DE1644020A1 - Verfahren zum Herstellen von tiegelgezogenen Einkristallstaeben mit homogener Dotierung - Google Patents

Verfahren zum Herstellen von tiegelgezogenen Einkristallstaeben mit homogener Dotierung

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DE1644020A1
DE1644020A1 DE19671644020 DE1644020A DE1644020A1 DE 1644020 A1 DE1644020 A1 DE 1644020A1 DE 19671644020 DE19671644020 DE 19671644020 DE 1644020 A DE1644020 A DE 1644020A DE 1644020 A1 DE1644020 A1 DE 1644020A1
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DE
Germany
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crystal
crucible
melt
single crystal
seed crystal
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Pending
Application number
DE19671644020
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English (en)
Inventor
Karl Dipl-Phys Danassy
Rudolf Dipl-Ing Kappelmeyer
Max-Hugo Kellerbauer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/30Mechanisms for rotating or moving either the melt or the crystal
    • C30B15/305Stirring of the melt

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

(-: ο·: euer λ λ: τ,
Verfahren sura Herstellen von tiegelgezogenen Einkristallstäben mit homogener Dotierung ___»»_^-__-__«
'Die ^Jrfindunr" betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines lotrecht an seinem jünde gehalterten Einkristalls tabes mit homogener ο Her anrM.horncl homogener Dotierung durch Ziehsn aus dem Tiegel nach der Czoohralskymethode, bei dem die Halterung des in die
nliie ei ntauohenden Fei mVri stalls eine exzentrische Bewe- ί ±n bezu'j auf die im Tiegel befindliche Schmelze auäübt.
— 2 —
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Durch das exzentrische Ziehverfahren wird bei tiegelgozogenen Einkristallen gegenüber den nach dem herkömmlichen Czochralskyverfahren hergestellten Einkristallen eine wesentliche Verringerung der Widerstandsänderung über den Kristallquerschnitt erreicht. Durch die noch relativ hohen Keimdrehzahlen in der Größenordnung von ungefähr 100 UpM v/ird aber dabei die Kristallqualität durch den erhöhten Sauerstoffgehalt der Schmelze noch beeinflußt.
Die Erfindung dient zur lösung der Aufgabe, neben einer verbesserten Kriotallqualität eine vergleichsweise gleichmäßige radiale Y/iderstandsverteilung über den gesamten Stabquerochnitt zu erzielen.
Die Erfindung betrifft deshalb eine Verbesserung des bekannten exzentrischen üegelziehverfahrens und sieht vor, daß die Halterung des auf der exzentrischen Bahn sich bewegenden Keimkristalls mit einer zusätzlichen, gegenüber der Schmelze eine hyperzykloide Bahn verursachenden Bewegung beaufschlagt wird.
Durch diese Maßnahme wird erreicht, daß im Gegensatz zum einfachen exzentrischen Ziehen (kreisförmige Bahn; eindimensionales Rühren) eine zweidimensional Durchmischung der Schmelze stattfindet, welche eine homogenere Vorteilung der Dotierungostoff ο auf das Schmelzvolumen bewirkt. Durch den zusätzlichen Rühreffekt kann auf hohe Keijndrehzahlon, die erfahrungsgemäß die Kontrolle des Einkristallwachstums erschweren 1 und außerdem
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zu einem höheren Sauerstoffgehalt der Schmelze führen, verzichtet werden.
Gemäß einen besonders günstigen Ausführungsbeiopiol wird die Drehzahl des Keimkristalls auf 5-10 UpM eingestellt. Durch die gute Durchmischung der Schmolszone wird außerdem ein gleichmäßiger Temperaturverlauf innerhalb der Schmelzzono bewirkt, so daß der wiedererstarrende Stabteil ohne große V/ärmospannungen auskri3tallioiert, wodurch die Häufigkeit von Kristallstörungen ebenfalls sehr etark herabgesetzt wird.
Es liegt im Rahmen der Erfindung, die maximale Exzentrizität des Keimkristalls, also die Abweichung der Keirnkristallachse von der Mittelachse des Ziehtiegels, etwa auf die Größe dos Stabdurchmessers des gezogenen Kristalls einzustellen; das entspricht bei einem Halbleiterkristallstab mit normalem Durchmesser etwa 20 bis 25 ram.
Die Änderung der Exzentrizität beträgt gemäß einem besonders günstigen Ausführungsbeispiel der Erfindung ungefähr Ϊ4 mm.
Es ist besondere vorteilhaft, wenn die Ziehgoschwindigkeit, mit welcher der Kristall aus der Schmelze gezogen wird, auf einen Viert von 1 biß 3 mm/Hin, eingestellt wird.
Mit den erfindungsgemäßen Vorfahren lassen sich Halbleiterkri-Btallutäbe, vorzugsweise Siliciumeinkristallstäbe, mit einer vergleichsweise gleichmäßigen radialen Widerotandsverteilung
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über den Stabquorschnitt und mit einer höheren Kristallperfektion als nach dem bekannten Ticgelziehverfahren herstellen.
Yfcitere Einzelheiten der Erfindung sind der in der Zeichnung befindlichen, der besseren Übersicht wegen in ein Achsenkreuz eingezeichneten Figur zu entnehmen. Durch die mit dem Bozugszeichen 1 bezeichnete Kurve int die durch die zusätzliche Bewegung auf den Kristallhalter verursachte Bahn dec sich bewegenden Kristallkeims dargestellt, die sich aus einer tangentialen Konponente t und einer radialen Komponente r ergibt. Mit den Bezugszeichen 2 ist der Mittelpunkt dos Tiegels, also die Tiegeldrehachse, bezeichnet. Die um die Tiegeldrchachse 2 in die Figur eingezeichneten konzentrischen Kreise bedeuten: 3 die Kristallkeimachse, 4 die Kristallziehachse und 5 den Tiegelrand. Mit dem Doppelpfeil 6 ist die Änderung der Exzentrizität angedeutet, während der Doppelpfeil 7 die maximale Exzentrizität bezeichnet. Die in die Figur schraffiert eingezeichneten Kreise zeigen in Draufsicht den Kristallkeim in aufeinanderfolgenden Phasen der Bewegung. Mit ihren Mittelpunkten 31, 3lf und 3'·' sind die den einzelnen Phasen entsprechenden Kristallkeimachsen bezeichnet. Durch die Verbindung dieser Mittelpunkte ergibt sich die durch die zusätzliche Bewegung auf den Kristallhalter beschriebene Bahn 1 dos Kristallkeims nach der lehre der Erfindung.
Die Durchführung des Verfahrens erfolgt in an nich bekannter Weise mit Hilfe der üblichen Antriebsmittel.
6 Patentansprüche
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Claims (6)

Patentanoprücho
1. Verfahren zum Herstellen eines lotrecht an seinem Bilde gehaltcrten Einkristallstabeu mit homogener oder annähernd homogener Dotierung durch Ziehen aus dem Tiegel nach der· Czochralskymethode, "bei dem die Halterung des in die Schmelze eintauchenden Keimkristalls eine exzentrische Bewegung in bezug auf die im Siegel befindliche Schmelze ausübt, dadurch gekennzeichnet, dafi die Halterung des auf der exzentrischen Bahn sich bewegenden Keimkristalls mit einer zusätzlichen, gegenüber der Schmelze eine hyperzykloide Bahn verursachenden Bewegung beaufschlagt wird.
2. Verfahren nach Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die maximale Exzentrizität des Keimkristalls etwa auf die Größe des Stabdurchmesüers des gezogenen Kristalls eingestellt wird.
3. Verfahren nach Patentanspruch 1 und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Änderung der Exzentrizität ungefähr -4 mm beträgt. "
4. Verfahren nach Patentanspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Drehzahl des Keimkristalls auf 5 bis 10 Umdrehungen/Min, eingestellt wird.
5. Verfahren nach Patentanspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Ziehgeochwindigkoit auf 1 bi3 3 mm pro Minute eingestellt wird.
6. Siliciumeinkriotall hergestellt nach einem Verfahren nach Patontanapruch 1 Us 5, 109813/164 6
Leerseite
DE19671644020 1967-10-04 1967-10-04 Verfahren zum Herstellen von tiegelgezogenen Einkristallstaeben mit homogener Dotierung Pending DE1644020A1 (de)

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