DE2102649C3 - Profilschablonen Wechselein richtung - Google Patents

Profilschablonen Wechselein richtung

Info

Publication number
DE2102649C3
DE2102649C3 DE19712102649 DE2102649A DE2102649C3 DE 2102649 C3 DE2102649 C3 DE 2102649C3 DE 19712102649 DE19712102649 DE 19712102649 DE 2102649 A DE2102649 A DE 2102649A DE 2102649 C3 DE2102649 C3 DE 2102649C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
projection
template
light
profile
slides
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19712102649
Other languages
English (en)
Other versions
DE2102649B2 (de
DE2102649A1 (de
Inventor
Auf Nichtnennung Antrag
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hegenscheidt MFD GmbH and Co KG
Original Assignee
Wilhelm Hegenscheidt GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wilhelm Hegenscheidt GmbH filed Critical Wilhelm Hegenscheidt GmbH
Publication of DE2102649A1 publication Critical patent/DE2102649A1/de
Publication of DE2102649B2 publication Critical patent/DE2102649B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2102649C3 publication Critical patent/DE2102649C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0016Technical microscopes, e.g. for inspection or measuring in industrial production processes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Cinvinlitiinn no Aar Δ Ttcrkrilf
bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß für jede Objektivgruppe (6a bis 6/) eine eigene innerhalb der Gruppe verschiebbare Lichtquelle vorgesehen ist.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche I bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den nach Objektivgruppen geordneten Kondensoren (14c bis 14/) und den beweglichen Lichtquellen feste Spiegel (ISa bis IS/) eingeschaltet sind.
10. Einrichtung nach einem der Ansprüche I bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß eine ortsfeste Lichtquelle (10) mit einem faseroptischen Lichtleitkabel (H) verbunden ist, dessen anderes Ende zu den Lichteintrittsstellen (13a bis 13/) der Projektionsobjektive (6a bis 6/) hin verschiebbar angeordnet ist.
M. Einrichtung nach Anspruch i0, dadurch Die Erfindung betrifft eine Profilschabloncn Wechseteinrichtung, isrbesondere an optischen Meß· ständen für Eisenbahnradsätze mit Profilprojektoren, bei der mittels einer Projektionseinrichtung di·.· Projektion einzelner Schablonendiäpositive a»if einer Projektionswand mit einer zu überprüfenden WerkstiLkprofilprojektion überlagert wird.
Rs sind Einrichtungen zur Überprüfung von Profilen großer Werkstücke bekannt (österreichisches Patent 192 132, deutsches Patent 1 170 661), welche aus einem Schattenprofilprojektor, einer Projektionsfläche und einer Schablone mit Zusatzbeleuchtung bestehen. Die Schablone besitzt hierbei die Sollprofilkontur und wird der zu prüfenden Profillinie des dem istprofii des Werkstückes entsprechenden Schattenbildes gegenübergestellt. Bei diesen bekannten Einrichtungen besteht die das Sollprofil aufweisende Schablone aus einer dunklen, aber durchscheinenden Auflage, die auf der Beschauerseite einer als Projektionsfläche verwendeten Mattscheibe angeordnet ist, wobei zur Aufhellung des Schaitsnbilde, eine Beleuchtung vorgesehen ist.
Der sogenannte »Halbtoneffekt« dieser Anordnung besteht vo~ allem darin, daß die Unterschiede zwischen d?»™ SoH- und dem Ist-Profil besonders auffallend sichtbar werden, indem nämlich jene Stellen, an denen ein Span zwischen dem Schattenbild und der Schablone klafft, stark erhellt erscheinen und an Stellen hingegen, an denen das Schattenbild mit der Profilschablone konturengenau zusammenpaßt, nur eine einzige Kontur sichtbar bleibt, die sich aus dem Unterschied der Tönungen zwischen Profilschablonenfläche und Schattenffäche ergibt.
Diese bekannte EinricL.jng wird vorwiegend in Form eines optischen Radsatz-Meßstandcs zur Vorvermessung abgenutzter Eisenbahnradsätze angewendet und er gestattet, bereits anläßlich dieser Vorvermessung den Drehvorgang unter Verwendung des vorgeschriebenen Radprofils zu simulieren, um so die wirtschaftlichste Profilberichtigung des jeweiligen Abnutzungsfalles vorausbestimmen zu können.
Praktisch sind für spezielle Fahrzeugbauarten
verschiedene Radprofilformen erforderlich, ι. Β. einerseits für Wagen, andererseits für Triebfahrzeuge oder für Radsätze mit kleinen Rädern, Radsatz „· LiX verschwächten Spurkränzen, Radsäue für se!.· η ·Ί-fahrende Wagen usw.
Da die modernen, fühlergesteuerten RadsaUci .:.-maschinen mit rasch auswechselbaren Profildrensch-iblonen ausgerüstet sind, ergibt sich hier Jun h auch für den zugehörigen optischen Radsatz-Metstand die zwingende Forderung nach rascher Auswechseibarkeit der Profi; Meßschabionen.
Es ist ferner bekannt, als r^apositive ausgeführte Schabionen zusammen mit e;.«^n Schattenbild des zu prüfenden Werkstück:?, >-jf eine gemeinsame Projektionsfläche übereina^rer zu projezieren und hierbei den Schauer, -riß des Werkstückes mit der Schablone zu v^vg«:>chen. Als Mittel zur Bildüberlappung werdoii t -jist halbdurchlässige Spiegel oder i.uahlungsteüende Prismen verwendet. Die bekannter. Schablonendiaposiüve werden auf mechanische Weise gewechselt.
Jeder mechanische Wechsel eines Schablonendiipositives stellt jedoch einen heiklen Eingriff in den Abbildungsstrahlengang des Projektionsgeräte* dar, fü·- den insbesondere bei Meßgeräten enge Toleranzen gelten.
Die schweizerische Patentschrift 237 420 betrifft ein optisches Prüfgerät für die Umrißform von Werkstücken, bei dem eine optische Schablone an das zu prüfende Werkstück angelegt wird, wobei mindestens eine Linsenplatte vorgesehen ist. die zur Erzeugung der optischen Schablone dient. Der Austausch dei Schablone erfolgt hier durch Wechseln des Diapositiv-Photogramms ähnlich wie der Wechsel eines Diapositives bei einem Projektionsapparat von Hand aus. Ein rascher und exakter Wechsel ist mit den vorgesehenen Mitteln nicht möglich.
Die deutsche Patentschrift 1 233 15υ betrifft ein Verfahren zur Vermessung der Radprofile von Eisenbahn-Radsatzgruppen mit Vermessung der Einzelradsätze und dokumentarische· Aufzeichnung des Meßergebnisses, dirart, daß die in bestimmter Orientierung aufgezeichneten Ist-Profile aller Profilpaare piner Radsatzgruppe desselben Nenndurchinessers auf einem Meßtisch zu einer Ist-Profilgruppe zusammengestellt und mit den Profilschablonenpaaren einer gleichorientierten Soll-Profilschablonenr gruppe verglichen werden. Ein Austausch des SoH-Profilschablonengruppen-Diapositives gegen ein andere? erfolgt hier ebenfalls von Hand aus unter Ausrichtung nach einem Achsenkreuz des Meßtisches, was keinesfalls rasch erfolgen kann und gewisse Ungenauigkeittn in sich birgt.
Auch nach dem USA.-Patent 2 406 451 wird ein photographisches Glasnegativ gegen ein anderes ausgetauscht, wobei lediglich Justierstifte zur Justierung benutzt werden. Die Auswechslung des Giasnegatives kann daher ebenfalls nicht rasch erfolgen und es können Justierfehler das Meßergebnis So ungünstig beeinflussen.
Aufgabe der Erfindung ist daher, eine Einrichtung zu schaffen, die auch als Zusatzeinrichtung nachträglich '" vorhandene Radsatzmeßstände eingebaut werden kann und es vor allem gestattet, einer. raschen, unproblematischen Schablonenwechsel durchzuführen.
Diese Aufgabe wird erfindungsücmäß dadurch gelost, dali die Schal· Ionen-Pr. Λ.·ιοη·.ανrichtung mehrere ortsfest angeordnete SÜ-jHo'.n-Diapos·,-iive mit voneinander abweichenden *>chablonenti iHien aufweist, denen eine entsprechende Anzahl » m wahlweise einsdiahbaren Projektionsobjektiven zugeordnet ist.
Bei der erfindungsgemäßen Einrichtung werden die SchabUmendias daher überhaupt nicht bewegt, sondern es erfolgt zum Zwecke des Schablonenwechsels nur eine Veränderung innerhalb der Beleuchtungsoptik, für die bedeutend weitere Toleranzen zulässig sind.
Bei der erfmdungsgemäßen Schablonen-Wechseleinrichtung wird ein mechanischer Diawechsei, also jede mechanische Veränderung des Abbildungsstrahlenganges vermieden. Jede gewünschte Schablone kann mit festeingesiellter Vergrößerung durch geeignetes Einschalten der Beleuchtung des betreffenden Schablonenorojektors auf dem Bildschirm sichtbar gemacht w<_.Jen.
Die Überlagerung d«.-r Schablonenprojektionen kanu erfindungsgemäß auch ir.'ttek Schrägprojektion unter Berücksichtigung der sognannten Scheimpflug-Bedingung erfolgen.
Um einerseits die durch eine größere \nzahl von Einzelprojektionslampen erhöhte Störanfälligkeit zu vermeiden, andererseits die dauernden Meßbewegungen des Schablonenprojektors, die die Lebensdauer der Lampen ungünstig beeinflussen würden, von der Beleuchtung fernzuhalten und schließlich um möglichst kaltes Licht zur Beleuchtung üer Diapositive zur Verfügung zu haben, werden erfindungsgemäß der Einzelprojektionsobjektive nrttels faseroptischen Lichtleitkabeln von einer einzelnen, unbeweglich aufgestellten und entsprechend gekühlten Lichtquelle aus versorgt.
Die erfindungsgemäße Einrichtung ist in der Zeichung an Hand einiger Ausführungsbeispiele näher veranschaulicht. Es zeigt
Fig. 1 eine Ausführungsform der Erfindung im Schaubild, die
Fig. 2 und 3 ein Austuhrungsbeispiei einer faseroptischen Lichtverteilungseinrichtung in Seitenansicht und Aufriß, die
F i g. 4 bis 7 verschiedene Möglichkeiten der Anordnung der Einzel-Projeküonsobjektive und Kondensoren.
G^mäß der Ausführungsform üer Erfindung nach F i g. 1 wird mittels einer an sich bekannten beliebig gestalteten, nur durch den Schattenstrahlengang I angedeuteten, nicht gezeichneten Profilprojek'ionseinrchiung üus Sv-häiicnbild 2 des zu prüfenden Werkstückes auf einer Projektionsfläche 3 entworfen Der erhndungsgemäße Schablonenprojektor 4, der i;ir jedes der test justierten Einzel-Diapositive 5 a bis 5/ je ein zugehöriges, fest eingestelltes Einzel-Projektionsobjektiv 6« bis 6/ enthalt, gestattet im tels einer Beleuchtungseinrichtung 7 Jl-WiIn ein beliebig ausgewähltes Diapositiv, hie / U das Dinpjsitiv5J, über das zugehörige < )b|ckuv 6i/ und einen Umlenkspiegel 8 auf die Proj-.-ktionsflache 3 in einem festgelegten Vergrößerungsmaßstab scharf abzubilden und dem Schattenbild 2 /u iberlagern. Die hier gezeigte Anordnung benut/t die bekannte Mattscheiben-Rückprojektion, die den Vorteil der freien Nahbetrachtbarked besitzt. Der Unilenk spiegel 8 im Abbildungsstrahlenuann ermöglicht eine raumsparende, kompakte Anordnuni!
. Während die optische Achse des Schattcnstrahlengangcs I senkrecht zur Projektionsfläche 3 stehen muß, können im allgemeinen die optischen Achsen sämtlicher Einzcl-Projcklionsobjcktivc 6o bis 6/ schräg zur Projektionsebene 3 gestellt sein. Sie könnten sogar verschiedene Brennweiten haben und unregelmäßig im Raum verteilt sein. Im vorliegenden Beispiel sind sie als gleichartige Objektive möglichst gleicher Brennweite vorausgesetzt und in zwei horizontale Zeilengruppen zu je drei Objektiven übereinander angeordnet, da diese Anordnung für die vorliegende Form der Projektionsfläche (schmales, liegendes Rechteck) günstig ist.
Bei fest gewählten Orten der Projektionsobjektive ergeben sich entsprechend der »Scheimpflug-Bedingung« verschiedene, zur jeweiligen optischen Achse schräge Lagen der Diacbcnen. Die Lagen dieser Diacbcncn können praktisch bestimmt werden, indem man einerseits auf der Projektionsebene 3 ein entsprechend beleuchtetes Testbild 9 anbringt und andererseits an Stelle jedes Dias eine Einzel-Mattscheibe anordnet und durch räumliches Bewegen der Mattscheibe das durch das zugehörige Projektionsobjektiv entworfene Bild der Testfigur scharf einstellt. Entsprechend ihrer jeweiligen Schrägstellung werden die Schablonen-Diapositive verschiedene projcktivc Verzerrungen aufweisen, die jedoch bei der Rückprojektion auf die Projektionsebene 3 wieder völlig verschwinden.
P*. Beleuchtungseinrichtung 7 besteht einerseits aus einer zentralen Lichtquelle !0. die in einer für die Auslcuchtung von Lichtleitkabeln in an sich bekannter Weise aus Lampe. Reflektor, Kondensor und Ventilator zusammengesetzt und an einem nicht bewegten Teil der Meßeinrichtung angebracht ist. Ferner besteht sie aus zwei faseroptischen Lichtlcitkatvlr. 11 und 12, deren Lichteintritts- und Lichtaustrittsenden bewegbar fernsteuerbar sind. Kabel 11 besitzt das Eintritlsendc 19 und das Austrittsende 23, Kabel M das F.intritlscnde 20 und das Austrittsendc 24. Die Eintriitsenden 19 und 20 sind durch ein Abstands- und Gleitstück 21. die Austrittsenden 23 und 24 durch ein anderes Abstands- und Gleitstück 25 zusammengehalten.
Bei der in F i g. I gezeigten Einrichtung besitzt jeder Ein/el-Projektor einen zugehörigen, unbeweglichen Kondensor. Diese Kondensoren sind entsprechend den Dias ebenfalls in zwei Reihen übereinander angeordnet. Es entspricht der oberen Diareihe Sa bis 5r die Kondensorrcihe 14« bis 14c, der unteren Diarcihc 5r/ bis 5/ die Kondensorrcihe 14i/ bis 14/. Die optischen Achsen aller Kondensoren gehen durch einen Punkt nahe der Mitte der Projcktionsfiächc 3. Bei der beschriebenen Ausführung wird angestrebt, die Lichteintrittspunkte der Kondensoren mittels besonderer Spiegel so zu verlegen, daß sowohl die den oberen Kondensoren 14σ bis 14r zugehörigen Lichtcintritlspunkte 13a bis 13c ah auch die den unteren Kondensoren 14ίί bis 14/ zugehörigen Lichtcintritlspunkle 13 rf bis Ϊ3/ auf ticradcn liegen, die parallel sind zur Horizontalen der Projcklionsfläche 3. Außerdem sollen noch die AhMiinde Ϊ3« bis 13ft, I3/> bis 13c, 13i/ bis 13c I3(- bis 13/ einander gleich sein.
I ncuhi winl tiies dadurch, daß jedem der Kon-,1 ,h„,.-!i 14// hi*· 14/ ein uiKprechend geneigter I 1, ί Im'ii i'ii l>" bis !51 /iiyfoulnvi uird. Durch , ' j ■· I " ··! jiiifh errckhl. ii;iß die Lichleintrittsrichtungen 16 α bis 16 c i»u den Kondensoren 14 a bis 14 c untereinander parallel und die Lichteintrittsrtchiungcn I6d bis 16/ zünden Kondensoren 14d bis 14/ ebenfalls untereinander parallel sind. Durch diese Maßnahmen erreicht man, daß die LichtaustriUscndcn 23 und 24 denLicftfleitkabdj~ldie durch das Abstandsstück 25 fest iycÄunden isind, mittels geradliniper Verschiebung wahlweise je zwei Lichteintrittsstelirn der Kondensoren, und zwar jeweils den Paaren \bal\bd. 16i>/16e und 16c/16/ gegenübergestellt werden können.
Unter den beschriebenen Voraussetzungen ist eine besonders rasche Umschaltung der Diabeleuchfung möglich (F i g. 2 und 3). Die Fläche der Eintrittsöffnungen 13α bis 13c wird als Gleitschiene 17, die Fläche der EintrittsöfTnungcn Md bis 13/ als Gleitschiene 18 ausgebildet, wobei diese Gleitschie-Tieh untereinander parallel sind. Desgleichen wird die" Austrittsöffnung 22 der Lichtquelle 10 als Gleitschiene und der cintrittsseitige Verbindungsteil 21 der beiden Lichtleiter als zugehöriger Gleitschuh ausgebildet.
Dadurch, daß man einerseits den Gleitschuh 21 /.. B. mittels elektromagnetischer Fembedienung wahlweise in eine seiner Endstcllungen bringt, kann man entweder Kabel 11 oder Kabel 12 mit Licht erfüllen. Wenn man andererseits den doppelten Gleitschuh 25 z. B. elektromotorisch in eine der drei Stellungen 1, II oder III (F i g. 3) bringt, wird je nach der Stellung des Glcitschuhes 21 der obere oder der untere Kondensor Licht erhalten. Werden beide Bewegungen gleichzeitig ausgeführt, wird eine besonders rasche Umschaltung erreicht.
Beim Ausführungsbeispiel nach F i g. 1 steht die Eintrittsöffnung 19 des Kabels 11 vor der Austriltsöffnung 22 der Lichtquelle iO, wodurch Kabel 11 Licht erhält. Kabel 12 hingegen dunkel bleibt. Der Gleitschuh 25 ist so eingestellt, daß sich die Austrittsöffnung 23 des Kabels 11 und die Kondensor-Einlrittsöffnung 13i/ decken. Dementsprechend wird über Kondcnsorspiegel 15d, Kondensor 14 d das Diapositiv 5d beleuchtet und durch das Einzclobjektiv6rf über Umlenkspiegel 8 auf der Projektionsfläche 3 abgebildet.
Zur Beschreibung des in F i ς. 1 nur in einem optischen Schema gezeichneten Gerätes isi es erforderlich, klarzustellen, welche optischen Einzelteile in einem entsprechenden Gehäuse zusammengefaßt werden können bzw. welche Bewegung diese Teile relativ zur festen Lichtquelle 10 ausführen.
Mit Ausnahme der genannten Lichtquelle 10 und der beiden faseroptischen Lichtleitkabeln und 12 samt zugehörigen Gleitschuhen 21 und 25 haben alle übrigen Teile relativ zueinander unveränderliche Stellungen, d. h. es können alle diese Teile fest in einem gemeinsamen Gehäuse montiert werden. Diese Gesamtgruppe optischer Teile kann im vorliegenden Fall nach Vornahme der Justierung des der Gesamlgruppc zugehörigen Testbildes zum Testbild des Profilprojektors auf die bestehende Meßtafci des Meßstandes montiert, z. B. festgeschraubt werden.
Da bei Durchführung der Messungen die genannte Meßlafcl sowohl vertikale als auch horizontale MeB-bewecungcn ausführen muß. übernehmen hier die Lichtleitkabel neben der Aufgabe des Wechsels der Dinbek-iichtung auch die der beweglichen Verbindung /ur feststellenden Lichtquelle 10.
5äi fPitrÄÄ,. ^ zÄÄ^uwrri
dauernd auf dieser Sie hat nur die au ga Objektive auf den größten vorkommengleichmäßigen Ausleuchtung d r DiaiM»tn^ Gegenstandswinke! 26 optisch korrigiert sein. j| Abbildungsgruppe h.ngegeJ Jg Jj£r g-g1^ Alle „£ können dann neben- oder auch überemgruppe 5a bis .sM.e' „?£' ^Sktionswand 3 ander, auf einer gemeinsamen, ebenen, zur Projekdem Umlenkspiegel,8 ^J^Sm^ der 15 tionsfläche parallelen Platte angeordnet werden und samt Rahmen besteht hatf die ™ge | sie würden dann proportionalen Verkleinerungen exakten, maßße5echten/'^fSäuse kann so ge- der Schablonenprojektionen entstehen, auf die Projektionswand. Ihr Geh.a"s/tp^n"ßfl S a 3 ch 8en Werden hingegen die optischen Achsen durch staltet sein, daß es *fX^X^™fZ ein«? gemeinsamen Punkt des Projektionsschirm* bzw. Paßstifte von der Meßt««*>»[ no™™"_ ao geiegt, welcher Punkt zweckmäßig in dessen Mitte wieder passend montiert ™rienkjg£ ^Jg fiegt 8 und sind sie also zum Projektionsschirm verlichkeit ist sowohl fur die ^fj1^™1^! schieden geneigt, dann kann im allgemeinen der der Abbildungsgruppe, als ™* *" *^™ £Si größte vorkommende Gegenstandswinkel bedeutend tuellen Änderung bzw. ^anzung von Diapositiven g werdtn, wodurch die optische Bewichtig. Die demMeßgerai «g™^£KÄ >5 anspr^cLng der Objektive bedeutend geringer wird, gruppe dient hierbei im ^j™™ Ran™en der Es muß jedoch dann für die Bestimmung der Lagen als Reproduktionsgerät mde*^ "jJj^SS der einzelnen Diaebenen, wie bereits erwähnt, die Projektionswand 3 £^^JSS3Sfcucfiet Scheimpflug-Bedingung berücksichtigt -verden. Alle mittels Paßmarken ™&*&^^££ύν auf einer Dias haben dann verschieden geneigte Lagen zu und über das jeweils zeh^e Objektiv am ^m zugehorigen Objektivachsen und weisen vera„ Stdle 5 bettrf^ D^vej^g« 8 ^.^B^. g ^ y aber
lichtempfindlichen Platte lotogranstn du g d^r zugehörigen Schablonenprojektion auf. Die Herwerden. , .. „ ,„Rprhaih des Meßstandes stellung solcher Diapositive soll daher allgemein Diese Arbeiten könne η «^erludb des M eU^η 8 MethQde ^ kehri£n Stranlengaoges
in einem ^^^f^f^S ST^bor 35-unter Benutzung der Projektionsoptik der erfindungs-
JustierungderDiaposUveebenta^D .ßen Einrichtung erfolgen> d£1 sich a„f diese
erfolgen. Ers dan.n.w'rd/d^Meßeeräf eingesetzt. Weise sowohl die Verzerrungen als auch Lageeinfacher Weise wieder^»Mg ^ Verschiedenheiten bei der Rückprojektion aufheben. Zur standigen Kontrolle^ der ^aW^ J ^ Zwischen den .n p und 5 dargestehten q^. zwischen den Schabionendiasr ειπ^'^ · d 40 fäilen s5nd verschiedene Kombinationen möglich, Maßstäben der Prajekuonsflache ^dereree«s und beis ielsweise erwähnt werden sollen. Zum auch der Schaolonendias untereinande können ^ ^ p. ffir die Randobjektive
geeignete ^"AtnSdS den solche höherer Korrektur verwendet werden, als
Projektionsflache ^ .^.™"eJP?^« Projektion für die in der MiHe befindlichen. Dias angebracht sind und die bei jeder rrojem ^ ^ ^n femer entsprechend Fig. 6 und 7 eine
genau zusammenpasse· müssen. Grappe von Objektiven von gleicher Brennveite
Sofern die ^ψ^^Β^^°η 'Szfn, zwar parallel optische Achsen besitzen, wobei die
meinsame f^^^^ZdprolSn^ Mitten der Objektive auf einer Geraden 27 liegen,
wie dies * B. bei ^Sf der Fali P ist> werden die parallel ist zu einer Geraden 28 der Projeküons- ™™"ZeJ™e^*^tteZ&\in\en und Be- 50 fläche und wobei alle optischen Achsen zwar zur
mt Vörteu ai^^^^S, selbst, z.B. Projektionsfläche geneigt sind, jedoch senkrecht zur
zeichnungen auf der Projektionsnacne erwähnten Geraden 28 stehen. Die Scheimpflug-
fotograSsch angebracht^ untereinander sehr Bedingung wirkt sich dann nur im Seitenriß (Fig. 7)
Wenn jedoch ^J^b" " slinien und Be- aus, d. h., es kann in diesem Sonderfall ein den
unterschiedliche Maßstäbe, f^mg -^ fiäche ger;anriien Objektiven gemeinsamer ebener Dia-
zeichnungen«Jg^^^SSSSSo füh- ^sitivträger benutzt werden, der zu den optischen
gemeinsam wt^^JU zs^}aamgt die jeder Achsen dieselbe Neigung hat.
ren »J^5^ SXSÄi Bezeich- Es hängt von den gegebenen Anforderungen ab,
Schablone zukommenden d Mßä tllt d b eck
J^^ SXSÄi Bezeich- Es hängt von den gegebenen Anorg
Schablone zukommenden unterzubringen. die an das Meßgerät gestellt werden, ob es zweckrn|S|WrtTdes DiaTkonnen diese Zeichen schwarz, 60 mäßig ist, einen oder wenige Kondensoren als beweg-
Im Klarteil 4fs ag'S„O™^fBhrt werden. bare Teile auszubilden (F i g. 5) oder fest montierte
im Dunkelten ^"« *W^£; A^n Von Scha- Kondensoren für jedes Dia vorzusehen (Fig. 4).
In den Fig. 4 und J »™^™bl^J™Mehr. Wenn es auf raschen Schablonenwechsel und exakte
blonenprojektoren mit der erfindungsgemauen Menr Bndausleudltung. und staubdichtheit des Gerätes
fSÄS der Nebeneinander- oder auch über- 65 ankommt, ist die letztere Ausführung vorzuziehen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Profilschablonen-Wechseleinrichtung, insbesondere an optischen Meßständen für Eisen-
Ψ ibahnradsätze mit Profilprojektoren, bei der • mittels einer Projektionseinrichtung die Projektion einzelner Schablonen-Diapositive auf einer Projektionswand mit einer zu überprüfenden Werkstückprofiiprojektion überlagert wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Schablonen-Projektionseinrichtung mehrere ortsfest angeordnete Schablonen-Diapositive (Sä bis Sf) mit voneinander abweichenden Schablonenformen aufweist, denen eine entsprechende Anzahl von wahlweise einschaltbaren Projekiionsobjektiven (6a bis 6/) zugeordnet ist
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Achsen der Projektionsobjektive (6 a bis 6/) zueinander par-
- allel sind und sowohl auf der Ebene der Scha- ao blonendias (5 a bis 5/) als auch auf der Projektionsebene (3) senkrecht stehen.
3. Einrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß sich die optischen Achsen der Projektionsobjektive (6a bis 6/) in einem gemeinsamen Punki schneiden, der in oder nahe der Mitte der Projektionsfläche (3) liegt.
'- Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Projektionsobjektive (6 a bis 6/' in zellenförmige Gruppen zusammengefaßt siri.
5. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Achsen jeder Objektivgruppe (6 a bis 6 c und 6rf bis 6/) in einer gemeinsamen Ebene liegen und die Ebenen der Objektivgruppen sich in einer Geraden der Projektionsebene schneiden.
6. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 5. dadurch gekennzeichnet, daß allen Prnjektionsobjektiven (6 a bis 6f) eine gemeinsame Lichtqueue (iö) zugeordnet ist, die verschiebbar und auf jeden Kondensor (14a bis 14/) der Projektionsobjektive (6 a bis 6/) einstellbar ist.
7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß für jedes Schablonendia (Sa bis Sf) ein eigenes Projektionsobjektiv (6 α bis 6/), für alle Schablonendias jedoch nur eine zu jedem Dia verschiebbare aus Kondensor (14) und Lichtquelle bestehende Beleuchtung vorgesehen ist.
gekennzeichnet, daß zur Lichtubertragung mehrere faseroptische Lichtleitkabel (11, 12) vorgesehen sind, von denen jedes einzelne mit seinem bewegbaren Lichtaustrittsende an eine der zugeordneten ProjektionsobjekUve(6abis6/V wahlweise anschließbar ist, rait seinem L chteintrittsende dagegen an die ortsfeste Lichtquelle (10) anschließbar ist.
P Einrichtung nach Anspruch 10 oder H, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegung dir Enden der Lichtleitkabel iernsisuerbsr jel
13. Hinrichtung nach einem der_ Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daS alle Projektionsobjektive (6 a bis 6f) mit der Projektionfläche (3) fest verbunden sind und gemeinsam mit dieser gegenüber dem Schaitenprofilprojektor me3bar verstellbar sind.
4. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis ! .·. dadurch gekennzeichnet, daß die Objektive (6 u bis 6f), die Schablonendiapositive (Sa bis Sd) und die Projektionsfläche (3) eine Einheit bilder, die von der Belet Atungseinrichtuiig (10) trenn bar ist
DE19712102649 1970-02-17 1971-01-21 Profilschablonen Wechselein richtung Expired DE2102649C3 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AT140470A AT298094B (de) 1970-02-17 1970-02-17 Profilschablonen-Wechseleinrichtung für Profilprojektoren

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2102649A1 DE2102649A1 (de) 1971-09-16
DE2102649B2 DE2102649B2 (de) 1973-03-15
DE2102649C3 true DE2102649C3 (de) 1973-10-11

Family

ID=3513155

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19712102649 Expired DE2102649C3 (de) 1970-02-17 1971-01-21 Profilschablonen Wechselein richtung

Country Status (2)

Country Link
AT (1) AT298094B (de)
DE (1) DE2102649C3 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9686517B2 (en) 2014-12-15 2017-06-20 Test Research, Inc. Optical system and image compensating method of optical apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
AT298094B (de) 1972-04-25
DE2102649B2 (de) 1973-03-15
DE2102649A1 (de) 1971-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE663912C (de) Vorrichtung zur pausenlosen Vorfuehrung kinematographischer Filme
DE2102649C3 (de) Profilschablonen Wechselein richtung
WO1982002098A1 (en) Optical system for obtaining two compressed images by anamor phosis corrolated at the inter-ocular distance
DE924103C (de) Verfahren und Vorrichtung zum optischen Einstellen von mit Profilen versehenen Werkzeugwalzen, insbesondere an Gewindewalzmaschinen
DE1076949B (de) Optisches Geraet zum Ermitteln des Durchmessers grosser Werkstuecke
DE3335143C2 (de)
DE893269C (de) Bildwerfer fuer verdunklungsfreien Bildwechsel
DE909293C (de) Vorrichtung an Reproduktionsapparaten
DE522643C (de) Verfahren zur Herstellung von Projektionsbildern, insbesondere fuer Buehnenzwecke
DE2649159B2 (de) Projektions-Scheitelbrechwertmesser
AT214274B (de) Vergrößerungsgerät mit Belichtungsmeßvorrichtung
DE385908C (de) Beleuchtungsvorrichtung fuer Reproduktionsapparate
DE429631C (de) Vorrichtung zur richtigen Einstellung des Gluehfadens einer elektrischen Gluehlampe fuer Projektionsapparate u. dgl.
DE950605C (de) Lichttonoptik fuer Wiedergabegeraete
DE376247C (de) Stereoskopische Kamera fuer Reihenbilder
CH434772A (de) Vorrichtung zur differentiellen Entzerrung von Messbildern
DE471728C (de) Optisches Geraet zum Bildwurf in den freien Raum mittels mehrerer Lichtstrahlenbuendel
DE324056C (de) Einrichtung an kinematographischen Projektionsapparaten zum wahlweisen Projizieren von lebenden und stillstehenden Bildern
DE268391C (de)
DE2549198A1 (de) Optische anordnung zur abbildung mehrerer objekte
DE1522462C (de) Vorrichtung zur optischen Auswahl von Schriftzeichen
AT83237B (de) Apparat für kinematographische Aufnahmen.
DE743589C (de) Anordnung zur mehrmaligen Abtastung der Bilder eines gleichfoermig bewegten Films
DE1934500C (de) Photogrammetrisches Auswertegerät
DE1076489B (de) Einrichtung fuer die gleichzeitige Ausleuchtung mehrerer im Projektionsfenster einesBildprojektors nebeneinander-liegender Halbbilder

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
8339 Ceased/non-payment of the annual fee