DE2534889C2 - Verfahren zur Verstärkung der Modulationstiefe des optischen Ausgangssignals bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halbleiterinjektionslasers sowie Anordnung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Verstärkung der Modulationstiefe des optischen Ausgangssignals bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halbleiterinjektionslasers sowie Anordnung zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verstärkung
der Modulationstiefe des optischen Ausgangssignals bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals
erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halbleiterinjektionslasers, welcher mit einem Gleichstrom /„
oberhalb der Schwelle vorgespannt und zusätzlich elektrisch mit einem schmalbandigen Modulationssignal
der Signalmittenfrequenz ω, bzw. durch Einkopplung des optischen, mit einem schmalbandigen Modulationssignal der Signalmittenfrequenz 10, modulierten Signals,
moduliert wird.
Aus der DF-OS 23 30 310 ist ein Verfahren zur v;
Pulsmodulation von Halbleiterlasern bekannt, bei dem
durch Überlagerung eines Gleichstroms mit einem sinusförmigen Wechselstrom aufgrund der Nichtlineantat
des Halbleiterlaser ein optisches Ausgangssignnl
mit n.v'el'mpulsförmiger Modulation erzeugt wirci m>
Diiu'i fine weitere Oberlagerung eines derartigen
Strom«, du· b den Halbleiterlaser mit einem pulsförmi
gen Modulafionssignät wird das Auftreteil dieser
Nadelirnpulse gesteuert.
Aus den Zeitschriften »Electronics and Cörnmutiiea*
tiöns in Japan«, Bd, 53-B (1970), Nr. 9, Seiten 69 bis 75
sowie »Electronics Letters« BcI, 9, Nr, 22 (1,11.1973),
Seiten 532 und 533 ist die Großsignalmodulatiön von Halbleiterlasern bekannt, bei der ebenfalls pulsförmige
Ausgangssigriale entstehen.
Weiterhin sind sogenannte parametrische Laserverstärker bekannt, bei denen eingekoppeltes Licht unter
Ausnutzung nichtlinearer optischer Effekte verstärkt wird. Es gelingt dadurch, die Frequenz des von dem
Laserverstärker ausgesandten Lichtes zu verändern. Bei derartigen optischen Verstärkern erweist es sich jedoch
als schwierig, einen stabilen Betriebszustand einzuhalten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Verstärkung der Modulationstiefe des
optischen Ausgangssignals bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals
eines Halbleiterinjektionslasers sowie eine .Anordnung zur Durchführung dieses Verfahrens anzugeben
mit gegenüber herkömmlichen optischen Verstärkern verbesserten Stabilitätseigenschaften.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 angegebenen
Merkmale des Verfahrens gelöst sowie durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 2 angegebenen
merkmale der Anordnung zur Durchführung des Verfahrens.
Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß bei einem mittels eines Gleichstroms oberhalb seines
Schwellstromes vorgespannten Halbleiterinjektionslaser,
dem zusätzlich zu diesem Gleichstrom ein Wechselstrom relativ kleiner Amplitude überlagert
wird, bei einer bestimmten Modulationsfrequenz ωο ein
Maximum der Modulationstiefe des Ausgangssignals feststellbar ist. Durrh Modulation mit einer Frequenz
ωρ=2ωο lassen sich beispielsweise im optischen
Ausgangssignal neben der Frequenz ωρ und deren
Harmonischen auch Subharmonische mit der Frequenz O)D erzeugen. Dieser Effekt kann zur Verstärkung eines
mit der Frequenz ωο modulierten Signals durch Überlagerung eines Injektionsstroms mit der Frequenz
ωρ = 2ωο ausgenutzt werden. Vorzugsweise werden
dabei die Betriebsbedingungen derart gewählt, daß zwar noch keine Subharmonischen mit ωο erzeugt
werden aber dem Verstärkerelement zugeführte Signale mit der Frequenz ωο entdämpft werden. Dies wird
beispielsweise durch eine entsprechende Verstimmung der Resonanzfrequenz oder durch Bedämpfung über
den Stromkreis erreicht.
In der nachfolgenden Beschreibung wird eine Modulation mit zwei Frequenzen betrachtet. Der dem
Laser zugeführte Strom besteht aus einer Gleichstromkomponente /0 und zwei Wechselstromkomponenten
mit Amplituden In und /, und Kreisfrequenzen ωΡ bzw.
ω,, wobei ω,, etwa 2ωα ist und ΐι>.<ωρ gilt.vorteilhafter
weise entweder ω, oder ωρ— er;, im Bereich von Mn ist
Dal-ei ist /Pder Pumpstrom, während Ader Signalstrom
ist. Es wird vorausgesetzt, daß In so groß ist. daß die
Nirhilinearitäten des Systems wirksam werden daß jedoch iler Signalstrom /, derart klein ist. daß der
Kleinsignalfall vorliegt.
Infolge der vorhandenen Niohtlinearitäten tritt eine
Mischung der verschiedenen I reouen/anteik inf Fiir
den betrachteten Fall wird dabei außer ω, und o;r nur die
Kreisfrequen/ ω.=·(»ρ-<·), bc.i-htet Die Nichtbeach
tUng anderer Frequenzanleite ist dadurch gerechtfertigt, daß nur Frequenzen bei der Resonanzfrequenz des
Lasers oder in deren unmittelbarer Nachbarschaft Von Interesse sind. Falls die Summenfrequeriz (Op+(os
ebenfalls in der Nähe der Resonanzfrequenz des Lasers
ώο liegt, kann in den meisten Füllen eine Unterdrückung
durch einen äußeren Schwingkreis erreicht werden.
Das Verhalten des Lasers kann durch folgende Bilanzgleichungen beschrieben werden:
Dabei bedeuten:
dn
uns,
ds s ,
— = - — +gns,
dt iph
η = Elektronendichte in der aktiven Zone des
Lasers
s = Photondichte in der aktiven Zone des Lasers
(1) / = Injektionsstrom
e = Elektronenladung
V = Volumen der aktiven Zone
p. Tsp = spontane Elektronenlebensdauer
ίο Tph = Photonlebensdauer.
Der Ausdruck gns in beiden Gleichungen bezieht sich auf die stimulierte Emission.
Der Injektionsstrom I(t) hat die Form:
JU) = J0 + γ (jpaJ"^ + J*e.
>»>>·+J,e·^' +J* e ""-'Y
Die Elektronendichte n(t) und die Photondichte s(i) sind gegeben durch:
.rf/} = S0 + —fs.
+ S* e
+ S, e"*J + S* e
+ .V e'"-' + Sf e
NO,SO,NP und S1, ergeben sich in nachfolgender Form aus Großsignalberechnungen:
eV
Sn = ^f(J0-JJ,
eV
Sp = αΦ(α)80ζ">,
N1, "j
Mit
Φ(α) =
Dabei sind /οια) und Z1Co) die modifizierten Besselfunktionen der Ordnung 0 und I.
ound φ sind gegeben durch:
'"0 I ph Up
tan
iph (
φ(α)
£>„ = JpIUa -J11,),
J„, -- eV/% r,p tph.
ω1,,- Un'J,,,- I )//,„/„*.
Die Amplituden M, S„ N1 und 5, sind zunächst Signal- und Purnofrequenz mit dem Signalstrom
unbekannt. Nach Einsetzen der Gleichungen (3) bis (5) in 60 verknüpft:
(1) und (2) können die Gleichungen in bezug auf die Amplituden der Signal- bzw. Pumpfrequenzanteile ω,
bzw, (up linearisiert werdem
Alle Großsignalamplituden sind aus den Gleichungen (6) bis (9) bekannt,' Anteile, die Produkte zweier
Kleinsignalamplituden enthalten Werden dabei Vernachlässigt. Daraus ergibt sich ein lineares Gleichungssyjtem,
welches die Elektron- bzw. Photondichten der
S, | JJeV | |
sr | 0 | |
A | ||
N, | 0 | |
Ml
(17)
■Im =
/III
(17a)
gS0 + -^^ -J
(17b)
ίτ/Υο - -^
A11 =
gS
(17c)
(I7d)
(I7d)
Die Auflösung der Gleichung (16) nach S, und
ergibt:
ergibt:
S*
- Λ|2 ^2
(18)
zusätzlichen Pumpstroms erheblich vergrößert werden kann.
Die weitere Beschreibung nimmt Bezug auf Fig.2
der Zeichnung, in der eine Anordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt ist.
Die Verstärkeranordnung besteht aus einem Halbleiterinjektionslaser 1, Frequenzweichen 2, 2', 2", einer
Gleichstromquelle k und einer WechselstfOfnquelle Ip.
Die Gleichstromquelle la dient zur Vorspannung des
ίο Halbleiterinjektionslasers 1 oberhalb seiner Laserschwelle.
Da die Eigenresonanz der Modulationsüber· tragungsfunktion — mit Modulationsübertragungsfunktion
wird im linearisierten Kleinsignalfall der Quotient von Hüllkurvenspektrum des optischen Ausgangssi-
la gnals und zugehörigem Spektrum des Modulalionssignals
bezeichnet — von Ia abhängig ist, kann mit /o auch eine Abstimmung von o)o erfolgen. Die Eigenresonanzfrequenz
der Modulationsübertragungsfunktion liegt bei Injektionslasern in der Größenordnung von etwa
108-10loHz. Die Pumpquelle In liefert einen dem
Gleichstrom /o überlagerten Wechselstrom mit der Frequenz ωρ. Frequenzweichen 2, 2', 2", sind in die zu
dem Halbleiterinjektionslaser 1 führenden Verbindungsleitungen eingeschaltet und dienen zur Entkopplung
der dem Halbleiterinjektionslaser zugeführten Pumpströme und der Signalanteile. Der Laser selbsi:
übernimmt die Funktion des nichtlinearen Elemente« und de* Signalfrequenz-Resonanzkreises.
Mit einer derartigen Verstärkeranordnung können die nachfolgenden beispielhaft aufgeführten Verfahren
zur Verstärkung eines dem Verstärkerelement züge führten Signals durchgeführt werden.
Zusätzlich zum Injektionsstrom la und Ip wird dem
Halbleiterinjektionslaser 1 eine Komponente /s mit der Frequenz ω, eingeprägt. Das Modulationssignal mit der
Frequenz ω, wird entdämpft und die Modulationstiefe vergrößert. Die Verstärkung besteht in der Erhöhung
•ίο der Modulationstiefe. genügend nahe Abstimmung an
den instabilen Bereich läßt sich eine beträchtliche Modulationsverstärkung erzielen, es wird dabei nicht
In F i g. 1 sind typische Ergebnisse dargestellt der
Modulationstiefe der Photondichte für die Signalfrequenz
Wj und die Pumpfrequenz ωρ als Funktion der
normierten Signalfrequeriz ω^ωρ. Dabei wurden für die
Parameter folgende Werte gewählt:
iv/rrh = 500
ft/4» = U5
IanZu)n = 1,4.
Im Falle ep=0, das heißt ohne Pumpstrom, hat die
Modulationsempfindlichkeit ein Maximum bei der Kleinsignalresonanzfrequenz. Offensichtlich ist keine
Komponente der Hilfsfrequenz ω, vorhanden. Eine völlig andere Situation entsteht, wenn ein zusätzlicher
Pumpstrom (ep=0,9) mit einer Frequenz ωρ= 1,4 (öodem
Laser zugeführt wird; die die Modulationsempfindlichkeit
darstellende Kurve (nicht unterbrochene Linie) zeigt zwei Resonanzspitzen, bei ω,/ωρ=0,81 und 0,19.
Diese beiden Resonanzfrequenzen treten auch in der Modulationstiefe (gestrichelte Linie) des Hilfssignals bei
ω, auf. Aus dieser Darstellung ist entnehmbar, daß die
Modulationstiefe des Signalanteils durch Anlegen eines stärkt, sondern nur der mit ω, modulierte Anteil der
Emission stärker gegenüber dem Gleichanteil bzw. den mit ωρ modulierten Anteil hervorgehoben.
In den Halbleiterinjektionslaser 1 wird ein optisches
Signal 52 eingekoppelt, das mit der Frequenz o>s in der
Amplitude moduliert isL Die optische Trägerfrequenz von J2 soll dem Bandabstand in der aktiven Zone des
Halbleiterinjektionslasers entsprechen, so daß durch J2
die Elektronendichte in der aktiven Zone verringert
>5 wird. Weiterhin ist es günstig, daß die optische
Trägerfrequenz von J2 in einen Schwingungsmodus des
Halbleiterinjektionslasers fällt, wobei es aber nicht erforderlich ist, daß die Trägerfrequenz von Ji identisch
ist mit der Frequenz des im Laser erzeugten optischen
ω Signals. In diesem Fall sind der Modus 2, der durch die
einfallende optische Strahlung angeregt wird und der Modus 1, in dem der Laser schwingt, über das
Elektronenreservoir der optisch aktiven Zone des Halbleiterlasers verkoppelt Zwischen Modus 1 und
Modus 2 besteht keine Kohärenzbeziehung. Die einfallende Strahlung bewirkt bei Inversion in der
aktiven Zone des Lasers dort eine Ladungsträgerrekombination and wirkt daher wie eine VerruiEeruns des
Injeklionsstromes. Ist die Strahlung in der Amplitude mil einer Frequenz (<h moduliert, so hat das die gleiche"
Wirkung wie die Hinzufügung einer Stromkomponente beider Frequenz ω, zum Injektionsstfom.
Eine Weitere Betriebsart liegt vor, wenn der Schwingungsmodus 1 Von der einfallenden Strahlung
angefaßt wird* In diesem Fall liegt die Kombination zweier pafametrischer Verstiirlungseffekte vor, nämlich
der bereits bekannten optischen parametrischen Verstärkung der Trägerwelle und der hier behandelten
pärariietrischeh Verstärkung des Mödülätiönssignäles.
Die Auskopplung; erfolgt über das optische Signal s\,
dessen Trägerfrequenz die Schwingungsfrequenz, des ι j
Lasers ist;
Beispiel 4
Dem Halbleiterlaser wird ein mit bis modulierter
Dem Halbleiterlaser wird ein mit bis modulierter
lniputirSncctpnrri Vnrrpfiinrt· Nylon ηιιΙ·3"Ι iprlnrti one- HoR m*
die Entdämpfung auch auf der elektrischen Seite' erfolgt. Eine derartige Anordnung läßt sich auch als rein
elektrischer Mikrowellenverstärker bei Cu1 betrieben.
Das optische Ausgangssignal bleibt dabei unberücksichtigt. Der Injektionslaser arbeitet als degenerierter
negativer Widerstandsverstärker. Die Trennung von elektrischem Ein- Und Aüsgarigssighal kann L B. durch
einen Zirkulator erfolgen.
In den Haibleitcrinjeklionsiaser wird ein optisches
Signal si eingeköppelt, das mit der Frequenz ώ, in der
Amplitude moduliert ist. Die Anordnung wirkt als
verstärkender Detektor für optische Signale, die mit der Frequenz ojj',amplitudenmoduliert sind. ZUf Weiterverarbeitung
läßt sich ein dem optischen Signal entsprechendes
elektrisches'S£"riä! i5tiskc""e!n«
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen 130 233/228
Claims (2)
1. Verfahren zur Verstärkung der Modulationstiefe des optischen Ausgangssignals bzw. des durch
Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halbleiterinjektionslasers,
welcher mit einem Gleichstrom Ia oberhalb der Schwelle vorgespannt und zusätzlich
elektrisch mit einem schmalbandigen Modulationssignal
der Signalmittenfrequenz ω5 bzw. durch
Einkopplung des optischen, mit einem schmalbandigen Modulationssignal der Signalmittenfrequenz ω5
modulierten Signals, moduliert wird, dadurch gekennzeichnet,daß der Halbleiterinjektionslaser
zum Zwecke der Erzeugung einer parametrischen Verstärkung der Modulationstiefe des schmalbandigen
Modulationssignals zusätzlich mit einem sinusförmigen Pumpsignal mit einer oberhalb des
Frequenzbandes des Modulationssignals liegenden Pumpfrequenz mr moduliert wird.
2. Optische /erstärkeranordnung zur Verstärkung der ivludüiaüonsiiefe des optischen Ausgangssignais
bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halb-Ieiterinjektionslasers,
welcher mit einem Gleichstrom L oberhalb der Schwelle vorgespannt und
zusätzlich elektrisch mit einem schmalbandigen Modulationssignal der Signalmittenfrequenz ω5 bzw.
durch Einkopplung des optischen, mit einem schmalbandigen Modulationssignal der Signalmittenfrequenz
ω5 modulierten Signals, moduliert ist zur
Durchführung des Verfahrens nach Anspruch I1 gekennzeichnet durch eine Gleichstromquelle (k)
zur Vorspannung des Verstärkerelements (1) ober- » halb der Laserschweile, eine PurrDstromquelle (Ip).
eine Signalquelle (U) sowie zwischen dem Verstärkerelement (1) angeordnete Frequenzweichen (2, 2',
2").
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752534889 DE2534889C2 (de) | 1975-08-05 | 1975-08-05 | Verfahren zur Verstärkung der Modulationstiefe des optischen Ausgangssignals bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halbleiterinjektionslasers sowie Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
Applications Claiming Priority (1)
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DE19752534889 DE2534889C2 (de) | 1975-08-05 | 1975-08-05 | Verfahren zur Verstärkung der Modulationstiefe des optischen Ausgangssignals bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halbleiterinjektionslasers sowie Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2534889A1 DE2534889A1 (de) | 1977-02-17 |
DE2534889C2 true DE2534889C2 (de) | 1981-09-24 |
Family
ID=5953251
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752534889 Expired DE2534889C2 (de) | 1975-08-05 | 1975-08-05 | Verfahren zur Verstärkung der Modulationstiefe des optischen Ausgangssignals bzw. des durch Einkopplung eines optischen Signals erzeugten elektrischen Ausgangssignals eines Halbleiterinjektionslasers sowie Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2534889C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3429255A1 (de) * | 1983-08-08 | 1985-02-28 | Hitachi Iruma Electronic Co., Ltd., Iruma, Saitama | Licht emittierende vorrichtung und ein sie einsetzendes optisches signalverarbeitungssystem |
DE4039215A1 (de) * | 1990-12-08 | 1992-06-11 | Kendall Gmbh | Verfahren zum herstellen eines beheizbaren schlauches sowie nach diesem verfahren hergestellter beheizbarer schlauch |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3005645A1 (de) * | 1980-02-15 | 1981-08-20 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur modulation eines halbleiterlasers |
US5499135A (en) * | 1990-12-24 | 1996-03-12 | Alcatel N.V. | Optical amplifier |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2330310A1 (de) * | 1973-06-14 | 1975-01-16 | Siemens Ag | Verfahren zur pulsmodulation von halbleiterlasern |
-
1975
- 1975-08-05 DE DE19752534889 patent/DE2534889C2/de not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3429255A1 (de) * | 1983-08-08 | 1985-02-28 | Hitachi Iruma Electronic Co., Ltd., Iruma, Saitama | Licht emittierende vorrichtung und ein sie einsetzendes optisches signalverarbeitungssystem |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2534889A1 (de) | 1977-02-17 |
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