DE2031811B2 - Doppelfokussierendes stigmatisch abbildendes Massenspektrometer - Google Patents
Doppelfokussierendes stigmatisch abbildendes MassenspektrometerInfo
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
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- H01J49/32—Static spectrometers using double focusing
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Description
^ In h = 1.31
ist, mit U0 = Beschleunigungsspannung für die eintretenden
Ionen,
Ub = Spannung zwischen dem äußeren und dem inneren Zylinder (40 und 38) und
b = Radius des äußeren Zylinders (40).
Die vorliegende Erfindung betrifft ein doppelfokussierendes, stigmatisch abbildendes Massenspektrometer
gemäß dem Oberbegriff der Patentansprüche 1 und 2.
Ein Massenspektrometer mit diesen Merkmalen ist aus der Zeitschrift »Journal of Applied Physics« Bd. 38,
Nr. 13, (Dezember 1967) S. 5277 bis 5283, insbesondere Figur 2 auf Seite 5278, bekannt Dieses bekannte
Massenspekrometer enthält in Ionenstrahlrichtung der Reihe nach eine Einzellinse, einen 45° -Kugelkondensator,
aus dem das ionenbünde! als Paraileistrahienbündei
austritt, eine Zwischenblende, und ein 90°-Magnetfeld, das durch einen Magneten mit keilförmigem Luftspalt
erzeugt wird, sowie eine Austrittsblende. Bei diesem Massenspektrometer beeinflußt die den Energiebereich
begrenzende Zwischenblende auch die Winkelakzeptanz in der Ablenktbene.
Aus der Zeitschrift »The Review of Scientific Instruments« Band 32, Nr. 12, (Dezember 1961), S. 1314
bis 1316 ist ein stigmatisch abbildendes Massenspektrometer bekannt, das aus einem Magneten mit rechteckigen,
keilförmig zulaufenden Polschuhen besteht
Aus der Zeitschrift »The Review of Scientific Instruments« Band 39, Nr. 1, (Januar 1968), S. 33 bis 35
sind die Abbildungseigenschaften eines Zylinderkondensators bekannt
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Massenspektrometer der eingangs genannten
Art dahingehend weitenuitilden, daß Akzeptanzwinkel
und Energiebandbreite unabhängig voneinander einstellbar sind, so daß man eine optimale
Transmission mit geringstmöglichen Abbildungsfehlern erreichen kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Massenspektrometer der eingangs genannten Art mit
den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruchs 1 oder des Anspruchs 2 gelöst.
Indem man am Ort der Zwischenblende ein
Zwischenbild erzeugt, lassen sich Akzeptanzwinkel und Energiebreite unabhängig voneinander einstellen.
Das Massenspektrometer gemäß der Erfindung eignet sich besonders für die Analyse von Ionen mit
verhältnismäßig stark streuenden Anfangsenergien, wie sie z. B. bei der Materialzerstäubung mittels einer
Mikrostrahlsonde auftreten.
Im folgenden werden zwei Ausfuhrungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert, es
zeigt
F i g. 1 einen Schnitt durch ein erstes Ausführungsbeispiel
Fig. 2 eine teilweise geschnittene Seitenansicht in einer Ebene 2-2der Fig. 1;
Fig. 3 einen Schnitt durch ein zweites Ausführungsbeispiel;
F i g. 4 eine Seitenansicht in Richtung der Pfeile 4-4 in F i g. 3 und
f- i g. 5 einen Schnitt in einer Ebene 5-5 der F i g. 3.
Das in den F i g. 1 und 2 dargestellte Ausführungsbeispiel enthält einen Impulsanalysator, welcher mit einem
Magnetfeld arbeitet, das zwischen zwei ebenen, gegeneinander geneigten Polschuhflächen, die einen
keilförmigen Magnetfeldspalt bilden, erzeugt wird. Die
Feldlinien sind, wie durch Pfeile angedeutet ist, Kreisbögen, deren Mittelpunkte auf der Schnittgeraden
10 der die beiden Polschuhflächen 11 enthaltenden Ebenen liegen. Die Feldstarke zwischen den Polschuhen
ist umgekehit proportional dem Abstand von der Schnittgeraden 10. Geladene Teilchen beschreiben in
einem solchen Feld Zykloidenbahnen.
Es ist bekannt, daß ein solches Feld ein von einem Punkt auf der Schnittseraden ausgehendes und im
Mittel senkrecht in das Magnetfeld eintretendes Büschel geladener Teilchen mit dem Impuls ρ nach Ablenkung
um 180° wieder auf einen Punkt auf der Schnittgeraden
fokussiert, wenn die Feldstärke so eingestellt wird, daß
sie im Abstand A=2,10 A0 von der Schnittgeraden den
Wert
ΒΛ = l,35p/Ae
U) Um Doppelfokussierung, also sowohl Richtungs- als auch Energiefokussierang zu erreichen, muß die
Energiedispersion des Kugelkondensators entgegengesetzt gleich der des Magnetfeldes gemacht werden. Die
Energiedispersion ym(AU) des Magnetfeldes für eine
bestimmte Masse ist gleich der halben Impulsdispersion, also
ym(AU) = 1,03A-AUfU0
ίο Die Bedingung für die Doppelfokussierung lautet
also
Lsm4>/{1-UJU0) = 1,03/1
und für Vn = 0
Lsin0 = 1,03/1
Lsin0 = 1,03/1
Bei dem in F i g. 1 und 2 dargestellten Ausführungsbeispiel ict Φ=90° und Un,=0. Hier gilt wegen sin Φ = 1
hat Dabei bedeuten
e= Ladung der Teilchen, p= Impuls der Teilchen und A0
= Abstand der Schnittgeraden von den zn ihr parallelen geraden Rändern der Pulschuhflächen. Der Abstand des
Fokussierungspunktes vom Quellpunkt beträgt 1,28/L
Die Impulsdispersion y(Ap), also der Abstand der
Fokussierungspunkte von Ionen mit dem Impulsunterschied Ap, beträgt
y(Ap) = 2,06AA p/p
Bei dem in F i g. 1 und 2 dargestellten Ausfühningsbeispiel
werden also Ionen des Impulses p, die von dem noch zu beschreibenden Energieanalysator in einen
Punkt 13 auf der Schnittgeraden 10 abgebildet werden, durch das Magnetfeld in einen Punkt 12 fokussiert, der
in der ebenfalls auf der Schnittgeraden 10 angeordneten Austritteblende 14 liegt, hinter der sich eine nichtdargestellte
Ionennachweiseinrichtung, z. B. ein Sekundärelektronenvervielfacher,
befindet
Als Energieanalysator dient bei dem Ausführungsbeispiel gemäß F i g. 1 und 2 ein Kugelkondensator, der im
Prinzip ebenfalls bekannt ist Die Energiedispersion y(A U) eines Kugelkondensators in der K-Richtung, also
der längs der Y-Koordinate (siehe Fig. 1) gerechnete
Abstand zwischen den Fokussierungspunkten von Ionen, deren Beschleunigungsspannungen sich um AU
unterscheiden, ist
y(AU) =
LsiD0
L=l,ö3/i
Bei dem in F i g. 1 und 2 dargestellten Massenspektrometer treten die zu analysierenden Ionen, die z. B. durch
Zerstäubung mittels einer Mikrostrahlsonde erzeugt worden sind, durch eine Eintrittsblende 24 ein und
durchlaufen dann eine den öffnungswinkel begrenzende Blende 26 und das elektrische Feld des Kugelkondensators
15, durch das Ionen gleicher Energie in dem durch die Eintrittsblende 24 eintretenden Ionenbüschel auf
einen Punkt (z. B. Punkt 13) auf der Schnittgeraden 10
fokussiert werden. In der Fokussierungsebene, in der die
Fokussierungspunkte für die verschiedenen Energien liegen, befindet sich die Energieblende 28. Die Ionen
treten dann in das Magnetfeld zwischen den Polschuhflächen U ein, und Ionen, deren Impuls der Gleichung
(1) genügt, werden auf den Punkt 12 in der öffnung der
Austrittsblende 14 fokussiert Die nacbzuveisende
Ionenart kann durch Einstellen der magnetischen Feldstärke BA ausgewählt werden. Für eine bestimmte
Feldstärke können durch die Austrittsblende 14 jeweils nur solche Ionen treten, die die Bedingung der
Gleichung (1) erfüllen, also Ionen, die ein bestimmtes Verhältnis von Masse zu Ladung aufweisen.
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß den Fi g. 3 bis 5
besteht der Energieanalysator aus eine Zylinderkondensator, der von den Ionen in Ebenen, die durch die
Zylinderachse gehen, durchlaufen wird (»Zylinderspiegelanalysator«).
Die Energiedisoersion AZ des Zylinderspiegelkondensators
15" (F i g. 3 und 4) in Richtung 4er Zylinderachse 34 ist
55
wobei bedeuten
U0 = Beschleunigungsspannung eines Ions, das auf
der optischen Achse in den Kugelkondensator eintritt,
AU = Abweichung der Beschleunigungsspannung eines geladenen Teilchens von Uo,
Un, - Spannung der mittleren Kugelfläche 20 relativ
zur Erde,
L => Abstand des Fokussierungsortes von der
Winkelhalbierenden 21 des Kugelkondensators in Richtung der Austrittsachse 22 und
Φ = Sektorwinkei Ues Kugelkondensators.
mit
K0 =
θ = Winkel zwischen der Zylinderachse 34 und der
Achse 36 dps eintretenden lonenbüsche's,
a = Radius des inneren Zylinders 38, b = Radius des äußeren Zylinders 40 und
Ub = Potential des äußeren Zylinders 40.
Die Energiedispersion in der V-Richtung (Richtung senkrecht zur Achse des austretenden Büschels) ist
y( MJ) = AZ sin θ = a cos «/sin2 θ{2 K0 cos2 θ - I)
■ MJ/U0
Die Bedingung für die Doppelfokussierung lautet
hier also
α cos »/sin2 θ (2 K0 cos2 θ - 1) = 1.03/1
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß F i g. 3 bis 5 ist Af0=Ul und 6=42,3° gewählt, und der Abstand Z
zwischen dem Quellpunkt 42 (in der Eintrittsblende 24) und dem Bildpunkt 13 auf der Schnittgeraden 10 ist dann
6,12a. Die Bedingung fflrdie Doppelfokussierung lautet
für diesen Fall
a=0,274-4
Claims (2)
- Patentansprüche;1, Doppelfokussierendes, stigmatisch abbildendes Massenspektrometer, bei welchem die zu analysie- s renden Ionen der Reihe nach eine Eintrittsblende, einen ersten stigmatisch abbildenden Analysator, eine den Energiebereich begrenzende Blende, einen zweiten stigmatisch abbildenden Analysator und eine Austrittsblende durchlaufen, wobei der eine ι ο Analysator ein magnetischer Analysator mit zwei einander gegenüberliegenden ebenen Polschuhflächen ist, die gegeneinander geneigt sind und gerade seitliche Begrenzungen haben, welche im Abstand Aa zu der Schnittgeraden der die Polschuhflächen enthaltenen Ebenen verlaufen, wobei weiterhin die Austrittsblende auf der Schnittgeraden liegt, wobei ferner die magnetische Feldstärke B im Abstand A =2,1 A0 von der Schnittgeraden 135 · p/A ■ e beträgt, mit e-Ladung der Ionen und p= Impuls der nachzuweisenden Ionen, und wobei schließlich der andere Analysator ein elektrostatischer Analysator ist, dadurch gekennzeichnet, daß die den Energiebereich begrenzende Blende (28) auf der Schnittgeraden (10) in einem Abstand von 1,28 A von der Austrittsblende (14) angeordnet ist, daß der elektrostatische Analysator 21η Kugelkondensator (15) mit einem Ablenkwinkel von 90° ist und daß die Eintrittsachse des Kugelkondensators (15) im Abstand von 1,03 A (1 — UnJUo) parallel zur Schnittgeraden (10) verläuft mit Un,=Spannung auf der optische Aciise im Kugelkondensator relativ zur Erde und i/o=Beschleunigungsspannung für die eintretenden Ionen.
- 2. Doppelfokussierendes, stif na tisch abbildendes Massenspektrometer, bei welchem die zu analysierenden Ionen der Reihe nach eine Eintrittsblende, einen ersten stigmatisch abbildenden Analysator, eine den Energiebereich begrenzende Blende, einen zweiten stigmatisch abbildenden Analysator und eine Austrittsblende durchlaufen, wobei der eine Analysator ein magnetischer Analysator mit zwei einander gegenüberliegenden ebenen Polschuhfi'ichen ist, die gegeneinander geneigt sind und gerade seitliche Begrenzungen haben, welche im Abstand A0 zu der Schnittgeraden der die Polschuhflächen enthaltenen Ebenen verlaufen wobei weiterhin die Austrittsblende auf der Schnittgeraden liegt, wobei ferner die magnetische Feldstärke B im Abstand ,4 = 2, 1 An von der Schnittgeraden 1.35 · p/A ■ e beträgt, mit e=· Ladung der Ionen und p= Impuls der nachzuweisenden Ionen, und wobei schließlich der andere Analysator ein elektrostatischer Analysator ist, dadurch gekennzeichnet, daß die den Energiebereich begrenzende Blende (28) auf der Schnittgeraden (10) in einem Abstand von 1,23/4 von der Austrittsblende (14) angeordnet ist, daß der elektrostatische Analysator ein Zylinderkondensator (15") ist, der von den Ionen in Ebenen, die die Zylinder achse enthalten, durchlaufen wird, daß die Achse (34) des Zylinderkondensators (15") mit der Achse (36) des eintretenden lonenbüschels einen Winkel (Θ) von 42,3° bildet daß der Radius (a) des inneren, geerdeten Zylinders (38) gleich 0,274 A ist und daß
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2031811A DE2031811B2 (de) | 1970-06-26 | 1970-06-26 | Doppelfokussierendes stigmatisch abbildendes Massenspektrometer |
US00155061A US3761707A (en) | 1970-06-26 | 1971-06-21 | Stigmatically imaging double focusing mass spectrometer |
FR7122822A FR2099837A5 (de) | 1970-06-26 | 1971-06-23 | |
LU63411D LU63411A1 (de) | 1970-06-26 | 1971-06-24 | |
NL7108831A NL7108831A (de) | 1970-06-26 | 1971-06-25 | |
GB2997971A GB1345973A (en) | 1970-06-26 | 1971-06-25 | Stigmatically imaging mass spectrometer |
BE769073A BE769073A (fr) | 1970-06-26 | 1971-06-25 | Spectrometre de masse a reproduction anastigmate, avec focalisation en fonction de la direction et de l'energie |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2031811A DE2031811B2 (de) | 1970-06-26 | 1970-06-26 | Doppelfokussierendes stigmatisch abbildendes Massenspektrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2031811A1 DE2031811A1 (de) | 1971-12-30 |
DE2031811B2 true DE2031811B2 (de) | 1980-09-25 |
Family
ID=5775115
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2031811A Withdrawn DE2031811B2 (de) | 1970-06-26 | 1970-06-26 | Doppelfokussierendes stigmatisch abbildendes Massenspektrometer |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3761707A (de) |
BE (1) | BE769073A (de) |
DE (1) | DE2031811B2 (de) |
FR (1) | FR2099837A5 (de) |
GB (1) | GB1345973A (de) |
LU (1) | LU63411A1 (de) |
NL (1) | NL7108831A (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3842269A (en) * | 1971-10-05 | 1974-10-15 | Max Planck Gesellschaft | Mass spectrometer of high detection efficiency |
DE2242987B2 (de) * | 1972-09-01 | 1980-06-12 | Gesellschaft Fuer Strahlen- Und Umweltforschung Mbh, 8000 Muenchen | Vorrichtung zur Trennung von neutralen Teilchen und schnellen Ionen von langsamen Ionen |
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JPS5829577B2 (ja) * | 1980-06-13 | 1983-06-23 | 日本電子株式会社 | 二重収束質量分析装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1970
- 1970-06-26 DE DE2031811A patent/DE2031811B2/de not_active Withdrawn
-
1971
- 1971-06-21 US US00155061A patent/US3761707A/en not_active Expired - Lifetime
- 1971-06-23 FR FR7122822A patent/FR2099837A5/fr not_active Expired
- 1971-06-24 LU LU63411D patent/LU63411A1/xx unknown
- 1971-06-25 BE BE769073A patent/BE769073A/xx unknown
- 1971-06-25 NL NL7108831A patent/NL7108831A/xx not_active Application Discontinuation
- 1971-06-25 GB GB2997971A patent/GB1345973A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2031811A1 (de) | 1971-12-30 |
GB1345973A (en) | 1974-02-06 |
NL7108831A (de) | 1971-12-28 |
LU63411A1 (de) | 1971-09-24 |
FR2099837A5 (de) | 1972-03-17 |
US3761707A (en) | 1973-09-25 |
BE769073A (fr) | 1971-11-03 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8239 | Disposal/non-payment of the annual fee |