wird für Slliclum-Solarzellen der spezifische
Widerstand derartiger Bereiche auf einem Wert von weniger als etwa 100 Ohm-cm gehalten, zur Erzielung
optimaler Umwandlungs-Wirkungsgrade soll er einen Wert zwischen etwa 0,001 bis etwa 10 Ohm-cm besitzen;
des weiteren soll zur Verbesserung des Wirkungsgrades der Sammlung der photoelektrisch erzeugten Ladungsträger,
die Tiefe des P-N-Übergangs von der als Strahlungscrnpfängcrflächc
fungierenden Oberfläche klein sein, vorzugsweise in der Größenordnung von V2 μιτι.
Die Auftrennung der flach-ovalen Rohre zur Gewinnung der eben-flachen Bänder kann mechanisch durch
Schneiden mit einem Diamant-Schneider erfolgen. Jedoch ist das mechanische Schneiden von Silicium-Rohren
nicht vorzuziehen, da diese Infolge ihrer Kristallität
und ihrerer verhältnismäßig dünnen Wandungen nur eine geringe Stoß- und Schlagfestigkeit besitzen. Die
bevorzugte Art der Abtrennung der gekrümmten Seitenabschnitte des flach-ovalen Silicium-Rohrs besteht daher
in einer durchschneidenden Ätzung der Rohre. Auch Rohre aus anderen Werkstoffen, wie beispielsweise
Saphir, können durch Ätzen geschnitten werden.
Im folgenden werden bevorzugte Ausführungsbeispiele anhand der Zeichnung beschrieben; In dieser zeigt
Fig. 1 in perspektivischer Ansicht ein Ausführungsbeispiel
eines EFG-Formgebungsaggregats zur Verwendung bei der Herstellung flach-ovaler rohrförmlger
Körper,
Fig. 2 in vergrößerter Schnittansicht mit teilweise weggebrochenen Teilen das Formgebungsaggregat aus
Fig. 1.
Flg. 3 In perspektivischer Ansicht einen Teil eines flach-ovalen Sillcium-Rohrs,
Fig. 4 in perspektivischer Ansicht das Rohr aus Fig. 3
nach Aufbringung eines Überzugs aus einem Schutzmaterial vor dem Zerschneiden,
F i g. 5 in perspektivischer auseinandergezogener Darstellung die beim Zerschneiden des Rohrs aus Fig. 3
erhaltenen, voneinander getrennten Teile.
In den verschiedenen Zeichnungsfiguren sind jeweils gleiche oder entsprechende Teile mit denselben Bezugsziffern bezeichnet.
Die Beschreibung der Ausführungsbeispiele erfolgt speziell in Verbindung mit der Herstellung von Silicium-Bändern,
vorzugsweise für Solarzellen. Die Erfindung eignet sich jedoch ebenso für die Herstellung von
Bändern aus anderen Halbleitermaterialien, wie beispielsweise Germanium, oder aus anderen kristallinen Festkörpermaterialien,
wie beispielsweise Saphir (x-Aluminlumoxid)
zur Verwendung als Substrate für integrierte Schaltungssnordnungen
von Typ Sillcium-auf-Saphir.
In Fig. I und 2 Ist ein Kapillar-Formgebungsaggregat
für das EFG-Verfahren veranschaulicht, das zwei konzentrisch Ineinander angeordnete flach-ovale GraphithQIsen
2 und 4 aufweist, die miteinander durch mehrere quer verlaufende Graphitstifte bzw. -bolzen 6
miteinander verbunden sind. Diese Stifte 6 erstrecken sich jeweils durch ein Graphitabstandsstück 7 hindurch.
das die Einhaltung eines gleichförmigen Zwlschenabstands
10 zwischen den beiden Hülsen gewährleistet. Die Außenhülse 4 erstreckt sich durch eine Kreisplatte 8 und
Ist an dieser befestigt; die Kreisplatte 8 dient zur Halterung
des Formgebungsaggregats an einem Schmelztiegel, wie im einzelnen in der US-PS 36 87 633 beschrieben. An
Ihren oberen Enden sind die Hülsen 2 und 4 an der Innenseite und an der Außenseite bei 3/f bzw. 3fl abgeschrägt,
derart daß sie In schmalen, ebenen Stirnflächen 5/1 bzw. SB münden; der Zwischenabstand 10 zwischen
den beiden Hülsen Ist so bemessen, daß er als Kapillare für Silicium wirken kann. Mittels einem oder mehrerer
Schlitze 9 an den unteren Enden der beiden Hülsen 2 und 4 Ist gewährleistet, daß Schmelze In das untere Ende
der Kapillare eintreten kann.
Wie aus Fig. 3 ersichtlich, wird ein flach-ovales Rohr
12 aus im wesentlichen einkristallinem P-Slliclum durch
Ziehen aus einer mit Bor dotierten Slliciumschmelze von Haiblcitcrrcinheltsgrad unter einer inerten Argen Gasat
mosphäre hergestellt, und zwar nach dem oben erwähnten EFG-Verfahren unter Verwendung eines Graphit-Formgebungsaggregats
der in Flg. 1 gezeigten Art. Das Rohr wird in einem Ofen der In der US-PS 35 91 348
beschriebenen Art gezogen. Als Behälter für die Sllicium-Schmelze
dient ein Quarz-Schmelztlegel, in welchem das
Graphit-Formgebungsaggregat In der aus der US-PS . 36 87 63J ersichtlichen Welse so gehaltert Ist, daß die
Slliciunv'ichmelze am unteren Ende der Kapillare eintreten
und durch Kapillarwirkung bis zu ihrem oberen Ende aufsteigen kann. Zur Einleitung des Kristallwachstums
dient ein Silicium-Impfkrisiall. Die beiden Hülsen des
Formgebungsteils besitzen jeweils eine Dicke von etwa 1,016 mm; die Dickenabmessung der beiden oberen
Stirnflächen SA und SB beträgt etwa 0,127 mm, die Breite
des ovalen Zwischenraums 10 zwischen den beiden Hülsen, der als Kapillare dient, beträgt etwa 0,38 mm.
Das Rohr wird mit einer Ziehgeschwlndigkelt von etwa
56 mm pro Minute gezogen. Die Flüssigkeit zwischen den oberen Stirnflächen des Formgebungsteils und dem
gezogenen Festkörper besitzt eine Höhe von etwa 0.508 mm; die Innen- und Außenabmessungen dieser
Flüssigkeitsschicht an Ihrem unteren Ende stimmen Im wesentlichen mit den entsprechenden Innen- und Außenabmessungen
der Stirnflächen SA bzw. 5if überein. Jedoch ist die Breite bzw. Dicke der Flüssigkeitsschicht
an der Flüssig/Festgrenzfläche kleiner, was sich darin ausdrückt, daß das fertige Rohr 12 eine Wandungsdicke
von etwa 0,152 mm besitzt. Eine Beschreibung des Kristallziehvorgangs mit näheren Einzelheiten ist für die
Zwecke der vorliegenden Erfindung nicht erforderlich, da das EFG-Verfahren und das Ziehen von Sillciumkörpern
nach diesem Verfahren dem Fachmann bekannt ist. Der in dieser Weise erhaltene rohrförmige Körper 12
ist durch im wesentlichen ebene gegenüberliegende Seitenwandungsabschnitte 14 und 16 von im wesentlichen
gleichförmiger Dicke sowie durch gekrümmte, vorzugsweise halbzylindrische gegenüberliegende Seitenkantenabschnitte
18 und 20 gekennzeichnet. Aus Gründen der Übersichtlichkeit Ist die Wandungsstärke des
Rohrs 12 und der Zwischenabstand zwischen den Wandungsabschnitten 14 und 16 relativ groß im
Verhältnis zur Breite der Wandungsabschnitte wiedergegeben. Beispielsweise kann bei der Herstellung von SiH-cium-Bändern
für flache Solarzellen das Rohr 12 mit einer Wandungsstärke von 0,127 bis 0.254 mm, mit einer
Gesamtbreite (d.h. horizontalen Abmessung in Flg.3) von etwa 50 mm und einem Zwischenabstand zwischen
den ebenen Seitenwandungsabschnitten 14 und 16 von
etwa 7,6 mm ausgebildet sein. Jedoch können die Rohre mit beliebigen anderweitigen Querschnittsabmessungen
hergestellt werden.
Wie im einzelnen aus den Flg. 3, 4 und 5 ersichtlich,
erfolgt das Aufschneiden des Rohrs 12 zur Abtrennung der Seitenkantenabschnltte 18 und 20 und Gewinnung
von zwei getrennten Bändern 14/1 und 16/1 In der Welse,
daß \\/sn die Außenoberfläche des Rohrs mit einem
herkömmlichen, positiv arbeitenden Polymethylmethaerylat-Abdeckmaterlal
überzieht, wie bei 22 angedeutet. Sodann werden die die breiten Selte.nwandungsabschnitte
14 und 16 überdeckenden Teile der Abdeckschicht 22 mit einem schmalen Lichtstrahlbündel so
belichtet, daß jeweils auf jedem Seitenwandungsabschnitt zwei schmale, geradlinig In Längsrichtung verlaufende
Bereiche des Abdecküberzugs bestrahlt und dadurch In ein Polymer von verändertem Molekulargewicht
umgewandelt werden. Sodann wird das Rohr In ein bevor^ugies Lüsuiigs- udcf AiZiTiüici, wie beispielsweise
Methyllsobutylketon eingetaucht, wobei die nicht bellchteten Teile des Abdecküberzugs 22 intakt bleiben,
während die belichteten Teile weggelöst werden, und so
zwei schmale linienförmige Bereiche 24 bzw. 26 der beiden Seitenwandungsabschnitte 14 und 16 bloßlegen.
Vorzugs- jedoch nicht notwendigerweise sind die beiden
freigelegten Bereiche 24 mit den entsprechenden Bereichen 26 auf der anderen Seltenwandung ausgerichtet,
derart, daß die beiden erhaltenen Bänder im wesentlichen die gleiche Breite besitzen. Als nächster Verfahrensschritt wird ein Sillclumätzmlttel auf das Rohr aufge-
bracru und dieses so längs den bloßgelegten Bereichen 24
und 26 aufgetrennt. Zu diesem Zweck wird beispielsweise KOH (oder ein Gemisch aus einem Tell HF und
drei Teilen HNOj) etwa 10 Minuten lang Qe nach der Wandstärke des Rohrs) bei Zimmertemperatur auf die
bloßgelegten Bereiche 24 und 26 aufgebracht, wodurch das SÜIciumrohr durchgeätzt und so die Seitenkantenabschnltte
18 und 20 von den Seitenwandungsabschnitten 14 und 16 abgetrennt werden. Nach dieser Abtrennung
der Seitenkantenabschnltte werden die erhaltenen Bänder 14/i und 16A mit destilliertem Wasser gespült und
sodann der Abdecküberzug 22 mit einem geeigneten Lösungsmittel, wie beispielsweise Trichloräthylen,
weggelöst. Danach können die Bänder zur Herstellung von Solarzellen weiterverwendet werden.
Diese Erzeugung von Solarzellen kann in der Welse erfolgen, daß man die Bänder IAA und 16/1 in einen
Diffusionsofen einbringt, wo sie einem gasförmigen Gemisch aus Sauerstoff und Phosphoroxychlorld bei
einer Temperatur von etwa 900° C etwa 15 bis 30 Minuten
lang ausgesetzt werden. Als Folge dieses Behandlungsschrittss wird Phosphor in die Seitenwandungen der
ebenen Bänder eindiffundiert; hierdurch erhält man ein N-P-N-Gebl!de mit einer jeweils verhältnismäßig
flachen, oberflächennahen N-Zone zu beiden Seiten mit einer Tiefe von etwa 0,5 μηι sowie mit einer die beiden
Hauptseitenflächen der Bänder bedeckenden (etwa 300 mm) dünnen Sillclumdloxidschicht. Die Bildung der
Diffusionsoxidschicht rührt von der Anwesenheit von Sauerstoff her, der als Transportmedium für das Phosphoroxychlorld
dient. Danach werden die einzelnen Bänder längs ihren vier Kanten und einer ihrer beiden
Breitseiten mit dem gleichen positiv wirkenden Abdeckmaterial überzogen; und sodann die Bänder zunächst 1
bis 2 Minuten lang in HF und sodann etwa ebenso lang in
KOH (oder einem Gemisch aus HNO3 und HF) eingetaucht. Durch diese Eintauchschritte werden die Oxidschicht
und der N-Leitfählgkeitsbereich an der freiliegenden, nicht abgedeckten Seite jedes Bandes entfernt.
Sodann werden die einzelnen Bänder mit Trichloräthylen zum Weglösen des Abdecküberzugs behandelt und
erneut ausreichend lang (etwa 2 bis 3 Minuten) bei Zimmertemperatur In HF eingetaucht, um die Oxid-Schicht
jedoch nicht den anderen N-Leltfähigkeitsberelch auf der anderen Seite des Bandes zu entfernen.
Der abschließende Schritt zur Herstellung einer Solarzelle besteht In der Aufbringung von Elektroden auf den
gegenüberliegenden Seitenflächen des Bandes. Die Elektroden werden nach einem herkömmlichen Metalllslerungsverfahren
aufgebracht. Beispielsweise können die Elektroden aus nach einem nicht elektrolytischen Plattlerverfahren
aufgebrachtem Nickel bestehen. Alternativ können die Elektroden als Laminate durch Abscheidung
aus der Dampfphase erzeugt werden und eine an dem Band haftende Aluminiumschicht sowie eine mit dem
Aluminium gebondete Silberschicht aufweisen. Auch anderweitige Elektroden Werkstoffe, andere Arten der
Elektrodenerzeugung und von Aufbringungstechniken, wie sie dem Fachmann bekannt sind, können angewandt
werden. Die Elektrode auf der P-Leltfählgkeitsseite des
Bandes Ist vorzugsweise ununterbrochen und bedeckt Im
wesentlichen die gesamte Seitenoberfläche. Hingegen ist die Elektrode auf der gegenüberliegenden Seite des SiH-cium-Bandes
über dem N-Leltfählgkeitsbereich als Gitter ausgebildet, derart, daß ein Hauptteil dieser Oberfläche
unbedeckt bleibt und so zur Aufnahme von Sonnenstrahlung freiliegt. Das auf diese Welse erhaltene Gebilde
stellt eine Solarzelle mit einem Im wesentlichen ebenen
N-P-Übergang nahe der oberen Seite der Zelle sowie mit Elektroden zur Verbindung der Zelle mit einer elektrischen
Schaltung dar.
Als Alternative zu dem vorstehend beschriebenen Verfahren der Auftrennung können sowohl die Innenwle
die Außenoberfläche des Sillcium-Rohrs 12 mit einem Abdeckmaterial überzogen und das Abdeckmaterial
an der Außenoberfläche sodann belichtet und entwickelt werden, derart, daß die Bereiche 24 und 26 In
der oben erwähnten Weloe freigelegt werden; sodann wird das Rohr durch Eintauchen In ein aus KOH (oder
einem Gemisch aus einem Teil HF und drei Teilen HNOj) bestehendes Bad etwa 10 Minuten lang eingetaucht,
wonach das Rohr durchgeätzt 1st und Bänder genau vorgegebener Breite gemäß 14/1 und 16A ergibt. Je
nach der Zugfestigkeit der Inneren Abdeckschicht und ihrer Haftung an dem Rohr, können sich die Seitenwandung
und die Randabschnitte gegebenenfalls von dieser Schicht ablösen oder auch nicht, sobald das Ätzmittel
sich durch die volle Wandstärke des Rohrs hindurchgelöst hat. In jedem Fail werden die durch das Ätzschneiden
abgetrennten Abschnitte des Rohrs aus dem Ätzbad entfernt und Trichloräthylen zum Weglösen der Abdeckschicht
aufgebracht. Danach kann das weitere Verfahren zur Herstellung von Solarzellen, wie oben beschrieben,
verlauten.
Man kann auch ins Auge fassen, das Rohr 12 vor seiner Auftrennung zur Erzeugung eines N-P-Obergangs
nahe seiner Außenoberfläche zu behandeln. Dies kann auf verschiedenartige, dem Fachmann bekannte Art und
Weise erfolgen, beispielsweise durch Ionen-Implantation oder Eindiffundieren von Dotierungssubstanzen, oder
schließlich durch Epltaxialabscheidung von Material mit dem entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp. Wird (etwa bei
Anwendung der Diffusionsdotierung) ein N-P-N- oder ein P-N-P-Gebilde erhalten, so müssen die durch
Zerschneiden der Rohre erzeugten Bänder zur Entfernung der überflüssigen N- oder P-Übergänge geätzt
werden. Im übrigen brauchen die Bänder nur noch zur
Aufbringung der Elektroden behandelt zu werden, wobei gewährleistet werden muß, daß diese Ohm'sche
Kontakte mit den Bändern bilden.
Es sei noch erwähnt, daß falls die rohrförmigen Körper
mit entsprechenden Querschnittsabmessungen hergestellt werden, die ebenen Seitenwände 14 und 16 ggf. zur
Erzeugung von zwei oder mehr Bändern längsweise aufgeschnitten werden können. Falls beispielsweise das
Rohr 12 Seitenwandungsabschnitte 14 und 16 mit 50,8 mm Breite aufweist, könnte es längsweise zur Erzeugung
von vier Bändern aufgetrennt werden, deren jedes jeweils eine Breite von etwa 25 mm besitzt. Selbstverständlich
könnte jedes der Bänder 14/1 und 16/1 (oder
das Rohr 12) In Querrichtung zu einer Anzahl von Bändern kürzerer Länge zerschnitten werden.
Es sei noch darauf hingewiesen, daß die Seitenwandungsabschnitte
14 und 16 nicht genau eben zu sein brauchen, sondern daß entweder die Außen- oder die
Innenoberfläche jedes dieser Abschnitte der beide Oberflächen eine konkave oder konvexe Form besitzen
können, vorausgesetzt allerdings, daß falls beide Oberflächen gekrümmt sind, die Krümmung hinreichend klein
sein muß, damit die Bänder noch zu ihrem vorgesehenen Verwendungszweck brauchbar sind. Beispielswelse könnten
jeweils die Außenflächen der Abschnitte 14 und 16 konvex sein, während die Innenfläche entweder eben
,sein oder die gleiche Krümmung wie die Außenfläche
besitzen kann. Vorzugswelse soll jedoch die Querschnittsform
wenigstens der Innen- oder der Außenfläehe des Rohrs allgemein die eines abgeflachten Kreisrings
sein. Die Bezeichnung »flach-oval« soll daher eine
Rechteckform mit abgerundeten statt scharfen Ecken sowie auch abgeflachte elliptische Formen umfassen,
d. h. Ellipsen mit einer verhältnismäßig kurzen vertikalen Achse und einer verhältnismäßig langen horizontalen
Achse, sowie Ellipsen mit ebenen oder nahezu ebenen Teilen auf gegenüber!legenden Seiten der längeren
Achse. Entsprechend soll die Bezeichnung »im wesentlichen eben« in bezug auf die Seitenwandungsabschnitte
des hohlen Rohrs oder auf eine Oberfläche dieses Rohrs sowohl einen geringfügig gekrümmten wie auch einen Im
strengen Sinn ebenen Abschnitt umfassen.
Selbstverständlich eignen sich für die Erfindung auch N-Sillciumrohre, mit Erzeugung einer P-Schicht oder
-Zone in dem Rohr oder In den aus dem Rohr erhaltenen Bändern, zur Erzeugung eines P-N-Übergangs.. Offensichtlich
ist im Fall von zur Verwendung als Substrate für Integrierte Sillclumschaltungsanordnungen vorgesehenen
Saphir (a-Aluminiumoxld)-Bändem keine Dotierung der Bänder erforderlich.
Die Bezeichnung »Im wesentlichen einkristallin« im hler verwendeten Sinn soll einen Kristallkörper umfassen,
der aus einem einzigen Kristall oder aus zwei oder mehreren Kristallen besteht, beispielsweise ein Blkristall
oder Trikristall, die zusammen In Längsrichtung wachsen,
jedoch voneinander durch eine Korngrenze mit einem verhältnismäßig kleinen Winkel (d. h. weniger als
etwa 4°) getrennt sind.
60
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
65
Claims (1)
1. Auf dem EFG-Verfahren beruhendes Verfahren zur Herstellung von im wesentlichen ebenen, insbesondere
im wesentlichen einkristallinen Bändern aus kristallinem Festkörpermaterial zur Verwendung für
elektronische Festkörperanordnungen, insbesondere Halbleiterbauelemente und Solarzellen, dadurch
gekennzeichnet, daß
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|
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |