DE2255302A1 - Einrichtung fuer die sekundaer-ionenmassenspektroskopie - Google Patents

Einrichtung fuer die sekundaer-ionenmassenspektroskopie

Info

Publication number
DE2255302A1
DE2255302A1 DE2255302A DE2255302A DE2255302A1 DE 2255302 A1 DE2255302 A1 DE 2255302A1 DE 2255302 A DE2255302 A DE 2255302A DE 2255302 A DE2255302 A DE 2255302A DE 2255302 A1 DE2255302 A1 DE 2255302A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
lens
analyzer
sample
diaphragm
ions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE2255302A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2255302B2 (de
DE2255302C3 (de
Inventor
Helmut Dipl Phys Schillalies
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Balzers und Leybold Deutschland Holding AG
Original Assignee
Leybold Heraeus GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leybold Heraeus GmbH filed Critical Leybold Heraeus GmbH
Priority to DE2255302A priority Critical patent/DE2255302C3/de
Priority to GB5199473A priority patent/GB1399588A/en
Priority to CH1574373A priority patent/CH557598A/de
Priority to US414768A priority patent/US3859226A/en
Priority to FR7340225A priority patent/FR2206579B1/fr
Publication of DE2255302A1 publication Critical patent/DE2255302A1/de
Publication of DE2255302B2 publication Critical patent/DE2255302B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2255302C3 publication Critical patent/DE2255302C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/067Ion lenses, apertures, skimmers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0431Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
    • H01J49/044Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for preventing droplets from entering the analyzer; Desolvation of droplets
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/421Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
    • H01J49/4215Quadrupole mass filters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/44Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
    • H01J49/46Static spectrometers
    • H01J49/48Static spectrometers using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

7 2.040
LEYBOLD-HERAEUS SMBH. & CO4KG, Köln-Bayental
Einrichtung für die Sekundär-Ionen-Massenspektroskopie
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung für die Sekündär-Ionen-Massenspektroskopie mit einer Probe, von der die Ionen ausgehen, einem Quadrupöl- Massenanalysator für die Ionen und einem Sekundär-Elektronenvervielfacher zur Registrierung der Ionen.
Einrichtungen dieser Art sind z(B. aus der Zeitschrift "The Review of Scientific Instruments", Vol. 42, Nr. i, Seite 44 ff bekannt. Bei der Verwendung derartiger vorbekannter Einrichtungen für die Sekundär-Ionen-Hässenspektrosköpie hat . sich häufig ein störender Untergrund von schnellen Neutrateilchen, Photonen und schnellen Elektronen ergeben. Eine Eliminierüng dieses Untergrundes ist dadurch möglich^ daß z.B. der am Ausgang des Quädrupöls angeordnete Sekündär-Elektronenvervielfacher ätfiäl versetzt öder um 9Ö 'gedreht angeordnet-wird und die den Qüadrupoi verlassenden Ionen mit Hilfe eines geeigneten Ziehfeldes umgelenkt werden».Derartige Einrichtungen erweisen sich aber nicht als optimal * da einer-" seits am Ort des Nachweises, also am Eingang des Sekündär-Elektronenvervielfachers, Weitere Tertiärteilchen entstehen ■ können, und andererseits aufgrund des häufig nicht genau .ausgerichteten Ziehfeldes ein relativ großer Teil der .nachzuweisenden Ionen verloren gehen kann. Schließlich sind aueh- : die Einrichtungen zurErzeugüng des Ziehfeldes mechanisch kompliziert Und deshalb kostspielig,
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zügrunde *'eine Einrichtung für.die Sekündär-Ioneh-Mas'serLSpektroskopie mit
- 2 409821/0540
einerProbe, von der die Ionen ausgehen, einem Quadrupol-Massenanalysator für die Ionen und einem Sekundär-Elektronenvervielfacher zur Registrierung der Ionen zu schaffen, welche die beschriebenen Nachteile nicht aufweist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß zwischen der Probe und der Eintrittsebene des Quadrupol-Massenanalysators eine die Sichtverbindung verhindernde Blende angeordnet ist. Eine derartige Blende verhindert, daß die störenden Teilchen direkt in den Quadrupol-Massenanalysator gelangen und diesen durchsetzen. Die Gefahr der Erzeugung störender Tertiärteilchen im Bereich des Ausgangs des Quadrupole ist also beseitigt, so daß der Sekundär-Elektronenvervielfacher nicht mehr versetzt oder gedreht angeordnet zu werden braucht. Die komplizierten Einrichtungen zur Erzeugung des Ziehfeldes können also entfallen.
Besonders vorteilhaft ist es, die Blende innerhalb einer elektrostatischen Linse anzuordnen, die sich zwischen der Probe und dem Quadrupol-Massenanalysator befindet. Eine solche elek-·■ trostatische Linse kann derart ausgebildet werden, daß die Ionen die Blende umfliegen, so daß ein Intensitätsverlust des Ionenstromes durch die Blende gering ist.
Bei einer vorteilhaften Ausfuhrungsform besteht die Linse aus drei Tuben, welche zwei Rohrlinsen bilden. Die Blende ist dabei im mittleren Tubus angeordnet und weist das gleiche Potential wie der mittlere Tubus auf. Bei einer derartigen Linse lassen sich die optischen Daten so wählen, daß im Mittelteil zur Achse parallel Teilchenbahnen entstehen» Die Blende im mittleren Tubus stellt dabei keine Potentialstörung dar, da sie auf gleichem Potential wie der Mitteltubus liegt. Der wesentliche Vorteil einer derartigen Linse besteht darin, daß sich insbesondere bei relativ klein gewählter Brennweite automatisch ein großer kromatischer Farbfehler einstellt. Diese Eigenschaft kann dazu ausgenutzt werden, eine grobe Energie-
400821/0540
analyse der Teilchen vorzunehmen. Da die bei der Sekundärionen-Massenspektroskopie zu analysierenden. Ionen in der Regel ein Intensitäts-Maximum zwischen 2 und 1OeV mit einem zu höherenEnergien auslaufenden Intensitätsschwanz aufweisen, behindern Teilchen mit höherer Energie häufig die Analyse intensitätsschwacher Massen, die direkt benachbart zu intensitätsstarken Massen liegen. Durch die beschriebene grobe Energieanalyse der dem Quadrypol vorgeschalteten Linse treten diese Beeinträchtigungen nicht mehr auf, Schließlich erlauben die Rohrlinsen eine genaue Anpassung der Linse an die Akzeptanz des Quadropols, so daß die Einrichtung optimal betrieben werden kann. Im Rahmen dieser Förderung ist es schließlich vorteilhaft, wenn die Probe in der Brennebene der der Probe zugewandten Rohrlinse liegt, und wenn die Brennebene der zweiten Linse in die Eintrittsebene des Qudrupols-Massenanalysators liegt.
Eine weitere vorteilhafte Lösung der erfindungsgemäßen Aufgabe besteht darin, daß die Blende innerhalb eines zwischen der Probe und dem Quadrupol-Massenanalysators befindlichen Energie-Analysators angeordnet ist. Als Energie-Analysator kann dabei ein an sich bekannter für die Fokussierung abgebremster Teilchen geeigneter Analysator vorgesehen sein. Eine derartige Kombination aus dem an sich bekannten Energie-Analysator und dem Quadrupol-Massenanalysator hat sich als besonders zweckmäßig herausgestellt. Zw ίsehen dem Energieanalysator und dem Massenanalysator muß lediglich eine Bremseinrichtung für die Ionen angeordnet sein, die z.B. aus einem Gitter oder auch aus einer elektrostatischen Linse bestehen kann. Eine dazwischen geschaltete Linse ermöglicht auch die Anpassung von Brillianz und Akzeptanz des Energie-Analysators zum Quadrupolsystem. Die Ausblendung des MittelStrahls ist dann schon durch die im Analysator befindliche. Blende gewährleistet.
V/eitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung sollen anhand von in den Figuren 1 und 2 schematisch dargestellten Ausführungsbeispielen erläutert werden.
U 09 8 2 1 /0.5 4 0.
BAD ORIGINAL
In der Figur 1 ist die Probe, von der die zu analysierenden Ionen ausgehen, mit 1 bezeichnet. Zur Massenanalyse dieser Ionen ist der Quadrupol-Massenanalysator 2 vorgesehen. Die Registrierung der den Quadrupol 2 durchsetzenden Ionen erfolgt mit Hilfe des Sekundär-Elektronenvervielfachers 3, Zwischen der Probe 1 und dem Quadrupol 2 ist die ausden drei Tuben 4, 5 und 6 bestehende elektrische Linse 7 angeordnet. Im mittleren Tubus 5 ist mit Hilfe der Stege 8 die Blende 9 gehaltert, die eine direkte Sichtverbindung zwischen Probe und der Eingangsebene des Quadrupols 2 verhindert. Die optischen Daten der von den Tuben 4·, 5 und 6 gebildeten Rohrlihsen 10 und 11 sind derart gewählt, daß die Probe 1 in der Brennebene der Linse 10 liegt, daß die Eintrittsebene des Quadrupols 2 in der Brennebene der Linse 11 liegt und daß die Teilchenbahnen 12 im Bereich des mittleren Tubus 5 parallel zur Achse 13 liegen. Dadurch ist die Linse 7 gleichzeitig für eine grobe Energieanalyse geeignet. Die den Quadrupol 2 durchsetzenden. Ionen werden vom Sekundär-Elektronenvervielfacher registriert. Die von diesem erzeugten Signale werden von der nicht im einzelnen erläuterten, als Block 14 dargestellten, Elektronik verarbeitet.
In der Figur 2 ist zusätzlich zwischen der Linse 7 und der Probe 1 ein Energieanalysator 15 angeordnet, wie er z.B. in der Zeitschrift "J. Applied Phys.", Vol. 43, No. 5, Seiten 2291 beschrieben wird. Die Blende 9 ist bei diesem Ausführungsbeispiel innerhalb des Analysators 15 in nicht näher dargestellter Weise gehaltert. Dadurch ist eine Sichtverbindung zwischen der Probe 1 und dem Sekundär-Elektronenvervielf acher 3 vermieden. Im Energieanalysator 15 sind die Bremsgitter 16 und das das Saugfeld erzeugende Gitter 17 angeordnet, mit deren Hilfe eine Analyse der Energie der die Blende 9 umfliegendenlonen erfolgt. Um die den Energieanalysator 15 verlassenden Ionen auf die für das Quadrupol 2 geeignete Eintrittsgeschwindigkeit zu bremsen,
409821/0S40
- 5 - ■ \ ■ . ■
ist die Linse 7 vorgesehen, die - bis auf die Blende 9 wie die Linse 7 nach Figur 1 aufgebaut sein kann« Diese Linse kann jedoch entfallen, wenn im Austrittsbereich des Energieanalysators ein Bremsgitter oder dgl* angeordnet ist*
Die in der Figur 2 beschriebene Anordnung hat sich als sehr vorteilhaft erwiesen, da mitihr eine Verbesserung der Energxeauflösung erreicht werden kann, ohne die optimale An* passung der Akzeptanz zum Quadrupol zu behindern.
6 -
4Ö9821/0S4Ö

Claims (8)

  1. - 6 SCHUTZANSPR OCHE
    ( 1.!Einrichtung für die Sekundär-Ionert-Massenspektroskopie ^-^ mit einer Probe, von der die Ionen ausgehen, einem Quadrupol-Massenanalysator für die Ionen und einem Sekundär-Elektronenvervielfacher zur Registrierung der Ionen, dadurch gekennzeichnet, daß zwisphen der Probe (1) und der Eintrittsebene des Quadrupol-Masssenanalysators (2) eine die Sichtyerbindung verhindernde Blende (9) angeordnet ist.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (9) innerhalb einer zwischen der Probe (1) und dem Quadrupol-Massenanalysator (2) befindlichen elektrostatischen Linse (7) angeordnet ist.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Linse (7) aus drei Tuben (4, 5 und 6) besteht, die zwei Rohrlinsen (10, 11) bilden, daß die Blende (9) im mittleren Tubus (5) angeordnet ist und daß die Blende (9) das gleiche Potential wie der mittlere Tubus (5) aufweist»
  4. U, Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Probe (1) in der Brennebene der der Probe (1) zugewandten Rohrlinse (10) liegt und daß die Brennebene der zweiten Linse (11) in der Eintrittsebene des Quadrupol-Massenanalysators (2) liegt.
  5. 5. Einrichtung nach Anspruch 3 oder ·», dadurch gekennzeichnet, daß die Brennweiten der beiden Linsen (10, 11) zur Erzeugung kromatischer Farbfehler entsprechend klein gewählt sind.
  6. 6. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (9) innerhalb eines zwischen der Probed) und demQuadrupol-Massenanalysator (2) befindlichen Energieanalysator (15) angeordnet ist.
    409821/0540
    22553G2
  7. 7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß als Energieanalysator (15) ein an sich bekannter, für die Fokussierung langsamer Teilchen geeigneter Analysator vorgesehen ist.
  8. 8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Energieanalysator (15) und dem Massenanalysator (2) eine elektrostatische Linse (7) oder ein Brenngitter angeordnet ist.
    982 1 /0540
    Leerseite
DE2255302A 1972-11-11 1972-11-11 Einrichtung für die Sekundär-Ionen-Massenspektroskopie Expired DE2255302C3 (de)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2255302A DE2255302C3 (de) 1972-11-11 1972-11-11 Einrichtung für die Sekundär-Ionen-Massenspektroskopie
GB5199473A GB1399588A (en) 1972-11-11 1973-11-08 Instrument for secondary ion mass spectrometry
CH1574373A CH557598A (de) 1972-11-11 1973-11-09 Einrichtung fuer die sekundaer-ionen-massenspektroskopie.
US414768A US3859226A (en) 1972-11-11 1973-11-12 Secondary ion mass spectroscopy
FR7340225A FR2206579B1 (de) 1972-11-11 1973-11-12

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2255302A DE2255302C3 (de) 1972-11-11 1972-11-11 Einrichtung für die Sekundär-Ionen-Massenspektroskopie

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2255302A1 true DE2255302A1 (de) 1974-05-22
DE2255302B2 DE2255302B2 (de) 1980-01-17
DE2255302C3 DE2255302C3 (de) 1980-09-11

Family

ID=5861444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2255302A Expired DE2255302C3 (de) 1972-11-11 1972-11-11 Einrichtung für die Sekundär-Ionen-Massenspektroskopie

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3859226A (de)
CH (1) CH557598A (de)
DE (1) DE2255302C3 (de)
FR (1) FR2206579B1 (de)
GB (1) GB1399588A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2534665A1 (de) * 1975-08-02 1977-02-10 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Einrichtung fuer die durchfuehrung der sekundaer-ionenmassenspektroskopie und der restgasanalyse

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH583460A5 (de) * 1974-09-30 1976-12-31 Balzers Patent Beteilig Ag
US3939344A (en) * 1974-12-23 1976-02-17 Minnesota Mining And Manufacturing Company Prefilter-ionizer apparatus for use with quadrupole type secondary-ion mass spectrometers
US4058724A (en) * 1975-06-27 1977-11-15 Minnesota Mining And Manufacturing Company Ion Scattering spectrometer with two analyzers preferably in tandem
DE2540505A1 (de) * 1975-09-11 1977-03-24 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Flugzeit-massenspektrometer fuer ionen mit unterschiedlichen energien
DE2556291C3 (de) * 1975-12-13 1980-11-27 Gesellschaft Fuer Strahlen- Und Umweltforschung Mbh, 8000 Muenchen Raster-Ionenmikroskop
US4075479A (en) * 1976-03-04 1978-02-21 Finnigan Corporation Focusing ion lens system for mass spectrometer for separating charged and neutral particles
DE2753412C2 (de) * 1977-11-30 1983-06-23 Max Planck Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen Rotationssymmetrischer Ionen-Elektronen-Konverter
DE2947542A1 (de) * 1979-11-26 1981-06-04 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Einrichtung zur ueberwachung und/oder steuerung von plasmaprozessen
DE3048392A1 (de) * 1980-12-22 1982-07-22 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Linsensystem fuer analysatoren
US4442354A (en) * 1982-01-22 1984-04-10 Atom Sciences, Inc. Sputter initiated resonance ionization spectrometry
US4556794A (en) * 1985-01-30 1985-12-03 Hughes Aircraft Company Secondary ion collection and transport system for ion microprobe
CA1245778A (en) * 1985-10-24 1988-11-29 John B. French Mass analyzer system with reduced drift
GB9204524D0 (en) * 1992-03-03 1992-04-15 Fisons Plc Mass spectrometer
GB9219457D0 (en) * 1992-09-15 1992-10-28 Fisons Plc Reducing interferences in plasma source mass spectrometers
CN103858201A (zh) 2011-03-04 2014-06-11 珀金埃尔默健康科学股份有限公司 静电透镜及包括该静电透镜的系统
US8461524B2 (en) * 2011-03-28 2013-06-11 Thermo Finnigan Llc Ion guide with improved gas dynamics and combined noise reduction device
DE102012200211A1 (de) * 2012-01-09 2013-07-11 Carl Zeiss Nts Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Oberflächenbearbeitung eines Substrates
US20160336160A1 (en) * 2013-12-31 2016-11-17 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Ion Guide for Mass Spectrometry

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3501630A (en) * 1969-03-17 1970-03-17 Bell & Howell Co Mass filter with removable auxiliary electrode

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2534665A1 (de) * 1975-08-02 1977-02-10 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Einrichtung fuer die durchfuehrung der sekundaer-ionenmassenspektroskopie und der restgasanalyse

Also Published As

Publication number Publication date
FR2206579B1 (de) 1978-03-10
DE2255302B2 (de) 1980-01-17
US3859226A (en) 1975-01-07
GB1399588A (en) 1975-07-02
FR2206579A1 (de) 1974-06-07
DE2255302C3 (de) 1980-09-11
CH557598A (de) 1974-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2255302A1 (de) Einrichtung fuer die sekundaer-ionenmassenspektroskopie
EP0218920B1 (de) Elektronenenergiefilter vom Omega-Typ
DE3913965A1 (de) Direkt abbildendes sekundaerionen-massenspektrometer mit laufzeit-massenspektrometrischer betriebsart
DE1539660A1 (de) Linsenkonstruktion fuer Einzelstrahlung und Mikroanalysevorrichtung,bestehend aus Mitteln zur Richtung eines Ionenstrahls auf einen gewaehlten Oberflaechenabschnitt einer Materialprobe
DE4041871C2 (de) Massenspektrometer mit Plasmaionenquelle
DE102020119770A1 (de) Spektroskopie- und bildgebungssystem
DE1937482B2 (de) Mikrostrahlsonde
DE2538123A1 (de) Anordnung zum massenspektrometrischen nachweis von ionen
DE2825760C2 (de) Einrichtung zum alternativen Nachweis von positiv und negativ geladenen Ionen am Ausgang eines Massenspektrometers
DE3231036C2 (de)
DE3522340C2 (de)
DE102007013693A1 (de) Ionennachweissystem mit Unterdrückung neutralen Rauschens
DE2137510B2 (de) Elektronenoptische Anordnung mit einer Energieselektionsanordnung
DE4305363A1 (de) Massenspektrometer zur flugzeitabhängigen Massentrennung
EP1559126B9 (de) BILDGEBENDER ENERGIEFILTER FüR ELEKTRISCH GELADENE TEILCHEN UND VERWENDUNG DES BILDGEBENDEN ENERGIEFILTERS
DE2031811B2 (de) Doppelfokussierendes stigmatisch abbildendes Massenspektrometer
EP0002430A1 (de) Massenspektrometer
DE60032972T2 (de) Energiefilter und seine Verwendung in einem Elektronenmikroskop
DE60037071T2 (de) Magentischer Energiefilter
DE4002849C2 (de)
DE102014019408B4 (de) Abbildende Energiefiltervorrichtung und Verfahren zu deren Betrieb
DE102016014941A1 (de) Massenspektrometer
DE3702696A1 (de) Verfahren zur elektronenstrahl-fuehrung mit energieselektion und elektronenspektrometer
EP0185789B1 (de) Analysator für geladene Teilchen
DE1598657C3 (de) Impulsmassenspektrometer

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: LEYBOLD AG, 5000 KOELN, DE