DE2632248A1 - Verfahren zur herstellung von elementen - Google Patents

Verfahren zur herstellung von elementen

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DE2632248A1 DE19762632248 DE2632248A DE2632248A1 DE 2632248 A1 DE2632248 A1 DE 2632248A1 DE 19762632248 DE19762632248 DE 19762632248 DE 2632248 A DE2632248 A DE 2632248A DE 2632248 A1 DE2632248 A1 DE 2632248A1
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Description

  • Verfahren zur Herstellung von Elementen.
  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung einer Anzahl von Infrarotdetektorelementen mit je einem Körper aus einem für Infrarot empfindlichen Material mit einer nahezu rechteckigen Oberflächenkonfiguration, der mit zwei auf Abstand liegenden elektrischen Kontakten niedrigen Widerstandes auf einer Fläche des Körpers auf beiden Seiten eines empfindlichen Gebietes des Elements versehen ist.
  • Die Herstellung von Infrarotdetektoranordnungen umfasst die Bildung von Infrarotdetektorelementen, die Anbringung der Elemente auf geeigneten Substraten, die Bildung elektrischer Anschlüsse an den Elementen, die Prüfung der mit diesen Anschlüssen versehenen Elemente und schliesslich die endgültige Unterbringung der Elemente samt den Kontakten in einer geeigneten Uilüllung. Infrarotdetektoranordnungen enthalten in gewissen Ausführungen nur ein einziges Infrarotdetektorelement und in anderen Ausführungen eine Anzahl von Infrarotdetektorelementen, die z.B. gemäss einer linearen Matrix angeordnet sind.
  • Für Anordnungen, deren Wirkung von der Eigeuphotoleitfähigkeit des für Infrarot empfindlichen Materials abhängt, umfasst die Herstellung #er Elemente Schritte, wie Vorbereitung von Material, Definition von Elementen durch eine Kombination von Atz- und Poliertechniken, Oberflächenbehandlungen und das Anbringen von Kontaktschichten. Für einige Infrarotdetektoranordnungen lässt sich das verwendete infrarotempfindliche Material, zBBe Kadmiumquecksilber tellurid, schwer vorbereiten und ist teuere Daher sind alle Schritte bei der Herstellung von Elementen, die zu Einsparungen beim C-ebrauch eines solchen Materials führen, von grossem Interesse. Es ergibt sich aber das Problem, dass sehr verschiedene Anforderungen für verschiedene Grössen und Eigenschaften der Elemente und Montagekonfi gurationen, abhängig von der betreffenden herzustellenden Infrarotdetektoranordnungt zutreffen können; z.B. kann die Grösse des empfindlichen Gebietes der Elemente nur 25 /um x 25 /um, aber auch 2 mm x 2 mm sein. Bei der Bildung des Elements oder der Elemente aus einer Scheibe des infrarotempfindlichen Materials ist es also kostspielig, wenn für jede andere Konfiguration eine neue Scheibe dieses Materials als Ausgangskörper verwendet werden muss.
  • Für die Herstellung der Anordnungen mit einer Matrix von Infrarotdetektorelementen ergibt sich in bezug auf die Ausbeute weiter ein Problem, wenns wie üblich, die Matrix die Anordnung von Detektorelementen in einer oder mehreren Gruppen enthält, die je in einem gemeinsamen Körper aus dem infrarotempfindlichen Material gebildet werden. Diese sogenannte "monolithische' Annäherung der Herstellung einer Gruppe von Detektorelementen ergibt viele Probleme. Wenn z.B. eine Gruppe von zehn Elementen in einem einzigen kammartigen Körper gebildet wird, ergibt sich das Problem, dass, wenn nach der Montage und der Anbringung elektrischer Anschlüsse, gefunden wird, dass bei Prüfung eines der Elemente einer Gruppe fehlerhaft ist, die ganze Gruppe ersetzt werden muss. Andere Probleme ergeben sich bei der sogenannten monolithischen Annäherung, insbesondere im Zusammenhang mit dem gegenseitigen Abstand der einzelnen Elemente einer in einem gemeinsamen Körper gebildeten Gruppe. Wenn der gegenseitige Abstand der aktiven Oberflächengebiete der Elemente in einem solchen Körper durch einen ätzvorgang definiert wird gibt es eine Beschränkung für den Mindestabstand, der erreichbar ist, weil im allgemeinen beim Atzen des Körpers aus infrarotempfindlichem Material die Breite eines Kanals normalerweise viel grös ser als die Dicke des Körpers sein wird. Sogar wenn die Dicke des Körpers auf 6 /um herabgesetzt wird, kann nicht leicht durch Atzen ein gegenseitiger Abstand einzelner Elemente von weniger als 12 um erzielt werden. Ausserdem kann, wenn derart verfahren wird, dass die einzelnen Körper definiert werden, bevor ihre Dicke endgültig herabgesetzt wird, die Behandlung und weitere Verarbeitung von Körpern einer so geringen Dicke grosse Schwierigkeiten bereiten.
  • Ein anderes Problems das sich sowohl bei nur ein einziges Element enthaltenden Anordnungen als auch in Matrizen ergibt, ist die Anbringung elektrischer Anschlüsse an dem oder jedem einzelnenlnfrarotdetektorelement. Bisher wurde dies dadurch erzielt, dass Drahtleiter auf metallisierten Oberflächenteilen des Elements oder der Elemente, z.B. durch einen Thermokompressionsvorgang oder einen Lötvorgang, miteinander verbunden werden. Infolge der Verformung des Drahtendes, das dem Verbindungsvorgang unterworfen wird, wie z.B. beim Nagelkopfverbinden der Fall ist, müssen Massnahmen getroffen werden, um zu sichern, dass das Gebiet des Teiles des Elements, mit dem der Draht verbunden wird, genügend gross ist um das endgültig verformte Drahtende aufzunehmen, derart, dass dieses verformte Drahtende völlig auf. dem Element liegt. Die Konfiguration des Elements kan dadurch zu kompliziert werden, während weitere Be-.-schränkungen in bezug auf den mindesterreichbaren Abstand zwischen benachbarten Elementen in einer Matrix auftreten.
  • Auch ergeben sich Probleme, wenn die anderen Enden der Drahtleiter, z.B. durch Verlöten mit Durchführungsleitern, miteinander verbunden werden.
  • Ein weiteres mit der sogenannten monolithischen Annäherung eirillergehendes Problem bei der Herstellung von Elementen ergibt sich, wenn es erwünscht ist, mehrere Elemente enthaltende Detektoranordnungen herzustellen, bei denen der gegenseitige Abstand der Elemente, z.I3. in einer linearen Matrix nicht gleichmässig ist. Dieser ungleichmässige Abstand kann z.B. erwünscht sein, wenn verschiedene Auflösungsgrade für verschiedene Teile der Matrix von Detektorelementen erforderlich sind. Die Bildung einer Anzahl von Elementen in einem einzigen Körper mit verschiedenen Abständen zwischen Elementen bei verschiedenen Teilen der Matrix ergibt viele Schwierigkeiten und kann in bezug auf das erforderliche Material besonders kostspielig sein.
  • Nach der Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung einer Anzahl von Infrarotdetektorelementen, die je einen Körper aus infrarotempfindlichen Material mit einer nahezu recJlteckigen Oberflächenkonfiguration enthalten, der mit zwei elektrischen auf Abstand voneinander liegenden Kontakten niedrigen Widerstandes auf einer Oberfläche des Körpers beidseitig eines empfindlichen Gebietes des Elements versehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass eine Scheibe aus infrarotempfindlichem Material an einem Trägerkörper geheftet wird; dass eine erste Anzahl nahezu parallel verlaufender Kanäle gebildet wird, die sich in dem Material der Scheibe erstrecken, um auf dem Trägerkörper eine Anzahl nahezu paralleler streifenförmiger Teile aus dem infrarotempfindlichen Material zu definieren, dass eine Behandlung zum Erhalten einer Verringerung der Dicke der streifenförmigen Teile durchgeführt wird, während zum Erhalten einer Krümmung der freigelegten Längsrander der streifenförmigen Teile eine zweite Anzahl nahezu parallel verlaufender Kanäle in dem Scheibenmaterial der streifenförmigen Teile in einer Richtung nahezu senkrecht zu der Längsrichtung der streifenförmigen Teile gebildet wird, um auf dem Trägerkörper eine Matrix rechteckiger Elementkörperteile aus dem infrarotempfindlichen Material mit je gekrümmten Rändern auf zwei gegenüberliegenden Seiten zu definieren; dass elektrisch leitendes Material abgelagert wird, um auf der Oberfläche jedes Elementkörperteiles zwei elektrische Kontaktschichten zu bilden, die voneinander getrennt sind und an die gegenüberliegenden gekrümmten Ränder grenzen, und dass die Elementkörperteile mit daraufliegenden Kontaktschichten von dem Trägerkörper entfernt werden.
  • Dieses Verfahren kann grosse Vorteile in bezug auf Materialeinsparungen , Flexibilität bei der Bildung von Elementen mit verschiedenen empfindlichen Gebieten, vergrösserte Detektorleistung, einen geringen gegenseitigen Abstand von Elementen in mehrere Elemente enthaltenden Anordnungen und die Anbringung äusserer elektrischer Anschlüsse bieten, wie nachstehend noch beschrieben wird.
  • Mit diesem Verfahren werden die Elemente in einzelner Form eher als ein monolithisches Gebilde erhalten, in der Weise, dass ihr weiterer Zusammenbau und die Kontaktierung bei der Herstellung einer Infrarotdetektoranordnung erheblich vereinfacht werden. Insbesondere kann dadurch, dass auf die Elemente Kontaktschichten aufgebracht sind, die an die gegenüberliegenden gekrümmten Ränder grenzen, der weitere Zusammenbau der Elemente entweder in durch ein einziges Element gebildeten Anordnungen oder in durch mehrere Elemente gebildeten Anordnungen derart erfolgen, dass die elektrischen Anschlüsse in Form abgelagerter leitender Schichten aufgebracht werden. Dadurch wird die Anwendung eines Drahtverbindungs- oder bötvorgangs mit den ihm inhärenten obengenannten Nachteilen vermieden. In bezug auf dieses Zusammenbau- und Kontaktierungsverfahren sei auf die gleichzeitig von der Anmelderin eingereichte Patentanmeldung Nr. ... (PHB. 32509) verwiesen. Die eindenen Elemente können auf einem Substrat, z.B. dadurch zusammengebaut werden dass die Elemente mittels eines Epoxydharzes auf einem isolierenden Substrat befestigt werden. Ein derartiges Verfahren kann sowohl für ein einziges Element enthaltende Anordnungen als auch für mehrere Elemente enthaltende Anordnungen verwendet werden.
  • Im letzteren Falle ergibt sich der grosse Vorteil, dass der gewünschte gegenseitige Abstand der Elemente erzielt werden kann. Der gegenseitige Abstand kann erheblich kleiner sein als bei monolithisch gebildeten aus mehreren Elementen bestehenden Anordnungen erhalten ist, während ausserdem z.B. in einer linearen Matrix die Teilungsabstände zwischen den Elementen auf gewtlnschte Weise geändert werden können. Uberdies wird erwünschtenfalls die Bildung zweidimensionaler Matrizen mit jedem gelinschten gegenseitigen Abstand erheblich erleichtert.
  • Mit dem Verfahren nach der Erfindung zur Bildung der Elemente können grosse Materialeinsparungen erhalten werden, weil in jeder bearbeiteten Scheibe einfach Elemente mit verschiedenen empfindlichen Gebieten, z.B. durch passende Wahl des gegenseitigen Abstandes der zweiten Anzahl von Kanälen, gebildet werden können. Ausserdem kann eine vergrösserte Leistung der Elemente erhalten werden, weil mehrere Oberflächenbehandlungen einfach in dem Verfahren aufgenommen werden können.
  • Vor der Befestigung der Scheibe aus infrarotempfindlichem Material auf den Trägerkörper kann die Scheibe einer Oxidationsbehandlung unterworfen werden, um auf der an dem Trägerkörper zu befestigenden Oberfläche der Scheibe ein Oxid zu bilden. Auf diese Weise wird die Oberfläche der anschliessend gebildeten infrarotempfindlichen Elemente, die den Oberflächen gegenüber liegt, auf die beim Betrieb die Strahlung einfällt mit einer Schicht versehen, die, wie gefunden ~wurde, die Leistung der Detektorelemente vergrössertw Nach der Befestigung der Scheibe aus infrarotempfindlichem Material auf dem Trägerkörper und vor der Bildung der ersten Anzahl von Kanälen in dem Scheibenmaterial kann die Scheibe einer anfänglichen Behandlung zur Herabsetzung der Dicke über ihre von dem Trägerkörper abgekehrte Oberfläche unterworfen werden. Diese Herabsetzung der Dicke kann durch einen mehrstufigen Poliervorgang erhalten werden, wobei allm#ilich weniger Schaden in aufeinanderfolgenden Stufen herbeigeführt wird, z.B.
  • dadurch, dass die Grösse der poliermittelteilchen, die in aufeinanderfolgenden Stufen verwendet werden, geändert wird, bis die gewunschte Dicke erhalten ist.
  • Die Behandlung zum Erhalten einer Verringerung der Dicke der streifenförmigen Teile und zum Erhalten einer Krümmung der freigelegten Längsränder der streifenförmigen Teile kann die Kombination eines Poliervorgangs und eines anschliessenden Xtzvorgangs umfassen.
  • Nach der Bildung der zweiten Anzahl von Kanälen in dem Scheibenmaterial können freigelegte Oberflächenteile der Elementkörperteile einer Passivierungsbehandlung unterworfen werden, Die Durchführung der Passirrierungsbehandlung in dieser Bearbeitungsstufe, d.h. nach der Definition der Matrix nahezu rechteckiger Elementkörperteile, ist vorteilhaft, weil dadurch freigelegte Seitenflächen der Elementkörperteile, die in dem endgültig erhaltenen Element an die Hauptteile der Oberfläche des empfindlichen Gebietes grenzen werden, der passivierungsbehandlung unterworfen werden können. Dies ist erwünscht, weil in einer ohne die passivierten Seitenflachen hergestellten Anordnung die Leistung geringer werden könnte, wenn die Anordnung erhöhten Temperaturen ausgesetzt wird. Bei einer bevorzugten Ausführungsform werden sofort vor der Passivierungsbehandlung die freigelegten Oberflächenteile der Elementkörperteile einer Xtzbehandlung unterworfen.
  • Die Passivierungsbehandlung kann auf mittlere Oberflächengebiete der Elementkörperteile beschränkt werden, die sich über den genannten Elementkörperteilen erstrecken und die durch maskierende Schichtteile definiert werden die auf gegenüberliegenden Seiten dieser Gebiete in der Nähe der gekrümmten Ränder der Elementkörperteile vorhanden sind. Die maskierenden Schichtteile können aus Photolack bestehen.
  • Nach der Passivierungsbehandlung und vor der Anbringung der Kontaktschichten können die genannten maskierenden Schichtteile entfernt und kann eine weitere Maskierungsschicht aufgebracht und definiert werden, derart, dass jedes passivierte Oberflächengebiet mit einem maskierenden Schichtteil bedeckt ist, ausgenommen zwei gegen-Uberliegende periphere streifenförmige Teile desselben die sich nahezu parallel zu den gekrümmten Rändern der Elementkörperteile erstrecken, wobei eine Materialentfernungsbehandlung an den freigelegten streifenförmigen Teilen der passivierten Oberflächengebiete in Gegenwart der maskierenden Schichtteile durchgeftuirt wird. Auf. diese Weise wird die seitliche Ausdehnung der passivierten Oberflächengebiete vor der Anbringung der Kontaktschichten etwas herabgesetzt, um Probleme in#bezug auf Maskenausrichtung bei der Anbringung der Kontaktschichten zu verbeiden.
  • Die genannte Materialentfernungsbehandlung zur Herabsetzung der lateralen Ausdehnung der passivierten Oberflächengebiete kann mittels eines Poliervorgangs, z.B. mit einem Schmirgelleinen und einem sehr feinen Scheuermittel, durchgeführt werden.
  • Die weitere Maskierungsschicht kann aus Photolack bestehen und die elektrischen Kontakt schichten können durch Ablagerung des elektrisch leitenden Materials auf den freigelegten Oberflächenteilen der Elementkörperteile und den Oberflächenteilen der aus Photolack bestehenden Maskierungsschicht gebildet werden, wonach die aus Photolack bestehende Maskierungsschicht und das darauf abgelagerte elektrisch leitende Material auf chemischem Wege entfernt werden können. Auf diese Weise wird das abgelagerte elektrisch leitende Material von oberhalb der aktiven Oberflächengebiete der Elemente durch eine sogenannte Abhebetechnik ("lift-off") entfernt Die Anwendung einer derartigen Technik ist günstig im Vergleich zu einer Technik, bei der das leitende Material zunächst auf der ganzen Oberfläche abgelagert und dann photolithographisch definiert wird, insbesondere wenn das abgelagerte leitende Material aus Gold besteht, weil es sich als unmöglich erweisen kann, das leitende Material zu ätzen, ohne dass die unterliegende Passivierungsschicht und gegebenenfalls das Material der Elementkörperteile entfernt werden.
  • Nach der Anbringung der Kontaktsciiichten können die Elementkörperteile von dem Trägerkörper je für sich durch mechanische Mittel, z.B. durch Abheben mit einem feinen Werkzeug, entfernt werden.
  • Bei Anwendung mechanischer Mittel für die Entfernung können die Elementkörperteile von ausgewählten Stellen der Matrix entfernt und prüfvorgängen, z.B. zum Messen des spezifischen Widerstandes, der Ansprechfähigkeit, der Grenzwellenlänge, der Zeitkonstante und DX, unterwerfen werden, um die Eigenschaften der Elementkörperteile und ihre Verteilung in der Matrix auszuwerten. Auf diese Weise kann eine Art Ubersichtskarte der Eigenschaften der Elementkörperteile erhalten werden, wonach die Elementkörperteile für Entfernung entsprechend den gewünschten Eigenschaften der herzustellenden Detektoranordnungen ausgewählt werden können. Eine derartige prüfung wird mit Vorteil benutzt, wenn die Eigenschaften der ursprünglichen Ausgangs scheibe nicht über alle Teile dc: Scheibe konstant sind.
  • Für die Herstellung einer durch mehrere Elemente gebildeten Infrarotdetektoranordnung kann eine Gruppe nebeneinander liegender Elementkörperteile in.der Matrix auf dem Trägerkörper für Entfernung entsprechend den ausgewerteten Eigenschaften der für die Prüfungszwecke entfernten Elementkörperteile ausgewählt werden.
  • Wenigstens die erste Anzahl'nahezu parallel verlaufender Kanäle kann in der Scheibe mit einem gleichmäs sigen gegenseitigen Abstand gebildet werden. Auf diese Weise weisen alle danach herzustellenden Elementkörperteile die gleiche Querabmessung in einer Richtung zwischen den gekrümmten Rändern auf zwei gegenüberliegenden Seiten auf. Durch änderung des gegenseitigen Abstandes der genannten zweiten Anzahl der Kanäle, die in den vorher definierten Streifen aus dem infrarotempfindlichen Material gebildet werden, kann die Breite der Elementkörperteile, d h. die Querabmessung in der Richtung parallel zu den gekrümmten Rändern auf zwei gegenüberliegenden Seiten, geändert werden. Auf diese Weise kann in jeder Ausgangsscheibe eine Anzahl von Elementkörperteiles mit wenigstens zwei verschiedenen Grössen der aktiven Oberflächengebiete gebildet werden.
  • Das Verfahren nach der Erfindung kann bei der Herstellung von Infrarotdetektorelementen aus verschiedenen Materialien, insbesondere kostspieligen Materialiens verwendet werden. Ein solches Material ist z.B. Kadmiumquecksilbertellurid, wobei die Vorbereitung des Materials zum Erhalten der gewünschten Eigenschaften viel Zeit beansprucht und, wo möglich, Einsparungen bei der Bildung der Elemente notwendig macht. Trotzdem kann das Verfahren auch vorteilhafterweise bei der Herstellung von Infrarotdetektorelementen aus anderen Materialien verwendet werden, wobei die Kosteneinsparungen in bezug auf die Materialien nicht so wichtig sind, z.B. aus Indiumantimonid.
  • Eine Ausfüurungsform der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben. Es zeigen: Fig. 1 einen Querschnitt durch eine Scheibe aus Kadmiumquecksilbertellurid, die auf einem Polierblock befestigt ist, und zwar in einer Stufe der Herstellung nach Durchführung einer Oberflächenbehandlung; Fig. 2 im Querschnitt die Scheibe nach Befestigung auf einem weiteren Polierblock; Fig. 3 im Querschnitt die verbleibende Scheibe auf dem weiteren Polierblock nach einem Schritt zur Eerabw setzung der Dicke; Figuren 4 und 5 eine Draufsicht auf bzw. einen Querschnitt durch die Scheibe auf dem weiteren Polierblock nach einem weiteren Bearbeitungsschritt, wobei Fig. 5 einen Schnitt lEngs der Linie V-V in Fig, 4 zeigt; Fig. 6 im Querschnitt die Scheibe auf dem weiteren Polierblock nach einem weiteren Schritt zur Herabsetzung der Dicke; Fig. 7 eine Draufsicht auf einen Teil der Scheibe nach einem weiteren Bearbeitungsschritt; Figuren 8 und 9 Querschnitte längs der Linien VIII-VIII bzw. IX.IX der Fig. 7; Figuren 10 bis 12 im Querschnitt einen Teil der Scheibe in weiteren Bearbeitungsstufen; Figuren 13 und 14 im Querschnitt bzw. in Draufsicht denselben Teil der Scheibe in einer weiteren Bearbeitungsstufe nach der Durchführung einer Passivierungs behandlung, wobei Fig. 14 einen Querschnitt lSngs der Linie XIX-XIV in Fig. 13 zeigt; Figuren 15 und 16 im Querschnitt denselben Teil der Scheibe in weiteren Bearbeitungsstufen; Figuren 17 und 18 einen Querschnitt durch bzw.
  • eine Draufsicht auf denselben Teil der Scheibe in einer Bearbeitungsstufe, nachdem einzelne Elementkörperteile der Scheibe ait Kontaktschichten versehen worden sind, wobei Fig. 17 einen Querschnitt längs der Linie XVII-XVII in Fig. 18 ist; Fig. 19 eine vergrösserte Draufsicht auf einen Elementkörperteil mit darauf angebrachten Kontaktschichton auf dem Polierblock, und Figuren 20 und 21 Querschnitte längs der Linien XX-XX bzw. XXI-XXI in Fig. 19.
  • Die Figuren sind nicht massstäblich gezeichnet und demzufolge stimmen die Werte der Abmessungen gar nicht; insbesondere bei einem praktischen Beispiel ist die Dicke der unterschiedlichen Schichten in bezug auf jahre laterale Ausdehnung viel kleiner als aus den Figuren hervorgeht.
  • Die nun zu beschreibende Ausführungsform umfasst die Herstellung einer Vielzahl (im Bereich von zweitausend) Infrarotdetektorelementen aus Kadmiumquecksiltertellurids Bei dieser Ausführungsform ist die Materialzusammensetzung d .h. das Kadmium/Quecksilber-Atomverhältnis, derart, dass eine Grenzwellenlänge im Bereich von 12 #um erhalten wird.
  • Das Ausgangsmaterial ist ein scheibenförmiger Körper aus Kadmiumquecksilbertellurid mit einem Durchmesser von etwa 10 mm und einer Dicke von 0,5 mm.
  • Die Scheibe 1 ist auf einem keramischen Polierblock 2 mittels einer Wachssdncht 3 befestigt. Der Polierblock weist erhöhte Ansätze mit einer Höhe von 200 /um auf.
  • Das Polieren der über den Ansätzen hervorragenden Oberfläche der Scheibe erfolgt mittels einer Drehmaschine unter Verwendung eines Basispolierglieds und einer Poliermittelpaste. Das Polieren ist ein mehrstufiger Vorgang, bei dem allmählich abnehmender Schaden in der Ibistallstruktur herbeigeführt wird, je nachdem die Dicke auf den gewünschten Wert von 200 /um herabgesetzt wird. Diese allmähliche Abnahme der Schaden wird durch die Anwendung immer feiner werdender Poliermittelteilcan erzielt.
  • Dieser Poliervorgang wird fortgesetzt, bis die Oberfläche der Scheibe auf den gleichen Ebene wie die Oberflächen der Ansätze des Polierblocks 2 liegt. Um den verbleibenden Teil der Oberflächenschaden zu beseitigt, wird eine Atzbehandlung durchgeführt.
  • Eine Oxidationsbehandlung wird dann durchgef~Uhrt, wobei die Scheibe 1 noch immer auf dem Polierblock 2 fixiert ist, so dass die freigelegten oberen und seitlichen Flächen der Behandlung unterworfen werden. Fig. 1 zeigt eine Scheibe 1 mit einer Dicke von 200 /um, die eine Oxidoberflächenschicht 4 aufweist.
  • Die Scheibe 1 wird nun von dem Polierblock 2 entfernt und wird Aber die oxidierte grosse Fläche auf einem weiteren Polierblock 5 aus Aluminiumoxid hoher Dichte befestigt. Der durch den Polierblock 5 gebildete Trägerkörper weist äussere Ansätze mit einer Höhe von 25 /um auf und innerhalb der Ansätze ist die Oberfläche mit einer Tantalschicht 6 versehen. Die Scheibe 1 ist mittels einer Wachsschicht 7 auf der Tantalschicht 6 befestigt.
  • O:b#0leich die vorher gebildete Oxidoberflächenschicht 4 in Fig. 2 dargestellt ist, ist sie in den weiteren Figuren der Deutlichkeit halber weggelassen. Ein mehrstufiger Poliervorgang wird mit einer Drelipoliermaschine unter Verwendung einer Aluminiumoxidpaste durcllgeführt, wobei die Teilchengrössen derart gewählt werden, dass der herbeig<#führte Schaden allmählich in aufeinanderfolgenden Stufen herabgesetzt wird. Dieser Poliervorgang wird fortgesetzt, bis die polierte Oberfläche der Scheibe 1 nahezu auf der gleichen Ebene wie die erhöhten Ansätze des Polierblocks 5 liegt. Fig. 3 zeigt die Scheibe 1 nach diesem Schritt zur Herabsetzung der Dicke und nun weist die Scheibe 1 eine Dicke von etwa 25 #um auf.
  • Während die Scheibe 1 mit herabgesetzter Dicke noch über die Wachsschicht 7 auf der Tantalschicht 6 auf dem Polierblock 5 fixiert ist, wird eine Photolackschicht auf die obere Fläche der Scheibe 1 aufgebracht. Ein Photomaskierungs- und Entwicklungsvorgang wird dann durchgeführt, um eine Anzahl nahezu paralleler streifenförmiger Offnungen in der Photolackschicht zu definieren. Eine Atzbehandlung findet dann statt unter Verwendung eines geeigneten Xtzmittels für Kadmiumquecksilbertellurid, um in der Scheibe eine erste Anzahl nahezu parallel verlaufender Kanäle 8 zu bilden, die auf dem 1>olierblock eine Anzahl nahezu parallel verlaufender streifenförmiger Teile 9 aus Kadmiumquecksilbertellurid definieren. Figuren 4 und 5 zeigen die Kanäle 8 und die Streifen 9. In diesem Beispiel weisen die Kanäle eine Breite von etwa 50 /um und weisen alle Streifen eine Breite von etwa 200 /um auf.
  • Die nächste Bearbeitungsstufe ist die Entfernung der auf den streifenförmigen Teilen 9 verbleibenden Teile der Photolackschicht. Danach wird ein Schritt zur Herabsetzung der Dicke durchgeftlrt, um die Dicke der streifenförmigen Teile 9 auf nahezu 8 /um herabzusetzen und gleichzeitig eine KrUm=.ung der freigelegten oberen Längsränder der streifenförmigen Teile 9 zu erhalten. Dies wird dadurch errreioht, dass zunächst mit einer Poliermaschine unter Verwendung eines feinen Blocks und eines feinen Scheuermittels poliert wird, bis die verbleibende Dicke der streifenförnu.gen Teile 9 nahezu 12 um beträgt, wonach die streifenförmigen Teile 9 geätzt werden, um Material in einer Dicke im Bereich von 4 bis 5 /um zu entfernen. In dieser Weise werden die oberen Längsränder der streifenförmigen Teile abgerundet und dieser Effekt wird dazu benutzt, die äussere Kontaktierung der endgültig herzustellenden Elemente zu ermöglichen. Ausserdem wird gefunden, dass die setzung eine sensibilisierende < rkung hat, wodurch eine vergrösserte Leistung des Detektors erzielt wird. Fig. 6 zeigt im Querschnitt die streifenförmigen Teile 9 nach dem #tzvorgang. in#lge der der von der Wirklich-~ keit abweichender relativen Abmessungen in der Zeichnung stellt sich heraus, dass die Abrundung der Längsränder nicht wesentlich ist, aber in der Praxis wird gefunden, dass sich die Krümmung In dem Querschnitt leber einen Abstand von mindestens 15 um von der unterenFläche an jedem Längsrand erstreckt. Auch sei bemerkt, dass während der Polierbehandlung zur Herabsetzung der Dicke von 12 #um auf 7 bis 8 /um die freigelegten W-achsschichtteile in den Kanälen 8 entfernt werden. So ist in dem Querschnitt nach Fig. 6 die Wachsschicht 7 nun nur unter jedem streifenförmigen Teil 9 vorhanden.
  • Die nächste Bearbeitungsstufe ist das Aufbringen einer Photolackschicht auf die oberen Flächen der streifenförmigen Teile. Unter Verwendung eines üblichen Photomaskierungs- und Entwicklungsvorgangs werden eine Anzahl parallel verlaufender senkrecht auf den streifenförmigen Teilen stehender Streifen von der Photolackschicht entfernt, während das freigelegte Material der streifenförmigen Teile 9 unter Verwendung eines geeigneten Atzmittels für Kadmiumquecksilbertellurid geätzt wird, um eine Anzahl nahezu parallel verlaufender Kanäle 10 in dem Scheibenmaterial der streifenförmigen Teile zu erhalten, damit auf dem Polierblock eine Matrix nahezu rechteckiger Elementkt.rperteile 11 aus Kadmiumtellurid definiert wird.
  • Fig. 7 ist eine Draufsicht auf einen Teil der Scheibe nach der Bildung der Kanäle 10 und der darauf folgenden Definition der Elementkörperteile 11, wobei die verbleibenden Teile der für die Maskierung verwendeten Photolackschicht entfernt sind. Figuren 8 und 9 zeigen Querschnitte längs der Linien VIII-VIII bzw. IX-IX in Fig. 7. Fig. 8 zeigt die Abrundung der Ränder der Elementkörperteile 11 auf zwei gegenüberliegenden Seiten im Gegensatz zu den naheliegenden senkrechten Rändern (Fig. 9) der beiden anderen Seiten der Elementkörperteile. In diesem Beispiel beträgt die Breite der endgültig geätzten Kanäle 10 nahezu 30 /um und der endgültige Flächeninhalt der Elementkörperteile 11 nach Fig. 7 ist 200 #um x 50 /um.
  • Die nächste Bearbeitungsstufe ist das Aufbringen einer weiteren Photolackschicht 12 auf die Oberfläche der Elementkörperteile 11 und die freigelegtgn Oberflächenteile der Wachsschicht 7 und der Tantalschicht 6 auf dem Polierblock 5. Durch einen Photomaskierungs und Entwicklungs vorgang wird die Photolackschicht 12 derart definiert, dass Offnungen 13 (Fig. 10) darin gebildet werden, die die Form von Streifen mit einer Breite von etwa 50 /um aufweisen, die sich parallel zu den Kanälen 8 erstrecken und durch die die Elementkörperteile 11 an einem Ende freigelegt werden, an dem ein abgerundeter Rand vorhanden ist, während durch diese Offnungen auch der angrenzende Teil der Tantalschicht 6 auf dem Polierblock 5 freigelegt wird, von dem die Wachsschicht'7 vorher in dem Polierschritt zur Herabsetzung der Dicke entfernt wurde. Fig. 10 zeigt einen Querschnitt entsprechend dem Schnitt nach Fig. 8 durch die Photolackschicht 12 und die darin gebildeten Offnungen 13.
  • Eine Goldschicht mit einer Dicke von 0,5 /um wird nun durch Zerstäuben auf-gebracht. Das Gold wird so auf der Photolackschicht 12 und in den Offnungen 13 abgelagert. Die Photolackschicht 12 wird dann in einem geeigneten Lösungsmittel gelöst und das darauf abgelagerte Gold wird dadurch mittels einer Abhebetechnik entfernt.
  • Fig. 11 zeigt einen dem Schnitt nach Fig. 10 entsprechenden Schnitt, wobei Goldschichtstreifen 14 mit einer Breite von nahezu 50 /um einen Kontakt zwischen den oberen Flächen der Elementkörperteile 11 und der Tantalschicht 6 auf dem Polierblock 5 bilden. Die Goldschichtteile 14 müssen diese elektrische Verbindung fUr einen danach durchgeführten Vorgang herstellen, weil infolge der Kombination der vorher aufgebrachten Oxidschicht auf den unteren Flächen der Elementkörperteile und der Trennung der genannten Körperteile von der Tantalschicht 6 durch die Wachsschicht 7 sonst alle Elementkörperteile 11 effektiv isoliert werden wUrden Eine weitere Photolackschicht 15 wird auf die obere Fläche des Gebildes aufgebracht und durch einen photomaskierungs und Entwicklungsschritt werden Clffnunr gen 16 in Form rechteckiger Streifen mit einer Breite von nahezu 80 /um in der Photolackschicht 15 gebildet. Fig. 12 zeigt einen dem Schnitt nach Fig. 11 entsprechenden Querschnitt durch die streifenförmigen Offnungen 16, die sich in der Mitte auf den Oberflächen der Elementkörperteile 11 befinden, Diese streifenförmigen Offnungen 16 weisen eine Breite in Richtung der grösseren Querabmessungen der Elementkörperteile, d.h. in Richtung des. Schnittes nach Fig. 11 auf, die etwas grösser als die gelfUnschte endgültige Abmessung der aktiven Oberflächengebiete der Elementkörperteile ist Beim Vorhandensein der definierten Photolackschicht 15 werden die freigelegten Oberflächenteile einer Sens ibilisierungsbehandlung durch ätzen unterworfen, um Material her eine Dicke von höchstens 1 #um zu entfernen Dann wird eine Passivierungsbehandlung durchgeführt. Fig.
  • 12 zeigt schematisch mit gestrichelten Linien die Passivierungsschicht 17 die an den freigelegten Oberflächen der Elementkörperteile 11 erzeugt wird.
  • Die verbleibenden Teile der Photolackschicht 15 werden nun gelöst irnd die Figuren 13 und 14 zeigen in Draufsicht bzw. im Schnitt das so erhaltene Gebilde, wobei die Goldschichtstreifen 14 noch vorhanden sind und die Elementkörperteile 11 Oberflächenteile enthalten die mit einer Passivierungsschicht 17 versehen sind. Die Goldstreifen 14 sind in der Draufsicht nach Fig. 13 der Deutlichkeit halber schraffiert dargestellt. Es sei bemerkt, dass, weil die Photolackschicht von Teilen der Kanäle 10 zwischen den Elementkörperteilen 11 entlang der streifenförmigen Offnungen 16 entfernt wurde, Teile der longitudinalen Seitenflachen der Elementkörperteile 11 auch der Passivierungsbehandlung unterworfen werden, und die Durchfmirung dieser Behandlung in dieser Stufe, d.h. nach der Definition der Elemente, kann in dieser Hinsicht vorteilhaft sein.
  • Die nächste Stufe ist die Aufbringung einer weiteren Photolackschicht 18 und ein darauffolgender Photomaskierungs- und Entwicklungsschritt zum Definieren von Offnungen darin. Die Offnungen werden derart gebildet, dass das passivierte Oberflächengebiet auf jedem Elementkörperteil 11 nach wie vor mit der Photolackschicht 18 überzogen ist, ausgenommen zwei einander gegenüber liegende periphere streifenförmige Teile 19 desselben, die sich nahezu parallel zu den gekrümmte: !, Rändern der Elementkörperteile 11 erstrecken, Die Photolackschicht 18 bleibt in den kanälen 10 zwischen den Elementkörperteilen erhalten, während sie in Teilen der Kanäle 8 (siehe Fig. 15) zwischen den Elementkörperteilen die freigelegten Tantalschichtteile bedeckt und auch 1-3ilweise die Goldkontaktstreifen 14 überlappt, wo diese auf der Tantalschicht 6 vorhanden sind.
  • Eine Materialentfernungsbehandlung wird nun an den freigelegten streifenförmigen Teilen 19 der passivierten Oberflächengebiete in Gegenwart der definierten Photolackschicht 18 durchgeführt. Dies wird durch einen Poliervorgang unter Verwendung eines Schmirgelleinens und eines feinen Poliermittels erzielt. Es ist möglich, die Materialentfernung auf diese Weise durchzuführen, weil im allgemeinen die Photolackschicht einen grösseren polierwiderstand als die passivierte Oberflächenschicht und ausserdem eine viel grössere Dicke aufweist Auf diese Weise wird die passivierte Oberflächenschicht an den freigelegten streifenförmigen Teilen 19 entfernt und ermöglicht es, dass nachher Kontaktschichten ohne das Auftreten von Ausrichtproblemen auf die Elementkörperteile aufgebracht werden können.
  • Nach diesem Poliervorgang wird eine Goldschicht 20 mit einer Dicke von 0,5 /um auf der oberen Fläche des Gebildes, einschliesslich der Photolackschichtteile 18 und der freigelegten Oberflächenteile der Elementkörperteile 11, abgelagert Das Gold wird durch Zerstäubung abgelagert und Fig. 16 zeigt einen dem Schnitt nach Fig. 15 entsprechenden Schnitt durch die Goldschicht 20, die die Oberfläche des Photolackschichtteiles 18 und die freigelegten Oberflächenteile der Elementkörperteile 11 bedeckt.
  • Es sei bemerkt, dass infolge der Entfernung der passivierten Oberflächenschicht entlang der strei:#enförmigen Teile 19 (Fig. 15) durch einen Poliervorgang die Goldschicht 20 die Oberfläche der Elementkörperteile 11 an keiner Stelle kontaktiert , an der ein solcher Passivierungsschichtteil vorhanden ist, d.h., dass die Ränder der Goldkontaktschicht 20 tatsächlich mit den Rändern des verbleibenden Teiles der passivierten Oberflächenschicht in Register sind.
  • Nach der Ablagerung der Goldschicht 20 werden die verbleibenden Teile der Photolackschicht 18 gelöst, so dass die daraufliegenden Teile der Goldschicht 20 durch einen Abhebeeffekt entfernt werden. So verbleiben auf jedem Elementkörperteil 11 zwei Goldkentaktschicliten 21 und 22, zwischen denen ein wirksames Oberflächengebiet von 50 /um x 50 /um definiert wird. Die Kontaktschichten 21 erstrecken sich über den abgerundeten Rand auf einer Seite der Elemente und die Kentaktschichten 22 erstrecken sich teilweise auf den verbleibenden Teilen der Goldstreifen 14, die den abgerundeten Rand auf der anderen Seite der Elemente bedecken. So tritt eine gewisse Asymmetrie auf, sofern die Kontaktschichten 22 teilweise auf einer Seite dicker als die Kontaktschichten 21 auf der anderen Seite sind.
  • Figuren 17 und 18 zeigen im Querschnitt bzw.
  • in Draufsicht einen Teil des Gebildes nach dem Lösen der Photolackschichtteile 18. Die vorher dur#hgeführte Abrundung der gegenüberliegenden Ränder der Blementkörperteile, über die die Kontaktschichten 21 und 22 angeordnet sind, ermöglicht es, dass die Elementkörperteile 11 mit den aufgebrachten Kontaktschichten bei der weiteren Herstellung einer Infrarotdetekteranordnung verwendet werden, derart, dass ein äusserer elektrischer Kontakt mit den Elementkörperteilen durch einen Filmablagerungsvorgang wesentlich erleichtert wird. In dieser Hinsicht sei auf die von der Anmelderin gleichzeitig eingereichte Patentanmeldung Nr. ... (PHB. 32509) verwiesen.
  • In der Bearbeitungsstufe nach'den Figuren 17 und 18 ist eine Vielzahl (etwa zweitausend) von Kadmiumquecksilbertellurid-Elementkörperteilen 11 mit aufgebrachten IContaktscbichten vorhanden, die alle nach wie vor über die Wachsschicht 7 auf dem Polierblock 5 fixiert. sind. Es ist einleuchtend, dass infolge des Bearbeitungsverfahrens, bei dem von einer von einem Block abgeschnittenen Scheibe ausgegangen wird, eine gewisse Variation in den Eigenschaften der Blementkörperteile 11 über die ganze gebildete Matrix bestehen kann. Um die Elementkörperteile 11 ohne wesentlichen Ausschuss ausnutzen zu können, besteht der nächste Bearbeitungsschritt darin, dass einzelne Elementkörperteile 11 von ausgewählten Stellen der Matrix entfernt und die so entfernten Elemente unterschiedlichen Prüfvorgängen der obenbeschriebenen Art unterworfen werden. Auf diese Weise kann eine Art'Xbersichtskarteu der Eigenschaften der Elemente ueber die ganze Matrix erhalten und benutzt werden, wenn eines oder mehrere der Elementkörperteile 11 zur Entfernung während der weiteren Herstellung einer Iufrarotdetektoranordnung ausgewählt werden. Insbesondere bei der Herstellung einer durch mehrere Elemente gebildeten Anordnung wird dann eine Gruppe nebeneinander liegender Elementkörperteile in der Matrix auf dem Polierblock zur Entfernung in Abhängigkeit von den ausgewerteten Eigenschaften der einzelnen vorher für die Prüfvorgänge entfernten Elementkörperteile ausgewählt.
  • In der vorliegenden Ausführungsform werden die Elementkörperteile 11 einzeln von dem Polierblock auf mechanischem Wege durch-Abheben von dem Wachs mittels eines feinen Werkzeuges entfernt.
  • Fig. 19 zeigt in einer vergrösserten Draufsicht einen Elementkörperteil 11, der noch über die WachsschicJlt 7 auf dem Polierblock 5 fixiert ist, während die Figuren 20 und 21 Querschnitte längs der Linien XX-XX bzw. XXI-XXI der Fig. 19 zeigen. In Figuren 20 und 21 ist die vor der Befestigung der Scheibe auf dem Polierblock 5 erzeugte Oxidschicht mit der gestrichelten Linie 4 angegeben. Die nach der Sensibilisierung der aktiven Oberflächenschicht nach der Definition der Elemente erzeugte Passivierungsschicht ist mit der gestrichelten Linie 17 angegeben und aus Fig. 21 ist ersichtlicht, dass diese sehr dünne Oberflächenschicht auch entlang der angrenzenden Teile der longitudinalen Seitenflächen des Elementkörperteiles 11 gebildet wird. Die lateralen Grenzen des Gebietes der oberen Fläche, über das die Passivierungsbehandlung durchgeführt lçurdes sind mit den kettenförmigen Linien 24 in Fig. 19 angegeben.
  • Aus Fig. 20 ist ersichtlich, dass sich ein Goldkontaktschicht mit einer Dicke von 0,5 /um über den abgerundeten Rand des Elementkörperteiles 11 auf einer Seite desselben erstreckt. Auf dem abgerundeten Rand auf der gegenüberliegenden Seiten des Elementkörperteiles 11 ist der verbleibende Teil des Goldstreifens 14 mit einer Dicke von 0,5 /um vorhanden. Auf diesem Teil des Streifens 14 ist die Goldkontaktschicht 22 mit einer Dicke von 0,5 #um vorhanden, wobei sich die Kontaktschicht 22 weiter in Berührung mit der oberen Fläche des Elementkörperteiles 11 erstreckt. So weist auf einer Seite des Elementkörperteiles die zusasinlengesetzte Goldkontaktschicht 14, 22 eine Dicke von 1 um auf, während auf der anderen Seite die Goldkontaktschicht eine nahezu gleichmässige Dicke von 0,5 /um aufweist.
  • Es dürfte einleuchten, dass im Rahmen der Erwindung viele Abwandlungen möglich sind. Z.B. kann das Verfahren bei der Her stellung von Infrarotdetektorelementen aus anderen Materialien, wie Indiumantimonid, Verlven det werden. Statt eine Matrix nach Fig. 17 anzuordnen, wobei alle Elementkörperteile 11 gleich gross sind und gleiche aktive Oöerflächengebiete aufweisen, kann das Verfahren derart durchgeführt werden, dass aus einer einzigen Ausgangs scheibe eine Matrix erhalten wird, wobei für die Elementkörperteile mindestens zwei verschiedene Grössen bestehen. Dies kann leicht bei der ersten Photomaskierungsstufe beim Definieren der Breite der streifenförmigen Teile 9 erhalten werden. Obgleich in der beschriebenen Ausfuhrungsform das Verfahren das Aufbringen ohmscher Kontaktschichten auf Elementkörperteile mit einer gleichmässigen Materialzusammensetzung zur Anwendung in Detektoren umfasst, deren Wirkung auf der Eigenphotoleit fähigkeit basiert, ist im Rahmen der Erfindung auch ein Verfahren möglich, bei dem die Elementkörperteile derart gebildet werden, dass sie je einen pn-Ubergang in dem empfindlichen Gebiet enthalten und die sich über die gekrümmten Ränder auf den beiden gegenüberliegenden Seiten des enlpfindlichen Gebietes eines Elementkörperteiles erstreckenden Kontaktschichten einen Kontakt mit den p- und n- leitenden Gebieten in dem Elementkörperteil bilden.
  • L e e r s e i t e

Claims (16)

  1. P A T E N T A N 5 P R U C II E Verfahren zur herstellung einer Anzahl von Infrarotdetektorelementen mit je einem Körper aus einem für Infrarot empfindlichen Material mit einer nahezu rechteckigen OberflJ'chenlconfiguration, der mit zwei auf Abstand liegenden elektrischen Kontakten niedrigen Widerstandes auf einer Fläche des Körpers auf beiden Seiten eines empfindlichen Gebietes des Elements versehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Scheibe aus dem infrarotempfindlichen Material auf einem Trägerkörper befestigt wird; dass eine erste Anzahl parallel verlaufender Kanäle gebildet wird, die sich in dem Scheibeniriaterial erstrecken, um auf dem Trägerkörper eine Anzahl nahezu paralleler streifenförmiger Teile aus dem infrarotempfindlichen Material zu definieren; dass eine Behandlung zur Herabsetzung der Dicke der streifenförmigen Teile durchgefiilsrt wird, während zum Erhalten einer Krtimrnung der freigelegten Längsränder der streifenförmigen Teile eine zweite Anzahl nahezu parallelverlaufender Kanäle in dem Scheibenmaterial der streifenförmigen Teile in einer zu der Längsrichtung der streifenförmigen Teile nahezu senkrechten Richtung gebildet wird, um auf dem Trägerkörper eine Matrix nahezu rechteckiger Elementkörperteile aus dem infrarotempfindlichen Material zu definieren, die je gekrümmte Ränder auf zwei gegenüberliegenden Seiten aufweisen; dass ein elektrisch leitendes Material abgelagert wird, um auf der Oberfläche jedes Elementkörperteiles zwei elektrische Kontaktschichten zu bilden, die auf Abstand voneinander liegen und an die gegenüberliegenden gehrUnmten Ränder grenzen, und dass die Elementkörperteile samt den aufgebrachten Kontaktschichten von dem Trägerkörper entfernt werden.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass vor der Befestigung der Scheibe aus infrarotempfindlichem Material auf dem Trägerkörper die Scheibe einer Oxidationsbehandlung unterworfen wird, um ein Oxid auf der auf dem Trägerkörper zu befestigenden Oberfläche der Scheibe zu bilden.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass nach der Befestigung der Scheibe aus infrarotempfindlichem Material auf dem Trägerkörper und vor der Bildung der ersten Anzahl von Kanälen in dem Scheibenmaterial die Scheibe einer anfänglichen Behandlung zur Herabsetzung der Dicke über ihre von dem Träger-Körper abgekehrte Oberfläche unterworfen wird.
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Behandlung zur Herabsetzung der Dicke der streifenförmigen Teile und zum Erhalten einer Krümmung der freigelegten Längsränder der streifenförmigen Teile die Kombination eines Poliervorgangs und eines anschliessenden Atzvorgangs umfasst.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass nach der Bildung der Zlfeiten Anzahl von Kanälen in dem Scheibenmaterial freigelegte Oberflächenteile der Elementkörperteile einer Passivierungs behandlung unterworfen werden.
  6. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass sofort vor der Passivierungsbehandlung die freigelegten Oberflächenteile der Elementkörperteile einer Xtzbehandlung unterworfen werden
  7. 7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennw zeichnet, dass die Passivierungsbehandlung auf eine mittlere Oberfläche der Elementkörperteile beschränkt wird, wobei sich die betreffenden Gebiete über die genannten Elementkörperteile erstrecken, und wobei die genannten Gebiete durch Maskierungsschichtteile definiert werden, die auf gegenüberliegenden Seiten dieser Gebiete neben den gekrümmen Rändern der Elementkörperteile vorhanden sind.
  8. 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass nach der Passivierungsbehandlung und vor dem Aufbringen der Kontaktschichten die genannten Maskierungs schichtteile entfernt werden und eine weitere Maskierungs schicht aufgebracht und derart definiert wird. dass jedes passivierte Oberflächengebiet mit einem Maskierungsschicht teil überzogen ist, ausgenommen zwei gegenüberliegende periphere streifenförmige Teile desselben, die sich nahezu parallel zu den gekrümmten Rändern der Elementkörperteile erstrecken, wobei eine Materialentfernungsbehandlung an den freigelegten streifenförmigen Teilen der passivierten Oberflächengebiete in Gegenwart der Maskierungsschicht teile durchgefmirt wird.
  9. 9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich net, dass die genannte Materialentfernungsbehanfflung aus einem Poliervorgang besteht.
  10. .10. Verfahren nach Anspruch gd dadurch gekeunzeich net, dass die weitere Maskierungsschicht aus Photolack besteht und die elektrischen Kontaktschichten dur cii Ablagerung des elektrisch leitenden Materials auf den freigelegten Oberflächenteilen der Elementkörperteile und den Oberflächenteilen der Maskierungsschicht gebildet werden, wonach die aus Photolack bestehende Maskierungssehi eht und das darauf abgelagerte elektrisch leitende Material auf chemischem Wege entfernt werden.
  11. 11. Verfahren nach einem der Ansprüchen 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass nach dem Aufbringen der Kontaktschichten die Elementlcörperteiae einzeln durch mechanische Mittel von dem Trägerkörper entfernt werden.
  12. 12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass Elementkörperteile von ausgewählten Stellen der Matrix entfernt und Prüfvorgängen unterworfen werden, um die Eigenschaften der Elementkörperteile und ihre Verteilung in der Matrix auszuwerten.
  13. 13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass für die Herstellung einer durch mehrere Elemente gebildeten Infrarotdetektoranordnung eine Gruppe nebeneinander liegender Elementkörperteile in der Matrix auf dem Trägerkörper für Entfernung in Abhängigkeit von den ausgewerteten Eigenschaften der für die Prüfvorgänge entfernten Elementkörperteile ausgewählt wird.
  14. 14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens die erste Anzahl nahezu parallel verlaufender Kanäle in der Scheibe mit einem nahezu gleichmässigen gegenseitigen Abstand gebildet wird.
  15. 15. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass das infrarotempfindliche Material Kadmiumquecksilbertellurid ist.
  16. 16. Infrarotdetektorelement, das durch ein Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche hergestellt ist.
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