DE69428163T2 - Flache Anzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Inspektion - Google Patents

Flache Anzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Inspektion

Info

Publication number
DE69428163T2
DE69428163T2 DE69428163T DE69428163T DE69428163T2 DE 69428163 T2 DE69428163 T2 DE 69428163T2 DE 69428163 T DE69428163 T DE 69428163T DE 69428163 T DE69428163 T DE 69428163T DE 69428163 T2 DE69428163 T2 DE 69428163T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
scanning circuit
horizontal scanning
vertical scanning
circuit
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69428163T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69428163D1 (de
Inventor
Yoshikazu Hazama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Application granted granted Critical
Publication of DE69428163D1 publication Critical patent/DE69428163D1/de
Publication of DE69428163T2 publication Critical patent/DE69428163T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3685—Details of drivers for data electrodes
    • G09G3/3688—Details of drivers for data electrodes suitable for active matrices only
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/48—Arrangements in static stores specially adapted for testing by means external to the store, e.g. using direct memory access [DMA] or using auxiliary access paths
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/2007—Display of intermediate tones
    • G09G3/2011—Display of intermediate tones by amplitude modulation
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S345/00—Computer graphics processing and selective visual display systems
    • Y10S345/904—Display with fail/safe testing feature

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

    HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft eine flache Anzeigevorrichtung und ein Verfahren zu ihrer Untersuchung, genauer gesagt, eine flache Anzeigevorrichtung, ein Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix sowie Verfahren zum Untersuchen derselben, die es ermöglichen, die Anzahl von Ausgangsanschlüssen, die zur Untersuchung der Horizontal-Abrasterschaltung und der Vertikal-Abrasterschaltung, die auf dem Ansteuerungssubstrat z. B. einer Flüssigkristall- Anzeigevorrichtung ausgebildet sind, zu verringern und die Untersuchungszeit zu verkürzen.
    • 2. Beschreibung der einschlägigen Technik
  • Ein repräsentativer Typ einer flachen Anzeigevorrichtung ist eine Flüssigkristallvorrichtung (LCD). Ein LCD besteht im Allgemeinen aus einem Ansteuerungssubstrat, auf dem eine Horizontal-Abrasterschaltung, eine Vertikal-Abrasterschaltung und ein Pixelbereich ausgebildet sind, einem Gegensubstrat, auf dem eine Gegenelektrode ausgebildet ist, und einem dicht zwischen den beiden eingeschlossenen Flüssigkristall. Der Pixelbereich verfügt über eine Vielzahl von Bildelementen in einem Matrixarray. Jedes Bildelement verfügt über eine Pixelelektrode und eine Ansteuerungsschaltung. Die Ansteuerungsschaltungen bestehen z. B. aus Schaltelementen, und sie werden für jedes Bildelement, ausgewählt durch die Horizontal-Abrasterschaltung und die Vertikal-Abrasterschaltung, angesteuert, um eine optische Änderung im einem jeden Bildelement entsprechenden Teil des Flüssigkristalls hervorzurufen und dadurch ein Bild anzuzeigen.
  • Die o. g. Horizontal-Abrasterschaltung und die Vertikal-Abrasterschaltung können auf einem Substrat getrennt vom Ansteuerungssubstrat, auf dem die Pixelansteuerungsschaltungen ausgebildet sind, hergestellt werden, jedoch geht der Trend wegen Forderungen hinsichtlich größerer Kompaktheit der Vorrichtungen usw. dahin, sie auf demselben Ansteuerungssubstrat auszubilden.
  • Beim Herstellprozess eines LCD sind in jeder Stufe der Herstellung verschiedene Untersuchungsprozesse erforderlich. Z. B. ist einer derselben die Untersuchung des Betriebs der Horizontal-Abrasterschaltung und der Vertikal-Abrasterschaltung. Wenn diese Schaltungen nicht beide normal arbeiten, arbeitet auch das fertig gestellte LCD nicht normal.
  • Daher wurde beim Stand der Technik ein Ausgangsanschluss zu Untersuchungszwecken für sowohl die Horizontal-Abrasterschaltung als auch die Vertikal- Abrasterschaltung angebracht (insgesamt zwei Ausgangsanschlüsse zu Untersuchungszwecken), wobei dafür gesorgt wurde, dass diese Schaltungen nach der Herstellung des Ansteuerungssubstrats oder nach dem Zusammenbauen des Ansteuerungssubstrats und des Gegensubstrats und dem Einfüllen des Flüssigkristalls unabhängig arbeiteten, wobei an den Ausgangsanschlüssen Ausgangssignalverläufe entnommen wurden, und Untersuchungen wurden unter Verwendung derselben ausgeführt. D. h., dass beim herkömmlichen Untersuchungsverfahren davon ausgegangen wurde, dass mindestens zwei Ausgangsanschlüsse zu Untersuchungszwecken dazu erforderlich wären, die Horizontal-Abrasterschaltung und die Vertikal-Abrasterschaltung zu untersuchen.
  • Jedoch werden diese zwei Ausgangsanschlüsse zu Untersuchungszwecken nur zu diesen Untersuchungszwecken genutzt, und sie werden im normalen Gebrauchszustand des LCD überhaupt nicht benötigt. Vom Gesichtspunkt des Verhinderns externer Störungen wie statischer Elektrizität bestand die Forderung einer so weit wie möglich reichenden Verringerung überflüssiger Ausgangsanschlüsse.
  • Ferner wurden beim Stand der Technik die Horizontal-Abrasterschaltung und die Vertikal-Abrasterschaltung unabhängig voneinander untersucht, so dass das Problem einer für die Untersuchungen benötigten langen Zeit bestand.
  • Das Dokument US-A-5,184,082 offenbart eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Testen eines Pixeldisplays mit aktiver Matrix, mit einem Substrat, einem Pixelbereich mit einer Vielzahl von Bildelementen, die in Art eines Matrixarrays auf dem Substrat ausgebildet sind, einer Vertikal-Abrasterschaltung zum Ausgeben eines Auswählimpulses und zum seriellen Auswählen einer Spalte der Bildelemente des Pixelbereichs, einer Horizontal-Abrasterschaltung zum Ausgeben eines Auswählimpulses und zum Auswählen einer Zeile der Bildelemente des Pixelbereichs, um Bildsignale an die ausgewählte Spalte der Bildelemente des Pixelbereichs zu liefern, einer Transistorschaltung zum Kombinieren des von der Vertikal-Abrasterschaltung ausgegebenen Signals und des von der Horizontal-Abrasterschaltung ausgegebenen Signals sowie einer gemeinsamen Elektrode zum Ausgeben eines durch die Transistorschaltung erhaltenen Signals. Diese bekannte Anordnung wird dazu verwendet, fehlerhaft funktionierende Pixel im Aktivmatrixdisplay dadurch zu erkennen, dass ein Rechtecksignal und ein Sinussignal an das jedem Pixel zugeordnete aktive Element angelegt werden und das Ausgangssignal des aktiven Bauteils an der gemeinsamen Elektrode des Flüssigkristalldisplays gemessen wird.
    • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Die Erfindung erfolgte unter Berücksichtigung der o. g. aktuellen Situation, und es liegt ihr die erste Aufgabe zugrunde, eine flache Anzeigevorrichtung und ein Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix sowie Verfahren zum Untersuchen derselben zu schaffen, bei denen die Anzahl von zur Untersuchung der Horizontal-Abrasterschaltung und der Vertikal-Abrasterschaltung verwendeten Ausgangsanschlüssen verringert ist und die Effekte statischer Elektrizität und anderer externer Störungen verringert sind.
  • Ferner liegt der Erfindung die zweite Aufgabe zugrunde, eine flache Anzeigevorrichtung, ein Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix sowie Verfahren zum Untersuchen derselben zu schaffen, die es ermöglichen, die Untersuchungszeit zu verkürzen.
  • Gemäß der Erfindung sind diese Aufgaben durch eine im Anspruch 1 definierte flache Anzeigevorrichtung, ein im Anspruch 4 definiertes Verfahren zum Untersuchen eines Ansteuerungssubstrats mit aktiver Matrix sowie ein im Anspruch 6 definiertes Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix für eine flache Anzeigevorrichtung gelöst.
  • Vorteilhafte Weiterentwicklungen der Erfindung sind Gegenstand der beigefügten abhängigen Ansprüche.
  • Demgemäß sind bei einem Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix und einer flachen Anzeigevorrichtung mit demselben gemäß der Erfindung die zwei Ausgangsanschlüsse zu Untersuchungszwecken, wie sie beim Stand der Technik erforderlich waren, zu einem einzelnen, kombinierten Ausgangsanschluss zu Untersuchungszwecken gemacht. Daher ist es beim Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix und der flachen Anzeigevorrichtung gemäß der Erfindung möglich, einen einzelnen Ausgangsanschluss zu verwenden, weswegen weniger Anfälligkeit auf Effekte externer Störungen, wie durch statische Elektrizität, besteht.
  • Ferner werden bei einem Verfahren zum Untersuchen eines Ansteuerungssubstrats mit aktiver Matrix und einem Untersuchungsverfahren für eine flache Anzeigevorrichtung gemäß der Erfindung das Ausgangssignal der Horizontal- Abrasterschaltung zu Untersuchungszwecken und das Ausgangssignal der Vertikal-Abrasterschaltung zu Untersuchungszwecken durch die Logikschaltung kombiniert, und die Horizontal-Abrasterschaltung und die Vertikal-Abrasterschaltung werden gleichzeitig auf Grundlage des Signalverlaufs des durch die Logikschaltung erhaltenen kombinierten Ausgangssignals zu Untersuchungszwecken untersucht, so dass es möglich ist, die Untersuchungszeit zu verkürzen.
  • Bei einer Modifizierung der flachen Anzeigevorrichtung und des Ansteuerungssubstrats mit aktiver Matrix gemäß der Erfindung ist eine Schalteinrichtung vorhanden, die dazu dient, den Eingangsanschluss der Vertikal- Abrasterschaltung als Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung zu Untersuchungszwecken zu verwenden und den Eingangsanschluss der Vertikal- Abrasterschaltung als Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung zu Untersuchungszwecken zu verwenden, so dass es nicht mehr erforderlich ist, überhaupt einen Ausgangsanschluss anzubringen, der nur Untersuchungszwecken dient. Im Ergebnis ist die Gefahr des Effekts externer Störungen, wie statischer Elektrizität, die durch die Ausgangsanschlüsse hervorgerufen werden, beseitigt.
    • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die obigen und andere Aufgaben und Merkmale der Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen besser erkennbar.
  • Fig. 1 ist eine schematische Ansicht einer Flüssigkristall-Ansteuerungsschaltung mit einem kombinierten Anschluss zu Untersuchungszwecken, wie er für die Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung verwendet wird;
  • Fig. 2A bis 2D sind Kurvenbilder von Ausgangssignalverläufen zu Untersuchungszwecken;
  • Fig. 3 ist eine schematische Ansicht einer Flüssigkristall-Ansteuerungsschaltung mit hinzugefügter Untersuchungsschaltung, wie für eine Vertikal- Abrasterschaltung gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung verwendet;
  • Fig. 4 ist eine schematische Ansicht einer Anschlusskonstruktion zu Untersuchungszwecken für eine Horizontal-Abrasterschaltung und eine Vertikal- Abrasterschaltung gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung;
  • Fig. 5 ist ein Schaltbild, das die in Fig. 4 dargestellte Schaltung genauer zeigt.
    • BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Nachfolgend erfolgt eine detaillierte Erläuterung zu einer flachen Anzeigetafel, einem Ansteuerungssubstrat sowie Verfahren zum Untersuchen derselben gemäß der Erfindung auf Grundlage der in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsformen.
  • Bei den unten angegebenen Ausführungsformen werden Beispiele zur Anwendung der Erfindung bei einer Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung angegeben, jedoch kann die Erfindung in ähnlicher Weise bei allen flachen Anzeigevorrichtungen angewandt werden, die eine flache Anzeige unter Verwendung eines Ansteuerungssubstrats mit aktiver Matrix usw. ausführen, zusätzlich zu Flüssigkristall-Anzeigevorrichtungen.
  • Wie es in Fig. 1 dargestellt ist, ist das LCD der vorliegenden Ausführungsform ein LCD vom sogenannten "Scanner-auf-Chip"-Typ, und es verfügt über ein Ansteuerungssubstrat 10 mit aktiver Matrix. An der Oberfläche des Ansteuerungssubstrats 10 ist mit einem vorbestimmten Zwischenraum ein nicht dargestelltes Gegensubstrat angeordnet. Zwischen diese Substrate ist ein Flüssigkristall eingefüllt, um die Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung zu bilden.
  • Auf dem Ansteuerungssubstrat 10 der vorliegenden Ausführungsform sind Gateleitungen G1, G2, ..., Gn so ausgebildet, und Signalleitungen S1, S2, ..., Sn sind so angeordnet, dass sie die Gateleitungen im Wesentlichen rechtwinklig schneiden. Es wird darauf hingewiesen, dass die Gateleitungen G1, G2, ... Gn und die Signalleitungen S1, S2, ..., Sn insgesamt gesehen einander nur im Wesentlichen rechtwinklig schneiden müssen. Genauer gesehen, können die Signalleitungen S1, S2, ..., Sn oder die Gateleitungen G1, G2, Gn serpentinenartig verlaufen. Z. B. verlaufen die Signalleitungen S1, S2, ..., Sn bei einem Dreiecksarray usw. serpentinenartig.
  • Die Schnittabschnitte der Gateleitungen G1, G2, ..., Gn und der Signalleitungen S1, S2, ..., Sn entsprechen Bildelementen. In diesen Abschnitten sind z. B. Schaltelemente 12 aus z. B. TFT, Pixelelektroden und kapazitive Elemente 8 ausgebildet. Dem Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix ist über eine Flüssigkristallschicht das Gegensubstrat zugewandt, auf dem die gemeinsame Elektrode ausgebildet ist. Im Ergebnis ist, wie es in Fig. 1 dargestellt ist, zwischen der Pixelelektrode und der gemeinsamen Elektrode ein Flüssigkristall 6 angeordnet, und für jedes Bildelement besteht eine Verbindung parallel zu einem kapazitiven Element 8. Durch Ansteuern des Schaltelements 12 und durch selektives Anlegen einer Spannung an die Pixelelektrode jedes Bildelements ist es möglich, die Molekülausrichtung im Flüssigkristallabschnitt für jedes Bildelement partiell zu ändern und dadurch ein Bild anzuzeigen. Es wird darauf hingewiesen, dass das an die gemeinsame Elektrode des Gegensubstrats angelegte gemeinsame Potenzial vom Anschluss VCOM für die gemeinsame Elektrode eingegeben wird.
  • Die Gateleitungen G1, G2, ..., Gn sind mit einer Vertikal-Abrasterschaltung 2 verbunden, was es ermöglicht, die Gateleitungen G1, G2, ..., Gn aufeinanderfolgend durchzurastern. Ferner sind die Signalleitungen S1, S2, ..., Sn über Abrasterschalter 16 mit den Videoeingangsleitungen 14R, 14G und 14B verbunden. Von diesen Videoeingangsleitungen 14R, 14G und 14B werden Videosignale für die Signallettungen S1, S2, ..., Sn eingegeben. Bei dieser Ausführungsform wurden, was die Videoeingangsleitungen betrifft, drei Arten von Eingangsleitungen für R, G und B verwendet, jedoch ist es auch möglich, eine einzelne Eingangsleitung zu verwenden, wenn kein Farbbild benötigt wird.
  • Die Abrasterschalter 16 sind über die Ausgangslogikschaltungen mit der Horizontal-Abrasterschaltung 4 verbunden. Die Abrasterschalter 16 werden entsprechend den Abrastersignalen von der Horizontal-Abrasterschaltung 4 aufeinanderfolgend geöffnet, und die Videosignale werden synchron mit dem Durchrastern der Gateleitungen G1, G2, ..., Gn an die Signalleitungen S1, S2, ..., Sn geliefert.
  • Bei dieser Ausführungsform ist mit dem Ausgangsanschluss der Horizontal- Abrasterschaltung 4 der Eingangsanschluss einer Nicht-Schaltung 20 verbunden, und der Ausgangsanschluss dieser Nicht-Schaltung und der Ausgangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung 2 sind mit dem Eingangsanschluss einer UND-Schaltung 22 verbunden. Der Ausgangsanschluss dieser UND-Schaltung 22 ist mit dem kombinierten Ausgangsanschluss COUT für Untersuchungszwecke verbunden. Diese Logikschaltungen 20 und 22 und der kombinierte Ausgangsanschluss COUT für Untersuchungszwecke sind integral gemeinsam mit der Horizontal-Abrasterschaltung 4 und der Vertikal-Abrasterschaltung 2 auf dem Ansteuerungssubstrat 10 mit aktiver Matrix ausgebildet.
  • D. h., dass bei einem LCD mit dem Ansteuerungssubstrat 10 mit aktiver Matrix gemäß der Erfindung dafür gesorgt ist, dass als Eingangsanschluss der Eingangsanschluss Hin der Horizontal-Abrasterschaltung 4, der Eingangsanschluss Vin der Vertikal-Abrasterschaltung 2, die Videoeingangsleitungen 14R, 14G und 14B und der Anschluss VCOM der gemeinsamen Elektrode verwendet werden, und es ist dafür gesorgt, dass als Ausgangsanschluss nur der kombinierte Ausgangsanschluss COUT für Untersuchungszwecke verwendet wird.
  • Beim Ansteuerungssubstrat 10 mit aktiver Matrix gemäß der vorliegenden Ausführungsform oder bei einem LCD mit diesem Substrat 10 können die Horizontal-Abrasterschaltung 4 und die Vertikal-Abrasterschaltung 2 zum Klären ihres Betriebszustands dadurch untersucht werden, dass von den Eingangsanschlüssen Hin und Vin ein Taktsignal eingegeben wird, wobei diese Abrasterschaltungen 2 und 4 gleichzeitig angesteuert werden, das kombinierte Signal zu Untersuchungszwecken vom kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken entnommen wird und der Signalverlauf untersucht wird.
  • Der Ausgangssignalverlauf der Horizontal-Abrasterschaltung 4 ist in Fig. 2A dargestellt. Wenn die Horizontal-Abrasterschaltung 4 normal arbeitet, wird, wie es in Fig. 2A dargestellt ist, ein Impulssignalverlauf mit der Periode 1H erhalten. Fig. 2B zeigt den Ausgangssignalverlauf nach dem Durchlaufen der in Fig. 1 dargestellten Nicht-Schaltung 20, wobei er gegenüber dem in Fig. 2A dargestellten Signalverlauf invertiert ist.
  • Fig. 2C zeigt den Ausgangssignalverlauf im Fall einer normalen, in Fig. 1 dargestellten Vertikal-Abrasterschaltung 2. Wie es in Fig. 2C dargestellt ist, wird in einer einzelnen Halbbildperiode ein Impulssignal mit einer minimalen Breite von 1H (im Allgemeinen ungefähr 2H) ausgegeben.
  • Demgemäß wird, wenn die Horizontal-Abrasterschaltung 4 und die Vertikal- Abrasterschaltung 2 normal arbeiten, der Ausgangssignalverlauf am kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken nach dem Durchlaufen der in Fig. 1 dargestellten UND-Schaltung 22 der Signalverlauf der überlagerten Signalverläufe gemäß den Fig. 2B und 2C, wie in Fig. 2D dargestellt.
  • Beim Untersuchungsverfahren gemäß der vorliegenden Ausführungsform ist es möglich, eine Anormalität in der Horizontal-Abrasterschaltung 4 und/oder der Vertikal-Abrasterschaltung 2 dadurch zu erkennen, dass der Ausgangssignalverlauf vom kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken erfasst wird und der Ausgangssignalverlauf mit einem Ausgangssignalverlauf für eine normale Periode verglichen wird. Wenn z. B. in der Horizontal-Abrasterschaltung 4 eine Anormalität vorliegt und der Ausgangssignalverlauf das Ausgangssignal 0 ohne Impuls ist, wird der Ausgangssignalverlauf vom kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken ein Ausgangssignalverlauf, der mit dem Ausgangssignalverlauf der Vertikal-Abrasterschaltung 2 völlig identisch ist (Fig. 2C). Durch Erfassen dieses Ausgangssignalverlaufs ist es möglich, eine Anormalität in der Horizontal-Abrasterschaltung 4 zu erkennen.
  • Ferner wird, wenn in der Horizontal-Abrasterschaltung 4 eine Anormalität existiert und der Ausgangssignalverlauf ein Ausgangssignal 1 ohne Impuls ist, der Ausgangssignalverlauf vom kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken ein flacher Ausgangssignalverlauf ohne Impuls. Durch Erfassen dieses Ausgangssignalverlaufs ist es möglich, eine Anormalität in der Horizontal-Abrasterschaltung 4 zu erkennen.
  • Ferner wird, wenn in der Vertikal-Abrasterschaltung 2 eine Anormalität existiert und der Ausgangssignalverlauf das Ausgangssignal 0 ohne Impuls ist, der Ausgangssignalverlauf vom kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken ein flacher Ausgangssignalverlauf ohne Impuls. Durch Erfassen dieses Ausgangssignalverlaufs ist es möglich, eine Anormalität in der Vertikal-Abrasterschaltung 2 zu erkennen.
  • Noch ferner ist es möglich, wenn in der Horizontal-Abrasterschaltung 4 eine Anormalität besteht und pro 1H im Ausgangssignalverlauf ein anormaler Impuls auftritt, usw., eine Anormalität in der Horizontal-Abrasterschaltung 4 dadurch zu erkennen, dass der Ausgangssignalverlauf am kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken untersucht wird und dieser Signalverlauf mit dem normalen Signalverlauf verglichen wird.
  • Bei der Erfindung ist es möglich, auch andere Anormalitäten dadurch zu erkennen, dass der Ausgangssignalverlauf am kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken untersucht wird und der Signalverlauf mit einem normalen Signalverlauf verglichen wird. Während dieser Erkennung kann, um die Automatisierung zu unterstützen, eine Bildverarbeitungstechnologie genutzt werden. D. h., dass der erfasste Signalverlauf und der normale Signalverlauf unter Verwendung einer Bildverarbeitungstechnologie automatisch beurteilt werden könnten.
  • Bei dieser Ausführungsform sind die beim Stand der Technik erforderlichen zwei Ausgangsanschlüsse zu Untersuchungszwecken zu einem einzelnen kombinierten Ausgangsanschluss COUT zu Untersuchungszwecken gemacht. Daher ist bei einem Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix gemäß der vorliegenden Ausführungsform und einem LCD mit demselben die Anzahl von Ausgangsanschlüssen verringert, weswegen weniger Anfälligkeit auf externe Störungen wie statische Elektrizität besteht. Ferner werden beim Untersuchungsverfahren gemäß der vorliegenden Ausführungsform die Horizontal-Abrasterschaltung 4 und die Vertikal-Abrasterschaltung 2 gleichzeitig untersucht, so dass es möglich ist, die Untersuchungszeit zu verkürzen.
  • Es ist zu beachten, dass bei der obigen Ausführungsform das Ausgangssignal der Horizontal-Abrasterschaltung 4 zum Eingangssignal der Nicht-Schaltung 20 gemacht wurde, jedoch ist es auch möglich, die Konstruktion so zu gestalten, dass das Ausgangssignal der Vertikal-Abrasterschaltung 2 in die Nicht-Schaltung 20 eingegeben wird. Jedoch ist es im Fall dieser Ausführungsform bevorzugt, den Ausgangssignalverlauf während minimal einem Halbbild zu messen.
  • Als Nächstes erfolgt auf Grundlage der Fig. 3 eine Erläuterung zu einer anderen Ausführungsform der Erfindung.
  • Beim Ansteuerungssubstrat 10a mit aktiver Matrix, wie es für das LCD gemäß der in Fig. 3 dargestellten Ausführungsform verwendet ist, ist ein Substrat 10a mit zwei Ausgangsanschlüssen versehen, nämlich einem Ausgangsanschluss HOUT der Horizontal-Abrasterschaltung 4 und einem Ausgangsanschluss VOUT der Vertikal-Abrasterschaltung 2. Mit diesen Ausgangsanschlüssen sind Logikschaltungen mit einer Nicht-Schaltung 20a und einer UND-Schaltung 22a verbunden.
  • Bei dieser Ausführungsform sind, abweichend von der in Fig. 1 dargestellten Ausführungsform, die Logikschaltungen 20a und 22a außerhalb des Substrats 10a ausgebildet.
  • Bei dieser Ausführungsform verfügt das Ansteuerungssubstrat 10a mit aktiver Matrix über zwei Ausgangsanschlüsse HOUT und VOUT zu Untersuchungszwecken, wie ein herkömmliches Substrat, wenn jedoch die Horizontal-Abrasterschaltung 4 und die Vertikal-Abrasterschaltung 2 untersucht werden, werden diese zwei Ausgangsanschlüsse HOUT und VOUT zu Untersuchungszwecken mit den Logikschaltungen 20a und 22a verbunden und die Horizontal-Abrasterschaltung 4 und die Vertikal-Abrasterschaltung 2 werden gleichzeitig angesteuert und das Ausgangssignal der UND-Schaltung 22a wird beurteilt, um eine gleichzeitige Untersuchung zu ermöglichen, um das Funktionsvermögen der Horizontal- Abrasterschaltung 4 unter der Vertikal-Abrasterschaltung 2 auf dieselbe Weise wie bei der in den Fig. 1 und 2 dargestellten Ausführungsform zu klären. Demgemäß ist es bei dieser Ausführungsform möglich, die Horizontal- Abrasterschaltung 4 und die Vertikal-Abrasterschaltung 2 durch eine einzelne Beurteilung gleichzeitig zu untersuchen, wodurch es möglich ist, die Untersuchungszeit zu verkürzen.
  • Als Nächstes erfolgt eine Erläuterung zu einer anderen Ausführungsform der Erfindung.
  • Wie es in Fig. 4 dargestellt ist, besteht das Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix vom Typ mit integrierter Abrasterung gemäß der vorliegenden Ausführungsform aus einem Ansteuerungssubstrat, auf dem eine Horizontal- Abrasterschaltung 4 und eine Vertikal-Abrasterschaltung 2 zusammen mit Schaltstufen 34, 36, 38 und 40 aus z. B. TFTs (Dünnschichttransistoren) mit der dargestellten Verdrahtungskonfiguration ausgebildet sind. In Fig. 4 gilt die Bezugszahl 30 für einen Eingangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung 4, der auch als Ausgangsanschluss vom Ausgang der Vertikal-Abrasterschaltung 2 zu Untersuchungszwecken dient. Ferner betrifft die Bezugszahl 32 einen Eingangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung 2, der auch als Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung 4 zu Untersuchungszwecken dient. Es ist zu beachten, dass die Flüssigkristall-Ansteuerungsschaltung aus der Darstellung weggelassen ist.
  • Bei dieser Ausführungsform werden die Ansteuerungsuntersuchung der Horizontal-Abrasterschaltung 4 und die Ansteuerungsuntersuchung der Vertikal-Abrasterschaltung 2 getrennt ausgeführt. Wenn z. B. die Horizontal-Abrasterschaltung 4 untersucht wird, wird der Eingangsanschluss 32 als Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung zu Untersuchungszwecken verwendet, das Ansteuerungssignal für die Vertikal-Abrasterschaltung 2 wird nicht am Eingangsanschluss 32 eingegeben, die Schaltstufen 38 und 40 werden geöffnet und die Schaltstufen 34 und 36 werden geschlossen. Ferner wird am Eingangsanschluss 30 ein Ansteuerungssignal zum Ansteuern der Horizontal-Abrasterschaltung 4 eingegeben.
  • Da die Schaltstufen 38 und 40 offen sind und die Schaltstufen 34 und 36 geschlossen sind, wird die Vertikal-Abrasterschaltung 2 durch das Ansteuerungssignal vom Eingangsanschluss oder durch das Ausgangssignal der Horizontal-Abrasterschaltung 4 nicht fehlerhaft betrieben. Das Ausgangssignal der Horizontal-Abrasterschaltung 4 wird am Eingangsanschluss/Ausgangsanschluss zu Untersuchungszwecken 32 ausgegeben, und das Ausgangssignal an diesem Anschluss wird erfasst, um eine Untersuchung zum Klären des Betriebs der Horizontal-Abrasterschaltung 4 zu ermöglichen.
  • Um den Betrieb der Vertikal-Abrasterschaltung 2 zu untersuchen, wird der Eingangsanschluss 30 als Ausgangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung 2 zu Untersuchungszwecken verwendet, das Ansteuerungssignal für die Horizontal-Abrasterschaltung 4 wird am Eingangsanschluss 30 nicht eingegeben, die Schaltstufen 38 und 40 werden geschlossen und die Schaltstufen 34 und 36 werden geöffnet. Ferner wird das Ansteuerungsignal zum Ansteuern der Vertikal-Abrasterschaltung 2 am Eingangsanschluss 32 eingegeben.
  • Da die Schaltstufen 38 und 40 geschlossen sind und die Schaltstufen 34 und 36 offen sind, wird die Horizontal-Abrasterschaltung 4 durch das Ansteuerungssignal vom Eingangsanschluss 32 oder das Ausgangssignal der Vertikal- Abrasterschaltung 2 nicht fehlerhaft angesteuert. Das Ausgangssignal der Vertikal-Abrasterschaltung 2 wird am Eingangsanschluss/Ausgangsanschluss zu Untersuchungszwecken 30 ausgegeben, und das Ausgangssignal an diesem Anschluss wird erfasst, um eine Untersuchung zum Klären des Betriebs der Vertikal-Abrasterschaltung 2 zu ermöglichen.
  • Wenn die Schaltstufen 34 und 38 nicht während einer Untersuchung sondern während der tatsächlichen Ansteuerung geschlossen werden, werden die Schaltstufen 36 und 40 geöffnet, und es werden die Ansteuerungssignale von den jeweiligen Eingangsanschlüssen 30 und 32 eingegeben. Im Ergebnis werden die Horizontal-Abrasterschaltung 4 und die Vertikal-Abrasterschaltung 2 synchron angesteuert, und es wird eine Flüssigkristallanzeige ausgeführt.
  • Dabei haben die Ausgangssignale der zwei Untersuchungsschaltungen 2 und 4 keinen nachteiligen Effekt aufeinander, da die Schaltstufen 36 und 40 offen sind.
  • Bei dieser Ausführungsform ist kein Ausgangsanschluss speziell als Ausgang zu Untersuchungszwecken vorhanden, sondern es werden einige der Eingangsanschlüsse als Ausgangsanschlüsse zu Untersuchungszwecken verwendet, so dass es möglich ist, den Effekt externer Störungen durch statische Elektrizität usw., wie durch Ausgangsanschlüsse zu Untersuchungszwecken hervorgerufen, zu beseitigen.
  • Als Nächstes wird auf Grundlage der Fig. 5 eine Ausführungsform erläutert, die konkreter als die in Fig. 4 dargestellte Ausführungsform ist.
  • Bei der in Fig. 5 dargestellten Ausführungsform ist an der Verbindungsleitung 31 zwischen dem Eingangsanschluss 30a der Horizontal-Abrasterschaltung 4 und dieser Horizontal-Abrasterschaltung 4 eine Zweigleitung 33 vorhanden. Diese Zweigleitung 33 ist mit der Source und dem Drain zwischen einem PMOS- Transistor 58 und einem NMOS-Transistor 60, die eine CMOS-Struktur bilden, verbunden. Der Eingangsanschluss 30a der Horizontal-Abrasterschaltung 4 dient auch als invertierter Ausgangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung 2 zu Untersuchungszwecken.
  • Ferner ist an der Verbindungsleitung 35 zwischen dem Eingangsanschluss 32a der Vertikal-Abrasterschaltung 2 und dieser Vertikal-Abrasterschaltung 2 eine Zweigleitung 37 vorhanden. Diese Zweigleitung 37 ist mit der Source und dem Drain zwischen einem PMOS-Transistor 46 und einem NMOS-Transistor 48, die eine CMOS-Struktur bilden, verbunden. Der Eingangsanschluss 32a der Vertikal-Abrasterschaltung 2 dient auch als nicht invertierter Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung 4 zu Untersuchungszwecken.
  • Die Ausgangsleitung 39 der Horizontal-Abrasterschaltung 4 ist mit dem Gate zwischen dem PMOS-Transistor 46 und dem NMOS-Transistor 48, die eine CMOS- Struktur bilden, verbunden. An den beiden Seiten des PMOS-Transistors 46 und des NMOS-Transistors 48, die eine CMOS-Struktur bilden, sind ein PMOS- Transistor 50 bzw. ein NMOS-Transistor 52 angeschlossen. An den Drain des PMOS-Transistors 50 wird die Versorgungsspannung H·VDD zum Ansteuern der Horizontal-Abrasterschaltung 4 angelegt. Die Source des NMOS-Transistors 52 ist geerdet.
  • An das Gate des Transistors 50 wird die Versorgungsspannung V·VDD zum Ansteuern der Vertikal-Abrasterschaltung 2 angelegt. An das Gate des Transistors 52 wird das invertierte Signal der Versorgungsspannung V·VDD von der CMOS-Struktur angelegt, die aus dem PMOS-Transistor 42 und dem NMOS-Transistor 44 besteht. Die CMOS-Struktur aus dem PMOS-Transistor 42 und dem NMOS-Transistor 44 arbeitet mit der Versorgungsspannung H·VDD der Horizontal-Abrasterschaltung 4.
  • Die Ausgangsleitung 41 der Vertikal-Abrasterschaltung 2 ist mit dem Gate zwischen dem PMOS-Transistor 58 und dem NMOS-Transistor 60, die eine CMOS- Struktur bilden, verbunden. An den beiden Seiten des PMOS-Transistors 58 und des NMOS-Transistors 60, die eine CMOS-Struktur bilden, sind ein PMOS- Transistor 62 bzw. ein NMOS-Transistor 64 angeschlossen. An den Drain des PMOS-Transistors 62 wird die Versorgungsspannung V·VDD zum Ansteuern der Vertikal-Abrasterschaltung 2 angelegt. Die Source des NMOS-Transistors ist geerdet.
  • An das Gate des Transistors 62 wird die Versorgungsspannung H·VDD zum Ansteuern der Horizontal-Abrasterschaltung 4 angelegt. An das Gate des Transistors 64 wird das invertierte Signal der Versorgungsspannung H·VDD von der CMOS-Struktur angelegt, die aus dem PMOS-Transistor 54 und dem NMOS- Transistor 56 besteht. Die CMOS-Struktur aus dem PMOS-Transistor 54 und dem NMOS-Transistor 56 arbeitet mit der Versorgungsspannung V·VDD der Vertikal- Abrasterschaltung 2.
  • Es wird darauf hingewiesen, dass die Transistoren 42, 44, 46, 48, 50, 52, 54, 56, 58, 60, 62 und 64 aus TFTs usw. bestehen, die auf dem Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix ausgebildet sind.
  • Wenn bei dieser Ausführungsform die Horizontal-Abrasterschaltung 4 untersucht wird, wird der Eingangsanschluss 32a als invertierter Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung 4 zu Untersuchungszwecken verwendet und am Eingangsanschluss 32a wird kein Ansteuerungssignal für die Vertikal-Abrasterschaltung 2 eingegeben. Ferner wird die Versorgungsspannung H·VDD zum Ansteuern der Horizontal-Abrasterschaltung 4 auf den hohen Pegel (1) gebracht, die Versorgungsspannung V·VDD zum Ansteuern der Vertikal- Abrasterschaltung 2 wird auf den niedrigen Pegel (0) gebracht und am Eingangsanschluss 30a wird ein Ansteuerungssignal zum Ansteuern der Horizontal-Abrasterschaltung 4 eingegeben.
  • Da die Versorgungsspannung H·VDD den hohen Pegel (1) aufweist und die Versorgungsspannung V·VDD zum Ansteuern der Vertikal-Abrasterschaltung 2 den niedrigen Pegel (0) aufweist, wird das durch die Ausgangsleitung 39 laufende Ausgangssignal der Horizontal-Abrasterschaltung 4 durch die eine CMOS- Struktur bildenden Transistoren 46, 48 invertiert und am Ausgangsanschluss 32a zu Untersuchungszwecken, der auch als Eingangsanschluss dient, ausgegeben. Dabei nimmt die Zweigleitung 33 hohe Impedanz ein, so dass von der Vertikal-Abrasterschaltung 2 oder auf diese keine Auswirkung besteht.
  • Wenn die Vertikal-Abrasterschaltung 2 untersucht wird, wird der Eingangsanschluss 30a als invertierter Ausgangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung 2 zu Untersuchungszwecken verwendet und am Eingangsanschluss 30a wird kein Ansteuerungssignal für die Horizontal-Abrasterschaltung 4 eingegeben. Ferner wird die Versorgungsspannung V·VDD zum Ansteuern der Vertikal-Abrasterschaltung 2 auf den hohen Pegel (1) gebracht, die Versorgungsspannung H·VDD zum Ansteuern der Horizontal-Abrasterschaltung 4 wird auf den niedrigen Pegel (O) gebracht und am Eingangsanschluss 32a wird ein Ansteuerungssignal zum Ansteuern der Vertikal-Abrasterschaltung 2 eingegeben.
  • Da die Versorgungsspannung V·VDD den hohen Pegel (1) aufweist und die Versorgungsspannung H·VDD zum Ansteuern der Horizontal-Abrasterschaltung 4 den niedrigen Pegel (0) aufweist, wird das durch die Ausgangsleitung 41 laufende Ausgangssignal der Vertikal-Abrasterschaltung 2 durch die eine CMOS- Struktur bildenden Transistoren 58, 60 invertiert und am Ausgangsanschluss 30a zu Untersuchungszwecken ausgegeben, der auch als Eingangsanschluss dient. Dabei nimmt die Zweigleitung 37 hohe Impedanz ein, so dass von der Horizontal-Abrasterschaltung 4 oder auf diese keine Auswirkung besteht.
  • Ferner werden die Versorgungsspannung V·VDD und die Versorgungsspannung H·VDD während der normalen Ansteuerung des Flüssigkristalls auf den hohen Pegel (1) gebracht, so dass die Zweigleitungen 33, 37 beide hohe Impedanz aufweisen und die Ausgangssignale der Abrasterschaltungen 2 und 4 einander nicht nachteilig beeinflussen.
  • Es ist zu beachten, dass die Erfindung nicht auf die o. g. Ausführungsformen beschränkt ist, sondern dass innerhalb des Schutzumfangs der Erfindung verschiedene Modifizierungen vorgenommen werden können.
  • Wie oben erläutert, ist es gemäß der Erfindung möglich, eine flache Anzeigevorrichtung und ein Ansteuerungssubstrat mit aktiver Matrix zu realisieren, bei denen die Anzahl von zum Untersuchen der Horizontal-Abrasterschaltung und der Vertikal-Abrasterschaltung verwendeten Ausgangsanschlüssen verringert werden kann und die Effekte externer Störungen durch statische Elektrizität und dergleichen verringert werden können. Ferner kann durch die erfindungsgemäßen Erfassungsverfahren die Untersuchungszeit verkürzt werden.

Claims (7)

1. Flache Anzeigevorrichtung mit:
- einem Substrat (10; 10a);
- einem Pixelbereich mit einer Vielzahl von Bildelementen, die in Art eines Matrixarrays auf dem Substrat ausgebildet sind;
- einer Vertikal-Abrasterschaltung (2) zum Ausgeben eines Auswählimpulses und zum seriellen Auswählen von Spalten der Bildelemente des Pixelbereichs, wobei diese Vertikal-Abrasterschaltung einen ersten Eingangsanschluss (Hin; 32; 32a) aufweist und sie auf dem Substrat ausgebildet ist; und
- einer Horizontal-Abrasterschaltung (4) zum Ausgeben eines Auswählimpulses und zum seriellen Auswählen von Zeilen der Bildelemente des Pixelbereichs, um Bildsignale an die ausgewählte Spalte der Bildelemente des Pixelbereichs zu liefern, wobei diese Horizontal-Abrasterschaltung über einen zweiten Eingangsanschluss (Vin; 30; 30a) verfügt und sie auf dem Substrat ausgebildet ist;
dadurch gekennzeichnet, dass
- eine Logikschaltung (20, 22; 20a, 22a) vorhanden ist, um ein von der Vertikal-Abrasterschaltung erzeugtes Signal zum Untersuchen der Horizontal- Abrasterschaltung und ein von der Horizontal-Abrasterschaltung erzeugtes Signal zum Untersuchen der Vertikal-Abrasterschaltung zu kombinieren, wobei die Logikschaltung auf dem Substrat ausgebildet ist; und
- ein Ausgangsanschluss (Cout) zu Untersuchungszwecken vorhanden ist, um ein durch die Logikschaltung erhaltenes Ausgangssignal zu Abrasterschaltungs-Untersuchungszwecken auszugeben, wobei dieser Ausgangsanschluss zu Untersuchungszwecken auf dem Substrat ausgebildet ist.
2. Flache Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Schalteinrichtung (34, 35, 38, 40) vorhanden ist, um den ersten Eingangsanschluss als Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung zu verwenden und den zweiten Eingangsanschluss als Ausgangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung zu verwenden.
3. Flache Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Bildelement des Pixelbereichs eine Pixelelektrode und ein Schaltelement (12) zum Ansteuern der Pixelelektrode aufweist.
4. Verfahren zum Untersuchen eines Substrats (10) mit Ansteuerung durch eine aktive Matrix, das mit einer Horizontal-Abrasterschaltung (4), einer Vertikal-Abrasterschaltung (2) und Pixelansteuerungsschaltungen (12) zum Ansteuern einer Vielzahl von Bildelementen in einem Matrixarray versehen ist;
gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
- Kombinieren eines von der Vertikal-Abrasterschaltung erzeugten Signals zum Untersuchen der Horizontal-Abrasterschaltung und eines von der Horizontal-Abrasterschaltung erzeugten Signals zum Untersuchen der Vertikal-Abrasterschaltung mittels einer auf dem Substrat ausgebildeten Logikschaltung (20, 22; 20a, 22a), um dadurch ein kombiniertes Ausgangssignal zu Untersuchungszwecken zu erhalten; und
- Untersuchen der Horizontal-Abrasterschaltung und der Vertikal-Abrasterschaltung auf Grundlage des Signalverlaufs des durch die Logikschaltung erhaltenen kombinierten Ausgangssignals zu Untersuchungszwecken.
5. Verfahren zum Untersuchen eines Substrats mit Ansteuerung durch eine aktive Matrix nach Anspruch 4, bei dem die Logikschaltung an der Außenseite des Substrats mit Ansteuerung durch eine aktive Matrix angeordnet ist.
6. Substrat mit Ansteuerung durch eine aktive Matrix für eine flache Anzeigevorrichtung, die mit einer Horizontal-Abrasterschaltung (4), einer Vertikal-Abrasterschaltung (2) und Pixelansteuerungsschaltungen (12) versehen ist;
dadurch gekennzeichnet, dass
- eine Logikschaltung (20, 22; 20a, 22a) zum Kombinieren eines von der Vertikal-Abrasterschaltung erzeugten Signals zum Untersuchen der Horizontal-Abrasterschaltung und eines von der Horizontal-Abrasterschaltung erzeugten Signals zum Untersuchen der Vertikal-Abrasterschaltung vorhanden ist; und
- ein kombinierter Ausgangsanschluss (Cout) zu Untersuchungszwecken vorhanden ist, um ein durch die Logikschaltung erhaltenes Ausgangssignal zu Abrasterschaltungs-Untersuchungszwecken auszugeben.
7. Substrat mit Ansteuerung durch eine aktive Matrix nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass eine Schalteinrichtung (34, 36, 38, 40) vorhanden ist, um einen ersten Eingangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung als Ausgangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung zu Untersuchungszwecken zu verwenden und einen zweiten Eingangsanschluss der Vertikal-Abrasterschaltung als Ausgangsanschluss der Horizontal-Abrasterschaltung zu Untersuchungszwecken zu verwenden.
DE69428163T 1993-06-21 1994-06-21 Flache Anzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Inspektion Expired - Fee Related DE69428163T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14956093A JP3312423B2 (ja) 1993-06-21 1993-06-21 平面表示装置、アクティブマトリクス基板および検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69428163D1 DE69428163D1 (de) 2001-10-11
DE69428163T2 true DE69428163T2 (de) 2002-06-20

Family

ID=15477850

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69428163T Expired - Fee Related DE69428163T2 (de) 1993-06-21 1994-06-21 Flache Anzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Inspektion

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5644331A (de)
EP (1) EP0629868B1 (de)
JP (1) JP3312423B2 (de)
KR (1) KR100319062B1 (de)
DE (1) DE69428163T2 (de)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5883609A (en) * 1994-10-27 1999-03-16 Nec Corporation Active matrix type liquid crystal display with multi-media oriented drivers and driving method for same
TW374852B (en) * 1996-06-10 1999-11-21 Toshiba Corp Display device
US6009187A (en) * 1996-12-02 1999-12-28 Motorola, Inc. Wafer prober having an emissive display inspection system and method of use
US6177955B1 (en) 1997-10-09 2001-01-23 Westar Corporation Visual display inspection system
US6072274A (en) * 1997-10-22 2000-06-06 Hewlett-Packard Company Molded plastic panel for flat panel displays
US6191770B1 (en) * 1997-12-11 2001-02-20 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for testing driving circuit in liquid crystal display
US6140993A (en) * 1998-06-16 2000-10-31 Atmel Corporation Circuit for transferring high voltage video signal without signal loss
JP2000315058A (ja) * 1999-04-30 2000-11-14 Toshiba Corp 表示装置用アレイ基板
JP3309839B2 (ja) * 1999-10-21 2002-07-29 日本電気株式会社 液晶表示装置
KR100596965B1 (ko) * 2000-03-17 2006-07-04 삼성전자주식회사 구동신호 인가모듈, 이를 적용한 액정표시패널 어셈블리 및 이 액정표시패널 어셈블리의 구동신호 검사 방법
KR100865542B1 (ko) 2000-12-06 2008-10-27 소니 가부시끼 가이샤 표시장치용 타이밍 발생회로 및 이것을 탑재한 표시장치
DE10100569A1 (de) * 2001-01-09 2002-07-11 Koninkl Philips Electronics Nv Treiberschaltung für Anzeigevorrichtung
JP3643808B2 (ja) * 2001-11-14 2005-04-27 三洋電機株式会社 半導体装置
JP3989756B2 (ja) * 2002-03-18 2007-10-10 シャープ株式会社 表示装置およびその走査回路検査方法
US8502812B2 (en) * 2006-07-10 2013-08-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display device and driving method thereof, and mobile terminal having the same, for preventing white or black effect
JP5286818B2 (ja) 2008-02-21 2013-09-11 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
US9164131B2 (en) 2010-05-13 2015-10-20 Tektronix, Inc. Signal recognition and triggering using computer vision techniques
TWI547933B (zh) * 2014-11-27 2016-09-01 友達光電股份有限公司 液晶顯示器及其測試電路

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2849221C2 (de) * 1978-11-13 1983-01-27 Günter Dipl.-Phys. 3303 Vechelde Kramer Anzeigeeinrichtung mit Flüssigkristallelementen
JPS56104387A (en) * 1980-01-22 1981-08-20 Citizen Watch Co Ltd Display unit
JPH02106795A (ja) * 1988-10-14 1990-04-18 Mitsubishi Electric Corp 液晶駆動回路
US5093654A (en) * 1989-05-17 1992-03-03 Eldec Corporation Thin-film electroluminescent display power supply system for providing regulated write voltages
US5179345A (en) * 1989-12-13 1993-01-12 International Business Machines Corporation Method and apparatus for analog testing
EP0494610A3 (en) * 1991-01-08 1993-02-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Tft lcd control method for setting display controller in sleep state when no access to vram is made
JP2792634B2 (ja) * 1991-06-28 1998-09-03 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法
US5206633A (en) * 1991-08-19 1993-04-27 International Business Machines Corp. Self calibrating brightness controls for digitally operated liquid crystal display system
US5184082A (en) * 1991-09-18 1993-02-02 Honeywell Inc. Apparatus and method for testing an active matrix pixel display

Also Published As

Publication number Publication date
JP3312423B2 (ja) 2002-08-05
EP0629868A1 (de) 1994-12-21
KR100319062B1 (ko) 2002-04-06
EP0629868B1 (de) 2001-09-05
KR950001585A (ko) 1995-01-03
JPH0713515A (ja) 1995-01-17
DE69428163D1 (de) 2001-10-11
US5644331A (en) 1997-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69428163T2 (de) Flache Anzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Inspektion
DE68915413T2 (de) Anzeigevorrichtung mit aktiver Matrix.
DE69221684T2 (de) Verfahren zum Untersuchen eines Substrates mit aktiver Matrix
DE102015103101B4 (de) Pixelstruktur, arraysubstrat für eine flüssigkristallanzeige und flüssigkristallanzeigefeld
DE102015223411B4 (de) Array-Substrat, Anzeigebildschirm und Flüssigkristallanzeigevorrichtung
DE69830954T2 (de) Überprüfungsverfahren für Substrat mit aktiver Matrix, Substrat mit aktiver Matrix, Flüssigkristallanzeigevorrichtung und elektronische Apparatur
DE102006054049B4 (de) Gatetreiberschaltung und dazugehöriges Reparaturverfahren sowie Flüssigkristallanzeigevorrichtung, die ein derartiges Verfahren verwendet
DE69415903T2 (de) Datensignalleitungsstruktur in einer Flüssigkristallanzeigeeinrichtung mit aktiver Matrix
DE102014207420B4 (de) Flüssigkristallanzeige und Verfahren zum Testen einer Flüssigkristallanzeige
DE102016205135B4 (de) Berührungsanzeigebedienfeld und Treiberverfahren für dasselbe
DE102005062509B4 (de) LCD und Ansteuerungsverfahren für ein solches
DE102016115687A1 (de) Arraysubstrat, Berührungsanzeigevorrichtung und Verfahren zu deren Ansteuerung
DE69313430T2 (de) Flüssigkristallanzeigevorrichtung mit aktiver Matrix
DE69423132T2 (de) Lichtventilvorrichtung mit Fehlererkennungsschaltung
DE102016125099A1 (de) Berührungsanzeigevorrichtung
DE102015117817B4 (de) Anordnungssubstrat und Flüssigkristall-Anzeigefeld
DE102017205654A1 (de) Array-Substrat, Anzeigetafel und Steuerungsverfahren
DE102015225972A1 (de) Selbstkapazitives Berührungsanzeigebedienfeld und Arraysubstrat desselben
DE4342066C2 (de) Aktivmatrix-Flüssigkristall-Anzeigetafel
DE102014112137B4 (de) Treiberschaltung, Anzeigepanel, Anzeigevorrichtung und Steuerverfahren
DE112012004358T5 (de) Flüssigkristallanzeige mit Verbesserung der Farbauswaschung und Verfahren zum Ansteuern derselben
DE3437361A1 (de) Fluessigkristallanzeige
DE69938037T2 (de) Flüssigkristallanzeige mit aktiver matrix
DE10010955A1 (de) Verfahren zum Steuern von Flüssigkristallanzeigevorrichtungen
DE102014223050A1 (de) Amorphes-Silizium-Gate-Treiberschaltung, Flachpaneelsensor und Anzeigevorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
8332 No legal effect for de
8370 Indication related to discontinuation of the patent is to be deleted
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee