DE1180850B - Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von HalbleiteranordnungenInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 claims description 67
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 58
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 58
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 24
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 6
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 5
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 borium Chemical compound 0.000 description 1
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000010309 melting process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004071 soot Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Centrifugal Separators (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Internat. Kl.: HOIl
Deutsche Kl.: 21g-11/02
Nummer: 1180 850;
Aktenzeichen: N19703 VIIIc /21 j
Anmeldetag: 8. März 1961
Auslegetag: 5. November 1964
Anmelder:
N. V. Philips' Gloeilampenf abrieken, Eindhoven (Niederlande) ,
Vertreter:
Dr. rer. nat. P. Roßbach, Patentanwalt, Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Als Erfinder benannt:
Frans Martinus Leopold, .
Eindhoven (Niederlande)
Frans Martinus Leopold, .
Eindhoven (Niederlande)
Beanspruchte Priorität:
Niederlande vom 12. März 1960 (249 359)
Die Erfindung betrifft ein Legierungsverfahren zur Verfahren zur Herstellung von
Herstellung von Halbleiteranordnungen, wie Transi- Halbleiteranordnungen ;
stören und Kristalldioden, bei dem Elektrodenmaterial
im flüssigen Zustand mit einem Halbleiter- "
körper in Berührung gebracht und auf ihn auf- 5
geschmolzen wird.
körper in Berührung gebracht und auf ihn auf- 5
geschmolzen wird.
Bei diesem Aufschmelzen wird ein wenig des Halbleitermaterials in dem Elektrodenmaterial gelöst,
aus dem es sich beim Abkühlen abscheidet und am Halbleiterkörper anwächst. Als Halbleiterkörper ίο
wird meistens ein Einkristall verwendet. Die rekristallisierte Schicht hat hierbei meistens aktive Verunreinigungen,
wie Akzeptoren und/oder Donoren, aus dem Elektrodenmaterial aufgenommen, die die
Leitfähigkeit und/oder den Leitfähigkeitstyp der Rekristallisationsschicht beeinflussen. Zwischen dieser
Schicht und dem ursprünglichen Halbleitermaterial ist ein Übergang gebildet, der aus Gründen,
deren Erörterung hier nicht von Bedeutung ist, vorzugsweise eine regelmäßige und flache Form aufweisen
soll.
Anfänglich wurden Elektroden dadurch auf solche 2
Körper aufgeschmolzen, daß eine Menge Elektrodenmaterial, meistens in Form eines Kügelchens, auf Erzielen größerer Auftreffgeschwindigkeiten zu ereinem
Halbleiterkörper angeordnet wurde und beide 25 möglichen. Dies wird gemäß der Erfindung dadurch
zusammen bis auf eine Temperatur über die des erreicht, daß der Halbleiterkörper und das Elek-Eutektikums
der zu verbindenden Materialien er- trodenmaterial getrennt voneinander in einer Zentrihitzt
wurden. Nachdem sich ergeben hatte, daß in fuge angeordnet werden, daß? das Elektrodenmaterial
diesem Fall das Elektrodenmaterial von einem Be- der Drehachse näher ist als der .'Halbleiterkörper oder
rührungspunkt der Materialien aus auf verhältnis- 30 ihr während der Rotation der' Zentrifuge näher gemäßig
unregelmäßige Weise anwuchs und dieses bracht wird und dann durch Änderung der es an
Legierungsverfahren daher unregelmäßige Über- seinem Ort festhaltenden Bedingungen beweglich gegänge
zwischen dem rekristallisierten Material und macht und im geschmolzenen 'Zustand auf den HaIbdem
ursprünglichen Halbleitermaterial lieferte, wurde leiterkörper geschleudert wird. Da in diesem Fall
vorgeschlagen, das Elektrodenmaterial im un- 35 Kräfte auf das Elektrodenmaterial einwirken können,
geschmolzenen Zustand auf den Halbleiterkörper die die Gravitation weit überschreiten,-können auf
fallen zu lassen. Dadurch wuchs es von der unmittelbar gebildeten Legierungsfläche aus an, und es wurden
flache Übergänge gebildet. Die Geschwindigkeit,
mit der das Elektrodenmaterial den Körper trifft, 40
weiterhin Auftreffgeschwindigkeit genannt, ist hierbei von der Fallhöhe abhängig; da das Legierungsverfahren meistens in einer sogenannten Legierform
durchgeführt wird, ist die Fallhöhe durch die Abmessungen der Legierform beschränkt. Man hat sich bis- 45 werden, wdurch das flüssige aufzulegierende Elekher auf die Verwendung kleiner Fallhöhen be- trodenmaterial von der Fliehkraft gegen den Halbschränkt, weil die Verwendung größerer Formen leiterkörper gedrückt wird. Dabei werden aber das nicht nur kostspielig ist, sondern auch nicht zweck- Elektrodenmaterial und der Halbleiterkörper nicht mäßig, weil mit dem Zunehmen der Größe auch die getrennt voneinander in der Legierungsform anGefahr der Einführung von störenden Verunreini- 50 geordnet. Das vorher geschmolzene Elektrodengungen größer wird. material wird sofort bei Beginn der Rotation der
mit der das Elektrodenmaterial den Körper trifft, 40
weiterhin Auftreffgeschwindigkeit genannt, ist hierbei von der Fallhöhe abhängig; da das Legierungsverfahren meistens in einer sogenannten Legierform
durchgeführt wird, ist die Fallhöhe durch die Abmessungen der Legierform beschränkt. Man hat sich bis- 45 werden, wdurch das flüssige aufzulegierende Elekher auf die Verwendung kleiner Fallhöhen be- trodenmaterial von der Fliehkraft gegen den Halbschränkt, weil die Verwendung größerer Formen leiterkörper gedrückt wird. Dabei werden aber das nicht nur kostspielig ist, sondern auch nicht zweck- Elektrodenmaterial und der Halbleiterkörper nicht mäßig, weil mit dem Zunehmen der Größe auch die getrennt voneinander in der Legierungsform anGefahr der Einführung von störenden Verunreini- 50 geordnet. Das vorher geschmolzene Elektrodengungen größer wird. material wird sofort bei Beginn der Rotation der
Der Zweck der Erfindung ist unter anderem, das Zentrifuge gegen den Halbleiterkörper gedrückt. In
diese Weise, auch bei Verwendung von Formen mit kleinen Abmessungen, große Äuftreffgeschwindigkeiten
erzielt werden. ' ■■■■■'■
Es wird bemerkt, daß ari sich ein Legierungsverfahren
zum Herstellen von Halbleiteranordnungen bekannt ist, bei dem Legujrüngsbegrenzungsformen
mit auf legiertem Elektrodenmaterial und Halbleiterkörper
in einer rotierenden Zentrifuge angeordnet
dieser Weise ist es nicht möglich, eine hohe Auftreffgeschwindigkeit
zu erreichen, sondern nur eine sich steigernde Andruckkraft des schon am Halbleiterkörper
anliegenden Elektrodenmaterials.
Es bestehen mehrere Möglichkeiten, das Elektrodenmaterial in geschmolzenem Zustand beweglich
zu machen.
Bei einer zweckmäßigen Ausführungsform wird der Halbleiterkörper in einer Legierform zentrifuin
der Weise aufzuschmelzen, daß über die Oberfläche des Halbleiterkörpers ein dünner Draht gespannt wird und das Elektrodenmaterial auf diese
Oberfläche und diesen Draht geschleudert wird. In dem Schatten des Drahtes bleibt dann ein unbedeckter
Streifen zurück.
Beim Aufschmelzen von Elektroden auf Halbleiterkörper werden meistens Formen verwendet, in
deren jeder eine Anzahl solcher Körper gleich
giert, die einen Raum besitzt, in den das Elektroden- io zeitig behandelt werden. Obwohl vorstehend For
material eingebracht ist und in dem es in wenigstens einer Lage der Legierform stabil liegt. Diese Legierform
ist derart kippbar, daß das Elektrodenmaterial in einer anderen Lage der Legierform unter dem
Einfluß der Zentrifugalkraft auf den Halbleiterkörper geschleudert wird.
Bei einer weiteren Ausführungsform kann der Halbleiterkörper in einer Legierform zentrifugiert
werden, die einen Raum enthält, in dem sich das Elektrodenmaterial befindet, der mit dem Raum, in
dem sich der Halbleiterkörper befindet, durch eine Kapillaröffnung verbunden ist, deren Weite mit
Rücksicht auf die Oberflächenspannung des geschmolzenen Elektrodenmaterials derart gewählt ist,
daß dieses Material sich erst beim Erreichen einer schnellen Drehung durch die Kapillaröffnung hindurchbewegt
und auf den Halbleiterkörper geschleudert wird.
Es ist auch möglich, den Halbleiterkörper in einer Legierform zu zentrifugieren, die einen Raum enthält,
in dem das Elektrodenmaterial bei einer Temperatur, bei der es sich im festen Zustand befindet,
angeordnet wird und der mittels einer öffnung mit einem Raum der Legierform, in dem der Halbleiterkörper
angeordnet ist, verbunden ist. Diese öffnung ist so klein, daß sich das Elektrodenmaterial in
festem Zustand nicht hindurchbewegen kann. Während des Zentrifugierens wird die Temperatur bis
zum Schmelzpunkt des Elektrodenmaterials erhöht, men für einen Halbleiterkörper beschrieben sind,
können selbstverständlich auch Formen verwendet werden, in denen mehrere Körper gleichzeitig behandelt
werden können.
Die Erfindung betrifft weiterhin die Zentrifuge mit Legierformen zum Durchführen des obigen Verfahrens.
Die Erfindung wird jetzt an Hand der Zeichnung näher erläutert.
Die F i g. 1 und 8 sind schematische Schnitte von Zentrifugen mit einigen Legierformen.
Die F i g. 2 bis 5 wie auch die F i g. 9 und 10 sind schematische Schnitte von in einer Zentrifuge angeordneten
Legierformen in vergrößertem Maßstab.
Die F i g. 6 ist ein Schnitt einer zum Aufschmelzen von zwei Elektroden in kleinem Abstand voneinander
bestimmten Form.
Die F i g. 7 ist ein Schnitt eines Halbleiterkörpers, hergestellt auf die in der F i g. 6 dargestellte Weise.
Einfachheitshalber sind die Legierformen als ein Ganzes gezeichnet, in Wirklichkeit bestehen sie, wie
es üblich ist, aus mehreren Teilen, um das Hineinschieben und Herausnehmen der Halbleiterkörper zu
ermöglichen.
Die üblichen Klemmen zum Zusammenhalten dieser Teile sind ebenfalls nicht gezeichnet.
Eine Zentrifuge, in der die weiter beschriebenen Verfahren durchgeführt werden können, besteht z. B.
wie in der F i g. 1 dargestellt ist, aus einem ab-
und dann wird das geschmolzene Elektrodenmaterial 40 schließbaren Gefäß 1 mit einem Deckel 2, in dem
durch die öffnung auf den Halbleiterkörper geschleudert.
Bei einer weiteren Ausführungsform wird der Halbleiterkörper in einer Legierform zentrifugiert, in
der das Elektrodenmaterial in einem Raum angeordnet wird, der tiefer liegt als der Raum, in dem der
Halbleiterkörper angeordnet ist. Die Legierform enthält einen Kanal, der diese beiden Räume derart
verbindet, daß das Elektrodenmaterial sich bewegt, eine durch einen Motor 3 anzutreibende Trommel 4
angeordnet ist. Zum Einstellen einer bestimmten Atmosphäre im Gefäß sind- Zu- und Abführungsleitungen 5 und 6 angeordnet, während die Temperatur
mittels eines Heizelementes 7 steuerbar ist An der Innenwand der Trommel sind eine Anzahl in
Reihen 8 angeordneter Legierformen vorgesehen.
Eine erste Ausführungsform einer solchen Legierform ist in vergrößertem Maßstab in zwei Lagen in
sobald die Zentrifugalkraft die Wirkung der Schwer- 50 den Fig. 2 und 3 gezeigt. Die Legierform, die mit der
kraft auf der durch den Kanal gebildeten schiefen Ebene übersteigt.
Bei der Durchführung des Verfahrens mit einer beweglichen Legierform kann diese so eingerichtet
Ziffer 10 bezeichnet ist, wird von einem drehbaren Halter 11 getragen, der mit einem Arm 12, der bei
der Welle 13 drehbar an einer Stütze 14 aufgehängt ist, versehen ist. Diese Stütze befindet sich auf der
sein, daß die Legierform unter der Einwirkung der 55 Innenwand der Trommel 4. Eine sich um die Welle
Zentrifugalkraft gegen die Wirkung einer Feder gekippt wird.
Ferner ist es auch möglich, die Legierform mittels eines von außen her bedienbaren Steuergliedes zu
kippen.
Beim Anbringen von Elektroden auf Halbleiterkörpern ist die Verwendung von Masken zum Erhalten
bestimmter geometrischer Formen bekannt. Da bei den obigen Verfahren sehr hohe Auftreff-13
erstreckende, mit gestrichelten Linien dargestellte Feder 16 drückt den Halter 11 mit der Legierform
10 in die in F i g. 2 gezeigte Lage, solange die Zentrifuge im Ruhestand ist.
Die Legierform 10, die z. B. aus Graphit oder Chromeisen hergestellt ist und aus mehreren nicht
gesondert gezeichneten Teilen bestehen kann, besitzt einen Raum 17, in dem das Elektrodenmaterial 18
angeordnet ist, und einen Raum 19 für den Halb
geschwindigkeiten erzielt werden können, sind diese 65 leiterkörper 20.
Verfahren auch für das Herstellen genauer Figuren Ein Kanal 21, der über dem Halbleiterkörper 22
sehr geeignet. Es ist z. B. möglich, zwei durch einen mündet, verbindet den Raum 19 mit dem Raum 17
schmalen unbedeckten Streifen getrennte Elektroden für das Elektrodenmaterial. Der Halbleiterkörper
kann ζ. B. aus Germanium oder Silizium bestehen, während das Elektrodenmaterial z. B. aus einem
Metall, wie Indium, Aluminium, Blei, Zinn, Wismut, oder aus Legierungen dieser Elemente, gegebenenfalls
unter Hinzufügung von Akzeptoren und/oder Donoren, wie Gallium, Borium, Phosphor, Arsen
und Antimon, bestehen kann.
Nachdem die Legierform 10 in der in der F i g. 2 gezeigten Lage gefüllt ist, wird das Gefäß 1 ge-Da
bei diesen Verfahren das Kontaktmaterial mit großer Geschwindigkeit auf den Halbleiterkörper geschleudert
wird, wobei es sich schnell ausdehnt, sind diese Verfahren besonders zum Bedecken von verhältnismäßig
großen Oberflächen mit wenig Material geeignet. Dadurch können Kontakte erhalten werden,
welche eine sehr geringe Eindringtiefe aufweisen. Denn je größer die Menge des Elektrodenmaterials
ist, welche eine Einheit der Oberfläche des
schlossen und mit einem meistens indifferenten oder io Körpers bedeckt, um so mehr wird sich vom bedeck
reduzierenden Gas, wie Wasserstoff, gefüllt und darauf bis auf eine Temperatur, bei der das Elektrodenmaterial
18 geschmolzen ist, erhitzt. Bei Verwendung von Indium als Elektrodenmaterial kann diese
Temperatur z. B. 520° C betragen.
Die Zentrifugentrommel 4 wird jetzt mittels des Motors 3 gedreht, wodurch die Form 10 mit dem
Halter 11 sich gegen die Wirkung der Feder 16 bei Zunehmen der Geschwindigkeit allmählich in die in
ten Halbleitermaterial auflösen und um so größer wird also die Eindringtiefe sein.
Der Umstand, daß die Auftreffgesehwindigkeit des Elektrodenmaterials hier so groß ist, kann zur
Erzeugung bestimmter geometrischer Formen der erhaltenen Elektroden verwendet werden.
So ist in der F i g. 6 eine Legierform gezeigt, die gleich derjenigen nach der F i g. 4 ist, bei der jedoch
über dem Halbleiterkörper 33 ein 10 μ dicker WoIf-
der F i g. 3 gezeigte Lage bewegt. Kurz bevor diese ao ramdraht 50 gespannt ist. Wenn das Elektroden-Lage
erreicht ist, hat das Elektrodenmaterial 18 sei- material 35 diesen Draht trifft, wird es seitlich ausnen
Raum 17 verlassen und ist mit großer Geschwin- weichen und zwei Elektroden 51 bilden (s. F i g. 7).
digkeit auf den Halbleiter 20 geschleudert worden, Es wird noch bemerkt, daß es sich empfiehlt, in
wodurch eine aufgeschmolzene Elektrode 22 entstand. den Fällen, bei denen das Elektrodenmaterial sich
Bei einer zweiten Ausführungsform des Verfah- 25 während schneller Drehung längs einer Oberfläche
rens nach der Erfindung kann die in der F i g. 4 ge- der Legierungsform verschieben soll, wie bei den
zeigte Legierform verwendet werden. Diese besteht Formen nach den F i g. 2 und 3 bzw. nach der
z.B. aus einem Graphitstück30, in dem ein Raum Fig. 5, die genannte Oberfläche sehr glatt auszu-31
und ein Raum 32 für den Halbleiterkörper 33 an- bilden, um ein Haften des Materials an dieser Obergebracht
sind, während weiter ein zweiter Raum 34 30 fläche zu verhüten. Solch eine Oberfläche kann ge-
für das Elektrodenmaterial 35 vorhanden ist, der durch eine enge Bohrung 36 mit dem Raum 31 verbunden
ist. Der Raum 34 ist durch eine Abdeckplatte 37 geschlossen.
gebenenfalls mit einer Rußschicht oder sehr fein verteiltem
Siliziumoxyd bedeckt werden. Auch kann die Neigung der Oberfläche veränderlich sein, indem
diese abgebogen oder geknickt ist, so daß der
Bei Verwendung dieser Legierform kann die Zen- 35 Widerstand, den das Elektrodenmaterial erfährt, ab-
g g
trifuge wie im vorigen Fall bis auf die erforderliche Temperatur erhitzt werden, ehe sie gedreht wird.
Die Weite der Bohrung 36 ist jetzt in Abhängigkeit von der Oberflächenspannung des Materials 35, der
d F d d
nimmt, sobald dieses Material in Bewegung kommt (s. zum Beispiel die mit gestrichelter Linie gezeichnete
Neigung 60 in der Fig. 5).
Weiter wird noch darauf hingewiesen, daß, wenn
Kohäsion dieses Materials an der Form und dem 40 die Legierungsform mehr als einen Raum für Elek-
Durchmesser der Trommel derart gewählt, daß das Material 35 sich erst bei einer hohen Drehgeschwindigkeit
durch die Bohrung 36 hindurchbewegt, um darauf die Oberfläche des Halbleiterkörpers 33 mit
hoher Geschwindigkeit zu treffen.
Es ist bei Verwendung dieser Legierform auch möglich, die Reihenfolge der Vorgänge in dem
Sinne zu ändern, daß die Trommel 4 schon gedreht wird, ehe das Elektrodenmaterial 35 geschmolzen
ist. Die Weite der Bohrung 36 kann in diesem Fall derart gewählt werden, daß das Material sich durch
die Bohrung hindurchbewegt, sobald es geschmolzen ist.
Die in der F i g. 5 gezeigte Legierform 40 hat wietrodenmaterial aufweist, wobei jeder der Räume eine
Elektrodenmaterialmenge enthält, welche auf mehrere Stellen des Halbleiterkörpers geworfen werden
kann, es durch die Wahl verschiedener Neigungswinkel der Kanäle, welche diese Räume mit demjenigen
des Halbleiterkörpers verbinden, erreicht werden kann, daß die in den verschiedenen Räumen
enthaltenen Elektrodenmaterialmengen nacheinander auf den Halbleiterkörper geschleudert werden.
Auf analoge Weise kann, wenn die Form mehrere Räume für Elektrodenmaterial besitzt, die durch
Öffnungen mit dem Raum für den Halbleiterkörper verbunden sind, die Weite dieser öffnungen derart
voneinander verschieden sein, daß die Elektroden-
der einen Raum 41 über dem Raum 42 des Halb- 55 materialmengen nacheinander auf den Halbleiterleiterkörpers
43. Der Raum 44 für das Elektroden- körper geschleudert werden. Auch können die
material 45 erstreckt sich nach einer steilen Neigung 46 in der Richtung einer Öffnung 47 im Raum 41.
Bei Verwendung dieser Legierfonn wird die Zentrifuge erst gedreht, nachdem das Material 45 geschmolzen
ist. Sobald die Drehgeschwindigkeit so groß ist, daß der Quotient Zentrifugalkraft geteilt
durch Schwerkraft größer ist als der Tangens des durch die Neigung 45 und die Horizontale ein-Punkte,
in denen das aus den verschiedenen öffnungen geschleuderte Elektrodenmaterial den Halbleiterkörper
trifft, voneinander verschieden sein.
Der Augenblick, in dem das Elektrodenmaterial auf den Halbleiterkörper geschleudert wird, wird bei
den obigen Verfahren entweder durch das Erreichen einer kritischen Drehgeschwindigkeit oder durch das
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Erreichen der Schmelztemperatur des Elektrodengeschlossenen Winkels, wird das Elektrodenmaterial 65 materials, also ohne Eingriffe von außen her, be-
die schiefe Ebene 45 emporsteigen, um schließlich mit großer Geschwindigkeit auf den Halbleiterkörper
geschleudert zu werden.
stimmt.
Es ist jedoch auch möglich, das Aufschleudern des Elektrodenmaterials in jedem willkürlichen Augen-
blick von außen her zu bewerkstelligen. Eine zu diesem Zweck geeignete Vorrichtung besteht z. B. aus
einer Zentrifugentrommel70 (s. Fig. 8), in der eine
Anzahl von Haltern 71 für Legierformen angeordnet ist. Diese Halter sind um Wellen 72, welche parallel
zu der Drehachse und zu der Figurenachse der Trommel sind, drehbar. Jeder Halter hat einen gabelförmigen
Bedienungsarm 73, dessen gespaltener Teil außerhalb der Trommel vorspringt und einen Stift
74 umfaßt, der auf einem Ring 75 angeordnet ist. Dieser Ring umschließt die ganze Trommel 70 und
ist innerhalb bestimmter Grenzen um die Trommel drehbar, so daß bei Verdrehung des Ringes die Halter
71 der Legierformen gekippt werden. Wenn sich z. B. die Trommel in der durch den Pfeil 76 bezeichneten
Richtung dreht und der Ring 75 durch den Bremsbacken 77 abgebremst wird, so werden die
Halter 71 nach links gekippt werden. Eine der in den Haltern 71 angeordneten Legierformen 78 ist in den
F i g. 9 und 10 in zwei Lagen gezeichnet. In der in der F i g. 9 gezeichneten Lage, die dem Kippen vorangeht,
wird das Elektrodenmaterial 79 durch die in die Richtung des Pfeiles 81 wirkende Zentrifugalkraft
in seinem Raum 80 festgehalten. Durch das Kippen wird die Legierform derart verschoben, daß der
Kanal 82, der sich vom Raum 80 zum Halbleiterkörper 83 erstreckt, die radiale Richtung einnimmt.
Das Elektrodenmaterial bewegt sich jetzt aus dem Raum 80 und wird auf den Halbleiterkörper geschleudert
(Fig. 10).
Es wird bemerkt, daß die Anordnung der Formen nach der F i g. 8 es ermöglicht, mehr Legierformen
auf der Innenwand der Zentrifugentrommel anzuordnen, als es z. B. bei der Vorrichtung nach den
F i g. 2 und 3 der Fall ist. Die Anordnung nach der F i g. 8, bei der sich also die Drehachsen der Legierformen
in axialer Richtung erstrecken, kann, wenn die aus den Teilen 73, 74, 75 und 77 bestehende Bedienungsvorrichtung
durch Federn, die das Kippen erst bei einer bestimmten Drehgeschwindigkeit zulassen,
ersetzt wird, auch zu einer nach dem Prinzip der Vorrichtung nach den F i g. 2 und 3 arbeitenden.
Vorrichtung ausgebildet werden.
Claims (15)
1. Legierungsverfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnung«!, wie Transistoren und
Kristalldioden, bei dem Elektrodenmaterial im flüssigen Zustand mit einem Halbleiterkörper in
Berührung gebracht und auf ihn aufgeschmolzen wird, dadurch gekennzeichnet, daß
der Halbleiterkörper (20, 33, 43 und 83) und das Elektrodenmaterial (18, 35, 45, 79) getrennt voneinander
in einer Zentrifuge (10) angeordnet werden, daß das Elektrodenmaterial der Drehachse
näher ist als der Halbleiterkörper oder ihr während der Rotation der Zentrifuge näher gebracht
wird und dann durch Änderung der es an seinem Ort festhaltenden Bedingungen beweglich gemacht
und im geschmolzenen Zustand auf den Halbleiterkörper geschleudert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper (20, 83)
in einer kippbaren Legierform (10, 78) zentrifugiert wird, die einen Raum (17, 80) besitzt, in
den das Elektrodenmaterial (18, 79) eingebracht ist und in welchem das Elektrodenmaterial in
wenigstens einer Lage der Legierform (10, 78) stabil liegt, und daß die Legierform derart gekippt
wird, daß das Elektrodenmaterial in einer anderen Lage der Legierform unter dem Einfluß
der Zentrifugalkraft auf den Halbleiterkörper geschleudert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper (33) in
einer Legierform (30) zentrifugiert wird, die einen Raum (34) enthält, in dem sich das Elektrodenmaterial
(35) befindet, welcher Raum mit dem Raum (31), in dem sich der Halbleiterkörper befindet, mittels einer Kapillaröffnung (36) verbunden
ist, deren Weite mit Rücksicht auf die Oberflächenspannung des geschmolzenen Elektrodenmaterials
derart gewählt ist, daß dieses Material sich erst beim Erreichen einer schnellen
Drehung durch die Kapillaröffnung hindurchbewegt und auf den Halbleiterkörper geschleudert
wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper (33) in
einer Legierform (30) zentrifugiert wird, die einen Raum (34) enthält, in dem das Elektrodenmaterial
(35) bei einer Temperatur angeordnet wird, bei der es sich in festem Zustand befindet,
welcher Raum (34) mit einem Raum (31) der Legierform, in dem der Halbleiterkörper angeordnet ist, mittels einer öffnung (36) verbunden ist, die so klein ist, daß sich das Elektrodenmaterial
in festem Zustand nicht durch diese hindurchbewegen kann, worauf während der Drehung der Zentrifuge die Temperatur bis
zum Schmelzpunkt des Elektrodenmaterials erhöht wird, so daß das geschmolzene Elektrodenmaterial
durch die öffnung auf den Halbleiterkörper geschleudert wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Legierform mehr als einen
Raum aufweist, in dem sich festes Elektrodenmaterial befindet, welche Räume ■ durch öffnungen
mit dem Raum, in dem der Halbleiterkörper angeordnet ist, verbunden sind, wobei diö
Schmelzpunkte der verschiedenen Mengen Elektrodenmaterial derart unterschiedlich sind, daß
bei Erhöhung der Temperatur die Elektrodenmaterialmengen nacheinander auf den Halbleiterkörper
geschleudert werden.
6. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der Halbleiterkörper zum Teil durch eine Maske (50) bedeckt wird.
7. Zentrifuge mit einer drehbaren Trommel zur Durchführung eines der Verfahren nach den
Ansprüchen 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Zentrifuge mindestens eine Legierform mit
einem Raum für einen Halbleiterkörper und einem von diesem Raum getrennten Raum für
das Elektrodenmaterial enthält, die sich während des Drehens der Zentrifuge in einer stabilen
Lage derart befindet, daß der Raum für dea Halbleiterkörper weiter von der Trommelachse
entfernt ist, und daß die Räume durch einen Kanal verbunden sind.
8. Zentrifuge nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Kanal für das Elektrodenmaterial
eine schiefe Ebene bildet und die bei-:
den Räume derart verbindet, daß das Elektrodenmaterial sich bewegt, sobald die Zentrifugalkraft
die Komponente der Schwerkraft auf der schiefen Ebene übersteigt.
9. Zentrifuge nach Anspruch?, dadurch gekennzeichnet, daß die Legierform mehrere
Räume für Elektrodenmaterial hat, welche durch Kapillaröffnungen mit dem Raum verbunden
sind, in dem der Halbleiterkörper angeordnet ist, und daß die Weite der Kapillaröffnungen derart
verschieden ist, daß mit steigender Umdrehungszahl der Zentrifuge die in den erstgenannten
Räumen angeordneten Elektrodenmaterialmengen eine nach der anderen auf den Halbleiterkörper
geschleudert werden.
10. Zentrifuge nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die Legierform oder die Legierformen kippbar sind.
11. Zentrifuge nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Kippen der Legierfonn ao
oder der Legierformen unter Einwirkung der Zentrifugalkraft gegen die Wirkung einer Feder
(16) erfolgt.
12. Zentrifuge nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß das Kippen der Legierfonn oder der Legierformen durch einen Mechanismus steuerbar ist, der durch ein außerhalb der Trommel
liegendes Glied erfolgt
13. Zentrifuge nach einem oder mehreren der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die kippbare Legierfonn mehrere Räume für Elektrodenmaterial besitzt und daß die Neigung
der Kanäle, welche diese Räume mit demjenigen für den Halbleiterkörper verbinden, derart verschieden
ist, daß beim Kippen der Legierfonn die in den erstgenannten Räumen angeordneten
Elektrodenmaterialmengen eine, nach der anderen auf den Halbleiterkörper geschleudert werden.
14. Zentrifuge nach einem der Ansprüche 7 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß sie mit einer
Heizvorrichtung (7) versehen ist.
15. Zentrifuge nach einem der Ansprüche 7 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Trommel
in einem luftdicht abschließbaren Gehäuse (1) angeordnet ist.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 060052;
Anmeldungsunterlagen zum französischen Patent Nr. 1224318.
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 060052;
Anmeldungsunterlagen zum französischen Patent Nr. 1224318.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
409 710/300 10.64 © Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL249359 | 1960-03-12 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1180850B true DE1180850B (de) | 1964-11-05 |
Family
ID=19752216
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEN19703A Pending DE1180850B (de) | 1960-03-12 | 1961-03-08 | Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3181980A (de) |
DE (1) | DE1180850B (de) |
GB (1) | GB956033A (de) |
NL (1) | NL249359A (de) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1060052B (de) * | 1958-01-11 | 1959-06-25 | Philips Patentverwaltung | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung grossflaechiger p-n-UEbergaenge bei Halbleiteranordnungen des Legierungstyps, insbesondere bei Kristalldioden |
FR1224318A (fr) * | 1958-02-22 | 1960-06-23 | Philips Nv | Procédé d'application d'un contact sur un corps semi-conducteur |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1944435A (en) * | 1931-08-17 | 1934-01-23 | Detroit Dental Mfg Company | Casting machine |
US2086483A (en) * | 1933-11-20 | 1937-07-06 | Cons Car Heating Co Inc | Means for melting and molding materials |
US2037618A (en) * | 1934-05-31 | 1936-04-14 | Webster I Carpenter | Motor driven casting machine |
US2192043A (en) * | 1938-08-15 | 1940-02-27 | Bert L Hooper | Casting device |
US2194182A (en) * | 1939-07-13 | 1940-03-19 | Mallory & Co Inc P R | Rectifier |
US2606347A (en) * | 1949-11-25 | 1952-08-12 | Ernest L Hildreth | Investing machine |
FR1063232A (fr) * | 1952-06-27 | 1954-04-30 | Perfectionnements apportés aux procédés et dispositifs de coulée centrifuge | |
NL186747B (nl) * | 1953-05-11 | Hueck Fa E | Inrichting voor het vervaardigen van samengestelde isolatieprofielen, in het bijzonder voor venster- en deurkozijnen, of gevels. | |
NL100884C (de) * | 1953-05-28 | 1900-01-01 | ||
BE537167A (de) * | 1954-04-07 | |||
BE546128A (de) * | 1955-03-18 | 1900-01-01 | ||
US3097112A (en) * | 1960-01-12 | 1963-07-09 | Gen Electric | Method and apparatus for making cathodes |
-
0
- NL NL249359D patent/NL249359A/xx unknown
-
1961
- 1961-02-20 US US90477A patent/US3181980A/en not_active Expired - Lifetime
- 1961-03-08 DE DEN19703A patent/DE1180850B/de active Pending
- 1961-03-09 GB GB8665/61A patent/GB956033A/en not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1060052B (de) * | 1958-01-11 | 1959-06-25 | Philips Patentverwaltung | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung grossflaechiger p-n-UEbergaenge bei Halbleiteranordnungen des Legierungstyps, insbesondere bei Kristalldioden |
FR1224318A (fr) * | 1958-02-22 | 1960-06-23 | Philips Nv | Procédé d'application d'un contact sur un corps semi-conducteur |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL249359A (de) | |
GB956033A (en) | 1964-04-22 |
US3181980A (en) | 1965-05-04 |
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