DE2443529B2 - Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers - Google Patents
Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichersInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Anordnung zum Einschreiben von Binärsignalen in
ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers unter Verwendung eines als getaktetes Flip-Flop
aufgebauten Leseverstärkers, der aus zwei rückgekoppelten Invertern mit jeweils einem Schalttransistor und
einem Lasttransistor besteht, bei dem in jedem Rückkopplungszweig jeweils ein Abtrenntransistor
angeordnet ist, bei dem die Bitleitungen der Speicherelemente jeweils an dem Steuereingang eines der
Schalttransistoren des Leseverstärkers angeschlossen sind, und bei der die Schreibinformation nur auf eine der
Bitleitungen übertragen wird.
MOS-Speicher sind bereits bekannt (s. z. B. Elektronics, Febr. 15,1971, Seiten 80 bis 85). Es ist auch bekannt,
als Speicherelemente eines solchen MOS-Speichers Eintransistorspeicherelemente zu verwenden (Electronics,
Sept. 13,1973 Seiten 116 bis 121). Bei einem solchen
MOS-Speicher sind an den Kreuzungsstellen zwischen den Wortleitungen und den Bitleitungen die Speicherelemente
angeordnet. Zwischen zwei Bitleitungen ist ein Leseverstärker angeordnet und zwar so, daß der
Leseverstärker, der als getaktetes Flip-Flop aufgebaut ist, symmetrisch an den Bitleitungen liegt. Die
Bitleitungen sind dabei jeweils mit den Drainanschlüssen der Schalttransistoren des getakteten Flip-Flops
verbunden.
In F i g. 1 ist ein solcher Leseverstärker LVl gezeigt.
Er besteht aus Invertern Tl, T3, bzw. T2, T4. Die MOS-Transistoren Ti und T2 sind Schalttransistoren,
die MOS-Transistoren T3 und TA Lasttransistoren. Der weiter vorgesehene MOS-Transistor T5 ist beim
Schreibvorgang immer geöffnet. VDD ist eine Betriebsspannung, 51 und 52 sind Taktsignale. Jeweils an dem
Drainanschluß der Transistoren Tl und T2 sind Bitleitungen DL 1 bzw. DL 2 angeschlossen. An den
Kreuzungspunkten zwischen den Bitleitungen DL1,
DL 2 und Wortleitungen WL sind Speicherelemente SE angeordnet. Mit Ci bzw. C2 sind Leitungskapazitäten
der Bitleitungen DL1 bzw. DL 2 bezeichnet. R stellt den
Widerstand der Bitleitung DL1 dar.
Die in eines der Speicherelemente SE einzuschreibende Information wird. z. B. an dem Punkt A zugeführt.
Der Leseverstärker LVi wird beim Einschreiben der Binärsignale mit verwendet. Er muß darum so betrieben
werden, daß entsprechend des einzuschreibenden Binärsignals die Bitleitung umgeladen wird.
Da bei der Anordnung der F i g. 1 die Bitleitung DL1
mit dem Drainanschluß des Schalttransistors Ti verbunden ist, wird die Bitleitung DL1 durch den
Transistor Tl sehr stark belastet. Bei einer derartigen Anordnung ist das Einschreiben des Binärsignals »1« in
eine der Speicherzellen SE besonders kritisch. Liegt nämlich nach dem Lesevorgang die Bitleitung DL 2 auf
»1«, so ist der Transistor Tl gut leitend und damit die Bitleitung DL 1 völlig entladen. Soll beim Schreibvorgang
das Binärsignal »1« auf die Bitleitung DLi übertragen werden, so ergibt sich eine Spannungsteilung
zwischen dem Widerstand R der meist diffundierten Bitleitung DL1 und dem Innenwiderstand des gut
leitenden Schalttransistors Tl. Von A her muß also ein genügend großer Strom durch den Schalttransistor Tl
geliefert werden, damit die Spannung der Bitleitung DL1 am Steuereingang des Schalttransistors T2 über
dessen Schwellspannung VT liegt. Infolge der Spannungsteilung ist die Steuerspannung für den Schalttransistor
T2 aber sehr klein, so daß die Bitleitung DL 2 durch den Schalttransistor T2 nur langsam entladen
wird. Dadurch wird auch der Schalttransistor Tl über die Flip-Flop-Rückkopplung spät gesperrt. Erst nach
Sperren des Schalttransistors Tl wird aber die Bitleitung DL1 völlig aufgeladen und der Schreibvorgang
damit beendet. Ein Nachteil der Verwendung dieses bekannten Leseverstärkers besteht also darin,
daß sich mit ihm eine zu lange Schreibphase ergibt. Ein Leseverstärker, bei dem die Bitleitungen direkt an
die Steuereingänge der Schalttransistoren des Flip-Flops angeschlossen ist, ist in der DT-OS 22 62 171
beschrieben. Dort ist allerdings nur der Lesevorgang erläutert worden. Bei solchen Leseverstärkern kann
zum Einschreiben von Binärsignalen die einzuschreibende Information in Form eines Potentials an die
Steuereingänge der Schalttransistoren angeschaltet werden (DT-OS 21 48 896). Die Belastung der Bitleitung
beim Schreibvorgang durch die Schalttransistoren wird
damit geringer. Dementsprechend wird auch die Schreibphase beim Einschreiben einer Information
verkürzt.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht nun darin, ein Wegfallen und einer Anordnung zum
Einschreiben von Binärsignalen in ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers anzugeben, bei der
die Bitleitungen an die Steuereingänge der Schalttransistoren eines getakteten Flip-Flops angeschlossen sind
und bei der die Schreibphase noch weiter verkürzt wird.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren solange gesperrt
sind, bis die Bitleitung über den Bitschalter entsprechend der einzuschreibenden Information umgeladen
ist und bis der von der Bitleitung angesteuerte Schalttransistor entsprechend dieser Information eingestellt
ist.
Die Aufgabe wird weiterhin dadurch gelöst, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren leitend gesteuert
sind, und daß das Verhältnis W/L der Abtrenntransistoren kleiner ist als das Verhältnis W/L
der Schalttransistoren, so daß im leitenden Zustand der Innenwiderstand der Abtrenntransistoren groß ist im
Verhältnis zu demjenigen der Schalttransistoren, wobei W die Breite und L die Länge des Kanals der
Transistoren bedeutet.
Da die in den Rückkopplungszweigen des Flip-Flops aufgebauten Abtrenntransistoren während des Schreibvorganges
gesperrt sind, entfällt jegliche Rückwirkung der Spannungsverhältnisse auf der zweiten Bitleitung
auf die Spannungsverhältnisse der ersten Bitleitung. Rückwirkungen können damit nicht mehr auftreten und
die Umladung der einen Bitleitung wird nicht mehr von den Verhältnissen auf der anderen Bitleitung und dem
anderen Inverter des Flip-Flops beeinflußt.
Durch eine entsprechende Dimensionierung der Abtrenntransistoren, und zwar durch Wahl des Verhältnisses
W/L der Transistoren kann der Innenwiderstand der Abtrenntransistoren während des Schreibvorganges
sehr groß gemacht werden im Verhältnis zum Innenwiderstand der Schalttransitoren. Auch dadurch
kann eine Entkopplung der einen Bitleitung von der anderen Bitleitung und von dem anderen Inverter
erreicht werden.
Anhand von Ausführungsbeispielen, die in den Figuren dargestellt sind, wird die Erfindung weiter
erläutert. Es zeigt
F i g. 1 die Anordnung bei Verwendung eines Leseverstärkers mit Abtrenntransistoren in den Rückkopplungszweigen,
Fig.3 ein Spannungsdiagramm bei einer ersten Betriebsart des Leseverstärkers,
Fig.4 ein Spannungsdiagramm bei einer zweiten
Betriebsart des Leseverstärkers und
F i g. 5 den Aufbau eines in die Bitleitung eingeschalteten Bitschalters.
Ein Leseverstärker LV2 ist wiederum symmetrisch
zwischen einer ersten und einer zweiten Bitleitung DL1 bzw. DL 2 angeordnet. Der Leseverstärker LV2 besteht
aus zwei Invertern mit Transistoren Γ6, Γ8 bzw. Tl,
T9. Die Transistoren T6 und Tl sind Schalttransistoren,
die Transistoren Γ8 und Γ9 Lasttransistoren. In
den Rückkopplungszweigen der beiden Inverter ist jeweils ein Abtrenntransistor 7Ί2 bzw. ΤΊ3 angeordnet.
Die weiterhin vorgesehenen Transistoren ΤΊΟ und TH sind nur für den Lesevorgang notwendig, sie sind
während des Einschreibens einer Information immer geöffnet. VDD Ist wieder die Betriebsspannung, S3,54,
55 sind Taktsignale.
Die Bitleitungen DL1 bzw. DL 2 sind nun an die
Steuereingänge der Schalttransistoren T6 bzw. Tl angeschaltet. Die einzuschreibende Information wird
von einem Schreibverstärker 5V über einen Bitschalter
J3S zugeführt, der seinerseits wieder mit der Bitleitung
DL1 verbunden ist. Der Schreibverstärker SV kann in bekannter Weise aufgebaut sein, er kann mit mehreren
Bitleitungen verbunden werden.
Der Biltschalter BS, dessen Aufbau sich aus F i g. 5
ergibt, wird in Abhängigkeit eines Schreibtaktes ST, der von einem Generator G geliefert wird, und der
Ausgangssignale eines Bitdecoders BD geschlossen. Dann wird die einzuschreibende Information der
Bitleitung DL1 zugeleitet. Der Bitdecoder BD und der
Generator G kann in bekannter Weise aufgebaut sein.
Der Einschreibevorgang wird anhand des Spannungsdiagramms der Fig.3 erläutert. Dabei soll eine
Information in eines der an der Bitleitung DL1
angeschlossene Speicherelemente SE eingeschrieben werden. Das Einschreiben von Informationen in
Speicherelemente, die an andere Bitleitungen DL angeschlossen sind, erfolgt in entsprechender Weise.
Mit Hilfe eines an einer Wortleitung WL angelegten Signales WL wird eine Wortleitung WL ausgewählt.
Gleichzeitig wird das Taktsignal S3 angelegt und werden damit die Lasttransistoren T% und T9
eingeschaltet. Das Taktsignal 54 wird nicht angelegt, so daß die Transistoren T10 und Γ11 geöffnet bleiben.
Zu Beginn des Schreibvorganges wird der Takt 55 von »!«-Potential auf »0«-Potential umgeschaltet, und
damit der Transistor T12 und Γ13 geöffnet. Dadurch ist
die Bitleitung DL1 vollständig vom Schalttransistor Tl
entkoppelt. Der volle von dem Bitschalter BS gelieferte Strom steht dann zur Umladung der Bitleitung DL1 zur
Verfügung.
In Fig.3 ist in der Zeile B die einschreibende
Information gezeigt, in der Zeile STder Schreibtakt, in den Zeilen dl\ und dl 2 die Spannungsverlaufe auf den
Bitleitungen DL1 und DL 2. Die ausgezogenen Kurven geben die Verhältnisse beim Einschreiben des Binärsignals
»1«, die gestrichelten Kurven die Verhältnisse beim Einschreiben des Binärsignals »0« wieder.
Bei der Betriebsweise, bei der während des Einschreibens eines Binärsignals die Abtrenntransistoren
Γ12 bzw. T13 geöffnet sind, benötigt das Schreiben
einer »0« mehr Zeit und soll daher auch hier erläutert werden. Zu Beginn der Schreibphase P liege die
Bitleitung DLl auf »!«-Potential. Die Bitleitung DLi
wird dann über den Bitschalter BS schnell entladen,
wodurch der Schalttransistor T6 gesperrt wird und der Knoten K 2 schnell positiv wird. Die Übernahmephase
UE — das ist die Zeit, die notwendig ist, um die Schreibinformation in den Leseverstärker zu übernehmen
und in der das Taktsignal S 5 Null sein muß — ist abgeschlossen, wenn sich die Spannung an den Knoten
K 2 sicher eingestellt hat. Das Taktsignal S 5 wird daher frühestens nach einem Sicherheitsabstand r 1 wieder auf
»1« geschaltet. Bedingt durch Toleranzen der Technologie und Spannungen entsteht allerdings noch ein
zusätzlicher Streubereich t2 für das Einschalten der Transistoren Γ12 und ΤΊ3 durch das Taktsignal 55.
Erst jetzt wird durch Einschalten der Rückkopplungszweige die Bitleitung DL 2 über den Transistor Γ13
ebenfalls auf die Spannung des Knotens K 2 aufgeladen.
Durch Einführen einer Übernahmephase ÜE in der
die Abtrenntransistoren T12 und T13 geöffnet sind,
läßt sich die Schreibzeit verkürzen, da der Leseverstär-
ker LV2 sehr schnell eingestellt werden kann. Da die Bitleitung DL durch keinen der Schalttransistoren des
Leseverstärkers stark belastet werden kann, ist auch der Aufwand und der Verlustleistungsbedarf des Bitschalters
BS gering.
Die Schreibzeit kann noch weiter verkürzt werden, wenn auf die Übernahmephase verzichtet wird. Dies
kann dadurch erfolgen, daß die Abtrenntransistoren T12 und T13 im Verhältnis zu den Lasttransistoren T8
und T9 und den Schalttransistoren T6 und Tl
bemessen werden. Dabei wird das Verhältnis W/L entsprechend gewählt. Wist die Breite, L die Länge des
Kanals eines MOS-Transistors. Für die Bemessung der Abtrenntranstistoren gelten dabei folgende Regeln: Das
Verhältnis W/L der Schalttransistoren T6 und Tl wird
nicht durch den Schreibvorgang, sondern durch den Lesevorgang festgelegt. Von dem Verhältnis W/L der
Schalttransistoren 7"6 und Tl ist damit auszugehen. Für
die Beibehaltung der Umladezeit der Bitleitungen DL muß dieses Verhältnis bei den Abtrenntransistoren Γ12
und Π3 größer als des bei den Lasttransistoren Γ8 und
T% aber kleiner als bei den Schalttransistoren Γ6 und
Tl ausgelegt werden. Durch das Verhältnis W/L wird der Innenwiderstand der Transistoren entsprechend
festgelegt.
Um die Übernahmephase zu vermeiden, bleibt das Taktsignal 55 auch während des Schreibvorgangs auf
»1«, d. h. die Abtrenntransistoren 7Ί2 und T13 bleiben im leitenden Zustand. Da aber das Verhältnis W/L der
Abtrenntransistoren Γ12, Γ13 im Vergleich zu dem
Verhältnis W/L der Schalttransistoren Γ6 und Tl klein
gewählt worden ist, sind die Abtrenntransistoren trotz Anliegen des Taktsignals 55 nur schwach leitend,
während z. B. der Schalttransistor Tl stark leitend sein kann. Dadurch ist die Bitleitung DL 1 von dem stark
leitenden Transistor Tl entkoppelt. Die Bitleitung DL 1
kann somit durch einen Bitschalter BS geringer Verlustleistung sehr schnell umgeladen werden. Da aber
der Rückkopplungszweig wegen Anliegens des Taktes 55 = 1 eingeschaltet bleibt, wird die Spannungsänderung
des Knotens K 2 sofort auf die Bitleitung DL 2 und den Steuereingang des Schalttransistors Tl übertragen.
Damit wird die Schreibphase P abgekürzt.
Die Spannungsverläufe bei einer derartigen Betriebsart des Leseverstärkers LV2 sind in Fig.4 dargestellt.
Es sind wiederum die Spannung wl auf der Wortleitung WL, die Taktsignale 53, 54, 55, die einzuschreibende
Information B, der Schreibtakt 57^ und die Spannungsverhältnisse auf den Bitleitungen DL1 und DL 2
gezeigt. Aus Fig.4 ergibt sich, daß eine Übernahmephase
für den Takt 55 entfällt und daß somit die Schreibzeit verringert wird. Es ist aufgezeigt, daß sich
die Spannung auf der Bitleitung DL 2 sofort entsprechend der Spannung der Bitleitung DL1 ändert.
F i g. 5 zeigt einen möglichen Aufbau des Bitschalters BS. Der Bitschalter kann aus zwei Transistoren T15 und
T16 bestehen. Die gesteuerte Strecke des ersten
Transitors T15 liegt in der Leitung, die davon dem Schreibverstärker zur Bitleitung DL1 führt. Der
Steuereingang des Transistors Γ15 ist in der gesteuerten Strecke des Transistors Γ16 angeordnet, der auch
der Schreibtakt ST zugeführt wird. Der Steuereingang des Transistors T16 ist mit dem Bitdecoder verbunden.
Soll auf der Bitleitung DL1 eine Information eingeschrieben
werden, dann wird der Transistor Γ16 durch den Bitdecoder leitend gesteuert. Damit liegt der
Schreibtakt ST am Steuereingang des Transistors Γ15
an und bringt diesen in den leitenden Zustand. Die einzuschreibende Information wird dann auf die
Bitleitung DL 1 übertragen. Der Transistor Π5 hat den Innenwiderstand Ri.
Würde ein entsprechend F i g. 5 aufgebauter Bitschalter BS bei einer Anordnung gemäß der F i g. 1
verwendet werden, dann müßte beim Schreiben der Schreibstrom / durch den Transistor Γ15 den
Leseverstärker LVl umsetzen. Da der Strombedarf bei dieser Anordnung wegen der starken Belastung, die der
Leseverstärker darstellt, verhältnismäßig groß ist, ist es erforderlich, daß der Transistor T15 groß ausgelegt ist,
daß damit das Verhältnis W/L groß ist und damit der Innenwiderstand Ri des Transistors Ti klein ist.
Außerdem ist ein leistungsfähiger Schreibverstärker notwendig, da er einen großen Schreibstrom aufbringen
muß. Weiterhin ist eine hohe Steuerspannung am Steuereingang des Transistors Γ15 erforderlich die
über den Transistor T16 durch den Bitdecoder und den
Schreibtakt erzeugt werden muß.
Wird jedoch ein derart aufgebauter Bitschalter bei einer Anordnung gemäß der Fig.2 verwendet, dann
kann der Schreibstrom entweder geringer oder gleich Null sein. Dies bedingt einen geringeren Aufwand und
Platzbedarf für den Bitschalter, eine geringere Leistung und eine geringere Steuerspannung bei dem Bitschalter
und dem Schreibverstärker.
Somit ergeben sich für die erfindungsgemäße Anordnung folgende Vorteile: Es wird eine kurze
Schreibzeit erzielt, der Aufwand für den Bitschalter, dessen Leistungs- und Platzbedarf ist geringer, der
Serienwiderstand der meist diffundierten Bitleitung ist unkritisch.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Verfahren zum Einschreiben vor Binärsignalen in ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers
unter Verwendung eines als getaktetes Flip-Flop aufgebauten Leseverstärkers, der aus zwei
rückgekoppelten Invertern mit jeweils einem Schalttransistor und einem Lasttransistor besteht, bei dem
in jedem Rückkopplungszweig jeweils ein Abtrenntransistor angeordnet ist, bei dem die Bitleitungen
der Speicherelemente jeweils an dem Steuereingang eines der Schalttransistoren des Leseverstärkers
angeschlossen sind und bei der die Schreibinformation nur auf eine der Bitleitungen übertragen wird,
dadurch gekennzeichnet, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren (Ti2, T13)
solange gesperrt sind, bis die Bitleitung (DL) über den Bitschalter (BS) entsprechend der einzuschreibenden
Information umgeladen ist und bis der von der Bitleitung angesteuerte Schalttransistor (T 6
bzw. T7) entsprechend dieser Information eingestellt ist.
2. Anordnung zum Einschreiben von Binärsignalen, in ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers
unter Verwendung eines als getaktetes Flip-Flop aufgebauten Leseverstärkers, der aus zwei
rückgekoppelten Invertern mit jeweils einem Schalttransistor und einem Lasttransistor besteht, bei dem
in jedem Rückkopplungszweig jeweils ein Abtrenntransistor angeordnet ist, bei dem die Bitleitungen
der Speicherelemente jeweils an dem Eingang eines der Schalttransistoren des Leseverstärkers angeschlossen
sind und bei der die Schreibinformation nur auf eine der Bitleitungen übertragen wird,
dadurch gekennzeichnet, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren (T 12, Γ13) leitend gesteuert
sind, und daß das Verhältnis W/L der Abtrenntransistoren kleiner ist als das Verhältnis
W/L der Schalttransistoren (T6, Tl), so daß im leitenden Zustand der Innenwiderstand der Abtrenntransistoren
groß ist im Verhältnis zu demjenigen der Schalttransistoren, wobei VKdie Breite und L
die Länge des Kanals der Transistoren bedeutet.
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis W/L der Abtrenntransistoren
(T 12, 7Ί3) größer ist als das Verhältnis W/L der Lasttransistoren (T8, T9).
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742443529 DE2443529B2 (de) | 1974-09-11 | 1974-09-11 | Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers |
GB32631/75A GB1522183A (en) | 1974-09-11 | 1975-08-05 | Binary signal data stores |
NL7510186A NL7510186A (nl) | 1974-09-11 | 1975-08-28 | Inrichting voor het inschrijven van binaire sig- nalen in uitgekozen geheugenelementen van een mos- -geheugen. |
FR7526874A FR2331121A1 (fr) | 1974-09-11 | 1975-09-02 | Dispositif pour enregistrer des signaux binaires dans des elements selectionnes d'une memoire mos |
IT26848/75A IT1042254B (it) | 1974-09-11 | 1975-09-03 | Dispositivo per iscrivere segnali binari in elementi memorizzatori scelti in una memoria mos |
US610756A US3992704A (en) | 1974-09-11 | 1975-09-05 | Arrangement for writing-in binary signals into selected storage elements of an MOS-store |
CH1157875A CH586946A5 (de) | 1974-09-11 | 1975-09-05 | |
BE159949A BE833310A (fr) | 1974-09-11 | 1975-09-11 | Dispositif pour enregistrer des signaux binaires dans des elements selectionnes d'une memoire mos |
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---|---|---|---|
DE19742443529 DE2443529B2 (de) | 1974-09-11 | 1974-09-11 | Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2443529A1 DE2443529A1 (de) | 1976-03-25 |
DE2443529B2 true DE2443529B2 (de) | 1977-09-01 |
DE2443529C3 DE2443529C3 (de) | 1978-04-27 |
Family
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Family Applications (1)
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Country Status (8)
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US (1) | US3992704A (de) |
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CH (1) | CH586946A5 (de) |
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NL (1) | NL7510186A (de) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4069475A (en) * | 1976-04-15 | 1978-01-17 | National Semiconductor Corporation | MOS Dynamic random access memory having an improved sense and restore circuit |
US4069474A (en) * | 1976-04-15 | 1978-01-17 | National Semiconductor Corporation | MOS Dynamic random access memory having an improved sensing circuit |
US4144590A (en) * | 1976-12-29 | 1979-03-13 | Texas Instruments Incorporated | Intermediate output buffer circuit for semiconductor memory device |
US4081701A (en) * | 1976-06-01 | 1978-03-28 | Texas Instruments Incorporated | High speed sense amplifier for MOS random access memory |
US4114055A (en) * | 1977-05-12 | 1978-09-12 | Rca Corporation | Unbalanced sense circuit |
US4107556A (en) * | 1977-05-12 | 1978-08-15 | Rca Corporation | Sense circuit employing complementary field effect transistors |
US4096401A (en) * | 1977-05-12 | 1978-06-20 | Rca Corporation | Sense circuit for an MNOS array using a pair of CMOS inverters cross-coupled via CMOS gates which are responsive to the input sense signals |
JPS5939833B2 (ja) * | 1977-05-24 | 1984-09-26 | 日本電気株式会社 | センス増幅器 |
US4170741A (en) * | 1978-03-13 | 1979-10-09 | Westinghouse Electric Corp. | High speed CMOS sense circuit for semiconductor memories |
DE2839073C2 (de) * | 1978-09-07 | 1983-02-17 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Dynamische Stromquelle für Halbleiterbausteine und ihre Verwendung |
JPS58114391A (ja) * | 1981-12-25 | 1983-07-07 | Nec Corp | センスアンプ回路 |
US5352937A (en) * | 1992-11-16 | 1994-10-04 | Rca Thomson Licensing Corporation | Differential comparator circuit |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3675218A (en) * | 1970-01-15 | 1972-07-04 | Ibm | Independent read-write monolithic memory array |
US3838295A (en) * | 1973-02-05 | 1974-09-24 | Lockheed Electronics Co | Ratioless mos sense amplifier |
DE2309192C3 (de) * | 1973-02-23 | 1975-08-14 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Regenerierschaltung nach Art eines getasteten Flipflops und Verfahren zum Betrieb einer solchen Regenerierschaltung |
US3838404A (en) * | 1973-05-17 | 1974-09-24 | Teletype Corp | Random access memory system and cell |
US3940747A (en) * | 1973-08-02 | 1976-02-24 | Texas Instruments Incorporated | High density, high speed random access read-write memory |
US3863232A (en) * | 1973-12-26 | 1975-01-28 | Ibm | Associative array |
-
1974
- 1974-09-11 DE DE19742443529 patent/DE2443529B2/de active Granted
-
1975
- 1975-08-05 GB GB32631/75A patent/GB1522183A/en not_active Expired
- 1975-08-28 NL NL7510186A patent/NL7510186A/xx not_active Application Discontinuation
- 1975-09-02 FR FR7526874A patent/FR2331121A1/fr not_active Withdrawn
- 1975-09-03 IT IT26848/75A patent/IT1042254B/it active
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US3992704A (en) | 1976-11-16 |
BE833310A (fr) | 1976-03-11 |
DE2443529A1 (de) | 1976-03-25 |
NL7510186A (nl) | 1976-03-15 |
GB1522183A (en) | 1978-08-23 |
CH586946A5 (de) | 1977-04-15 |
DE2443529C3 (de) | 1978-04-27 |
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