DE112005001590T5 - Verzögerungsmessverfahren - Google Patents

Verzögerungsmessverfahren Download PDF

Info

Publication number
DE112005001590T5
DE112005001590T5 DE112005001590T DE112005001590T DE112005001590T5 DE 112005001590 T5 DE112005001590 T5 DE 112005001590T5 DE 112005001590 T DE112005001590 T DE 112005001590T DE 112005001590 T DE112005001590 T DE 112005001590T DE 112005001590 T5 DE112005001590 T5 DE 112005001590T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
output signal
delay time
input signal
electronic device
shift amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE112005001590T
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Koji Asami
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of DE112005001590T5 publication Critical patent/DE112005001590T5/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31725Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/30Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
    • G01R31/3016Delay or race condition test, e.g. race hazard test

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
DE112005001590T 2004-07-12 2005-06-22 Verzögerungsmessverfahren Withdrawn DE112005001590T5 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004-205178 2004-07-12
JP2004205178A JP4526891B2 (ja) 2004-07-12 2004-07-12 遅延量測定方法、及び測定装置
PCT/JP2005/011439 WO2006006354A1 (ja) 2004-07-12 2005-06-22 遅延量測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112005001590T5 true DE112005001590T5 (de) 2007-05-31

Family

ID=35783703

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112005001590T Withdrawn DE112005001590T5 (de) 2004-07-12 2005-06-22 Verzögerungsmessverfahren

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7197413B2 (enExample)
JP (1) JP4526891B2 (enExample)
DE (1) DE112005001590T5 (enExample)
WO (1) WO2006006354A1 (enExample)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5119016B2 (ja) * 2008-03-14 2013-01-16 株式会社リコー ベルト駆動制御装置及び画像形成装置
CN114578207B (zh) * 2022-02-16 2025-04-18 重庆中科渝芯电子有限公司 一种高精密集成运放非线性度测试系统和测试方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2561816B2 (ja) * 1985-07-11 1996-12-11 日本ヒューレット・パッカード株式会社 タイミング較正方法
JP2589864B2 (ja) * 1990-09-11 1997-03-12 松下電器産業株式会社 信号比較装置
JP2002040099A (ja) * 2000-07-24 2002-02-06 Advantest Corp 近似波形生成方法及び半導体試験装置
JP2003014786A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Iwatsu Electric Co Ltd トリガ信号生成装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20060161383A1 (en) 2006-07-20
US7197413B2 (en) 2007-03-27
JP4526891B2 (ja) 2010-08-18
WO2006006354A1 (ja) 2006-01-19
JP2006029826A (ja) 2006-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19502399C2 (de) Verfahren zur Fehlerkorrektur bei einem Positionssensor
DE2544407C2 (de) Verfahren zur Korrektur von Amplituden- und Phasenabweichungen zwischen den beiden Kanälen eines Quadraturdemodulators
DE2608249C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Übertragungsfunktionen
DE10015384B4 (de) A/D-Umwandlungsvorrichtung, Eicheinheit und Verfahren hierfür
DE69627465T2 (de) Digitales adaptierbares Filter zur besseren Messgenauigkeit in einem elektronischen Instrument
DE3427743A1 (de) Verfahren zur temperaturkompensation und messschaltung hierfuer
DE3046797A1 (de) Elektrooptisches messsystem mit fehlerkorrektur
DE2021954A1 (de) Kraftmessring mit einem Dehnungsmesser
DE10295886T5 (de) Wellenform-Digitalisierungsmodul vom A/D- Umwandlungs-Verschachtelungstyp und Prüfvorrichtung
EP2021811B1 (de) Messvorrichtung und messverfahren zum messen der leistung eines hochfrequenzsignals
DE2737056A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur optimalen erfassung der daten analytischer instrumente
DE102013009052B4 (de) System und Verfahren zur Skalierung einer Ausgabe eines Modulators eines Sigma-Delta-Analog/Digital-Wandlers und Systeme und ein Verfahren zur Kompensierung von temperaturabhängigen Schwankungen einer Referenzspannung in einem Sigma-Delta-Analog/Digital-Wandler
DE112004000303T5 (de) Digitalisierermodul, Wellenform-Erzeugungsmodul, Umwandlungsverfahren, Wellenform-Erzeugungsverfahren und Aufzeichnungsmedium zum Aufzeichnen eines Programms hierfür
DE10251551A1 (de) Verfahren zum Messen der Streuparameter eines Mehrtor-Meßobjektes mittels eines Mehrtor-Netzwerkanalysators mit nichtsinusförmigen Meßsignalen
DE2852747C2 (enExample)
DE102014117457B4 (de) Stochastische Codierung bei Analog-Digital-Umsetzung
DE60009169T2 (de) Vorrichtung zur beurteilung der nichtlinearen kennlinie eines verstärkers
DE19723217A1 (de) Verfahren zum Testen eines Umsetzers
DE112005001590T5 (de) Verzögerungsmessverfahren
DE2827422C3 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zum Messen von Kennwerten eines Vierpols, insbesondere einer Datenübertragungsstrecke
DE19722077A1 (de) Trägerfrequenzmeßverfahren
DE4133619C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Einschwingverhaltens
DE112004002887T5 (de) Verfahren zur A/D-Umwandlung und A/D-Umwandlungsvorrichtung
DE102004050359A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Vorverzerrungstraining in einem Vorverzerrung verwendenden Verstärker
DE19944054B4 (de) Anordnung zum Analysieren der nichtlinearen Eigenschaften eines Kommunikationskanals

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee