DE1973676U - Mikroskoptisch zur beobachtung von objekt-anschliffen. - Google Patents

Description

Mikroskoptisch zur Beobachtung von Objekt-Anschliffen

Die Neuerung betrifft einen Mikroskoptisch zur Beobachtung von Objekt-Anschliffen, insbesondere für rnikrofotometrische oder metallographische Arbeiten.

Beim optisch-feinmechanischen Gerätebau findet aus Gründen einer rationellen Fertigungsweise einerseits und einer möglichst universellen Verwendbarkeit von bestimmten Grundgeräten andererseits in immer größerem Umfang des sogenannte Baukastensystem Eingang. Da jedoch bei den Präzisionsgeräten im allgemeinen die Genauigkeit der Geräte wesentlich von der Justierung der einzelnen Bauelemente zueinander abhängt, erfordert die Anwendung des Baukastensystems zwangsläufig, daß dem Benutzer der Geräte die Möglichkeit zur Nachjustierung der einzelnen Bauelemente gegeben wird. Selbstverständlich dürfen dabei aber die Kosten für die Geräte nicht durch den Einbau der Nachjustiereinrichtungen allzu sehr belastet werden. Das erfordert besonders einfache, aber dennoch präzise Justiereinrichtungen.

Es ist bereits bekannt, Mikroskope, die an sich für die Durchlichtbeobachtung geschaffen sind, auch mit Hilfseinrichtungen für die Aufliehtbeobachtung auszurüsten. So sind bereits Metallmikroskope bekannt, die auch die Beobachtung von Anschliffen im Auflicht ermöglichen, ohne daß dabei von dem sogenannten Le Chatelier-Prinzip Gebrauch gemacht wird.

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Bei den bekannten Mikroskopen ist jedoch das Auswechseln der zu beobachtenden Objekte sehr erschwert, da diese von unten an die Anlagefläche des Mikroskoptisches angepreßt werden müssen, wobei die für die Durchlichtbeobachtung erforderlichen Teile des Mikroskops das Anbringen der Objekte erschweren.

Der Mikroskoptisch nach der Neuerung vermeidet diese Nachteile dadurch, daß er aus einem vorzugsweise auf einen normalen Kreuz- oder Drehtisch eines Mikroskops aufsetzbaren Tischträger mit einer zentrier- und kippbaren Trägerplatte und einem auf diesen Tischträger aufsetzbaren Aufstelltisch mit einer Halterung für die zu untersuchenden Objekte besteht, dessen Standfläche, Anlagefläche für die Objekte und Oberfläche parallel zueinander sind. Es ist vorteilhaft, die Tischbeine des Aufstelltisches mit auswechselbaren Haftmagneten zu versehen. Vorzugsweise ist der Aufstelltisch auch mit auswechselbaren Einlegeblenden ausgerüstet. Bei einer besonders zweckmäßigen Ausführungsform besteht der Tischträger aus einer auf einen normalen Mikroskoptisch aufschraubbaren Bodenplatte, in der eine in ihrer Ebene verschiebbare Hilfsplatte gelagert ist, auf der die Trägerplatte kippbar befestigt ist. Vorzugsweise sind in der Bodenplatte zwei um 90 gegeneinander versetzte Justierschrauben angebracht, die jeweils mit einem gegenüberliegenden gefederten Stift zusammenwirken. Zweckmäßig ist der Rand der Hilfsplatte konisch ausgebildet, auf den die beiden Justierschrauben und die mit ihnen zusammenwirkenden gefederten Stifte derart einwirken, daß die Hilfsplatte

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in der Bodenplatte gehalten wird,

In den beigefügten Zeichnungen ist ein Ausführungsbeispiel für den neuerungsgemäßen Mikroskoptisch dargestellt, und zwar zeigen;

Fig. 1a einen Schnitt durch den Tischträger;

Fig. 1b eine Ansicht des Aufstelltisches, teilweise geschnitten;

Fig. 2 eine Draufsicht auf den Tischträger.

In der Bodenplatte 1, die mittels zweier Schrauben 2 starr auf einem nicht dargestellten Kreuz- oder Drehtisch befestigt werden kann, ist die Hilfsplatte 3 mit dem konischen Rand 3a gelagert. Auf den konischen Rand 3a der Hilfsplatte 3 wirken zwei um 90 gegeneinander versetzte Justierschrauben 4a, 4b und zwei ebenfalls um 90 gegeneinander versetzte, den Justierschrauben 4a, 4b gegenüberliegende Haltestifte 5a, 5t), die unter der Wirkung von Federn 6 stehen, derart ein, daß die Hilfsplatte 3 gleitbar in der Bodenplatte 1 gehalten wird. Auf der Hilfsplatte 3 ist die Trägerplatte 7 mittels dreier Justierschrauben 8a, 8b, 8c kippbar gehalten.

Zwischen der Hilfsplatte 3 und der Trägerplatte 7 sind Druckfedern 9 eingefügt, die die Justierschrauben 8a, 8b, 8c umgeben. Der auf den Tischträger aufsetzbare Aufstelltisch 11 weist drei Beine 12a, 12b, 12c auf, deren Standfläche parallel zur Aufstelltischoberfläche 11a und der Objektanlagefläche 11b ist. Zwischen die Anlagefläche 11b und das Objekt 13 sind Blenden 14 mit unterschiedlicher zentraler

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Öffnung i4a einlegbar. An einem an dem Aufstelltisch angeordneten Zapfen 15 ist eine Klemnihalterung 16 für das Objekt 13 befestigt. In den Beinen 12a, 12b, 12c sind auswechselbare Haftmagnete 17a, 1 Tb, IJc befestigt.

Das Arbeiten mit dem Mikroskoptisch geschieht folgendermaßen:

Mittels der Schrauben 2 wird die Bodenplatte 1 auf dem' normalen Mikroskop-Kreuz- und/oder Drehtisch befestigt und anschließend die Oberseite der Trägerplatte 7 mittels der Justierschrauben 8a, 8b, 8c senkrecht zur optischen. Achse des Mikroskops ausgerichtet. Nach der Befestigung des zu beobachtenden Objektes I3 am Aufstelltisch 11 mittels der Klemnihalterung 16, wobei sowohl das Objekt 13 wie die Einlegeblenden 14 durch die Halterung 16 gehalten werden, wird der Aufstelltisch auf die Trägerplatte 7 des Tischträgers aufgesetzt und von Hand grob ausgerichtet. Die Feineinstellung des Objektes erfolgt dann unter mikroskopischer Beobachtung mittels der Justierschrauben 4a und 4b. Durch die kippbare Anordnung der Trägerplatte 7 des Tischträgers können Ungenauigkeiten des eigentlichen Mxkroskoptisches ausgeglichen werden. Durch die in den Beinen des Aufstelltisches 11 angeordneten Haftmagnete wird der Aufstelltisch 11 auf der Trägerplatte 7 so weit gehalten, daß durch kleinere Erschütterungen das Objekt nicht verschoben wird.

Die Haftmagnete erlauben jedoch ein leichtes Abheben des Aufstelltisches vom Tischträger, wenn das zu beobachtende

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Objekt ausgewechselt werden soll. Durch die Konstruktion des Aufstelltisches ist der Objektwechsel sehr leicht und sicher möglich.

Die bei der Beobachtung von Objekt-Anschliffen üblichen Reflexionsstandards können bequem auf die Oberfläche des Aufstelltisches aufgelegt werden, ohne daß dabei das Objekt verschoben werden muß.

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Claims (2)

Schutzansprüche

1. Mikroskoptisch zur Beobachtung von Objekt-Anschliffen, dadurch gekennzeichnet, daß er aus einem vorzugsweise auf einen normalen Mikroskop-Kreuz-und/oder Drehtisch aufschraubbaren Tischträger mit einer zentrier- und kippbaren Trägerplatte (7) und einem auf die Trägerplatte (7) aufsetzbaren, mit einer Objekthalterung (15 > 16) versehenen Aufstelltisch (11), dessen Standfläche, Objektanlagefläche (11b) und Tischoberfläche (11a) parallel zueinander sind, besteht.

2. Mikroskoptisch nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Tischträger aus einer Bodenplatte (i)s einer justierbar in der Bodenplatte gehaltenen Hilfsplatte (3) und einer kippbar auf der Hilfsplatte (3) befestigten Trägerplatte (7) besteht.

3· Mikroskoptisch nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufstelltisch (11) mit vorzugsweise auswechselbaren Haftmagneten (i7a, 17b, 17c) versehen ist.

h. Mikroskoptisch nach Anspruch 1 oder 3> dadurch gekennzeichnet, daß der Aufstelltisch (11) mit auswechselbaren Einlegeblenden (14) ausgerüstet ist.