DE2443529B2 - Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers - Google Patents

Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers

Info

Publication number
DE2443529B2
DE2443529B2 DE19742443529 DE2443529A DE2443529B2 DE 2443529 B2 DE2443529 B2 DE 2443529B2 DE 19742443529 DE19742443529 DE 19742443529 DE 2443529 A DE2443529 A DE 2443529A DE 2443529 B2 DE2443529 B2 DE 2443529B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
transistors
transistor
switching
bit
isolating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19742443529
Other languages
English (en)
Other versions
DE2443529A1 (de
DE2443529C3 (de
Inventor
Dieter Dipl Ing 8000 München Kantz
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19742443529 priority Critical patent/DE2443529B2/de
Priority to GB32631/75A priority patent/GB1522183A/en
Priority to NL7510186A priority patent/NL7510186A/xx
Priority to FR7526874A priority patent/FR2331121A1/fr
Priority to IT26848/75A priority patent/IT1042254B/it
Priority to US610756A priority patent/US3992704A/en
Priority to CH1157875A priority patent/CH586946A5/xx
Priority to BE159949A priority patent/BE833310A/xx
Publication of DE2443529A1 publication Critical patent/DE2443529A1/de
Publication of DE2443529B2 publication Critical patent/DE2443529B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2443529C3 publication Critical patent/DE2443529C3/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/01Shaping pulses
    • H03K5/02Shaping pulses by amplifying
    • H03K5/023Shaping pulses by amplifying using field effect transistors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/403Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh
    • G11C11/404Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh with one charge-transfer gate, e.g. MOS transistor, per cell
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4091Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4094Bit-line management or control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Anordnung zum Einschreiben von Binärsignalen in ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers unter Verwendung eines als getaktetes Flip-Flop aufgebauten Leseverstärkers, der aus zwei rückgekoppelten Invertern mit jeweils einem Schalttransistor und einem Lasttransistor besteht, bei dem in jedem Rückkopplungszweig jeweils ein Abtrenntransistor angeordnet ist, bei dem die Bitleitungen der Speicherelemente jeweils an dem Steuereingang eines der Schalttransistoren des Leseverstärkers angeschlossen sind, und bei der die Schreibinformation nur auf eine der Bitleitungen übertragen wird.
MOS-Speicher sind bereits bekannt (s. z. B. Elektronics, Febr. 15,1971, Seiten 80 bis 85). Es ist auch bekannt, als Speicherelemente eines solchen MOS-Speichers Eintransistorspeicherelemente zu verwenden (Electronics, Sept. 13,1973 Seiten 116 bis 121). Bei einem solchen MOS-Speicher sind an den Kreuzungsstellen zwischen den Wortleitungen und den Bitleitungen die Speicherelemente angeordnet. Zwischen zwei Bitleitungen ist ein Leseverstärker angeordnet und zwar so, daß der Leseverstärker, der als getaktetes Flip-Flop aufgebaut ist, symmetrisch an den Bitleitungen liegt. Die Bitleitungen sind dabei jeweils mit den Drainanschlüssen der Schalttransistoren des getakteten Flip-Flops verbunden.
In F i g. 1 ist ein solcher Leseverstärker LVl gezeigt. Er besteht aus Invertern Tl, T3, bzw. T2, T4. Die MOS-Transistoren Ti und T2 sind Schalttransistoren, die MOS-Transistoren T3 und TA Lasttransistoren. Der weiter vorgesehene MOS-Transistor T5 ist beim Schreibvorgang immer geöffnet. VDD ist eine Betriebsspannung, 51 und 52 sind Taktsignale. Jeweils an dem Drainanschluß der Transistoren Tl und T2 sind Bitleitungen DL 1 bzw. DL 2 angeschlossen. An den Kreuzungspunkten zwischen den Bitleitungen DL1, DL 2 und Wortleitungen WL sind Speicherelemente SE angeordnet. Mit Ci bzw. C2 sind Leitungskapazitäten der Bitleitungen DL1 bzw. DL 2 bezeichnet. R stellt den Widerstand der Bitleitung DL1 dar.
Die in eines der Speicherelemente SE einzuschreibende Information wird. z. B. an dem Punkt A zugeführt. Der Leseverstärker LVi wird beim Einschreiben der Binärsignale mit verwendet. Er muß darum so betrieben werden, daß entsprechend des einzuschreibenden Binärsignals die Bitleitung umgeladen wird.
Da bei der Anordnung der F i g. 1 die Bitleitung DL1 mit dem Drainanschluß des Schalttransistors Ti verbunden ist, wird die Bitleitung DL1 durch den Transistor Tl sehr stark belastet. Bei einer derartigen Anordnung ist das Einschreiben des Binärsignals »1« in eine der Speicherzellen SE besonders kritisch. Liegt nämlich nach dem Lesevorgang die Bitleitung DL 2 auf »1«, so ist der Transistor Tl gut leitend und damit die Bitleitung DL 1 völlig entladen. Soll beim Schreibvorgang das Binärsignal »1« auf die Bitleitung DLi übertragen werden, so ergibt sich eine Spannungsteilung zwischen dem Widerstand R der meist diffundierten Bitleitung DL1 und dem Innenwiderstand des gut leitenden Schalttransistors Tl. Von A her muß also ein genügend großer Strom durch den Schalttransistor Tl geliefert werden, damit die Spannung der Bitleitung DL1 am Steuereingang des Schalttransistors T2 über dessen Schwellspannung VT liegt. Infolge der Spannungsteilung ist die Steuerspannung für den Schalttransistor T2 aber sehr klein, so daß die Bitleitung DL 2 durch den Schalttransistor T2 nur langsam entladen wird. Dadurch wird auch der Schalttransistor Tl über die Flip-Flop-Rückkopplung spät gesperrt. Erst nach Sperren des Schalttransistors Tl wird aber die Bitleitung DL1 völlig aufgeladen und der Schreibvorgang damit beendet. Ein Nachteil der Verwendung dieses bekannten Leseverstärkers besteht also darin, daß sich mit ihm eine zu lange Schreibphase ergibt. Ein Leseverstärker, bei dem die Bitleitungen direkt an die Steuereingänge der Schalttransistoren des Flip-Flops angeschlossen ist, ist in der DT-OS 22 62 171 beschrieben. Dort ist allerdings nur der Lesevorgang erläutert worden. Bei solchen Leseverstärkern kann zum Einschreiben von Binärsignalen die einzuschreibende Information in Form eines Potentials an die Steuereingänge der Schalttransistoren angeschaltet werden (DT-OS 21 48 896). Die Belastung der Bitleitung beim Schreibvorgang durch die Schalttransistoren wird
damit geringer. Dementsprechend wird auch die Schreibphase beim Einschreiben einer Information verkürzt.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht nun darin, ein Wegfallen und einer Anordnung zum Einschreiben von Binärsignalen in ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers anzugeben, bei der die Bitleitungen an die Steuereingänge der Schalttransistoren eines getakteten Flip-Flops angeschlossen sind und bei der die Schreibphase noch weiter verkürzt wird.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren solange gesperrt sind, bis die Bitleitung über den Bitschalter entsprechend der einzuschreibenden Information umgeladen ist und bis der von der Bitleitung angesteuerte Schalttransistor entsprechend dieser Information eingestellt ist.
Die Aufgabe wird weiterhin dadurch gelöst, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren leitend gesteuert sind, und daß das Verhältnis W/L der Abtrenntransistoren kleiner ist als das Verhältnis W/L der Schalttransistoren, so daß im leitenden Zustand der Innenwiderstand der Abtrenntransistoren groß ist im Verhältnis zu demjenigen der Schalttransistoren, wobei W die Breite und L die Länge des Kanals der Transistoren bedeutet.
Da die in den Rückkopplungszweigen des Flip-Flops aufgebauten Abtrenntransistoren während des Schreibvorganges gesperrt sind, entfällt jegliche Rückwirkung der Spannungsverhältnisse auf der zweiten Bitleitung auf die Spannungsverhältnisse der ersten Bitleitung. Rückwirkungen können damit nicht mehr auftreten und die Umladung der einen Bitleitung wird nicht mehr von den Verhältnissen auf der anderen Bitleitung und dem anderen Inverter des Flip-Flops beeinflußt.
Durch eine entsprechende Dimensionierung der Abtrenntransistoren, und zwar durch Wahl des Verhältnisses W/L der Transistoren kann der Innenwiderstand der Abtrenntransistoren während des Schreibvorganges sehr groß gemacht werden im Verhältnis zum Innenwiderstand der Schalttransitoren. Auch dadurch kann eine Entkopplung der einen Bitleitung von der anderen Bitleitung und von dem anderen Inverter erreicht werden.
Anhand von Ausführungsbeispielen, die in den Figuren dargestellt sind, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigt
F i g. 1 die Anordnung bei Verwendung eines Leseverstärkers mit Abtrenntransistoren in den Rückkopplungszweigen,
Fig.3 ein Spannungsdiagramm bei einer ersten Betriebsart des Leseverstärkers,
Fig.4 ein Spannungsdiagramm bei einer zweiten Betriebsart des Leseverstärkers und
F i g. 5 den Aufbau eines in die Bitleitung eingeschalteten Bitschalters.
Ein Leseverstärker LV2 ist wiederum symmetrisch zwischen einer ersten und einer zweiten Bitleitung DL1 bzw. DL 2 angeordnet. Der Leseverstärker LV2 besteht aus zwei Invertern mit Transistoren Γ6, Γ8 bzw. Tl, T9. Die Transistoren T6 und Tl sind Schalttransistoren, die Transistoren Γ8 und Γ9 Lasttransistoren. In den Rückkopplungszweigen der beiden Inverter ist jeweils ein Abtrenntransistor 7Ί2 bzw. ΤΊ3 angeordnet. Die weiterhin vorgesehenen Transistoren ΤΊΟ und TH sind nur für den Lesevorgang notwendig, sie sind während des Einschreibens einer Information immer geöffnet. VDD Ist wieder die Betriebsspannung, S3,54, 55 sind Taktsignale.
Die Bitleitungen DL1 bzw. DL 2 sind nun an die Steuereingänge der Schalttransistoren T6 bzw. Tl angeschaltet. Die einzuschreibende Information wird von einem Schreibverstärker 5V über einen Bitschalter J3S zugeführt, der seinerseits wieder mit der Bitleitung DL1 verbunden ist. Der Schreibverstärker SV kann in bekannter Weise aufgebaut sein, er kann mit mehreren Bitleitungen verbunden werden.
Der Biltschalter BS, dessen Aufbau sich aus F i g. 5 ergibt, wird in Abhängigkeit eines Schreibtaktes ST, der von einem Generator G geliefert wird, und der Ausgangssignale eines Bitdecoders BD geschlossen. Dann wird die einzuschreibende Information der Bitleitung DL1 zugeleitet. Der Bitdecoder BD und der Generator G kann in bekannter Weise aufgebaut sein.
Der Einschreibevorgang wird anhand des Spannungsdiagramms der Fig.3 erläutert. Dabei soll eine Information in eines der an der Bitleitung DL1 angeschlossene Speicherelemente SE eingeschrieben werden. Das Einschreiben von Informationen in Speicherelemente, die an andere Bitleitungen DL angeschlossen sind, erfolgt in entsprechender Weise.
Mit Hilfe eines an einer Wortleitung WL angelegten Signales WL wird eine Wortleitung WL ausgewählt. Gleichzeitig wird das Taktsignal S3 angelegt und werden damit die Lasttransistoren T% und T9 eingeschaltet. Das Taktsignal 54 wird nicht angelegt, so daß die Transistoren T10 und Γ11 geöffnet bleiben.
Zu Beginn des Schreibvorganges wird der Takt 55 von »!«-Potential auf »0«-Potential umgeschaltet, und damit der Transistor T12 und Γ13 geöffnet. Dadurch ist die Bitleitung DL1 vollständig vom Schalttransistor Tl entkoppelt. Der volle von dem Bitschalter BS gelieferte Strom steht dann zur Umladung der Bitleitung DL1 zur Verfügung.
In Fig.3 ist in der Zeile B die einschreibende Information gezeigt, in der Zeile STder Schreibtakt, in den Zeilen dl\ und dl 2 die Spannungsverlaufe auf den Bitleitungen DL1 und DL 2. Die ausgezogenen Kurven geben die Verhältnisse beim Einschreiben des Binärsignals »1«, die gestrichelten Kurven die Verhältnisse beim Einschreiben des Binärsignals »0« wieder.
Bei der Betriebsweise, bei der während des Einschreibens eines Binärsignals die Abtrenntransistoren Γ12 bzw. T13 geöffnet sind, benötigt das Schreiben einer »0« mehr Zeit und soll daher auch hier erläutert werden. Zu Beginn der Schreibphase P liege die Bitleitung DLl auf »!«-Potential. Die Bitleitung DLi wird dann über den Bitschalter BS schnell entladen, wodurch der Schalttransistor T6 gesperrt wird und der Knoten K 2 schnell positiv wird. Die Übernahmephase UE — das ist die Zeit, die notwendig ist, um die Schreibinformation in den Leseverstärker zu übernehmen und in der das Taktsignal S 5 Null sein muß — ist abgeschlossen, wenn sich die Spannung an den Knoten K 2 sicher eingestellt hat. Das Taktsignal S 5 wird daher frühestens nach einem Sicherheitsabstand r 1 wieder auf »1« geschaltet. Bedingt durch Toleranzen der Technologie und Spannungen entsteht allerdings noch ein zusätzlicher Streubereich t2 für das Einschalten der Transistoren Γ12 und ΤΊ3 durch das Taktsignal 55. Erst jetzt wird durch Einschalten der Rückkopplungszweige die Bitleitung DL 2 über den Transistor Γ13 ebenfalls auf die Spannung des Knotens K 2 aufgeladen.
Durch Einführen einer Übernahmephase ÜE in der
die Abtrenntransistoren T12 und T13 geöffnet sind, läßt sich die Schreibzeit verkürzen, da der Leseverstär-
ker LV2 sehr schnell eingestellt werden kann. Da die Bitleitung DL durch keinen der Schalttransistoren des Leseverstärkers stark belastet werden kann, ist auch der Aufwand und der Verlustleistungsbedarf des Bitschalters BS gering.
Die Schreibzeit kann noch weiter verkürzt werden, wenn auf die Übernahmephase verzichtet wird. Dies kann dadurch erfolgen, daß die Abtrenntransistoren T12 und T13 im Verhältnis zu den Lasttransistoren T8 und T9 und den Schalttransistoren T6 und Tl bemessen werden. Dabei wird das Verhältnis W/L entsprechend gewählt. Wist die Breite, L die Länge des Kanals eines MOS-Transistors. Für die Bemessung der Abtrenntranstistoren gelten dabei folgende Regeln: Das Verhältnis W/L der Schalttransistoren T6 und Tl wird nicht durch den Schreibvorgang, sondern durch den Lesevorgang festgelegt. Von dem Verhältnis W/L der Schalttransistoren 7"6 und Tl ist damit auszugehen. Für die Beibehaltung der Umladezeit der Bitleitungen DL muß dieses Verhältnis bei den Abtrenntransistoren Γ12 und Π3 größer als des bei den Lasttransistoren Γ8 und T% aber kleiner als bei den Schalttransistoren Γ6 und Tl ausgelegt werden. Durch das Verhältnis W/L wird der Innenwiderstand der Transistoren entsprechend festgelegt.
Um die Übernahmephase zu vermeiden, bleibt das Taktsignal 55 auch während des Schreibvorgangs auf »1«, d. h. die Abtrenntransistoren 7Ί2 und T13 bleiben im leitenden Zustand. Da aber das Verhältnis W/L der Abtrenntransistoren Γ12, Γ13 im Vergleich zu dem Verhältnis W/L der Schalttransistoren Γ6 und Tl klein gewählt worden ist, sind die Abtrenntransistoren trotz Anliegen des Taktsignals 55 nur schwach leitend, während z. B. der Schalttransistor Tl stark leitend sein kann. Dadurch ist die Bitleitung DL 1 von dem stark leitenden Transistor Tl entkoppelt. Die Bitleitung DL 1 kann somit durch einen Bitschalter BS geringer Verlustleistung sehr schnell umgeladen werden. Da aber der Rückkopplungszweig wegen Anliegens des Taktes 55 = 1 eingeschaltet bleibt, wird die Spannungsänderung des Knotens K 2 sofort auf die Bitleitung DL 2 und den Steuereingang des Schalttransistors Tl übertragen. Damit wird die Schreibphase P abgekürzt.
Die Spannungsverläufe bei einer derartigen Betriebsart des Leseverstärkers LV2 sind in Fig.4 dargestellt. Es sind wiederum die Spannung wl auf der Wortleitung WL, die Taktsignale 53, 54, 55, die einzuschreibende Information B, der Schreibtakt 57^ und die Spannungsverhältnisse auf den Bitleitungen DL1 und DL 2 gezeigt. Aus Fig.4 ergibt sich, daß eine Übernahmephase für den Takt 55 entfällt und daß somit die Schreibzeit verringert wird. Es ist aufgezeigt, daß sich die Spannung auf der Bitleitung DL 2 sofort entsprechend der Spannung der Bitleitung DL1 ändert.
F i g. 5 zeigt einen möglichen Aufbau des Bitschalters BS. Der Bitschalter kann aus zwei Transistoren T15 und T16 bestehen. Die gesteuerte Strecke des ersten Transitors T15 liegt in der Leitung, die davon dem Schreibverstärker zur Bitleitung DL1 führt. Der Steuereingang des Transistors Γ15 ist in der gesteuerten Strecke des Transistors Γ16 angeordnet, der auch der Schreibtakt ST zugeführt wird. Der Steuereingang des Transistors T16 ist mit dem Bitdecoder verbunden. Soll auf der Bitleitung DL1 eine Information eingeschrieben werden, dann wird der Transistor Γ16 durch den Bitdecoder leitend gesteuert. Damit liegt der Schreibtakt ST am Steuereingang des Transistors Γ15 an und bringt diesen in den leitenden Zustand. Die einzuschreibende Information wird dann auf die Bitleitung DL 1 übertragen. Der Transistor Π5 hat den Innenwiderstand Ri.
Würde ein entsprechend F i g. 5 aufgebauter Bitschalter BS bei einer Anordnung gemäß der F i g. 1 verwendet werden, dann müßte beim Schreiben der Schreibstrom / durch den Transistor Γ15 den Leseverstärker LVl umsetzen. Da der Strombedarf bei dieser Anordnung wegen der starken Belastung, die der Leseverstärker darstellt, verhältnismäßig groß ist, ist es erforderlich, daß der Transistor T15 groß ausgelegt ist, daß damit das Verhältnis W/L groß ist und damit der Innenwiderstand Ri des Transistors Ti klein ist. Außerdem ist ein leistungsfähiger Schreibverstärker notwendig, da er einen großen Schreibstrom aufbringen muß. Weiterhin ist eine hohe Steuerspannung am Steuereingang des Transistors Γ15 erforderlich die über den Transistor T16 durch den Bitdecoder und den Schreibtakt erzeugt werden muß.
Wird jedoch ein derart aufgebauter Bitschalter bei einer Anordnung gemäß der Fig.2 verwendet, dann kann der Schreibstrom entweder geringer oder gleich Null sein. Dies bedingt einen geringeren Aufwand und Platzbedarf für den Bitschalter, eine geringere Leistung und eine geringere Steuerspannung bei dem Bitschalter und dem Schreibverstärker.
Somit ergeben sich für die erfindungsgemäße Anordnung folgende Vorteile: Es wird eine kurze Schreibzeit erzielt, der Aufwand für den Bitschalter, dessen Leistungs- und Platzbedarf ist geringer, der Serienwiderstand der meist diffundierten Bitleitung ist unkritisch.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (3)

Patentansprüche:
1. Verfahren zum Einschreiben vor Binärsignalen in ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers unter Verwendung eines als getaktetes Flip-Flop aufgebauten Leseverstärkers, der aus zwei rückgekoppelten Invertern mit jeweils einem Schalttransistor und einem Lasttransistor besteht, bei dem in jedem Rückkopplungszweig jeweils ein Abtrenntransistor angeordnet ist, bei dem die Bitleitungen der Speicherelemente jeweils an dem Steuereingang eines der Schalttransistoren des Leseverstärkers angeschlossen sind und bei der die Schreibinformation nur auf eine der Bitleitungen übertragen wird, dadurch gekennzeichnet, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren (Ti2, T13) solange gesperrt sind, bis die Bitleitung (DL) über den Bitschalter (BS) entsprechend der einzuschreibenden Information umgeladen ist und bis der von der Bitleitung angesteuerte Schalttransistor (T 6 bzw. T7) entsprechend dieser Information eingestellt ist.
2. Anordnung zum Einschreiben von Binärsignalen, in ausgewählte Speicherelemente eines MOS-Speichers unter Verwendung eines als getaktetes Flip-Flop aufgebauten Leseverstärkers, der aus zwei rückgekoppelten Invertern mit jeweils einem Schalttransistor und einem Lasttransistor besteht, bei dem in jedem Rückkopplungszweig jeweils ein Abtrenntransistor angeordnet ist, bei dem die Bitleitungen der Speicherelemente jeweils an dem Eingang eines der Schalttransistoren des Leseverstärkers angeschlossen sind und bei der die Schreibinformation nur auf eine der Bitleitungen übertragen wird, dadurch gekennzeichnet, daß beim Schreibvorgang die Abtrenntransistoren (T 12, Γ13) leitend gesteuert sind, und daß das Verhältnis W/L der Abtrenntransistoren kleiner ist als das Verhältnis W/L der Schalttransistoren (T6, Tl), so daß im leitenden Zustand der Innenwiderstand der Abtrenntransistoren groß ist im Verhältnis zu demjenigen der Schalttransistoren, wobei VKdie Breite und L die Länge des Kanals der Transistoren bedeutet.
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis W/L der Abtrenntransistoren (T 12, 7Ί3) größer ist als das Verhältnis W/L der Lasttransistoren (T8, T9).
DE19742443529 1974-09-11 1974-09-11 Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers Granted DE2443529B2 (de)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19742443529 DE2443529B2 (de) 1974-09-11 1974-09-11 Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers
GB32631/75A GB1522183A (en) 1974-09-11 1975-08-05 Binary signal data stores
NL7510186A NL7510186A (nl) 1974-09-11 1975-08-28 Inrichting voor het inschrijven van binaire sig- nalen in uitgekozen geheugenelementen van een mos- -geheugen.
FR7526874A FR2331121A1 (fr) 1974-09-11 1975-09-02 Dispositif pour enregistrer des signaux binaires dans des elements selectionnes d'une memoire mos
IT26848/75A IT1042254B (it) 1974-09-11 1975-09-03 Dispositivo per iscrivere segnali binari in elementi memorizzatori scelti in una memoria mos
US610756A US3992704A (en) 1974-09-11 1975-09-05 Arrangement for writing-in binary signals into selected storage elements of an MOS-store
CH1157875A CH586946A5 (de) 1974-09-11 1975-09-05
BE159949A BE833310A (fr) 1974-09-11 1975-09-11 Dispositif pour enregistrer des signaux binaires dans des elements selectionnes d'une memoire mos

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19742443529 DE2443529B2 (de) 1974-09-11 1974-09-11 Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2443529A1 DE2443529A1 (de) 1976-03-25
DE2443529B2 true DE2443529B2 (de) 1977-09-01
DE2443529C3 DE2443529C3 (de) 1978-04-27

Family

ID=5925478

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19742443529 Granted DE2443529B2 (de) 1974-09-11 1974-09-11 Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers

Country Status (8)

Country Link
US (1) US3992704A (de)
BE (1) BE833310A (de)
CH (1) CH586946A5 (de)
DE (1) DE2443529B2 (de)
FR (1) FR2331121A1 (de)
GB (1) GB1522183A (de)
IT (1) IT1042254B (de)
NL (1) NL7510186A (de)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4069475A (en) * 1976-04-15 1978-01-17 National Semiconductor Corporation MOS Dynamic random access memory having an improved sense and restore circuit
US4069474A (en) * 1976-04-15 1978-01-17 National Semiconductor Corporation MOS Dynamic random access memory having an improved sensing circuit
US4144590A (en) * 1976-12-29 1979-03-13 Texas Instruments Incorporated Intermediate output buffer circuit for semiconductor memory device
US4081701A (en) * 1976-06-01 1978-03-28 Texas Instruments Incorporated High speed sense amplifier for MOS random access memory
US4114055A (en) * 1977-05-12 1978-09-12 Rca Corporation Unbalanced sense circuit
US4107556A (en) * 1977-05-12 1978-08-15 Rca Corporation Sense circuit employing complementary field effect transistors
US4096401A (en) * 1977-05-12 1978-06-20 Rca Corporation Sense circuit for an MNOS array using a pair of CMOS inverters cross-coupled via CMOS gates which are responsive to the input sense signals
JPS5939833B2 (ja) * 1977-05-24 1984-09-26 日本電気株式会社 センス増幅器
US4170741A (en) * 1978-03-13 1979-10-09 Westinghouse Electric Corp. High speed CMOS sense circuit for semiconductor memories
DE2839073C2 (de) * 1978-09-07 1983-02-17 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Dynamische Stromquelle für Halbleiterbausteine und ihre Verwendung
JPS58114391A (ja) * 1981-12-25 1983-07-07 Nec Corp センスアンプ回路
US5352937A (en) * 1992-11-16 1994-10-04 Rca Thomson Licensing Corporation Differential comparator circuit

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3675218A (en) * 1970-01-15 1972-07-04 Ibm Independent read-write monolithic memory array
US3838295A (en) * 1973-02-05 1974-09-24 Lockheed Electronics Co Ratioless mos sense amplifier
DE2309192C3 (de) * 1973-02-23 1975-08-14 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Regenerierschaltung nach Art eines getasteten Flipflops und Verfahren zum Betrieb einer solchen Regenerierschaltung
US3838404A (en) * 1973-05-17 1974-09-24 Teletype Corp Random access memory system and cell
US3940747A (en) * 1973-08-02 1976-02-24 Texas Instruments Incorporated High density, high speed random access read-write memory
US3863232A (en) * 1973-12-26 1975-01-28 Ibm Associative array

Also Published As

Publication number Publication date
IT1042254B (it) 1980-01-30
FR2331121A1 (fr) 1977-06-03
US3992704A (en) 1976-11-16
BE833310A (fr) 1976-03-11
DE2443529A1 (de) 1976-03-25
NL7510186A (nl) 1976-03-15
GB1522183A (en) 1978-08-23
CH586946A5 (de) 1977-04-15
DE2443529C3 (de) 1978-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68928144T2 (de) Datenflip-flop mit einer Datenhaltezeit gleich Null
DE2714715C3 (de) Schaltungsanordnung, die bei jedem Zustandswechsel eines ihr zugeführten binären Eingangssignals einen Ausgangsimpuls erzeugt
DE3007155C2 (de) Speichervorrichtung
DE3779786T2 (de) Logisches mos-dominogatter.
DE2141680C3 (de) Regeneriersteueranordnung
DE69022644T2 (de) Steuerschaltung für den Datenausgang für eine Halbleiterspeicheranordnung.
DE2443529B2 (de) Verfahren und anordnung zum einschreiben von binaersignalen in ausgewaehlte speicherelemente eines mos-speichers
DE68916093T2 (de) Integrierte Schaltung.
EP0012802B1 (de) Dynamischer Halbleiterspeicher
DE69109888T2 (de) Taktfrequenzverdoppler.
DE68908280T2 (de) Analogschalter.
DE2317497B1 (de) Verfahren zum Betrieb eines Fünf-Transistoren-Speicherelementes
DE1959374C3 (de) Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre Halbleiter -Speicherzelle
DE2825444C2 (de) Schaltungsanordnung zur Phasenaufspaltung eines Binärsignals
DE4428545A1 (de) Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines seriellen Datensignals in ein paralleles Datensignal
EP0100432A2 (de) Signal-Pegelwandler
EP0087818B1 (de) Integrierter dynamischer Schreib-Lese-Speicher
DE2339289C2 (de) Bistabile Kippstufe mit MNOS-Transistoren
DE2748571B2 (de)
EP0009085B1 (de) Verriegelungsschaltung zur Phasenaufspaltung und Pegelumsetzung eines TTL-Eingangssignals mit Feldeffekttransistoren und entsprechendes Betriebsverfahren
DE19702303A1 (de) Schaltungsanordnung zum Erzeugen eines Ausgangssignals
DE2553972B2 (de) Schaltungsanordnung zur Überwachung der Funktion einer dynamischen Decodierschaltung
DE2132560C3 (de)
DE2347228A1 (de) Speicherschaltung
DE3751438T2 (de) Schaltung zur Erzeugung eines pulsförmigen Ausgangssignales aus drei binären Eingangssignalen.

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee