HINTERGRUND DER ERFINDUNG
1. Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung betrifft im allgemeinen eine
Halbleitervorrichtung, eine Halbleitervorrichtungseinheit
und ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrich
tungseinheit, und im besonderen betrifft sie eine Halblei
tervorrichtung, eine Halbleitervorrichtungseinheit und ein
Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtungsein
heit, das eine Montage mit hoher Dichte vorsieht, indem die
Halbleitervorrichtungen gestapelt werden.
Eine Halbleitervorrichtung muß weiter miniaturisiert
werden, um eine höhere Operationsgeschwindigkeit zu errei
chen und um komplizierter zu sein, um so dem Trend von neuen
elektronischen Vorrichtungen gerecht zu werden. Die Effekti
vität beim Montieren der Halbleitervorrichtung auf eine
Montageplatte muß auch verbessert werden.
Um die obigen Anforderungen zu erfüllen, ist eine Mehr
heit von Halbleitervorrichtungen, die gegenwärtig verfügbar
sind, der Oberflächenmontagetyp, bei dem Anschlußbeine auf
der Oberfläche der Montageplatte verbunden werden. Dennoch
wird eine Halbleitervorrichtung gewünscht, die eine höhere
Montageeffektivität hat.
2. Beschreibung der verwandten Technik
Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht, die eine Halb
leitervorrichtung 1 nach Stand der Technik zeigt. Fig. 2 ist
ein Querschnittsdiagramm einer Halbleitervorrichtung nach
Stand der Technik längs einer Linie A-A in Fig. 1. Die
Halbleitervorrichtung 1 ist in der japanischen offengelegten
Patentanmeldung Nr. 63-15453 und 63-15451 offenbart.
Eine Halbleitervorrichtung 1, die in Fig. 1 und in Fig.
2 gezeigt ist, enthält einen Halbleiterchip 2, eine Harz
packung 3 zum Einkapseln des Halbleiterchips 2, Anschlußbeine 4
und eine Stufe 7, auf die der Halbleiterchip 2 montiert ist.
Von jedem der Anschlußbeine 4 ist ein Ende mit dem Halblei
terchip 2 durch Draht 5 verbunden, und das andere Ende ist
von einer unteren Oberfläche 3a der Harzpackung 3 exponiert,
um einen Außenanschluß 6 zu bilden. Mit anderen Worten, bei
der Halbleitervorrichtung 1 sind alle Teile der Anschluß
beine 4, außer den Außenanschlüssen 6, in der Packung 3
eingekapselt.
Bei der Halbleitervorrichtung 1 mit der obigen Struktur
kann, da die Teile, die die Außenanschlüsse 6 bilden, von
der unteren Oberfläche 3a der Harzpackung 3 exponiert sind,
das Ausmaß oder die Länge der Anschlußbeine 4, die aus der
Seite der Packung 3 herausragen, reduziert werden. Deshalb
wird die Montagedichte der Halbleitervorrichtung erhöht.
Ferner ist es bei der obigen Struktur nicht erforderlich,
den herausragenden Teil des Anschlußbeines zu biegen, und
somit ist keine Form mehr notwendig, die zum Biegen genutzt
wird. Deshalb werden verschiedene Vorteile erwartet, wie zum
Beispiel die Reduzierung der Herstellungskosten.
Bei der Halbleitervorrichtung nach Stand der Technik
gibt es jedoch ein Problem. Anschlüsse 4a der Anschlußbeine
4, die durch Drähte zu verbinden sind, sind, wie in Fig. 2
gezeigt, auf der Seite des Halbleiterchips 2 positioniert.
Deshalb hat die Packung 3 große Abmessungen, und die Halb
leitervorrichtung 1 konnte keine ausreichende Miniaturisie
rung erreichen. Idealerweise wird die Größe der Halbleiter
vorrichtung miniaturisiert, um im wesentlichen genauso groß
wie der Halbleiterchip zu sein. Dagegen ist bei der Halblei
tervorrichtung 1 nach Stand der Technik die Größe der
Packung 3 mehr als doppelt so groß wie der Halbleiterchip 2.
Eine Halbleitervorrichtung, die vorgeschlagen wurde, um
das obige Problem zu lösen, ist beschrieben in der japani
schen Patentanmeldung Nr. 4-281951 mit dem
Titel: "Semiconductor Device and Method of Manufacturing Semicon
ductor Device". Fig. 3A-3B zeigen eine Halbleitervorrich
tung, die mit der obigen Patentanmeldung verbunden ist.
Eine Halbleitervorrichtung 10A, die in Fig. 3A-3B ge
zeigt ist, ist mit einem Halbleiterchip 11, einer Harzpackung
17 zum Einkapseln dieses Halbleiterchips 11 und einer
Vielzahl von Anschlußbeinen 14 versehen. Jedes der Anschluß
beine 14 hat ein inneres Ende 14a, das mit dem Halbleiter
chip 11 elektrisch verbunden ist, und ein äußeres Ende, das
von einer unteren Oberfläche 17a einer Harzpackung 17 expo
niert ist, um einen Außenanschluß 16 zu bilden. Alle Teile
der Anschlußbeine 14, außer die Außenanschlüsse 16, sind
innerhalb der Packung 17 eingekapselt. Die Halbleitervor
richtung 10A ist dadurch gekennzeichnet, daß die Vielzahl
der Anschlußbeine 14 wenigstens teilweise mit dem Halblei
terchip 11 vertikal innerhalb der Packung 17 überlappt ist.
Durch die obige Struktur wird die Halbleitervorrichtung
10A im Vergleich zu der Halbleitervorrichtung 1, die in Fig.
1 und Fig. 2 gezeigt ist, um einen Bereich des überlappten
Teils (in Fig. 3A durch einen Pfeil L1 gekennzeichnet)
miniaturisiert. Ferner enthält die Halbleitervorrichtung 10A
in Fig. 3A auch eine Stufe 12, eine Elektrodeninsel 13 und
Drähte 15.
Um eine Montage mit einer noch höheren Dichte zu errei
chen, können Halbleiter in einem vertikalen Stapel montiert
werden. Jedoch ist die Halbleitervorrichtung 10A, die in
Fig. 3A-3B gezeigt ist, nicht zur vertikalen Montage in
einem Stapel geeignet. Dies führt zu dem Problem, daß eine
Montage mit einer noch höheren Dichte (d. h., eine drei
dimensionale Montage) nicht erreicht werden kann.
Eine Halbleitervorrichtung, die vorgeschlagen wurde, um
das obige Problem zu lösen, ist beschrieben in der japani
schen Patentanmeldung Nr. 6-168449 mit dem
Titel: "Semiconductor Device and Semiconductor Deyice Unit". Fig. 4
und 5 zeigen eine Halbleitervorrichtung, die mit der obigen
Patentanmeldung verbunden ist.
Eine Halbleitervorrichtung 10B, die in Fig. 4 und in
Fig. 5 gezeigt ist, enthält Anschlußbeine 18, von denen
jedes einen inneren Anschlußbeinteil 18a und einen äußeren
Anschlußbeinteil 18b hat. Die Halbleitervorrichtung ist
dadurch gekennzeichnet, daß ein erster Anschluß 18b-1, ein
zweiter Anschluß 18b-2 und ein dritter Anschluß 18b-3 gebil
det sind, indem der äußere Anschlußbeinteil 18b außerhalb
der Harzpackung 17 verlängert wurde und der äußere Anschluß
beinteil 18b längs einer Form der Harzpackung 17 gebogen
wurde.
Die Halbleitervorrichtung 10B hat solch eine Struktur,
daß der erste Anschluß 18b-1 auf der unteren Oberfläche der
Harzpackung 17 angeordnet ist und der zweite Anschluß 18b-2
auf der oberen Oberfläche der Harzpackung 17 angeordnet ist.
Deshalb ist es nun möglich, die Halbleitervorrichtung 10B in
einem Stapel zu montieren, wodurch eine höhere Montagedichte
erreicht wird.
Die in Fig. 4 und Fig. 5 gezeigte Halbleitervorrichtung
10B ist jedoch durch einfaches Biegen der äußeren Anschluß
beinteile 18b längs der Form der Harzpackung 17 konstruiert,
um die äußeren Anschlußbeinteile 18b bis zu der oberen
Oberfläche der Harzpackung 17 zu ziehen. Deshalb sind die
zweiten Anschlußteile 18b-2 und die dritten Anschlußteile
18b-3 auf solch eine Weise vorgesehen, daß sie etwas ent
fernt von der Halbleitervorrichtung 10B angeordnet sind
(siehe Fig. 5).
Daher können die äußeren Anschlußbeinteile 18b leicht
deformiert werden, wenn eine äußere Kraft angewendet wird.
Wenn in solch einem Fall benachbarte äußere Anschlußbein
teile 18b kurzgeschlossen werden, oder wenn die zweiten
Anschlußteile 18b-2 und die dritten Anschlußteile 18b-3 von
der vorbestimmten Position versetzt werden, kann es passie
ren, daß die elektrische Verbindung zwischen den oberen und
den unteren Halbleitervorrichtungen 10B nicht gelingt.
Deshalb tritt beim Montieren der Halbleitervorrichtungen in
einem Stapel ein Zuverlässigkeitsproblem auf.
Um das obige Problem zu lösen, kann der gesamte äußere
Anschlußbeinteil 18b in der Harzpackung 17 eingebettet
werden. Vor dem Einbetten wird der äußere Anschlußbeinteil
18 zum Beispiel durch Einsatzformen gebogen. Die Oberfläche,
die zur elektrischen Verbindung verwendet wird, ist von der
Harzpackung 17 exponiert. Diese Struktur verhindert, daß der
äußere Anschlußbeinteil 18b von seiner vorbestimmten Posi
tion unnötigerweise versetzt wird.
Wenn jedoch die äußeren Anschlußbeinteile 18b in der
Harzpackung 17 eingebettet sind, werden sie innerhalb der
Harzpackung 17 nicht frei versetzt. Wenn zum Beispiel ein
Temperaturanstieg der Vorrichtung auf Grund der Emission von
Wärme durch den Halbleiterchip 11 erfolgt, wird an einer
Grenzfläche zwischen den Anschlußbeinen 18 und der Harz
packung 17 eine Spannung erzeugt. Diese wird durch den Unter
schied der Wärmeausdehnung zwischen den Anschlußbeinen 18
und der Harzpackung 17 verursacht.
Der Wärmeausdehnungskoeffizient der Anschlußbeine 18
ist im allgemeinen größer als der Wärmeausdehnungskoeffizi
ent der Harzpackung 17. Wenn ein Temperaturanstieg erfolgt,
wie oben beschrieben, werden daher die Anschlußbeine 18 die
Harzpackung 17 zusammenpressen. Deshalb können im schlimm
sten Fall Risse in der Harzpackung 17 gebildet werden. Wenn
diese Halbleitervorrichtungen ferner unter Verwendung von
Lot gestapelt werden, kann die oben beschriebene Spannung
auf den Teil ausgeübt werden, der durch das Lot verbunden
ist, und das Lot kann sich abschälen.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Daher ist es eine allgemeine Aufgabe der vorliegenden
Erfindung, eine Halbleitervorrichtung, eine Halbleitervor
richtungseinheit und ein Verfahren zum Herstellen einer
Halbleitervorrichtungseinheit vorzusehen, die den oben
beschriebenen Bedürfnissen gerecht werden können.
Ein anderes und spezifischeres Ziel der vorliegenden
Erfindung ist es, eine Halbleitervorrichtung, eine Halblei
tervorrichtungseinheit und ein Verfahren zum Herstellen
einer Halbleitervorrichtungseinheit vorzusehen, die die
Montage mit hoher Dichte mit hoher Zuverlässigkeit erreichen
können.
Um die obigen Ziele gemäß der vorliegenden Erfindung zu
erreichen, enthält eine Halbleitervorrichtung eine Harz
packung, in der ein Halbleiterchip eingekapselt ist, und An
schlußbeine mit inneren Anschlußbeinteilen, die mit dem
Halbleiterchip verbunden sind, und äußeren Anschlußbeintei
len, die außerhalb der Harzpackung positioniert sind, die
als Außenverbindungsanschlüsse dienen, welche äußeren An
schlußbeinteile längs der Form der Harzpackung gebogen sind,
so daß sie zu der Seitenoberfläche und zu der oberen Ober
fläche der Harzpackung gezogen werden. Die Halbleitervor
richtung enthält einen Positionierungsmechanismus, der die
äußeren Anschlußbeinteile entweder an den Anschlußbeinen
oder an der Harzpackung positioniert, indem er mit einem
Teil der äußeren Anschlußbeinteile im Eingriff steht.
Bei der oben beschriebenen Halbleitervorrichtung sind
die äußeren Anschlußbeinteile längs der Form der Harzpackung
gebogen, so daß sie zu der Seitenoberfläche und zu der
oberen Oberfläche der Harzpackung gezogen werden. Dies
ermöglicht das Herstellen einer elektrischen Verbindung auf
jeder der oberen Oberflächen und der Seitenoberflächen der
Harzpackung. Deshalb ist es möglich, eine Vielzahl der
Halbleitervorrichtungen vertikal zu stapeln, so daß die
Montierbarkeit der Halbleitervorrichtung verbessert wird.
Ferner werden die äußeren Anschlußbeinteile durch den
Positionierungsmechanismus positioniert, der die äußeren
Anschlußbeinteile positioniert, indem er mit einem Teil der
äußeren Anschlußbeinteile im Eingriff steht. Dies verhin
dert, daß die äußeren Anschlußbeinteile in dem Fall defor
miert oder kurzgeschlossen werden, wenn eine äußere Kraft
auf die äußeren Anschlußbeinteile angewendet wird, wenn die
Halbleitervorrichtungen zusammengebaut oder montiert werden.
Des weiteren wirkt der Positionierungsmechanismus,
nicht indem er mit den gesamten äußeren Anschlußbeinteilen
im Eingriff steht, sondern indem er mit einem Teil der
äußeren Anschlußbeinteile im Eingriff steht. Mit anderen
Worten, die äußeren Anschlußbeinteile werden durch den
Positionierungsmechanismus positioniert, während sie inner
halb des Bereiches, in dem keine Deformation oder kein
Kurzschluß auftritt, versetzt werden können.
Wenn eine Differenz hinsichtlich der Wärmeausdehnungs
rate zwischen den Anschlußbeinen und der Harzpackung vorhan
den ist, kann deshalb eine Spannung, die durch Erhitzen
verursacht wird, durch Versetzung oder Deformation der
äußeren Anschlußbeinteile gelöst werden. Daher kann die
Rißbildung der Harzpackung oder ein Abschälen des Lotes an
der Montageposition sicher verhindert werden, wodurch die
Zuverlässigkeit der Halbleitervorrichtung verbessert wird.
Es ist ein anderes Ziel der Erfindung, einfach und
leicht zu verhindern, daß die äußeren Anschlußbeinteile
deformiert oder kurzgeschlossen werden.
Um das obige Ziel zu erreichen, enthält der Positionie
rungsmechanismus Nuten, die auf der Harzpackung gebildet
sind und in die die äußeren Anschlußbeinteile eingreifen.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, eine elek
trische Verbindung zwischen den äußeren Anschlußbeinteilen
sicher vorzusehen, wenn die Halbleitervorrichtungen gesta
pelt werden.
Um das obige Ziel zu erreichen, ist ein Teil der äuße
ren Anschlußbeinteile so konstruiert, um von der Oberfläche
der Harzpackung hervorzustehen, wenn Teile der äußeren
Anschlußbeinteile in die Nuten eingreifen.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, jede der
Halbleitervorrichtungen sicher zu verbinden, wenn die Halb
leitervorrichtungen vertikal gestapelt werden.
Um das obige Ziel zu erreichen, sind die Nuten auf der
oberen Oberfläche der Harzpackung gebildet. Dies bewirkt,
daß die äußeren Anschlußbeinteile auf der oberen Oberfläche
der Harzpackung positioniert werden und auf der Seitenober
fläche der Harzpackung frei sind. Somit wird die erzeugte
Spannung hauptsächlich an der Position des äußeren Anschluß
beinteils absorbiert, die der Seitenoberfläche der Harz
packung gegenüberliegt. Mit anderen Worten, wenn eine Spannung
erzeugt wird, werden die äußeren Anschlußbeinteile, die an
der Seitenoberfläche der Halbleitervorrichtung positioniert
sind, versetzt oder deformiert, und die äußeren Anschluß
beinteile auf der oberen oder unteren Oberfläche werden
nicht versetzt oder deformiert.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, jede der
Halbleitervorrichtungen sicher zu verbinden, wenn die Halb
leitervorrichtungen horizontal gestapelt werden.
Um das obige Ziel zu erreichen, sind die Nuten auf der
Seitenoberfläche der Harzpackung gebildet. Dies bewirkt, daß
die äußeren Anschlußbeinteile auf der Seitenoberfläche der
Harzpackung positioniert werden und auf der oberen Oberflä
che der Harzpackung frei sind. Somit wird die erzeugte
Spannung hauptsächlich an der Position des äußeren Anschluß
beinteils absorbiert, die der oberen Oberfläche der Harz
packung gegenüberliegt. Mit anderen Worten, wenn eine Spannung
erzeugt wird, werden die äußeren Anschlußbeinteile, die auf
der oberen Oberfläche der Halbleitervorrichtung positioniert
sind, versetzt oder deformiert, und die äußeren Anschluß
beinteile auf der Seitenoberfläche werden nicht versetzt
oder deformiert.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die Halb
leitervorrichtungen mit hoher Zuverlässigkeit zu verbinden.
Um das obige Ziel zu erreichen, werden Teile der äuße
ren Anschlußbeinteile, die auf der oberen Oberfläche der
Harzpackung angeordnet sind, in horizontaler Richtung ver
längert. So wird der Bereich zwischen jedem in Kontakt
befindlichen Anschlußbein größer, wenn die Halbleiter verti
kal gestapelt werden. Da die Halbleiter auf stabile Weise
gestapelt werden, kann ferner die Stabilität des temporären
Befestigens, das normalerweise vor dem eigentlichen Verbin
den erfolgt, verbessert werden.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, eine
Schwankung der Gesamthöhe der Halbleitervorrichtung zu
verhindern.
Um das obige Ziel zu erreichen, werden Teile der äuße
ren Anschlußbeinteile, die auf der oberen Oberfläche der
Harzpackung angeordnet sind, geneigt, so daß der Eckteil der
äußeren Anschlußbeinteile der unteren Halbleitervorrichtung
mit den äußeren Anschlußbeinteilen der oberen Halbleitervor
richtung direkt in Berührung ist. Daher wird kein Lot zwi
schen den äußeren Anschlußbeinteilen der oberen und unteren
Halbleitervorrichtungen vorhanden sein.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die äußeren
Anschlußbeinteile sicherer mit den Nuten in Eingriff zu
bringen (sicherer in den Nuten zu befestigen), so daß defi
nitiv verhindert werden kann, daß die äußeren Anschlußbein
teile deformiert oder kurzgeschlossen werden.
Um das obige Ziel zu erreichen, enthält die Halbleiter
vorrichtung ein Haftagens, das an Teilen vorgesehen ist, wo
die äußeren Anschlußbeinteile und die Nuten der oberen
Oberfläche einander gegenüberliegen, welches Haftagens die
äußeren Anschlußbeinteile an den Nuten der oberen Oberfläche
befestigt.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, sicher zu
verhindern, daß die äußeren Anschlußbeinteile deformiert
oder kurzgeschlossen werden.
Um das obige Ziel zu erreichen, enthält der Positionie
rungsmechanismus erste Eingreifteile, die an Teilen der
äußeren Anschlußbeinteile gebildet sind, und zweite Ein
greifteile, die an der Harzpackung gebildet sind und mit den
ersten Eingreifteilen im Eingriff stehen, um die äußeren
Anschlußbeinteile zu positionieren. Der Eingriff der ersten
und zweiten Eingreifteile bewirkt, daß die äußeren Anschluß
beinteile sicherer mit der Harzpackung im Eingriff stehen.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die ersten
und zweiten Eingreifteile leichter zu bilden.
Um das obige Ziel zu erreichen, sind die ersten Ein
greifteile Harzglieder, und die zweiten Eingreifteile sind
Vertiefungen, die in der Harzpackung gebildet sind.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die Bildung
der ersten und zweiten Eingreifteile weiter zu vereinfachen.
Um das obige Ziel zu erreichen, sind die Harzglieder
aus demselben Material wie die Harzpackung gebildet. Dies
ermöglicht die gleichzeitige Bildung der Harzglieder und der
Harzpackung.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, eine Halb
leitervorrichtung vorzusehen, die verhindern kann, daß die
äußeren Anschlußbeinteile deformiert oder kurzgeschlossen
werden, und die auch in dem Fall eingesetzt werden kann,
wenn die Anschlußbeinteilung eingeengt ist.
Um das obige Ziel zu erreichen, enthält eine Halblei
tervorrichtung eine Harzpackung, in der ein Halbleiterchip
eingekapselt ist, und Anschlußbeine mit inneren Anschluß
beinteilen, die mit dem Halbleiterchip verbunden sind, und
äußeren Anschlußbeinteilen, die außerhalb der Harzpackung
angeordnet sind und als Außenverbindungsanschluß dienen,
welche äußeren Anschlußbeinteile längs der Form der Harz
packung gebogen sind, so daß sie zu der Seitenoberfläche und
der oberen Oberfläche der Harzpackung gezogen werden. Die
Halbleitervorrichtung enthält Vorsprünge, die an vier Ecken
der Harzpackung gebildet sind, welche Vorsprünge eine Höhe
haben, die höher als die Oberfläche der Harzpackung und
niedriger als die Dicke der äußeren Anschlußbeinteile ist.
Bei der oben beschriebenen Halbleitervorrichtung sind
die äußeren Anschlußbeinteile längs der Form der Harzpackung
gebogen, so daß sie zu der Seitenoberfläche und zu der
oberen Oberfläche der Harzpackung gezogen werden. Dies
ermöglicht die Herstellung einer elektrischen Verbindung auf
jeder der oberen Oberflächen und der Seitenoberflächen der
Harzpackung. Deshalb ist es möglich, eine Vielzahl der
Halbleitervorrichtungen vertikal zu stapeln, so daß die
Montierbarkeit der Halbleitervorrichtung verbessert wird.
Ferner werden die Vorsprünge die äußere Kraft aufneh
men, die von der Seitenoberfläche angewendet wird, wodurch
verhindert wird, daß die äußeren Anschlußbeinteile defor
miert oder kurzgeschlossen werden.
Ferner besteht keine Notwendigkeit zum Bilden von Nu
ten, die jedem der äußeren Anschlußbeinteile entsprechen.
Deshalb kann die Halbleitervorrichtung auch in dem Fall
eingesetzt werden, wenn die Halbleiterchips mit hoher Dichte
montiert werden, das heißt, wenn die Anzahl der Anschluß
beine erhöht und die Anschlußbeinteilung eingeengt ist.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, einen Sta
pel von Halbleitervorrichtungen leicht zu bilden und die
Montagedichte der Halbleitervorrichtung zu verbessern.
Um das obige Ziel zu erreichen, hat eine Halbleitervor
richtungseinheit eine Struktur, bei der eine Vielzahl von
Halbleitervorrichtungen, wie oben beschrieben, in vertikaler
Richtung gestapelt ist. Bei dieser Struktur sind äußere
Anschlußbeinteile, die auf der unteren Oberfläche einer
oberen von den Halbleitervorrichtungen positioniert sind,
und äußere Anschlußbeinteile, die auf der oberen Oberfläche
einer unteren von den Halbleitervorrichtungen positioniert
sind, elektrisch verbunden, um das vertikale Montieren von
einer Vielzahl der Halbleitervorrichtungen zu ermöglichen.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die Monta
gedichte der Halbleitervorrichtungen zu verbessern.
Um das obige Ziel zu erreichen, sind die äußeren An
schlußbeinteile von jedem Halbleiter mit der Struktur an
Positionen, die der Seitenoberfläche der Harzpackung
gegenüberliegen, mit einer Montageplatte verbunden, um als
Außenverbindungsanschlüsse zu dienen. Deshalb werden die
Halbleitervorrichtungen auf stehende Weise montiert, wodurch
der Montageraum reduziert wird, der für jede der
Halbleitervorrichtungen benötigt wird.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die Wärme
ableitungseffektivität zu verbessern.
Um das obige Ziel zu erreichen, ist zwischen benachbar
ten der gestapelten Halbleiter Haftmaterial vorgesehen, das
eine Wärmeableitungsfunktion hat. Die Wärme, die in jeder
Halbleitervorrichtung erzeugt wird, entweicht über das
Haftglied zu der Montageplatte. Selbst bei der Halbleiter
vorrichtungseinheit mit einer Vielzahl von gestapelten
Halbleitervorrichtungen wird deshalb die Wärmeableitungs
effektivität verbessert.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, das Verbin
dungsmaterial vorzusehen und die Halbleitervorrichtungen
leichter zu verbinden, im Vergleich zu der Struktur, bei der
das Verbindungsmaterial vorgesehen wird, nachdem die Halb
leitervorrichtungen gestapelt sind.
Um das obige Ziel zu erreichen, enthält ein Verfahren
zum Herstellen einer Halbleitervorrichtungseinheit, die eine
Struktur hat, bei der eine Vielzahl von Halbleitervorrich
tungen, wie oben beschrieben, in vertikaler Richtung
gestapelt ist, die folgenden Schritte:
- a) Vorsehen von Verbindungsmaterial an Teilen, die als
Außenverbindungsanschlüsse der Halbleitervorrichtung dienen;
- b) Stapeln einer Vielzahl der Halbleitervorrichtungen,
die mit dem Verbindungsmaterial versehen sind; und
- c) elektrisches und mechanisches Verbinden von benach
barten der Halbleitervorrichtungen unter Verwendung des
Verbindungsmaterials durch Implementieren einer Wärmebehand
lung an einer Vielzahl der gestapelten Halbleiter.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die Effek
tivität beim Vorsehen des Verbindungsmaterials durch gleich
zeitiges Vorsehen von Lot bei einer Vielzahl der Halbleiter
vorrichtungen zu verbessern.
Um das obige Ziel zu erreichen, wird bei dem oben be
schriebenen Verfahren zum Herstellen der Halbleitervorrich
tungseinheit Lot als Verbindungsmaterial verwendet, und das
Verbindungsmaterial wird entweder durch Tauchlöten oder
Lötpastendruck vorgesehen.
Es ist noch ein anderes Ziel der Erfindung, die Wärme
ableitungseffektivität der Halbleitervorrichtungseinheit zu
verbessern.
Um das obige Ziel zu erreichen, enthält das Verfahren
zum Herstellen der Halbleitervorrichtung ferner den folgen
den Schritt:
- d) Vorsehen von Haftgliedern, die benachbarte der Halb
leitervorrichtungen temporär befestigen und ein Wärmeablei
tungsvermögen besitzen, wobei dieser Schritt nach dem
Schritt a) und vor dem Schritt b) implementiert wird. Die
Wärme, die in jeder Halbleitervorrichtung erzeugt wird, wird
über das Haftglied in der Montageplatte freigesetzt. Deshalb
wird die Wärmeableitungseffektivität der Halbleitervorrich
tungseinheit verbessert.
Andere Ziele und weitere Merkmale der vorliegenden
Erfindung gehen aus der folgenden eingehenden Beschreibung
in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen hervor.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
Fig. 1 ist ein schematisches Diagramm, das ein Beispiel
einer Halbleitervorrichtung nach Stand der Technik zeigt.
Fig. 2 ist ein schematisches Diagramm, das ein Beispiel
einer Halbleitervorrichtung nach Stand der Technik zeigt.
Fig. 3A-3B sind schematische Diagramme, die ein Bei
spiel einer Halbleitervorrichtung nach Stand der Technik
zeigen.
Fig. 4 ist ein schematisches Diagramm, das ein Beispiel
einer Halbleitervorrichtung nach Stand der Technik zeigt.
Fig. 5 ist ein schematisches Diagramm, das ein Beispiel
einer Halbleitervorrichtung nach Stand der Technik zeigt.
Fig. 6 ist eine perspektivische Ansicht einer ersten
Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 7 ist ein Querschnittsdiagramm einer ersten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 8 ist ein Teilquerschnittsdiagramm einer ersten
Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 9 ist ein Querschnittsdiagramm einer zweiten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 10 ist ein Querschnittsdiagramm einer dritten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 11 ist ein Querschnittsdiagramm einer vierten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 12 ist ein Querschnittsdiagramm einer ersten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtungseinheit der vorlie
genden Erfindung.
Fig. 13 ist ein Querschnittsdiagramm einer zweiten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtungseinheit der vorlie
genden Erfindung.
Fig. 14 ist ein Flußdiagramm, das ein Verfahren zum
Herstellen einer ersten Ausführungsform einer Halbleitervor
richtungseinheit der vorliegenden Erfindung zeigt.
Fig. 15A-15C sind schematische Diagramme, die ein Ver
fahren zum Herstellen einer ersten Ausführungsform einer
Halbleitervorrichtungseinheit der vorliegenden Erfindung
zeigen.
Fig. 16A-16C sind schematische Diagramme, die eine
Variante eines Verfahrens zum Herstellen einer ersten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtungseinheit der vorlie
genden Erfindung zeigen.
Fig. 17 ist eine perspektivische Ansicht einer fünften
Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 18 ist ein Querschnittsdiagramm einer fünften Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 19 ist ein Teilquerschnittsdiagramm einer ersten
Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 20 ist ein Querschnittsdiagramm einer sechsten
Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 21 ist ein Querschnittsdiagramm einer dritten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtungseinheit der vorlie
genden Erfindung.
Fig. 22 ist ein Querschnittsdiagramm einer siebten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 23 ist ein schematisches Diagramm, das ein Verfah
ren zum Herstellen einer siebten Ausführungsform einer
Halbleitervorrichtungseinheit der vorliegenden Erfindung
zeigt.
Fig. 24 ist ein Querschnittsdiagramm einer achten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 25 ist ein Querschnittsdiagramm einer neunten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 26 ist eine perspektivische Ansicht einer zehnten
Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 27 ist ein Querschnittsdiagramm einer elften Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 28 ist ein Querschnittsdiagramm einer vierten Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtungseinheit der vorlie
genden Erfindung.
Fig. 29 ist ein Querschnittsdiagramm einer zwölften
Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Erfindung.
Fig. 30 ist ein Querschnittsdiagramm einer fünften Aus
führungsform einer Halbleitervorrichtungseinheit der vorlie
genden Erfindung.
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
Im folgenden werden unter Bezugnahme auf die beiliegen
den Zeichnungen ein Prinzip und eine Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung beschrieben.
Fig. 6 bis Fig. 8 zeigen eine Halbleitervorrichtung 20A
einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
Fig. 6, Fig. 7 und Fig. 8 sind eine perspektivische Ansicht,
ein Querschnittsdiagramm bzw. eine vergrößerte Detailansicht
der Halbleitervorrichtung 20A. Ferner zeigt Fig. 12 eine
Halbleitervorrichtungseinheit 50A einer ersten Ausführungs
form der vorliegenden Erfindung. Die Halbleitervorrichtungs
einheit 50A ist so konstruiert, daß eine Vielzahl der Halb
leitervorrichtungen 20A (zum Beispiel drei Halbleitervor
richtungen in Fig. 12) der ersten Ausführungsform vertikal
gestapelt ist.
Zuerst wird die Struktur der Halbleitervorrichtung 20A
beschrieben. Ein Halbleiterchip 21 ist zum Beispiel ein
Chip, der als Speicherchip verwendet wird, und ist ver
gleichsweise groß. Der Halbleiterchip 21 ist mit Elektroden
inseln 23 versehen, die längs der zentralen Längszone auf
der Oberfläche des Halbleiterchips 21 angeordnet sind.
Ferner enthält die Halbleitervorrichtung 20A in Fig.
6-8 eine Vielzahl von Anschlußbeinen 24, von denen jedes
einen inneren Anschlußbeinteil 24a und einen äußeren An
schlußbeinteil 24b hat. Drähte 25 verbinden die inneren
Anschlußbeinteile 24a mit den Elektrodeninseln 23, die auf
dem Halbleiterchip 21 gebildet sind. Die äußeren Anschluß
beinteile 24b sind zusammenhängend mit den inneren Anschluß
beinteilen 24a gebildet. Jeder der äußeren Anschlußbeinteile
24b hat einen ersten Anschlußteil 24b-1, einen zweiten
Anschlußteil 24b-2 und einen dritten Anschlußteil 24b-3, wie
beschrieben werden wird.
Ferner ist in Fig. 6-8 eine Harzpackung 27A gezeigt.
Der oben beschriebene Halbleiterchip 1, die Drähte 25 und
die inneren Anschlußbeinteile 24a der Anschlußbeine 24 sind
in dieser Harzpackung 27A eingekapselt, um geschützt zu
sein. Angesichts der planaren Konfigurationen hat die Harz
packung 27A einen Bereich, der jenem des Halbleiterchips 21
im wesentlichen gleich ist, so daß die Halbleitervorrichtung
20A miniaturisiert wird. Somit wird durch Miniaturisieren
der Halbleitervorrichtung 20A die Montageeffektivität auf
einer Montageplatte verbessert. Dies führt zur Miniaturisie
rung und höheren Effektivität der elektronischen Vorrichtun
gen, die die Halbleitervorrichtungen 10A enthalten.
Des weiteren ist eine Vielzahl von oberen Oberflächen
nuten 28A auf einer oberen Oberfläche 27b der Harzpackung
27A gebildet. Der Klarheit der Beschreibung halber werden
die oberen Oberflächennuten 28A später beschrieben.
Die äußeren Anschlußbeinteile 24b der Anschlüsse 24
sind so konstruiert, um sich außerhalb der Harzpackung 27A
zu erstrecken. Die äußeren Anschlußbeinteile 24b, die sich
außerhalb der Harzpackung 27A erstrecken, sind zweifach
gebogen, um die ersten Anschlußteile 24b-1, die zweiten
Anschlußteile 24b-2 und die dritten Anschlußteile 24b-3 zu
bilden, wie beschrieben werden wird.
Die ersten Anschlußteile 24b-1 sind so gebildet, um von
einer unteren Oberfläche 27a der Harzpackung 27A exponiert
zu sein. Die zweiten Anschlußteile 24b-2 sind so gebildet,
um der oberen Oberfläche 27b der Harzpackung 27A gegenüber
zuliegen. Die dritten Anschlußteile 24b-3 sind vertikal
aufwärts gebildet, um einer Seitenoberfläche 27c der Harz
packung 27A gegenüberzuliegen. Mit anderen Worten, die
äußeren Anschlußbeinteile 24b sind so konstruiert, daß sie
von der unteren Oberfläche 27a zu der oberen Oberfläche 27b
der Harzpackung 27A längs der Form der Harzpackung 17 nach
oben gezogen sind.
Ferner sind die ersten Anschlußteile 24b-1 in der unte
ren Oberfläche 27a der Harzpackung 27A teilweise eingebet
tet, wodurch die Anschlußbeine 24 an der Harzpackung 27A
fixiert sind.
Bei der Halbleitervorrichtung 20A mit der obigen Struk
tur sind die äußeren Anschlußbeinteile 24b längs der Form
der Harzpackung 27A gebogen und zu der Seitenoberfläche 27c
oder zu der oberen Oberfläche 27b der Harzpackung 17A gezo
gen. Dadurch kann die Halbleitervorrichtung 20A sowohl auf
der oberen Oberfläche 27b als auch auf der unteren Oberflä
che 27a elektrisch verbunden werden.
Dann ist es möglich, eine Vielzahl der Halbleitervor
richtungen 20A vertikal zu stapeln, wodurch die Halbleiter
vorrichtungseinheit 50A gebildet wird, die in Fig. 12 ge
zeigt ist. Bei der Halbleitervorrichtungseinheit 50A kann
eine Vielzahl der Halbleitervorrichtungen 20A auf einen
Montagebereich für eine einzelne Halbleitervorrichtung 20A
montiert werden. Deshalb kann die Montageeffektivität der
Halbleitervorrichtung 20A verbessert werden.
Die Halbleitervorrichtungseinheit 50A gemäß der vorlie
genden Ausführungsform ist mit einem Haftagens 31 zwischen
benachbarten oberen und unteren Halbleitervorrichtungen 20A
versehen. Das Haftagens 31 hat ein Wärmeableitungsvermögen.
Auf Grund dieser Struktur entweicht Wärme, die innerhalb
jeder Halbleitervorrichtung 20A erzeugt wird, über das
Haftagens 31 zu der Montageplatte, auf die die Halbleiter
vorrichtungseinheit 50A montiert ist. Deshalb kann die
Wärmeableitungseffektivität in solch einer Struktur, bei der
eine Vielzahl der Halbleitervorrichtungen gestapelt ist,
verbessert werden.
Ferner sind die Halbleitervorrichtungen 20A durch eine
Verbindungskraft von Lot 32 und durch eine Adhäsionskraft
des Haftagens 31 zusammen verbunden, so daß die mechanische
Festigkeit der Halbleitervorrichtungseinheit 50A verbessert
werden kann. Daher bleiben die Halbleitervorrichtungen 20A
selbst dann zusammen verbunden, wenn eine externe Kraft
angewendet wird. Dies kann die Zuverlässigkeit der Halblei
tervorrichtungseinheit 50A verbessern.
Darüber hinaus sind bei der Halbleitervorrichtung 20A
der vorliegenden Ausführungsform die dritten Anschlußteile
24b-3 auf der Seitenoberfläche 27 der Harzpackung 27A vorge
sehen. Deshalb ist es möglich, die Halbleitervorrichtungen
20A horizontal zu stapeln. Daher ist es möglich, die Halb
leitervorrichtungen 20A auf dreidimensionale Weise zu mon
tieren. Dies verbessert die Montagedichte weiter, wodurch
eine weitere Miniaturisierung und höhere Effektivität der
elektronischen Vorrichtungen erreicht werden kann, die die
Halbleitervorrichtung 20A enthalten. In Fig. 6-8 ist die
Halbleitervorrichtung 20A ohne Stufe gezeigt. Jedoch ist die
Halbleitervorrichtung 20A, die in der Halbleitervorrich
tungseinheit 50A genutzt wird, die in Fig. 12 gezeigt ist,
eine Struktur, bei der der Halbleiterchip 21 auf einer Stufe
49A montiert ist.
Jetzt werden die oberen Oberflächennuten 28A eingehend
beschrieben, die auf der oberen Oberfläche 24b der Harz
packung 27A gebildet sind.
Die oberen Oberflächennuten 28A sind so gebildet, um
der vorbestimmten Position der zweiten Anschlußteile 24b-2
auf der oberen Oberfläche 24b der Harzpackung 27A zu ent
sprechen. Die oberen Oberflächennuten 28A sind so konstru
iert, um mit den zweiten Anschlußteilen 24b-2, die einen
Teil der äußeren Anschlußbeine 24b bilden, im Eingriff zu
stehen. Da die zweiten Anschlußteile 24b-2 mit den oberen
Oberflächennuten 28A im Eingriff stehen, sind die zweiten
Anschlußteile 24b-2 somit an der vorbestimmten Position auf
der oberen Oberfläche 24b der Harzpackung 27A positioniert.
Ferner stehen die zweiten Anschlußteile 24b-2 in der
vorliegenden Ausführungsform mit den oberen Oberflächennuten
28A lose im Eingriff. Die zweiten Anschlußteile 24b-2 können
innerhalb der oberen Oberflächennuten 28A etwas versetzt
werden. Die Versetzung der zweiten Anschlußteile 24b-2
sollte innerhalb eines Bereiches liegen, so daß benachbarte
zweite Anschlußteile 24b-2 nicht kurzgeschlossen werden.
Die oberen Oberflächennuten 28A stehen mit den zweiten
Anschlußteilen 24b-2, die ein Teil der äußeren Anschlußbeine
24b sind, im Eingriff, wie oben beschrieben, wodurch sie als
Positionierungsmechanismus dienen. Selbst wenn beim Zusam
menbauen oder Montieren der Halbleitervorrichtung 20A eine
äußere Kraft auf die äußeren Anschlüsse 24b angewendet wird,
wird verhindert, daß die äußeren Anschlußbeinteile 24b
deformiert oder zwischen den benachbarten äußeren Anschluß
beinteilen 24b kurzgeschlossen werden.
Die oberen Oberflächennuten 28A bestimmen die Position
nicht durch den Eingriff mit den gesamten äußeren Anschluß
beinteilen 24b, sondern nur durch den Eingriff mit den
zweiten Anschlußteilen 24b-2 der äußeren Anschlußbeinteile 24b.
Wenn die äußeren Anschlußbeinteile 24b durch den Ein
griff mit den oberen Oberflächennuten 28A an der vorbestimm
ten Position positioniert sind, können die äußeren Anschluß
beinteile 24b innerhalb des Bereiches, in dem eine plasti
sche Deformation oder ein Kurzschluß zwischen den benachbar
ten äußeren Anschlußbeinteilen 24b nicht auftritt, versetzt
oder flexibel deformiert werden.
Selbst wenn ein Unterschied hinsichtlich der Wärmeaus
dehnungsrate zwischen den Anschlußbeinen 24 und der Harz
packung 27A vorhanden ist, kann deshalb eine Spannung, die beim
Erhitzen erzeugt wird, durch das Versetzen oder die Deforma
tion der äußeren Anschlußbeinteile 24b gelöst werden.
Genauer gesagt, da bei der vorliegenden Ausführungsform
die oberen Oberflächennuten 28A nur auf der oberen Oberflä
che 27b der Harzpackung 27A gebildet sind, werden die äuße
ren Anschlußbeinteile 24b nur auf der oberen Oberfläche 27b
der Harzpackung 27A positioniert, und auf der Seitenoberflä
che 27c der Harzpackung 27A sind sie frei. Deshalb wird die
erzeugte Spannung hauptsächlich an den dritten Anschlußtei
len 24b-3 der äußeren Anschlußbeinteile 24b absorbiert, die
der Seitenoberfläche 27c der Harzpackung 27A gegenüberlie
gen. Ferner wird ein Teil der Spannung absorbiert, wenn die
zweiten Anschlußteile 24b-2 auf der oberen Oberfläche 27b
innerhalb der oberen Oberflächennuten 28A versetzt werden.
Mit anderen Worten, wenn die Spannung erzeugt wird,
werden hauptsächlich die dritten Anschlußteile 24b-3 auf der
Seitenoberfläche der Halbleitervorrichtung 20A versetzt oder
deformiert, und die ersten Anschlußteile 24b-1 und die
zweiten Anschlußteile 24b-2 auf der oberen Oberfläche bzw.
auf der unteren Oberfläche werden kaum versetzt oder defor
miert. Daher wird die Bildung von Rissen in der Harzpackung
27A sicher verhindert. Ferner wird bei der Halbleitervor
richtungseinheit 50A verhindert, daß sich das Lot 32, das
Halbleitervorrichtungen 20A verbindet, abschält. Wie aus der
obigen Beschreibung hervorgeht, ist die Struktur der vorlie
genden Ausführungsform besonders effektiv, wenn die Halblei
tervorrichtungen vertikal gestapelt werden.
Ferner positionieren in der vorliegenden Ausführungs
form die oberen Oberflächennuten 28A, die auf der Harz
packung 27A gebildet sind, die äußeren Anschlußbeinteile 24b.
Dadurch können die oberen Oberflächennuten 28A gleichzeitig
mit der Harzpackung 27A gebildet werden. Deshalb ist es
nicht erforderlich, einen neuen Prozeß zum Bilden der oberen
Oberflächennuten 28A vorzusehen, und so werden die oberen
Oberflächennuten 28A leicht gebildet.
Nun wird die Beziehung zwischen der Dicke und der Kon
figuration der äußeren Anschlußbeinteile 24b und der Tiefe
und der Konfiguration der oberen Oberflächennuten 28A be
schrieben.
Bei der vorliegenden Erfindung stehen die zweiten An
schlußteile 24b-2 (die äußeren Anschlußbeinteile 24b) von
der Oberfläche 27b der Harzpackung 27A hervor, wie in Fig. 8
gezeigt. Die ersten Anschlußteile 24b-1 (die äußeren An
schlußbeinteile 24b) stehen auch von der unteren Oberfläche
27a der Harzpackung 27A hervor.
Mit anderen Worten, das Maß des Hervorstehens der er
sten Anschlußteile 24b-1 von der unteren Oberfläche 27a
(gezeigt durch einen Pfeil h1 in Fig. 8) und das Maß des
Hervorstehens der zweiten Anschlußteile 24b-2 von der oberen
Oberfläche 27b (gezeigt durch einen Pfeil h2 in Fig. 8) ist
beide Male positiv (h1<0, h2<0). Deshalb stehen die ersten
Anschlußteile 24b-1 und die zweiten Anschlußteile 24b-2 von
der Harzpackung hervor. Wenn die Halbleitervorrichtungen 20A
vertikal gestapelt werden, um die Halbleitervorrichtungsein
heit 50A zu bilden, werden jeweilige äußere Anschlußbein
teile 24b der oberen und unteren Halbleitervorrichtungen 20A
mit Sicherheit elektrisch verbunden. In der Praxis ist dies
eine elektrische Verbindung zwischen den ersten Anschlußtei
len 24b-1 und den zweiten Anschlußteilen 24b-2.
Die zweiten Anschlußteile 24b-2 sind so gebildet, um
sich in der oberen Oberfläche 27b der Harzpackung 27A im
wesentlichen horizontal zu erstrecken. Somit sind, wenn die
Halbleitervorrichtungen 20A vertikal gestapelt werden, die
Bereiche der Anschlußbeine 24, die miteinander in Kontakt
sind, groß. Deshalb werden die Halbleitervorrichtungen 20A
mit hoher Zuverlässigkeit verbunden. Da die Halbleitervor
richtungen 20A mit hoher Stabilität gestapelt werden, wird
die Stabilität des temporären Befestigens auch verbessert.
Das temporäre Befestigen wird gewöhnlich vor dem eigentli
chen Verbindungsprozeß implementiert und wird später be
schrieben.
Im folgenden wird die zweite Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung beschrieben.
Fig. 9 zeigt eine Halbleitervorrichtung 20B der zweiten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Ferner zeigt
Fig. 13 eine Halbleitervorrichtungseinheit 50B der zweiten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In Fig. 9 und
Fig. 13 sind Komponenten, die dieselben wie jene von Fig.
6-8 und Fig. 12 sind, die verwendet wurden, um die Halblei
tervorrichtung 20A und die Halbleitervorrichtungseinheit 50A
gemäß der ersten Ausführungsform zu beschreiben, mit densel
ben Bezugszeichen versehen, und Erläuterungen werden wegge
lassen.
Die oben beschriebene Halbleitervorrichtung 20A der er
sten Ausführungsform ist so gebildet, daß sich die zweiten
Anschlußteile 24b-2 im wesentlichen horizontal auf der
oberen Oberfläche der Harzpackung 27A erstrecken. Die Halb
leitervorrichtung 20B der vorliegenden Ausführungsform ist
dadurch gekennzeichnet, daß die zweiten Anschlußteile 24b-2
der äußeren Anschlußbeinteile 24b, die auf der oberen Ober
fläche 27b der Harzpackung 27A angeordnet sind, gegen die
obere Oberfläche 27b geneigt sind.
Wie in Fig. 9 gezeigt, ragen Biegungen der äußeren An
schlußbeine 24b oder Winkelteile 26, die an der Grenze
zwischen den zweiten Anschlußteilen 24b-2 und den dritten
Anschlußteilen 24b-3 gebildet sind, über die obere Oberflä
che 27b der Harzpackung 27A hinaus.
Hier wird die Halbleitervorrichtungseinheit 50B, die in
Fig. 13 gezeigt ist, durch vertikales Stapeln der Halblei
tervorrichtungen 20B mit der obigen Struktur gebildet. Dann
werden die Winkelteile 26, die auf der unteren Halbleiter
vorrichtung 20B gebildet sind, die ersten Anschlußteile 24b-1
(die äußeren Anschlußbeine 24b) auf dem Boden der oberen
Halbleitervorrichtung 20B berühren. Das heißt, die Winkel
teile 26, die auf der unteren Halbleitervorrichtung 20B
gebildet sind, sind mit den ersten Anschlußteilen 24b-1 der
oberen Halbleitervorrichtung 20B direkt in Kontakt.
Dadurch wird zwischen den Winkelteilen 26 der unteren
Halbleitervorrichtung 20B und den ersten Anschlußteilen
24b-1 der oberen Halbleitervorrichtung 20B kein Lot vorhan
den sein. Deshalb kann, wenn die Halbleitervorrichtungsein
heit 50B durch Stapeln der Halbleitervorrichtungen 20B
gebildet wird, die Schwankung der Gesamthöhe (angegeben
durch einen Pfeil H1 in Fig. 13) der Halbleitervorrichtungs
einheit 50B reduziert werden.
Dagegen ist bei der Halbleitervorrichtungseinheit 50A
der ersten Ausführungsform Lot 32 zwischen den zweiten
Anschlußteilen 24b-2 der unteren Halbleitervorrichtung 20A
und den ersten Anschlußteilen 24b-1 der oberen Halbleiter
vorrichtung 20A vorhanden. Da die Dicke des Lots 32 mit
Sicherheit schwankt, kann auch die Gesamthöhe der Halblei
tervorrichtungseinheit 50A (angegeben durch einen Pfeil H2
in Fig. 12) schwanken. Deshalb wird durch Einsetzen der
Struktur der vorliegenden Ausführungsform die Gesamthöhe H1
der Halbleitervorrichtungseinheit 50B einheitlich gemacht.
Bei der Struktur der vorliegenden Ausführungsform sind
im wesentlichen dreieckige Räume zwischen den zweiten An
schlußteilen 24b-2 der unteren Halbleitervorrichtung 20B und
den ersten Anschlußteilen 24b-1 der oberen Halbleitervor
richtungen 20B sowohl auf den rechten als auch auf den
linken Seiten von der Position vorhanden, an der die
Winkelteile 26 und die ersten Anschlußteile 24b-1 in Kontakt
sind. Wenn eine Vielzahl der Halbleitervorrichtungen 20B
durch das Lot 32 verbunden wird, wird in diesen Räumen eine
Lötkehlnaht gebildet. Auf Grund dieser vergleichsweise
großen Räume mit einer im wesentlichen dreieckigen Form
können ausreichende Mengen an Lot 32 zwischen die ersten
Anschlußteile 24b-1 und die zweiten Anschlußteile 24b-2
gefüllt werden, um durch Lot verbunden zu werden. Dadurch
kann das Verbindungsvermögen des Lots verbessert werden.
Nun wird die dritte Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung beschrieben.
Fig. 10 zeigt eine Halbleitervorrichtung 20C der drit
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In Fig. 10
sind Komponenten, die dieselben wie jene von Fig. 9 sind,
die verwendet wurden, um die Halbleitervorrichtung 20B gemäß
der zweiten Ausführungsform zu beschreiben, mit denselben
Bezugszeichen versehen, und Erläuterungen werden weggelas
sen.
Wie die Halbleitervorrichtung 20B der zweiten Ausfüh
rungsform ist die Halbleitervorrichtung 20C der vorliegenden
Ausführungsform so konstruiert, daß die zweiten Anschluß
teile 24b-2 der äußeren Anschlußbeinteile 24b gegen die
obere Oberfläche 27b der Harzpackung 27A geneigt sind.
Ferner sind in dieser Ausführungsform die oberen Oberflä
chennuten 28B, mit denen die zweiten Anschlußteile 24b-2 im
Eingriff stehen, gegen die obere Oberfläche 27b der Harz
packung 27A geneigt.
Bei der Halbleitervorrichtung 20C der vorliegenden Aus
führungsform ragen die Winkelteile 26 auch über die obere
Oberfläche 27b der Harzpackung 27A hinaus. Wenn eine Halb
leitervorrichtungseinheit (nicht gezeigt) durch Stapeln der
Halbleitervorrichtungen 20C gebildet wird, kann deshalb die
Schwankung der Gesamthöhe der Halbleitervorrichtungseinheit
reduziert werden. Ferner können ausreichende Mengen an Lot
32 zwischen die ersten Anschlußteile 24b-1 und die zweiten
Anschlußteile 24b-2 gefüllt werden, um durch Lot verbunden
zu werden. Dies kann das Verbindungsvermögen des Lots ver
bessern.
Bei der Halbleitervorrichtung 20C der vorliegenden Aus
führungsform sind die oberen Oberflächennuten 28b gegen die
obere Oberfläche 27b der Harzpackung 27A geneigt. Der Winkel
der Neigung der oberen Oberflächennuten 28B entspricht dem
Winkel der Neigung der zweiten Anschlußteile 24b-2. Somit
können die zweiten Anschlußteile 24b-2 durch Biegen der
äußeren Anschlußbeinteile 24b längs der oberen Oberflächen
nuten 28B gebildet werden, um sich zu neigen.
Demzufolge sind keine separaten Instrumente oder Formen
zum Bilden der zweiten Anschlußteile 24b-2 erforderlich.
Somit können die zweiten Anschlußteile 24b-2, die einen
vorbestimmten Neigungswinkel haben, leicht und kosteneffek
tiv gebildet werden.
Nun wird die vierte Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung beschrieben.
Fig. 11 zeigt eine Halbleitervorrichtung 20D der vier
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In Fig. 11
sind Komponenten, die dieselben wie jene von Fig. 10 sind,
die verwendet wurden, um die Halbleitervorrichtung 20C gemäß
der dritten Ausführungsform zu beschreiben, mit denselben
Bezugszeichen versehen, und Erläuterungen werden weggelas
sen.
Wie die Halbleitervorrichtung 20C der dritten Ausfüh
rungsform ist die Halbleitervorrichtung 20D der vorliegenden
Ausführungsform so konstruiert, daß die zweiten Anschluß
teile 24b-2 und die oberen Oberflächennuten 28B gegen die
obere Oberfläche 27b der Harzpackung 27B geneigt sind.
Ferner ist in der Halbleitervorrichtung 20D der vorliegenden
Ausführungsform ein Haftagens 30 an Teilen, wo die äußeren
Anschlußbeinteile 24b und die oberen Oberflächennuten 28B
einander gegenüberliegen, zum Befestigen der äußeren An
schlußbeinteile 24b an den oberen Oberflächennuten 28B
vorgesehen. In der vorliegenden Ausführungsform ist das
Haftagens 30 an dem vorderen Ende von jedem der zweiten
Anschlußteile 24b-2 vorgesehen.
Daher stehen die vorderen Enden der zweiten Anschluß
teile 24b-2 mit den oberen Oberflächennuten 28B sicher im
Eingriff (sind an ihnen sicher befestigt). Dadurch wird
sicher verhindert, daß die äußeren Anschlußbeinteile 24b
deformiert und kurzgeschlossen werden, wenn Spannung ange
wendet wird.
Im folgenden wird unter Bezugnahme auf Fig. 14-15 ein
Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtungseinheit
beschrieben. Als Beispiel wird ein Verfahren zum vertikalen
Stapeln einer Vielzahl der oben beschriebenen Halbleitervor
richtungen 20B der zweiten Ausführungsform angenommen.
Fig. 14 ist ein Flußdiagramm, das einen grundlegenden
Prozeß zum Herstellen einer Halbleitervorrichtungseinheit
zeigt. Der Prozeß beginnt, wie gezeigt, entweder mit Schritt
10A ("Schritt" ist in der Figur mit "S" abgekürzt) oder mit
Schritt 10B. Bei Schritt 10A erfolgt ein Tauchlöten, und bei
Schritt 10B erfolgt der Lötpastendruck. Durch beide Schritte
wird Lot, das ein Verbindungsmaterial sein wird, an Teilen
vorgesehen, die als Außenverbindungsanschlüsse der Halblei
tervorrichtung dienen.
Nach dem Vorsehen des Verbindungsmaterials wird bei
Schritt 12 das Haftagens, welches ein Harz zum temporären
Befestigen sein wird, auf die untere Oberfläche oder die
obere Oberfläche der Harzpackung der Halbleitervorrichtung
angewendet. Nach dem Vorsehen des Haftgliedes wird bei
Schritt 14 eine Vielzahl der Halbleitervorrichtungen, die
mit Verbindungsmaterial versehen sind, gestapelt. Nach dem
Stapeln erfolgt bei Schritt 16 eine Wärmebehandlung, wie
Warmluft und Infrarotrückfluß, um das Lot zu schmelzen und
die vertikal benachbarten Halbleitervorrichtungen elektrisch
und mechanisch zu verbinden.
So können durch Verbinden der vertikal benachbarten
Halbleitervorrichtungen nach dem Vorsehen von Lot
(Verbindungsmaterial) an Teilen, die als Außenverbindungs
anschlüsse von jeder Halbleitervorrichtung dienen, das
Vorsehen des Verbindungsmaterials und das Verbinden im
Vergleich zu dem Vorsehen des Verbindungsmaterials nach dem
Stapeln der Halbleitervorrichtungen leicht ausgeführt wer
den.
Unter Bezugnahme auf Fig. 15A-15C und Fig. 16A-16C wird
eine Halbleitervorrichtungseinheit eingehend beschrieben.
Fig. 15A-15C zeigen eine Ausführungsform, bei der ein
Löttauchprozeß als Prozeß zum Vorsehen des Verbindungsmate
rials eingesetzt wird. In der vorliegenden Ausführungsform
werden, wie in Fig. 15A gezeigt, die zweiten Anschlußteile
24b-2 mit dem Lot 32 versehen, das als Verbindungsglied
dienen wird, indem die zweiten Anschlußteile 24b-2, die als
Außenverbindungsanschlüsse der Halbleitervorrichtung 20B
dienen, in einen Lotbehälter 33 getaucht werden. Dieser
Löttauchprozeß gestattet das gleichzeitige Vorsehen des Lots
32 an einer Anzahl von Positionen. Deshalb werden die Ver
bindungsmaterialien mit verbesserter Effektivität vorgese
hen.
Fig. 15B zeigt die Schritte zum Vorsehen des Haftglie
des und das Stapeln. Bei dem Schritt zum Vorsehen des Haft
gliedes wird das Haftagens 31 auf der Halbleitervorrichtung
20B vorgesehen. Dieser Schritt zum Vorsehen des Haftgliedes
wird nach dem oben beschriebenen Schritt zum Vorsehen von
Verbindungsmaterial implementiert, und ihm folgt das Sta
peln.
In der vorliegenden Ausführungsform wird das Haftagens
31 auf der unteren Oberfläche 27a der Halbleitervorrichtung
20B vorgesehen. Das Haftagens 31, das bei diesem Schritt zum
Vorsehen des Haftgliedes verwendet wird, besitzt ein Wärme
ableitungsvermögen sowie Klebevermögen.
Nachdem das Haftagens 31 auf der Halbleitervorrichtung
20B vorgesehen ist, wird eine Vielzahl der Halbleitervor
richtungen 20 gestapelt. Auf Grund des Haftagens 31, das auf
jeder Halbleitervorrichtung 20B vorgesehen ist, werden
Halbleitervorrichtungen 20B in gestapelter Weise temporär
befestigt. Deshalb kann eine Vielzahl der Halbleitervorrich
tungen 20B bei dem folgenden Prozeß leicht gehandhabt wer
den.
Dem temporären Befestigen der Halbleiter 20B folgt der
Schritt zum Verbinden von Halbleitervorrichtungen. Bei dem
Schritt zum Verbinden von Halbleitervorrichtungen werden,
wie in Fig. 15C gezeigt, gestapelte Halbleitervorrichtungen
20B einer Wärmebehandlung wie z. B. Warmluft und einem
Infrarotrückfluß ausgesetzt. Als Resultat der Wärmebehand
lung schmilzt das Lot 32, wodurch vertikal benachbarte
Halbleitervorrichtungen 20B elektrisch und mechanisch ver
bunden werden. Die ersten Anschlußteile 24b-1 und die zwei
ten Anschlußteile 24b-2 werden verbunden, und somit ist die
Halbleitervorrichtungseinheit vollendet.
Selbst nachdem die Halbleitervorrichtungseinheit gebil
det ist, ist das Haftagens 31, das bei dem Schritt zum
Vorsehen des Haftgliedes vorgesehen wird, zwischen jeder
Halbleitervorrichtung 20B noch vorhanden. Da das Haftagens
31, wie oben beschrieben, aus wärmeableitendem Material
hergestellt ist, wird Wärme, die innerhalb jeder Halbleiter
vorrichtung 20B erzeugt wird, über das Haftagens 31 zu der
Montageplatte abgeleitet. Durch Vorsehen des Haftagens 31
wird deshalb die Wärmeableitungseffektivität der Halbleiter
vorrichtungseinheit verbessert.
Fig. 16A-16C zeigen eine Ausführungsform' bei der ein
Lötpastendruck als Schritt zum Vorsehen von Verbindungsmate
rial Anwendung findet. In der vorliegenden Ausführungsform
wird die Halbleitervorrichtung 20B zuerst durch Montieren in
eine Schale 34 positioniert, wie in Fig. 16A gezeigt. Dann
wird auf der Oberfläche, auf der die ersten Anschlußteile
24b-1 vorgesehen sind, die als Außenverbindungsanschlüsse
der Halbleitervorrichtung 20B dienen, eine Druckmaske 36
vorgesehen. Die ersten Anschlußteile 24b-1 sind oben posi
tioniert, wenn die Halbleitervorrichtung 20B in die Schale
34 montiert ist.
In der Druckmaske 36 sind Öffnungen an Bereichen gebil
det, die den ersten Anschlußteilen 24b-1 gegenüberliegen.
Durch Drucken von Lötpaste 35 unter Verwendung einer Rakel
(nicht gezeigt) wird die Lötpaste 35 nur auf die ersten
Anschlußteile 24b-1 angewendet, wie gezeigt. Durch das
Drucken von Lötpaste wird das Lot 32 ferner an einer Anzahl
von Positionen gleichzeitig vorgesehen. Deshalb wird der
Schritt zum Vorsehen von Verbindungsmaterial mit verbesser
ter Effektivität implementiert.
Fig. 16B zeigt die Schritte zum Vorsehen des Haftagens
und zum Stapeln der Halbleitervorrichtungen. Bei dem Schritt
zum Vorsehen des Haftagens wird ein bandartiges Haftagens
31A auf der Halbleitervorrichtung 20B vorgesehen. In der
vorliegenden Ausführungsform wird das bandartige Haftagens
31A einfach auf der unteren Oberfläche 27a der Halbleiter
vorrichtung 20B angeordnet. Deshalb kann der Schritt zum
Vorsehen des Haftgliedes leicht ausgeführt werden. Das
bandartige Haftagens 31A besitzt ein Wärmeableitungsvermögen
sowie Klebevermögen.
Eine Vielzahl der Halbleitervorrichtungen wird gesta
pelt, nachdem das bandartige Haftagens 31A auf der Halblei
tervorrichtung 20B vorgesehen ist. Da das bandartige Haft
agens 31A auf jeder der Halbleitervorrichtungen 20B vorgese
hen wird, werden die Halbleitervorrichtungen 20B auf gesta
pelte Weise temporär befestigt. Gemäß der vorliegenden
Ausführungsform können deshalb gestapelte Halbleitervorrich
tungen 20B bei dem folgenden Prozeß leicht gehandhabt wer
den.
Nach dem temporären Befestigen der Halbleitervorrich
tungen 20B wird der Schritt zum Verbinden von Halbleitern
implementiert. Da die verbleibenden Schritte dieselben sind,
wie sie unter Bezugnahme auf Fig. 15A-15C beschrieben wur
den, wird die Beschreibung weggelassen.
Nun wird eine Halbleitervorrichtung 20E der fünften
Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung beschrie
ben.
Fig. 17-19 zeigen die Halbleitervorrichtung 20E der
fünften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Fig. 17,
Fig. 18 und Fig. 19 sind eine perspektivische Ansicht, ein
Querschnittsdiagramm bzw. eine vergrößerte Detailansicht der
Halbleitervorrichtung 20E. Ferner zeigt Fig. 21 eine Halb
leitervorrichtungseinheit 50C der dritten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung. Die Halbleitervorrichtungsein
heit 50C ist so konstruiert, daß eine Vielzahl der Halblei
tervorrichtungen 20E (zum Beispiel drei Halbleitervorrich
tungen in Fig. 21) der fünften Ausführungsform vertikal
gestapelt wird.
In Fig. 17-19 und Fig. 21 sind Komponenten, die diesel
ben wie jene von Fig. 6-8 und Fig. 12 sind, die verwendet
wurden, um die Halbleitervorrichtung 20A und die Halbleiter
vorrichtungseinheit 50A gemäß der ersten Ausführungsform zu
beschreiben, mit denselben Bezugszeichen versehen, und
Erläuterungen werden weggelassen.
Zuerst wird die Struktur der Halbleitervorrichtung 20E
beschrieben. Bei der Halbleitervorrichtung 20A gemäß der
ersten Ausführungsform sind nur die oberen Oberflächennuten
28A auf der Harzpackung 27C gebildet. Dagegen sind bei der
Halbleitervorrichtung 20E der vorliegenden Ausführungsform
sowohl die oberen Oberflächennuten 28A als auch Seitenober
flächennuten 29 auf der Harzpackung 27C gebildet.
Auf ähnliche Weise wie bei der Halbleitervorrichtung
20A gemäß der ersten Ausführungsform sind die oberen Ober
flächennuten 28A, die gemäß der vorliegenden Ausführungsform
auf der Halbleitervorrichtung 20E vorgesehen sind, gebildet,
um den vorbestimmten Positionen der zweiten Anschlußteile
24b-2 auf der oberen Oberfläche 24b der Harzpackung 27C zu
entsprechen. Die oberen Oberflächennuten 28A sind so kon
struiert, um mit den zweiten Anschlußteilen 24b-2, die Teile
der äußeren Anschlußbeinteile 24b bilden, im Eingriff zu
stehen. Da die zweiten Anschlußteile 24b-2 mit den oberen
Oberflächennuten 28A im Eingriff stehen, werden demzufolge
die zweiten Anschlußteile 24b-2 an ihrer vorbestimmten
Position auf der oberen Oberfläche 24b der Harzpackung 27C
positioniert.
Die Seitenoberflächennuten 29 sind so gebildet, um der
vorbestimmten Position der dritten Anschlußteile 24b-3 auf
der Seitenoberfläche 24c der Harzpackung 27C zu entsprechen.
Die Seitenoberflächennuten 29 sind so konstruiert, um mit
den dritten Anschlußteilen 24b-3, die Teile der äußeren
Anschlußbeinteile 24b bilden, im Eingriff zu stehen. Da die
dritten Anschlußteile 24b-3 mit den Seitenoberflächennuten
29 im Eingriff stehen, werden demzufolge die dritten An
schlußteile 24b-3 an ihrer vorbestimmten Position auf der
Seitenoberfläche 24c der Harzpackung 27C positioniert.
Ferner stehen in der vorliegenden Ausführungsform die
zweiten und die dritten Anschlußteile 24b-2 und 24b-3 lose
mit den oberen Oberflächennuten 28A bzw. den Seitenoberflä
chennuten im Eingriff. Dadurch können die zweiten und die
dritten Anschlußteile 24b-2 und 24b-3 innerhalb der oberen
Oberflächennuten 28A und der Seitenoberflächennuten 29 etwas
versetzt werden. Die Versetzung der zweiten und dritten
Anschlußteile 24b-2 und 24b-3 sollte innerhalb des Bereiches
liegen, in dem benachbarte zweite und dritte Anschlußteile
24b-2 und 24b-3 nicht kurzgeschlossen werden.
Die oberen Oberflächennuten 28A stehen mit den zweiten
Anschlußteilen 24b-2 im Eingriff, wie oben beschrieben, die
Teile der äußeren Anschlußbeine 24b sind, und die Sei
tenoberflächennuten 29 stehen mit den dritten Anschlußteilen 24b-3
im Eingriff, die Teile der äußeren Anschlußbeine 24b
sind. Somit dienen die oberen Oberflächennuten 28A und die
Seitenoberflächennuten 29 als Positionierungsmechanismus. In
dem Fall, wenn beim Zusammenbauen oder Montieren der Halb
leitervorrichtung 20E eine äußere Kraft auf die äußeren
Anschlußbeine 24b angewendet wird, wird deshalb verhindert,
daß die äußeren Anschlußbeinteile 24b deformiert oder zwi
schen den benachbarten äußeren Anschlußbeinteilen 24b kurz
geschlossen werden.
Da bei der Halbleitervorrichtung 20E der vorliegenden
Ausführungsform auch die dritten Anschlußteile 24b-3, ebenso
wie die zweiten Anschlußteile 24b-2, mit den Seitenoberflä
chennuten 29 im Eingriff stehen, wird im besonderen verhin
dert, daß die dritten Anschlußteile 24b-3 deformiert oder
kurzgeschlossen werden.
Die zweiten und die dritten Anschlußteile 24b-2 und
24b-3 stehen mit den oberen Oberflächennuten 28A bzw. den
Seitenoberflächennuten 29 lose im Eingriff und sind nicht in
die oberen Oberflächennuten 28A und die Seitenoberflächen
nuten 29 eingebettet oder eingepaßt. Wenn die zweiten und
die dritten Anschlußteile 24b-2 und 24b-3 an der vorbestimm
ten Position positioniert sind, indem sie mit den oberen
Oberflächennuten 28A und den Seitenoberflächennuten 29 im
Eingriff stehen, können die zweiten und die dritten An
schlußteile 24b-2 und 24b-3 versetzt oder flexibel defor
miert werden. Die Versetzung und die flexible Deformation
sind innerhalb des Bereiches begrenzt, in dem keine plasti
sche Deformation oder kein Kurzschluß zwischen den benach
barten äußeren Anschlußbeinteilen 24b auftreten wird.
Selbst wenn ein Unterschied hinsichtlich der Rate der
Wärmeausdehnung zwischen den Anschlußbeinen 24 und der
Harzpackung 27A vorhanden ist und auf Grund des Unterschie
des hinsichtlich der Rate der Wärmeausdehnung beim Erhitzen
eine Spannung erzeugt wird, kann deshalb die erzeugte Span
nung durch das Versetzen oder Deformieren der äußeren An
schlußbeinteile 24b gelöst werden.
Bei der Halbleitervorrichtung 20E gemäß der vorliegen
den Ausführungsform sind die Versetzung und die Deformation
der äußeren Anschlußbeinteile 24b im Vergleich zu denen der
Halbleitervorrichtung 20A der ersten Ausführungsform be
grenzt, da die dritten Anschlußteile 24b-3 mit den Seiten
oberflächennuten 29 im Eingriff stehen. Wenn der Halbleiter
chip 21 mit hoher Dichte montiert wird, nimmt die Anzahl der
äußeren Anschlußbeinteile 24b zu. Dies führt dazu, daß die
Breite und die Dicke der äußeren Anschlußbeinteile 24b
reduziert werden. In diesem Fall wird die mechanische Fe
stigkeit der äußeren Anschlußbeinteile 24b reduziert, wo
durch verursacht wird, daß die äußeren Anschlußbeinteile 24b
zum Beispiel durch eine äußere Kraft leicht deformiert
werden.
Selbst in dem obigen Fall wird bei der Halbleitervor
richtung 20E der vorliegenden Ausführungsform sicher verhin
dert, daß die äußeren Anschlußbeinteile 24b deformiert oder
kurzgeschlossen werden, da die zweiten und die dritten
Anschlußteile 24b-2 und 24b-3 mit den oberen Oberflächen
nuten 28A und den Seitenoberflächennuten 29 im Eingriff
stehen. Da die zweiten und die dritten Anschlußteile 24b-2
und 24b-3 mit den oberen Oberflächennuten 28A bzw. den
Seitenoberflächennuten 29 lose im Eingriff stehen, wie oben
beschrieben, wird ferner die Spannung, die beim Erhitzen
erzeugt wird, sicher absorbiert oder gelöst. Deshalb wird
eine Rißbildung der Harzpackung 27C verhindert. Wenn die
Halbleitervorrichtungseinheit 50C unter Verwendung der
Halbleitervorrichtungen 20E der fünften Ausführungsform
hergestellt wird, wie in Fig. 21 gezeigt, wird deshalb
verhindert, daß sich das Lot 32 an den Verbindungsteilen
abschält.
Die oberen Oberflächennuten 28A und die Seitenoberflä
chennuten 29 können bei dem Schritt zum Bilden der Harz
packung 27C gleichzeitig gebildet werden. Deshalb werden die
oberen Oberflächennuten 28A und die Seitenoberflächennuten
29 leicht gebildet.
Im folgenden wird die Beziehung zwischen der Dicke und
Konfiguration der äußeren Anschlußbeinteile 24b und der
Tiefe und Konfiguration der oberen Oberflächennuten 28A und
der Seitenoberflächennuten 29 beschrieben.
In der vorliegenden Ausführungsform sind die ersten An
schlußteile 24b-1 (die äußeren Anschlußbeinteile 24b) so
gebildet, um von der unteren Oberfläche 27a der Harzpackung
27C hervorzustehen, wie in Fig. 8 gezeigt. Die zweiten
Anschlußteile 24b-2 sind so gebildet, um von der oberen
Oberfläche 27b der Harzpackung 27C hervorzustehen, wenn sie
mit den oberen Oberflächennuten 28A im Eingriff sind. Ferner
sind die dritten Anschlußteile 24b-3 so gebildet, um von der
Seitenoberfläche 27c der Harzpackung 27C hervorzustehen,
wenn sie mit den Seitenoberflächennuten 29 im Eingriff sind.
Das heißt, das Maß des Hervorstehens der ersten An
schlußteile 24b-1 von der unteren Oberfläche 27a, angegeben
durch einen Pfeil h1 in Fig. 8, das Maß des Hervorstehens
der zweiten Anschlußteile 24b-2 von der oberen Oberfläche
27b, angegeben durch einen Pfeil h2 in Fig. 8, und das Maß
des Hervorstehens der dritten Anschlußteile 24b-3 von der
Seitenoberfläche 27c, angegeben durch einen Pfeil h3 in Fig.
19, besitzen alle positive Werte (h1<0, h2<0, h3<0).
Durch Einsatz der obigen Struktur stehen die ersten,
die zweiten und die dritten Anschlußteile 24b-1, 24b-2 und
24b-3 von der Harzpackung 27A hervor. Wenn die Halbleiter
vorrichtungseinheit durch vertikales und horizontales Sta
peln der Halbleitervorrichtungen 20E gebildet wird, wird
deshalb die elektrische Verbindung zwischen jedem der äuße
ren Anschlußbeinteile 24b der vertikal und horizontal be
nachbarten Halbleitervorrichtungen 20E gewährleistet. Die
Halbleitervorrichtungseinheit 50C, die in Fig. 21 gezeigt
ist, hat solch eine Struktur, daß die Halbleitervorrichtun
gen 20E vertikal gestapelt sind.
Nun wird eine Halbleitervorrichtung 20F gemäß der sech
sten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.
Fig. 20 ist ein Querschnittsdiagramm einer Halbleiter
vorrichtung 20F der sechsten Ausführungsform der vorliegen
den Erfindung. In Fig. 20 sind Komponenten, die dieselben
wie jene von Fig. 17-19 sind, die verwendet wurden, um die
Halbleitervorrichtung 20E gemäß der fünften Ausführungsform
zu beschreiben, mit denselben Bezugszeichen versehen, und
Erläuterungen werden weggelassen.
Bei der oben beschriebenen Halbleitervorrichtung 20E
gemäß der fünften Ausführungsform sind sowohl die oberen
Oberflächennuten 28A als auch die Seitenoberflächennuten 29
auf der Harzpackung 27C gebildet. Dagegen sind bei der
Halbleitervorrichtung 20F gemäß der vorliegenden Ausfüh
rungsform nur die Seitenoberflächennuten 29 auf einer Harz
packung 27D gebildet.
Da nur die Seitenoberflächennuten 29 auf der Harz
packung 27D gebildet sind, werden die äußeren Anschlußbeinteile
24b nur auf der Seitenoberfläche 27c der Harzpackung 27D
positioniert, und auf der oberen Oberfläche 27b der Harz
packung 27D sind sie frei. Deshalb wird die Spannung, die beim
Erhitzen erzeugt wird, hauptsächlich durch das Versetzen und
die Deformation der zweiten Anschlußteile 24b-2 der äußeren
Anschlußbeinteile 24b absorbiert.
Das heißt, wenn die Spannung erzeugt wird, werden
hauptsächlich die zweiten Anschlußteile 24b-2 versetzt oder
deformiert, so daß die Position der dritten Anschlußteile
24b-3, die auf der Seitenoberfläche 27c angeordnet sind,
begrenzt ist. Dies sichert, daß die Halbleitervorrichtungen
20F sicher verbunden werden, wenn die Halbleitervorrichtun
gen horizontal gestapelt werden.
Nun wird eine Halbleitervorrichtung 20G gemäß der sieb
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.
Fig. 22 ist ein Querschnittsdiagramm einer Halbleiter
vorrichtung 20G der siebten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung. In Fig. 22 sind Komponenten, die dieselben wie
jene von Fig. 6-8 sind, die verwendet wurden, um die Halb
leitervorrichtung 20A gemäß der ersten Ausführungsform zu
beschreiben, mit denselben Bezugszeichen versehen, und
Erläuterungen werden weggelassen.
Bei den Halbleitervorrichtungen 20A-20F gemäß jeder
oben beschriebenen Ausführungsform werden die äußeren An
schlußbeinteile 24b positioniert, indem Teile der äußeren
Anschlußbeinteile 24b mit den oberen Oberflächennuten 28A,
28B oder den Seitenoberflächennuten 29 im Eingriff stehen.
Dagegen sind bei der Halbleitervorrichtung 20G gemäß
der vorliegenden Ausführungsform Eingreifglieder 37A (erste
Eingreifteile) an den äußeren Anschlußbeinteilen 24b gebil
det, und Eingreifvertiefungen 38A (zweite Eingreifteile)
sind auf einer Harzpackung 27E gebildet. Die Eingreifglieder
37A stehen mit den Eingreifvertiefungen 38A im Eingriff, so
daß die äußeren Anschlußbeinteile 24b positioniert werden.
Mit anderen Worten, die Eingreifglieder 37A und die Ein
greifvertiefungen 38A kooperieren, um einen Positionierungs
mechanismus zu bilden.
Die Eingreifglieder 37A sind aus Harzmaterial, das auch
verwendet wird, um die Harzpackung 27E zu bilden. Die Ein
greifglieder 37A sind an den äußeren Anschlußbeinteilen 24b
befestigt. Die Eingreifglieder 37A können an jedem der
äußeren Anschlußbeinteile 24b individuell vorgesehen werden,
oder vorgesehen werden, um zwischen einer Vielzahl der
äußeren Anschlußbeinteile 24b zusammenzuhängen. In der
vorliegenden Ausführungsform sind die Eingreifglieder 37A an
den zweiten Anschlußteilen 24b-2 der äußeren Anschlußbein
teile 24b gebildet. Ferner sind die Eingreifvertiefungen 38A
auf der Harzpackung 27E an der Position gebildet, die den
Eingreifgliedern 37A gegenüberliegt, wenn die äußeren An
schlußbeinteile 24b gebogen sind.
Damit die äußeren Anschlußbeinteile 24b mit der Harz
packung 27E im Eingriff stehen, werden bei der oben be
schriebenen Struktur die Eingreifglieder 37A mit den Ein
greifvertiefungen 38A beim Biegen der äußeren Anschlußbein
teile 24b in Eingriff gebracht. Deshalb wird verhindert, daß
die äußeren Anschlußbeinteile 24b deformiert oder kurzge
schlossen werden.
Fig. 23 zeigt ein Verfahren zum Herstellen der oben be
schriebenen Halbleitervorrichtung 20G der siebten Ausfüh
rungsform, und im besonderen einen Schritt zum Verkapseln
eines Harzes, das die Harzpackung 27E bildet. Wenn die
Harzpackung 27E gebildet wird, wie in Fig. 23 gezeigt,
werden der Halbleiterchip 21 und die Anschlußbeine 24 in
eine Form 40 eingesetzt, die eine obere Form 40a und eine
untere Form 40b enthält. Der Halbleiterchip 21 wird inner
halb eines Hohlraumes 43 angeordnet, der durch die obere
Form 40a und die untere Form 40b gebildet wird, und die
äußeren Anschlußbeinteile 24b werden zwischen der oberen
Form 40a und der unteren Form 40b gehalten.
Ferner sind in dem Hohlraum 43, der in der oberen Form
40a gebildet ist, Vorsprünge 41 gebildet. Die Vorsprünge 41
sind so positioniert, um der vorbestimmten Position der
Eingreifvertiefungen 38A zu entsprechen. Ferner sind Vertie
fungen 42 an einer Position in der oberen Form 40a gebildet,
die der Position von Eingreifgliedern 37A an den äußeren
Anschlußbeinteilen 24b entspricht.
Ferner stehen die Vertiefungen 42 mit dem Hohlraum 43
in Verbindung, und das Harz, das in den Hohlraum 43 gefüllt
wird, wird auch in den Vertiefungen 42 vorgesehen. Somit
werden auch die Eingreifglieder 37A aus demselben Material
wie die Harzpackung 27E gebildet.
Wie aus der obigen Beschreibung hervorgeht, werden
durch Bilden der Harzpackung 27E unter Verwendung der Form
40 die Eingreifglieder 37A und die Eingreifvertiefungen 38A
mit der Form 40 gleichzeitig gebildet. Deshalb wird die
Halbleitervorrichtung 20G im Vergleich zu einem Herstel
lungsverfahren, bei dem die Eingreifglieder 37A und die
Eingreifvertiefungen 38A separat gebildet werden, leicht und
kosteneffektiv hergestellt.
Nun wird eine Halbleitervorrichtung 20H gemäß der ach
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.
Fig. 24 ist ein Querschnittsdiagramm einer Halbleiter
vorrichtung 20H der achten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung. In Fig. 24 sind Komponenten, die dieselben wie
jene von Fig. 22 sind, die verwendet wurden, um die Halblei
tervorrichtung 20G gemäß der siebten Ausführungsform zu
beschreiben, mit denselben Bezugszeichen versehen, und
Erläuterungen werden weggelassen.
Bei der oben beschriebenen Halbleitervorrichtung 20G
gemäß der siebten Ausführungsform sind die Eingreifglieder
37A an den zweiten Anschlußteilen 24b-2 gebildet, und die
Eingreifvertiefungen 38A sind auf der oberen Oberfläche 27b
der Harzpackung 27E gebildet. Somit greifen die äußeren
Anschlußbeinteile 24b in die Harzpackung 27E auf der oberen
Oberfläche 27b der Harzpackung 27E ein, indem die Eingreif
glieder 37A mit den Eingreifvertiefungen 38A in Eingriff
gebracht werden.
Wenn bei der obigen Struktur die äußere Kraft und die
Spannung angewendet werden, werden sie hauptsächlich an den
dritten Anschlußteilen 24b-3 der äußeren Anschlußbeinteile
24b absorbiert. Dies ist darauf zurückzuführen, daß die
dritten Anschlußteile 24b-3 im Vergleich zu den zweiten
Anschlußteilen 24b-2 leicht deformiert werden.
Dagegen sind bei der Halbleitervorrichtung 20H gemäß
der vorliegenden Ausführungsform Eingreifglieder 37B an den
dritten Anschlußteilen 24b-3 gebildet, während Eingreifver
tiefungen 38B auf der Seitenoberfläche 27c einer Harzpackung
27F gebildet sind.
Somit stehen die äußeren Anschlußbeine 24b mit der
Harzpackung 27F auf der Seitenoberfläche 27c im Eingriff,
wenn die Eingreifglieder 37B in die Eingreifvertiefungen 38
eingreifen. Wenn bei der Halbleitervorrichtung 20H der
vorliegenden Ausführungsform die äußere Kraft und die Span
nung angewendet werden, werden sie deshalb hauptsächlich an
den zweiten Anschlußteilen 24b-2 der äußeren Anschlußbein
teile 24b absorbiert. Das ist darauf zurückzuführen, daß die
zweiten Anschlußteile 24b-2 im Vergleich zu den dritten
Anschlußteilen 24b-3 leicht deformiert werden. Die Positio
nen der Eingreifglieder 37A, 37B und der Eingreifvertiefun
gen 38A, 38B sind nicht auf eine spezifische Position auf
den Harzpackungen 27E, 27F begrenzt, sondern können selek
tiert werden, um den Positionen zu entsprechen, an denen
wahrscheinlich eine äußere Kraft angewendet wird und eine
thermische Spannung erzeugt wird.
Nun wird eine Halbleitervorrichtung 20I gemäß der neun
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.
Fig. 25 ist ein Querschnittsdiagramm einer Halbleiter
vorrichtung 20I gemäß der neunten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung. In Fig. 25 sind Komponenten, die die
selben wie jene von Fig. 22 sind, die verwendet wurden, um
die Halbleitervorrichtung 20G gemäß der siebten Ausführungs
form zu beschreiben, mit denselben Bezugszeichen versehen,
und Erläuterungen werden weggelassen.
Bei der oben beschriebenen Halbleitervorrichtung 20G
und 20H gemäß den siebten und achten Ausführungsformen
werden Teile der äußeren Anschlußbeine 24b auf den Harz
packungen 27E, 27F nur durch das Eingreifen der Eingreifglieder
37A, 37B in die Eingreifvertiefungen 38A, 38B positioniert.
Dagegen sind bei der vorliegenden Ausführungsform Ein
greifglieder 37C an einem vorderen Ende von jedem der zwei
ten Anschlußteile 24b-2 gebildet. Breite Eingreifvertiefun
gen 38C sind auf der oberen Oberfläche 27b der Harzpackung
27B gebildet, und Stufen sind auf beiden Seiten der Ein
greifvertiefungen 38C gebildet. Die Eingreifglieder 37C, die
an den vorderen Enden der zweiten Anschlußteile 24b-2 vorge
sehen sind, sind so konstruiert, um mit den Stufen der
Eingreifvertiefungen 38C im Eingriff zu stehen.Die Anschlußbeine 24, die bei der vorliegenden Ausfüh
rungsform verwendet werden, sind aus einem federartigen,
leitfähigen Material. Wenn ferner die Eingreifglieder 37C
mit der Stufe der Eingreifvertiefungen 38C im Eingriff
stehen, sind die zweiten Anschlußteile 24b-2 so gebildet, um
eine elastische Kraft in der Richtung eines Pfeils X in Fig.
25 auszuüben. Diese Struktur gestattet es, daß die zweiten
Anschlußteile 24b-2 auf einer Harzpackung 27G ohne Verwen
dung des Haftagens 30 wie bei der oben beschriebenen Halb
leitervorrichtung 20D gemäß der vierten Ausführungsform
(siehe Fig. 11) positioniert werden.Nun wird eine Halbleitervorrichtung 20J gemäß der zehn
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.Fig. 26 ist eine perspektivische Ansicht einer Halblei
tervorrichtung 20J der zehnten Ausführungsform der vorlie
genden Erfindung. In Fig. 26 sind Komponenten, die dieselben
wie jene von Fig. 6-8 sind, die verwendet wurden, um die
Halbleitervorrichtung 20A gemäß der ersten Ausführungsform
zu beschreiben, mit denselben Bezugszeichen versehen, und
Erläuterungen werden weggelassen.Bei der oben beschriebenen Halbleitervorrichtung 20A
gemäß der ersten Ausführungsform ist eine Vielzahl der
oberen Oberflächennuten 28A auf der oberen Oberfläche 27b
der Harzpackung 27A gebildet. Die Struktur ist so, daß die
äußeren Anschlußbeinteile 24b positioniert werden, indem die
zweiten Anschlußteile 24b-2 in die oberen Oberflächennuten
28A eingreifen.Dagegen sind bei der Halbleitervorrichtung 20J gemäß
der vorliegenden Ausführungsform anstelle der oberen Ober
flächennuten 28A Vorsprünge 44 an vier Ecken einer Harz
packung 27H gebildet. Die Höhe der Vorsprünge 44 ist höher als
die obere Oberfläche 27b der Harzpackung 27H und niedriger
als die Dicke der zweiten Anschlußteile 24b-2 (äußere An
schlußbeinteile 24b).Deshalb werden periphere Teile (vier Ecken der Periphe
rie) des Bereiches, wo die äußeren Anschlußbeinteile vorge
sehen sind, durch die Vorsprünge 44 geschützt. Wenn somit
eine äußere Kraft auf der Seitenoberfläche (äußere Kraft der
Seitenoberfläche) angewendet wird, kann die äußere Kraft der
Seitenoberfläche durch die Vorsprünge 44 aufgenommen werden.
Deshalb werden die äußeren Anschlußbeinteile 24b die äußere
Kraft der Seitenoberfläche nicht aufnehmen, und es kann
verhindert werden, daß sie deformiert oder kurzgeschlossen
werden.Durch den Einsatz der Struktur der vorliegenden Ausfüh
rungsform ist es nicht erforderlich, Komponenten wie z. B.
Nuten zu bilden, die jedem der äußeren Anschlußbeinteile 24b
entsprechen, wie es bei einer Halbleitervorrichtung gemäß
jeder der oben beschriebenen Ausführungsformen notwendig
war. Deshalb kann die Halbleitervorrichtung der vorliegenden
Ausführungsform selbst in dem Fall eingesetzt werden, wenn
die Halbleiterchips 21 mit hoher Dichte montiert werden und
eine Anzahl der Anschlußbeine 24 zunimmt, wodurch die An
schlußbeinteilung eingeengt wird.Nun werden eine Halbleitervorrichtung 20K gemäß der
elften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und eine
Halbleitervorrichtungseinheit 50D gemäß der vierten Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.Fig. 27 ist ein Querschnittsdiagramm einer Halbleiter
vorrichtung 20K der elften Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung, und Fig. 28 ist ein Querschnittsdiagramm einer
Halbleitervorrichtungseinheit 50D der vierten Ausführungs
form der vorliegenden Erfindung. In Fig. 27 und Fig. 28 sind
Komponenten, die dieselben wie jene von Fig. 6-8 und Fig. 12
sind, die verwendet wurden, um die Halbleitervorrichtung 20A
und die Halbleitervorrichtungseinheit 50A gemäß der ersten
Ausführungsform zu beschreiben, mit denselben Bezugszeichen
versehen, und Erläuterungen werden weggelassen.Die oben beschriebene Halbleitervorrichtung 20A ist so
auf die Montageplatte montiert, daß die Harzpackung 27A
horizontal ist, oder die ersten Anschlußteile 24b-1 sind als
Außenverbindungsanschlüsse mit der Montageplatte verbunden.Bei dieser Struktur ist jedoch ein Montagebereich der
Halbleitervorrichtung 20A vergleichsweise groß. Deshalb ist
die Halbleitervorrichtung 20K gemäß der vorliegenden Ausfüh
rungsform auf die Montageplatte 45 montiert, um auf ihrer
Seitenoberfläche zu stehen.Deshalb sind die Anschlußbeine 24, die als Außenverbin
dungsanschlüsse dienen, alle auf einer einzelnen Seitenober
fläche der Harzpackung 27A vorgesehen (auf der Oberfläche,
die der Montageplatte 45 in Fig. 27 gegenüberliegt). Auf der
Seitenoberfläche, die der Seitenoberfläche gegenüberliegt,
auf der die Anschlußbeine vorgesehen sind, ist eine Wärme
ableitungsplatte 46A vorgesehen, die die Wärme ableitet, die
in dem Halbleiterchip 21 erzeugt wird.Die Halbleitervorrichtung 20K mit der obigen Struktur
wird, wie in Fig. 27 gezeigt, auf die Montageplatte 45
montiert, indem die dritten Anschlußteile 24b-3 mit der
Montageoberfläche 45 unter Verwendung von Lot 47 verbunden
werden. Daher kann die Halbleitervorrichtung 20K auf die
Montageplatte 45 montiert werden, um auf ihrer Seitenober
fläche zu stehen, und der Raum, der zur Montage erforderlich
ist, wird somit reduziert.Ferner ist bei der Halbleitervorrichtung 20K der vor
liegenden Ausführungsform eine Stufe 49B, auf die der Halb
leiterchip 21 montiert ist, von der Harzpackung 27A expo
niert. Deshalb wird die Wärme, die in dem Halbleiterchip 21
erzeugt wird, von der Stufe 49B sowie von der oben beschrie
benen Wärmeableitungsplatte 46A abgeleitet, und die Wärme
wird effektiver abgeleitet.
Die Halbleitervorrichtungseinheit 50D, die in Fig. 28
gezeigt ist, kann durch horizontales Stapeln der Halbleiter
vorrichtungen 20K mit der obigen Struktur gebildet werden.
Die Halbleitervorrichtung 20K, die am weitesten links ange
ordnet ist, ist mit der Montageplatte 45 unter Verwendung
von Lot 47 an den dritten Anschlußteilen 24b-3 verbunden.
Andere Halbleitervorrichtungen 20K werden gestapelt, indem
die benachbarten ersten Anschlußteile 24b-1 und die zweiten
Anschlußteile 24b-2 unter Verwendung von Lot 47 verbunden
werden.Bei der Halbleitervorrichtungseinheit 50D gemäß der
vorliegenden Ausführungsform ist jede Halbleitervorrichtung
20K so montiert, um auf ihrer Seitenoberfläche und dicht bei
dem benachbarten Halbleiter 20K zu stehen. Ein Raum, der für
eine einzelne Halbleitereinheit 20K erforderlich ist, wird
reduziert, und die Montagedichte wird verbessert.Nun werden eine Halbleitervorrichtung 20L gemäß der
zwölften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und eine
Halbleitervorrichtungseinheit 50E gemäß der fünften Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.Fig. 29 ist ein Querschnittsdiagramm einer Halbleiter
vorrichtung 20L der zwölften Ausführungsform der vorliegen
den Erfindung, und Fig. 30 ist ein Querschnittsdiagramm
einer Halbleitervorrichtungseinheit 50E der fünften Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung. In Fig. 29 und Fig. 30
sind Komponenten, die dieselben wie jene von Fig. 17-19 und
Fig. 21 sind, die verwendet wurden, um die Halbleitervor
richtung 20E und die Halbleitervorrichtungseinheit 50C gemäß
der dritten Ausführungsform zu beschreiben, mit denselben
Bezugszeichen versehen, und Erläuterungen werden weggelas
sen.Die oben beschriebene Halbleitervorrichtung 20E ist so
auf die Montageplatte montiert, daß die Harzpackung 27C
horizontal ist, oder die ersten Anschlußteile 24b-1 sind als
Außenverbindungsanschlüsse mit der Montageplatte verbunden.
Dagegen ist die Halbleitervorrichtung 20L gemäß der vorlie
genden Ausführungsform so auf die Montageplatte 45 montiert,
um auf ihrer Seitenoberfläche zu stehen.Deshalb sind Anschlußbeine 48, die als Außenverbin
dungsanschlüsse dienen, alle auf einer einzelnen Seitenober
fläche der Harzpackung 27C vorgesehen (auf der Oberfläche,
die der Montageplatte 45 in Fig. 29 gegenüberliegt). Auf der
Seitenoberfläche, die der Seitenoberfläche gegenüberliegt,
auf der die Anschlußbeine 48 vorgesehen sind, ist eine
Wärmeableitungsplatte 46B vorgesehen, die die Wärme ablei
tet, die in dem Halbleiterchip 21 erzeugt wird.Ferner sind auf der Halbleitervorrichtung 20L keine
zweiten Anschlußteile 24b-2 vorgesehen, wie sie bei jeder
der oben beschriebenen Ausführungsformen vorgesehen waren.
Deshalb enthalten äußere Anschlußbeinteile 48b die ersten
Anschlußteile 48b-1, die auf der unteren Oberfläche der
Harzpackung 27A vorgesehen sind, und zweite Anschlußteile
48b-2, die auf der Seitenoberfläche 27c der Harzpackung 27A
vorgesehen sind.Die Halbleitervorrichtung 20L mit der obigen Struktur
wird, wie in Fig. 29 gezeigt, auf die Montageplatte 45
montiert, indem die zweiten Anschlußteile 48b-2 mit der
Montageoberfläche 45 unter Verwendung von Lot 47 verbunden
werden. Daher kann die Halbleitervorrichtung 20L auf die
Montageplatte 45 montiert sein, um auf ihrer Seitenoberflä
che zu stehen, und der Platz, der zur Montage erforderlich
ist, wird somit reduziert.Die in Fig. 30 gezeigte Halbleitervorrichtungseinheit
50E kann durch horizontales Stapeln der Halbleitervorrich
tungen 20L mit der obigen Struktur gebildet werden. Jede
Halbleitervorrichtung 20L wird mit der Montageplatte 45
unter Verwendung von Lot 47 an den zweiten Anschlußteilen
48b-2 verbunden.Bei der Halbleitervorrichtungseinheit 50E gemäß der
vorliegenden Ausführungsform ist jede Halbleitervorrichtung 20L
so montiert, um auf ihrer Seitenoberfläche und dicht bei
dem benachbarten Halbleiter 20L zu stehen. Ein Raum, der für
eine einzelne Halbleitereinheit 20L erforderlich ist, wird
reduziert, und die Montagedichte wird verbessert.Ferner ist die vorliegende Erfindung nicht auf diese
Ausführungsformen begrenzt, sondern Veränderungen und Ab
wandlungen können vorgenommen werden, ohne vom Schutzumfang
der vorliegenden Erfindung abzuweichen.