DE1924975B2 - Verfahren und vorrichtung zur ueberpruefung der oberflaeche eines werkstuecks oder dergleichen - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur ueberpruefung der oberflaeche eines werkstuecks oder dergleichenInfo
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- G01B7/34—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und auf eine Vorrichtung zur Überprüfung der Oberfläche eines
Werkstücks od. dgl. durch Messung und Anzeige einer Anzahl von Parametern des Oberflächenprofils, insbesondere
mittels einer Stiftauslenkungs-Meßanordnung, wobei die jeweils über eine bestimmte Profillänge
ermittelten Spitzen- und Tal-Werte der Profilhöhe mittels eines Wandlers in entsprechende elektrische
Signale umgesetzt werden.
Es ist bereits eine Einrichtung zur Prüfung der Oberflächengüte bekannt (DT-PS 8 94 452), bestehend
aus einem die zu prüfende Oberfläche abtastenden Taster mit elektrischen oder optisch-elektrischem
Fühler und elektrischem Verstärker oder mit sonstiger geeigneter Einrichtung. Bei dieser bekannten Einrichtung
werden proportional zu den vertikalen Auslenkungen des Tasters und zu seinem horizontalen Weg
bezüglich der abzutastenden Oberfläche Verstellantriebe betätigt, welche die verschiedenen mathematischen
Rechenoperationen ausführende und entsprechend der darzustellenden Funktion gekoppelte, als Ergebnis eine
größere Zahl von Oberflächenmaßzahlen zur Kenn-
zeichnung der Oberflächengüte anzeigende Rechenwerke
antreiben. Diese Art der Prüfung der Oberflächengüte ist nun relativ kompliziert, und außerdem kann
es bei dieser Art der Oberflächenprüfung relativ leicht zu Verfälschungen der Meßergebnisse kommen, und
zwar wegen der relativ komplizierten vorgesehenen Vorrichtungen.
Es ist ferner bereits ein Oberflächenprüfgerät mit einem parallel zur Prüfoberfläche zu verschiebenden,
senkrecht dazu arbeitenden Taster und einem die Oberflächengestalt anzeigenden Meßinstrument bekannt
(DT-PS 9 77 396), welches der Taster über einen Verstärker steuert Bei diesem bekannten Oberflächenprüfgerät
sind Einrichtungen zur Erzeugung von Spannungen und Strömen vorgesehen, welche sowohl "S
den vom Taster abgenommenen Maximal- als auch den aus den Momentanwerten abgeleiteten Mittelwerten
der Oberflächengestalt entsprechen. / ußerdem sind bei dem betreffenden bekannten Prüfgerät die erwähnten
Einrichtungen wahlweise an das zur Anzeige der Mittel- oder Maximalwerte geeignete Anzeigeinstrument anzuschalten.
Von Nachteil bei dieser bekannten Art der Oberflächenprüfung ist jedoch der Umstand, daß der
Abstand und die Verteilung der Profilspitzen einen erheblichen Einfluß auf die Anzeige bzw. Anzeigegenauigkeit
haben.
Es ist ferner ein Oberflächenmeßgerät zur Anzeige des mittleren Wertes der Rauheit unter Verwendung
eines integrierenden Kondensators bekannt (DT-Pat. Anm. P 8347 IX/42b), bei dem mit zunehmender
Aufladung des Kondensators das Potential des Ladekreises angehoben wird. Auf diese Weise gelingt es
zwar, einer Oberflächengestalt proportionale elektrische Strom- und Spannungsänderungen mittels rechnender
Einrichtungen so auszuwerten, daß auf Anzeigeinstrumenten Oberflächenmeßzahlen insbesondere
für den mittleren Wert der Rauheit abgelesen werden können. Von Nachteil hierbei ist jedoch ebenfalls der
Umstand, daß der Abstand und die Verteilung von Profilspitzen einen erheblichen Einfluß auf die Genauigkeit
der Anzeige haben. Im übrigen ist der bei dieser Art der Oberflächenprüfung erforderliche Aufwand relativ
hoch.
Es sind auch schon ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Prüfung und Messung der Unregelmäßigkeiten
von Oberflächenprofilen vorgeschlagen worden (DT-AS 15 48 302), wobei durch fortlaufende
Abtastung des Oberflächenprofils durch einen Meßtaster über einen elektromechanischen Meßübertrager
ein elektrisches Meßsignal erzeugt wird, welches proportional zu der von einem vorgegebenen Bezugsniveau
aus bestimmten Amplitude des Istprofils der Oberfläche ist und so aufgespeichert wird, daß eine dem
abgetasteten Oberflächenprofil entsprechende kontinuierliche Aufzeichnung entsteht. Dabei werden aus der
gespeicherten Meßsignalaufzeichnung zwei elektrische Signale abgeleitet, von denen das erste Signal ein durch
fortlaufende Integration der Meßsignalaufzeichnung über eine vorbestimmte Prüfspanne gewonnenes
Mittelwertsignal darstellt, in welchem bestimmte Teile <■-*
der Meßsignalaufzeichnung je nach dem vorzugsweise symmetrischen Abstand zum Mittelpunkt der Prüfspanne
unterschiedliche Anteile haben, während das zweite elektrische Signal denn ursprünglichen momentanen
Meßsignal im Mittelpunkt der Prüfspanne entspricht. '1S
Außerdem werden die beiden abgeleiteten elektrischen Signale zur Bildung eines quantitativen Maßes für die
Oberflächenunregelmäßigkeiten miteinander verglichen. Dieses Verfahren bedingt jedoch einen zuweilen
unerwünschten hohen Aufwand.
Im Zusammenhang mit der Bestimmung eines Oberflächenprofils ist es auch schon bekannt (siehe das
Buch »Prüfen und Messen der Oberflächengestalt« von I. Perthen, 1949, Seiten 112, 113), Tast- und
Lichtschnitte liefernde entsprechende Meßgeräte einzusetzen. In diesem Zusammenhang ist es auch bekannt,
daß ein Lichtschnitt die Gestalt der Oberfläche zwar anschaulich zeigt, daß hingegen aber der Tastschnitt
einen größeren Überblick und ein besseres Ausmessen gewährleistet Über eine Summierung bzw. Mittelwertbildung
von ermittelten Meßwerten zum Zwecke der Auswertung eines Mittelwertes eines Parameters des
jeweils überprüften Oberflächenprofils ist in dem betreffenden Zusammenhang jedoch nichts bekannt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Weg zu zeigen, wie auf besonders einfache Weise der
Mittelwert eines Parameters eines Oberflächenprofils angezeigt werden kann.
Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe bei einem Verfahren der eingangs genannten Art erfindungsgemäß
dadurch, daß im Zuge der Überprüfung aufeinanderfolgender Abschnitte des Oberflächenprofils
die den Spitzen- und Tal-Werten des jeweiligen Profilabschnitts entsprechenden elektrischen Signale
nacheinander durch eine Schalteinrichtung an aufeinanderfolgenden Oberflächenabschnitten entsprechende
Spitzen- und Tal-Speicherelemente abgegeben und in diesen Speicherelementen gespeichert werden, und daß
der Inhalt der einzelnen Speicherelemente nacheinander abgeführt und durch Summier- bzw. Mittelwertbildungseinrichtungen
zur Anzeige des Mittelwertes eines das Oberflächenprofil innerhalb der jeweils abgetasteten
Profillänge betreffenden Parameters ausgewertet wird.
Hierdurch ergibt sich der Vorteil, daß auf besonders einfache Art und Weise der Mittelwert eines das
Oberflächenprofil innerhalb der jeweils abgetasteten Profillänge betreffenden Parameters angezeigt und
ausgewertet werden kann.
Zur Durchführung des Verfahrens gemäß dei Erfindung ist es zweckmäßig, eine Vorrichtung zt
verwenden, die eine Stiftauslenkungs-Meßeinrichtung aufweist, welche einen Wandler, der einen Parametei
der zu überprüfenden Oberfläche entsprechende Profil signale zu erzeugen imstande ist, und Einrichtunger
umfaßt, durch die die Spitzen- und Tal-Werte de; Oberflächenprofils über eine bestimmte Profillängi
feststellbar und in entsprechende elektrische Signale umsetzbar sind. Diese Vorrichtung ist erfindungsgemät
dadurch gekennzeichnet, daß Spitzen- und Tal-Speicher elemente vorgesehen sind, welche die den Spitzen- um
Tal-Werten des genannten Oberflächenprofils in aufein
anderfolgenden Oberflächenabschnitten entsprechen den elektrischen Signale aufnehmen und speichern, unc
daß Einrichtungen vorgesehen sind, die den Inhal einzelner Speicherelemente abführen und durch Sum
miening eine Mittelwertbildung für eine Anzeige eine:
Mittelwert-Parameters des Oberflächenprofils inner halb der abgetasteten Profillänge vornehmen. Hier
durch ergibt sich der Vorteil eines besonders geringei konstruktiven Aufwands Für die Überprüfung de
Oberfläche eines Werkstücks od. dgl. und Anzeige de Mittelwertes eines das Oberflächenprofil innerhalb de
jeweils abgetasteten Profillänge betreffenden Parame ters.
Gemäß einer zweckmäßigen Ausgestaltung de
vorstehend bezeichneten Vorrichtung umfassen die den Inhalt der Speicherelemente abführenden oder eine
Mittelwertbildung vornehmenden Einrichtungen eine Steuereinrichtung, die auf die Beendigung eines
Überlaufens des Oberflächenprofils hin automatisch den
Inhalt der Speicherelemente an eine Summiereinrichtung abgibt. Hierdurch ergibt sich der Vorteil einer
besonders einfachen Auswertung der jeweils gespeicherten Signalwerte.
Gemäß einer weiteren zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung umfassen die Speicherelemente eine
Reihe von Kondensatoren, die sequentiell arbeitenden Schalteinrichtungen derart zugeordnet sind, daß im
Zuge der Abtastung aufeinanderfolgender Oberflächenabschnitte eines Oberflächenprofils die den Oberflächenabschnitten
entsprechenden elektrischen Signale aufeinanderfolgenden Kondensatoren der Reihe der
Kondensatoren nacheinander zuführbar sind. Hierdurch ergibt sich der Vorteil eines besonders geringen
Aufwands für die Speicherelemente und für deren Ansteuerung.
Gemäß einer weiteren zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung enthalten die sequentiell arbeitenden
Schalteinrichtungen einen Drehschalter, der mit einer zur Querbewegung eines zu der Stiftauslenkungs-Meßeinrichtung
gehörenden Stiftes dienenden Einrichtung derart verbunden ist, daß im Verlaufe der genannten
Querbewegung die Speicherelemente einzeln nacheinander mit dem Wandler verbunden sind. Hierdurch
ergibt sich der Vorteil, daß die Schalteinrichtungen konstruktiv besonders einfach und dennoch betriebssicher
sind.
Gemäß einer weiteren zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung enthalten die sequentiell arbeitenden
Schalteinrichtungen Transistorschalteinrichtungen, die den betreffenden Speicherelementen zugeordnet sind
und die an einer insbesondere durch einen von einem Multivibrator gesteuerten offenen Ringzähler gebildeten
Zeitsteuerschaltung derart angeschlossen sind, daß im Zuge eines sequentiellen Betriebs in gleichen
Intervallen jedes Speicherelement individuell mit dem die genannten elektrischen Signale liefernden Wandler
verbunden ist Hierdurch ergibt sich der Vorteil einer schaltungstechnisch besonders einfachen Realisierung
der sequentiell arbeitenden Schalteinrichtungen und der zu deren Ansteuerung dienenden Anordnung.
Gemäß einer weiteren zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung ist die letzte Stufe des offenen
Ringzählers als bistabile Schalteinrichtung betrieben, und durch die von den einzelnen Stufen des Ringzählers
abgegebenen Ausgangssignale sind sämtliche Speicherelemente fiber die entsprechenden Transistorschalteinrichtungen
mit der Summier- oder Mittelwertbildungseinrichtung verbindbar, an der eine Anzeigeeinrichtung
angeschlossen ist Hierdurch ergibt sich der Vorteil eines besonders geringen Aufwandes für die Ansteue-
rung-der Transistorschalteinrichtungen.
Gemäß einer weiteren zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung sind die Speicherelemente durch die den
Spitzen- oder Tal-Werten entsprechenden elektrischen Signale aufnehmende einzelne Kondensatoren gebildet
Hierdurch ergibt sich der Vorteil eines besonders geringen Aufwandes für die Realisierung der genannten
Speicherelemente.
Gemäß einer weiteren zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung sind an die für die Speicherung der den
Spitzen- und Takt-Werten entsprechenden elektrischen Signale dienenden Speicherelemente Hauptkondensatoren anschaltbar, durch die eine Mittelwertbildung der
in den betreffenden Speicherelementen gespeicherten Inhalte vornehmbar ist. Hierdurch ergibt sich der
Vorteil eines besonders geringen schaltungstechnischen
s Aufwands für die Mittelwertbildung der in den genannten Speicherelementen jeweils gespeicherten
Inhalte.
Anhand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend an einem Ausführungsbeispiel näher
ίο erläutert.
F i g. 1 zeigt schematisch eine Vorrichtung gemäß der Erfindung in einem Längsschnitt.
Fig.2 und 3 zeigen in Diagrammen schematisch
Oberflächenprofile in vergrößerter Form zum Zwecke
is der Verdeutlichung der Funktion der in Fig. 1
gezeigten Vorrichtung.
Fig.4 zeigt einen Schaltplan von elektronischen
Schalteinrichtungen, die anstelle eines bei der Vorrichtung gemäß F i g. 1 verwendeten Drehschalters verwendbar
sind.
Fig.5 veranschaulicht in einem Diagramm die
zeitliche Steuerung der in F i g. 4 gezeigten elektronischen Schalteinrichtungen.
F i g. 6 zeigt einen im Verlaufe der Ansteuerung der in
F i g. 6 zeigt einen im Verlaufe der Ansteuerung der in
ZS Fig.4 gezeigten elektronischen Schalteinrichtungen
ermittelten möglichen Profilverlauf einer überprüften Oberfläche.
F i g. 7 zeigt eine zur Ansteuerung der in F i g. 4 dargestellten elektronischen Schalteinrichtungen verwendbare
Zeitsteuerschaltung.
In F i g. 1 ist eine Vorrichtung zur Überprüfung der
Oberfläche eines Werkstücks od. dgl. gezeigt. Dieser Vorrichtung ist eine Reihe von Speicherelemente
darstellenden Kondensatoren 10 zugehörig, die alle den gleichen Kapazitätswert besitzen. Die Anzahl der
Kondensatoren iO entspricht dabei der Anzahl der Oberflächenabschnitte, bezüglich derer eine Mittelwertbildung
hinsichtlich ihres Profils vorzunehmen ist Im vorliegenden Fall sind fünf Kondensatoren 10 vorgesehen.
Diese Kondensatoren 10 sind so angeordnet, daß sie nacheinander einem Oberflächenprofil entsprechende
elektrische Signale in Form von Spitzenladungen aufnehmen. Das betreffende elektrische Signal wird
dabei von einem Wandler 13 geliefert, der an einem sich über eine zu untersuchende Oberfläche 12 bewegenden
Taststift 11 angeschlossen ist Der Wandler 13 und der Taststift 11 bilden Teile einer bewegbaren Anordnung,
die über die zu überwachende bzw. zu überprüfende Oberfläche 12 geführt wird. Für die Bewegung dieser
bewegbaren Anordnung dient eine von einem Motor angetriebene Welle 14 der Vorrichtung. Die Vorrichtung
weist ferner ein Gehäuse 15 auf, von dem in F i g. 1
lediglich ein Teil gezeigt ist
Die in Fig. 1 dargestellte Vorrichtung enthält ferner durch einen Drehschalter gebildete Schalteinrichtungen 16, die mit der Welle 14 derart gekoppelt sind, daß sie sich zusammen mit dieser drehen. Der Schalter bzw. Kommutator 16 weist einen Dreharm 16 auf, der nacheinander mit Anschlußklemmen 17 bis 21 der Kondensatoren 10 in Berührung gelangt, wenn sich der Schalter 16 in entgegengesetzt dem Uhrzeigersinn verlaufenden Richtung (unter Zugrundelegung der Ansicht gemäß Fig. 1) dreht Die Kondensatoren 10 sind zunächst aber ein elektrisch leitendes Erdungsseg-
Die in Fig. 1 dargestellte Vorrichtung enthält ferner durch einen Drehschalter gebildete Schalteinrichtungen 16, die mit der Welle 14 derart gekoppelt sind, daß sie sich zusammen mit dieser drehen. Der Schalter bzw. Kommutator 16 weist einen Dreharm 16 auf, der nacheinander mit Anschlußklemmen 17 bis 21 der Kondensatoren 10 in Berührung gelangt, wenn sich der Schalter 16 in entgegengesetzt dem Uhrzeigersinn verlaufenden Richtung (unter Zugrundelegung der Ansicht gemäß Fig. 1) dreht Die Kondensatoren 10 sind zunächst aber ein elektrisch leitendes Erdungsseg-
ment 22 geerdet Dreht sich der Schalter 16, so bewirkt
dessen Dreharm, daß Signale von aufeinanderfolgenden
Oberflächenabschnitten von einem an dem Wandler 13 angeschlossenen Aufnahmeverstärker 24 nacheinander
5
."•Sü-
an die einzelnen Kondensatoren 10 abgegeben werden. Ein elektrisch leitendes Zwischenverbindungssegment
24 des Schalters 16 schaltet dann nacheinander die geladenen Kondensatoren 10 zusammen. Die Gesamtladung sämtlicher Kondensatoren 10 wird mit Hilfe eines
Meßinstrumentes 25 angezeigt, welches über einen Summierverstärker 26 an dem Segment 24 angschlossen
ist.
Während die vorstehend erwähnten Kondensatoren zur Speicherung der Profilspitzen der überprüften
Oberfläche 12 entsprechenden elektrischen Signale dienen, sind noch weitere Kondensatoren (nicht
dargestellt) vorgesehen, die zur Speicherung von den Profiltälern der überprüften Oberfläche 12 entsprechenden elektrischen Signale dienen. Diese weiteren
Kondensatoren sind an der Stelle 28 an dem Aufnahmeverstärker 23 angeschlossen. Die den Profilspitzen und Profiltälern der überprüften Oberfläche 12
entsprechenden Signale werden über entsprechende Sperrdioden 29 den Spitzen- bzw. Tal-Kondensatoren
darstellenden Kondensatoren 10 in der jeweiligen Kondensatorenreihe zugeführt
Am Ende einer Überprüfung einer Oberfläche durch Ausführung einer entsprechenden Abtastbewegung
werden die Spitzen- und Tal-Kondensatoren gemeinsam an das Meßinstrument 25 angeschaltet, welches
einen sehr hohen Eingangswiderstand besitzt und welches die mittleren Ladungen der Kondensatoren
anzeigt An dieser Stelle sei bemerkt, daß auch verschiedene Meßinstrumente 25 vorgesehen sein
können, um die Ladungen auf den einzelnen Kondensatoren 10 individuell anzuzeigen und/oder um die
Ladungssumme der Kondensatoren anzuzeigen. Im übrigen sei an dieser Stelle noch bemerkt, daß in
Abweichung von den dargestellten Verhältnissen der Schalter 16 durch eine elektronische Schaltanordnung
ersetzt sein kann. Auf eine derartige Ausbildung wird im Zusammenhang mit F i g. 4 noch eingegangen werden.
In F i g. 2 ist ein Verlauf des Oberflächenprofils der mittels eines Taststiftes überprüften Oberfläche 12
gezeigt Dabei ist eine Reihe von gleichen Zeitabschnitten durch vertikal verlaufende Linien begrenzt angedeutet worden. Die Profilspitzen und die Profiltäler sind
dabei jeweils durch eine waagerecht verlaufende Linie angedeutet
In Fig.3 ist ein Ausschnitt eines Profilverlaufs
gezeigt, wie er für eine überprüfte Oberfläche 12 kennzeichnend sein kann. Dabei geht hervor, daß die
Erfassung von Profiltälern und Profilspitzen während voneinander getrennter Zeitspannen erfolgen kann.
Im Zusammenhang mit der in F i g. 1 dargestellten und zuvor erläuterten Vorrichtung sei noch bemerkt,
daß neben der Anzeige eines Endmittelwertes in jedem Abschnitt nacheinander der Maximalwert angezeigt
werden kann. Auf diese Weise erhält man dann eine Anzeige bezüglich des Grades der Unregelmäßigkeit
des Profilverlaufs von Oberflächenabschnitt zu Oberflächenabschnitt wie dies in in F i g. 2 angedeutet ist
Die Zeitspanne zwischen aufeinanderfolgenden Anzeigen kann einen geeigneten und konstanten Wert
haben, wie eine Sekunde. Dieser Wert ist dabei abhängig von der Bewegungszeit des Taststiftes 11. Die
betreffende Anzeigezeit kann durch geeignete Phssenbeziehung zwischen der verwendeten Auswahl-Schalteinrichtung (z. B. dem Schalter) und der Abtastbewe-
gungseinrichtung erzielt werden. Um eine Geschwindigkeitsänderung zu vermeiden, kann ein geeignet
angetriebener Schalter bzw. Kommutator für jede
Abtastbewegungszeit vorgesehen sein, so daß di<
Umschaltung dadurch erfolgen kann, daß von einen Satz von Bürstenarmen auf einen anderen Satz vor
Bürstenarmen umgeschaltet wird. Die betreffende Umschaltwirkung ist in F i g. 3 veranschaulicht.
Anstatt der Zusammenschaltung von Spitzen-Kon densatoren 10 (bzw. der Tal-Kondensatoren) am End«
einer Abtastbewegung kann jeder dieser Kondensate) ren mit einem Haupt-Kondensator verbunden werden
der die ihm zugeführten Überladungen mittelt. Irr Hinblick auf dieses Vorgehen ist es möglich, mit dei
Kondensatorreihe eine Verteilung vorzunehmen unc lediglich zwei Kondensatoren zu benutzen. Die Spitzen
und Tal-Signale werden dabei nacheinander dem einer oder dem anderen Kondensator und dann dem
Hauptkondensator zugeführt.
Wird ein Umschalter bzw. Kommutator verwendet so können bei der in F i g. 1 gezeigten Vorrichtung die
zwischen leitenden Segmenten vorhandenen Isolierbereiche eine etwas größere Breite besitzen als dei
Signal-Eingangsarm des betreffenden Schalters bzw Umschalters. Auf diese Weise ist erreicht daß die aul
dem jeweiligen Kondensator befindliche Ladung so lange nicht mit der auf dem Nachbarkondensator
befindlichen Ladung in Verbindung gelangt, wie es erforderlich ist. Erst wenn das betreffende Segment mit
den mit den Kondensatoren 10 verbundenen Bürsten in Berührung gelangt erfolgt eine solche Verbindung.
In Fig.4 ist eine elektronische Schaltanordnung
gezeigt die benutzt werden kann, um eine gesonderte Aufzeichnung oder Trennung der Signale zu erreichen,
die von aufeinanderfolgenden Oberflächenabschnitten einer überprüften Oberfläche erhalten werden. Zu
diesem Zweck kann, wie in F i g. 4 gezeigt, der Eingang der betreffenden Schaltanordnung zu Beginn der
Überprüfung des jeweiligen Oberflächenabschnitts kurzzeitig geerdet werden. Die zeitliche Steuerung der
Schaltanordnung gemäß Fig.4 kann durch einen Oszillator oder durch eine eine vorgegebene Hauptfrequenz untersetzende Einrichtung bewirkt werden. Bei
der in F i g. 4 dargestellten Schaltanordnung handelt es sich um elektronische Festkörper-Schalteinrichtungen.
Das mit Hilfe des Taststiftes 11 aufgenommene und mit
Hilfe des Wandlers 13 abgegebene sich ändernde Signal Vn wird über Schaltkontakte Sund eine Diode Dgeleitet
und zur aufeinanderfolgenden Aufladung von Kondensatoren C\ bis Cn herangezogen. Die betreffenden
Kondensatoren werden dabei in aufeinanderfolgenden Zeitintervallen auf die Spitzenwerte der jeweiligen
Signale aufgeladen. Die betreffenden Spitzenwerte werden dabei gleichzeitig dem Gitter einer Röhre
zugeführt, die als Kathodenfolger geschaltet ist An der Anode der Röhre liegt ein positives Potential Ei, und an
der Kathode der Röhre liegt über einen Kathoden-Lastwiderstand R ein negatives Potential E2. Der Kathodenfolger besitzt eine hohe Eingangsimpedanz, die eine
Abteilung der auf den Kondensatoren befindlichen Ladungen verhindert Die Ausgangsimpedanz des
Kathodenfolgers ist niedrig. Das von dem Kathodenfolger abgegebene Ausgangssignal wird mit Hilfe eines
Meßinstrumentes M überwacht Dieses Meßinstrument M wird zunächst so eingestellt daß es für ein
Null-Gitterpotential die Anzeige Null liefert Die betreffende Einstellung erfolgt durch Ändern eines
Potentials £3.
Die Kondensatoren Q bis Cn werden dadurch
nacheinander aufgeladen, daß mit ihnen verbundene Transistorschalter Q\ bis Qn nacheinander betätigt
709517/21
werden, und zwar derart, daß jeweils nur ein Transistorschalter geschlossen ist, d. h. sich im leitenden
Zustand befindet, während die jeweils übrigen Transistorschalter geöffnet bleiben, d. h. sich im nichtleitenden
Zustand befinden. Jeder Kondensator Q bis Cn ist über
die niedrige Impedanz des jeweiligen leitenden Transistorschalters der Transistorschalter Q\ bis Qn an
einer gemeinsamen Erdleitung angeschlossen, und zwar jeweils während der Dauer einer stets gleichen
Zeitspanne. Die Transistorschalter Qi bis Qn sind
zweckmäßigerweise jeweils durch einen Transistor des npn-Leitfähigkeitstyps gebildet, we'cher für seine
Überführung in den leitenden Zusind ein positives
Potential und zur Überführung in den nichtleitenden Zustand ein negatives Potential an seiner Basis
erfordert
Ist die Einschaltdauer des Transistorschalters Qn
beendet, so werden die Schaltkontakte S bzw. es wird der durch diese gebildete Schalter automatisch geöffnet,
und die Transistorschalter Qi bis Qn werden alle
miteinander zusammengeschaltet Die auf den Kondensatoren Q bis Cn gespeicherten Ladungen verteilen sich
sodann. Sind die Kondensatoren C\ bis Cn alle gleich
groß, d. h. besitzen sie alle gleiche Kapazitätswerte, so ist das auftretende Endpotenial der zusammengeschalteten
Kondensatoren Ci bis Cn gleich dem Mittelwert
der an den einzelnen Kondensatoren liegenden Potentiale. Das Meßinstrument M liefert somit nacheinander
eine Anzeige der Spitzenpotentiale und des Mittelwertes.
Eine anschließend erfolgende Betätigung eines Transistorschalters Qc bei noch geschlossenen Transistorschaltern
Qi bis Qn hat zur Folge, daß sämtliche
Kondensatoren Q bis Cn mit der Erdleitung verbunden
und entladen werden. Die Transistorschalter Qi bis Qn
werden dann in den nichtleitenden Zustand überführt, wodurch die Anordnung zur Ausführung eines weiteren
Zyklus wieder bereit ist.
Die Funktion des Meßinstruments und die verschiedenen Ablauffolgen, die zu aufeinanderfolgenden
Zeitpunkten to, fi ... tn ablaufen, sind nachstehend
tabellarisch zusammengefaßt. Die betreffenden Zeitpunkte
sind im übrigen auch in dem in F i g. 6 gezeigten Diagramm eingetragen.
t„ Auslösung des Getriebes und des
Durchlaufmotors,
fi Auslösung des Meßhubes;
fi Auslösung des Meßhubes;
Herstellen einer Signalverbindung,
fi-f2 erstes Meßzeitintervall,
fi-f2 erstes Meßzeitintervall,
f2-<3 zweites Meßzeitintervall,
trtr+\ r-tes Meßzeitintervall,
+i n-tes Meßzeitintervall,
tn+ 1 Ende des Meßhubes: Meßinstrument
tn+ 1 Ende des Meßhubes: Meßinstrument
zeigt Mittelwert an;
Signalabschaltung,
Signalabschaltung,
ic Rückstellsystem, Meßinstrument
kehrt in die Nullage zurück.
In Fig.5 ist in einem Diagramm angegeben, innerhalb welcher Zeitspanne welche Steuerspannungen
der Steuerspannungen Vi bis Vc auftreten und
während welcher Zeitspannen der die Schalterkontakte Sumfassende Schalter geschlossen ist.
In Fig.6 ist ein möglicher Spannungsverlauf während der Zeitspannen ίο bis fcgezeigt.
Die nacheinander auftretenden, die Transistorschalter Qi bis Qn betätigenden Schaltspannungen Vi bis Vn
können von den Ausgängen aufeinanderfolgender Zählerstufen eines nicht zu einem Ring geschlossenen
Zählers abgenommen werden, der durch einen Multivibrator angesteuert wird und dessen letzte Zählerstufe
eine bistabile Kippstufe ist. Eine derartige Zeitsteuerschaltung ist in Fig.7 gezeigt. Die Frequenz des
Multivibrators wird dabei entsprechend der benutzten Meß-Abtastlänge eingestellt.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Verfahren zur Oberprüfung der Oberfläche
eines Werkstücks od. dgl. durch Messung und Anzeige einer Anzahl von Parametern des Oberflächenprofils,
insbesondere mittels einer Stiftauslenkungs-Meßanordnung, wobei die jeweils über eine
bestimmte Profillänge ermittelten Spitzen- und Talwerte der Profilhöhe mittels eines Wandlers in
entsprechende elektrische Signale umgesetzt werden, dadurch gekennzeichnet, daß im
Zuge der Oberprüfung aufeinanderfolgender Abschnitte
des Oberflächenprofils (12) die den Spitzen- und Talwerten des jeweiligen Profilabschnitts
entsprechenden elektrischen Signale nacheinander durch eine Schalteinrichtung (16, Qi-Qn) an
aufeinanderfolgenden Oberflächenabschnitten entsprechende Spitzen- und Tal-Speicherelemente (10,
Ci-Cn) abgegeben und in diesen Speicherelementen
(10, Ct-C) gespeichert werden, und daß der Inhalt der einzelnen Speicherelemente (10, Ci — C)
nacheinander abgeführt und durch Summier- bzw. Mittelwertbildungs-Einrichtungen (26) zur Anzeige
(25, M) des Mittelwertes eines das Oberflächenprofil innerhalb der jeweils abgetasteten Profillänge
betreffenden Parameters ausgewertet wird.
2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch I1 mit einer Stiftauslenkungs-Meßeinrichtung,
die einen Wandler, welcher einem Parameter der zu überprüfenden Oberfläche entsprechende
Profilsignale zu erzeugen imstande ist, und Einrichtungen umfaßt, durch die die Spitzen-
und Talwerte des Oberflächenprofils über eine bestimmte Profillänge feststellbar und in entsprechende
elektrische Signal umsetzbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß Spitzen- und Tal-Speicherelemente
(10, Ci-Cn) vorgesehen sind, welche die den
Spitzen- und Tal-Werten des genannten Oberflächenprofils in aufeinanderfolgenden Oberflächenabschnitten
entsprechenden elektrischen Signale aufnehmen und speichern, und daß Einrichtungen (26,
Qi- Qn) vorgesehen sind, die den Inhalt einzelner
Speicherelemente abführen und durch Summierung eine Mittelwertbildung für eine Anzeige (25, M)
eines Mittelwert-Parameters des Oberflächenprofils innerhalb der abgetasteten Profillänge vornehmen.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die den Inhalt der Speicherelemente
(10, Ci-Cn) abführenden oder eine Mittelwertbildung
vornehmenden Einrichtungen eine Steuereinrichtung (26, Qi-Qn) umfassen, die auf die
Beendigung eines Überlaufens des Oberflächenprofils hin automatisch den Inhalt der Speicherelemente
an eine'Summiereinrichtung (25, M) abgibt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherelemente eine
Reihe von Kondensatoren (10, Ci — Cn) umfassen, die
sequentiell arbeitenden Schalteinrichtungen (16, Qi-Qn) derart zugeordnet sind, daß im Zuge der
Abtastung aufeinanderfolgender Oberflächenabschnitte eines Oberflächenprofils die den Oberflächenabschnitten
entsprechenden Signale aufeinanderfolgenden Kondensatoren der Reihe der Kondensatoren
(10, Ci-C) nacheinander zuführbar sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die sequentiell arbeitenden Schalteinrichtungen
(16, Q1-Qn) einen Drehschalter (16)
enthalten, der mit einer zur Querbewegung eines zu der Stiftauslenkungs-Meßeinrichtung gehörenden
Stifts (11) dienenden Einrichtung (14) derart verbunden ist, daß im Verlaufe der genannten
Querbewegung die Speicherelemente (10) einzeln nacheinander mit dem Wandler (13) verbunden sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die sequentiell arbeitenden Schalteinrichtungen
Transistorschalteinrichtungen (Qi-Qn)
enthalten, die den betreffenden Speicherelementen (Ci-Cn) zugeordnet sind und die an einer insbesondere
durch einen von einem Multivibrator gesteuerten offenen Ringzähler gebildeten Zeitsteuerschaltung
(F i g. 7) derart angeschlossen sind, daß im Zuge eines sequentiellen Betriebs in gleichen Intervallen
jedes Speicherelement (Ci-Cn) individuell mit dem
die genannten elektrischen Signale liefernden Wandler(f3) verbunden ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die letzte Stufe des offenen Ringzählers
Eis bistabile Schalteinrichtung betrieben ist und
daß durch die von den einzelnen Stufen des betreffenden Ringzählers abgegebenen Ausgangssignale
sämtliche Speicherelemente (Ci-C-,) über
die entsprechenden Transistorschalteinrichtungen (Qx-Qn) mit der Summierungs- oder Mittelwertbildungseinrichtung
(26) verbindbar sind, an der eine Anzeigeeinrichtung (25, M) angeschlossen ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherelemente (10,
C-C) durch die den Spitzen- oder Tal-Werten entsprechenden elektrischen Signale aufnehmende
einzelne Kondensatoren gebildet sind.
9. Vorrichtung nach einem der der Ansprüche 2 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß an die für die
Speicherung der den Spitzen- und Tal-Werten entsprechenden elektrischen Signale dienenden
Speicherelemente (10, G — C) Hauptkondensatoren
anschaltbar sind, durch die eine Mittelwertbildung der in den betreffenden Speicherelementen (10,
Ci — Cn) gespeicherten Inhalte vornehmbar ist.
Applications Claiming Priority (1)
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GB2334268A GB1263699A (en) | 1968-05-16 | 1968-05-16 | Improvements in or relating to measuring devices |
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