DE1235455B - Elektronenmikroskop - Google Patents
ElektronenmikroskopInfo
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Description
DEUTSCHES WfWWS PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
DeutscheKl.: 21g-37/10
Nummer: 1235 455
Aktenzeichen: P 32111 VIII c/21 g
1 235 455 Anmeldetag: 2.Juli 1963
Auslegetag: 2. März 1967
Die Erfindung bezieht sich auf ein Elektronenmikroskop mit einem durchsichtigen, zum Erzeugen
eines Leuchtschirmbildes mit einer Leuchtmaterialschicht überzogenen Fenster, dem ein optisches Vergrößerungsgerät
zugeordnet ist.
Elektronenstrahleinrichtungen mit einem Fenster, das einen erheblichen Querschnitt besitzt, sind
bekannt, wobei man bereits bei der Bemessung der Dicke des Fensters in Übereinstimmung mit den üblichen
mechanischen Festigkeitsberechnungen eine Formgebung verwendet hat, die zur Herabsetzung
des Gewichtes führt und eine Beeinträchtigung der Bildschärfe durch Streulicht verringert. Daraus
resultiert ein Fenster, das am Rand eine größere Dicke aufweist als in der Mitte und bei dem die Dicke
von dem Umfang bis zur Mitte gleichmäßig abnimmt.
Bei einer anderen bekannten Ausbildung ist das Fenster als Linse ausgebildet und in Übereinstimmung
mit diesem Verwendungszweck sogar vom Umfang nach der Mitte hin mit einer zunehmenden
Dicke ausgebildet.
Die Verwendung eines optischen Vergrößerungsgerätes, das ein lichtoptisches, außerhalb des Elektronenmikroskops
angeordnetes Mikroskop sein kann, hat zum Zweck, eine Stelle mit geringem Querschnitt
des Leuchtschirmbildes betrachten zu können, und zweckmäßigerweise soll das Objektiv des optischen
Vergrößerungsgerätes sehr nahe beim Leuchtschirm, der auf der Innenseite des Fensters vorgesehen ist,
angeordnet sein. Bei Betrachtung eines kleinen Flächenteils des Bildschirms ist der Verlust an
Schärfe durch Streulicht von den Bildpunkten besonders nachteilig.
Die Erfindung bezweckt eine Beseitigung dieses Nachteil. Erfindungsgemäß ist in der Mitte des Fensters
die Dicke über einen kleinen, durch die Sehweite des Vergrößerungsgerätes bedingten Flächenteil
örtlich verringert. Dabei kann ohne beträchtlichen Verlust an mechanischer Stärke die Dicke des Fensters
in der Mitte geringer gewählt werden als bei der nach den bekannten Voraussetzungen bestimmten
Ausbildung. Die Verringerung der Dicke wird vorzugsweise durch eine napfförmige Vertiefung der
Fensterfläche erzielt.
Ein Fenster mit dieser Gestaltung macht es nicht nur möglich, das Objektiv des optischen Vergrößerungsgerätes
an einer günstigen Stelle anzuordnen, sondern es trägt auch dazu bei, die Bedienungsperson
vor Röntgenstrahlung zu schützen, ohne das optische Bild zu verschlechtern. Außerdem trägt die Krümmung
des Fensters dazu bei, den Kontrast des optischen Bildes zu verbessern, indem sie Licht-Elektronenmikroskop
Anmelder:
Philips Electronics and Pharmaceutical
Industries Corporation, New York, N. Y.
(V. St. A.)
Industries Corporation, New York, N. Y.
(V. St. A.)
Vertreter:
Dr. H. Scholz, Patentanwalt,
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Als Erfinder benannt:
Alvar Pictari Wilska, Tucson, Ariz. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 5. Juli 1962 (207 672) - -
reflexionen verringert oder sie an eine Stelle des Fensters richtet, an der sie durch das optische Vergrößerungsgerät
nicht sichtbar sind.
Die beschriebene Einrichtung wird nachstehend an Hand der Zeichnung erläutert, in der
F ig, 1 einen vereinfachten Querschnitt durch ein mit einem Plankonkavfenster versehenes Elektronenmikroskop
und die Anordnung eines am Elektronenmikroskop befestigten optischen Vergrößerungsgerätes
zeigt, während
F i g. 2 und 3 Querschnitte durch unterschiedliche Ausführungsformen von Einblickfenstern zeigen, die
sich zur Verwendung beim Elektronenmikroskop nach F i g. 1 eignen.
Das Elektronenmikroskop 11 der F i g. 1 weist ein Gehäuse 12 auf, das eine Kathode 13 und mehrere
elektromagnetische Elektronenlinsen enthält. Diese Linsen sind ein Kondensator 14, ein elektromagnetisches
Objektiv 16 und eine elektromagnetische Projektionslinse 17. Das zu untersuchende Objekt ist mit
18 bezeichnet und ist in der Nähe des Objektivs 16 so angeordnet, daß es vom Elektronenbündel 19
durchstrahlt wird. An dem von der Kathode 13 entfernten Ende des Gehäuses 12 liegt quer zum
Elektronenbündel 19 ein Einblickfenster 21, dessen Außenfläche flach ist, während die Innenfläche konkav
und mit einer dünnen Schicht eines zur Bildung
709 517/404
Claims (2)
1. Elektronenmikroskop mit einem durchsichtigen, zum Erzeugen eines Leuchtschirmbildes mit
einer Leuchtmaterialschicht überzogenen Fenster, dem ein optisches Vergrößerungsgerät zugeordnet
ist, dadurch gekennzeichnet, daß in der Mitte des Fensters die Dicke über einen kleinen,
durch die Sehweite des Vergrößerungsgerätes bedingten Flächenteil örtlich verringert ist.
2. Elektronenmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verringerung der
Dicke durch eine napfförmige Vertiefung der Fensterfläche erzielt ist.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 916 839;
britische Patentschriften Nr. 575 962, 587 730.
Deutsche Patentschrift Nr. 916 839;
britische Patentschriften Nr. 575 962, 587 730.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
709 517/404 2.67 © Bundesdruckerei Berlin
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US207672A US3150255A (en) | 1962-07-05 | 1962-07-05 | Viewing window for electronoptical devices |
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Family Applications (1)
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Also Published As
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