DE2202520A1 - Metall-Isolieraufbau - Google Patents
Metall-IsolieraufbauInfo
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims description 52
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims description 52
- 238000009413 insulation Methods 0.000 title claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 claims description 19
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical group [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 7
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 3
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010955 niobium Substances 0.000 claims description 3
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims 3
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 5
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 235000010338 boric acid Nutrition 0.000 description 1
- 125000005619 boric acid group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 235000015165 citric acid Nutrition 0.000 description 1
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid group Chemical class C(CC(O)(C(=O)O)CC(=O)O)(=O)O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 238000006263 metalation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/76—Making of isolation regions between components
- H01L21/762—Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10N97/00—Electric solid-state thin-film or thick-film devices, not otherwise provided for
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/106—Masks, special
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
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Description
• Düsseldorf, 18. Ja*. 1972
.Westinghouse Electric Corporation
Pittsburgh, Pa., V. St. A.
Pittsburgh, Pa., V. St. A.
•Metal !-/Isolier auf bau
•Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Metall-ZIsolieraufbauten
sowie Verfahren zur Herstellung solcher Aufbauten, insbesondere für den Einsatz im Dünnfilmbereich.
Auf dem Gebiet der Dünnfilm-Mikroäektronik sowie der Dünnfilm-Bildwiedergabeelemente
ist es oft erforderlich, elektrische Verbindungen zwischen Bauteilen herzustellen, die sich auf gegenüberliegenden
Seiten eines isolierenden Substrats befinden. Die Anordnung leitender Streifen, die auf der Außenseite des Substrats
zwischen den gegenüberliegenden Flächen geführt sind, ist mühsam, in vielen Anwendungsfällen sogar unmöglich. Die angenehmste Lösung
für die Herstellung von Verbindungen zwischen tjegenüber liegenden
Flächen des Substrats ist es, derartige Verbindungen unmittelbar durch das Substrat selbst zu führen. Infolge der kleinen physikalischen
Abmessungen solcher Dünnfilm-Substrate ist die Bildung derartiger interner Zwischenverbindungen recht schwierig.
Bei einem bereits eingesetzten Verfahren wird ein Bündel glasbeschichteter
«Tolfraradrähte durch Erhitzung des Bündels bis über
die Schmelztemperatur des Glases miteinander verschmolzen, so daß eine einheitliche Struktur urluLten wird. Davon werde· dann
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senkrecht zur Achse der Drähte Abschnitte gewünschter Dicke abgetrennt.
Der einzige nach einem derartigen Verfahren hergestellte Aufbau ist eine hexagonale Anordnung kreisförmiger Metallbereiche,
bei denen die Durchmesser der Bereiche diejenigen der verwendeten Drähte sind. Dieses bekannte Verfahren erfordert eine Spezial-Glasbehandlungsausrüstung
allein für die Erzeugung des einzigen hexagonalen Musters. Ein zusätzliches Problem der Glas-Wolfram-Struktureu
besteht darin, daß solche Strukturen nicht dünner als etwa 500 μ gemacht werden können. Soll der Aufbau dünner sein,
so muß er dazu einem Schleifvorgang unterworfen werden. Da Wolfram ein hartes Metall und Glas sehr spröde ist, verursacht der
SchleifVorgang an der Glas-/Metallgrenzflache ein Aussplittern.
Für den Fall der Verwendung eines so dünn gemachten Aufbaus als
Substrat würden sich in einem auf die geschliffene Fläche aufgedampften Film Unregelmäßigkeiten ergeben.
Aufgabe vorliegender Erfindung ist es daher, eine Möglichkeit zu
schaffen, ein Dünnfilm-Substrat auf verhältnismäßig einfache Weise
ohne Zuhilfenahme einer speziellen Ausrüstung Herstellen zu können, das hinsichtlich der Metall-/Isoliergestaltung Flexibilität
zuläßt und mit der gewünschten Stärke hergestellt werden kann, ohne jedoch Unregelmäßigkeiten oder Unebenheiten an der Außenseite
des Substrats in Kauf nehmen zu müssen.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein Metall-/Isolieraufbau erfindungsgemäß
gekennzeichnet durch ein Substrat, das ein in Anwesenheit eines Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine Oxidschicht
bildendes metallisches Material enthält sowie bestimmte, sich vollständig über die Dicke des Substrats erstreckende, jeweils
durch vollständige Anodisation gebildete Isolierbereiche aufweist.
Ein zur Herstellung solcher Aufbauten besonders geeignetes Verfahren
ist in Weiterbildung der Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß einem Elektrolyt ein Substrat ausgesetzt wird, das das
metallische Material enthält, da3 in der Anwesenheit des Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine Oxidschicht bildet, und
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daß ausgewählte Bereiche des Substrats unter Bildung von die
Dicke des Substrats vollständig durchsetzenden Isolierbereichen vollständig anodisiert werden.
Dicke des Substrats vollständig durchsetzenden Isolierbereichen vollständig anodisiert werden.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungsbeispiels
in Verbindung mit der zugehörigen Zeichnung erläutert. In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 einen Längsschnitt durch ein zur Verarbeitung entsprechend einem Verfahren nach der vorliegenden Erfindung
vorbereitetes Substrat;
Fig. 2 eine Draufsicht auf den erfindungsgemäß erhaltenen Aufbau;
Fig. 3 einen Längsschnitt durch Fig. 2 längs der Linie III-III;
und
Fig. 4 einen Teilschnitt durch ein spezielles Ausführungsbeispiel, bei dem der Aufbau nach der Erfindung im
Zusammenhang mit BildwiedergabeaLementen angewendet
wird.
Fig. 1 zeigt ein für die Umwandlung in einen Metall-/Isolieraufbau
nach der vorliegenden Erfindung vorbereitetes Metallsubstrat M. Das Metallsubstrat M enthält ein Material, das in Anwesenheit
eines Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine poröse
Oxidschicht wie Aluminium bildet. Das Substrat M kann beispielsweise eine Aluminiumfolie mit einer Stärke von etwa 25 μ aufweisen. Das in Anwesenheit eines Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine poröse Oxidschicht bildende Metall-Material muß die vollständige Anodisation des Metallsubstrats M von der Oberbis zur Unterseite gewährleisten. Ein Material wie Aluminium, das eine poröse Oxidschicht bildet, läßt Ionen die Oberfläche des Metalls erreichen, um den Oxydationsvorgang fortzusetzen. Wenn eine als Grenzschicht ausgebildete anodische Schicht geformt würde, wären wegen der Unfähigkeit der Ionen, die Grenzlage
Oxidschicht wie Aluminium bildet. Das Substrat M kann beispielsweise eine Aluminiumfolie mit einer Stärke von etwa 25 μ aufweisen. Das in Anwesenheit eines Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine poröse Oxidschicht bildende Metall-Material muß die vollständige Anodisation des Metallsubstrats M von der Oberbis zur Unterseite gewährleisten. Ein Material wie Aluminium, das eine poröse Oxidschicht bildet, läßt Ionen die Oberfläche des Metalls erreichen, um den Oxydationsvorgang fortzusetzen. Wenn eine als Grenzschicht ausgebildete anodische Schicht geformt würde, wären wegen der Unfähigkeit der Ionen, die Grenzlage
zu durchsetzen, extrem große Spannungen für die Aufrechterhaltung des Oxydationsvorganges erforderlich. Daher ermöglicht die poröse
Grenzschicht, die von Aluminium bei Anodisation geformt wird, die Fortsetzung der Oxydation vollständig durch den Substrataufbau,
so daß von der Oberseite bis zur Unterseite des Substrats durchgehende Gebiete aus isolierendem Oxid erhalten werden können.
Auf der Oberseite des Metallsubstrats M ist ein Widerstandsmuster R aufgebracht, das die Metallgebiete definiert, die durch einen
Elektrolyten nicht anodisiert werden sollen. Ebenso zeigt Fig. 1 eine rückwärtige Abdecklage B, die sich auf der Unterseite des
Metallsubstrats M erstreckt. Die Funktion dieser rückwärtigen Abdecklage B wird weiter unten erläutert.
Der so vorbereitete Aufbau entsprechend Fig. 1 wird in einen Elektrolyten eingetaucht, um die unraaskierten Bereiche zu anodisieren
und so zwischen diesen Oxidgebiete zu bilden. Als Elektrolyt kommt 7-prozentige Schwefelsäure in Frage, die auf einer Temperatur
von annähernd -7 C gehalten wird, um die Lösung des Oxids in dem Elektrolyten auf einem Minimum zu halten. Als zufrieden-
2 stellende Stromdichte wurde ein Wert von etwa 0,8 A/cm gefunden.
Der Anodisationsvorgang wird fortgesetzt, bis sich zwischen der Ober- und der Unterseite des Metallsubstrats M in den unmaskierten
Bereichen des Substrats isolierende Oxidbereiche vollständig durchgebildet haben.
Es wurde gefunden, daß bei der Anodisation von Aluminiumfolie-Substraten
ohne die rückwärtige Abdecklage B die Anodisation durch das Substrat in einigen Gebieten infolge der örtlichen
Abweichungen im Aufbau des Metalls eher als in anderen Gebieten abgeschlossen war. Dadurch entstanden inseiförmlge Metallgebiete,
die vollständig durch das isolierende Oxid eingeschlossen waren. Durch Aufbringen der rückwärtigen Abdecklage B auf das Metallsubstrat
M wurde Homogenität in der Anodisation erreicht, wobei die Abdecklage B ein leitendes Material aufwies, um so die
elektrische Leitfähigkeit hinsichtlich der restlichen, inselförmlgen
Metallgebiete bis zur vollständigen Anodisation aufrechtzuerhalten. Es konnte festgestellt werden, daß durch Aufbringen
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einer Abdecklage im Vakuum, die in der Anwesenheit des Elektrolyten
eine passivierende Schicht bildet, homogene Oxidbereiche entstehen.
Als passivierende Stoffe für die Abdecklage B kommen Titan, Tantal, Niobium, Zirkonium und Chrom in Frage, wobei Titan
in diesem Zusammenhang besonders wirksam ist.
Das Widerstandsmuster R kann auf der Oberseite des Metallsubstrats
M durch Einsatz von Photoresistwerkstoffen und -verfahren gewonnen
werden. Jedoch erwies sich die Haftung hinsichtlich solcher Photoresistwerkstoffe als sehr schwach, insbesondere, wenn die
Oberseite des Substrats poliert war. Daher wird das Widei'standsmuster
R idealerweise durch Vakuumablagerung eines Materials gebildet, wie es für die Abdecklage Verwendung findet, d.h. ein
Material, das bei Anwesenheit des Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine passivierende Schicht bildet. Es können daher
die gleichen Materialien, wie sie oben für die Abdecklage B aufgeführt wurden, eingesetzt werden, wobei Titan sich in idealer
Weise für die Bildung des Widerstandsmusters R eignet.
Sowohl die rückwärtige Abdecklage B als auch das Widerstandsmuster
R können durch Vakuumablagerung von Titan in einer Stärke von ungefähr lOOO 8-Einheiten gebildet werden. Passivierende
Werkstoffe, insbesondere Titan, eigneu sich in besonderer Weise für die Bildung des Widerstandsmusters R und der Abdecklage
B, weil sie eine besonders intensive Bindung mit Aluminiumflächen eingehen und sich nicht bei Anodisation abzuheben beginnen.
Ferner sind diese Werkstoffe gegenüber dem Elektrolyt inert, sobald die Passivierung eingetreten ist.Nachdem der gewünschte
Metall-/Isolieraufbau durch vollständige Anodisation von der Ober- bzw. Unterseite des Metallsubstrats M gebildet
worden ist, können das Widerstandsmuster R und die Abdecklage B entfernt werden, indem der Aufbau beispielsweise Ln eine lO %-ige
Fluorwasserstoffsäurelösung für einige Sekunden eingebracht
wird. Dadurch lassen sich die Abdecklage B bzw. das .Hderstiiüdsmuster
R wirksam entfernen, während die Alumni L uiubereiche nur
in geringfügigem Maß geifcst werden and die isolierenden Oxi; >ereiche
nur eine geringfügige Beeinträchtigung erfuhren.
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Fig. 2 und 3 zeigen einen vollständigen Aufbau nach der Erfindung,
bei dem ausgewählte Metallbereiche M1 des Metallsubstrats M
zurückgeblieben und durch Isolationsbereiche I umgeben sind, wie sie bei dem zuvor beschriebenen Anodisationsvorgang erhalten
wurden. Wie mit Fig. 2 gezeigt, wird eine Matrix mit im wesentlichen quadratischen Metallgebieten M erzeugt, die jeweils durch
die isolierenden Oxidbereiche I umgeben sind. Wie mit Fig. 3 gezeigt, erstrecken sich die Metallbereiche M1 vollständig durch
die Dicke des Substrats von der Oberseite bis zur Unterseite. Ebenso erstrecken sich auch die Isolationsbereiche I vollständig
über die Dicke des Substrats, wobei diese Isolationsbereiche I durch die vollständige Anodisation des Metall-Substrats zu dem
Oxid gebildet sind.
Das spezielle Muster der in Verbindung mit dem Aufbau auftretenden
Metallbereiche ist durch die besondere Art und Weise gegeben, Ln der das Widerstandsmuster vor der Oxydation auf das Substrat
aufgebracht wird. Die 5x3 -Matrixanordnung der Fig. 2 ist nur
als Beispiel gezeigt. Jedoch kann auf der Oberseite im wesentlichen jedes beliebige Muster aufgebracht werden, weitgehend, wie
das in Verbindung mit gedruckten Schaltungen geschieht, um einen gewünschten Schaltkreisaufbau oder einen sonstigen Aufbau auf der
Überseite des Substrats zu erhalten, was nach der Anodisation einen Aufbau mit vollständig durchgehenden metallischen Bereichen
entsprechend dem Muster ergibt. So können auf eher Seite des Aufbaus verschiedene EingangsanschlUsse an den gewünschten
Metallbereichen vorgenommen werden, wobei über die entsprechenden
Metallbereiche die Durchführung elektrischer Ströme zur anderen Seite dos Aufbaus möglich ist, wo dann wieder je nach Bedarf
elektrische AusgangsanschlUsse hergestellt werden können. Ferner
kinine η gewünsch tenf alls mehrere der mit Fig. 2 bzw. 3 gezeigten Anordnungen übereinandergestapelt werden, um eine zusammengesetzte
Anordnung zu erhalten, die verschiedene elektrische Z /isohenverbindungen aufweist, wie sie durch den Stapelaufbau hindurch gewünscht sind.
Hei (IiJi Herstellung von einem Aufbau, wie er mit Fig. 2 und 3 ge-
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zeigt ist, ließen sich Ätzfaktoren von etwa 0,3 erzielen, d.h. die
Anodisation schreitet entsprechend 3 Einheiten in vertikaler Richtung für jede horizontale Einheit fort. Daraus ergibt sich,
daß die Auflösung der in Verbindung mit diesem Verfahren hergestellten Metallbereiche durch die Anfangsstärke der Metallfolie
begrenzt ist. Es wurde gefunden, daß die Metallbereiche einen Mindestabstand von etwa 0,6 der Folienstärke haben müssen und
die Durchmesser nicht kleiner als etwa 0,6 der Folienstärke sein dürfen. Die Grenzen sind somit durch die Stärke der Folie vorgegeben,
die sich noch bequem ohne Beschädigung handhaben läßt. Unter Verwendung von 25 μ starker Aluminiumfolie ließen sich
10 χ lO -Anordnungen mit 5600 μ /Λίβ ta lib ere ic hen bei 1-mm-Zentren
regelmäßig mit geringen Abweichungen herstellen. In dem Aufbau nach Fig. 3 sind die Metall-/Isoliergrenzflachen mit rechtwinkligem
Verlauf bezüglich der Ober- bzw. Unterseite wiedergegeben, jedoch versteht es sich, daß in der Praxis die Metall-/
Isolier-Grenzflachen je nach der Dicke der Substratfolie und der
Länge des angewandten Anodisationsprozesses einen etwas gekrümmten Verlauf haben können. Das beeinträchtigt jedoch nicht
den endgültig erhaltenen Aufbau, bei dem auf einer Seite des Substrats mehrere Metallbereiche vorgesehen sind, die sich vollständig
über die Dicke des Substrats zu dessen anderer Begrenzungsfläche
hin erstreckenTund die einzelnen Metallbereiche
durch Oxidbereiche elektrisch voneinander isoliert sind.
Wenn der beschriebene Aufbau eine sehr geringe Stärke in der Größenordnung von Mikron haben soll, so kann von einem Verfahren
Gebrauch gemacht werden, bei dem eine sperrschichtartig ausgebildete
anodische Lage erhalten wird. Es ist eine Anodisationsspannung von etwa 30 V/8ngströmeinheit erforderlich. Für eine
Substratstärke von 5 μ wäre somit eine Spannung von 400 V notwendig. Für ein Aluminiumsubstrat kommen Wein-, Bor- und Citronensäuren
als geeignete Elektrolyten in Frage. Dieses Verfahren kann sich als günstig erweisen, wenn sehr dünne Aufbauten mit
Oxydationsbereichen hoher Isolationsqualität notwendig sind.
Strukturen, wie sie mit den Fig. 2 und 3 wiedergegeben sind,
lassen sich in vorteilhafter Weise in Verbindung mit Bildwiedergabeelementen
einsetzen, bei denen auf einer Seite eines Substrats eine Reihe photoempfindlicher Schaltelemente angeordnet sind und
die erzeugten Elektronen zu der gegenüberliegenden Begrenzungsfläche des Substrats weitergeleitet werden sollen. Ein solches
Ausführungsbeispiel ist mit Fig. 4 gezeigt.
Fig. 4 zeigt nur zwei photoempfindliche Schaltelemente PRl und
PR2, die sich über die obere Grenzfläche der Metallbereiche Ml und M2 erstrecken, die ihrerseits - von dem isolierenden Oxidmaterial
umgeben - durch den Querschnitt des Substrats verlaufen. Es versteht
sich jedoch, daß eine Reihe oder Vielzahl solcher Schaltelemente in einer geometrischen Gestaltung entsprechend Fig. 2
oder auch anderen gewünschten Mustern vorgesehen sein kann. Die photoempfindlichen Schaltelemente PRl und PR2, die über den entsprechenden
Metallbereichen Ml und M2 liegen, sind ihrerseits durch Metallagen Gl bzw. G2 abgedeckt, die beispielsweise aus
Gold bestehen können. Die photoempfindlichen Schaltelemente PRl und PR2 können aus photoleitendem Material wie beispielsweise
Cadmiumsulfid oder Camiumselenid bestehen. An der Unterseite
des mit Fig. 4 gezeigten Aufbaus ist an der Grenzfläche eine dünne Sperrschicht aus Aluminiumoxid für die Metallbereiche Ml
und M2 In Form von Lagen Ol bzw. 02 vorgesehen. Über den Lagen Ol und 02 angeordnete Metallagen G3 bzw. G4 vervollständigen
den Gesamtaufbau. Eine Arbeitspotentialquelle (nicht dargestellt) würde das Schaltelement PRl über die Metallagen Gl und G3, das
Schaltelement PR2 über die Metallagen G2 und G4 speisen.
Bei auf die Schaltelemente PRl und PR2 fallender Strahlung sinkt deren Widerstand ab, so daß die an der Metall-Isdiergrenzflache
anstehende Vorspannung zunimmt und Elektronen emittiert und über die an der Unterseite des Substrats befindlichen Metallagen G3,
G4 abgegeben werden können.
Damit steht erfindungsgemäß ein einfacher und übersichtlicher
Aufbau zur Verfügung, bei dem auf einer Seite eines Substrats photoleitende Schaltelemente angeordnet und die davon bei Einfall
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von Strahlung erzeugten Elektronen von der anderen Oberfläche des Substrats abgegeben werden können.
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Claims (14)
- Patentansprüche;Metall-/Isolieraufbau, gekennzeichnet durch ein Substrat, das ein in Anwesenheit eines Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine Oxidschicht bildendes metallisches Material enthält sowie bestimmte, sich vollständig über die Dicke des Substrats erstreckende, jeweils durch vollständige Anodisation gebildete Isolierbereiche aufweist.
- 2. Aufbau nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine poröse Oxidschicht gebildet ist.
- 3. Aufbau nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das metallische Material Aluminium aufweist.
- 4. Aufbau nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat Metallbereiche aufweist, die sich zwischen den bestimmten Isolierbereichen vollständig über die Dicke des Substrats erstrecken.
- 5. Aufbau nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch photoempfindliche, den Metallbereichen zwischen den bestimmten Isolierbereichen zugeordnete Schaltelemente auf einer Seite des Substrats, die auf den Einfall von Licht ansprechen und dadurch die Emission von Elektronen hervorrufen, die von der gegenüberliegenden Seite des Substrats abgegeben werden.
- 6. Verfahren zur Herstellung eines Metall-/Isolieraufbaus nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, daß einem Elektrolyt ein Substrat ausgesetzt wird, das das metallische Material enthält, das in der Anwesenheit des Elektrolyten unter anodischen Bedingungen eine Oxidschicht bildet, und daß ausgewählte Bereiche des Substrats unter Bildung von die Dicke des Substrats vollständig durchsetzenden Isolierbereichen vollständig anodisiert werden.209834/1029
- 7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine poröse Oxidschicht gebildet wird,
- 8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß das metallische Material Aluminium aufweist.
- 9. Verfahren nach Anspruch 6, 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß auf das Substrat eine rückwärtige Abdecklage aus einem Material aufgebracht wird, das in der Anwesenheit eines Elektrolyten unter Anodisationsbedingungen eine die Homogenität der Isolierbereiche (I) gewährleistende Passivierungsschicht bildet.
- 10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Abdecklage Titan, Tantal, Niobium, Zirkonium oder Chrom ist.
- H. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Abdecklage durch Einbringen in eine Ätzlösung nach Abschluß der Anodisation entfernt wird.
- 2. verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 6 - 11, dadurch gekennzeichnet, daß über außerhalb der bestimmten Isolierbereiche auf einer Seite des Substrats liegende Bereiche eine Maskierungsschicht aus einem Material gebracht wird, das bei Anwesenheit eines Elektrolyten unter Anodisationsbedingungen eine Passivierungsschicht bildet.
- 13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß als Material für die Maskierungsschicht Titan, Tantal,Niobium, Zirkonium oder Chrom verwendet wird.
- 14. Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Maskierungsschicht durch Einbringen des maskierten Substrats in eine Ätzlösung nach Abschluß der Anodisation entfernt wird.KN/sb 3209834/1079Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10984671A | 1971-01-26 | 1971-01-26 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2202520A1 true DE2202520A1 (de) | 1972-08-17 |
Family
ID=22329884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19722202520 Pending DE2202520A1 (de) | 1971-01-26 | 1972-01-20 | Metall-Isolieraufbau |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3671819A (de) |
DE (1) | DE2202520A1 (de) |
GB (1) | GB1382050A (de) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4542579A (en) * | 1975-06-30 | 1985-09-24 | International Business Machines Corporation | Method for forming aluminum oxide dielectric isolation in integrated circuits |
GB2243618B (en) * | 1990-05-04 | 1995-01-11 | Scient Generics Ltd | Improvements in the production process for making continuously electroformed thickness modulated or perforated metal foil |
KR960001611B1 (ko) | 1991-03-06 | 1996-02-02 | 가부시끼가이샤 한도다이 에네르기 겐뀨쇼 | 절연 게이트형 전계 효과 반도체 장치 및 그 제작방법 |
US5468987A (en) * | 1991-03-06 | 1995-11-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for forming the same |
US5240868A (en) * | 1991-04-30 | 1993-08-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of fabrication metal-electrode in semiconductor device |
GB2284710B (en) * | 1991-04-30 | 1995-09-13 | Samsung Electronics Co Ltd | Fabricating a metal electrode of a semiconductor device |
US6624450B1 (en) | 1992-03-27 | 2003-09-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for forming the same |
US6468806B1 (en) | 1996-10-02 | 2002-10-22 | Symyx Technologies, Inc. | Potential masking systems and methods for combinatorial library synthesis |
US20030104481A1 (en) * | 1997-09-30 | 2003-06-05 | Symyx Technologies | Potential masking systems and methods for combinatorial library synthesis |
KR100629521B1 (ko) * | 2005-07-29 | 2006-09-28 | 삼성전자주식회사 | Led 패키지 및 그 제조방법과 이를 이용한 led어레이 모듈 |
US20070080360A1 (en) | 2005-10-06 | 2007-04-12 | Url Mirsky | Microelectronic interconnect substrate and packaging techniques |
JP5363384B2 (ja) * | 2010-03-11 | 2013-12-11 | 新光電気工業株式会社 | 配線基板及びその製造方法 |
DE102010034924A1 (de) | 2010-08-20 | 2012-02-23 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Halbleiterbauelement |
TWI437670B (zh) * | 2011-08-19 | 2014-05-11 | Subtron Technology Co Ltd | 散熱基板之結構及其製程 |
KR101403640B1 (ko) | 2012-11-20 | 2014-06-05 | 주식회사 세미콘라이트 | 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법 |
US9985345B2 (en) * | 2015-04-10 | 2018-05-29 | Apple Inc. | Methods for electrically isolating areas of a metal body |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2793178A (en) * | 1953-04-28 | 1957-05-21 | Rca Corp | Method of providing insulator with multiplicity of conducting elements |
US3364300A (en) * | 1965-03-19 | 1968-01-16 | Texas Instruments Inc | Modular circuit boards |
US3491197A (en) * | 1966-12-30 | 1970-01-20 | Texas Instruments Inc | Universal printed circuit board |
US3541222A (en) * | 1969-01-13 | 1970-11-17 | Bunker Ramo | Connector screen for interconnecting adjacent surfaces of laminar circuits and method of making |
-
1971
- 1971-01-26 US US109846A patent/US3671819A/en not_active Expired - Lifetime
- 1971-12-30 GB GB6069971A patent/GB1382050A/en not_active Expired
-
1972
- 1972-01-20 DE DE19722202520 patent/DE2202520A1/de active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3671819A (en) | 1972-06-20 |
GB1382050A (en) | 1975-01-29 |
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