DE2123362A1 - Schaltung zum elektrostatischen Schutz von MOS Schaltungen - Google Patents
Schaltung zum elektrostatischen Schutz von MOS SchaltungenInfo
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 11
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 11
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0812—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/52—Circuit arrangements for protecting such amplifiers
- H03F1/523—Circuit arrangements for protecting such amplifiers for amplifiers using field-effect devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
- H10D89/60—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
- H10D89/601—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
- H10D89/811—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs using FETs as protective elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
BG1465970 | 1970-05-12 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2123362A1 true DE2123362A1 (de) | 1971-12-02 |
Family
ID=3897448
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712123362 Pending DE2123362A1 (de) | 1970-05-12 | 1971-05-11 | Schaltung zum elektrostatischen Schutz von MOS Schaltungen |
Country Status (3)
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2407333A1 (de) * | 1973-02-15 | 1974-09-05 | Motorola Inc | Ueberspannungsschutzschaltung |
DE2544438A1 (de) * | 1974-10-22 | 1976-04-29 | Ibm | Integrierte ueberspannungs-schutzschaltung |
US4476426A (en) * | 1981-06-05 | 1984-10-09 | Fujitsu Ten Limited | One-terminal type level control circuit |
-
1971
- 1971-05-11 DE DE19712123362 patent/DE2123362A1/de active Pending
- 1971-05-12 IT IT50292/71A patent/IT942101B/it active
- 1971-05-12 FR FR717117196A patent/FR2092126B1/fr not_active Expired
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2407333A1 (de) * | 1973-02-15 | 1974-09-05 | Motorola Inc | Ueberspannungsschutzschaltung |
DE2544438A1 (de) * | 1974-10-22 | 1976-04-29 | Ibm | Integrierte ueberspannungs-schutzschaltung |
US4476426A (en) * | 1981-06-05 | 1984-10-09 | Fujitsu Ten Limited | One-terminal type level control circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2092126B1 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | 1973-06-08 |
FR2092126A1 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | 1972-01-21 |
IT942101B (it) | 1973-03-20 |
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