DE19721676A1 - Basisband-V-I-Meßsonde - Google Patents
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Description
Diese Erfindung betrifft eine Apparatur zur Erzeugung eines
Plasmas und ist insbesondere auf Meßsonden zum Messen des
Stroms, der Spannung und der Phase einer elektrischen
Radiofrequenz(RF)-Energie gerichtet, die einer RF-Plasmakammer
zugeführt wird.
In einer typischen RF-Plasmagenerator-Anordnung erzeugt eine
Hochleistungs-RF-Quelle eine RF-Welle mit einer vorbestimmten
Frequenz, d. h. 13,56 MHz, und diese wird entlang einer
Stromleitung einer Plasmakammer zugeführt. Weil es zwischen der
RF-Energiequelle und der Plasmakammer gewöhnlich eine deutliche
Impedanzfehlanpassung gibt, wird zwischen den beiden ein
Impedanzanpassungsnetzwerk eingefügt. In der Plasmakammer gibt
es Nichtlinearitäten, und wegen dieser Nichtlinearitäten und
wegen Verlusten in der Leitung und im
Impedanzanpassungsnetzwerk erreicht nicht die gesamte
Ausgangsleistung des RF-Generators die Plasmakammer. Deshalb
ist es üblich, am Leistungseingang zur Plasmakammer eine
Meßsonde zu verwenden, um die Spannung und den Strom der RF-
Welle zu messen, wenn sie in die Plasmakammer eintritt. Durch
eine genaue Messung der Spannung und des Stroms so nahe wie
möglich bei der Kammer kann der Benutzer des Plasmaverfahrens
einen besseren Hinweis auf die Qualität des Plasmas erhalten.
Dies führt wiederum zu einer besseren Steuerung der Ätz- oder
Abscheidungseigenschaften für eine Siliciumscheibe oder ein
anderes Werkstück in der Kammer.
Gegenwärtig werden Diodenmeßsonden verwendet, um die Amplitude
der Strom- und Spannungswellenform zu messen. Diese Meßsonden
verwenden einfach Diodendetektorschaltkreise, um die Spannungs- und
Stromwellenform gleichzurichten, und stellen für Spannung
und für Strom einfache Gleichstrom-Meßausgangssignale zur
Verfügung. Diese Meßsonden haben in dieser Funktion wenigstens
zwei Nachteile. Diodendetektoren sind bei niedrigen
Signalpegeln von Natur aus nichtlinear und unterliegen
notorisch einer Temperaturdrift. Die Diodendetektorschaltkreise
sind auch darauf beschränkt, nur die Signalmaxima für die
Grundfrequenz zu messen und können überhaupt keine Information
über höhere oder niedrigere Frequenzen liefern, die in der RF-
Energiewellenform vorhanden sind. Zusätzlich dazu ist es
unmöglich, eine Information über den Phasenwinkel zwischen der
Strom- und Spannungswellenform zu erhalten, was die
Leistungsmessungen ungenauer macht.
Ein Vorschlag, der erwogen worden ist, um die Messung der RF-
Leistung zu verbessern, bestand darin, sich unter Verwendung
sehr schneller A/D-Umwandler digitale Abtastwerte der
Spannungs- und Stromausgangssignale einer Meßsonde zu
verschaffen, und dann die Abtastwerte auf einem
Hochgeschwindigkeitspuffer-RAM zu verarbeiten. Jedoch weist
dieser Vorschlag Probleme mit der Genauigkeit und Präzision
auf. Gegenwärtig weist die sehr schnelle A/D-Umwandlung einen
kleinen Dynamikbereich auf, der gewöhnlich auf acht Bit
Auflösung beschränkt ist. Um eine ausreichende
Phasengenauigkeit für Plasma-Kundenanforderungen zu erreichen,
ist es notwendig, eine Genauigkeit von mindestens zwölf Bit zu
erreichen, so daß bei voller Leistung eine Genauigkeit für den
Phasenwinkel erhalten werden kann, die besser als ein Grad ist.
Zusätzlich erfordern sehr schnelle A/D-Umwandler einen
außerordentlich schnellen RAM, um einen Block von Abtastwerten
zu puffern, bevor sie in einem digitalen Signalprozessor (DSP)
verarbeitet werden, und eine schnelle RAM-Schaltungsanordnung
ist sowohl platzraubend als auch teuer.
Meßsonden für Spannung und Strom, die jetzt vorhanden sind,
sind in ihrer Leistungsfähigkeit durch die Tatsache beschränkt,
daß sie lediglich die Spannung, den Strom und den Phasenwinkel
bei einer Frequenz überwachen können, und sogar dann weisen
derartige Meßsonden einen schlechten Dynamikbereich auf. Zur
Untersuchung einer anderen Frequenz muß die Hardware
ausgewechselt werden, was kostspielig und zeitraubend sein
kann. Dies bedeutet auch, daß sich eine gute Leistungsfähigkeit
nur ergeben wird, wenn die Last linear ist, was bei einer
Plasmakammer niemals der Fall ist. Anders als Kondensatoren,
Induktoren und Widerstände prägen Plasmakammern eine äußerst
nichtlineare Last auf, wodurch bewirkt wird, daß die
sinusförmige Wellenform der Eingangsleistung verzerrt wird.
Diese Verzerrung bewirkt, daß die resultierende Wellenform eine
Summe von Sinuskurven ist, wobei die Frequenz jeder
hinzukommenden Sinuskurve ein gewisses ganzzahliges Vielfaches
der sinusförmigen Eingangsfrequenz ist (d. h. sie sind
Harmonische). Herkömmliche Meßsonden können für die Grund-
Spannungs- und Stromwellenform bestenfalls Spannung, Strom und
eine grobe Phaseninformation liefern. Dies beschränkt die
Genauigkeit des Systems stark und macht eine genaue und
wiederholbare Steuerung unmöglich, wenn in den Harmonischen ein
signifikanter Spannungs- oder Stromanteil erscheint.
Es ist ein Ziel dieser Erfindung, eine zuverlässige und genaue
Meßsonde zur Messung des Stroms und der Spannung einer zu einer
Plasmakammer zugeführten RF-Energie und zum genauen Ermitteln
des Phasenwinkels zwischen der zugeführten Spannung und dem
zugeführten Strom zu niedrigen Kosten bereitzustellen.
Es ist ein spezielleres Ziel dieser Erfindung, eine
Frequenzverschiebungsanordnung bereitzustellen, die die
Spannung und den Strom in ein Basisbandsignal von niedrigerer
Frequenz umwandelt, um eine genaue Messung des RF-Stroms und
der RF-Spannung der zugeführten Energie sowie einer
Phaseninformation zu erleichtern.
Gemäß einem Aspekt der Erfindung führt ein RF-Energieerzeuger
eine elektrische RF-Welle mit einer vorbestimmten Frequenz
einem Leistungseingang einer Plasmakammer zu, in der die
elektrische RF-Welle ein Plasma erzeugt. Eine Plasma-Meßsonde
greift sowohl eine RF-Spannungswellenform als auch eine RF-
Stromwellenform der elektrischen Welle ab. Die Plasma-Meßsonde
übermittelt die RF-Spannungs- und -Stromwellenform an eine
Auswertungsstufe, welche die RF-Wellenformen in ein Basisband-
Spannungs- und -Stromsignal umwandelt. Ein steuerbarer
Lokaloszillator liefert ein Lokaloszillatorsignal, bei dem es
sich um eine Rechteckwelle handelt. Ein Spannungssignalmischer
besitzt Eingänge, welche die RF-Spannungswellenform bzw. das
Lokaloszillatorsignal empfangen, und einen Ausgang, der ein
Nieder- oder Tonfrequenz (NF)-Basisband-Spannungssignal
bereitstellt. Ein Stromsignalmischer weist Eingänge auf, welche
die RF-Stromwellenform bzw. das Lokaloszillatorsignal
empfangen, und weist einen Ausgang auf, der ein Basisband-NF-
Stromsignal bereitstellt. Ein Stereo-A/D-Wandler besitzt einen
ersten Kanaleingang, dem das Basisband-Spannungssignal
zugeführt wird, und einen zweiten Kanaleingang, dem das
Basisband-Stromsignal zugeführt wird, sowie einen seriellen
Ausgang, der ein zeitsynchrones serielles Digitalsignal
bereitstellt, das abwechselnd digitale Darstellungen der
Basisband-Spannungswellenform und der Basisband-Stromwellenform
enthält. Ein digitaler Signalprozessor weist einen mit dem
seriellen Ausgang des Stereo-A/D-Wandlers verbundenen Eingang
auf. Der digitale Signalprozessor ist geeignet programmiert, um
die zugeführten NF-Spannungs- und -Stromsignale
entgegenzunehmen, die Amplitude und die relative Phase des
Spannungs- und Stromsignals zu bestimmen und die auf diesen
Signalen basierenden relativen RF-Parameter zu berechnen. Eine
externe Schnittstelle sorgt für eine auf den Amplituden und der
relativen Phase basierende Bestimmung der Ausgangsgröße. Eine
Lokaloszillator-Schnittstellenschaltung verbindet den digitalen
Signalprozessor mit dem Lokaloszillator, so daß der digitale
Signalprozessor die Frequenz des Lokaloszillatorsignals steuern
kann. Bei einer bevorzugten Ausführungsform stellt der
Lokaloszillator die Lokaloszillatorfrequenz innerhalb von etwa
15 kHz von der Plasma-RF-Frequenz bereit, so daß die
Differenzfrequenz, d. h. die Basisbandfrequenz des
Basisband-Strom- und -Spannungssignals, ungefähr 0,2 kHz bis
15 kHz beträgt. Auch ist der Stereo-A/D-Wandler vorzugsweise
ein Tonfrequenz-Stereowandler von hoher Wiedergabetreue, und er
kann von der Art sein, die häufig in Audiosystemen mit hoher
Wiedergabetreue verwendet wird, wie z. B. ein angepaßter
Zweikanal-20bit-A/D-Wandler. Die A/D-Wandler schließen
vorzugsweise Filter gegen den Alias-Effekt ein, welche die
Eingangs-Basisbandsignale auf den Bereich von 0,2 kHz bis 20
kHz bandbegrenzen. Der Lokaloszillator schließt vorzugsweise
einen programmierbaren Oszillator ein und kann auch einen durch
zwei teilenden Frequenzteiler im Anschluß an den
programmierbaren Oszillator umfassen, um einen konstanten
Tastgrad aufrechtzuerhalten. Information über die Harmonischen
kann man durch Verändern des Lokaloszillatorsignals auf ein
Vielfaches der RF-Wellenformfrequenz, plus oder minus bis zu 20
kHz, erhalten.
Gemäß einem anderen Aspekt dieser Erfindung können die
Amplituden- und die relative Phaseninformation für Strom und
Spannung für eine RF-Energiewelle abgeleitet werden, die bei
einer vorbestimmten Frequenz einem Leistungseingang einer
Plasmakammer zugeführt wird, in der die RF-Energiewelle ein
Plasma erzeugt. Eine Plasma-Meßsonde greift eine RF-
Spannungswellenform und eine RF-Stromwellenform der zugeführten
Energie ab. Das Verfahren dieser Erfindung umfaßt die Erzeugung
eines Lokaloszillatorsignals und das Mischen des
Lokaloszillatorsignals und der RF-Spannungs- und
-Stromwellenform zur Erzeugung des Spannungs-Basisbandsignals
bei einer Tonfrequenz und des Strom-Basisbandsignals bei einer
Tonfrequenz. Ein Rückkopplungssignal wird von einem digitalen
Signalprozessor zugeführt, um die Frequenz des
Lokaloszillatorsignals zu steuern. Das Spannungs-
Basisbandsignal und das Strom-Basisbandsignal werden in ein
zeitsynchrones serielles Digitalsignal umgewandelt, das dem
digitalen Signalprozessor zugeführt wird, der in geeigneter
Weise programmiert ist, um die Amplituden und die relative
Phase des Spannungs- und Strom-Basisbandsignals zu berechnen.
Das Lokaloszillatorsignal wird bei einer Frequenz erzeugt, die
innerhalb von 0,20 kHz bis 20 kHz von der vorbestimmten
Frequenz der RF-Energiewelle liegt, so daß die Basisbandsignale
eine Frequenz im Tonfrequenzbereich von 200 Hz bis 20 kHz
aufweisen. Vorzugsweise beträgt sie etwa 10 kHz.
Der digitale Signalprozessor berechnet die Amplituden und die
relative Phase des Spannungs- und Strom-Basisbandsignals
vorzugsweise mittels einer schnellen Fourier-Transformation
(FFT) der Strom- und Spannungs-Basisbandwellenform. Dann werden
durch Nachführen der Basisbandfrequenz des Strom- und
Spannungs-Basisbandsignals Phasen- und Betragsmessungen des
Spannungs- und Strom-Basisbandsignals durchgeführt. Die Phasen- und
Betragsmessungen können nach der schnellen Fourier-
Transformation durchgeführt werden, indem man aus der schnellen
Fourier-Transformation Frequenzspektren der Spannungs- und
Stromwellenform gewinnt. Die gewonnenen Spektren werden
verwendet, um die Phasendifferenz oder den Phasenwinkel
zwischen der Spannungs- und Stromwellenform zu berechnen.
Die Berechnung der Amplituden und der relativen Phase des
Spannungs- und Strom-Basisbandsignals wird im digitalen
Signalprozessor durchgeführt. Eine vorbestimmte Anzahl von
Abtastwerten des seriellen Digitalsignals, das die Basisband-
Spannungswellenform bzw. die Basisband-Stromwellenform
darstellt, werden in den DSP übermittelte und diese Abtastwerte
werden mit einer vorbestimmten Fensterfunktion multipliziert,
um ein gefenstertes Strom- und Spannungssignal zu erzeugen.
Dann werden die gefensterten Spannungsabtastwerte V und die
zugehörigen Stromabtastwerte I als komplexe Wellenform W = V +
j*I (wobei j die Wurzel aus minus eins ist) verarbeitet, und
der digitale Signalprozessor führt an der komplexen Wellenform
eine komplexe schnelle Fourier-Transformations-Operation FFT (W)
durch. Dies erzeugt eine komplexe Ausgangsgröße, aus welcher
der digitale Signalprozessor Strom- und Spannungs-Spektren
gewinnen kann. Die Amplituden und die relative Phase des
Spannungs- und Strom-Basisbandsignals können aus einer
Vektoraddition des Spannungs- und Strom-Spektrums und aus dem
Arcustangens der resultierenden Vektorsummen erhalten werden.
Aus diesen Daten können andere nützliche Werte berechnet
werden, die bei der genauen Steuerung des RF-Plasmaverfahrens
verwendet werden können, einschließlich aber nicht begrenzt auf
Effektivspannung, Effektivstrom, abgegebene (Verlust-)
Leistung, Vorwärtsleistung, Rückleistung oder reflektierte
Leistung, Blindleistung, Scheinleistung, Betrag der
Lastimpedanz, Phase der Lastimpedanz, Lastwiderstand,
Lastreaktanz, Betrag des Reflexionskoeffizienten, Phase des
Reflexionskoeffizienten und Spannungs-Welligkeitsfaktor (SWF).
Die vorangehenden und andere Ziele, Eigenschaften und Vorteile
dieser Erfindung werden aus der nachfolgenden Beschreibung
einer beispielhaften bevorzugten Ausführungsform ersichtlich,
die in Verbindung mit der begleitenden Zeichnung gelesen werden
sollte.
Nachfolgend werden die Zeichnungen kurz beschrieben.
Fig. 1 ist ein Blockschaltbild einer RF-Plasmakammer mit
zugehörigem RF-Plasmagenerator, Impedanzanpassungsnetzwerk, V-
I-Abgriff und zugehöriger V-I-Auswertungsleiterplatten-
Anordnung gemäß einer Ausführungsform dieser Erfindung.
Fig. 2 ist ein vereinfachtes schematisches Schaubild des V-I-
Abgriffs und der Signalauswertungs-Schaltungsanordnung der V-I-
Meßsonden-Anordnung.
Fig. 3 ist ein Software-Logikflußdiagramm zur Erklärung der
Arbeitsweise der V-I-Meßsonden-Anordnung dieser Erfindung.
Mit Bezug auf die Zeichnung und zuerst auf Fig. 1 weist eine
Anordnung 10 für ein Plasmaverfahren, beispielsweise zum Ätzen
einer Siliciumscheibe oder eines anderen Werkstücks, einen RF-
Energieerzeuger 12 auf, der bei einem vorbestimmten
Leistungspegel, wie beispielsweise einem Kilowatt, RF-Energie
mit einer vorbestimmten Frequenz, z. B. 13,56 MHz, erzeugt. Der
Generator 12 führt die RF-Energie entlang einer Leitung 14
einem Anpassungsnetzwerk 16 zu. Der Ausgang des
Anpassungsnetzwerks 16 ist durch eine Stromleitung 18 mit einem
Eingang einer Plasmakammer 20 verbunden. Eine Meßsonden-
Spannungs- und -Stromabgriff-Einrichtung 22 tastet die Spannung
VRF und den Strom IRF der zugeführten RF-Energie ab, wenn sie in
den Eingang zur Kammer 20 eintritt. Die Kammer 20 weist eine
mit einer nicht gezeigten Vakuumpumpe verbundene Vakuumleitung
und einen Gaseinlaß auf, durch welchen ein Edelgas, z. B. Argon,
in die Kammer geleitet wird. Die abgetastete Spannung und der
abgetastete Strom, VRF und IRF, werden einer Spannungs- und
Strom-(V-I)-Basisband-Meßsonden-Einrichtung 24 zugeführt,
welche die Beträge oder Amplituden der zugeführten Spannung und
des zugeführten Stromes mißt und auch den Phasenwinkel Φ
zwischen der zugeführten Spannungs- und Stromwellenform
berechnet. Diese drei Werte können mit großer Genauigkeit
berechnet werden und können wiederum verwendet werden, um
andere Parameter zu berechnen, wie unten erörtert wird.
Die Basisband-V-I-Meßsonde erlaubt eine genaue Bestimmung von
Spannungsamplitude |V|, Stromamplitude |I| und Phase Φ zwischen
Spannung und Strom für ein RF(Radiofrequenz)-Signal. Dieses
kann im Bereich von 0,200 MHz bis 67,8 MHz liegen, wodurch es
für den Benutzer möglich wird, ein Plasma mit einer größeren
Präzision zu analysieren, als es mit herkömmlicheren analogen
Methoden möglich gewesen ist. Der gleiche Gedanke kann über
diese Frequenzen hinaus auf andere Bereiche angewandt werden.
Ein Endergebnis dieses verbesserten Vermögens ist eine
verbesserte Verfahrens-Wiederholgenauigkeit, eine verbesserte
Bestimmung des Verfahrensendpunktes, höhere Ausbeuten und
gleichmäßigere Ausbeuten. Wenn man die V-I-Meßsonde in
Verbindung mit der RF-Strecke in einem RF-Plasmasystem
verwendet, ermöglicht sie es dem Benutzer, einen höheren Grad
an Steuerung zu erhalten, und eine Steuerung unter Verwendung
von Parametern zu erreichen, die über die einfachen
Maximalwerte von Spannung und Strom der RF-Welle hinausgehen.
Mit der Basisband-V-I-Meßsonden-Einrichtung 24 dieser Erfindung
kann der Benutzer das Plasmaverfahren auf der Grundlage einer
dem Plasma zugeführten Leistung, sei es bei der RF-Frequenz des
Generators oder bei einer beliebigen anderen Frequenz, und
einer Impedanz des Plasmas, entweder bei der Frequenz der RF-
Wellenform oder bei einer beliebigen Frequenz innerhalb der
Bandbreite der Einrichtung 24 steuern. Beispielsweise kann eine
Frequenzanalyse zur genaueren Bestimmung des Abschlusses eines
Ätzschritts bei einer Halbleiterscheibe mit integrierter
Schaltung (IC) verwendet werden.
Wie ausführlicher in Fig. 2 gezeigt, weist die Meßsonden-
Abgriff-Einrichtung 22 eine Abschirmung oder ein Gehäuse 23
auf, das die Abgriff-Einrichtung elektrisch isoliert. Eine
Spannungs-Abgriffplatte 26 ist durch ein Triaxkabel 28 mit
einem Mischer 30 mit supergroßem Dynamikbereich in der
Meßsonden-Schaltungs-Einrichtung 24 verbunden. Das Triaxkabel
28 weist ein äußeres mit dem Gehäuse 23 verbundenes Geflecht
und ein zur Masse der Meßsonden-Schaltungs-Einrichtung 24
führendes inneres Geflecht auf. Eine Strom-Abgriffplatte 32
innerhalb der Abgriff-Einrichtung 22 ist durch ein Triaxkabel
34 mit einem Mischer 36 mit supergroßem Dynamikbereich
verbunden. Die äußeren und inneren Geflechte des Kabels 34 sind
auf eine ähnliche Weise angeschlossen wie diejenigen des Kabels
28. Ein programmierbarer Lokaloszillator 38 erzeugt ein
Lokaloszillatorsignal, das innerhalb von zwanzig Kilohertz von
der zugeführten RF-Wellenform liegt, d. h. bei einer Frequenz FRF
±0,20 kHz bis FRF ±20 kHz. Der Lokaloszillator weist einen
zugehörigen durch zwei teilenden Zähler 40 auf, um einen
richtigen Tastgrad sicherzustellen. Der Lokaloszillator 38 kann
vorteilhafterweise einen Einchip-Phasenregelkreis (PLL)-
Frequenzsynthesizer einschließen, und dieser kann einen
Konstruktions-Frequenzbereich von 0,320 bis 120 MHz aufweisen.
Dasselbe Lokaloszillatorsignal mit derselben Frequenz und Phase
wird den Lokaloszillator-Eingängen der beiden Mischer 30 und 36
zugeführt. Bei der bevorzugten Ausführungsform wird die
Frequenz des Lokaloszillators 38 so gewählt, daß es sich bei
dem Lokaloszillator(LO)-Signal am Ausgang des durch zwei
teilenden Zählers 40 um die zugeführte Wellenformfrequenz plus
oder minus 15 kHz handelt. Das Lokaloszillatorsignal wird den
LO-Eingängen der beiden Mischer 30 und 36 zugeführt, und
dieselben erzeugen ein Spannungs-Basisbandsignal bzw. ein
Strom-Basisbandsignal. Die Basisbandsignale weisen jeweils
dieselbe Basisbandfrequenz auf, und infolge der richtigen Wahl
der Lokaloszillatorfrequenz liegen das Spannungs- und Strom-
Basisbandsignal im Bereich von 0,20 bis 20 kHz, d. h. im
Tonfrequenzbereich. Eine richtige Abstimmung der Basisband-
Spannungs- und -Stromfrequenzen wird durch die Tatsache
sichergestellt, daß die Spannungs- und Stromwellenform aus der
Abgriff-Einrichtung 22 (die natürlich bezüglich der Frequenz
identisch sind) beide mit genau demselben Lokaloszillatorsignal
gemischt werden.
Das Basisband-Spannungssignal und das Basisband-Stromsignal
werden dann den jeweiligen Eingängen L und R eines angepaßten
Zweikanal-20bit-Stereo-A/D-Wandlers 42 zugeführt. Dieser ist
ein erhältlicher preiswerter Artikel, der häufig in
Audioerzeugnissen von hoher Wiedergabetreue verwendet wird. Der
bevorzugte Wandler 42 enthält zwei hochgradig angepaßte
unabhängige A/D-Wandler mit einem digitalen Ausgangssignal, das
ein einfaches synchrones serielles Digitalsignal ist, das mit
anderen Digitalkomponenten leicht eine Schnittstelle bildet.
Der A/D-Wandler enthält Filter gegen den Alias-Effekt, welche
die Eingangs-Basisbandsignale auf den Bereich von 0,20 bis 20
kHz bandbegrenzen. Das Ausgangssignal wird über eine serielle
Datenschnittstelle 44 als abwechselnde Basisband-Spannungs- und
-Stromabtastwerte einem Signaleingang eines digitalen
Signalprozessors oder DSP 46 zugeführt. Mit dem DSP 46 sind
wohlbekannte Stütz-Hardwareelemente verbunden, und diese sind
nicht in der Zeichnung dargestellt.
Der DSP 46 verarbeitet die digitalisierten Basisband-Spannungs- und
-Stromsignale und berechnet den Betrag |V| der Spannung,
den Betrag |I| des Stroms und die Phasenwinkel der Basisband-
Spannungs- und -Stromsignale, aus denen er die relative Phase Φ
der zugeführten Spannung und des zugeführten Stroms ableitet.
Der DSP ist mittels einer seriellen Lokaloszillator-
Programmschnittstelle 48 mit einem Rückkopplungseingang des
Lokaloszillators 38 verbunden, um eine geschlossene Schleife zu
bilden. Der DSP 46 ist auch mit einer externen seriellen
Schnitt stelle verbunden, die wiederum an Steuerungen für die
Plasmaverfahrens-Anordnung gekoppelt sein kann, beispielsweise
um die Spannung oder den Strom, die vom RF-Plasmagenerator 12
zugeführt werden, zu steuern oder die Impedanz des
Impedanzanpassungsnetzwerks 16 zu steuern.
Die Mischer 30 und 36, die beide dasselbe LO-Signal empfangen,
ermöglichen es, die Frequenz der zugeführten RF-Spannung und
des zugeführten RF-Stroms in einem einzigen Mischschritt vom
Megahertz-Frequenzbereich in den Kilohertz-Frequenzbereich zu
verringern. Sobald die beiden Signale zum Basisband-
Frequenzbereich gemischt sind, werden die Basisbandsignale
durch Tiefpaßfilter (nicht gezeigt) gefiltert, um das obere
Seitenband zu entfernen, wodurch nur die unteren Seitenband- oder
Basisbandsignale übrigbleiben. Die Phasenbeziehungen der
zugeführten Spannungs- und der zugeführten Stromwellenform
bleiben in den beiden Basisbandsignalen erhalten. Diese werden
dem A/D-Wandler 42 zugeführt, wo sie umgewandelt werden,
beispielsweise mit einer Umwandlungs-Abtastfrequenz von 48 kHz.
Nachdem eine geeignete Anzahl von Basisband-Spannungs- und
-Stromabtastwerten genommen worden ist, führt der DSP 46
Phasen- und Betragsmessungen durch.
Sobald eine vorbestimmte (oder wählbare) Anzahl von Basisband-
Strom- und -Spannungsabtastwerten vom Wandler 42 zum DSP 46
übermittelt worden sind, führt der DSP eine Reihe von komplexen
Signalverarbeitungsalgorithmen durch, um die Daten zu
verarbeiten. Diese Operation wird durchgeführt, wie nun
allgemein unter Bezugnahme auf Fig. 3 beschrieben wird. In
diesem Schaubild stellen die durchgezogenen Linien zwischen den
Routinen oder Operationen eine Verarbeitung von reellen Zahlen
dar, während die gestrichelten Linien eine Verarbeitung von
komplexen (d. h. reellen plus imaginären) Zahlen darstellen.
Sobald eine geeignete Anzahl von Abtastwerten von sowohl der
Spannungs- als auch der Strom-Basisbandwellenform genommen
worden ist, wie allgemein als Abtastsubroutine 52 dargestellt,
werden die abgetasteten Stromdaten und abgetasteten
Spannungsdaten mit einer Fensterfunktion oder Fensterroutine 54
multipliziert. Die Fensterfunktion wird derart gewählt, daß es
im Frequenzbereich ein minimales Maß an
Frequenzpeakverbreiterung gibt. Hier ist die
Vorgabefensterfunktion das Harris-Blackmann-Fenster, jedoch
könnten mit Hilfe einer Fenstererzeugungs-Subroutine andere
Fensterfunktionen verwendet und verändert werden.
Um den Verarbeitungswirkungsgrad aufrechtzuerhalten, werden die
orthogonalen Eigenschaften einer einzelnen komplexen schnellen
Fourier-Transformation oder FFT genutzt, um jeweils das
Spektrum der Spannungs- und Stromwellenform abzuleiten. Wegen
des Charakters der komplexen FFT kann die Phase zwischen den
beiden Spektren einfach unter Verwendung von Vektoraddition und
der Arcustangensfunktion gewonnen werden. Um dies zu erreichen,
werden die gefensterten Strom- und Spannungs-Abtastdaten zuerst
zu einem komplexen Wellenform-Abtastwert W zusammengefaßt
(komplexe Abtastdaten-Routine 56), d. h. W = V + j*I, wobei j
die Basiszahl von imaginären Zahlen ist, d. h. die Quadratwurzel
von minus eins oder j = . Die komplexe Wellenform W wird
dann einer Subroutine 58 unterzogen, welche die FFT der
Wellenform W als Satz komplexer Zahlen berechnet, d. h.
FFT(V + j*I). Sobald die komplexe FFT beendet ist, werden die
Ergebnisse einer Extraktionsroutine 60 unterzogen, welche die
Strom- und Spannungsspektren des FFT-Ausgangs unter Verwendung
von Vektoraddition gewinnt. Von diesem Stadium an werden das
Strom-Basisbandspektrum und das Spannungs-Basisbandspektrum in
einem Frequenzbereichs-Maximalenergie-Nachweis-und-Nachführungs-
Algorithmus 62 verarbeitet. Hier wird die Frequenz des Signals
mit der maximalen Energie bestimmt und sowohl für die
Spannungs- als auch Stromwellenform nachgeführt. Aus diesen
Daten werden der Betrag |V| der Spannung und der Betrag |I| des
Stroms wie in den Subroutinen 64 und 66 berechnet, und die
Phasenwinkel von Spannung und Strom werden wie in der Routine
68 berechnet. Während der momentane Phasenwinkel von Spannung
und Strom allein nicht besonders brauchbar ist, erzeugt die
Differenz zwischen diesen beiden den relativen Phasenwinkel Φ,
der den eigentlichen Phasenwinkel der Plasmalast darstellt.
Diese Werte |V|, |I| und Φ werden in einer beliebigen aus einer
Gruppe von anwenderkonfigurierbaren Berechnungs-Subroutinen 70
verwendet, um irgendeinen aus einer großen Anzahl von
Parametern zu erzeugen, die bei der Verfahrenssteuerung
verwendet werden können. Eine kurze Liste dieser Werte wird wie
folgt bereitgestellt:
a. Effektivspannung | |
V = (gem(V²))0,5= Veff | |
b. Effektivstrom | I = (gem(I²))0,5 = Ieff |
c. Phasenwinkel | Φ = ∠I - ∠V |
d. Abgegebene (Verlust-)Leistung | P = V* I* cos(Φ) |
e. Vorwärts (Schein)-Leistung | PF = P ÷ (1 - Γ²) |
f. Rückleistung | PR = PF - P |
g. Blindleistung | PBlind = V* I* sin(Φ) |
h. Betrag der Lastimpedanz | ZL = V ÷ I |
i. Phase der Lastimpedanz | ∠ZL = Φ |
j. Lastwiderstand | ZLR = Re(ZL) = ZLi*cos(Φ) |
k. Lastreaktanz | ZLI = Im(ZL) = ZL*sin(Φ) |
l. Betrag des Reflexionskoeffizienten | Γ = (((ZLR - 50)² + (ZLI)²)/((ZLR + 50)² + (ZLI²)))0,5 |
m. Phase des Reflexionskoeffizienten | ∠Γ= arctan (ZLI/(ZLR-50)) - arctan (ZLI/ (ZLR+50)) |
n. Spannungs-Welligkeitsfaktor SWF | S = (1+Γ)/(1-Γ) |
Die vorstehenden Werte oder andere werden in nahezu Echtzeit
berechnet und werden in einer Ausgangsschnittstellenroutine
aufbereitet, wo sie beispielsweise durch die externe serielle
Schnittstelle 50 zugeführt werden, um den RF-Plasmagenerator 12
oder das Impedanzanpassungsnetzwerk 16 zu steuern.
Es sollte ersichtlich sein, daß mit der Meßsonden-Anordnung der
vorliegenden Erfindung die vorstehenden Parameter mit einer
Verbesserung bezüglich einer kleineren Abmessung, geringeren
Kosten, einer geringeren Drift, einer höheren Genauigkeit
(insbesondere bei großen Phasenwinkeln) und mit einer größeren
Integrationsflexibilität erhalten werden als mit den
vorhandenen Meßsonden-Systemen oder Methoden. Anders als
herkömmliche auf Dioden basierende Systeme erlaubt die
Anordnung dieser Erfindung außerdem eine harmonische Analyse
und erlaubt Messungen der Plasmaleistung und -impedanz bei
anwenderdefinierten Frequenzen. Auch läßt diese Erfindung eine
leichte Überspielung der Daten zu, und sie erleichtert eine
Fernbedienung und -überwachung durch den Benutzer.
Die auf diese Weise vorgenommene Phasenmessung ist äußerst
genau, d. h. bis innerhalb von ein fünftel Grad, d. h. +0,20. Dies
kann mit anderen Verfahren, wie z. B. Detektoren mit
Nulldurchgängen, nicht erreicht werden.
Obwohl die Anordnung der vorstehend beschriebenen
Ausführungsform in Verbindung mit einer RF-Wellenformfrequenz
von 13,56 MHz beschrieben worden ist, kann die Erfindung über
einen breiten Bereich von Frequenzen verwendet werden,
einschließlich anderer RF-Verfahrensfrequenzen, wie z. B. 27,12
MHz, 40,68 MHz etc.
Claims (13)
1. Plasma-Anordnung, bei der ein RF-Energieerzeuger eine
elektrische RF-Welle in einem RF-Frequenzbereich einem
Leistungseingang einer Plasmakammer zuführt, in welcher die
elektrische RF-Welle ein Plasma erzeugt, und bei der eine
Plasma-Meßsonde eine RF-Spannungswellenform der elektrischen
Welle und eine RF-Stromwellenform der elektrischen Welle
abgreift; dadurch gekennzeichnet, daß die Plasma-Meßsonde
umfaßt: einen steuerbaren Lokaloszillator (38), der ein
Lokaloszillatorsignal bereitstellt; einen Spannungs
signalmischer (30) mit Eingängen, welche die RF-Spannungs
wellenform bzw. das Lokaloszillatorsignal empfangen, und einem
Ausgang, der ein Basisband-Spannungssignal (BB(V))
bereitstellt; einen Stromsignalmischer (36) mit Eingängen,
welche die RF-Stromwellenform bzw. das Lokaloszillatorsignal
empfangen, und mit einem Ausgang, der ein Basisband-Stromsignal
(BB(V)) bereitstellt; einen A/D-Wandler (42) mit einem ersten
Kanaleingang, dem das Basisband-Spannungssignal zugeführt wird,
einem zweiten Kanaleingang, dem das Basisband-Stromsignal
zugeführt wird, und einem seriellen Ausgang (44), der ein
zeitsynchrones serielles Digitalsignal bereitstellt, das
digitale Darstellungen der Basisband-Spannungswellenform und
der Basisband-Stromwellenform enthält; einen digitalen
Signalprozessor (46) mit einem Eingang, der mit dem seriellen
Ausgang des A/D-Wandlers (42) verbunden ist, wobei der digitale
Signalprozessor geeignet programmiert ist, um Amplitude und
relative Phase des Spannungs-Basisbandsignals und des Strom-
Basisbandsignals zu berechnen; eine externe Schnittstelle (50)
zum Bereitstellen einer auf den Amplituden und der relativen
Phase basierenden Ausgabefeststellung; und eine
Lokaloszillator-Schnittstelle (48), die mit dem digitalen
Signalprozessor und dem Lokaloszillator verbunden ist, die es
ermöglicht, daß der digitale Signalprozessor die Frequenz des
Lokaloszillators steuert.
2. Anordnung nach Anspruch 1, weiter dadurch gekennzeichnet,
daß der Lokaloszillator (42) die Lokaloszillatorfrequenz
innerhalb von etwa 0,2 kHz bis 20 kHz von der Frequenz der
Eingangs-Energiewelle bereitstellt.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, weiter dadurch
gekennzeichnet, daß der A/D-Wandler (42) ein Tonfrequenz-
Stereowandler mit hoher Wiedergabequalität ist.
4. Anordnung nach einem beliebigen der vorangehenden
Ansprüche, weiter dadurch gekennzeichnet, daß der A/D-Wandler
(42) einen angepaßten Zweikanal-20bit-Stereo-A/D-Wandler
einschließt.
5. Anordnung nach Anspruch 1 bis 4, weiter dadurch
gekennzeichnet, daß der Lokaloszillator (38) das
Lokaloszillatorsignal bei einer Lokaloszillatorfrequenz
bereitstellt, die sich von der Frequenz der Eingangs-
Energiewelle um eine Differenz von innerhalb 20 kHz
unterscheidet.
6. Anordnung nach einem beliebigen der vorangehenden
Ansprüche, weiter dadurch gekennzeichnet, daß der
Lokaloszillator (38) einen programmierbaren Oszillator mit
einem mit der Lokaloszillator-Schnittstelle (48) des digitalen
Signalprozessors verbundenen Eingang umfaßt.
7. Anordnung nach einem beliebigen der vorangehenden
Ansprüche, weiter dadurch gekennzeichnet, daß der serielle
Ausgang (44) das digitale Darstellungen der Basisband-
Wellenform und der Basisband-Stromwellenform enthaltende
zeitsynchrone serielle Digitalsignal so bereitstellt, daß die
Darstellung von Strom und Spannung abwechselnd erscheinen.
8. Verfahren zum Ableiten einer Information über Amplitude
und relative Phase für Strom und Spannung einer RF-
Energiewelle, die mit einer Radiofrequenz (RF) einem
Leistungseingang einer Plasmakammer zugeführt wird, in der die
RF-Energiewelle ein Plasma erzeugt, und bei welchem eine
Plasma-Meßsonde eine RF-Spannungswellenform und eine RF-
Stromwellenform der Energiewelle abgreift; gekennzeichnet durch
die Schritte: Erzeugen eines Lokaloszillatorsignals; Mischen
des Lokaloszillatorsignals und der RF-Spannungswellenform, um
ein Spannungs-Basisbandsignal mit einer Tonfrequenz zu
erzeugen; Mischen des Lokaloszillatorsignals und der
Stromwellenform, um ein Strom-Basisbandsignal mit der
Tonfrequenz zu erzeugen; Zuführen eines Rückkopplungssignals
vom digitalen Signalprozessor, um die Frequenz des
Lokaloszillatorsignals zu steuern; Umwandeln des Spannungs-
Basisbandsignals und des Strom-Basisbandsignals in ein
serielles Digitalsignal; Zuführen des seriellen Digitalsignals
zu einem geeignet programmierten digitalen Signalprozessor;
Zuführen eines Rückkopplungssignals vom digitalen
Signalprozessor, um die Frequenz des Lokaloszillatorsignals zu
steuern; und Berechnen der Amplituden (|V|, |I|) und der
relativen Phase (ΔΦ) des Spannungs- und Strom-Basisbandsignals.
9. Verfahren nach Anspruch 8, weiter dadurch gekennzeichnet,
daß der Schritt eines Bereitstellens des Lokaloszillatorsignals
das Bereitstellen des Lokaloszillatorsignals bei einer Frequenz
einschließt, die innerhalb von zwischen 0,20 kHz und 20 kHz von
der Frequenz der zugeführten RF-Energiewelle liegt.
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, weiter dadurch
gekennzeichnet, daß der Schritt eines Berechnens der Amplituden
und der relativen Phase des Spannungs- und Strom-
Basisbandsignals die Berechnung einer schnellen Fourier-
Transformation (FFT(V+j*I)) der Strom- und Spannungs-
Basisbandwellenform und die Durchführung von Phasen- und
Betragsmessungen des Spannungs- und Strom-Basisbandsignals
durch Nachführen der Basisbandfrequenz der Basisbandsignale
einschließt.
11. Verfahren nach Anspruch 10, weiter dadurch gekennzeichnet,
daß der Schritt einer Durchführung von Phasen- und
Betragsmessungen im Anschluß an die Berechnung der schnellen
Fourier-Transformation einschließt: Gewinnen von
Frequenzspektren der Spannungs- und Stromwellenform aus der
schnellen Fourier-Transformation; und dann Berechnen einer
Phasendifferenz (ΔΦ), wie zwischen der Spannungs- und
Stromwellenform vorhanden, aus den Spektren der Spannungs- und
Stromwellenform.
12. Verfahren nach Anspruch 11, weiter dadurch gekennzeichnet,
daß das Berechnen der Amplituden und relativen Phase des
Spannungs- und Strom-Basisbandsignals umfaßt: Übermitteln einer
Mehrzahl von Abtastwerten des die Basisband-Spannungswellenform
bzw. die Basisband-Stromwellenform darstellenden seriellen
Digitalsignals; Multiplizieren der Abtastwerte mit einer
vorbestimmten Fensterfunktion, um gefensterte Strom- und
Spannungssignale zu erzeugen; Verarbeiten der jeweiligen
Spannungsabtastwerte V und zugehörigen Stromabtastwerte I als
komplexe Wellenform W = V + j*I (wobei j die Wurzel aus minus
eins ist), Durchführen einer komplexen schnellen Fourier-
Transformations-Operation an der komplexen Wellenform FFT(W),
um ein komplexes Ausgangssignal zu erzeugen, und Gewinnen des
Strom- und Spannungsspektrums aus dem komplexen Ausgangssignal.
13. Verfahren nach Anspruch 12, bei dem das Berechnen der
Amplituden und relativen Phase des Spannungs- und Strom-
Basisbandsignals ein Gewinnen des relativen Phasenwinkels (ΔΦ)
durch Finden der Vektorsummen des Spannungs- und Stromspektrums
und Berechnen des Arcustangens der resultierenden Vektorsummen
umfaßt.
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