DE2303040B2 - Optisches messgeraet, insbesondere zur rauchdichte- oder sichtweitemessung - Google Patents
Optisches messgeraet, insbesondere zur rauchdichte- oder sichtweitemessungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein optisches Meßgerät, insbesondere zur Rauchdichte- oder Sichtweitemessung,
mit einer Lichtquelle, einem optischen System zur Erzeugung eines über eine Meßstrecke laufenden
Lichtbündels, einem von diesem Lichtbündel beaufschlagten Umkehrreflektor und einem im Strahlengang
des Lichtbündels vor der Meßstrecke geneigt zur optischen Achse angeordneten Strahlenteiler, durch
welchen von dem Umkehrreflektor zurückgeworfenes Licht auf einen photoelektrischen Empfänger geleitet
wird, mit einem vor der MeEstrecke angeordneten, periodisch in den Strahlengang bringbaren Reflektor
zur Erzeugung eines abwechselnd mit dem Meßlichtstrom den Empfänger beaufschlagenden Referenzlichtstromes
und mit einer an den Empfänger angeschlossenen Auswerteschaltung.
Es ist bereits: ein Zweistrahl-Photometer bekannt
(DT-OS 15 72(581), bei dem ein lichtelektrischer Strahlungsempfänger mittels einer optischen Umschalteinrichtung
periodisch abwechselnd von der durch eine Modulationseinrichtung in Form einer Lochscheibe
modulierten Strahlung eines Meß- und eines Vergleichsstrahlenbündels beaufschlagt wird und bei dem die
elektrischen Signale des Strahlungsempfängers nach gemeinsamer Verstärkung zum Zwecke der elektrischen
Quotientenbildung wieder getrennt und gleichgerichtet werden.. Die optische Umschalteinrichturig
besteht dabei aus einer periodisch in den Strahlengang der Lichtquelle eintauchenden reflektierenden Fläche.
Die Verwendung einer spiegelnd reflektierenden Fläche zur Erzeugung des Vergleichsstrahlenganges hat jedoch
den Nachteil, daß es schon bei geringfügigen Kippungen des Spiegels zu erheblichen Dejustierungen kommen
kann. Aus diesem Grunde ist bei einem photoelektronischen Rauchdichtemeßgeräl. (DT-OS 16 23071) bereits
versucht worden, ein Vergleichsstrahlenbündel dadurch zu erzeugen, dalS periodisch ein Umkehrreflektor in den
Strahlengang eingeschwenkt wird. Der Reflektor des bekannten Rauchdichtemeßgerätes muß jedoch relativ
großflächig ausgebildet sein. Wegen des hohen Reflexionsvermögens; können außerdem schon geringfügige
Verunreinigungen beträchtliche Meßfehler hervorrufen.
Das Ziel der vorliegenden Erfindung besteht somit darin, ein optisches Meßgerät der eingangs genannten
Gattung zu schaffen, bei dem der Aufwand für die Justierung des Vergleichsstrahlenganges unter Verwendung
eines relativ kleinflächigen Reflektors sowie der Aufwand für die elektronische Auswertung der
Empfangssignale geringgehalten werden können.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung vor, daß der Reflektor zur Erzeugung des Referenzlichtstroms
aus einer mittels einer Welle angetriebenen Sektorscheibe besteht, welche eine diffus reflektierende
Fläche aufweist, daß eine ebenfalls von der Welle angetriebene, das Lichtbündel modulierende Lochscheibe
vorgesehen ist, und daß die Lochscheibe zwischen Strahlenteiler und Lichtquelle und die Sektorscheibe
zwischen Strahlenteiler und Meßstrecke angeordnet ist. Aufgrund dieser Ausbildung kommt man nicht nur mit
einer relativ kleinen diffus reflektierenden Fläche aus, sondern es wird trotz Verwendung einer relativ gering
reflektierenden Fläche noch ein voll ausreichender Lichtstrom im Vergleichsstrahlengang erzielt. Durch
Verwendung der diffus reflektierenden Fläche ist die Lichtintensität im Vergleichsstrahlengang auch besonders
unempfindlich gegen etwaige Zitter- und Flatterbewegungen der Sektorscheibe im Betrieb. Ein weiterer
Vorteil besteht in der kompakten baulichen Anordnung der einzelnen Bauteile.
Die Sektorscheibe weist vorzugsweise zwei diametral einander gegenüberliegende sich über je 90° erstrekkende
Flügel auf.
Nach einer weiteren Ausführungsform weist die Sektorscheibe in einem zentralen Bereich zwei radial
und um 90° winkelmäßig gegeneinander versetzte Paare von kreisbogenförmigen, sich über je 90°
erstreckenden Schlitzen auf, hinter welchen zwei weitere entsprechend der Anordnung der Schlitze radial
gegeneinander versetzte photoelektrische Empfänger angeordnet sind, die zur Erzeugung von Triggersignalen
für die Auswerteschaltung durch die Schlitze hindurch belichtbar sind. Dabei kann zur Belichtung der beiden
weiteren, die Triggersignale erzeugenden photoelektrischen Empfänger wenigstens ein von der Lichtquelle zu
der Sektorscheibe geführter Lichtleiter vorgesehen sein.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt s
F i g. I eine bevorzugte Ausführungsform,
F i g. 2 die zugehörige Sektorscheibe,
F i g. 3 die Lochscheibe bei der Anordnung von F i g. 1 und
F i g. 4 schematisch die zugehörige Schaltung. ι ο
Nach der Zeichnung sendet eine Lichtquelle (Lampenwendel) 40 ein Lichtbündel zu einer Linse 42, welche
ein paralleles Lichtbündel bildet und auf eine Linse 44 lenkt. Durch die Linse 44 wird das Lichtbündel in der
Ebene einer Lochscheibe 46, und zwar auf einem Lochkranz 48 derselben, fokussiert. Hinter dem
Lochkranz 48 sitzt ein Mikroobjektiv 50. Eine Frontlinse 52 erzeugt ein paralleles Lichtbündel 54, weiches über
eine Meßstrecke auf einen Umkehrreflektor in Gestalt eines Tripelspiegels 56 fällt. Der Tripelspiegel 56 ist in
seinen Abmessungen kleiner als der Querschnitt des Bündels 54. Deshalb muß dafür gesorgt werden, daß in
der Ebene des Tripelspiegels 56 ein gleichmäßig ausgeleuchteter Lichtfleck erzeugt wird, so daß die
gegenseitige Justierung von Sender-Empfänger-Einheit
und Tripelspiegel 56 unkritisch wird. Es dürfen in dieser Ebene also nicht die Wendelstrukturen der Lichtquelle
40 erscheinen. Das geschieht bei der beschriebenen Anordnung dadurch, daß von dem Mikroobjektiv 50 ein
Lichtquellenbild auf die Frontlinse 52 abgebildet wird und außerdem in der Ebene des Tripelspiegels 56 eine
bündelbegrenzende Blende 58 in dem parallelen Strahlengang zwischen den Linsen 42 und 44 abgebildet
wird, die im wesentlichen gleichmäßig ausgeleuchtet ist. Das zurücklaufende Lichtbündel, welches gestrichelt
angedeutet ist, fällt auf einen unter 45° zur Bündelachse geneigten halbdurchlässigen Spiegel 60 und wird von
diesem teilweise auf einen photoelektrischen Empfänger 62 reflektiert. Auf den photoelektrischen Empfänger
62 fällt so ein Meßlichtstrom, der vom Zustand der Meßstrecke abhängt, also beispielsweise davon, in
welchem Maße Licht auf der Meßstrecke durch Absorption verlorengeht.
Auf der Welle 64 der Lochscheibe, die von einem Motor 66 angetrieben wird, sitzt weiterhin eine
Sektorscheibe 68. Die Sektorscheibe taucht in den Strahlengang ein, und zwar zwischen dem teildurchlässigen
Spiegel 60 und der Frontlinse 52. Der teildurchlässige Spiegel 60 und das Mikroobjektiv 50 liegen somit
zwischen der Lochscheibe 46 und der Sektorscheibe 68.
Die Sektorscheibe 68 weist zwei Flügel 70 und 72 auf, die sich jeder über einen Winkel von ungefähr 90°
erstrecken und einander diametral gegenüberliegen. Außerdem weist die Sektorscheibe 68 einen zentralen
Teil 74 auf. In diesem zentralen Teil 74 sind vier sich jeweils über 90° erstreckende kreisbogenförmige
Schlitze 76, 78 bzw. 80, 82 vorgesehen. Die Schlitze 76 und 78 liegen dabei einander diametral gegenüber und
sind um 90° winkelmäßig versetzt gegen die Schlitze 80 und 82. Die Schlitze 76 und 78 sind außerdem radial
gegen die Schlitze 80 und 82 versetzt, d. h. sie liegen auf einem größeren Radius.
Durch einen Lichtleiter 84 wird Licht von der Lichtquelle 40 bis in den Bereich der Schlitze 76 bis 82
geleitet. Auf der Seite der Sektorscheibe 68, die dem Lichtleiter 84 abgewandt ist, sind zwei photoelektrische
Empfänger, beispielsweise zwei Phototransistoren 86, 88, angeordnet, wobei der eine Phototransistor 86 auf
dem Radius der Schlitze 80,82 und der Phototransistor
88 auf dem Radius der Schlitze 76, 78 angeordnet ist. Durch diese beiden Phototransistoren 86 und 88 werden
um 90° gegeneinander phasenverschobene Triggersignale für die Auswerteschaltung erzeugt. Die Auswerteschaltung
ist in F i g. 4 dargestellt. Das Signal des von einem Photoelement gebildeten photoelektrischen
Empfängers 62 wird durch einen Verstärker 90 verstärkt. Ein aktiver Hochpaß 92 entfernt aus dem
Signal den Gleichstrom, der beispielsweise auf nichtmoduliertes Fremdlicht zurückzuführen ist. Das so
erhaltene Wechselstromsignal wird von einem idealen Gleichrichter 94 gleichgerichtet.
Das Photoelement 62 liefert eine Impulsfolge infolge der Modulation des Lichts durch die Lichtquelle 40.
Dieser Impulsfolge ist in der Regel ein Gleichstromanteil überlagert, der von dem nichtmodulierten Fremdlicht herrührt. Dieser Anteil wird durch den aktiven
Hochpaß 92 herausgesiebt. Der ideale Gleichrichter richtet dann die verbleibenden Impulse gleich, so daß
ein geglättetes Signal erhalten wird, dessen Höhe der Amplitude der einzelnen Impulse proportional ist. Es
fällt nun auf das Photoelement 62 moduliert mit der Frequenz des Lochkranzes 48 abwechselnd ein Meßlichtstrom,
wenn die Sektoren 70 und 72 den Strahlengang freigeben und das Licht über die Meßstrecke geleitet wird, oder ein Referenzlichtstrom,
wenn einer der Sektoren 70 oder 72 in den Strahlengang eintaucht und das von dem Sektor diffus reflektierte
Licht auf den Empfänger 62 gelangt. Es entsteht somit am Ausgang des Gleichrichters 94 ein Rechtecksignal
mit der doppelten Umlauffrequenz der Sektorscheibe 68. Mit dieser Frequenz werden elektronische Schalter
96, 98 gegenphasig oder — bezogen auf die Umlauffrequenz der Sektorscheibe 68 — mit 90° Phasenverschiebung
gesteuert. Das von dem Meßlichtstrom herrührende Signal wird auf eine Verstärker- und Speichereinheit
100 und das von dem Referenzlichtstrom herrührende Signal jeweils auf eine Verstärker- und Speichereinheit
102 gegeben. Diese beiden Einheiten beaufschlagen einen Quotientenbilder 104, welcher beispielsweise ein
der Transmission auf der Meßstrecke proportionales Signal abgibt.
Bei der beschriebenen Anordnung wird durch die gleichmäßige Ausleuchtung in der Ebene des Umkehrreflektors
56 eine Justierunempfindlichkeit der Sender-Empfänger-Einheit gegenüber dem Reflektor 56 erhalten.
Es erfolgt eine Modulation des Lichtes, so daß die Anordnung unempfindlich gegen Fremdlicht ist. Für
Lochscheibe und Sektorscheibe ist ein einziger Motor erforderlich, der beide Scheiben gemeinsam antreibt.
Die Konstruktion wird daher sehr einfach. Durch die Verwendung diffus reflektierter Strahlung als Referenzlichtstrom
wird eine weitgehende Justierunempfindlichkeit hinsichtlich der Sektorscheibe erreicht. Es ist zwar
eine Modulation der Strahlung vorgesehen. Da jedoch nur eine Modulationsfrequenz auftritt, kann die
Demodulation mit einem einfachen Gleichrichter erfolgen. Die Umschaltung über optische Sleuerglieder
in Gestalt der Phototransistoren 86 und 88 macht dann die Auswerteschaltung außerordentlich einfach und
betriebssicher.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Optisches Meßgerät, insbesondere zur Rauchdichte- oder Sichtweitemessung, mit einer Lichtquelle,
einem optischen System zur Erzeugung eines über eine Meßstrecke laufenden Lichtbündels, einem von
diesem Lichtbündel beaufschlagten Umkehrreflektor und einem im Strahlengang des Lichtbündels vor
der Meßstrecke geneigt zur optischen Achse angeordneten Strahlenteiler, durch welchen von ι ο
dem Umkehrreflektor zurückgeworfenes Licht auf einen photoelektrischen Empfänger geleitet wird,
mit einem vor der Meßstrecke angeordneten, periodisch in den Strahlengang bringbaren Reflektor
zur Erzeugung eines abwechselnd mit dem Meßlichtstrom den Empfänger beaufschlagenden
Referenzlichtstromes und mit einer an den Empfänger angeschlossenen Auswerteschaltung, d a durch
gekennzeichnet, daß der Reflektor zur Erzeugung des Referenzlichtstroms aus einer
mittels einer Welle (64) angetriebenen Sektorscheibe (68) besteht, welche eine diffus reflektierende
Fläche aufweist, daß eine ebenfalls von der Welle (64) angetriebene, das Lichtbündel modulierende
Lochscheibe (46) vorgesehen ist, und daß die Lochscheibe (46) zwischen Strahlenteiler (60) und
Lichtquelle (40) und die Sektorscheibe (68) zwischen Strahlenteiler (60) und Meßstrecke angeordnet ist.
2. Optisches Meßgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Sektorscheibe (68) zwei
diametral einander gegenüberliegende, sich über je 90° erstreckende Flügel (70,72) aufweist.
3. Optisches Meßgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Sektorscheibe (68) in einem
zentralen Bereich (74) zwei radial und um 90° winkelmäßig gegeneinander versetzte Paare von
kreisbogenförmigen, sich über je 90° erstreckenden Schlitzen (76, 78; 80, 82) aufweist, hinter welchen
zwei weitere entsprechend der Anordnung der Schlitze radial gegeneinander versetzte photoelektrische
Empfänger (86, 88) angeordnet sind, die zur Erzeugung von Triggersignalen für die Auswerteschaltung
(90 bis 104) durch die Schlitze hindurch belichtbar sind.
4. Optisches Meßgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Belichtung der beiden
weiteren, die Triggersignale erzeugenden photoelektrischen Empfänger (86, 88) wenigstens ein von
der Lichtquelle (40) zu der Sektorscheibe (68) geführter Lichtleiter (84) vorgesehen ist.
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2303040A DE2303040C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Optisches Meßgerät, insbesondere zur Rauchdichte- oder Sichtweitemessung |
CH1723773A CH557028A (de) | 1973-01-23 | 1973-12-06 | Optisches messgeraet, insbesondere zur rauchdichte- oder sichtweitemessung. |
GB5777773A GB1406018A (en) | 1973-01-23 | 1973-12-13 | Optical measuring apparatus |
SE7316914A SE388940B (sv) | 1973-01-23 | 1973-12-14 | Optisk metapparat, serskilt for metning av roktethet eller siktvidd |
FR7347209A FR2229322A5 (de) | 1973-01-23 | 1973-12-28 | |
IT19066/74A IT1003318B (it) | 1973-01-23 | 1974-01-04 | Apparecchio per misurazioni otti che specie per misurare la densi ta spaziale e la distanza visiva |
US00430703A US3857641A (en) | 1973-01-23 | 1974-01-04 | Optical measuring apparatus |
JP844274A JPS5314938B2 (de) | 1973-01-23 | 1974-01-18 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2303040A DE2303040C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Optisches Meßgerät, insbesondere zur Rauchdichte- oder Sichtweitemessung |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2303040A1 DE2303040A1 (de) | 1974-07-25 |
DE2303040B2 true DE2303040B2 (de) | 1977-08-04 |
DE2303040C3 DE2303040C3 (de) | 1978-03-30 |
Family
ID=5869652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2303040A Expired DE2303040C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Optisches Meßgerät, insbesondere zur Rauchdichte- oder Sichtweitemessung |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3857641A (de) |
JP (1) | JPS5314938B2 (de) |
CH (1) | CH557028A (de) |
DE (1) | DE2303040C3 (de) |
FR (1) | FR2229322A5 (de) |
GB (1) | GB1406018A (de) |
IT (1) | IT1003318B (de) |
SE (1) | SE388940B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3627232A1 (de) * | 1986-08-11 | 1988-02-18 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Fotometer |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL96179C (de) * | 1975-02-28 | |||
DE2521934C3 (de) * | 1975-05-16 | 1978-11-02 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentrationen von Komponenten eines Abgasgemisches |
US3982130A (en) * | 1975-10-10 | 1976-09-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Ultraviolet wavelength smoke detector |
JPS5628530Y2 (de) * | 1977-06-10 | 1981-07-07 | ||
SE414231B (sv) * | 1977-11-18 | 1980-07-14 | Asea Ab | Siktmetare med minst en metstrecka |
JPS5492789A (en) * | 1977-12-29 | 1979-07-23 | Fujitsu Ltd | Gas analytical method by infrared ray |
SE432029B (sv) * | 1981-03-25 | 1984-03-12 | Ericsson Telefon Ab L M | Optisk branddetektor |
DE3377295D1 (en) * | 1982-02-01 | 1988-08-11 | Southern California Edison Co | Methods and means for utilizing apodized beams |
DE3309838C2 (de) * | 1983-03-18 | 1986-06-05 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Optisches Transmissionsmeßgerät |
GB8518941D0 (en) * | 1985-07-26 | 1985-09-04 | Shell Int Research | Atmospheric mist/smoke detecting system |
US6879284B2 (en) * | 1999-06-26 | 2005-04-12 | Otto Dufek | Method and apparatus for identifying objects |
WO2005115119A2 (en) * | 2004-05-25 | 2005-12-08 | Cowan, James, J. | Surface relief structure |
US9013700B2 (en) * | 2011-02-21 | 2015-04-21 | Uwm Research Foundation, Inc. | Variable path length photon trapping spectrometer |
CN108444917B (zh) * | 2018-06-05 | 2024-07-26 | 深圳迎凯生物科技有限公司 | 自校准的弱光检测装置 |
CN109709078B (zh) * | 2018-12-14 | 2021-07-06 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 基于单光子探测技术的透射式大气能见度测量装置及方法 |
CN118011319B (zh) * | 2024-04-10 | 2024-06-07 | 四川大学 | 一种基于旋转相位差的光源定位系统及方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1325753A (en) * | 1969-11-06 | 1973-08-08 | Baxter Laboratories Inc | Testing radiation absorption characteristics |
US3790290A (en) * | 1971-08-11 | 1974-02-05 | Sick Optik Elektronik Erwin | Single modulated light beam photometer |
US3824020A (en) * | 1971-11-19 | 1974-07-16 | Eaton Corp | Retroreflective fine position sensing means |
US3761724A (en) * | 1972-07-06 | 1973-09-25 | Resalab Inc | Double beam hydrocarbon gas detector |
-
1973
- 1973-01-23 DE DE2303040A patent/DE2303040C3/de not_active Expired
- 1973-12-06 CH CH1723773A patent/CH557028A/de not_active IP Right Cessation
- 1973-12-13 GB GB5777773A patent/GB1406018A/en not_active Expired
- 1973-12-14 SE SE7316914A patent/SE388940B/xx unknown
- 1973-12-28 FR FR7347209A patent/FR2229322A5/fr not_active Expired
-
1974
- 1974-01-04 IT IT19066/74A patent/IT1003318B/it active
- 1974-01-04 US US00430703A patent/US3857641A/en not_active Expired - Lifetime
- 1974-01-18 JP JP844274A patent/JPS5314938B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3627232A1 (de) * | 1986-08-11 | 1988-02-18 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Fotometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2303040A1 (de) | 1974-07-25 |
DE2303040C3 (de) | 1978-03-30 |
GB1406018A (en) | 1975-09-10 |
JPS49106875A (de) | 1974-10-09 |
FR2229322A5 (de) | 1974-12-06 |
JPS5314938B2 (de) | 1978-05-20 |
CH557028A (de) | 1974-12-13 |
SE388940B (sv) | 1976-10-18 |
IT1003318B (it) | 1976-06-10 |
US3857641A (en) | 1974-12-31 |
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