DE2624730A1 - Energieanalysator fuer geladene teilchen - Google Patents
Energieanalysator fuer geladene teilchenInfo
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/025—Detectors specially adapted to particle spectrometers
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
76.008
LEYBOLD-HERAEUS GMBH & CO KG Köln-Bayent al
Energieanalysator für geladene Teilchen
Die Erfindung betrifft einen Ent-i gieanalysat 01 im geladene
Teilchen, in welchem die Teilchen ein elektrisches oder magnetisches
Feld durchfliegen, und ein dem Analysator nachgeordnetes
Detektorsystem, dem die Teilchen nach Verlassen des Analysatorfeldes durch einen Austrittsspalt zugeführt
werden. Der Energieanalysator kann dabei von einem Kugelkondensator, Zylinderkondens'.tor , magnetischem Sektorf eld-Spektrometer
oder dergl. gebildet werden.
Bei der Durchführung von Versuchen mit den vorbekannten Einrichtungen
an Proben mit unterschiedlichen Größen besteht, die Gefahr, daß - bei kleinen Proben - die Unterlage der
Probe störende Beiträge zum Spektrum der Probe liefert. Die Auflösung eines Kugelkondensators z.B. wird durch das Verhältnis
von Ein- und Austrlttsspaltbreite zum Radius des
Kugelkondensators und der Öffnung des Strahls in radialer
Richtung bestimmt. Für die Lummosität (ein Maß für die
Empfindlichkeit) ist hingegen die Fläche des Eintrittsspaltes (Breite χ Lange) und die öffnung des Strahls (gesamter
Raumwinkel) maßgebend. Die Länge der Spalte sowie die Öffnung des Strahls in tancontialer Richtung geht in erster
Näherung nicht in die Auflösung ein. Für den idealen 180 -Kugelkondensator gilt das exakt. Um möglichst hohe
Empfindlichkeit zu erzielen, ist man bestrebt, den Ein- und
Austrittsspalt möglichst lang auszubilden. Man ist jedoch hierin begrenzt durch
1. die aktive Fläche des verwendeten Detektorsystems für
den Nachweis der den Austrittsspalt verlassenden
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Teilchen und
2. durch Beschränkung bei der Ausleuchtung des Eintrittsspaltes des Kugelkondensators.
Wird z.B. bei der Photoelektronenspektroskopie die Probe
durch ein Linsensystem auf den Eintrittsspalt des Kugelkondensators
abgebildet, so ist die maximal sinnvolle Länge des Eintrittsspaltes durch die Länge der Prehe multipliziert
mit dem Vergrößerungsfaktor der Linse gegeben. Um optimale
Empfindlichkeit zu erreichen, wird man die Spaltlänge
dem Durchmesser des zur Verfügung stehenden Nachweisdetektors, in der Regel ein Sekundärelektronen-Vervielfacher, anpassen.
Der Vergrößerungsfaktor der Linse wird dann entsprechend der
maximal sinnvoll erscheinenden Probengröße angepaßt. Sollen nun kleinere Proben untersucht werden, die auf einer Unterlage
aufgebracht sind, so wird zwangsläufig diese Unterlage störende Beiträge zum Spektrum der Probe liefern.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Energieanalysator für geladene Teilchen der eingangs genannten
Art zu schaffen, bei dem diese Nachteile nicht mehr auftreten.
Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß
zwischen dem Energieanalysator und dem Detektorsystem ein Elektrodensystem zur Einstellung des Querschnittes des
Teilchenstrahles vorgesehen 1st. Je nach dem, ob positive oder negative Teilchen analysiert werden, kann an das erfindungsgemäße
Elektrodensystem eine positive oder negative Spannung gelegt werden, die - in Abhängigkeit von der Höhe
der angelegten Spannung - den Querschnitt des den Austrittsspalt verlassenden Teilchenstrahl mehr oder weniger stark
beschneidet. Beim Übergang von einer größeren auf eine
kleinere Probe kann deshalb lediglich durch Verkleinerung des
709850/0240
sr
Querschnittes des den Austrittsspalt verlassenden Teilchen-Strahls
verhindert werden, daß Teilchen von der Probenunterlage registriert werden, ohne die opt imal eingestellte
Empfindlichkeit zu verändern.
Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung sollen anhand von in den Figuren 1 bis 6 dargestellten Ausführungsbeispielen erläutert werden. Es zeigen:
Figuren 1 und 2 ein Ausführungsbeispiel nach der
Erfindung mit ringförmiger Elektrode,
Figuren 3 und 4 ein Ausführungsbeispiel nach der
Erfindung mit einem von zwei Stabelektroden gebildeten Elektrodensystem
und
Figuren 5 und 6 ein Ausführungsbeispiel nach der
Erfindung mit drei Paaren von Stabelektroden.
In allen Figuren sind das Gehäuse des Energieanalysator mit
1, die Randfeldbegrenzung mit 2 und der in der Randfeldbegrenzung
angeordnete Austrittspalt mit 3 bezeichnet. Vor dem Austrittsspalt 3 befindet sich ein Gitter 4, das den Durchgriff
eines Nachbeschleunigungsfeldes zwischen dem Energieanalysator
und dem Detektorsystem 5 verhindern soll. Das Detektorsystem 5 wird bei den dargestellten Ausführungsbeispielen
von einem Sekundärelektronen-Vervielfacher gebildet.
Das erfindungsgemäße Elektrodensystem ist in allen Figuren
mit 6 bezeichnet. Es ist gegenüber der Kathode 7 (bzw. der ersten Dynode) des Sekundärelektronen-Vervielfachers 5 mit
Hilfe der Spannungsquelle 8 vorgespannt. Bei der Analyse positiver Teilchen ist das Elektrodensystem 6 positiv, bei
der Analyse negativer Teilchen ist es negativ vorgespannt.
7098507024t)
Beim Ausführungsbeispiel nach den Figuren 1 und 2 wird das
Elektrodensystem 6 von einer ringförmigen Elektrode 9 gebildet, deren innerer Durchmesser etwas größer ist als die Länge
des Spaltes 3. Wird an diese Elektrode über die Leitung z.B. eine gegenüber der Kathode des Sekundärelektronen-Vervielfachers
negative Spannung angelegt,dann begrenzt das insbsondere am Rand der Elektrode wirkende Gegenfeld den
den Austrittsspalt verlassenden Teilchenstrahl-. Durch Veränderung
der Größe der angelegten Spannung kann die Größe des Querschnitts des Teilchenstrahls und damit die Größe
des erfaßten Probenbereiches geregelt werden.
Beim Ausführungsbeispiel nach den Figuren 3 und 4 besteht
das Elektrodensystem 6 aus zwei Stabelektroden 11 und 12, die senkrecht zum Spalt 3 angeordnet sind und einen Abstand
voneinander haben, der etwas größer als die Länge des Spaltes 3 ist. Die Elektroden 11 und 12 sind elektrisch miteinander
verbunden. Der Durchlaßbereich wird durch die Größe der zwischen der Kathode 7 des Sekundärelektronenvervielfachers
5 und der an denElektroden 11 und 12 angelegten Spannung geregelt»
Eine weitere Ausführungsform zeigen die Figuren 5 und 6. In
diesem Fall besteht das Elektrodensystem 6 aus mehreren (im vorliegenden Fall drei) Elektrodenpaaren 13 , 14 und
Diese liegen ebenfalls senkrecht zum Spalt 3. Die jeweils miteinander verbundenen Paare sind so angeordnet, daß das
Elektrodenpaar 13 in Bezug auf den Mittelpunkt des Spaltes außen und das Elektrodenpaar 15 innen liegt. Die Spannungsversorgung
der Elektrodenpaare erfolgt über ein Schaltersystem 16, das vier Schaltstellungen hat, die mit 17,18,19
und 20 bezeichnet sind. In der Schaltstellung 17 sind die Elektrodenpaare spannungsfrei. In der Schaltstellung 18 liegt
nur an dem äußeren Elektrodenpaar 13 Spannung an. In der Schaltstellung 19 stehen die beiden äußeren Elektrodenpaare
13 und 14 unter Spannung. Bei der Schaltstellung 20 liegt an allen Elektrodenpaaren Spannung an. Das elektrische Feld
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verhindert das Durchdringen von positiven oder negatix'en
Teilchen, je nach dem ob eine positive oder negative Vorspannung gegenüber der Kathode des Sekundär olekt.ronen-Vervielfachers
vorliegt. Auf diese Art kann stufenweise der Querschnitt des betrachteten Elektronen- oder Ionenstrahles
eingeengt werden, ohne daß die Spannungsque11e 8
variabel ausgebildet sein muß.
TO9850/02A0
-S-
Leerseite
Claims (6)
- ANSPRÜCHE( 1.)Energieanalysator für geladene Teilchen, in welchem die ^-"^ Teilchen ein elektr isches oder magnetisches Feld durchfliegen, und dem Analysator nachgeardnetes Detektor system, dem die Teilchen nach Verlasyen des Analysatorfeldes durch einen Austrittsspalt zügel uhr t. werden, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Energieanalysator (1) und dem Detektor system (5) ein Elektrodensystem (6) zur Einstellung des Querschnitts des Teilchenstrahles vorgesehen ist
- 2. Energieanalysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Elektrodensystem (6) an eine in Stufen oder stufenlos veränderbare Spannungsquelle (8) angeschlossen ist ,
- 3. Energieanalysator nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Elektrodensystem (6) von einer Ringelektrode (9) gebildet wird.
- 4. Energieanalysator nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Elektrodensystem von zwei parallelen, senkrecht zum Austrittsspalt (3) angeordneten Stabelektroden (11, 12) gebildet wird.
- 5. Energieanalysator nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Elektrodensystem von mehreren,paralIeI zueinander und senkrecht zum Austrittsspalt (3) angeordneten Stabelektrodenpaaren (13,14,15) gebildet wird, von denen in Bezug auf die Spaltmitte wahl v/eise das äußere Paar(13^,die beiden äußeren Paare (13 und 14), die drei äußeren Paare (13, 14, 15) oder alle Stabelektrodenpaare an eine Spannungsquelle (8) anschließbar sind.7098 5 0/0240ORIGINAL INSPECTED262473Q- r-
- 6. Energieanalysator nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß für die Zuführung der Spannung zu den Stabelektrodenpaaren (I3bis 15) ein Schaltersystem (16) vorgesehen ist, das mindestens so viel Schaltstellungen hat, wie Elektrodenpaare vorhanden sind.709850/0240
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762624730 DE2624730A1 (de) | 1976-06-02 | 1976-06-02 | Energieanalysator fuer geladene teilchen |
GB2322277A GB1577193A (en) | 1976-06-02 | 1977-06-01 | Energy analyser for charged particles |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762624730 DE2624730A1 (de) | 1976-06-02 | 1976-06-02 | Energieanalysator fuer geladene teilchen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2624730A1 true DE2624730A1 (de) | 1977-12-15 |
Family
ID=5979622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762624730 Withdrawn DE2624730A1 (de) | 1976-06-02 | 1976-06-02 | Energieanalysator fuer geladene teilchen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2624730A1 (de) |
GB (1) | GB1577193A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0123860A2 (de) * | 1983-03-26 | 1984-11-07 | Forschungszentrum Jülich Gmbh | Elektronenenergie-Analysator mit Vielkanaldetektor |
US4585261A (en) * | 1984-11-21 | 1986-04-29 | General Motors Corporation | Vehicle closure latch |
-
1976
- 1976-06-02 DE DE19762624730 patent/DE2624730A1/de not_active Withdrawn
-
1977
- 1977-06-01 GB GB2322277A patent/GB1577193A/en not_active Expired
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0123860A2 (de) * | 1983-03-26 | 1984-11-07 | Forschungszentrum Jülich Gmbh | Elektronenenergie-Analysator mit Vielkanaldetektor |
EP0123860A3 (de) * | 1983-03-26 | 1986-01-15 | Forschungszentrum Jülich Gmbh | Elektronenenergie-Analysator mit Vielkanaldetektor |
US4585261A (en) * | 1984-11-21 | 1986-04-29 | General Motors Corporation | Vehicle closure latch |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1577193A (en) | 1980-10-22 |
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