DE2754526A1 - Verfahren zur herstellung einer fotokathode fuer elektroradiographische und elektrofluoroskopische apparate - Google Patents

Verfahren zur herstellung einer fotokathode fuer elektroradiographische und elektrofluoroskopische apparate

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Description

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT If Unser Zeichen Berlin und München VPA 77 p 7 5 6 9 BRO
Verfahren zur Herstellung einer Fotokathode für elektroradiographische und elektrofluoroskopische Apparate
Zusatz zum Patent ... (Patentanmeldung P 27 15 483.2; VPA 77 P 7519 BRD)
Gegenstand des Hauptpatentes ... (Patentanmeldung P 27 15 483.2) ist eine Fotokathode für elektroradiographische und elektrofluoroskopische Apparate, die eine Stapelanordnung von Lochfolien aus einem Material hoher Ordnungszahl enthält. Die Lochfolien dieser Fotokathode können vorteilhaft jeweils als Doppelschichtlochfolien mit zwei äußeren, elektrisch leitenden Schichten und dazwischen befindlicher Isolierschicht ausgebildet sein, wobei zwischen den beiden äußeren Schichten ein vorbestimmtes Potentialgefälle vorgesehen ist.
Entsprechende Potokathoden können insbesondere für Apparate der sogenannten Niederdruck-Ionographie in der medizinischen Technik vorgesehen sein (Phys. Med. Biol. ,18 (1973), Seiten 695 bis 703). In diesen Apparaten wird der äußere Röntgen-Fotoeffekt einer Festkörper-Fotokathode zur Erzeugung von elektrischen Ladungsträgern ausgenutzt. Die emittierten Fotoelektronen werden anschließend im Gasraum einer entsprechenden Kammer mittels einer Townsend-Entladung so stark vervielfacht, daß ein entwickelbares, elektro-
SIm 2 Hag / 29. 11. 1977 - 2 -
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statisches Bild auf einer Papier- oder Kunststoffolie entsteht. Wenn anstelle dieser Folien zum Sammeln der Ladungen ein Elektrolumineszenz-Leuchtschirm verwendet wird, kann mit diesem Verfahren auch in Bildfolgen ein zeitlich sich verändernder Vorgang dargestellt werden. Ein solches Verfahren wird als Elektrofluoroskopie bezeichnet. Ein bekanntes Ausführungsbeispiel hierfür ist der Röntgen-Bildverstärker.
Bei Verwendung eines geeigneten Füllgases,das in der Kammer einer solche Fotokathode unter Atmosphärendruck stehen kann, sind Vervielfachungsfaktoren von 10 ohne weiteres zu erhalten. Es besteht jedoch ein starkes Mißverhältnis zwischen der Eindringtiefe der Röntgen strahlen und der Reichweite der emittierten Fotoelektronen. Aufgrund dieses Mißverhältnisses, das etwa bei 100:1 liegt, müssen bei den Fotokathoden besondere Maßnahmen ergriffen werden, um eine Quantenausbeute zu erhalten, mit der sich die an die Empfindlichkeit und das Auf lösungsvermögen gestellten Anforderungen der medizinischen Technik erfüllen lassen. Unter der Quantenausbeute ist dabei die Zahl der emittierten Fotoelektronen pro einfallendes Röntgenquant zu verstehen. Bei Verwendung der eingangs genannten Fotokathode mit einer Stapelanordnung von Lochfolien aus einem Material hoher Ordnungszahl ist nun eine verhältnismäßig starke Absorption der Röntgenstrahlung und somit eine entsprechend hohe Quantenausbeute möglich. Die Quantenausbeute ist nämlich im wesentlichen das Produkt aus dem Fotoabsorptions koeffizienten und der Elektronenreichweite und hängt von der Energie der Strahlung und der Ordnungszahl des Kathodenmaterials ab. Ferner ist die Quantenausbeute der eingangs genannten Fotokathode wegen der Vergrößerung ihrer effektiven Oberfläche aufgrund der Stapelanordnung der Lochfolien wesentlich höher als die Quantenausbeute einer vergleichbaren massiven, ebenen Fotokathode. Das Elektronenemissionsvermögen einer solchen Kathode nimmt
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proportional mit der vergrößerten Oberfläche zu, solange eine Schwächung der Röntgenstrahlung in diesen Strukturen noch von untergeordneter Bedeutung ist.
Die Doppelschicht-Lochfolien einer solchen Fotokathode können gemäß dem Hauptpatent ... (Patentanmeldung P 27 15 483.2) dadurch hergestellt werden, daß zunächst die Stege auf einer einfachen Lochfolie einseitig mit einer Isolationsschicht versehen werden und schließlich auf den die Stege abdeckenden Teilen der Isolationsschicht ein elektrisch leitfähiges Material abgeschieden wird. Die Isolationsschichten müssen möglichst frei von Störungen sein, die zu einer Herabsetzung der Durchschlagsfestigkeit der Isolationsschicht führen könnten. Der Aufwand, um dies zu erreichen, ist bei dem vorgeschlagenen Verfahren verhältnismäßig groß.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es deshalb, ein weiteres Verfahren anzugeben,mit dem Doppelschicht-Lochfolien für eine Fotokathode der eingangs genannten Art auf verhältnismäßig einfache Weise hergestellt werden können.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zunächst eine hochisolierende Kunststoffolie als Isolationsschicht beidseitig mit einer elektrisch leitenden Schicht versehen wird, daß anschließend die beiden so hergestellten elektrisch leitenden Schichten jeweils mit einem derartigen Lochmuster versehen werden, daß die Löcher in den beiden Schichten jeweils einander gegenüberliegen, und daß schließlich die Teile der Kunststoffolie, welche die Löcher der elektrisch leitenden Schichten abschließen, entfernt werden. Unter einer hochisolierenden Kunststofffolie ist dabei eine Folie mit einer Durchschlagsfestigkeit von mindestens 10 V/cm zu verstehen.
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Die Vorteile dieses Verfahrens bestehen insbesondere darin, daß kommerziell hergestellte Kunststoffolien verwendet werden können, die hochisolierend sind, d.h. die keine Störungen enthalten, die zu einer Herabsetzung der Durch-Schlagsfestigkeit der Folie führen.
Gemäß einer Weiterbildung des Verfahrens kann vorteilhaft das Lochmuster in die elektrisch leitenden Schichten mittels einer entsprechenden, auf ihnen aufgebrachten Lochmaske eingeätzt werden. Die Lochmaske wird dabei vorzugsweise in Fotoresisttechnik auf der Jeweiligen elektrisch leitenden Schicht aufgebracht. Bei diesem Verfahren wird auf fototechnischem Wege in einem auf der elektrisch leitenden Schicht aufgetragenen Fotoresistlack das gewünschte Lochmuster hergestellt. Daran anschließend kann vorteilhaft das Einätzen des Lochmusters in die elektrisch leitende Schicht durch Sputterätzen in einem Argon-Plasma vorgenommen werden. Es läßt sich so ein Verbrennen der Lochmaske aus dem Fotolack vermeiden. Schließlich wird der Fotolack in bekannter Weise wieder entfernt, ohne daß eine Beeinträchtigung der elektrisch leitenden Schichten oder der Isolationsfolie zu befürchten ist.
Die Teile der Kunststoffolie, welche die Sacklöcher in den elektrisch leitenden Schichten am Boden abschließen, können vorteilhaft herausgeätzt werden. Vorzugsweise wird das Herausätzen durch Plasma-Ätzen in einem Sauerstoff - oder in einem Argon - Sauerstoff - Plasma vorgenommen. Bei einem solchen Sputterprozeß ist nämlich der Anteil des gesputterten Folienmaterials gering; der Abtrag erfolgt im wesentlichen durch Abbrennen im Sauerstoffplasma.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung und deren in den Unteransprüchen gekennzeichneten Weiterbildungen wird auf die schematische Zeichnung Bezug genommen, anhand deren Figuren 1 bis 10 als Ausführungsbeispiel ein Verfahren
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gemäß der Erfindung nachfolgend erläutert wird.
Eine gemäß dem Verfahren nach der Erfindung hergestellte Fotokathode für elektroradiographische und elektrofluoroskopische Apparate der medizinischen Technik soll eine Vielzahl von Doppelschicht-Lochfolien enthalten, die zu einem Stapel angeordnet sind und jeweils auf ihren äußeren Flachseiten mit einer elektrisch leitenden Schicht aus einem Material hoher Ordnungszahl versehen sind. Einzelne Schritte zur Herstellung hierfür geeigneter Doppelschicht-Lochfolien sind in den folgenden Figuren angedeutet.
Fig. 1 zeigt einen Querschnitt durch einen Teil einer freitragenden, d.h. keine besondere Stützstruktur erfordernden Isolationsfolie 2, deren Stärke etwa zwischen 0,1 und einigen Mikrometern liegt. Diese Folie ist auf einem Rahmen 3 aufgespannt. Entsprechende Folien sind kommerziell erhältlich (z.B. Union Carbide: Perylene).
Sie können auch nach einem bekannten Verfahren auf geeigneten Substraten hergestellt, von diesen dann abgelöst und in der gewünschten Weise aufgespannt werden. Das Folienmaterial ist wenigstens annähernd frei von störenden Einschlüssen, die zu einer Herabsetzung der Durchschlagsfestigkeit führen. Die Durchschlagsfestigkeit der Folien soll dabei mindestens 10 V/cm, vorzugsweise über 10 V/cm betragen. Folien aus dem bekannten Material haben beispielsweise eine Durchschlagsfestigkeit von 2 bis 3 ' 10 V/cm bei 25 /um Schichtdicke. Der spezifische Widerstand dieser Folie beträgt etwa 6 · 10 JZ · cm.
Eine entsprechende Isolationsfolie 2 wird nun gemäß Fig. 2 beidseitig mit einer dünnen Schicht von beispielsweise einigen Mikrometern Dicke aus einem Material mit einer hohen Ordnungszahl versehen. Die entsprechenden Schichten 5 und 6 können z.B. aus Gold bestehen und vorteilhaft auf die freie obere und untere Flachseite der Folie 2
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aufgedampft oder aufgesputtert, d.h. in einer Kathodenzerstäubungsanlage aufgestäubt werden. Zur Verbesserung der Haftung zwischen Folie und aufgedampfter bzw. aufgesputterter Schicht ist eine zuvor durchgeführte kurzzeitige Plasmaätzung der Folienoberflächen in einem Sauerstoff- oder Sauerstoff-Argon-Plasma vorteilhaft.
Gemäß Fig. 3 werden dann die beiden Goldschichten 5 und 6 jeweils mit einer Schicht 9 bzw. 10 aus einem z.B. positiven Fotoresistlack überzogen. Die Lackschichten können beispielsweise durch Aufschleudern auf den Goldschichten aufgebracht werden.
Nach Fig. 4 setzt man daran anschließend Teile der beiden Fotoresistlackschichten 9 und 10 von ihren freien Flachseiten her einer durch Pfeile 12 bzw. 13 angedeuteten UV-Strahlung aus. Dabei sind die nicht zu belichtenden Teile der Lackschichten durch Masken 14 bzw. 15 von der UV-Strahlung abgeschirmt. Die Struktur der Masken entspricht dabei der Struktur der Jeweils herzustellenden Lochfolie. Von der UV-Strahlung werden also nur die durch die Maske nicht abgedeckten Teile der Lackschichten 9 und 10 belichtet.
Nach dem Entwickeln und Herauslösen dieser belichteten Lackschichtteile verbleibt dann gemäß Fig. 5 auf der Ober- und Unterseite der Goldschichten 5 bzw. 6 jeweils eine entsprechende Lochmaske 17 bzw. 18 aus dem Fotoresistlack. Anschließend werden die Goldschichten 9 und 10 an den von den Fotolackmasken 17 bzw. 18 nicht beschichteten Stellen geätzt, beispielsweise durch Sputterätzen in einem Argon-Plasma. Dabei dient also der Fotolack als Maske. Vorteilhaft wird bei diesem Verfahrensschritt ein niedriger Sauerstoff-Partialdruck von vorzugsweise unter 10 Torr eingehalten, um ein Verbrennen des Fotolackes zu vermeiden. An den von dem Fotolack abgedeckten Stellen kann das Gold der Schichten gegebenenfalls auch durch chemisches Ätzen herausgelöst werden. Es ergeben sich so die in Fig. 6
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dargestellten Goldlochfolien 20 und 21 zu beiden Seiten der Isolationsfolie mit einer Lochstruktur, die der Struktur der Fotoresistlochmasken 17 bz*i 18 entspricht.
Die auf diesen Goldlochfolien 20 und 21 noch vorhandenen entsprechenden Fotoresistlackschichten 17 bzw. 18 werden anschließend gemäß Fig. 7 in bekannter Weise chemisch abgelöst. Eine Reaktion zwischen den geeigneten Lösungsmitteln des Fotolackes und dem Material der Isolationsfolie 2 ist dabei im allgemeinen nicht zu befürchten und auch ohne Bedeutung. Die von den so entstandenen Goldlochfolien 20 und 21 nicht abgedeckten Teile 23 der Isolationsfolie 2 werden nämlich anschließend herausgelöst, beispielsweise herausgeätzt, und man erhält die in Fig. 8 dargestellte Isolationsfolie mit einer entsprechenden Lochstruktur. In der Figur ist die so entstandene Lochfolie mit 25 bezeichnet. Ein Herauslösen der Teile 23 der Folie 2 kann auf chemischem Wege wegen der hohen Resistenz des Folienmaterials mit Schwierigkeiten verbunden sein. Dann wird vorteilhaft ein Sputterätzen in einem Sauerstoff- oder in einem Argon-Sauerstoff-Plasma vorgesehen. Vorzugsweise wird ein Plasmaätzen angewendet, bei dem in einem Sauerstoff-Plasma geringer Leistungsdichte ein Verbrennen und damit eine Ätzung der zu entfernenden Folienteile mittels des durch das Plasma erzeugten aktiven Sauerstoffs erfolgt. Der Anteil des gesputterten Folienmaterials ist hierbei gering. Eine schädliche thermische Belastung der Goldlochfolienschichten 20 und 21, die zu Verwerfungen führen könnte, wird dabei vermieden. Ebenso wird verhindert, daß durch die wesentlich höhere Sputterrate des Goldes gegenüber dem Material der Isolationsfolie Goldatome auf diesem Material kondensieren können.
Sollten die gewünschten Schichtdicken der metallischen Deckschichten 20 und 21 nicht von vornherein erreicht werden können, so läßt sich z.B. auch eine galvanische
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Nachverstärkung dieser Schichten vornehmen. In den Fig.
und 10 ist als Querschnitt bzw. als Draufsicht ein Teil einer entsprechenden Doppelschicht-Lochfölie veranschaulicht. Die auf den einzelnen Stegen 27 der Goldschicht-Lochfolien 20 und 21 auf galvanischem Wege abgeschiedenen Teile sind in der Figur durch verstärkte, mit 28 bezeichnete Linien angedeutet. Durch die Verstärkung dieser Stege wird die Querschnittsfläche der zwischen ihnen ausgebildeten Löcher 29 gegenüber den Löchern 30 in der Lochfolie 25 aus dem Isolationsmaterial entsprechend verkleinert.
Gegebenenfalls sind Goldschichten mit größerer Dicke, beispielsweise über 1 /um erwünscht. Solche Schichtig dicken können insbesondere bei großflächigen Doppelschicht-Lochfolien von Vorteil sein, da dann die Folien mechanisch stabiler sind und weniger zum Durchhängen neigen. In diesen Fällen wird vorteilhaft eine zusätzliche metallische Maske zwischen der jeweiligen Goldschicht und der entsprechenden Maske aus der Fotoresistlackschicht vorgesehen. Auf diese Weise kann vermieden werden, daß die Maske aus der Fotoresistlackschicht in dem Sputtervorgang zum Herausätzen der vorgesehenen Teile der Goldschichten eher vollständig abgebaut ist als die herauszusputternden Goldschichtteile. Als Maskenmaterial für diese Zwischenmasken ist Titan besonders geeignet. Dieses Material kann auf die Goldschichten beispielsweise durch Aufdampfen oder Aufsputtern aufgebracht werden. Entsprechend dem beschriebenen Verfahren zum Ätzen der Goldschichten wird zur Herstellung der Zwischenmasken auf den Titanschichten eine Maske aus dem Fotoresistlack mit dem gewünschten Lochmuster aufgebracht. Dieses Lochmuster wird daran anschlie ßend auf die Titanschicht mittels Sputterätzens übertragen. Hierzu wird vorteilhaft ein Argon-Plasma mit möglichst geringem Sauerstoffpartialdruck vorgesehen, der vorteilhaft unter 10 Torr liegt. Die Titanschichtdicke ist dabei so zu wählen, daß die
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Fotoresistmaske zumindest so lange standhält, bis das Titanlochmuster vollständig ausgebildet ist, d.h. die Titanschicht in den vorgesehenen Löchern vollständig entfernt ist. Danach wird, beispielsweise ohne Unterbrechung des laufenden Sputterätzprozesses, etwas Sauerstoff zum Argon-Plasma zugegeben, bis sich z.B. ein Partialdruck von 10" Torr einstellt. Hierdurch wird die Titanmaske oberflächlich oxidiert. Da Titanoxid (TiO) eine geringere Sputterrate als Titan oder Gold aufweist, kann im weiteren Verlauf der Sputterätzung der Goldschicht diese in den Löchern der Lochmaske vollständig herausgeätzt werden, und zwar selbst dann, wenn nur eine dünne Titanschicht aufgebracht wurde. Reste der Potoresistlackschicht werden dabei durch Abbrennen vollständig entfernt. Für den sich daran anschließenden Verfahrensschritt einer Ätzung der Isolationsfolie an den Lochstellen treten hierbei keine Schwierigkeiten auf, da dabei ohnehin ein sauerstoffhaltiges Plasma vorgesehen werden kann.
Gegebenenfalls können nach dem vollständigen Herauaätzen der Lochstruktur in der Goldschicht noch Teile der Titanmaske vorhanden sein. Dann kann der Sputterätzprozeß bis zur vollständigen Entfernung der Titanschichtreste fortgeführt werden, da damit für die in den Löchern freiliegende Isolationafolie keine Nachteile verbunden sind, sofern eine geringe Plasmaleistungsdichte eingestellt wird. Eine schädliche thermische Belastung der Isolationsfolie läßt sich so vermeiden.
Bei dem in den Fig. 1 bis 10 veranschaulichten Verfahren ist davon ausgegangen, daß der Maskierungsprozeß und auch die Ätzprozesse auf beiden Seiten der Isolationsfolie gleichzeitig durchgeführt werden. Ebensogut können aber die einzelnen Prozesse auch nacheinander
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erfolgen oder es kann nur von einer Seite maskiert und geätzt werden, wobei die geätzte Schicht als Maske für den nachfolgenden Verfahrensschritt dient.
15 Patentansprüche
10 Figuren
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L e e r s e i t e

Claims (15)

Patentansprüche V? 7569 BRD
1. Verfahren zur Herstellung einer Fotokathode für elektroradiographische und elektrofluoroskopische Apparate mit einer Stapelanordnung von Doppelschicht-Lochfolien aus jeweils zwei äußeren, elektrisch leitenden Schichten aus einem Material hoher Ordnungszahl und einer dazwischen befindlichen Isolationsschicht, nach Patent ... (Patentanmeldung P 27 15 483.2; VPA 77 P 7519 BRD), dadurch gekennzeichnet, daß zunächst eine hochisolierende Kunststoffolie (2) als Isolationsschicht beidseitig mit einer elektrisch leitenden Schicht (5 bzw. 6) versehen wird, daß anschließend die beiden so hergestellten elektrisch leitenden Schichten (5, 6) jeweils mit einem derartigen Lochmuster versehen werden, daß die Löcher in den beiden Schichten (5, 6) jeweils einander gegenüberliegen, und daS schließlich die Teile (23) der Kunststoffolie (2), welche die Löcher der elektrisch leitenden Schichten (5, 6) abschließen, entfernt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Aufbringen der elektrisch leitenden Schichten (5, 6) die Kunststoffolie (2) kurzzeitig in einem Sauerstoff- oder in einem Argon-Sauerstoffplasma geätzt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf die Kunststoffolie (2) die elektrisch leitenden Schichten (5f 6) aufgedampft oder aufgesputtert werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Lochmuster in die elektrisch leitenden Schichten (5» 6) jeweils mittels einer entsprechenden, auf den Schichten (5, 6) aufgebrachten Lochmaske (17 bzw. 18) eingeätzt wird.
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5. Verfahren nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch das Einätzen des Lochmusters mittels Sputterätzens in einem Argon-Plasma.
6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Lochmasken (17, 18) in Fotoresisttechnik auf der jeweiligen elektrisch leitenden Schicht (5 bzw. 6) aufgebracht werden.
7. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß auf die elektrisch leitenden Schichten (5, 6) jeweils eine metallische Zwischenschicht mit einem Lochmuster aufgebracht wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7» gekennzeichnet durch das Aufbringen einer Titanschicht.
9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die metallische Zwischenschicht aufgedampft od*r aufgesputtert wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Lochmuster in die metallischen Zwischenschichten jeweils mittels einer entsprechenden, auf den Zwischenschichten aufgebrachten Lochmaske eingeätzt werden.
11. Verfahren nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch das Einatzen des Lochmusters mittels Sputterätzens in einem Argon-Plasma mit einem Sauerstoffpartialdruck unter 10 Torr.
12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Lochmasken in Fotoresisttechnik auf der jeweiligen metallischen Zwischenschicht aufgebracht werden.
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13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die Teile (23) der Kunststoffolie (2), welche die Löcher der elektrisch leitenden Schichten (20, 21) abschlieBen, herausgeätzt werden.
14. Verfahren nach Anspruch 13, gekennzeichnet durch das Herausätzen durch Plasma-Ätzen in einem Sauerstoff- oder in einem Argon-Sauerstoff-Plasma.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 14, gekennzeichnet durch eine galvanische Verstärkung der Doppelschichtlochfolien (20, 21).
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FR7809560A FR2386845A1 (fr) 1977-04-06 1978-03-31 Photocathode pour appareils d'electroradiographie et d'electrofluoroscopie et procede de fabrication desdites photocathodes
GB1340378A GB1601406A (en) 1977-04-06 1978-04-05 Photocathode for electroradiographic and electrofluoroscopic devices
US05/962,928 US4240869A (en) 1977-12-07 1978-11-22 Method for manufacturing a photo cathode for electroradiographic and electrofluoroscopic apparatus

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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4341591A (en) * 1981-04-08 1982-07-27 Rca Corporation Method of fabricating a color-selection structure for a CRT
US4404060A (en) * 1981-05-08 1983-09-13 Siemens Aktiengesellschaft Method for producing insulating ring zones by galvanic and etch technologies at orifice areas of through-holes in a plate
DE3204425A1 (de) * 1982-02-09 1983-08-25 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur herstellung freitragender metallgitterstrukturen
US4472238A (en) * 1983-12-05 1984-09-18 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process using plasma for forming conductive through-holes through a dielectric layer
US4470871A (en) * 1983-12-27 1984-09-11 Rca Corporation Preparation of organic layers for oxygen etching
DE3786549D1 (de) * 1987-03-27 1993-08-19 Ibm Deutschland Verfahren zum herstellen beliebig geformter mikromechanischer bauteile aus planparallelen platten aus polymermaterial oder beliebig geformter duchfuehrungsoeffnungen in denselben.
US5271803A (en) * 1992-01-09 1993-12-21 Yen Yung Tsai Method of forming finished edge of plural-layer optical membrane
US6306312B1 (en) * 1999-06-30 2001-10-23 Lam Research Corporation Method for etching a gold metal layer using a titanium hardmask
US8278139B2 (en) * 2009-09-25 2012-10-02 Applied Materials, Inc. Passivating glue layer to improve amorphous carbon to metal adhesion
US9304253B2 (en) 2013-03-07 2016-04-05 Seagate Technology Llc Near-field transducer with flare peg
US9378757B2 (en) * 2013-03-07 2016-06-28 Seagate Technology Llc Methods of making a near field transducer with a flare peg

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2250033A1 (de) * 1972-10-12 1974-04-18 Siemens Ag Strahlenkonverter

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3202094A (en) * 1961-10-02 1965-08-24 Little Inc A Metal stencils and process for making them
US3186883A (en) * 1962-11-02 1965-06-01 Buckbee Mears Co Etching polyester film
US3816196A (en) * 1971-06-07 1974-06-11 Gen Electric Passivation of photoresist materials used in selective plasma etching
NL7401859A (nl) * 1974-02-12 1975-08-14 Philips Nv Werkwijze voor het vervaardigen van een patroon en of meer lagen op een ondergrond door selijk verwijderen van deze laag of lagen sputteretsen en voorwerpen, in het bijzon- alfgeleiderinrichtingen, vervaardigd met ssing van deze werkwijze.
US3975252A (en) * 1975-03-14 1976-08-17 Bell Telephone Laboratories, Incorporated High-resolution sputter etching
JPS51125455A (en) * 1975-04-14 1976-11-01 Jiyunkichi Nakai Method of surface treatment of molded article
US4118523A (en) * 1975-10-22 1978-10-03 International Computers Limited Production of semiconductor devices

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2250033A1 (de) * 1972-10-12 1974-04-18 Siemens Ag Strahlenkonverter

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Physics in Medicine and Biology Vol. 18, 1973, Nr. 5, S. 695-703 *

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DE2754526C2 (de) 1985-09-26
US4240869A (en) 1980-12-23

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