DE112012006340T5

DE112012006340T5 - Flüssigkristallanzeigevorrichtung, Matrixsubstrat und Verfahren zur Herstellung eines Matrixsubstrats

Info

Publication number: DE112012006340T5
Application number: DE112012006340.6T
Authority: DE
Inventors: Cheng-Hung Chen
Original assignee: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2012-06-05
Filing date: 2012-06-12
Publication date: 2015-01-22
Also published as: CN102692740A; CN102692740B; WO2013181857A1

Abstract

Es werden eine Flüssigkristallanzeigevorrichtung (LCD), ein Matrixsubstrat in der LCD-Vorrichtung und ein Verfahren zur Herstellung des Matrixsubstrats vorgeschlagen. Die LCD-Vorrichtung umfasst ein Matrixsubstrat, ein Farbfilter (CF) Substrat und eine Flüssigkristall(LC)-Schicht, die zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat angeordnet ist. Eine Spannungsanlegeschaltung, ein Hilfsdraht, und eine erste Prüfkontaktfläche sind auf dem Matrixsubstrat angeordnet. Der Hilfsdraht ist neben der Spannungsanlegeschaltung angeordnet. Der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung werden aus der gleichen Einheit gebildet und einem gleichen Verfahren unterzogen. Wenn der Referenzdraht untersucht und als defekt bewertet wird, kann dies bedeuten, dass nach Referenzen und Vergleichen die Spannungsanlegeschaltung eine Störung haben könnte. Daher kann das Matrixsubstrat kontrolliert oder repariert werden, was die Anzahl von fehlerhaften Produktenvermindert.

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG
1. Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Flüssigkristallanzeigen (LCDs), und insbesondere auf eine LCD-Vorrichtung, ein Matrixsubstrat und ein Verfahren zum Herstellen des Matrixsubstrats.
2. Beschreibung des Standes der Technik
Allgemein gesprochen weist eine LCD-Vorrichtung herkömmlicher Weise ein Matrixsubstrat, ein Farbfilter-Substrat (CF) und eine Flüssigkristallschicht (LC) auf, die zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat angeordnet ist. Eine Art von Flüssigkristall-Anzeigeeinrichtung umfaßt ein Prüfkontaktfläche, eine Hilfsschaltung und eine Halbleitermatrixschaltung. Die drei Komponenten sind auf dem Matrixsubstrat angeordnet. Die Hilfsschaltung weist eine Spannungsanlegeschaltung auf. Die Spannungsanlegeschaltung ist mit der Halbleitermatrixschaltung und dem Prüfkontaktfläche verbunden.
Während dem Verfahrensschnitt der polymerstabilisierten vertikalen Ausrichtung, PSVA, wird die Peripherie des CF-Substrats geschnitten bzw. getrennt, so dass die Prüfkontaktfläche auf einer aktiven Fläche des Matrixsubstrats freigelegt werden kann. Anschließend wird eine Spannung auf die Prüfkontaktfläche angewandt, so dass mittels der Spannungsanlegeschaltung ein elektrisches Feld zwischen dem CF-Substrat und dem Matrixsubstrat erzeugt werden kann. Danach werden Monomere in der LC-Schicht, die sandwichartig zwischen dem CF-Substrat und dem Matrixsubstrat angeordnet ist, belichtet oder erwärmt, so dass eine Abweichung des LC Orientierung hervorgerufen werden kann (das heißt, ein Vorneigungswinkel bzw. pre-tilt gebildet werden kann), welche die LC-Ausrichtung bewirken würde.
Allerdings kann die Spannung und der Stromkreis während des PSVA Verfahrensschritts abnormal sein. Aufgrund der Abnormalität würde kein elektrisches Feld zwischen dem CF-Substrat und dem Matrixsubstrat erzeugt werden, und die LC-Moleküle würden auch nicht abgelenkt oder normal ausgerichtet. Dementsprechend konnte eine so hergestellte LCD-Vorrichtung Bilder nicht normal darstellen. Die LC-Moleküle kann auch viel langsamer reagieren. Darüber hinaus ist das Verfahren PSVA irreversibel, was bedeutet, dass es unmöglich ist, die LCD-Vorrichtung in den nachfolgenden Prozessen zu reparieren. Dies wäre eine große Verschwendung.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine LCD-Vorrichtung, ein Matrixsubstrat und ein Verfahren zum Herstellen des Matrixsubstrats geeignet zur Prüfung, vor dem PSVA Prozess, ob die Spannungsanlegeschaltung normal ist. Die Spannungsanlegeschaltung kann zum Manipulieren des LC-Ausrichtung verwendet werden, um die LC-Moleküle dazu zu bringen, einen Vorkippwinkel zu bilden. Die normale Spannungsanlegeschaltung kann die Anzahl von fehlerhaften Produkten reduzieren.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein Matrixsubstrat in einer Flüssigkristallanzeige (LCD) Vorrichtung angegeben, umfassend eine Halbleiter-Matrixschaltung, die einer aktiven Fläche entspricht, und eine Hilfsschaltung, einen Hilfsdraht und eine erste Prüfkontaktfläche, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entsprechen. Der Hilfsdraht ist außerhalb einer Trennlinie in dem Peripheriebereich eines Farbfilter-Substrats (CF) angeordnet, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entspricht. Der Hilfsdraht ist benachbart zu der Hilfsschaltung angeordnet. Die Hilfsschaltung weist eine Spannungsanlegeschaltung auf. Die Spannungsanlegeschaltung wird verwendet, um mit der Halbleiter-Matrixschaltung verbunden zu werden, und zum Anwenden eines Spannungsabfalls zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat, so dass Flüssigkristalle (LCs) in der Spannungsanlegeschaltung einen Vorneigungswinkel bilden können. Die Spannungsanlegeschaltung ist mit der Halbleitermatrixschaltung verbunden. Die Spannungsanlegeschaltung weist eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten auf, die unabhängig voneinander sind. Der Hilfsdraht ist in Reihe verbunden über eine Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten, die unabhängig voneinander sind, die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten entsprechen eins-zu-eins identisch geschaltet sind zu der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten eins zu eins, und der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung werden in demselben Prozess hergestellt. Die ersten Prüfkontaktflächen sind auf beiden Anschlüssen des Hilfsdrahts angeordnet, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdraht verbunden ist.
In einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist jede der zweiten leitenden elektronischen Einheiten und jede der ersten leitende elektronischen Einheiten eine identische erste metallische Einheit, eine identische zweite metallische Einheit, eine identische transparente leitende Einheit und eine identische Durchkontaktierung.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Herstellung eines Matrixsubstrats in einer LCD-Vorrichtung umfasst die folgenden Schritte: Anordnen einer Halbleiterschaltung, die einer aktiven Fläche auf dem Matrixsubstrat entspricht, Anordnen einer Hilfsschaltung, eines Hilfsdraht, und einer erste Prüfkontaktfläche, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entsprechen, auf dem Matrixsubstrat, wobei der Hilfsdraht benachbart der Hilfsschaltung ist, wobei die Hilfsschaltung aus einer Spannungsanlegeschaltung, wobei die Hilfsschaltung eine Spannungsanlegeschaltung aufweist, wobei die Spannungsanlegeschaltung dazu verwendet wird, mit der Halbleitermatrixschaltung verbunden zu werden, und zum Anlegen eines Spannungsabfall zwischen dem Matrixsubstrat und einem CF-Substrat, so dass Flüssigkristalle (LCs) in der Spannungsanlegeschaltung einen Vorneigungswinkel bilden können, wobei die Spannungsanlegeschaltung mit der Halbleiter-Matrixschaltung verbunden ist, wobei die Spannungsanlegeschaltung eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten aufweist, die voneinander unabhängig sind, wobei der Hilfsdraht in Reihe über eine Mehrzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten verbunden ist, die voneinander unabhängig sind, wobei die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten und die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten in jedem entsprechenden Teil aus den gleichen Einheiten gebildet sind, wobei der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung in demselben Prozess hergestellt werden, und die ersten Prüfkontaktflächen sind auf beiden Anschlüssen des Hilfsdrahts, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdrahtes verbunden ist, angeordnet; Untersuchen der ersten Prüfkontaktflächen, die an den Anschlüssen des Hilfsdrahts angeordnet sind, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdraht verbunden ist, um zu sehen, ob der Hilfsdraht eingeschaltet ist oder einen abnormalen Widerstand aufweist, wobei eine Abnormität des Hilfsdrahts die Bedeutung hat, dass der Hilfsdraht einen Fehler hat und dass die Hilfsschaltung womöglich auch einen Fehler haben könnte; Kontrolle oder Reparatur des Matrixsubstrats, das die Hilfsschaltung aufweist, die als Defekt bestimmt wurde.
Gemäß der vorliegenden Erfindung umfasst eine LCD-Vorrichtung: ein Matrixsubstrat, ein CF-Substrat und eine Flüssigkristallschicht, die zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat angeordnet ist; das Matrixsubstrat weist eine Halbleiter-Matrixschaltung auf, die einer aktiven Fläche entspricht, und eine Hilfsschaltung, einen Hilfsdraht und eine erste Prüfkontaktfläche, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entsprechen, und wobei der Hilfsdraht benachbart der Hilfsschaltung angeordnet ist, wobei die Hilfsschaltung eine Spannungsanlegeschaltung aufweist, wobei die Spannungsanlegeschaltung verwendet wird, um mit der Halbleiter-Matrixschaltung verbunden zu werden, und zum Anwenden eines Spannungsabfalls zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat, so dass LCs einen Vorneigungswinkel bilden können. Die Spannungsanlegeschaltung weist eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten auf, die unabhängig voneinander sind, der Hilfsdraht ist in Reihe verbunden über eine Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten, die unabhängig voneinander sind, die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten entsprechen eins-zu-eins identisch der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten, und der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung werden in demselben Prozess hergestellt; die ersten Prüfkontaktflächen sind auf beiden Anschlüssen des Hilfsdrahts angeordnet, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdraht verbunden ist.
In einem Aspekt der vorliegenden Erfindung umfasst die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten eine erste metallische Einheit, eine zweite metallische Einheit, eine transparente leitende Einheit und eine Durchkontaktierung, die entsprechend identisch sind zu der ersten metallischen Einheit, der zweiten metallische Einheit, der transparenten leitenden Einheit und der Durchkontaktierung, die von der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten verwendet wurden.
In einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird der Hilfsdraht außerhalb einer Trennlinie an der Peripherie des CF-Substrats angeordnet, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entspricht, und der Hilfsdraht wird an der Peripherie der Hilfsschaltung angeordnet.
In einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird der Hilfsdraht in der Nähe von Seiten des Matrixsubstrat angeordnet.
In einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist die Anzahl der Hilfsdrähte zwei, wobei die Hilfsdrähte an entgegengesetzten Seiten jeweils nahe des Matrixsubstrat angeordnet sind, die Anzahl der ersten Prüfkontaktflächen vier ist und die vier ersten Prüfkontaktflächen an jeweils einer der vier Ecken des Matrixsubstrats angeordnet sind.
In einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung ist die Anzahl der Hilfsdrähte eins, wobei der Hilfsdraht auf dem Matrixsubstrat, das der Halbleitermatrixschaltung entspricht, angeordnet ist und dieses umrundet, wobei die Anzahl der ersten Prüfkontaktflächen vier ist und die vier erste Prüfkontaktflächen an jeweils einer der vier Ecken des Matrixsubstrats angeordnet sind.
In einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung umfasst die Hilfsschaltung eine zweite Prüfkontaktfläche, die zum Anlegen einer Spannung an die Spannungsanlegeschaltung verwendet wird.
Im Gegensatz zu der herkömmlichen Technologie hat die vorliegende Erfindung den Vorteil, dass die Anzahl der fehlerhaften Produkte effektiv durch Kontrollieren oder Reparieren des Matrixsubstrat verringert werden kann. In der vorliegenden Erfindung werden ein Hilfsdraht und eine Hilfsschaltung auf dem Matrixsubstrat angeordnet, und der Hilfsdraht und die Hilfsschaltung entsprechen demperipheren Bereich der aktiven Fläche. Die Hilfsschaltung weist eine Spannungsanlegeschaltung auf.
Der Hilfsdraht ist benachbart zu der Hilfsschaltung. Erste Prüfkontaktflächen sind in Reihe über den Hilfsdraht verbunden und werden an beiden Enden der Hilfsdraht platziert. Die ersten Prüfkontaktflächen werden daraufhin untersucht, ob der Hilfsdraht eingeschaltet ist oder einen abnormalen Widerstand aufweist. In der vorliegenden Erfindung sind der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung in der Hilfsschaltung aus der gleichen bzw. den gleichen Einheit(en) hergestellt und dem gleichen Verfahren unterzogen, und der Hilfsdraht ist benachbart zu dem Spannungsanlegeschaltung. Die Hilfsschaltung kann nach Referenzen und Vergleichen defekt sein, wenn der Hilfsdraht ausgeschaltet ist oder einen abnormalen Widerstand aufweist. So kann das Matrixsubstrat kontrolliert oder repariert werden.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
1 zeigt ein Strukturdiagramm der LCD-Vorrichtung gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
2 zeigt ein schematisches Diagramm der Verbindungsbeziehungen aller Drähte auf einem Matrixsubstrat einer LCD-Vorrichtung wie in 1 gezeigt.
3 zeigt ein schematisches Diagramm der Verbindungen aller Teile eines Hilfsdrahts wie in 1 gezeigt.
4 zeigt Hilfsdrähte, die zur linken und rechten Seite des in 1 gezeigten Matrixsubstrats angeordnet sind.
5 zeigt Hilfsdrähte an den oberen und unteren Seiten des in 1 gezeigten Matrixsubstrats.
6 zeigt ein Flussdiagramm des Verfahrens zur Herstellung des in Fig. gezeigten Matrixsubstrats.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
Nachstehend werden Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben. In der folgenden Beschreibung werden die gleichen Elemente mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet, obwohl sie in verschiedenen Zeichnungen dargestellt werden. Ferner wird in der folgenden Beschreibung der vorliegenden Erfindung wird eine ausführliche Beschreibung bekannter Funktionen und Konfigurationen, die hier enthalten sind, weggelassen, wenn sie den Gegenstand der vorliegenden Erfindung unklar machen könnten.
Eine LCD-Vorrichtung 2 ist in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereitgestellt. Bezugnehmend auf die 1 bis 3 zeigt die 1 ein Strukturdiagramm der LCD-Vorrichtung 2 gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die 2 zeigt ein schematisches Diagramm der Verbindungsbeziehungen aller Drähte auf einem Matrixsubstrat 22 in der LCD-Vorrichtung 2, wie in 1 dargestellt, und die 3 zeigt ein schematisches Diagramm der Verbindungen aller Teile eines Hilfsdraht 221, wie er in der 1 gezeigt ist.
Die LCD-Vorrichtung 2 umfaßt ein CF-Substrat 21, ein Matrixsubstrat 22 und eine LC-Schicht 23, die zwischen dem Matrixsubstrat 22 und dem CF-Substrat 21 angeordnet ist. Das Matrixsubstrat 22 weist ein Hilfsdraht 221, eine erste Prüfkontaktfläche 222, eine zweite Prüfkontaktfläche 223, eine Hilfsschaltung 224 und eine Halbleitermatrixschaltung 225 auf. Die Halbleitermatrixschaltung 225 ist entsprechend einer aktiven Fläche auf dem Matrixsubstrat 22 angeordnet. Der Hilfsdraht 221, die erste Prüfkontaktfläche 222, die zweite Prüfkontaktfläche 223 und die Hilfsschaltung 224 sind auf dem Matrixsubstrat 22 entsprechend dem Peripheriebereich der aktiven Fläche angeordnet. Die vier Ecken und der Rand des CF-Filters 21 werden vor dem PSVA Prozess geschnitten bzw. getrennt, wodurch der Hilfsdraht 221, der erste Prüfkontaktfläche 222, die zweite Prüfkontaktfläche 223 und die Hilfsschaltung 224 freigelegt werden.
Die Hilfsschaltung 224 umfasst eine Spannungsanlegeschaltung 2241.
Die Spannungsanlegeschaltung 2241 ist mit der zweiten Prüfkontaktfläche 223 und der Halbleiter-Matrixschaltung 225 verbunden. Die Spannungsanlegeschaltung 2241 wird verwendet, um eine Spannung an die zweite Prüfkontaktfläche 223 anzulegen. Nachdem Anlegen der Spannung an die zweite Prüfkontaktfläche 223, würde ein elektrisches Feld zwischen dem Matrixsubstrat 22 und dem CF-Substrat 21 gebildet werden. Nachdem die LC-Schicht 23 belichtet oder erhitzt wird, bildet jedes LC-Molekül der Monomere einen Vorneigungswinkel. Die Spannungsanlegeschaltung 2241 umfasst eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten (nicht gezeigt). Die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten sind unabhängig voneinander.
Es sind vier erste Prüfkontaktflächen 222 an jeweils einer der vier Ecken des Matrixsubstrats 22 angeordnet. Die ersten vier Prüfkontaktflächen 222 sind nacheinander in Reihe verbunden mittels des Hilfsdrahts 221, der eine Schleife zu Seiten des Matrixsubstrats 22 bildet.
Der Hilfsdraht 221 ist in Reihe über eine Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten verbunden (nicht gezeigt). Die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten sind unabhängig voneinander. Die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten und die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten sind in jedem entsprechenden Teil aus den gleichen Einheiten hergestellt. In der vorliegenden Ausführungsform weist die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten eine erste metallische Einheit 2211, eine zweite metallische Einheit 2212, eine transparente leitende Einheit 2213 und eine Durchkontaktierung 2214 auf. Der Hilfsdraht 221 ist in Reihe über die erste metallische Einheit 2211, die zweite metallische Einheit 2212, die transparenteleitenden Einheit 2213 und die Durchkontaktierung 2214 verbunden. Die Reihenfolge kann beliebig sein, wenn die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten in Reihe geschaltet sind. Ähnlich kann die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten umfassen die gleichen Einheiten der ersten metallische Einheit 2211 der zweiten metallischen Einheit 2212 der transparenten leitenden Einheit 2213 und die über 2214.
Spezieller werden die Bildung und die Menge der mehreren zweiten leitenden elektronischen Einheiten durch die mehreren ersten leitenden elektronischen Einheiten bestimmt wird; das heißt, die Bildung und die Menge der mehreren zweiten leitenden elektronischen Einheiten variieren je nach der Ausbildung und der Menge der mehreren ersten leitenden elektronischen Einheiten. Darüber hinaus sind der Hilfsdraht 221 und die Spannungsanlegeschaltung 2241 gleichzeitig in demselben Prozess hergestellt werden. Der Hilfsdraht 221 ist auf dem Peripheriebereich des Hilfsschaltung 224 angeordnet ist; das heißt, die Hilfsdraht 221 ist in der Nähe der Hilfsschaltung 224 und nahe an der Spannung-Anlegeschaltung 2241 in der Hilfsschaltung 224 angeordnet ist. Insbesondere kann ein Abstand zwischen dem Hilfsdraht 221 und die Hilfsschaltung 224 kleiner ausgelegt werden können. Zum Beispiel kann der Abstand so klein wie die Komplexität des Prozesses zu erreichen sein kann.
Zusätzlich kann die erste metallische Einheit 2211 das zweite metallische Einheit 2212 die transparente leitende Einheit 2213 und die Durchkontaktierung 2214 periodisch und wiederholt angeordnet oder willkürlich und die verteilt auf dem Hilfsdraht 221 angeordnet. Die Anzahl aller Arten von leitenden elektronischen Einheiten unterschiedlich sein kann, und die Reihenfolge von allen Arten von leitenden elektronischen Einheiten unterschiedlich sein kann ebenso. Wenn die erste metallische Einheit 2211 das zweite metallische Einheit 2212 die transparente leitende Einheit 2213 und die Durchkontaktierung 2214 in regelmäßigen Abständen und wiederholt angeordnet sind, die Dauer der vier Einheiten kann kürzer sein. Zum Beispiel kann die Zeit so kurz wie die Komplexität des Prozesses zu erreichen sein kann. Natürlich kann die Periode der lour Einheiten länger sein.
Worauf noch hinzuweisen ist sind die Definitionen in der vorliegenden Ausführungsform. Alle Arten leitender elektronischer Einheiten in der Spannungsanlegeschaltung werden als die ersten leitenden elektronische Einheiten bezeichnet. Alle Arten leitender elektronischer Einheiten, bestehend aus der ersten metallischen Einheit 2211, der zweiten metallischen Einheit 2212, der transparenten leitenden Einheit 2213 und die Durchkontaktierung 2214 werden als die zweiten leitenden elektronischen Einheiten definiert. Daher entspricht in der Ausführungsform die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten eins-zu-eins identisch der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten. Genauer gesagt, sind alle der Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten und alle der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten in jedem entsprechenden Teil identisch. Oder es entsprechen einige der Vielzahl der zweiten leitenden elektronischen Einheiten eins-zu-eins identisch zu einigen der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten.
Worauf im Voraus hingewiesen werden soll ist, dass die erste metallische Einheit 2211, die zweite metallische Einheit 2212, die transparente leitfähige Einheit 2213 und die Durchkontaktierung 2214 alle sind konkrete Beispiele für die zweite leitende elektronischen Einheiten in der oben erwähnten Ausführungsform. Die vorliegende Erfindung ist nicht auf diese konkreten Beispiele beschränkt. Eigentlich kann den Namen und die Anzahl der leitenden elektronischen Einheiten in Abhängigkeit von den Einheiten praktisch in einem Produkt verwendet, verändert werden. Die Voraussetzung ist, dass die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten und die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten sind aus den gleichen Einheiten in jedem entsprechenden Teil, der nicht vom Umfang der vorliegenden Erfindung abweicht hergestellt.
Außerdem ist ein gemeinsamer Anwendung dass die Halbleitermatrixschaltung 225 hat die gleiche Einheit und unterliegt den gleichen Herstellungsverfahren wie die Hilfsschaltung 224.
Darüber hinaus ist der Hilfsdraht flexibel in der Anzahl und der Routing. Beispielsweise ist in 4 zwei Hilfsdrähte 321 sind auf der rechten und linken Seite des Matrixsubstrats 32.
An diesem Punkt werden beide Anschlüsse jedes der Hilfsdrähte 321 verbunden, um zwei erste Prüfkontaktflächen 322 auf der gleichen Seite angeordnet. Oder sind zwei Hilfsdrähte 421 an den oberen und unteren Seiten des Matrixsubstrats 42 angeordnet. An diesem Punkt werden beide Anschlüsse jedes der Hilfsdrähte 421 verbunden, um zwei erste Prüfkontaktflächen 422 auf der gleichen Seite angeordnet sind, die jeweils, wie in 5. Die Hilfsdrähte sind an den gegenüberliegenden Seiten der Anordnung Substrat angeordnet sind, wie in 4 und 5.
In der vorliegenden Erfindung wird der Hilfsdraht im Bereich der Hilfsschaltung und in dem Bereich, die benachbart der Hilfsschaltung ist, angeordnet. Der Hilfsdraht und der Spannungsanlegeschaltung in der Hilfsschaltung aus derselben Einheit hergestellt und das gleiche Verfahren zu unterziehen. Die erste Testunterlagen werden seriell über den Hilfsdraht verbunden und werden an den Anschlüssen der Hilfsdraht platziert. Die erste Testunterlagen werden untersucht, ob der Hilfsdraht eingeschaltet ist oder einen abnormalen Widerstand. Die Abnormalität der Hilfsdraht bedeutet, dass der Hilfsdraht einen Fehler hat. Darüber hinaus schließt sie, dass die benachbarten Spannungsanlegeschaltung kann eine Störung auch nach Referenzen und Vergleiche zu haben.
Ferner ist eine weitere Ausführungsform, bei der ein Matrixsubstrat wird in einem LCD-Vorrichtung verwendet wird, durch die vorliegende Erfindung bereitgestellt. Bitte fahren Sie mit Bezug auf 2 und 3 veranschaulicht die Matrixsubstrat. Das Matrixsubstrat hat den gleichen Aufbau und die gleichen Funktionen wie das Matrixsubstrat 22 in der oben erwähnten Ausführungsform. Somit wird die detaillierte Beschreibung hier nicht wiederholt werden.
Außerdem ist eine andere Ausführungsform, in welcher ein Verfahren zur Herstellung eines Matrixsubstrats wird durch die vorliegende Erfindung bereitgestellt. Es ist Bezug. 6 veranschaulicht ein Flussdiagramm des Verfahrens zur Herstellung des in Fig Matrixsubstrat 22. 1.
Das Verfahren umfasst die folgenden Schritte:
Schritt 401: entsprechend einer aktiven Fläche, Anordnen einer Halbleitermatrixschaltung für ein Matrixsubstrat; entsprechend dem Peripheriebereich der aktiven Fläche, Anordnen einer Hilfsschaltung, eines Hilfsdrahts, und einer ersten Prüfkontaktfläche auf dem Matrixsubstrat;
Der Hilfsdraht ist benachbart der Hilfsschaltung angeordnet. Die Hilfsschaltung weist eine Spannungsanlegeschaltung auf. Die Spannungsanlegeschaltung ist dafür vorgesehen, mit der Halbleitermatrixschaltung, die der aktiven Fläche entspricht, verbunden zu werden und zum Anlegen eines Spannungsabfalls zwischen dem Matrixsubstrat und einem CF-Substrat, so dass LCs in der Spannungsanlegeschaltung einen Vorneigungswinkel bilden können. Die Spannungsanlegeschaltung ist dafür vorgesehen, an die Halbleiter-Matrixschaltung angeschlossen zu werden. Die Spannungsanlegeschaltung umfasst eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten, welche unabhängig voneinander sind. Der Hilfsdraht ist in Reihe über eine Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten, die unabhängig voneinander sind, verbunden. Die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten und die Mehrzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten sind in jedem entsprechenden Teil aus den gleichen Einheiten hergestellt. Der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung werden in demselben Prozess hergestellt. Der erste Prüfkontaktfläche ist auf jedem Anschluss des Hilfsdrahts angeordnet.
Ferner kann das Hilfsdraht und der Spannungsanlegeschaltung simultan in dem gleichen Verfahren wie die Halbleitermatrixschaltung hergestellt werden. Und ferner der Hilfsdraht und der Hilfsschaltung, die die Spannungsanlegeschaltung umfasst kann gleichzeitig in demselben Prozess wie die Halbleitermatrixschaltung hergestellt werden. Zum Beispiel ist eine metallische Schicht, die mit einem Dünnfilmtransistor (TFT) entspricht begeistert von der Halbleiter-Matrixschaltung, die auf einem Glassubstrat angeordnet und entspricht der aktiven Fläche; an dieser Stelle wird eine metallische Schicht des Spannungsanlege, Schaltung, die mit den ersten leitenden elektronischen Einheiten entspricht auf der Oberfläche des Glassubstrats an der Peripherie des entsprechenden aktiven Fläche und einer metallischen Schicht, die an die zweite leitende entspricht gebildet elektronische Einheiten der Hilfsdraht ist auf der Oberfläche des Glassubstrats an der Peripherie des entsprechenden aktiven Fläche gebildet. Danach wird die Metallschicht auf dem Halbleitermatrixschaltung geätzt; Währenddessen wird die Metallschicht entsprechend den zweiten leitenden elektronischen Einheiten geätzt, eine vorbestimmte Länge des ersten metallischen Einheit oder eine Vielzahl von vorbestimmten Längen von ersten metallische Einheit zu verlassen.
Oder zum Beispiel wird eine transparente leitende Schicht, die an eine Pixelelektrode in der Halbleitermatrixschaltung entspricht, auf der Oberfläche des Glassubstrats, die der aktiven Fläche entspricht, an diesem Punkt einen transparenten leitenden Schicht der Spannungsanlegeschaltung gebildet, entspricht den ersten leitenden elektronischen Einheiten auf der Oberfläche des Glassubstrats an der Peripherie des entsprechenden aktiven Fläche gebildet ist; Unterdessen wird eine transparente leitende Schicht des Hilfsdrahts, der an die zweiten leitenden elektronischen Einheiten entspricht auf der Oberfläche des Glassubstrats an der Peripherie des entsprechenden aktiven Fläche gebildet. Danach ist der transparente, leitende Schicht in der Halbleitermatrixschaltung geätzt; Währenddessen wird die transparente leitende Schicht, die den zweiten leitenden elektronischen Einheiten geätzt, die eine vorbestimmte Länge einer transparenten leitenden Einheiten oder eine Vielzahl von vorbestimmten Längen von transparenten leitenden Einheiten verlassen. In ähnlicher Weise würde die erste metallische Einheit, die zweite metallische Einheit, die transparente leitende Einheit und die über der Hilfsdraht in dem Ende elektrisch verbunden. Natürlich ist die Voraussetzung für ein auf jeden Abschnitt des zweiten leitenden elektronischen Einheiten der Hilfsdraht im gesamten Abschnitt elektrisch verbunden werden das gleiche wie das zur Herstellung der Spannungsanlegeschaltung und die Halbleitermatrixschaltung. In anderen Worten, wird die vorbestimmte Position und die Struktur jeder Komponente erforderlich ist, um in dem gleichen Verfahren realisiert werden.
Im Normalzustand wird jeder Abschnitt der zweiten leitenden elektronischen Einheiten der Hilfsdraht elektrisch gesamten Abschnitt verbunden ist. In einem anomalen Zustand oder einem Unfall, ist jeder Abschnitt der zweiten leitenden elektronischen Einheiten der Hilfsdraht nicht im gesamten Abschnitt elektrisch verbunden werden. B. sonic der Abschnitte der zweiten leitenden elektronischen Einheiten elektrisch verbunden sind und die anderen abgeschaltet sind. Es hilft zu untersuchen Gegenstände durch die Prüfung, ob die Hilfsdraht eingeschaltet ist oder nur einen anormalen Widerstand in den folgenden Untersuchungen.
Es gibt vier erste Testflächen auf dem Matrixsubstrat. Die vier Prüfkontaktflächen sind an den vier Ecken des Matrixsubstrats angeordnet. Die vier ersten Prüfkontaktflächen seriell in Sequenz über den Zusatzdraht, der eine Schleife um die Peripherie des Matrixsubstrat bildet. Andernfalls kann zwei Hilfsdrähte verwendet werden. Die Hilfsleitungen an zwei gegenüberliegenden Seiten des Matrixsubstrats angeordnet. Die Anschlüsse von jedem der Hilfsdrähte verbunden sind, um zwei erste Prüfkontaktfläche auf der gleichen Seite angeordnet sind.
Schritt 402: Untersuchen der ersten Test-Pads an den Anschlüssen der Hilfsdraht angeordnet, um festzustellen, ob der Hilfsdraht eingeschaltet ist oder einen abnormalen Widerstand; die Abnormalität des Hilfsdraht so dass der Hilfsdraht einen Fehler; An diesem Punkt, es schließen, dass die Hilfsschaltung kann einen Fehler als gut;
Schritt 403: Kontrolle oder Reparatur des Matrixsubstrat, das die Hilfsschaltkreis, der bestimmt wird, um defekt zu sein, umfasst.
In der vorliegenden Erfindung wird der Hilfsdraht auf dem Matrixsubstrat auf der Domäne, die angrenzend an den Hilfsstromkreis angeordnet ist, an dem Randbereich des Hilfsschaltung, und.
Der Hilfsdraht und der Spannungsanlegeschaltung in der Hilfsschaltung lo derselben Einheit hergestellt und das gleiche Verfahren zu unterziehen. Die erste Testunterlagen werden seriell über den Hilfsdraht verbunden und werden an den Anschlüssen der Hilfsdraht platziert. Die erste Testunterlagen werden untersucht, ob der Hilfsdraht eingeschaltet ist oder einen abnormalen Widerstand. Die Abnormalität der Hilfsdraht bedeutet, dass der Hilfsdraht einen Fehler hat. Ferner kann es folgern, dass der Nachbarspannungsanlegeschaltung kann eine Störung auch nach Referenzen und Vergleiche zu haben. Schließlich kann das Matrixsubstrat gesteuert oder repariert werden. Es hilft bei der Reduzierung der Anzahl von fehlerhaften Produkten.
Während die vorliegende Erfindung in Verbindung mit dem, was als die praktischsten und bevorzugten Ausführungsformen beschrieben wurde, ist es verständlich, dass diese Erfindung nicht auf die offenbarten Ausführungsformen begrenzt ist, sondern bestimmt ist, verschiedene Anordnungen, ohne den Schutzbereich der weitesten Auslegung vorgenommen abzudecken der beigefügten Ansprüche.

Claims

Matrixsubstrat in einer Flüssigkristallanzeigevorrichtung (LCD), wobei das Matrixsubstrat eine Halbleiter-Matrixschaltung aufweist, die einer aktiven Fläche entspricht, und eine Hilfsschaltung, einen Hilfsdraht und eine erste Prüfkontaktfläche, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entsprechen, wobei der Hilfsdraht außerhalb einer Trennlinie in dem Peripheriebereich eines Farbfilter-Substrats (CF) angeordnet ist, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entspricht, und wobei der Hilfsdraht benachbart der Hilfsschaltung angeordnet ist, wobei die Hilfsschaltung eine Spannungsanlegeschaltung aufweist, wobei die Spannungsanlegeschaltung verwendet wird, um mit der Halbleiter-Matrixschaltung verbunden zu werden, und zum Anwendeneines Spannungsabfalls zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat, so dass Flüssigkristalle (LCs) in der Spannungsanlegeschaltung einen Vorneigungswinkel bilden können, und die Spannungsanlegeschaltung ist mit irgendeiner Halbleiterschaltung verbunden; die Spannungsanlegeschaltung weist eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten auf, die unabhängig voneinander sind, der Hilfsdraht ist in Reihe verbunden über eine Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten, die unabhängig voneinander sind, die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten entsprechen eins-zu-eins identisch der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten eins zu eins, und der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung werden in demselben Prozess hergestellt; die ersten Prüfkontaktflächen sind auf beiden Anschlüssen des Hilfsdrahts angeordnet, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdrahtverbunden ist.
Matrixsubstrat nach Anspruch 1, wobei jede der zweiten leitenden elektronischen Einheiten und jede der ersten leitende elektronischen Einheiten eine identische erste metallische Einheit, eine identische zweite metallische Einheit, eine identische transparente leitende Einheit und eine identische Durchkontaktierung ist.
Verfahren zur Herstellung eines Matrixsubstrats in einer LCD-Vorrichtung, umfassend die Schritte: Anordnen einer Halbleiterschaltung, die einer aktiven Fläche auf dem Matrixsubstrat entspricht, Anordnen einer Hilfsschaltung, eines Hilfsdraht, und einer erste Prüfkontaktfläche, die dem Peripheriebereich der aktiven Flächeentsprechen, auf dem Matrixsubstrat, wobei der Hilfsdraht benachbart der Hilfsschaltung ist, wobei die Hilfsschaltung eine Spannungsanlegeschaltung aufweist, wobei die Spannungsanlegeschaltung dazu verwendet wird, mit der Halbleitermatrixschaltung verbunden zu werden, und zum Anlegen eines Spannungsabfall zwischen dem Matrixsubstrat und einem CF-Substrat, so dass Flüssigkristalle (LCs) in der Spannungsanlegeschaltung einen Vorneigungswinkel bilden können, wobei die Spannungsanlegeschaltung mit der Halbleiter-Matrixschaltung verbunden ist, wobei die Spannungsanlegeschaltung eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten aufweist, die voneinander unabhängig sind, wobei der Hilfsdraht in Reihe über eine Mehrzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten verbunden ist, die voneinander unabhängig sind, wobei die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten und die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten in jedem entsprechenden Teil aus den gleichen Einheiten gebildet sind, wobei der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung in demselben Prozess hergestellt werden, und die ersten Prüfkontaktflächen sind auf beiden Anschlüssen des Hilfsdrahts, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdrahtes verbunden ist, angeordnet; Untersuchen der ersten Prüfkontaktflächen, die an den Anschlüssen des Hilfsdrahts angeordnet sind, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdraht verbunden ist, um zu sehen, ob der Hilfsdraht eingeschaltet ist oder einen abnormalen Widerstand aufweist, wobei eine Abnormität des Hilfsdrahts die Bedeutung hat, dass der Hilfsdraht einen Fehler hat und dass die Hilfsschaltung womöglich auch einen Fehler haben könnte; Kontrolle oder Reparatur des Matrixsubstrats, das die Hilfsschaltung aufweist, die als Defekt bestimmt wurde.
LCD-Vorrichtung, umfassend: ein Matrixsubstrat, ein CF-Substrat und eine Flüssigkristallschicht, die zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat angeordnet ist; das Matrixsubstrat weist eine Halbleitermatrixschaltung auf, die einer aktiven Fläche entspricht, und eine Hilfsschaltung, einen Hilfsdraht, und die erste Prüfkontaktfläche, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entsprechen, und der Hilfsdraht ist in der Nähe der Hilfsschaltung angeordnet; die Hilfsschaltung weist eine Spannungsanlegeschaltung auf, wobei die Spannungsanlegeschaltung dazu dient, mit der Halbleitermatrixschaltung, die der aktiven Fläche entspricht, verbunden zu werden und zum Anwenden eines Spannungsabfalls zwischen dem Matrixsubstrat und dem CF-Substrat, so dass LCs einen Vorneigungswinkel bilden können; die Spannungsanlegeschaltung weist eine Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten auf, die unabhängig voneinander sind, wobei der Hilfsdraht eine Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten umfasst, die unabhängig voneinander sind, wobei die Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten eins-zu-eins identisch sind zu der Vielzahl der entsprechenden zweiten leitenden elektronischen Einheiten, die voneinander unabhängig sind, und der Hilfsdraht und die Spannungsanlegeschaltung werden in demselben Prozess hergestellt; die ersten Prüfkontaktflächen sind auf beiden Anschlüssen des Hilfsdraht angeordnet, der in Reihe mit einem anderen Hilfsdraht verbunden ist.
Vorrichtung nach Anspruch 4, wobei die Vielzahl von zweiten leitenden elektronischen Einheiten eine erste metallische Einheit, eine zweite metallische Einheit, eine transparente leitende Einheit und eine Durchkontaktierung umfassen, die entsprechend identisch sind zu der ersten metallischen Einheit, der zweiten metallische Einheit, der transparenten leitenden Einheit und der Durchkontaktierung, die von der Vielzahl von ersten leitenden elektronischen Einheiten verwendet wurden.
Vorrichtung nach Anspruch 5, wobei der Hilfsdraht außerhalb einer Trennlinie an der Peripherie des CF-Substrats angeordnet ist, die dem Peripheriebereich der aktiven Fläche entspricht, und der Hilfsdraht wird an der Peripherie der Hilfsschaltung angeordnet.
Vorrichtung nach Anspruch 5, wobei der Hilfsdraht nahe Seiten des Matrixsubstrat angeordnet ist.
Vorrichtung nach Anspruch 7, wobei die Anzahl der Hilfsdrähte zwei ist, wobei die Hilfsdrähte an entgegengesetzten Seiten jeweils nahe des Matrixsubstrat angeordnet sind, die Anzahl der ersten Prüfkontaktflächen vier ist und die vier ersten Prüfkontaktflächen an jeweils einer der vier Ecken des Matrixsubstrats angeordnet sind.
Vorrichtung nach Anspruch 7, wobei die Anzahl der Hilfsdrähteeins ist, wobei der Hilfsdraht auf dem Matrixsubstrat, das der Halbleitermatrixschaltung entspricht, angeordnet ist und dieses umrundet, wobei die Anzahl der ersten Prüfkontaktflächen vier ist und die vier erste Prüfkontaktflächen an jeweils einer der vier Ecken des Matrixsubstrats angeordnet sind.
Vorrichtung nach Anspruch 4, wobei die Hilfsschaltung eine zweite Prüfkontaktfläche aufweist, die zum Anlegen einer Spannung an die Spannungsanlegeschaltung verwendet wird.