DE1143273B - Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung, z. B. eines Transistors oder einer Kristalldiode - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung, z. B. eines Transistors oder einer KristalldiodeInfo
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
N17169 Vmc/21g
BEKANNTMACHUNG
DER ANMELDUNG
UNDAUSGABE DER
AUSLEGESCHRIFT: 7. FEBRUAR 1963
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung, z. B. eines
Transistors oder einer Kristalldiode, mit einem Halbleiterkörper, der eine dünne Zone p-leitenden
Materials enthält, die mindestens an einer Seite an eine dickere η-leitende Zone angrenzt, und dessen
dünne Zone einen Kontakt besitzt, der durch Aufschmelzen einer Menge Kontaktmaterial mit Akzeptoreigenschaften
auf den Rand der dünnen Zone und das angrenzende η-leitende Material hergestellt ist.
Der Halbleiterkörper kann z. B. aus Germanium oder Silicium bestehen.
Es ist bekannt, auf einem solchen Rand und dem angrenzenden η-leitenden Material eine Menge Kontaktmaterial
mit Akzeptoreigenschaften aufzuschmelzen. Bei diesem Aufschmelzen wird halbleitendes Material
sowohl von der dünnen Zone als auch von dem angrenzenden Material in dem Kontaktmaterial gelöst.
Dieses gelöste Material kristallisiert beim weiteren Abkühlen aus und wächst an dem Kristallgitter des
Halbleiterkörpers an. Diese auskristallisierte Schicht hat p-Leitfähigkeit und bildet somit einen ohmschen
Kontakt mit der dünnen Zone, wärend die Schicht durch eine Sperrschicht von dem angrenzenden
η-leitenden Material getrennt ist.
Insbesondere wenn eine an die dünne Zone angrenzende η-leitende Zone einen niedrigen spezifischen
Widerstand hat — was an sich für die gute Ladungsträgeremission dieser Zone erwünscht sein
kann —, hat diese Sperrschicht wegen des niedrigen spezifischen Widerstandes des auskristallisierten
Materials eine verhältnismäßig niedrige Druchschlagspannung.
Mit dem Verfahren nach der Erfindung soll ein Kontakt mit der dünnen Zone geschaffen werden, der
eine sehr hohe Durchschlagspannung gegenüber der angrenzenden Zone oder den η-leitenden Zonen hat.
Gemäß der Erfindung wird nach dem Aufschmelzen des Kontaktes der Körper elektrolytisch geätzt
und dabei der Kontakt als Anode geschaltet.
Durch diese Behandlung wird insbesondere das p-leitende Material weggeätzt, was weiter unten an
Hand eines Ausführungsbeispiels erläutert wird, das in der Zeichnung veranschaulicht ist.
Fig. 1 zeigt einen Schnitt durch einen Halbleiterkörper vor dem Ätzvorgang;
Fig. 2 zeigt eine perspektivische Ansicht dieses Körpers nach dem Ätzvorgang.
Die beiden Figuren sind in vergrößertem Maßstab und schematisch gezeichnet.
In einem Körper aus Silicium befinden sich drei Zonen, d. h. die η-leitenden Zonen 1 und 3 und die
Verfahren zur Herstellung
einer Halbleiteranordnung,
z. B. eines Transistors oder einer
Kristalldiode
Anmelder:
ίο N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken,
Eindhoven (Niederlande)
Eindhoven (Niederlande)
Vertreter: Dr. rer. nat. P. Roßbach, Patentanwalt,
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Beanspruchte Priorität:
Niederlande vom 4. September 1958 (Nr. 231108)
Niederlande vom 4. September 1958 (Nr. 231108)
Oscar Willem Memelink, Eindhoven (Niederlande), ist als Erfinder genannt worden
p-leitende Zone 2. Auf dem oberen Rand letzterer Zone ist eine Menge Aluminium aufgeschmolzen, die
nach dem Abkühlen den Kontakt 4 bildet. In dem Kontakt ist ein aus Wolfram oder Molybdän bestehender
Anschlußdraht 5 festgeschmolzen. Unterhalb des Kontaktes befindet sich eine auskristallisierte
Schicht 6 aus p-leitendem Silicium, die einen ohmschen
Kontakt mit der Zone 2 herstellt und über eine Sperrschicht oder einen p-n-Übergang 7 mit den
Zonen 1 und 3 zusammenhängt.
Der Körper wird darauf in ein Bad aus z. B. einer Lösung von Fluorwasserstoffsäure (50 %) mit einer
kleinen Menge Alkohol getaucht. Hierbei wird der Anschlußdraht 5 mit der Plusklemme einer Stromquelle
verbunden, während deren Minusklemme mit einer im Bad angebrachten Kathode, z. B. Platin, verbunden
wird. Bei niedriger Spannung der Stromquelle werden infolge des Widerstandes der Sperrschicht 7
und der Widersände der Sperrschichten zwischen den Zonen 1 und 2 bzw. 2 und 3 sowie infolge der Tatsache,
daß das p-leitende Material leichter durch das Bad angeriffen wird als das η-leitende Material, im
wesentlichen die oberflächlichen Teile der Zone 2 und der auskristallisierten Schicht 6 weggeätzt.
Von den Zonen 1 und 3 werden nur kleine Teile weggeätzt. Diese sind in Fig. 1 durch gestrichelte
Linien angegeben.
309 508/200
Das Resultat ist in Fig. 2 dargestellt. Um den Kontakt 4 hat sich eine Nut 11 gebildet, und an der
Stelle der Zone 2 ist eine Rille entstanden. Der Kontakt 4 steht nun auf einer mehr oder weniger zylindrischen
Säule 12, die einen ohmschen Kontakt mit der Zone 2 bildet und die vollkommen von den Teilen
1 und 3 getrennt ist.
Das Verfahren beschränkt sich nicht auf die Anwendung von runden Kontakten; es kann ebensogut
angewandt werden, wenn auf dem Rand der dünnen Zone linienförmige Kontakte angebracht werden
sollen.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH:Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteran-Ordnung, z. B. eines Transistors oder einer Kristalldiode, mit einem Halbleiterkörper, der eine dünne Zone p-leitenden Materials enthält, die mindestens an einer Seite an eine dickere η-leitende Zone angrenzt, und dessen dünne Zone einen Kontakt besitzt, der durch Aufschmelzen einer Menge Kontaktmaterial mit Akzeptoreigenschaften auf den Rand der dünnen Zone und das angrenzende η-leitende Material hergestellt worden ist, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Aufschmelzen des Kontaktes der Körper elektrolytisch geätzt und daß dabei der Kontakt als Anode geschaltet wird.In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 967 259;
französische Patentschrift Nr. 1081736.Hierzu 1 Blatt Zeichnungen© 30» 508/200 1.63
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
NL231108 | 1958-09-04 |
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Country Status (3)
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DE (1) | DE1143273B (de) |
FR (1) | FR1234099A (de) |
GB (1) | GB918028A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4306951A (en) * | 1980-05-30 | 1981-12-22 | International Business Machines Corporation | Electrochemical etching process for semiconductors |
US5322814A (en) * | 1987-08-05 | 1994-06-21 | Hughes Aircraft Company | Multiple-quantum-well semiconductor structures with selective electrical contacts and method of fabrication |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1081736A (fr) * | 1952-08-01 | 1954-12-22 | Int Standard Electric Corp | Fabrication de dispositifs semi-conducteurs |
DE967259C (de) * | 1952-11-18 | 1957-10-31 | Gen Electric | Flaechentransistor |
-
1959
- 1959-09-01 DE DEN17169A patent/DE1143273B/de active Pending
- 1959-09-01 GB GB2979059A patent/GB918028A/en not_active Expired
- 1959-09-03 FR FR804231A patent/FR1234099A/fr not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1081736A (fr) * | 1952-08-01 | 1954-12-22 | Int Standard Electric Corp | Fabrication de dispositifs semi-conducteurs |
DE967259C (de) * | 1952-11-18 | 1957-10-31 | Gen Electric | Flaechentransistor |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4306951A (en) * | 1980-05-30 | 1981-12-22 | International Business Machines Corporation | Electrochemical etching process for semiconductors |
US5322814A (en) * | 1987-08-05 | 1994-06-21 | Hughes Aircraft Company | Multiple-quantum-well semiconductor structures with selective electrical contacts and method of fabrication |
US5435856A (en) * | 1987-08-05 | 1995-07-25 | Hughes Aircraft Company | Multiple-quantum-well semiconductor structures with selective electrical contacts and method of fabrication |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB918028A (en) | 1963-02-13 |
FR1234099A (fr) | 1960-10-14 |
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