DE19514347A1 - Datenausgabepuffer - Google Patents
DatenausgabepufferInfo
- Publication number
- DE19514347A1 DE19514347A1 DE19514347A DE19514347A DE19514347A1 DE 19514347 A1 DE19514347 A1 DE 19514347A1 DE 19514347 A DE19514347 A DE 19514347A DE 19514347 A DE19514347 A DE 19514347A DE 19514347 A1 DE19514347 A1 DE 19514347A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transistor
- supply voltage
- pull
- pmos
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1057—Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0018—Special modifications or use of the back gate voltage of a FET
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein einen Datenaus
gabepuffer, der bei einer integrierten Halbleiterschaltungsvor
richtung verwendet wird, und insbesondere einen Datenausgabe
puffer, der dazu in der Lage ist, zu verhindern, daß eine Span
nung an einer Ausgabeleitung mit einer Versorgungsspannungs
quelle durch einen Hochziehtreiber verriegelt wird, wenn sie
höher ist als eine Versorgungsspannung von der Versorgungsspan
nungsquelle.
Bei einer integrierten Halbleiterschaltungsvorrichtung ist ein
Datenausgabepuffer üblicherweise dazu ausgelegt, durch einen
integrierten Halbleiterschaltkreis verarbeitete Daten derart zu
puffern, daß sie einen ausreichenden Spannungspegel haben, um
externe Peripherieschaltungen zu treiben. Zu diesem Zweck um
faßt der Datenausgabepuffer einen Hochziehtreiber zum Verstär
ken der Daten derart, daß sie, wenn sie sich in einem ersten
logischen Zustand befinden, eine Versorgungsspannung bzw. deren
Höhe einnehmen können, und einen Niederziehtreiber zum Verstär
ken der Daten derart, daß sie, wenn sie sich in einem zweiten
logischen Zustand befinden, eine Massespannung haben, bzw. auf
Massespannung liegen. Der Hochziehtreiber umfaßt einen NMOS-
oder PMOS-Transistor und der Niederziehtreiber umfaßt einen
NMOS-Feldeffekttransistor.
Der NMOS-Hochziehtreiber begrenzt eine Spannung an einer Aus
gabeleitung derart, daß sie niedriger wird als diejenige an ei
ner Eingabeleitung. Zu diesem Zweck erfordert die Verwendung
des NMOS-Hochziehtreibers eine Schaltung, welche die Daten auf
der Eingabeleitung über die Versorgungsspannung verstärkt, wenn
sie sich im ersten logischen Zustand befinden. Eine derartige
Verstärkungsschaltung hat den Nachteil, daß sie die Arbeitsge
schwindigkeit des Datenausgabepuffers beeinträchtigt oder den
Stromverbrauch in einem Bereitschaftsbetrieb erhöht.
Andererseits kann der PMOS-Hochziehtreiber die Arbeitsgeschwin
digkeit des Datenausgabepuffers erhöhen und den Stromverbrauch
im Bereitschaftsbetrieb reduzieren, weil er keine Verstärkungs
schaltung erfordert. Der PMOS-Hochziehtreiber hat jedoch den
Nachteil, daß die Spannung an der Ausgabeleitung mit einer
Spannungsversorgungsquelle verriegelt wird, wenn sie höher ist
als die Versorgungsspannung.
Diese Probleme werden nachfolgend anhand eines Datenausgabepuf
fers mehr im einzelnen anhand der Fig. 1 bis 3 erläutert.
In Fig. 1 ist ein Schaltungsdiagramm eines herkömmlichen Daten
ausgabepuffers gezeigt. Wie in dieser Zeichnung gezeigt, umfaßt
der herkömmliche Datenausgabepuffer einen NMOS-Hochziehtransi
stor NM1, der zwischen eine Ausgabeleitung 15 und eine Versor
gungsspannungsquelle Vcc geschaltet ist, einen NMOS-Niederzieh
transistor NM2, der zwischen die Ausgabeleitung 15 und eine
Massespannungsquelle Vss geschaltet ist, und eine Verstärkungs
schaltung 10, die zwischen ein Gate des NMOS-Hochziehtransi
stors NM1 und einen Ausgangsanschluß eines NAND-Gate GN1 ge
schaltet ist. Die Verstärkungsschaltung 10 ist dazu ausgelegt,
Daten hoher Logik von dem NAND-Gate GN1 über eine Versorgungs
spannung von der Versorgungsspannungsquelle Vcc zu verstärken
und die verstärkten Daten an das Gate des NMOS-Hochziehtran
sistors MN1 anzulegen. Zu diesem Zweck enthält die Verstär
kungsschaltung 10 zwei NMOS-Schalttransistoren MN3 und MN4, ei
nen Ladungsspeicherkondensator C1, fünf Inverter GI3-GI7, die
eine Verzögerungsleitung bilden, und einen Inverter GI2 zum In
vertieren eines Ausgangssignals von dem NAND-Gate GN1. Der her
kömmliche Datenausgabepuffer umfaßt außerdem zwei Inverter GI1
und GI8 und ein NAND-Gate GN2. Wenn ein Ausgabefreigabesignal
OE von einer Steuerleitung 13 einen hohen logischen Zustand
hat, sind die Inverter GI1 und GI8 und das NAND-Gate GN2 dazu
in der Lage, Daten DO niedrigen logischen Zustands von einer
Eingabeleitung 11 in einen hohen logischen Zustand zu invertie
ren und die invertierten Daten hohen logischen Zustands an ein
Gate des NMOS-Niederziehtransistors NM2 anzulegen.
Die Verzögerungsleitung und der Kondensator C1 in der Verstär
kungsschaltung 10 verdoppeln jedoch die Übertragungsverzögerung
der Daten hohen logischen Zustands von dem NAND-Gate GN1 zu dem
Gate des NMOS-Hochziehtransistors MN1. Aus diesem Grund hat der
herkömmliche Datenausgabepuffer in Fig. 1 den Nachteil, daß er
eine sehr niedrige Arbeitsgeschwindigkeit hat.
In Fig. 2 ist ein Schaltungsdiagramm eines weiteren herkömmli
chen Datenausgabepuffers gezeigt. Wie in dieser Zeichnung ge
zeigt, umfaßt der herkömmliche Datenausgabepuffer einen NMOS-
Hochziehtransistor MN5, der zwischen eine Ausgabeleitung 25 und
eine erste Versorgungsspannungsquelle Vcc geschaltet ist, einen
NMOS-Niederziehtransistor MN6, der zwischen die Ausgabeleitung
25 und eine Massespannungsquelle Vss geschaltet ist, und eine
Verstärkungsschaltung 20, die zwischen ein Gate des NMOS-Hoch
ziehtransistors MN5 und einen Ausgangsanschluß eines NAND-Gates
GN3 geschaltet ist. Die Verstärkungsschaltung 20 ist dazu aus
gelegt, Daten niedrigen logischen Zustands von dem NAND-Gate
GN3 in einen hohen logischen Zustand zu invertieren und die in
vertierten Daten hohen logischen Zustands auf eine zweite Ver
sorgungsspannung von einer zweiten Versorgungsspannungsquelle
Vpp zu verstärken, die höher ist als eine erste Versorgungs
spannung von der ersten Versorgungsspannungsquelle Vcc. Darauf
hin legt die Verstärkungsschaltung 20 die verstärkten Daten an
das Gate des NMOS-Hochziehtransistors MN5 an. Zu diesem Zweck
enthält die Verstärkungsschaltung 20 zwei NMOS-Transistoren MN7
und MN8, die ansprechend auf ein Ausgangssignal von dem NAND-Gate
GN3 komplementär betrieben werden, und zwei PMOS-Transi
storen MPI und MP2, die zwischen die zweite Versorgungsspan
nungsquelle Vpp und die beiden NMOS-Transistoren MN7 und MN8
geschaltet oder verriegelt sind. Die Verstärkungsschaltung 20
enthält ferner einen PMOS-Transistor MP3, der ansprechend auf
ein Ausgangssignal von den verriegelten PMOS-Transistoren MP1
und MP2 betrieben wird, einen NMOS-Transistor MN9, der anspre
chend auf das Ausgangssignal von dem NAND-Gate GN3 betrieben
wird und einen Inverter GI9 zum Invertieren des Ausgangssignals
von dem NAND-Gate GN3 und zum Anlegen des invertierten Signals
an ein Gate des NMOS-Transistors MN8. Das NAND-Gate GN3 dient
dazu, Daten DO von einer Eingabeleitung 21 zu invertieren, wenn
ein Ausgabefreigabesignal OE von einer Steuerleitung 23 einen
hohen logischen Zustand hat. Der herkömmliche Datenausgabepuf
fer umfaßt ferner zwei Inverter GI10 und GI11 zum Verzögern des
Ausgangssignals von dem NAND-Gate GN3 um eine Periode, die der
Summe seiner Ausbreitungsverzögerungszeiten entspricht, und zum
Anlegen des verzögerten Signals an ein Gate des NMOS-Nieder
ziehtransistors MN6.
Wenn der NMOS-Hochziehtransistor MN5 nicht betrieben wird, wird
jedoch der NMOS-Transistor MN7 eingeschaltet, um die zweite
Versorgungsspannung stumm zu schalten, die von der zweiten Ver
sorgungsspannungsquelle Vpp durch den PMOS-Transistor MP1 der
Massespannungsquelle Vss zugeführt wird. Aus diesem Grund hat
der herkömmliche Datenausgabepuffer in Fig. 2 den Nachteil, daß
er den Stromverbrauch unnötig erhöht. Bei den herkömmlichen
Datenausgabepuffern, die den NMOS-Hochziehtransistor haben, wie
in den Fig. 1 und 2 gezeigt, erfordert die Verwendung der Ver
stärkungsschaltung einen großen Platzbedarf oder einen großen
Besetzungsbereich in der integrierten Halbleiterschaltungsvor
richtung, was zu einer Reduzierung des Integrationsgrads der
integrierten Halbleiterschaltungsvorrichtung führt.
In Fig. 3 ist ein Schaltungsdiagramm noch eines weiteren her
kömmlichen Datenausgabepuffers gezeigt. Dieser herkömmliche
Datenausgabepuffer umfaßt demnach einen PMOS-Hochziehtransistor
MP4, der zwischen eine Ausgabeleitung 35 und eine Versorgungs
spannungsquelle Vcc geschaltet ist, und einen NMOS-Niederzieh
transistor MN10, der zwischen die Ausgabeleitung 35 und eine
Massespannungsquelle Vss geschaltet ist. Der PMOS-Hochziehtran
sistor MP4 hat den Vorteil, daß er an die Ausgabeleitung 35 ei
ne Spannung überträgt, die höher ist als diejenige von Daten,
die von einem NAND-Gate GN4 durch einen NMOS-Transistor MN11
zugeführt werden. Der PMOS-Hochziehtransistor MP4 hat jedoch
den Nachteil, daß er eine Spannung an der Ausgabeleitung 35 zu
der Versorgungsspannungsquelle Vcc überträgt, wenn die Spannung
an der Ausgabeleitung 35 höher ist als eine Versorgungsspannung
von der Versorgungsspannungsquelle Vcc.
Der herkömmliche Datenausgabepuffer umfaßt ferner einen PMOS-Transistor
MP6, der zwischen die Versorgungsspannungsquelle
Vcc, die Ausgabeleitung 35 und einen Masseknoten (bulk node)
(d. h. eine N-Quelle) 37 des PMOS-Hochziehtransistors MP4 ge
schaltet ist. Der PMOS-Transistor MP6 hat ein Gate zum Eingeben
der Spannung Dout von der Ausgabeleitung 35 und eine Source,
die an die Versorgungsspannungsquelle Vcc angeschlossen ist.
Wenn die Spannung Dout von der Ausgabeleitung 35 niedriger ist
als die Versorgungsspannung von der Versorgungsspannungsquelle
Vcc, und zwar um eine Schwellenspannung Vtp1 des PMOS-Transi
stors MP6 oder darüber, nämlich, Dout < Vcc - Vtp1, legt der
PMOS-Transistor MP6 die Versorgungsspannung von der Versor
gungsspannungsquelle Vcc an den Masseknoten 37 des PMOS-Hoch
ziehtransistors MP4 an, um den PMOS-Hochziehtransistor MP4 sta
bil zu betreiben.
In dem Fall, in dem die Spannung Dout an der Ausgabeleitung 35
zwischen der Differenz zwischen der Versorgungsspannung von der
Versorgungsspannung Vcc und der Schwellenspannung Vtp1 des
PMOS-Transistors MP6 und der Summe der Versorgungsspannung von
der Versorgungsspannungsquelle Vcc und der Spannung Vd zum Ein
schalten eines P-N-Übergangs des Hochziehtransistors MP4 vor
handen ist, reduziert der PMOS-Hochziehtransistor MP4 einen
Strompfad zwischen der Versorgungsspannungsquelle Vcc und der
Ausgabeleitung 35, weil der Masseknoten 37 davon in seinem
schwimmenden Zustand verbleibt.
In dem Fall, in dem die Spannung Dout an der Ausgabeleitung 35
höher ist als die Summe der Versorgungsspannung von der Versor
gungsspannungsquelle Vcc und der P-N-Übergangseinschaltspannung
Vd des PMOS-Hochziehtransistors MP4, wird sie andererseits mit
der Versorgungsspannungsquelle Vcc verriegelt. Auch in diesem
Fall verbleibt der Masseknoten 37 des PMOS-Hochziehtransistors
MP4 auf einer Spannung (Dout - Vd), die um die P-N-Übergangs
einschaltspannung Vd des PMOS-Hochziehtransistors MP4 niedriger
ist als die Spannung Dout an der Ausgabeleitung 35.
Der herkömmliche Datenausgabepuffer umfaßt ferner einen varia
blen Widerstand 30, der zwischen einen Ausgangsanschluß des
NAND-Gates GN4 und ein Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP4
geschaltet ist, und einen PMOS-Transistor MP7, der zwischen das
Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP4 und die Ausgabeleitung 35
geschaltet ist. Der variable Widerstand 30 ist dazu ausgelegt,
eine Höhe des Stroms, der von dem NAND-Gate GN4 zu dem Gate des
PMOS-Hochziehtransistors MP4 fließt, entsprechend einem logi
schen Zustand von Daten auf der Ausgabeleitung 35 einzustellen.
Zu diesem Zweck enthält der variable Transistor 30 den NMOS-Transistor
MN11 und einen PMOS-Transistor MP5. Der NMOS-Transi
stor MN11 hat ein Gate, das an die Spannungsversorgungsquelle
Vcc angeschlossen ist, und der PMOS-Transistor MP5 hat ein
Gate, das an die Ausgabeleitung 35 angeschlossen ist. Wenn die
Spannung an der Ausgabeleitung 35 höher ist als die Summe der
Versorgungsspannung von der Versorgungsspannung Vcc und der
Schwellenspannung Vtp2 des PMOS-Transistors MP7, koppelt der
PMOS-Transistor MP7 andererseits die Spannung an der Ausgabe
leitung 35 zurück zu dem Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP4,
um den PMOS-Hochziehtransistor MP4 zwangsweise auszuschalten.
Der herkömmliche Datenausgabepuffer umfaßt ferner zwei Inverter
GI12 und GI13 und ein NAND-Gate GN5. Wenn ein Ausgabefreigabe
signal OE von einer Steuerleitung 33 einen hohen logischen Zu
stand hat, sind die Inverter GI12 und GI13 und das NAND-Gate
GN5 dazu in der Lage, Daten DO von einer Eingabeleitung 31 zu
invertieren und die invertierten Daten an ein Gate des NMOS-Niederziehtransistors
MN10 anzulegen. Das NAND-Gate GN4 dient
andererseits dazu, die Daten DO von der Eingabeleitung 31 zu
invertieren, wenn das Ausgabefreigabesignal OE von der Steuer
leitung 33 einen hohen logischen Zustand hat. Das NAND-Gate GN4
legt daraufhin die invertierten Daten an das Gate des PMOS-
Hochziehtransistors MP4 durch den variablen Widerstand 30 an.
Wie vorstehend erwähnt, sollen durch den in Fig. 3 gezeigten
herkömmlichen Datenausgabepuffer die Probleme der herkömmlichen
Datenausgabepuffer gemäß den Fig. 1 und 2 überwunden werden, er
hat jedoch den Nachteil, daß die Spannung an der Ausgabeleitung
mit der Versorgungsspannungsquelle verriegelt wird.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht deshalb ange
sichts der Probleme des Standes der Technik darin, einen Daten
ausgabepuffer zu schaffen, der dazu in der Lage ist, zu verhin
dern, daß eine Spannung an eine Ausgabeleitung mit einer Ver
sorgungsspannungsquelle verriegelt wird, und die Arbeitsge
schwindigkeit zu erhöhen.
Gemäß der vorliegenden Erfindung werden die vorstehend genann
ten sowie weitere Aufgaben dadurch gelöst, daß ein Datenaus
gabepuffer vorgesehen ist, der einen Hochziehtransistor mit ei
ner N-Quelle hat, wobei der Hochziehtransistor eine Versor
gungsspannung von einer Versorgungsspannungsquelle zu einer
Ausgabeleitung ansprechend auf einen logischen Zustand von
Daten von einer Eingabeleitung überträgt, eine Schalteinrich
tung zum Schalten der Versorgungsspannung von der Versorgungs
spannungsquelle an die N-Quelle des Hochziehtransistors anspre
chend auf eine Spannung an der Ausgabeleitung, und eine Rück
koppeleinrichtung zum Rückkoppeln der Spannung an der Ausgabe
leitung an die N-Quelle des Hochziehtransistors, wenn die Span
nung an der Ausgabeleitung höher ist als die Versorgungsspan
nung von der Versorgungsspannungsquelle.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnungen bei spiel
haft näher erläutert; es zeigen
Fig. 1 ein Schaltungsdiagramm eines herkömmlichen Datenausgabe
puffers,
Fig. 2 ein Schaltungsdiagramm eines weiteren herkömmlichen
Datenausgabepuffers,
Fig. 3 ein Schaltungsdiagramm noch eines weiteren herkömmlichen
Datenausgabepuffers, und
Fig. 4 ein Schaltungsdiagramm eines Datenausgabepuffers gemäß
einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
In Fig. 4 ist ein Schaltungsdiagramm eines Datenausgabepuffers
gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung gezeigt.
Demnach umfaßt der Datenausgabepuffer einen PMOS-Hochziehtran
sistor MP8, der zwischen eine Ausgabeleitung 45 und eine Ver
sorgungsspannungsquelle Vcc geschaltet ist, und einen NMOS-Nie
derziehtransistor MN12, der zwischen die Ausgabeleitung 45 und
eine Massespannungsquelle Vss geschaltet ist. Der PMOS-Hoch
ziehtransistor MP8 hat ein Gate zum Eingeben von Daten von ei
nem NAND-Gate GN6 durch einen variablen Transistor 40. Wenn die
Daten von dem NAND-Gate GN6 einen niedrigen logischen Zustand
haben, überträgt der PMOS-Hochziehtransistor MP8 eine Versor
gungsspannung von der Versorgungsspannungsquelle Vcc zu der
Ausgabeleitung 45. Das NAND-Gate GN6 dient dazu, Daten D0 von
einer Eingabeleitung 41 zu invertieren, wenn ein Ausgabefrei
gabesignal OE von einer Steuerleitung 43 einen hohen logischen
Zustand hat. Das NAND-Gate GN6 legt daraufhin die invertierten
Daten an das Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP6 durch den
variablen Widerstand 40 an.
Der variable Widerstand 40 ist dazu ausgelegt, die Höhe des
Stroms einzustellen, die von einem Ausgabeanschluß des NAND-Gates
GN6 zu dem Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP8 fließt,
entsprechend einem logischen Zustand der Daten auf der Ausgabe
leitung 45. Wenn die Daten auf der Ausgabeleitung 45 einen ho
hen logischen Zustand haben, reduziert der variable Widerstand
40 mehr im einzelnen die Höhe des Stroms, der zu dem Gate des
PMOS-Hochziehtransistors MP8 fließt. Wenn die Daten auf der
Ausgabeleitung 45 einen niedrigen logischen Zustand haben, er
höht der variable Transistor 40 hingegen die Höhe des Stroms,
der zu dem Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP8 fließt. Zu
diesem Zweck enthält der variable Widerstand 40 einen NMOS-Transistor
MN13 und einen PMOS-Transistor MP9, die parallel
zwischen den Ausgangsanschluß des NAND-Gates GN6 und das Gate
des PMOS-Hochziehtransistors MP8 geschaltet sind. Der NMOS-
Transistor MN13 hat ein Gate zum Eingeben der Versorgungsspan
nung von der Versorgungsspannungsquelle Vcc. Der NMOS-Transi
stor MN13 verbleibt dadurch immer in seinem EIN-Zustand. Der
PMOS-Transistor MP9 hat andererseits ein Gate zum Eingeben der
Daten auf der Ausgabeleitung 45. Wenn die Daten auf der Aus
gabeleitung 45 einen niedrigen logischen Zustand haben, wird
der PMOS-Transistor MP9 eingeschaltet, um den Widerstand zwi
schen dem Ausgangsanschluß des NAND-Gates GN6 und dem Gate des
PMOS-Hochziehtransistors MP8 zu reduzieren. Wenn die Daten auf
der Ausgabeleitung 45 einen hohen logischen Zustand haben, wird
der PMOS-Transistor MP9 hingegen ausgeschaltet, um den Wider
stand zwischen dem Ausgangsanschluß des NAND-Gates GN6 und dem
Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP8 zu erhöhen.
Der Datenausgabepuffer umfaßt ferner einen Inverter GI14 zum
Invertieren der Daten DO von der Eingabeleitung 41 und ein NAND-Gate
GN7 zum Eingeben eines Ausgabesignals von dem Inverter
GI14 und des Ausgabefreigabesignals OE von der Steuerleitung
43. Wenn das Ausgabefreigabesignal OE von der Steuerleitung 43
einen hohen logischen Zustand hat, invertiert das NAND-Gate GN7
das Ausgabesignal von dem Inverter GI14. Das NAND-Gate GN7 er
zeugt dadurch ein Signal niedrigen logischen Zustands nur dann,
wenn das Ausgabefreigabesignal OE von der Steuerleitung 43 ei
nen hohen logischen Zustand hat, und die Daten DO von der Ein
gabeleitung 41 einen niedrigen logischen Zustand haben. Der
Datenausgabepuffer umfaßt ferner einen Inverter GI15 zum Inver
tieren eines Ausgabesignals von dem NAND-Gate GN7 und zum Anle
gen des invertierten Signals an ein Gate des NMOS-Niederzieh
transistors MN12. Wenn ein Ausgabesignal von dem Inverter GI15
einen hohen logischen Zustand hat, wird der NMOS-Niederzieh
transistor MN12 eingeschaltet, um die Spannung auf der Ausgabe
leitung 45 zu der Massespannungsquelle Vss stumm zu schalten.
Der Datenausgabepuffer umfaßt ferner einen PMOS-Transistor
MP10, der zwischen die Versorgungsspannungsquelle Vcc und einen
Masseknoten (d. h. eine N-Typ-Quelle) 47 des PMOS-Hochziehtran
sistors MP8 geschaltet ist, und einen PMOS-Transistor MP11, der
zwischen das Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP8 und die Aus
gabeleitung 45 geschaltet ist. Der PMOS-Transistor MP10 hat ein
Gate zum Eingeben der Spannung Dout von der Ausgabeleitung 45
und eine Source, die an die Versorgungsspannungsquelle Vcc an
geschlossen ist. Wenn die Spannung Dout von der Ausgabeleitung
45 niedriger ist als die Versorgungsspannung von der Versor
gungsspannungsquelle Vcc, und zwar um eine Schwellenspannung
Vtp3 des PMOS-Transistors MP1, oder um mehr, nämlich Dout < Vcc
- Vtp3, legt der PMOS-Transistor MP10 die Versorgungsspannung
von der Versorgungsspannungsquelle Vcc an den Masseknoten 47
des PMOS-Niederziehtransistors MP8 an, um den PMOS-Transistor
MP8 stabil zu betreiben. Wenn die Spannung an der Ausgabelei
tung 45 andererseits höher ist als die Summe der Versorgungs
spannung von der Versorgungsspannungsquelle Vcc und einer
Schwellenspannung Vtp4 des PMOS-Transistors MP11, koppelt der
PMOS-Transistor MP11 die Spannung an der Ausgabeleitung 45 an
das Gate des PMOS-Hochziehtransistors MP8 zurück, um den PMOS-Hochziehtransistor
MP8 zwangsweise auszuschalten.
Der Datenausgabepuffer umfaßt außerdem einen PMOS-Transistor
MP12, der zwischen die Ausgabeleitung 45 und dem Masseknoten 47
des PMOS-Hochziehtransistors MP8 geschaltet ist. Der PMOS-Tran
sistor MP12 hat ein Gate, das an die Versorgungsspannungsquelle
Vcc angeschlossen ist. Wenn die Spannung an der Ausgabeleitung
45 höher oder gleich ist wie die Summe der Versorgungsspannung
von der Versorgungsspannungsquelle Vcc und einer Schwellenspan
nung Vtp5 des PMOS-Transistors MP12, nämlich wenn Dout Vcc +
Vtp5, koppelt der PMOS-Transistor MP12 die Spannung auf der
Ausgabeleitung 45 zurück an den Masseknoten 47 des PMOS-Hoch
ziehtransistors MP8. Dadurch ist dieselbe Spannung an dem Mas
seknoten 47 des PMOS-Hochziehtransistors MP8 und der Ausgabe
leitung 45 vorhanden. Die Spannung Dout an der Ausgabeleitung
45 ist deshalb nicht mehr mit der Versorgungsspannungsquelle
Vcc durch den PMOS-Hochziehtransistor MP8 verriegelt. Der Grund
dafür ist, daß eine Unterdrückung der Bewegung von Löchern von
der Ausgabeleitung 45 zu dem Masseknoten 47 des PMOS-Hochzieh
transistors MP8 durch einen (nicht gezeigten) Drain-Diffusions
bereich des PMOS-Hochziehtransistors MP8 angelegt oder vorgese
hen wird. Zu diesem Zweck wird die Schwellenspannung Vtp5 des
PMOS-Transistors MP12 so eingestellt, daß sie niedriger wird
als eine Spannung Vd zum Einschalten eines P-N-Übergangs des
PMOS-Hochziehtransistors MP8. Der P-N-Übergang des PMOS-Hoch
ziehtransistors MP8 bedeutet einen Übergang zwischen dem Drain-
Diffusionsbereich und dem Masseknoten (d. h. der N-Typ-Quelle)
47 des PMOS-Hochziehtransistors MP8.
Außerdem sind die Masseknoten der vier PMOS-Transistoren MP9,
MP10, MP11 und MP12 gemeinsam an den Masseknoten 47 des PMOS-Hochziehtransistors
MP8 angeschlossen.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung deutlich wird, wird die
Spannung an der Ausgabeleitung erfindungsgemäß an den Massekno
ten des PMOS-Hochziehtransistors derart rückgekoppelt, daß sie
daran gehindert werden kann, mit der Versorgungsspannungsquelle
verriegelt zu werden. Der Datenausgabepuffer der vorliegenden
Erfindung hat außerdem eine erhöhte Arbeitsgeschwindigkeit und
einen reduzierten Platzbedarf oder Besetzungsbereich in der in
tegrierten Halbleiterschaltungsvorrichtung im Vergleich zu dem
jenigen eines NMOS-Hochziehtransistors.
Obwohl die bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Er
findung zur Erläuterung beschrieben worden sind, liegt es für
den Fachmann auf der Hand, daß verschiedene Modifikationen, Zu
sätze und Ersätze möglich sind, ohne vom Umfang und Geist der
Erfindung abzuweichen, die in den beiliegenden Ansprüchen
offenbart ist.
Claims (3)
1. Datenausgabepuffer mit:
einem Hochziehtransistor, der eine N-Typ-Quelle hat, wobei der Hochziehtransistor eine Versorgungsspannung von einer Versorgungsspannungsquelle zu einer Ausgabeleitung anspre chend auf einen logischen Zustand von Daten von einer Ein gabeleitung überträgt,
einer Schalteinrichtung zum Schalten der Versorgungsspan nung von einer Versorgungsspannungsquelle zu der N-Typ- Quelle des Hochziehtransistors ansprechend auf eine Span nung an der Ausgabeleitung, und
einer Rückkoppeleinrichtung zum Rückkoppeln der Spannung an der Ausgabeleitung zu der N-Typ-Quelle des Hochziehtransi stors, wenn die Spannung an der Ausgabeleitung höher ist als die Versorgungsspannung von der Versorgungsspannungs quelle.
einem Hochziehtransistor, der eine N-Typ-Quelle hat, wobei der Hochziehtransistor eine Versorgungsspannung von einer Versorgungsspannungsquelle zu einer Ausgabeleitung anspre chend auf einen logischen Zustand von Daten von einer Ein gabeleitung überträgt,
einer Schalteinrichtung zum Schalten der Versorgungsspan nung von einer Versorgungsspannungsquelle zu der N-Typ- Quelle des Hochziehtransistors ansprechend auf eine Span nung an der Ausgabeleitung, und
einer Rückkoppeleinrichtung zum Rückkoppeln der Spannung an der Ausgabeleitung zu der N-Typ-Quelle des Hochziehtransi stors, wenn die Spannung an der Ausgabeleitung höher ist als die Versorgungsspannung von der Versorgungsspannungs quelle.
2. Datenausgabepuffer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Rückkoppeleinrichtung einen PMOS-Transistor ein
schließt, wobei der PMOS-Transistor ein Gate hat, das an
die Versorgungsspannungsquelle angeschlossen ist, einen
Drain, der an die N-Typ-Quelle des Hochziehtransistors an
geschlossen ist, und eine Source, die an die Ausgabeleitung
angeschlossen ist.
3. Datenausgabepuffer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der PMOS-Transistor eine Schwellenspannung hat, die
niedriger ist als eine Spannung zum Einschalten eines Über
gangs zwischen einem Drain und der N-Typ-Quelle des Hoch
ziehtransistors.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940008048A KR0120565B1 (ko) | 1994-04-18 | 1994-04-18 | 래치-업을 방지한 씨모스형 데이타 출력버퍼 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19514347A1 true DE19514347A1 (de) | 1995-10-19 |
DE19514347C2 DE19514347C2 (de) | 1998-03-26 |
Family
ID=19381181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19514347A Expired - Fee Related DE19514347C2 (de) | 1994-04-18 | 1995-04-18 | Datenausgabepuffer |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5546020A (de) |
JP (1) | JPH088715A (de) |
KR (1) | KR0120565B1 (de) |
DE (1) | DE19514347C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0772302A3 (de) * | 1995-10-31 | 1999-03-10 | Hyundai Electronics America, Inc. | Ausgangstreiber für Systeme mit gemischtem Spannungsbetrieb |
DE19820040B4 (de) * | 1997-10-07 | 2005-10-27 | Mitsubishi Denki K.K. | Halbleiterspeichervorrichtung |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3369384B2 (ja) * | 1995-07-12 | 2003-01-20 | 三菱電機株式会社 | 出力バッファ回路 |
DE69517948T2 (de) * | 1995-02-28 | 2001-03-08 | Co.Ri.M.Me., Catania | Schaltkreis zum Vorspannen von epitaxialen Gebieten |
US6040711A (en) * | 1995-03-31 | 2000-03-21 | Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. | CMOS output buffer having a switchable bulk line |
EP0735686B1 (de) * | 1995-03-31 | 2001-07-04 | Consorzio per la Ricerca sulla Microelettronica nel Mezzogiorno | CMOS Ausgangspuffer mit drei Zuständen |
US5723992A (en) * | 1995-10-19 | 1998-03-03 | Aspec Technology, Inc. | Low leakage output driver circuit which can be utilized in a multi-voltage source |
KR100211537B1 (ko) * | 1995-11-13 | 1999-08-02 | 김영환 | 정전기 방지기능을 갖는 트랜지스터 및 그 제조방법과 이를 이용한 데이타 출력버퍼 |
JP3210567B2 (ja) * | 1996-03-08 | 2001-09-17 | 株式会社東芝 | 半導体出力回路 |
JP3340906B2 (ja) * | 1996-03-13 | 2002-11-05 | 株式会社 沖マイクロデザイン | 出力回路 |
US5877635A (en) * | 1997-03-07 | 1999-03-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Full-swing buffer circuit with charge pump |
JPH11214978A (ja) * | 1998-01-26 | 1999-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
JPH11317657A (ja) * | 1998-05-06 | 1999-11-16 | Toshiba Corp | トランスミッション・ゲート回路 |
US6144221A (en) | 1998-07-02 | 2000-11-07 | Seiko Epson Corporation | Voltage tolerant interface circuit |
US6239649B1 (en) | 1999-04-20 | 2001-05-29 | International Business Machines Corporation | Switched body SOI (silicon on insulator) circuits and fabrication method therefor |
US6362665B1 (en) * | 1999-11-19 | 2002-03-26 | Intersil Americas Inc. | Backwards drivable MOS output driver |
JP3489512B2 (ja) * | 1999-11-24 | 2004-01-19 | 日本電気株式会社 | ラッチアップ防止回路 |
US6326832B1 (en) * | 2000-03-29 | 2001-12-04 | National Semiconductor Corporation | Full swing power down buffer with multiple power supply isolation for standard CMOS processes |
US6496054B1 (en) * | 2000-05-13 | 2002-12-17 | Cypress Semiconductor Corp. | Control signal generator for an overvoltage-tolerant interface circuit on a low voltage process |
US6326835B1 (en) | 2000-10-05 | 2001-12-04 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Input/output circuit for semiconductor integrated circuit device |
JP4680423B2 (ja) * | 2001-05-30 | 2011-05-11 | 株式会社リコー | 出力回路 |
TWI306251B (en) * | 2004-06-18 | 2009-02-11 | Tian Holdings Llc | System of sampleing interface for pick-up head |
US8018268B1 (en) | 2004-11-19 | 2011-09-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Over-voltage tolerant input circuit |
JP4882584B2 (ja) * | 2006-08-07 | 2012-02-22 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 入出力回路 |
US7605633B2 (en) * | 2007-03-20 | 2009-10-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Level shift circuit which improved the blake down voltage |
JP2008283274A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Seiko Epson Corp | 入力インタフェース回路、集積回路装置および電子機器 |
US7683696B1 (en) * | 2007-12-26 | 2010-03-23 | Exar Corporation | Open-drain output buffer for single-voltage-supply CMOS |
US20160285453A1 (en) * | 2015-03-25 | 2016-09-29 | Qualcomm Incorporated | Driver using pull-up nmos transistor |
US10090838B2 (en) * | 2015-09-30 | 2018-10-02 | Silicon Laboratories Inc. | Over voltage tolerant circuit |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0498377A2 (de) * | 1991-02-07 | 1992-08-12 | Rohm Co., Ltd. | Ausgangsschaltung |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3743930A1 (de) * | 1987-12-23 | 1989-07-06 | Siemens Ag | Integrierte schaltung mit "latch-up"-schutzschaltung in komplementaerer mos-schaltungstechnik |
US4709162A (en) * | 1986-09-18 | 1987-11-24 | International Business Machines Corporation | Off-chip driver circuits |
US5151619A (en) * | 1990-10-11 | 1992-09-29 | International Business Machines Corporation | Cmos off chip driver circuit |
JPH04329024A (ja) * | 1991-04-30 | 1992-11-17 | Toshiba Corp | 入出力バッファ回路 |
JPH057149A (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-14 | Fujitsu Ltd | 出力回路 |
GB2258100B (en) * | 1991-06-28 | 1995-02-15 | Digital Equipment Corp | Floating-well CMOS output driver |
ATE139875T1 (de) * | 1992-09-16 | 1996-07-15 | Siemens Ag | Cmos-pufferschaltung |
US5300832A (en) * | 1992-11-10 | 1994-04-05 | Sun Microsystems, Inc. | Voltage interfacing buffer with isolation transistors used for overvoltage protection |
US5381061A (en) * | 1993-03-02 | 1995-01-10 | National Semiconductor Corporation | Overvoltage tolerant output buffer circuit |
US5396128A (en) * | 1993-09-13 | 1995-03-07 | Motorola, Inc. | Output circuit for interfacing integrated circuits having different power supply potentials |
-
1994
- 1994-04-18 KR KR1019940008048A patent/KR0120565B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-04-18 US US08/423,860 patent/US5546020A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-04-18 JP JP7092438A patent/JPH088715A/ja active Pending
- 1995-04-18 DE DE19514347A patent/DE19514347C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0498377A2 (de) * | 1991-02-07 | 1992-08-12 | Rohm Co., Ltd. | Ausgangsschaltung |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0772302A3 (de) * | 1995-10-31 | 1999-03-10 | Hyundai Electronics America, Inc. | Ausgangstreiber für Systeme mit gemischtem Spannungsbetrieb |
DE19820040B4 (de) * | 1997-10-07 | 2005-10-27 | Mitsubishi Denki K.K. | Halbleiterspeichervorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5546020A (en) | 1996-08-13 |
KR0120565B1 (ko) | 1997-10-30 |
KR950030487A (ko) | 1995-11-24 |
JPH088715A (ja) | 1996-01-12 |
DE19514347C2 (de) | 1998-03-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19514347C2 (de) | Datenausgabepuffer | |
DE69528542T2 (de) | Ausgangsschaltung zur Verwendung in einer integrierten Halbleiterschaltung | |
DE10047451B4 (de) | Datenausgabeschaltkreis für ein Halbleiterbauelement | |
DE69809623T2 (de) | Logische MOS-Schaltung und Halbleitervorrichtung | |
DE69434906T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung und Abschlussvorrichtung | |
DE69312175T2 (de) | Schnelle CMOS Bustreiberschaltungen | |
DE4101143C1 (de) | ||
DE69023565T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung. | |
DE69804423T2 (de) | Mit Sicherheit auch bei niedriger Betriebsspannung betreibbare Pegelumsetzerschaltung | |
DE69422243T2 (de) | MOS-Ausgangsschaltung mit Schutz gegen Leckströmen | |
DE69117553T2 (de) | Ausgangsschaltung | |
DE19515789A1 (de) | Bootstrap-Schaltkreis | |
DE3689466T2 (de) | Quellenfolger-CMOS-Eingangspuffer. | |
DE69313026T2 (de) | Schnelle CMOS Ausgangspufferschaltungen | |
DE69420570T2 (de) | Schutz fur puffer gegen ausgangspannungsveranderungen | |
DE102005031904B4 (de) | Ausgangstreiber für eine Halbleitervorrichtung | |
DE19654544C2 (de) | Differenzverstärker | |
DE10022770A1 (de) | Leseverstärker einer integrierten Halbleiterschaltung | |
DE68921309T2 (de) | Signalverteilungseinheit für variable Eingangssignale, welche verschiedene Spannungspegel aufweisen. | |
DE69214327T2 (de) | CMOS-Ausgangspufferschaltung | |
DE4336720B4 (de) | Eingabepuffer | |
DE19502598B4 (de) | Eingangspuffer für CMOS-Schaltungen | |
DE3875450T2 (de) | Cmos-verriegelungsschaltungen. | |
DE19751789A1 (de) | Spannungspegel-Verschiebeschaltung | |
DE19951620B4 (de) | Differentialverstärkerschaltung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20131101 |