DE4016138A1 - Gleichzeitig erfassendes massenspektrometer - Google Patents
Gleichzeitig erfassendes massenspektrometerInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Massenspektrometer und insbesondere
ein mit magnetischem Sektor versehenes Massenspektrometer,
das mit einem ein- oder zweidimensionalen Ionendetektor
zur gleichzeitigen Erfassung von Ionen unterschiedlicher
Massen ausgestattet ist.
Magnetische Massenspektrometer mit einem massendispergierenden
Magnetfeld werden allgemein in zwei Hauptkategorien
eingestuft: in die der magnetisch abtastenden oder durchstreifenden,
die einen Detektor für einzelne Ionen verwenden und
ein Massenspektrum durch Abtasten oder Durchstreifen des
Magnetfeldes ergeben, und die der gleichzeitig erfassenden,
die einen ein- oder zweidimensionalen Ionendetektor wie einen
Reihendetektor mit räumlicher Auflösung verwenden und gleichzeitig
Analytionen erfassen, die entsprechend ihrem Verhältnis
von Masse zu Ladung vom Magnetfeld dispergiert werden.
Viele der bisher entwickelten Massenspektrometer sind gleichzeitig
erfassende. Die gleichzeitig erfassenden Massenspektrometer
sind bezüglich ihrer Empfindlichkeit den abtastenden
oder durchstreifenden Massenspektrometern theoretisch
überlegen, weil die zuerst genannten alle Analytionen gleichzeitig
erfassen, während die zuletzt genannten alle Ionen
außer denen, die den Ionendetektor erreichen, verwerfen.
Jedoch bestehen die zur Zeit verfügbaren ein- oder zweidimensionalen
Ionendetektoren nur aus fotografischen Platten
geringer Empfindlichkeit, aufgrund dessen gleichzeitig erfassende
Massenspektrometer nicht im größeren Umfang in
allgemeinen Gebrauch genommen worden sind.
Da infolge der Einführung fortgeschrittener Techniken zur
Halbleiterherstellung das Auflösungsvermögen und die Empfindlichkeit
von ein- oder zweidimensionalen Ionendetektoren
verbessert worden sind, ist den gleichzeitig erfassenden
Massenspektrometern, die im Prinzip eine ausgezeichnete
Leistungsfähigkeit aufweisen, in den vergangenen Jahren
Interesse zugekommen. In diesen Jahren ist versucht worden,
ein gleichzeitiges Erfassen von Ionen unterschiedlicher
Massen durch Kombinieren verschiedener Massenspektrometer
mit ein- oder zweidimensionalen Ionendetektoren zu erzielen.
Normalerweise findet bei einem ein- oder zweidimensionalen
Ionendetektor das Erfassen von Ionen in einer Ebene statt,
die hier als "Erfassungsebene" bezeichnet wird. Dagegen
werden in einem gleichzeitig erfassenden Massenspektrometer
die Analytionen entsprechend ihren Massen in Richtung zu
einer Fokalebene hin dispergiert. Diese Fokalebene ist
gekrümmt, ausgenommen, wenn es sich bei dem ionenoptischen
System um ein besonderes handelt, z. B. eines mit der
Mattauch-Herzog-Geometrie. Die Fig. 4 zeigt eine Anordnung
mit einem Massenanalysator 1 mit einem Magnetfeld,
einem ein- oder zweidimensionalen Ionendetektor 2 und einer
Fokalebene 3. Aus dieser Figur ist ersichtlich, daß für Ionen
der Masse m₂ die Fokalebene 3 mit der Erfassungsebene 4 des
Detektors übereinstimmt. Diese Ionen werden auf einem der
den zweidimensionalen Detektor 2 bildenden Detektorelemente
scharf fokussiert. Für Ionen anderer Massen wie m₁ und m₃
stimmen jedoch die beiden Ebenen nicht überein. Ionen der
Massen m₁ und m₂ treffen auf die Erfassungsebene im
nichtfokussierten Zustand auf. Bei dieser Geometrie
verschlechtert sich das Auflösungsvermögen an den Enden des
Ionendetektors 2. Aus diesem Grund läßt sich nur ein enger
mittlerer Bereich des Spektrums beobachten. Zwangsläufig
ergibt sich somit ein nur schmaler meßbarer Massenbereich.
Demgemäß ist es die Aufgabe der Erfindung ein magnetisches
Massenspektrometer vorzusehen, in dem ein zweidimensionaler
Ionendetektor verwendet wird und mit welchem Ionen
innerhalb eines ausgedehnteren Massenbereiches gleichzeitig
erfaßbar sind.
Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ergibt sich aus
den Patentansprüchen.
Das erfindungsgemäße magnetische Massenspektrometer umfaßt
Einrichtungen zur Erzeugung eines magnetischen Feldes zum
Fokussieren und Trennen von Analytionen entsprechend ihrem
Verhältnis von Masse zu Ladung, einen ein- oder zweidimensionalen
Ionendetektor, der zum gleichzeitigen Erfassen von
Ionen entlang einer Fokalebene angeordnet ist, und elektrostatische
oder magnetische Linsen, die zum Erzeugen eines
elektrostatischen oder magnetischen Multipolfeldes mit
mindestens acht Polen mit alternierenden Vorzeichen in der
Ionenbahn zwischen dem Magnetfeld und dem Ionendetektor
angeordnet sind. Alternierende Vorzeichen bedeutet, daß benachbarte
Pole von entgegengesetzter Polarität sind.
Anhand der Figuren wird die Erfindung an bevorzugten
Ausführungsformen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform
eines erfindungsgemäßen Massenspektrometers;
Fig. 2 einen Querschnitt durch eine elektrostatische
Oktupollinse zur Verwendung in einem erfindungsgemäßen
Massenspektrometer;
Fig. 3 eine schematische Darstellung einer weiteren
Ausführungsform eines erfindungsgemäßen
Massenspektrometers;
Fig. 4 eine Darstellung der Anordnung eines Massenanalysators
mit einem Magnetfeld, eines zweidimensionalen
Ionendetektors und einer Fokalebene;
Fig. 5 eine Darstellung eines innerhalb einer elektrostatischen
Oktupollinse erzeugten elektrostatischen
Oktupolfeldes zusammen mit einem
x-y-z-Koordinatensystem;
Fig. 6(a), 6(b) und 6(c) Darstellungen der Wirkungen der
in der Fig. 2 gezeigten Oktupollinse in Abhängigkeit
von einem Koeffizienten g, wobei die Wirkungen
durch die unten angegebene Gleichung (4)
wiedergegeben werden; und
Fig. 7(a) und 7(b) Darstellungen der von der in der
Fig. 2 dargestellten elektrostatischen Oktupollinse
bewirkten Kompensation.
Zunächst wird anhand der Fig. 5 ein elektrostatisches
Oktupolfeld erläutert. Dieses Feld wird innerhalb einer elektrostatischen
Oktupollinse L erzeugt, die acht Elektroden P₁
bis P₈ alternierender oder abwechselnd entgegengesetzter Polarität
umfaßt. Diese Elektroden P₁ bis P₈ befinden sich
im gleichen Abstand von der optischen Achse Z, erstrecken sich
parallel zur Achse Z und sind um die Achse Z herum
angeordnet.
Bei diesem Oktupolfeld wird das Potential V₈ (x, y) an
einem willkürlich gewählten Punkt (x, y) in der x-y-Ebene
senkrecht zur optischen Achse Z wiedergegeben durch die
Gleichung
V₈ (x, y) = g (x⁴-6x²y²+y⁴) (1)
in der g ein dem Potential proportionaler Koeffizient ist,
welches an die Elektroden P₁ bis P₈ angelegt wird.
In der Massenspektrometrie ist die Bahnebene bei y = 0 von
Interesse. In dieser Bahnebene (y = 0) wird das Potential
wiedergegeben durch die Gleichung
V₈ (x) = gx⁴ (2)
Innerhalb dieser Bahnebene wirkt auf jedes geladene Teilchen
aufgrund des Oktupolfeldes eine Kraft F(x) ein, die dargestellt
wird durch die Gleichung
F(x) = -e (dV₈ (x)/dx) = -4gex³ (3)
in der e die elektrische Ladung des Teilchens ist. Als
nächstes soll die Wirkung der Linse L auf ein Ionenstrahlenbündel
bei x = 0 in Betracht gezogen werden. Diese Wirkung
ist der Änderungsgeschwindigkeit der Kraft F(x) mit Änderung
der Position proportional. Demgemäß wird die Wirkung der
Linse L bei x = x₀ wiedergegeben durch die Gleichung
dF(x)/dx = -12gex₀² (4)
Aus der Gleichung (4) ist ersichtlich, daß die Wirkung
der Linse L proportional dem Quadrat des Abstandes von
der Mittelachse ist. In den Fig. 6(a), 6(b) und 6(c) ist die
durch die Gleichung (4) wiedergegebene Wirkung der Linse L
in Abhängigkeit vom Koeffizienten g dargestellt. Die Fig. 6(b)
zeigt den Zustand bei g = 0, d. h. daß die Linse L
praktisch fehlt. Bei diesem Zustand werden drei Ionenstrahlenbündel
I₁, I₂ und I₃ auf die Fokalebene
3 bzw. Erfassungsebene 4 fokussiert. Die Fig. 6(a) zeigt
den Zustand, bei dem g kleiner als 0 ist. Bei diesem
Zustand werden die drei Ionenstrahlenbündel I₁, I₂ und
I₃ von der Oktupollinse L auf eine quadratisch verlaufende
Kurve oder die Ebene 4 fokussiert. Die Fig. 6(c)
zeigt den Zustand, bei dem g größer als 0 ist. Bei diesem
Zustand werden die drei Ionenstrahlenbündel I₁, I₂ und
I₃ von der Oktupollinse L auf eine quadratisch verlaufende
Kurve oder die Ebene 4 fokussiert.
Bei dem in der Fig. 7(a) dargestellten Zustand ist keine
elektrostatische Oktupollinse vorgesehen und es werden
die Ionenstrahlenbündel I₁, I₂ und I₃ in gleicher
Weise wie bei dem in der Fig. 6(c) dargestellten Zustand
auf eine quadratisch verlaufende Kurve oder Fokalebene 3
fokussiert. In der Fig. 7(b) ist eine elektrostatische
Oktupollinse L angeordnet. Die Linse L wird unter der
Bedingung, daß g kleiner als 0 ist erregt, um in der in
Fig. 6(a) dargestellten Weise zu wirken. Als Ergebnis
werden die Bahnen der drei Ionenstrahlenbündel I₁, I₂
und I₃ in der Weise korrigiert, daß sie auf die
Erfassungsebene 4 fokussiert werden.
Auf ähnliche Weise werden für eine elektrostatische Linse,
die 10 Pole mit alternierendem Vorzeichen aufweist, die
Potentiale V₁₀ (x, y) und V₁₂ (x, y) an einem willkürlich
gewählten Punkt (x, y) in der x-y-Ebene senkrecht
zur optischen Achse wiedergegeben durch die Gleichungen
V₁₀(x, y) = g(x⁵-10x³y²+ 5xy⁴) (1′)
V₁₂(x, y) = g(x⁶-15x⁴y²+ 15x²y⁴-y⁶) (1′′)
In der Bahnebene gegeben durch die Bedingung y = 0 werden
die Potentiale somit wiedergegeben durch die Gleichungen
V₁₀(x) = gx⁵ (2′)
V₁₂(x) = gx⁶ (2′′)
Auf geladene Teilchen in den Bahnebenen, in denen die Potentiale
durch die Gleichungen (2′) und (2′′) wiedergegeben
werden, wirken Kräfte F₁₀(x) bzw. F₁₂(x) aufgrund der
Felder, die von den zehn Polen bzw. zwölf Polen erzeugt
werden, ein. Diese Kräfte werden durch die nachstehenden Gleichungen
wiedergegeben.
F₁₀(x) = -e (dV₁₀(x)/dx) = -5gex⁴ (3′)
F₁₂(x) = -e (dV₁₂(x)/dx) = -6gex⁵ (3′′)
Folglich werden die Wirkungen der Linsen bei x = x₀ wiedergegeben
durch die Gleichungen
dF₁₀(x)/dx = -20gex₀³ (4′)
dF₁₂(x)/dx = -30gex₀⁴ (4′′)
Aus der Gleichung (4′) ist ersichtlich, daß die Wirkung der
elektrostatischen Linse mit den 10 Polen proportional ist
der dritten Potenz des Abstands von der Mittelachse. Wenn die
Verzerrung der Fokalebene von einer Gleichung dritten Grades
wiedergegeben wird, läßt sich die Verzerrung unter Verwendung
der elektrostatischen Linse mit zehn Polen, die in einem Kreis
mit abwechselnd positiver und negativer Polarität angeordnet
sind, korrigieren.
Aus der Gleichung (4′′) ist ersichtlich, daß die Wirkung der
elektrostatischen Linse mit den 12 Polen proportional ist
der vierten Potenz des Abstandes von der Mittelachse. Wird
die Verzerrung der Fokalebene durch eine Gleichung vierten
Grades wiedergegeben, läßt sich die Verzerrung unter Verwendung
der Linse mit den 12 Polen korrigieren.
Die Erfindung läßt sich auf ähnliche Weise mit einem von
einer magnetischen Linse erzeugten magnetischen Multipolfeld
durchführen. Eine ähnliche Korrektion läßt sich mit einer
magnetischen Multipollinse anbringen.
In der Fig. 1 ist ein Massenspektrometer dargestellt, welches
das Konzept der Erfindung verkörpert. Dieses Spektrometer
umfaßt eine Ionenquelle 11 zum Ausstrahlen von Analytionen I,
einen doppelt fokussierenden Massenanalysator 15, eine elektrostatische
Oktupollinse 17 zum Erzeugen eines magnetischen
Oktupolfeldes, einen Ionendetektor 16 in Reihenanordnung und
eine mit der Linse 17 verbundene Spannungsquelle 18.
Der Massenanalysator 15 umfaßt eine Einrichtung zum Erzeugen
eines zylinderförmigen elektrischen Feldes 12, eine elektrostatische
Quadrupollinse 13, und Einrichtungen zum Erzeugen
eines Sektor-Magnetfeldes 14, wie dies in der japanischen
Patentveröffentlichung Nr. 31261/1982 beschrieben worden ist.
Die von der Ionenquelle 11 abgegebenen Ionen I werden in den
Massenanalysator 15 eingeführt und entsprechend ihren Massen
zur Bildung eines Massenspektrums dispergiert. Der Detektor
16 ist entlang einer Fokalebene angeordnet. Die Linse 17 ist
in der Ionenbahn zwischen dem Magnetfeld 14 und dem Detektor
16 positioniert.
Die Fig. 2 zeigt einen Querschnitt durch die elektrostatische
Oktupollinse 17 im rechten Winkel zur Ionenbahn. Die Linse
umfaßt 8 Elektroden P₁-P₈, die in einem Kreis und in
gleichen Abständen voneinander in gleicher Weise angeordnet
sind, wie dies bei der in der Fig. 5 dargestellten Geometrie
der Fall ist. Mit der Spannungsquelle 18 sind Spannungen +V
und -V, von Elektrode zu Elektrode abwechselnd, an die Elektroden
P₁ bis P₈ anlegbar, so daß einander benachbarte
Elektroden P₁ bis P₈ jeweils eine andere Spannung aufweisen,
wie dies der Schaltung der Fig. 2 entnehmbar ist. Die
Polarität der Ausgangsspannungen der Spannungsquelle 18 läßt
sich mit Wahlschaltern 19 umkehren. Wenn beim Betrieb der
bisher beschriebenen Vorrichtung die Linse 17 nicht vorhanden
ist, kann die Fokalebene 3, wie in der Fig. 7(a) dargestellt,
verzerrt oder gekrümmt sein. Diese Verzerrung oder Krümmung
wird, wie in der Fig. 7(b) dargestellt, beseitigt oder aufgehoben,
indem die Spannungsquelle 18 in der Weise eingestellt
wird, daß ein geeigneter Wert des Koeffizienten g des von der
elektrostatischen Oktupollinse 17 erzeugten magnetischen
Oktupolfeldes erzielt wird. Somit kann die Fokalebene 3 mit
der Erfassungsebene 4 des Reihendetektors 16 zur Übereinstimmung
gebracht werden. Auch die an den Enden des Detektors
16 ankommenden Ionenstrahlen werden richtig fokussiert. Folglich
läßt sich der zu erfassende Bereich des Massenspektrums
erheblich ausdehnen.
Wenn die Verzerrung oder Krümmung der Fokalebene 3 mit entgegengesetzter
Polarität verläuft, wie dies in der Fig. 7(a)
mit unterbrochener Linie dargestellt ist, wird die Polarität
der Linse 17 umgekehrt. Die Intensität wird in entsprechender
Weise eingestellt. Somit läßt sich die Fokalebene 3 in Übereinstimmung
mit der Erfassungsebene 4 des Ionendetektors 16
in gleicher Weise, wie vorstehend beschrieben, in Übereinstimmung
bringen.
In der Fig. 3 ist eine weitere Ausführungsform eines Massenspektrometers
dargestellt, die der anhand der Fig. 1 und 2
bereits beschriebenen ähnlich ist, mit der Ausnahme, daß zwischen
dem Sektormagnetfeld 14 und dem reihenförmig angeordneten
Ionendetektor 16 zwei Quadrupollinsen 20 und 21 eingesetzt
sind und der Ionendetektor 16 drehbar bzw. schwenkbar
angeordnet ist. Ein Massenspektrometer dieser Art ist bereits
in der US-Patentanmeldung Nr. 07 37 956 vorgeschlagen
worden. Bei diesem Gerät wird die Größe der Massendispersion
im ionenoptischen System mit den Quadrupollinsen variiert, um
den Massenbereich der in der Fokalebene des ein- oder zweidimensionalen
Ionendetektors dispergierten Ionen zu ändern.
D. h., daß der beobachtbare Bereich des Massenspektrums entweder
ausdehnbar oder zusammenziehbar ist.
Wenn beim Betrieb des in der Fig. 3 dargestellten Gerätes
die Größe der Massendispersion im ionenoptischen System durch
Ändern der Brechkräfte der Quadrupollinsen variiert wird, werden
die in einem (mit durchgezogenen Linien dargestellten) Massenbereich
von Masse m A bis m B liegenden Ionen auf einen
engeren (mit unterbrochenen Linien dargestellten) Bereich
eingeschränkt. Infolgedessen wird der Bereich der in der
Erfassungsebene des zweidimensionalen Ionendetektors 16
dispergierten Ionenmassen ausgedehnt. Da sich gleichzeitig
die Schräglage der Fokalebene ändert, wird der Ionendetektor
16 entsprechend der Änderung der Schräglage der Fokalebene
geschwenkt. Es ändert sich ebenfalls die Krümmung der Fokalebene.
Aus diesem Grund wird die Spannungsquelle 18 eingestellt,
um den Wert des Koeffizienten g des von der elektrostatischen
Oktupollinse 17 erzeugten magnetischen Oktupolfeldes
zu korrigieren. Somit wird die Fokalebene in Übereinstimmung
mit der Erfassungsebene des Ionendetektors 16 gehalten,
wenn der Massenbereich geändert wird.
Der Koeffizient g läßt sich von der das Gerät bedienenden
Person manuell einstellen. In alternativer Weise läßt sich im
voraus eine Funktion ermitteln, welche die Beziehung zwischen
den Brechkräften der Quadrupollinsen oder den Größen der
Massendispersion und den optimalen Werten des Koeffizienten g
beschreibt. Die Beziehung kann auch in der Form einer Tabelle
dargestellt werden. Dann wird die Spannungsquelle 18 gemäß
der Funktion oder der Tabelle eingestellt, um den optimalen
Wert des Koeffizienten g festzulegen. Der von der Bedienungsperson
durchzuführende Arbeitsvorgang läßt sich dadurch erleichtern,
daß ein Steuergerät vorgesehen wird, in welchem
die Funktion oder die Tabelle speicherbar ist, und welches den
Koeffizienten g oder die Ausgangsspannung der Spannungsquelle
18, der bzw. die für die Potenzen der Quadrupollinse am
besten geeignet ist, aus dem Speicher ermittelt, die Spannungsquelle
18 entsprechend dem ermittelten Wert steuert und
den optimalen Wert des Koeffizienten g einstellt.
Bei den vorstehend beschriebenen Beispielen werden elektrostatische
Quadrupollinsen verwendet. Werden elektrostatische
Linsen mit 10 oder 12 Polen mit abwechselnd angeordneter
Polarität verwendet, läßt sich die Kompensation dritter oder
vierter Ordnung in gleicher Weise durchführen. Werden magnetische
Linsen mit 8, 10 oder 12 Polen abwechselnd angeordneter
Polarität verwendet, läßt sich auf ähnliche Weise
die Kompensation zweiter, dritter oder vierter Ordnung durchführen.
Es ist erforderlich, diese Linse, welche ein magnetisches
Multipolfeld erzeugt, hinter bzw. nach dem Magnetfeld
anzuordnen, so daß die Linse auf die Analytionen einwirkt,
nachdem diese vom Magnetfeld massenanalysiert worden
sind.
Eine Kompensation noch höherer Ordnung läßt sich durch Auslegen
des Gerätes in der Weise erzielen, daß der Winkel zwischen
der das Multipolfeld erzeugenden Linse und der Ionenstrahlenbahn
geändert werden kann.
Bei den vorstehend beschriebenen Ausführungsformen ist die
Erfassungsebene des zweidimensionalen Detektors eine flache
Ebene, mit der die Fokalebene in Übereinstimmung gebracht
wird. Die Erfindung ist jedoch auch anwendbar bei einem
Massenspektrometer, bei dem die Erfassungsebene eine gekrümmte
Ebene ist und bei dem die Kompensation in der Weise
durchgeführt wird, daß die Fokalebene mit dieser gekrümmten
Erfassungsebene übereinstimmt.
Ferner ist die Erfindung auch anwendbar bei gleichzeitig
erfassenden Massenspektrometern jeglicher Art, die ein Magnetfeld
verwenden, einschließlich einzeln fokussierender und
doppelt fokussierender. Die Erfindung ist anwendbar bei
einem doppelt fokussierenden Massenspektrometer, bei dem das
elektrische Feld vor dem Magnetfeld liegt, sowie auch bei
einem doppelt fokussierenden Massenspektrometer, bei dem das
Magnetfeld vor dem elektrischen Feld liegt. In diesen Fällen
ist es erforderlich, die Multipollinse hinter bzw. nach dem
Magnetfeld anzuordnen, wie bereits erwähnt worden ist.
Wie bereits vorstehend im einzelnen beschrieben worden ist,
werden bei dem erfindungsgemäßen magnetischen Massenspektrometer
Analytionen entsprechend ihren Massen vom Magnetfeld
voneinander getrennt und dann von einem ein- oder zweidimensionalen
Ionendetektor gleichzeitig erfaßt, der entlang einer
Fokalebene angeordnet ist. Bei diesem Spektrometer ist eine
elektrostatische oder magnetische Multipollinse zum Erzeugen
eines Multipolfeldes mit mindestens acht Polen in der Ionenbahn
zwischen dem Magnetfeld und dem Detektor angeordnet.
Hierdurch läßt sich eine Kompensation erzielen, bei der die
Fokalebene mit der Erfassungsebene des Detektors übereinstimmt.
Folglich läßt sich der Massenmaßbereich des Spektrometers
gegenüber dem Massenbereich bekannter Geräte erweitern.
Claims (4)
1. Gleichzeitig erfassendes Massenspektrometer, mit
- - einem Magnetfeld (14) zum Fokussieren und Trennen von Analytionen (I) entsprechend ihren Massen,
- - einem entlang einer Fokalebene (3) angeordneten oder positionierbaren ein- oder zweidimensionalen Ionendetektor (16) und
- - einer in der Ionenbahn zwischen dem Magnetfeld (14) und dem Ionendetektor (16) angeordneten elektrostatischen oder magnetischen Linse (17), mit der ein elektrostatisches oder magnetisches Multipolfeld mit mindestens acht Polen alternierender Polarität erzeugbar ist.
2. Gleichzeitig erfassendes Massenspektrometer, mit
- - einem Magnetfeld (14) zum Fokussieren und Trennen von Analytionen (I) entsprechend ihren Massen,
- - einem entlang einer Fokalebene (3) angeordneten oder positionierbaren ein- oder zweidimensionalen Ionendetektor (16),
- - einer Einrichtung zum Ändern der Größe der im Magnetfeld (14) hervorgerufenen Massendispersion und
- - einer in der Ionenbahn zwischen dem Magnetfeld (14) und dem Ionendetektor (16) angeordneten elektrostatischen oder magnetischen Linse (17), mit der ein elektrostatisches oder magnetisches Multipolfeld mit mindestens acht Polen alternierender Polarität erzeugbar ist.
3. Massenspektrometer nach Anspruch 2, das zusätzlich eine
Einrichtung (Spannungsquelle 18) zum Ändern der Brechkraft
der das Multipolfeld erzeugenden elektrostatischen oder magnetischen
Linse (17) entsprechend der von der Einrichtung zum
Ändern der Größe der Massendispersion eingestellten
Massendispersion
4. Massenspektrometer nach Anspruch 2 oder 3, bei dem die
Einrichtung zum Ändern der Massendispersion aus zwei Quadrupollinsen
(20, 21) besteht, die zwischen dem Magnetfeld (14)
und dem Ionendetektor (16) angeordnet sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1125959A JPH02304854A (ja) | 1989-05-19 | 1989-05-19 | 同時検出型質量分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4016138A1 true DE4016138A1 (de) | 1990-11-22 |
Family
ID=14923207
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4016138A Withdrawn DE4016138A1 (de) | 1989-05-19 | 1990-05-18 | Gleichzeitig erfassendes massenspektrometer |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5118939A (de) |
JP (1) | JPH02304854A (de) |
DE (1) | DE4016138A1 (de) |
GB (1) | GB2232813B (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9521723D0 (en) * | 1995-10-24 | 1996-01-03 | Paf Consultants Limited | A multiple collector for Isotope Ratio Mass Spectrometers |
US6501074B1 (en) | 1999-10-19 | 2002-12-31 | Regents Of The University Of Minnesota | Double-focusing mass spectrometer apparatus and methods regarding same |
US6831276B2 (en) | 2000-05-08 | 2004-12-14 | Philip S. Berger | Microscale mass spectrometric chemical-gas sensor |
US6590207B2 (en) | 2000-05-08 | 2003-07-08 | Mass Sensors, Inc. | Microscale mass spectrometric chemical-gas sensor |
US7402799B2 (en) * | 2005-10-28 | 2008-07-22 | Northrop Grumman Corporation | MEMS mass spectrometer |
GB2543036A (en) * | 2015-10-01 | 2017-04-12 | Shimadzu Corp | Time of flight mass spectrometer |
WO2017075470A1 (en) * | 2015-10-28 | 2017-05-04 | Duke University | Mass spectrometers having segmented electrodes and associated methods |
CN111656483B (zh) * | 2018-02-06 | 2023-08-29 | 株式会社岛津制作所 | 离子化装置和质谱分析装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1233812A (de) * | 1969-05-16 | 1971-06-03 | ||
US3939344A (en) * | 1974-12-23 | 1976-02-17 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Prefilter-ionizer apparatus for use with quadrupole type secondary-ion mass spectrometers |
US4174479A (en) * | 1977-09-30 | 1979-11-13 | Boerboom Anne J H | Mass spectrometer |
US4435642A (en) * | 1982-03-24 | 1984-03-06 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Ion mass spectrometer |
US4472631A (en) * | 1982-06-04 | 1984-09-18 | Research Corporation | Combination of time resolution and mass dispersive techniques in mass spectrometry |
DE3238474C2 (de) * | 1982-10-16 | 1987-01-08 | Finnigan MAT GmbH, 2800 Bremen | Hybrid-Massenspektrometer |
FR2545651B1 (fr) * | 1983-05-03 | 1986-02-07 | Cameca | Spectrometre de masse a grande luminosite |
FR2558988B1 (fr) * | 1984-01-27 | 1987-08-28 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Spectrometre de masse, a grande clarte, et capable de detection multiple simultanee |
AT388629B (de) * | 1987-05-11 | 1989-08-10 | V & F Analyse & Messtechnik | Massenspektrometer-anordnung |
DE3813641A1 (de) * | 1988-01-26 | 1989-08-03 | Finnigan Mat Gmbh | Doppelfokussierendes massenspektrometer und ms/ms-anordnung |
GB8812940D0 (en) * | 1988-06-01 | 1988-07-06 | Vg Instr Group | Mass spectrometer |
JPH0224950A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Jeol Ltd | 同時検出型質量分析装置 |
-
1989
- 1989-05-19 JP JP1125959A patent/JPH02304854A/ja active Pending
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