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Die Erfindung betrifft eine Störimpuls-Detektionsschaltung,
eine zugehörige
intelligente Karte sowie ein zugehöriges Verfahren zum Schutz
von integrierten Schaltungen vor Angriffen mit Störimpulsen.
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Eine intelligente Karte („smart
card") umfasst elektronische
Bauteile in Form von integrierten Schaltungschips (ICs), wie eine
zentrale Prozessoreinheit (CPU) oder einen Mikroprozessor, ein Chipbetriebssystem
(COS), einen elektrisch löschbaren und
programmierbaren Nurlesespeicher (EEPROM), der als Sicherheitsspeicherbereich
benutzt wird, usw. Die ICs sind normalerweise auf der Oberfläche einer Plastikkarte
aufgebracht, die aus einem ähnlichen Material
besteht und deren Größe ähnlich ist
wie bei einer typischen Kreditkarte.
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Abhängig von der Elektronik auf
der intelligenten Karte können
Informationen gespeichert, verarbeitet, gelesen, gelöscht und
auch nach außen kommuniziert
werden. Da intelligente Karten leicht verlegt werden können und
weil die in ihnen gespeicherten Informationen oftmals sehr sen sibel
und geheim sind, werden intelligente Karten streng von eingebetteten
Sicherheits- und Passwortsystemen gesteuert und geschützt. Intelligente
Karten werden beispielsweise als ATM-Karten für Banktransaktionen, als Telefonkarten
mit einer im voraus bezahlten Sprechzeit oder für zeitbasierte Mobiltelefone
verwendet. Andere Anwendungen für
intelligente Karten umfassen beispielsweise eine Authentikation
eines Benutzers, der mit einer Internetbank verbunden ist, Bezahlen
von Parkgebühren,
Bezahlen von U-Bahn-, Zug- oder Busfahrkarten, eine direkte Versorgung
mit persönlichen
Informationen für
ein Krankenhaus oder einen Arzt und Einkäufe über das Internet.
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Mit der Zunahme der Benutzung von
intelligenten Karten für
routinemäßige finanzielle
Transaktionen hat auch der Anreiz für unbefugte Zugriffe oder Manipulationen
auf bzw. an den intelligenten Karten zugenommen. Mikroabtasttechniken,
Softwareangriffe, Lauschangriffe und Fehlererzeugungstechniken sind
bekannte Verfahren zum unbefugten Manipulieren.
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Mikroabtasttechniken bedingen einen
direkten Zugriff auf eine Chipoberfläche. Softwareangriffe bedingen
eine Schnittstelle zum Prozessor und einen Zugriff auf einen Passwortalgorithmus
oder auf einen Ausführungsalgorithmus
in einem Protokoll. Lauschangriffe bedingen eine Messung und Erkennung von
Signalcharakteristika der intelligenten Karte und von elektromagnetischen
Abstrahlungen von der intelligenten Karte während eines normalen Betriebs. Fehlererzeugungstechniken
benutzen abnormale Umgebungsbedingungen, um einen Prozessorfehler zu
erzeugen, der einen zusätzlichen
Zugang ermöglicht.
Die Mikroabtasttechniken sind invasive Angriffe und die anderen
Techniken sind nicht-invasive Angriffe.
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Ein Angriff mit Störimpulsen
bedingt ein externes Anlegen eines Signals oder von Energie an die
intelligente Karte oder an eine Energieversor gung, um auf die intelligente
Karte zuzugreifen. Beispielsweise können Daten aus einem EEPROM
dadurch extrahiert werden, dass Störimpulse an die Spannungsversorgung
zum Treiben eines internen Chips der intelligenten Karte angelegt
werden. Ein Störimpulsangriff
kann auch eine Kommunikation zwischen der intelligenten Karte und
einem Kartenterminal beinhalten, die durch eine Reihe von sequentiellen
Vorgängen
bewirkt wird. Wenn eine nicht berührungslose intelligente Karte
in ein Kartenterminal eingeführt
wird, wird die Karte mit dem Kartenterminal verbunden. Das Kartenterminal
stellt der Karte Energie und einen Satz von Signalen zur Verfügung. Die
Karte empfängt
eine konstante Chipbetriebsspannung (VDD)
von der Spannungsversorgung, damit der Chip arbeiten kann. Wird
die Karte von einem Rücksetzsignal
zurückgesetzt,
dann erzeugt die Karte eine Antwort auf das Rücksetzsignal („Answer
To Reset", ATR),
um Informationen zwischen der Karte und dem Kartenterminal auszutauschen.
Das ATR-Protokoll ist in ISO/TEC 7816 Teil 3 definiert und hat Parameter,
wie eine physikalische Eigenschaft und eine logische Charakteristik
eines Datenaustauschprotokolls.
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Werden N Daten aus einer speziellen
Adresse des Chips der intelligenten Karte ausgelesen, um eine ATR
zu erzeugen, dann kann ein Störimpuls
mit einer hohen Spannung auftreten. Der Störimpuls mit der hohen Spannung
kann einen Zusammenbruch des EEPROM verursachen, der dazu führen kann, dass
Daten von einer ffh-Adresse des EEPROM ausgelesen werden.
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Deshalb ist es Aufgabe der Erfindung,
eine Störimpuls-Detektionsschaltung,
eine zugehörige
intelligente Karte sowie ein zugehöriges Verfahren zum Schutz
von integrierten Schaltungen vor Angriffen mit Spannungsstörimpulsen
anzugeben.
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Die Erfindung löst diese Aufgabe durch eine Störimpuls-Detektionsschaltung
mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 sowie durch eine intelligente Karte
mit den Merkmalen des Patentanspruchs 15 und durch ein Verfahren
zum Schutz von integrierten Schaltungen vor Angriffen mit Spannungsstörimpulsen
mit den Merkmalen des Patentanspruchs 18.
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Vorteilhafte Weiterbildungen der
Erfindung sind in den abhängigen
Ansprüchen
angegeben.
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Gemäß einem ersten Aspekt der Erfindung wird
eine Chipbetriebsspannung zum Treiben eines integrierten Schaltungschips
durch einen Spannungsteiler in Spannungen aufgeteilt, die eine vorbestimmte
Spannungsdifferenz haben. Die geteilten Spannungen werden dann als
zwei Eingangsspannungen für
einen Spannungskomparator verwendet. Der Spannungskomparator erzeugt
eine Ausgangsspannung, die auf der Spannungsdifferenz der beiden
Eingangsspannungen basiert. Der Spannungsteiler umfasst einen ersten
und einen zweiten Spannungsteiler. Jeder der beiden Spannungsteiler
hat wenigstens zwei Widerstände,
die in Reihe zwischen der Spannungsversorgung und Masse eingeschleift sind,
und benutzt Knotenspannungen, d.h. Spannungen an einem ersten und
einem zweiten Knoten, zwischen den beiden Widerständen als
die Eingangsspannungen. Ein Kondensator mit einer großen Kapazität ist zwischen
dem ersten Knoten und Masse eingeschleift, um eine Anstiegs- bzw.
Abfallzeit der Spannung an diesem Knoten zu vergrößern. Entsprechend
verändert
sich die Knotenspannung an dem Knoten, an dem der Kondensator angekoppelt ist,
nicht, wenn ein positiver Spannungsstörimpuls, d.h. ein Hoch-Störimpuls,
bzw. ein negativer Spannungsstörimpuls,
d.h. ein Niedrig-Störimpuls,
temporär
die Chipbetriebsspannung vergrößert bzw.
verkleinert, weil eine Lade- bzw. Entladezeit der Widerstand-Kondensator-Kombination
(RC-Kombination) am Knoten mit dem Kondensator hoher Kapazität lang ist.
Jedoch folgt die Spannung am anderen Knoten ohne Kondensator dem
Störimpuls,
so dass die Spannung an diesem Knoten ansteigt bzw. abfällt. Entsprechend ändert sich
das Ausgangssignal des Spannungskomparators, wenn ein Störimpuls
auftritt. Diese Zustandsänderung
des Ausgangssignals ermöglicht
eine Erkennung des Störimpulses.
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Die Spannung am Knoten mit dem Kondensator
hoher Kapazität
wird als Referenzspannung des Spannungskomparators verwendet, die
ein Eingangssignal für
einen nicht-invertierenden Eingangsanschluss bildet, und die Spannung
am Knoten ohne Kondensator wird als Detektionsspannung verwendet,
die ein Eingangssignal für
einen invertierenden Eingangsanschluss bildet. Sind die Widerstände, die zwischen
der Chipbetriebsspannung und Masse eingeschleift sind, so eingestellt,
dass die Referenzspannung größer ist
als die Detektionsspannung, dann können Hoch-Störimpulse
detektiert werden. Ist die Referenzspannung niedriger als die Detektionsspannung
eingestellt, dann können
Niedrig-Störimpulse
detektiert werden. Zudem kann der Kondensator hoher Kapazität zwischen
dem Knoten mit der Detektionsspannung und Masse eingeschleift sein,
und zwischen dem Knoten mit der Referenzspannung und Masse braucht
kein Kondensator eingeschleift sein. In diesem Fall können, wenn
die Referenzspannung höher
als die Detektionsspannung eingestellt ist, die Niedrig-Störimpulse
erkannt werden. Ist die Referenzspannung niedriger als die Detektionsspannung
eingestellt, dann können
Hoch-Störimpulse
erkannt werden.
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Um die Schaltung zu stabilisieren,
kann ein Kondensator mit einer niedrigen Kapazität zwischen dem Knoten ohne
Kapazität
und Masse eingeschleift werden. In diesem Fall ist die Kondensatorlade-
bzw. Kondensatorentladezeit, d.h. die Anstiegs- bzw. Abfallzeit
der Knotenspannung, sehr kurz, weil die Kapazität sehr klein ist. Entsprechend
ist beim Auftreten eines Störimpulses
ein Spannungsfluktuationsband am Knoten mit der großen Kapazität sehr klein,
während
es am Knoten mit der kleinen Kapazität sehr groß ist. Deshalb verändert sich
der Zustand des Ausgangssignals des Spannungskomparators, so dass
der Störimpuls
erkannt wird.
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Die Differenz zwischen den beiden
Spannungen, die an den Spannungskomparator angelegt werden, ist
von der Spezifikation abhängig,
welche Störimpulse
erkannt werden sollen. Durch einfaches Einstellen der Widerstandswerte
kann die Spannungsdifferenz leicht hergestellt werden. Die Kapazität des Kondensators
oder die Differenz zwischen den Kapazitäten der beiden Kondensatoren
kann durch Berücksichtigen
der Spannungsdifferenz, einer Zeitdauer, während der Störimpuls
auftrifft, usw. bestimmt werden. Die Kapazität oder die Kapazitätsdifferenz
wird so bestimmt, dass die Spannungsdifferenz an den entsprechenden
Knoten ein unterschiedliches Vorzeichen vor und nach dem Auftreten
eines Störimpulses
hat.
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Wird ein zusätzlicher Spannungskomparator bei
der Detektionsschaltung verwendet, dann kann sowohl der Hoch-Störimpuls
als auch der Niedrig-Störimpuls
erkannt werden. Die Detektionsschaltung umfasst dann einen dritten
Spannungsteiler, um zwei Eingangsspannungen an den zusätzlichen Spannungskomparator
anzulegen. Der zusätzliche Spannungskomparator
empfängt
eine Spannung vom dritten Spannungsteiler und eine andere Spannung
vom ersten oder vom zweiten Spannungsteiler, um ein Ausgangssignal
aus der Differenz der beiden empfangenen Spannungen zu erzeugen.
Das bedeutet, dass entweder der erste oder der zweite Spannungsteiler
eine Spannung gleichzeitig beiden Spannungskomparatoren zur Verfügung stellt.
Beispielsweise versorgt der zweite Spannungsteiler beide Spannungskomparatoren
mit einer Referenzspannung, der erste Spannungsteiler versorgt den
einen Spannungskomparator mit einer Detektionsspannung und der dritte
Spannungsteiler versorgt den anderen Spannungskomparator, d.h. den
zusätzlichen Spannungskomparator,
mit einer Detektionsspannung. In diesem Fall ist eine zweite Spannung
vom zweiten Spannungsteiler höher
als eine erste Spannung vom ersten Spannungsteiler und niedriger
als eine dritte Spannung des dritten Spannungsteilers. Ein zweiter Knoten
des zweiten Spannungsteilers hat den Kondensator hoher Kapazität. Tritt
ein Hoch-Störimpuls
im Fall auf, dass die dritte Spannung höher ist als die erste Spannung,
dann ändert
das Ausgangssignal des ersten Spannungskomparators seinen Zustand.
Deshalb kann ein Hoch-Störimpuls
erkannt werden. Tritt ein Niedrig-Störimpuls im Fall auf, dass die
dritte Spannung höher
ist als die erste Spannung, dann ändert das Ausgangssignal des
zweiten Spannungskomparators seinen Zustand. Deshalb kann ein Niedrig-Störimpuls
erkannt werden. Daraus resultiert, dass sowohl ein Niedrig-Störimpuls
als auch ein Hoch-Störimpuls
erkannt werden können.
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Ein anderer Aspekt der Erfindung
betrifft ein Verfahren zum Schutz von integrierten Schaltungen vor
Angriffen mit Störimpulsen.
Das Verfahren umfasst ein Erzeugen einer Referenzspannung und einer
Detektionsspannung aus einer Versorgungsspannung der integrierten
Schaltung, ein Vergleichen der Referenzspannung mit der Detektionsspannung, um
einen Angriff mit Störimpulsen
auf die Versorgungsspannung der integrierten Schaltung zu erkennen,
und ein zwangsweises Zurücksetzen
der integrierten Schaltung, wenn ein Angriff mit Störimpulsen erkannt
wird. Die Referenzspannung ist im Vergleich mit der Detektionsspannung
für Änderungen
der Spannung des Störimpulses
unempfindlich.
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Gemäß wenigstens einer Ausführungsform der
Erfindung wird eine Chipbetriebsspannung von einem Spannungsteiler
in zwei Spannungen für
einen Komparator geteilt, anstatt spezielle Energieversorgungen
für eine
Bereitstellung von zwei Eingangsspannungen für den Komparator zu benutzen.
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Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung
sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nachfolgend beschrieben.
Es zeigen:
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1 ein
Schaltbild einer Detektionsschaltung für Störimpulse,
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2A und 2D Signalformen von Spannungsteilerknoten
aus 1 für einen
Hoch-Störimpuls,
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2B und 2C Signalformen von Spannungsteilerknoten
aus 1 für einen
Niedrig-Störimpuls,
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3 ein
Schaltschaltbild einer Detektionsschaltung für Hoch-Störimpulse,
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4 ein
Schaltschaltbild einer Detektionsschaltung für Niedrig-Störimpulse,
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S ein
Schaltschaltbild einer Detektionsschaltung für Hoch-Störimpulse
und Niedrig-Störimpulse,
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6A und 6B Signalformen von Knoten, wenn
Spannungen mit einem Hoch-Störimpuls
bzw. einem Niedrig-Störimpuls
an die Detektionsschaltung aus 5 angelegt
werden,
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7 ein
Blockschaltbild einer intelligenten Karte mit einer Detektionsschaltung
für Störimpulse und
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8 ein
Schaltbild der Detektionsschaltung für Störimpulse aus 7.
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Die Funktion einer Detektionsschaltung
für Störimpulse 100 wird
nachfolgend in Verbindung mit 1 beschrieben.
Die Detektionsschaltung für
Störimpulse 100 umfasst
einen Detektoreingangsanschluss DIN, einen
Spannungsteiler 120, einen Spannungskomparator 140 und
ein Puffermittel 160. Der Spannungsteiler 120 teilt
eine Chipbetriebsspannung VDD, die an den
Detektoreingangsanschluss DIN angelegt ist,
in Spannungen V1 und V2 auf, die eine vorgegebene Spannungsdifferenz
haben. Der Spannungskomparator 140 empfängt die geteilten Spannungen
V1 und V2 über
zwei Eingangsanschlüsse COMPIN1 und COMPIN2 und
erzeugt durch die Spannungsdifferenz zwischen den empfangenen Spannungen
V1 und V2 ein Vergleichssignal Vcomp, das
am Ausgangsanschluss COMPOUT ausgegeben
wird. Die Puffermittel 160 puffern das Vergleichssignal
Vcomp des Ausgangsanschlusses COMPOUT und erzeugen ein Detektionssignal 180 am
Detektorausgangsanschluss Dout. Wenn kein
Störimpuls
auftritt, gibt der Detektorausgangsanschluss Dout ein
Detektionssignal 180 mit einem hohen logischen Pegel aus.
Tritt ein Störimpuls
auf, dann erzeugt der Detektorausgangsanschluss Dout ein
Detektionssignal 180 mit einem niedrigen logischen Pegel
und setzt eine CPU 200 zurück, um den integrierten Schaltungschip
zurückzusetzen.
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Der Spannungsteiler 120 umfasst
einen ersten Spannungsteiler 122 zum Teilen der Chipbetriebsspannung
VDD in die erste Spannung V1 und einen zweiten
Spannungsteiler 124 zum Teilen der Chipversorgungsspannung
VDD in die zweite Spannung V2. Der erste
Spannungsteiler 122 hat zwei Widerstände R12 und R11, die in Reihe
zwischen den Detektoreingangsanschluss DIN und
Masse GND eingeschleift sind. Deshalb wird die erste Spannung V1 am
Knoten S1 als einem ersten Knoten zwischen den beiden Widerständen R12
und R11 in Abhängigkeit von
der nachstehenden Gleichung (1) erzeugt.
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Der zweite Spannungsteiler 124 hat
zwei Widerstände
R22 und R21, die in Reihe zwischen den Detektoreingangsanschluss
DIN und Masse GND eingeschleift sind. Deshalb
wird die zweite Spannung V2 am Knoten S2 als einem zweiten Knoten
zwischen den beiden Widerständen
R22 und R21 in Abhängigkeit
von der nachstehenden Gleichung (2) erzeugt.
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Die erste und die zweite Spannung
V1 bzw. V2 basieren jeweils auf den Widerstandswerten der beiden
Widerstände
R12 und R11 bzw. R22 und R21. Eine Differenz (V2-V1) zwischen den
beiden Spannungen V2 und V1 basiert auf einer Intensität eines zu
erkennenden Störimpulses.
Entsprechend einer erfindungsgemäßen Ausführungsform
können
die beiden Spannungen V1 und V2 einfach aus der Chipbetriebsspannung
VDD dadurch erzeugt werden, dass das Verhältnis der
Widerstände
R12, R11, R22 und R21 passend eingestellt wird.
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Die vom ersten Spannungsteiler 122 erzeugte
erste Spannung V1 wird an den ersten Eingangsanschluss COMPIN1 als einem invertierenden Eingangsanschluss
(–) des
Spannungskomparators 140 angelegt und wirkt als Detektionsspannung
des Spannungskomparators 140. Die vom zweiten Spannungsteiler 124 erzeugte
zweite Spannung V2 wird an den zweiten Eingangsanschluss COMPIN2 als einem nicht-invertierenden Eingangsanschluss
(+) des Spannungskomparators 140 angelegt und wirkt als Referenzspannung
des Spannungskomparators 140. Deshalb sind die zwei an
den Spannungskomparator 140 angelegten Spannungen von der
Chipbetriebsspannung VDD geteilte Spannungen.
Ist die Detektionsspannung V1 höher
als die Referenzspannung V2, dann erzeugt der Spannungskomparator 140 ein Vergleichssignal
an seinem Ausgangsanschluss COMPOUT mit
einem niedrigen logischen Pegel. Ist die Detektionsspannung V1 niedriger
als die Referenzspannung V2, dann erzeugt der Spannungskomparator 140 ein
Vergleichssignal an seinem Ausgangsanschluss COMPOUT mit
einem hohen logischen Pegel.
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Der erste Spannungsteiler 122 hat
einen zwischen dem ersten Knoten S1 und Masse eingeschleiften ersten
Kondensator C1 und der zweite Spannungsteiler 124 hat einen
zwischen dem zweiten Knoten S2 und Masse eingeschleiften zweiten Kondensator
C2. Vorzugsweise besteht zwischen der Kapazität des ersten Kondensators C1
und der Kapazität
des zweiten Kondensators C2 eine große Differenz. Einer der beiden
Kondensatoren, beispielsweise der Kondensator C2, hat eine große Kapazität und der
andere Kondensator, beispielsweise C1, hat eine sehr kleine Kapazität.
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Erhöht ein auftretender Hoch-Störimpuls temporär die Spannung
am Detektoreingangsanschluss DIN, dann wird
ein Ausgangswert der zweiten Spannung V2 am zweiten Knoten S2 nach
einer Verzögerungszeit
ebenfalls temporär
erhöht.
Durch die große
Kapazität
des Kondensators C2, der mit dem zweiten Knoten S2 und Masse verbunden
ist, verschwindet der Hoch-Störimpuls,
bevor der Kondensator C2 ausreichend aufgeladen ist. Andererseits wird,
weil der Kondensator C1 mit einer kleinen Kapazität zwischen
dem ersten Knoten S1 und Masse eingeschleift ist, die erste Spannung
V1 von einem Ausgangswert temporär
ohne Zeitverzögerung
auf einen höheren
Spannungswert als die Spannung am zweiten Knoten S2 erhöht und kehrt
dann zu ihrem Anfangswert zurück.
Dies kommt daher, weil die Ladezeit des Kondensators C1 kürzer ist,
so dass der Kondensator C1 ausreichend aufgeladen wird, solange
der Hoch-Störimpuls
auftritt. Daraus folgt, dass eine durch einen Störimpuls verursachte Spannung am
ersten Knoten S1, die an dem ersten Eingangsanschluss COMPIN1 des Spannungskomparators 140 anliegt,
einen höheren
Spannungswert annimmt als eine durch den Störimpuls verursachte Spannung
am Knoten S2, die an dem zweiten Eingangsanschluss COMPIN2 des
Komparators 140 anliegt. Der Komparator 140 gibt
am Ausgangsanschluss COMPOUT einen Übergang
von einem hohen auf einen niedrigen Pegel aus. Dieses Ausgangssignal
am Ausgangsanschluss COMPOUT wird vom Puffer 160 gepuffert,
um ein Störimpulsde tektionssignal 180 mit
einem niedrigen Pegel am Detektorausgangsanschluss Dout zu erzeugen
und dadurch die CPU 200 zurückzusetzen.
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Entsprechend diesem Ausführungsbeispiel der
Erfindung kann die Kapazität
der beiden Kondensatoren C1 und C2 passend zu der Differenz zwischen
den an den beiden Eingangsanschlüssen
des Spannungskomparators anliegenden Spannungen ausgewählt werden.
Es ist beispielsweise auch möglich,
auf den Kondensator C1 mit der niedrigen Kapazität zu verzichten. In diesem
Fall ist die Anstiegszeit der Spannung am ersten Knoten S1 ohne
Kondensator C1 gleich null, da am ersten Knoten S1 kein Kondensator
angeschlossen ist.
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Ist eine Zeitkonstante (R21*C2) an
einem Knoten mit dem Kondensator C2 hoher Kapazität, beispielsweise
am Knoten S2, so eingestellt, dass sie höher ist als eine Zeitkonstante
(R11*C1) an einem anderen Knoten mit dem Kondensator C1 niedriger Kapazität, beispielsweise
am Knoten S1, d.h. R21*C2>R11*C1,
dann kann ein Störimpuls
effektiver erkannt werden. Deshalb kann ein Störimpuls auch bei einer nicht
so großen
Differenz zwischen den Kondensatorkapazitäten durch eine passende Einstellung
der Widerstandswerte der an die entsprechenden Knoten angekoppelten
Widerstände
erkannt werden.
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Die 2A und 2B zeigen Signalformen von Spannungen
mit Störimpulsen,
die an den beiden Eingangsanschlüssen
des Spannungskomparators 140 anliegen, wenn ein Hoch-Störimpuls
bzw. ein Niedrig-Störimpuls
bei der Chipbetriebsspannung VDD auftritt.
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Bei der Störimpuls-Detektionsschaltung 100 aus 1 kann es der Fall sein,
dass die zweite Spannung V2 größer ist
als die erste Spannung V1, d.h. V2>V1,
und die Kapazität
des zweiten Kondensators C2 größer ist
als die Kapazität
des ersten Kondensators C1, d.h. C2>C1. Entsprechend ist das Verhältnis von
R11/(R11+12) niedriger eingestellt als das Verhältnis von R21/(R21+R22), so
dass in einfacher Weise die zweite Spannung V2 erzeugt wird, die
größer ist
als die erste Spannung V1. In diesem Fall umfassen die Puffermittel 160 zwei
hintereinander geschaltete Inverter und die Störimpuls-Detektionsschaltung 100 kann
einen Hoch-Störimpuls
erkennen.
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Speziell erzeugt der Spannungskomparator 140 ein
Vergleichssignal am Ausgangsanschluss COMPOUT mit
einem hohen Logikpegel, d.h. eine logische '1',
weil die Referenzspannung V2 höher
ist als die Detektionsspannung V1. Das am Komparatorausgangsanschluss
COMPOUT erzeugte Vergleichssignal mit hohem
Logikpegel passiert die Puffermittel 160 mit den beiden
Invertern, um ein Detektionssignal 180 mit hohem Logikpegel
am Detektorausgangsanschluss DOUT zu erzeugen.
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Wenn ein schnell ansteigender Störimpuls an
der Chipbetriebsspannung V
DD auftritt, d.h.
ein Hoch-Störimpuls
Vglh, erscheinen Störimpulsspannungen
Vglh1 bzw. Vglh2 am ersten Knoten S1 bzw. am zweiten Knoten S2,
die jeweils einen höheren Spannungswert
haben als die anfänglichen
Spannungen vor dem Auftreten des Störimpulses und deren Spannungswerte
sich durch die folgenden Gleichungen (
3) und (4) bestimmen:
Erste Störimpulsspannung
Vglh1 am ersten Knoten S1:
Zweite Störimpulsspannung
Vglh2 am zweiten Knoten S2:
Weil
jedoch der Kondensator C2 hoher Kapazität zwischen den zweiten Knoten
S2 des zweiten Spannungsteilers
124 und Masse eingeschleift ist,
erhöht sich
der Wert von (Vglh*R21/(R21+R22)) aus Gleichung (4) langsam mit
einer sehr kleinen Veränderung,
d.h. ΔV2
ist sehr klein, und mit einer Verzögerung. Daraus resultiert,
dass die Störimpulsspannung Vglh2
am zweiten Knoten S2 nicht dem Störimpuls folgt, der nur für eine kurze
Zeitspanne andauert. Deshalb ist die Störimpulsspannung Vglh2 im wesentlichen
mit dem Ausgangswert der zweiten Spannung V2 vor dem Auftreten des
Störimpulses
identisch, weil es eine lange Zeitdauer benötigt, um den Kondensator C2
mit der großen
Kapazität
aufzuladen. Deshalb erscheint, wie in
2A dargestellt
ist, die im wesentlichen zum Ausgangswert der zweiten Spannung V2
identische Störimpulsspannung
Vglh2 am zweiten Knoten S2, um dem zweiten Eingangsanschluss COMP
IN2 des Spannungskomparators
140 zugeführt zu werden.
Weil der erste Spannungsteiler
122 den Kondensator C1 mit
der kleinen Kapazität umfasst,
erhöht
sich der Wert von (Vglh*R11/(R11+R12)) aus Gleichung (3) vom Ausgangswert
der ersten Spannung V1 ohne Verzögerung
schnell auf einen größeren Wert ΔV1. Die Störimpulsspannung
Vglh1 am ersten Knoten S1 wird größer als die Störimpulsspannung
Vglh2 am zweiten Knoten S2 und kehrt dann zu ihrem Ausgangswert
der ersten Spannung V1 zurück.
Weil der Kondensator C1 eine kleine Kapazität hat, folgt die Spannung am
ersten Knoten S1 im wesentlichen der Störimpulsspannung Vglh1, während ein
Störimpulsangriff
auftritt. Die erste Störimpulsspannung
Vglh1 am ersten Knoten S1 ist höher
als die zweite Störimpulsspannung
Vglh2 am zweiten Knoten S2 und wird an den ersten Eingangsanschluss
COMP
IN1 des Spannungskomparators
140 angelegt.
Daraus resultiert, dass ein Signal mit niedrigem Logikpegel am Ausgangsanschluss
COMP
OUT des Spannungskomparators
140 erzeugt
wird. Das erzeugte Signal mit dem niedrigen Logikpegel passiert
die Puffermittel
160, um ein Detektionssignal
180 mit
einem niedrigen logischen Pegel am Detektorausgangsanschluss D
out zu erzeugen. Deshalb wird die zentrale
Prozessoreinheit CPU vom Detektionssignal
180 gesetzt,
um einen Hoch-Störimpuls
zu erkennen.
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Für
den Fall, dass die erste Spannung V1 größer ist als die zweite Spannung
V2, d.h. V1>V2, und
dass die Kapazität
des zweiten Kondensators C2 größer ist
als die Kapazität
des ersten Kondensators C1, d.h. C2>C1, wird das Verhältnis von R11/(R11+R12) höher eingestellt
als das Verhältnis von
R21/(R21+R22), um die gewünschten
Spannungen V1 und V2 zu erhalten. In diesem Fall umfassen die Puffermittel 160 einen
Inverter und die Störimpuls-Detektionsschaltung 100 kann
einen Niedrig-Störimpuls
erkennen, der schnell die Betriebsspannung für eine kurze Zeit reduziert.
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Weil die Detektionsspannung V1 höher ist als
die Referenzspannung V2, erzeugt der Spannungskomparator 140 an
seinem Ausgangsanschluss COMPOUT ein Vergleichssignal
mit niedrigem Logikpegel, d.h. eine logische '0'.
Das am Komparatorausgangsanschluss COMPOUT erzeugte
Vergleichssignal mit niedrigem Logikpegel passiert die Puffermittel 160,
um das Detektionssignal 180 mit einem hohen logischen Pegel
am Detektorausgangsanschluss DOUT zu erzeugen.
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Wenn jedoch ein Niedrig-Störimpuls
an der Chipbetriebsspannung VDD auftritt,
erscheint die zweite Störimpulsspannung
Vglh2 am zweiten Knoten S2, um an den zweiten Eingangsanschluss COMPIN2 des Spannungskomparators 140 angelegt zu
werden. Hier ist die zweite Störimpulsspannung Vglh2
um den Wert ΔV2
kleiner als die zweite Spannung V2. Am ersten Knoten erscheint jedoch
die erste Störimpulsspannung
Vglh1, die gegenüber
dem Ausgangswert der ersten Spannung V1 deutlich reduziert ist und
kleiner ist als die Störimpulsspannung Vglh2.
Deshalb wird eine erste Störimpulsspannung Vglh1
am ersten Knoten S1, die niedriger ist als die zweite Störimpulsspannung
Vglh2, an den ersten Eingangsanschluss COMPIN1 des
Spannungsgenerators 140 angelegt. Entsprechend wird das
Vergleichssignal mit einem hohen logischen Pegel am Ausgangsanschluss
COMPOUT des Spannungskomparators 140 erzeugt.
Das erzeugte Vergleichssignal mit dem hohen logischen Pegel passiert
die Puffermittel 160, so dass ein Detektionssignal 180 mit
einem niedrigen logischen Pegel am Detektorausgangsanschluss Dout erzeugt wird, um die CPU 200 zurückzusetzen.
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Es versteht sich für den Fachmann
von selbst, dass die beschriebenen Ausführungsformen leicht modifiziert
werden können.
Beispielsweise kann die Störimpuls-Detektionsschaltung 100,
wenn die erste Spannung V1 niedriger als die zweite Spannung V2
eingestellt ist, d.h. V1<V2,
und die Kapazität des
ersten Kondensators C1 größer gewählt wird
als die Kapazität
des zweiten Kondensators C2, d.h. C1>C2, einen Niedrig-Störimpuls
erkennen, wie in 2C dargestellt
ist. Wenn die erste Spannung V1 höher eingestellt wird als die
zweite Spannung V2, d.h. V1>V2,
dann kann die Störimpuls-Detektionsschaltung 100 einen
Hoch-Störimpuls
erkennen, wie in 2D dargestellt
ist.
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Für
den Fall, dass ein integrierter Schaltungschip getestet wird, wird
eine Unterbrechung des Betriebs der Störimpuls-Detektionsschaltung
benötigt.
Für diesen
Zweck kann eine spezielle Spannungsversorgung für eine bestimmte Zeitdauer
benutzt werden, die ein Ausgangssignal des Spannungskomparators
auf einem konstanten Pegel hält.
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Die 3 und 4 zeigen jeweils ein detailliertes
Schaltbild einer möglichen
Realisierung der Störimpuls-Detektionsschaltung 100 aus 1. 3 zeigt hierbei eine Detektionsschaltung 300 für Hoch-Störimpulse
und 4 eine Detektionsschaltung 400 für Niedrig-Störimpulse.
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In 3 umfasst
der Spannungskomparator einen Differenzverstärker 340 und einen NMOS-Transistor
N5 zur Vorspannungsversorgung, der eine Vorspannung Vbgp 310 mit
einer vorbestimmten Intensität
von einer nicht dargestellten Vorspannungsschaltung empfängt, um
mit der empfangenen Vorspannung 310 den Differenzverstärker 340 zu
versorgen. Der Differenzverstärker 340 umfasst zwei
PMOS-Transistoren P1 und P2 und zwei NMOS-Transistoren N1 und N2.
Ein Source-Anschluss des PMOS-Transistors P2 ist mit dem Detektoreingang
DIN verbunden, um die Chipbetriebsspannung
VDD zu empfangen. Ein Gate-Anschluss und
ein Drain-Anschluss des PMOS-Transistors P2 sind miteinander gekoppelt.
Der PMOS-Transistor P1 hat einen Source-Anschluss, der mit der Chipbetriebsspannung
VDD verbunden ist, einen Gate-Anschluss, der
an den Gate-Anschluss des PMOS-Transistors P2 angekoppelt ist, und
einen Drain-Anschluss, der an einen Ausgangsknoten Sout zur
Ausgabe eines Vergleichssignals angekoppelt ist. Der NMOS-Transistor
N2 hat einen Drain-Anschluss, der an den Drain-Anschluss des PMOS-Transistors P2 angekoppelt
ist, einen Gate-Anschluss, der an einen zweiten Knoten S2 eines
zweiten Spannungsteilers 324 angeschlossen ist, um eine
zweite Spannung V2 zu empfangen, und einen Source-Anschluss, der an
einen Drain-Anschluss des NMOS-Transistors N5 zur Vorspannungsversorgung
angekoppelt ist. Der NMOS-Transistor N1 hat einen Drain-Anschluss,
der an den Drain-Anschluss des PMOS-Transistors P1 und an den Ausgangsknoten
SOUT angekoppelt ist, einen Gate-Anschluss,
der an einen ersten Knoten S1 eines ersten Spannungsteilers 322 angeschlossen ist,
um eine erste Spannung V1 zu empfangen, und einen Source-Anschluss,
der an den Drain-Anschluss des NMOS-Transistors N5 zur Vorspannungsversorgung
angekoppelt ist. Der Drain-Anschluss des NMOS-Transistors N5 zur
Vorspannungsversorgung ist an die Source-Anschlüsse der NMOS-Transistoren N1
und N2 angekoppelt, ein Gate-Anschluss empfängt die Spannung der Vorspannungsschaltung
und ein Source-Anschluss ist an die Massespannung GND angekoppelt.
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Der erste Spannungsteiler 322 umfasst
die Widerstände
R12 und R11 und den Kondensator C1. Die Widerstände R12 und R11 sind in Reihe
zwischen den Detektoreingangsanschluss DIN zum Empfangen
der Chipbetriebsspannung VDD und der Massespannung
GND eingeschleift. Der Kondensator C1 ist zwischen dem ersten Knoten
S1, der sich am Verbindungspunkt der Widerstände R12 und R11 befindet, und
der Massespannung GND eingeschleift.
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Der zweite Spannungsteiler 324 umfasst
die Widerstände
R22 und R21 und den Kondensator C2. Die Widerstände R22 und R21 sind in Reihe
zwischen den Detektoreingangsanschluss DIN und
der Massespannung GND eingeschleift. Der Kondensator C2 ist zwischen
dem zweiten Knoten S2, der sich am Verbindungspunkt der Widerstände R22
und R21 befindet, und der Massespannung GND eingeschleift.
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Die Spannung V1 am ersten Knoten
S1 im ersten Spannungsteiler 322 wird in Abhängigkeit
von der oben genannten Gleichung (1) bestimmt, während die Spannung V2 am zweiten
Knoten S2 im zweiten Spannungsteiler 324 in Abhängigkeit
von der oben genannten Gleichung (2) bestimmt wird. Die Widerstandswerte
der Widerstände
in den Spannungsteilern 322 und 324 sind so eingestellt,
dass die zweite Spannung V2 höher
ist als die erste Spannung V1. Die Differenz zwischen den Spannungen
V2 und V1, d.h. V2–V1,
kann in Abhängigkeit
von der Intensität
eines zu detektierenden Hoch-Störimpulses
variiert werden. Wie bereits ausgeführt, haben der erste Kondensator
C1 im ersten Spannungsteiler 322 und der zweite Kondensator
C2 im zweiten Spannungsteiler unterschiedliche Kapazitätswerte.
Der erste Kondensator C1 hat eine kleine Kapazität und der zweite Kondensator
C2 hat eine große
Kapazität.
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Puffermittel 360 umfassen
zwei CMOS-Inverter 362 und 364. Der erste CMOS-Inverter 362 umfasst
einen PMOS-Transistor P3 und einen NMOS-Transistor N3, die in Reihe
zwischen dem Detektoreingangsanschluss DIN und
Masse GND eingeschleift sind. Ein Source-Anschluss des PMOS-Transistors
P3 ist mit dem Detektoreingangsanschluss DIN gekoppelt,
um die Chipbetriebsspannung VDD zu empfangen.
Ein Source-Anschluss des NMOS-Transistors N3 ist an einen Masseanschluss gekoppelt. Gate-Anschlüsse des
PMOS-Transistors P3 und des NMOS-Transistors
N3 sind miteinander gekoppelt und mit dem Ausgangsknoten SOUT des Differenzverstärkers 340 verbunden.
Drain-Anschlüsse
des PMOS-Transistors P3 und des NMOS-Transistors N3 sind miteinander
verbunden, um einen ersten Inverterausgangsknoten IOUT1 zu
bilden. Der zweite CMOS-Inverter 364 umfasst einen PMOS-Transistor P4
und einen NMOS-Transistor N4, die in Reihe zwischen dem Detektoreingangsanschluss
DIN und Masse GND eingeschleift sind. Ein
Source-Anschluss des
PMOS-Transistors P4 ist mit dem Detektoreingangsanschluss DIN gekoppelt, um die Chipbetriebsspannung
VDD zu empfangen. Ein Source-Anschluss des
NMOS-Transistors N4 ist an den Masseanschluss gekoppelt. Gate-Anschlüsse des PMOS-Transistors
P4 und des NMOS-Transistors N4 sind miteinander gekoppelt und mit
dem ersten Inverterausgangsknoten IOUT1 verbunden.
Drain-Anschlüsse
des PMOS-Transistors P4 und des NMOS-Transistors N4 sind miteinander
verbunden, um einen zweiten Inverterausgangsknoten IOUT2 zu
bilden. Der Detektorausgangsanschluss Dout ist mit dem zweiten Inverterausgangsknoten
IOUT2 gekoppelt.
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Nun wird der Betrieb der Detektionsschaltung
für Hoch-Störimpulse 300 beschrieben,
wenn kein Hoch-Störimpuls
auftritt. Der Differenzverstärker 340 vergleicht
die zweite, am Gate-Anschluss des NMOS-Transistors N2 anliegende
Spannung V2 mit der ersten, am Gate-Anschluss des NMOS-Transistors
N1 anliegenden Spannung V1 und erzeugt ein Vergleichssignal an seinem
Ausgangsanschluss SOUT Hierbei korrespondiert
das Vergleichssignal mit der Differenz zwischen den Spannungen V2
und V1, d.h. V2–V1.
Weil die zweite Spannung V2 größer ist
als die erste Spannung V1, wird ein Signal mit einem hohen logischen
Pegel am Ausgangsanschluss SOUT als Vergleichssignal
erzeugt. Deshalb wird der NMOS-Transistor N3 des ersten Inverters 362 leitend geschaltet,
um ein Signal mit einem niedrigen Logikpegel, d.h. 0V, zu erzeugen.
Wenn das Signal mit dem niedrigen Logikpegel, das ein Ausgangssignal des ersten
Inverters 362 ist, an den zweiten Inverter 364 angelegt
wird, wird der PMOS-Transistor P4 leitend geschaltet, um ein Signal
mit einem hohen logischen Pegel, der der Betriebsspannung VDD entspricht, am Ausgangsanschluss IOUT2 zu erzeugen. Als Resultat wird am Detektorausgangsanschluss DOUT ein Detektionssignal 180 mit
einem hohen Logikpegel erzeugt, so dass die CPU nicht zurückgesetzt
und ein normaler Chipbetrieb ausgeführt wird.
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Für
den Fall, dass ein Hoch-Störimpuls
an der Chipbetriebsspannung VDD für eine kurze
Zeit auftritt (siehe 2A),
vergleicht der Differenzverstärker 340 die
zweite, am Gate-Anschluss des NMOS-Transistors N2 anliegende Spannung
Vglh2 mit der ersten, am Gate-Anschluss des NMOS-Transistors N1
anliegenden Spannung Vglh1 und erzeugt ein Vergleichssignal an seinem
Ausgangsanschluss SOUT. Hierbei korrespondiert
das Vergleichssignal mit der Differenz zwischen den Spannungen Vglh2
und Vglh1, d.h. Vglh2–Vglh1.
Weil ein Hoch-Störimpuls auftritt,
wird die Störimpulsspannung
Vglh2 am zweiten Knoten kleiner als die Störimpulsspannung Vglh1 am ersten
Knoten. Deshalb erzeugt der Differenzverstärker 340 ein Signal
mit einem niedrigen logischen Pegel am Ausgangsanschluss SOUT als Vergleichssignal. Durch das Vergleichssignal
mit dem niedrigen Logikpegel wird der PMOS-Transistor P3 des ersten Inverters 362 leitend
geschaltet, um ein Signal mit hohem Logikpegel, d.h. mit dem Pegel
der Betriebsspannung VDD, am Ausgangsanschluss
IOUT1 des ersten Inverters 362 zu
erzeugen. Wenn das Signal mit dem hohen Logikpegel an den zweiten
Inverter 364 angelegt wird, wird der NMOS-Transistor N4
leitend geschaltet, um das Detektionssignal 380 mit einem niedrigen
logischen Pegel, der dem Pegel der Massespannung von 0V entspricht,
am Ausgangsanschluss IOUT2 zu erzeugen.
Entsprechend wird die CPU zurückgesetzt.
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Wie aus 4 ersichtlich ist, umfasst die Detektionsschaltung 400 für Niedrig-Störimpulse
einen Differenzverstärker 440,
einen dritten Span nungsteiler 422 und einen zweiten Spannungsteiler 424.
Die Detektionsschaltung 400 für Niedrig-Störimpulse
unterscheidet sich von der Detektionsschaltung für Hoch-Störimpulse 300 dadurch,
dass die Werte der Widerstände
R31, R32, R21 und R22 so eingestellt sind, dass die zweite Spannung
V2 am zweiten Knoten S2 im zweiten Spannungsteiler 424 kleiner
ist als eine dritte Spannung V3 an einem dritten Knoten S3 im dritten
Spannungsteiler 422. Typischerweise werden die Werte der
entsprechenden Widerstände
so ausgewählt,
dass die zweite Spannung (VDD*R11/(R11+R12))
niedriger ist als die dritte Spannung (VDD*R31/(R31+R32).
Zusätzlich
umfasst die Detektionsschaltung 400 für Niedrig-Störimpulse Puffermittel 462 mit
nur einem Inverter.
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Nun wird der Betrieb der Detektionsschaltung 400 für Niedrig-Störimpulse
beschrieben, wenn kein Niedrig-Störimpuls auftritt. Der Differenzverstärker 440 vergleicht
die zweite, am Gate-Anschluss des NMOS-Transistors N2 anliegende
Spannung V2 mit der dritten, am Gate-Anschluss des NMOS-Transistors
N1 anliegenden Spannung V3 und erzeugt ein Vergleichssignal an seinem
Ausgangsanschluss SOUT. Hierbei korrespondiert
das Vergleichssignal mit der Differenz zwischen den Spannungen V2
und V3, d.h. V2–V3.
Weil die zweite Spannung V2 niedriger ist als die dritte Spannung
V3, wird ein Signal mit einem niedrigen logischen Pegel am Ausgangsanschluss
SOUT als Vergleichssignal erzeugt. Deshalb wird
am Detektorausgangsanschluss DOUT ein Detektionssignal 480 mit
hohem Logikpegel erzeugt, so dass die CPU nicht zurückgesetzt
und ein normaler Chipbetrieb ausgeführt wird.
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Wenn ein Niedrig-Störimpuls
auftritt und die Chipbetriebsspannung VDD für eine kurze
Zeit reduziert, vergleicht der Differenzverstärker 440 eine am Gate-Anschluss
des NMOS-Transistors N2 anliegende Störimpulsspannung Vgll2 mit einer
am Gate-Anschluss des NMOS-Transistors N1 anliegenden Störimpulsspannung
Vgll3 und erzeugt ein Vergleichssignal an seinem Ausgangsanschluss
SOUT. Hierbei korrespondiert das Ver gleichssignal
mit der Differenz zwischen den Spannungen Vgll2 und Vgll3, d.h. Vgll2–Vgll3.
Wenn ein Niedrig-Störimpuls
auftritt, wird am Ausgangsanschluss SOUT ein
Vergleichssignal mit einem hohen logischen Pegel erzeugt, weil die
Störimpulsspannung
Vgll2 am zweiten Knoten S2 höher
ist als die Störimpulsspannung
Vgll3 am dritten Knoten S3. Aus diesem Grund wird der NMOS-Transistor
des ersten Inverters 462 leitend geschaltet, um an seinem
Ausgangsanschluss IOUT ein Signal mit einem
niedrigen logischen Pegel, d.h. Massespannung 0V, zu erzeugen.
Dadurch wird das Detektionssignal 480 mit einem niedrigen
logischen Pegel am Detektorausgangsanschluss DOUT erzeugt,
um die CPU zurückzusetzen.
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Nachfolgend wird ein weiteres erfindungsgemäßes Ausführungsbeispiel
im Zusammenhang mit 5 beschrieben.
Die Störimpuls-Detektionsschaltung 500 aus 5 kann gleichzeitig Hoch-Störimpulse
und Niedrig-Störimpulse
erkennen.
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Die Störimpuls-Detektionsschaltung 500 benutzt
zwei Spannungskomparatoren und erkennt Störimpulse in Abhängigkeit
von einem Signal, das als Ergebnis einer UND-Verknüpfung von
gepufferten Ausgangssignalen der beiden Spannungskomparatoren erzeugt
wird.
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Speziell umfasst die Störimpuls-Detektionsschaltung 500 zwei
Spannungskomparatoren, d.h. einen ersten Spannungskomparator 542 und
einen zweiten Spannungskomparator 544, drei Spannungsteiler,
d.h. einen ersten Spannungsteiler 522, einen zweiten Spannungsteiler 524 und
einen dritten Spannungsteiler 526, erste Puffermittel 562,
zweite Puffermittel 564 und ein Mittel 570 zur
Durchführung einer
UND-Verknüpfung. Die
ersten Puffermittel 562 und die zweiten Puffermittel 564 puffern
jeweils Vergleichssignale, die an Ausgangsanschlüssen COMPOUT1 bzw.
COMPOUT2 des ersten bzw. des zweiten Spannungskomparators 542 bzw. 544 erzeugt werden.
Die Mittel 570 zur Durchfüh rung einer UND-Verknüpfung sind
als UND-Gatter ausgeführt, das
Signale empfängt,
die an Ausgangsanschlüssen BOUT1 und BOUT2 der
ersten und zweiten Puffermittel 562 und 564 erzeugt
werden, und führt
eine UND-Verknüpfung
der empfangenen Signale aus, deren Ergebnis ausgegeben wird. Der
erste Spannungsteiler 522 teilt die Chipbetriebsspannung
VDD mit den Widerständen R12 und R11, die in Reihe
zwischen dem Detektoreingangsanschluss DIN und
Masse eingeschleift sind, auf eine erste Spannung V1 herunter und
legt die erste geteilte Spannung V1, d.h. eine erste Detektionsspannung,
an einen ersten invertierenden Eingangsanschluss COMPIN1 des
ersten Spannungskomparators 542 an. Der erste Spannungsteiler
umfasst außerdem
einen Kondensator C1, der zwischen einem Knoten S1 und Masse eingeschleift
ist. Der zweite Spannungsteiler 524 teilt die Chipbetriebsspannung
VDD mit den Widerständen R22 und R21, die in Reihe
zwischen dem Detektoreingangsanschluss DIN und
Masse eingeschleift sind, auf eine zweite Spannung V2 herunter und
legt die zweite geteilte Spannung V2 als Referenzspannung an einen
zweiten Eingangsanschluss COMPIN2, d.h. an
einen nicht-invertierenden Eingangsanschluss, des ersten Spannungskomparators 542 und
des zweiten Spannungskomparators 544 an. Der zweite Spannungsteiler 524 umfasst
außerdem
einen Kondensator C2, der zwischen einem Knoten S2 und Masse eingeschleift
ist. Der dritte Spannungsteiler 526 teilt die Chipbetriebsspannung
VDD mit zwei Widerständen R32 und R31, die in Reihe
zwischen dem Detektoreingangsanschluss DIN und
Masse eingeschleift sind, auf eine dritte Spannung V3 herunter und
legt die geteilte Spannung V3, d.h. eine zweite Detektionsspannung,
an einen ersten invertierenden Eingangsanschluss COMPIN1 des
zweiten Spannungskomparators 544 an. Der dritte Spannungsteiler
umfasst außerdem
einen Kondensator C3, der zwischen einem Knoten S3 und Masse eingeschleift ist.
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In diesem Ausführungsbeispiel wird die zweite
Spannung V2 übereinstimmend
an den ersten und den zweiten Spannungskomparator 542 und 544 angelegt
und hat einen Spannungswert, der zwischen den Spannungswerten der
ersten und dritten Spannung V1 und V3 liegt. Die Kapazität des zweiten
Kondensators C2 ist größer als
die Kapazitäten
des ersten und des dritten Kondensators C1 und C3. Die Kapazitäten des
ersten und dritten Kondensators C1 und C3 sind nahezu identisch
und haben einen sehr kleinen Wert. Entsprechend ist, wenn ein Hoch-Störimpuls
oder ein Niedrig-Störimpuls
auftritt, eine Störimpulsspannung
Vglh2 oder Vgll2 am Knoten S2, der eine Spannung für die zweiten
Eingangsanschlüsse
von jedem Spannungskomparator zur Verfügung stellt, praktisch unverändert, verglichen
mit einem Anfangswert der zweiten Spannung V2, weil die Kapazität des zweiten
Kondensators C2 groß ist. Weil
jedoch die Kapazitäten
des ersten und des dritten Kondensators C1 und C3 sehr klein sind,
werden Störimpulsspannungen
Vglh1 und Vglh3 oder Vgll1 und Vgll3 der Knoten S1 und S3 beträchtlich
vergrößert oder
verkleinert, verglichen mit den Spannungen V1 und V3.
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Speziell umfassen im Fall, dass die
dritte Spannung V3 höher
ist als die erste Spannung V1, d.h. V3>V2>V1,
die ersten Puffermittel 562 zwei Inverter und die zweiten
Puffermittel 564 umfassen einen Inverter. Der erste Spannungskomparator 542 erkennt
Hoch-Störimpulse
und der zweite Spannungskomparator 544 erkennt Niedrig-Störimpulse. Daraus
ergibt sich, dass der Zustand eines Signals am Ausgangsanschluss
des Komparators 542 sich ändert, wenn ein Hoch-Störimpuls
auftritt, und dass der Zustand eines Signals am Ausgangsanschluss des
zweiten Komparators 544 sich ändert, wenn ein Niedrig-Störimpuls
auftritt.
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Nun wird der Betrieb der Störimpuls-Detektionsschaltung 500 beschrieben,
wenn die Schaltung normal betrieben wird. Weil die zweite Spannung
V2 größer ist
als die erste Spannung V1, wird ein Signal mit einem hohen logischen
Pegel am Ausgangsanschluss COMPOUT1 des
ersten Spannungskomparators 542 erzeugt. Das Vergleichssignal
mit hohem Logikpegel wird über
die ersten Puffermittel 562 an die Mittel 570 zur Durchführung einer
UND-Verknüpfung angelegt.
Weil die dritte Spannung V3 größer ist
als die zweite Spannung V2, wird das Vergleichssignal mit niedrigem
logischem Pegel am Ausgangsanschluss COMPOUT2 des
zweiten Spannungskomparators 544 erzeugt. Das Vergleichssignal
mit niedrigem logischem Pegel wird über die zweiten Puffermittel 564 an
die Mittel 570 zur Durchführung einer UND-Verknüpfung angelegt.
Dadurch wird ein Detektionssignal 580 mit einem hohen logischen
Pegel am Ausgangsanschluss DOUT erzeugt.
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Wenn ein Hoch-Störimpuls auftritt, ist die Störimpulsspannung
Vglh1 am ersten Knoten S1 höher
als die Störimpulsspannung
Vglh2 am zweiten Knoten S2, wie in der linken Hälfte von 6A dargestellt ist. Deshalb ändert sich
ein logisch hoher Anfangszustand des Vergleichssignals am Ausgangsanschluss
des ersten Spannungskomparators 542 vor dem Auftreten des
Störimpulses
in einen niedrigen logischen Pegel und das Vergleichssignal am Ausgangsanschluss
des zweiten Spannungskomparators 544 wird auf einem hohen
Pegel gehalten. Daraus ergibt sich, dass ein Detektionssignal mit
einem niedrigen Logikpegel am Detektionsausgangsanschluss COMPOUT erzeugt wird, um die zentrale Prozessoreinheit
CPU zurückzusetzen.
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Andererseits ändert sich, wenn ein Niedrig-Störimpuls
auftritt, ein logisch hoher Anfangszustand des Vergleichssignals
am Ausgangsanschluss des zweiten Spannungskomparators 544 in
einen niedrigen Logikpegel und das Vergleichssignal am Ausgangsanschluss
des ersten Spannungskomparators 542 wird auf einem hohen
Pegel gehalten. Daraus ergibt sich, dass ein Detektionssignal mit
einem niedrigen Logikpegel am Detektorausgangsanschluss COMPOUT erzeugt wird, um die zentrale Prozessoreinheit
CPU zurückzusetzen.
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In der Störimpuls-Detektionsschaltung 500 kann
die Kapazität
des zweiten Kondensators C2 kleiner als die Kapazitäten des
ersten und des drit ten Kondensators C1 und C3 sein. Für diesen
Fall zeigt 6B die Signalformen
der Knotenspannungen, wenn ein Hoch-Störimpuls und ein Niedrig-Störimpuls
auftreten. Da die Kapazität
des zweiten Kondensators C2 niedrig ist, wird die Spannung V2 am
zweiten Knoten S2 beträchtlich
variiert, wenn ein Störimpuls
auftritt. Da die Kapazitäten
des ersten und des dritten Kondensators C1 und C3 klein sind, bleiben die
Spannungen am ersten und dritten Knoten praktisch unverändert. Deshalb ändert sich
das Ausgangssignal des zweiten Spannungskomparators 544,
wenn ein Hoch-Störimpuls
auftritt, und das Ausgangssignal des ersten Spannungskomparators 542 ändert sich,
wenn ein Niedrig-Störimpuls
auftritt. Daraus ergibt sich, dass sowohl Niedrig-Störimpulse
als auch Hoch-Störimpulse
erkannt werden können.
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Eine intelligente Karte (Smart Card) 1000 mit einem
eingebetteten integrierten Schaltungschip mit einer Störimpuls-Detektionsschaltung
ist in 7 schematisch
dargestellt. Die intelligente Karte 1000 umfasst einen
Störimpulsdetektor 700,
eine Sensorschaltung 705 mit einem Temperatursensor, einem Sensor
zur Erkennung von Lichteinfall, einem Frequenzsensor und einem Passivierungsentfernungssensor,
eine Eingabe/Ausgabeschaltung (E/A-Schaltung) 717, eine
zentrale Prozessoreinheit (GPU) 900, eine Sicherheitssteuerschaltung 730,
verschiedene Speicher wie ein EEPROM 721, ein ROM 723 und ein
RAM 719, einen Registerbereich 725 und eine Hochfrequenzschnittstelle
(HF-Schnittstelle) 715. Ein Kartenbetriebssystem (COS)
für den
Betrieb des integrierten Schaltungschips und Basisbefehle sind im ROM 723 einprogrammiert.
Das EEPROM 721 speichert Datensätze einschließlich Benutzerdaten,
beispielsweise Daten des Kartenausgebers, die vor einem externen
Zugriff durch die CPU 900 und das Kartenbetriebssystem
geschützt
sind, und Funktionen zur Realisierung von verschiedenen Anwendungen.
Das RAM 719 wird benutzt, um temporäre Daten zu handhaben und um
ein Zwischenberechnungsergebnis zu korrigieren.
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Wenn der Störimpulsdetektor 700 und/oder die
Sensorschaltung 705 ein Detektionssignal mit einem niedrigen
logischen Pegel ausgeben, wird die CPU 900 zurückgesetzt.
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Tritt ein Hoch-Störimpuls auf, der temporär bei einer
normalen Kommunikation zwischen der intelligenten Karte 1000 und
einem nicht dargestellten Kartenterminal die Betriebs-, d.h. Versorgungsspannung
für den
integrierten Schaltungschip verändert, dann
wird ein Detektionssignal mit einem niedrigen logischen Pegel durch
den Störimpulsdetektor 700 erzeugt,
um die CPU 900 zurückzusetzen.
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Bei einem bevorzugten, in 8 dargestellten Ausführungsbeispiel
wird die Störimpuls-Detektionsschaltung
aus 5 bei der intelligenten
Karte aus 7 verwendet.
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Wie bereits beschrieben wurde, umfasst
ein erster Spannungskomparator 842 zur Erkennung eines
Hoch-Störimpulses
und ein zweiter Spannungskomparator 844 zur Erkennung eines
Niedrig-Störimpulses
jeweils einen Differenzverstärker
und einen NMOS-Transistor N5. Die Differenzverstärker umfassen jeweils zwei
PMOS-Transistoren P1 und P2 und zwei NMOS-Transistoren N1 und N2.
Der NMOS-Transistor N5 empfängt
eine vorbestimmte Vorspannung Vbgp 810 von einer nicht
dargestellten Vorspannungsschaltung und versorgt den zugehörigen Differenzverstärker über seinen
Gate-Anschluss mit der empfangenen Vorspannung.
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Erste Puffermittel 862 mit
zwei Invertern sind an einen Ausgangsanschluss SOUT1 des
ersten Spannungskomparators 842 gekoppelt. Zweite Puffermittel 864 mit
einem Inverter sind an einen Ausgangsanschluss SOUT2 des
zweiten Spannungskomparators 844 gekoppelt. Die Ausgangssignale
der beiden Puffermittel werden jeweils in ein UND-Gatter 870 eingegeben,
das eine UND-Verknüpfung
durchführt.
Durch die UND-Verknüpfung
wird ein Detektionssignal an einen Detektorausgangsanschluss DOUT ausgegeben.
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Ein erster Spannungsteiler 822 teilt
die Versorgungsspannung, um den ersten Spannungskomparator 842 mit
einer ersten Spannung V1 zu versorgen. Ein dritter Spannungsteiler 826 teilt
die Versorgungsspannung, um den zweiten Spannungskomparator 844 mit
einer dritten Spannung V3 zu versorgen. Ein zweiter Spannungsteiler 824 versorgt
den ersten und den zweiten Spannungskomparator 842 und 844 gemeinsam
mit einer zweiten Spannung V2. Wie bereits ausgeführt wurde,
umfasst jeder der Spannungsteiler 822, 824 und 826 Widerstände, die zwischen
einem Detektoreingangsanschluss und Masse eingeschleift sind, und
einen Kondensator, der zwischen einem Knoten und Masse eingeschleift ist.
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Verglichen mit der Störimpuls-Detektionsschaltung 500 aus 5 umfasst die Störimpuls-Detektionsschaltung 800 aus 8 zusätzlich Mittel zum Anhalten
der Störimpulsdetektion
und ein ODER-Gatter 890, das als UND-Verknüpfungsmittel wirkt.
Das UND-Verknüpfungsmittel 890 empfängt das
Detektionssignal vom Detektorausgangsanschluss DOUT als
ein Eingangssignal und ein Störimpulsstopsignal
GSTOP von einem Ausgangsanschluss DGSTO
P der Mittel zum Anhalten der Störimpulsdetektion
als anderes Eingangssignal. Dies wird benutzt, um den Betrieb der
Störimpuls-Detektionsschaltung
für eine
Zeitdauer für
den Fall anzuhalten, dass die Leistungsfähigkeit des integrierten Schaltungschips
getestet werden soll.
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Wenn es notwendig ist, die Erkennung
eines Störimpulses
anzuhalten, sorgen die Mittel zum Anhalten der Störimpulserkennung
stets dafür,
dass ein Vergleichssignal am Ausgangsanschluss SOUT1 des ersten
Spannungskomparators 842 zum Erkennen eines Hoch-Störimpulses
auf einem niedrigen logischen Pegel ist und dass ein Vergleichssignal am Ausgangsanschluss
SOUT2 des zweiten Spannungskomparators 844 zum
Erkennen eines Niedrig-Störimpulses
auf einem hohen logischen Pegel ist. Deshalb wird unabhängig vom
Auftreten eines Störimpulses
das Detektionssignal am Detektorausgangsanschluss DOUT1 auf
einen niedrigen logischen Pegel gelegt und das Detektionssignal
am Detektorausgangsanschluss DOUT2 wird
auf einen hohen logischen Pegel gelegt. Dadurch ist ein Ausgangsanschluss
DOUT_F des ODER-Gatters immer auf einem hohen
logischen Pegel.
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Speziell umfassen die Mittel zum
Anhalten der Störimpulserkennung
einen ersten Inverter S_INV1 910 zur Signalzuführung, einen
zweiten Inverter S_INV2 930 zur Signalzuführung, einen
ersten Inverter D_INV1 950 zur Verzögerung und einen zweiten Inverter
D_INV2 970 zur Verzögerung.
Die Inverter S_INV1 910 und S_INV2 930 zur Signalzufuhr
sind in Reihe geschaltet und mit einer nicht dargestellten Ausschaltsignalquelle
verbunden, um ein Detektionsstopsignal GSTOP 1200 zu empfangen. Die
Inverter D_INV1 950 und D_INV2 970 zur Verzögerung sind
in Reihe geschaltet, um das Detektionsstopsignal GSTOP 1200 zu
empfangen. Ein Ausgangssignal des zweiten Inverters D_INV2 970 zur Verzögerung ist
an einen Detektionsstopausgangsanschluss DGSTOP gekoppelt,
um an das ODER-Gatter 890 ausgegeben zu werden.
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Die Mittel zum Anhalten der Störimpulserkennung
umfassen weiter drei Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P1, S_P2 und
S_P3, zwei Ausschalt-PMOS-Transistoren
S_P4 und S_P5, einen Pull-up-PMOS-Transistor PU_P1 und einen Pull-down-NMOS-Transistor
PD_N1. Die drei Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P1, S_P2 und S_P3 schalten
die Chipversorgungsspannung, die jeweils an die Spannungsteiler 822, 824 und 826 angelegt wird,
in Abhängigkeit
vom Zustand des Detektionsstopsignals GSTOP ab. Die zwei Ausschalt-PMOS-Transistoren
S_P4 und S_P5 schalten die Chipversorgungsspannung ab, die jeweils
an die Spannungskomparatoren 842 und 844 angelegt
ist. Der Pull-up- PMOS-Transistor
PU_P1 hebt den Pegel eines Eingangssignals, d.h. einer Spannung
am Knoten S4, das in die ersten Puffermittel 862 eingegeben wird,
auf einen Betriebsspannungspegel an. Der Pull-down-NMOS-Transistor PD_N1
senkt den Pegel eines Eingangssignals, d.h. einer Spannung am Knoten
S5, das in die zweiten Puffermittel 864 eingegeben wird,
auf einen Massespannungspegel ab. Ein Gate-Anschluss des Pull-up-PMOS-Transistor PU_P1
ist mit dem ersten Inverter S_INV1 910 zur Signalzuführung gekoppelt,
um ein invertiertes Signal GSTOP des Detektionsstopsignals GSTOP
zu empfangen. Die Gate-Anschlüsse
des Pull-down-NMOS-Transistor PD_N1, der drei Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P1,
S_P2 und S_P3 und der zwei Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P4 und S_P5 sind mit
dem zweiten Inverter S_INV2 zur Signalzuführung gekoppelt.
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Der erste Inverter S_INV1 zur Signalzuführung umfasst
einen PMOS-Transistor
GS_P1 und einen NMOS-Transistor GS_N1. Der zweite Inverter S_INV2
zur Signalzuführung
umfasst einen PMOS-Transistor GS_P2 und einen NMOS-Transistor GS_N2.
Ein Gate-Anschluss des PMOS-Transistors GS_P1 und ein Gate-Anschluss
des NMOS-Transistors
GS_N1 sind miteinander verbunden, um das Detektionsstopsignal GSTOP
zu empfangen. Ein Drain-Anschluss des PMOS-Transistors GS_P1 und ein Drain-Anschluss
des NMOS-Transistors GS_N1 sind miteinander verbunden, um einen Ausgangsanschluss
des ersten Inverters S_INV1 zur Signalzuführung zu bilden. Ein Source-Anschluss des NMOS-Transistors
GS_N1 ist mit einem Masseanschluss gekoppelt. Ein Gate-Anschluss
des PMOS-Transistors GS_P2 und ein Gate-Anschluss des NMOS-Transistors
GS_N2 sind miteinander verbunden, um mit dem Ausgangsanschluss des
ersten Inverters S_INV1 zur Signalzuführung gekoppelt zu sein. Ein
Source-Anschluss des PMOS-Transistors GS_P2 empfängt die Chipversorgungsspannung.
Ein Drain-Anschluss des PMOS-Transistors GS_P2 und ein Drain-Anschluss des NMOS-Transistors
GS_N2 sind miteinander verbunden, um einen Ausgangsanschluss des
zweiten Inverters 930 zur Signalzuführung zu bilden. Ein Source-Anschluss
des NMOS-Transistors GS_N2 ist mit dem Masseanschluss gekoppelt.
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Die Source-Anschlüsse der drei Ausschalt-PMOS-Transistoren
S_P1, S_P2 und S_P3 sind mit dem Detektoreingangsanschluss DIN verbunden, um die Chipversorgungsspannung
zu empfangen. Die Gate-Anschlüsse der
drei Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P1, S_P2 und S_P3 sind mit dem
Ausgangsanschluss des zweiten Inverters S INV2 zur Signalzuführung verbunden,
um das Detektionsstopsignal GSTOP zu empfangen. Die Drain-Anschlüsse der
drei Ausschalt-PMOS-Transistoren
S_P1, S_P2 bzw. S_P3 sind jeweils mit einem der Widerstände R12,
R22 und R32 gekoppelt. Hierbei sind die Widerstände R12, R22 und R32 jeweils mit
einem der Knoten S1, S2 und. S3 gekoppelt. Die Source-Anschlüsse der
beiden Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P4 und S_P5 sind mit dem Detektoreingangsanschluss
DIN verbunden, um die Chipversorgungsspannung
zu empfangen. Die Gate-Anschlüsse
der beiden Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P4 und S_P5 sind mit dem
Ausgangsanschluss des zweiten Inverters S_INV2 zur Signalzuführung verbunden,
um das Detektionsstopsignal GSTOP zu empfangen. Die Drain-Anschlüsse der beiden
Ausschalt-PMOS-Transistoren S_P4 bzw. S_P5 sind jeweils mit einem
der Spannungskomparatoren 842 und 844 gekoppelt.
Ein Gate-Anschluss des Pull-up-PMOS-Transistors PU_P1 ist mit dem Ausgangsanschluss
des ersten Inverters S_INV1 zur Signalzuführung gekoppelt, um das invertierte
Signal GSTOP des Detektionsstopsignals
GSTOP zu empfangen. Ein Source-Anschluss des Pull-up-PMOS-Transistors
PU_P1 ist mit dem Detektionseingangsanschluss DIN gekoppelt,
um die Chipversorgungsspannung zu empfangen. Ein Drain-Anschluss
des Pull-up-PMOS-Transistors PU_P1 ist mit dem Knoten S4 verbunden,
der an den Ausgangsanschluss SOUT1 des ersten
Spannungskomparators 842 gekoppelt ist. Ein Gate-Anschluss
des Pull-down-NMOS-Transistors
PD_N1 ist mit dem Ausgangsanschluss des zweiten Inverters 930 S_INV2
zur Signalversorgung verbunden, um das Detektionsstopsignal GSTOP
zu empfangen. Ein Source-Anschluss des Pull-down-NMOS-Transistors PD_N1
ist mit Masse verbunden. Ein Drain-Anschluss des Pull-down-NMOS-Transistor
PD_N1 ist mit dem Knoten S5 verbunden, der an den Ausgangsanschluss
SOUT2 des zweiten Spannungskomparators 844 gekoppelt
ist.
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Der erste Inverter 950 zur
Verzögerung
umfasst erste bis vierte PMOS-Transistoren
D_P1, D_P2, D_P3 und D_P4 und einen NMOS-Transistor D_N1. Die Gate-Anschlüsse der
PMOS-Transistoren D_P1, D P2, D_P3 und D_P4 sind mit dem Detektionsstopsignal
GSTOP 1200 gekoppelt. Ein Source-Anschluss des NMOS-Transistors
D_N1 ist mit dem Masseanschluss gekoppelt. Die PMOS-Transistoren
D_P1, D_P2, D_P3 und D_P4 sind in Reihe geschaltet und mit der Chipversorgungsspannung
VDD gekoppelt. Ein Source-Anschluss des
ersten PMOS-Transistors
D_P1 ist mit der Chipversorgungsspannung VDD gekoppelt
und ein Drain-Anschluss des vierten PMOS-Transistors D_P4 ist mit einem
Drain-Anschluss des NMOS-Transistors D_N1 gekoppelt und bildet einen
Ausgangsanschluss des ersten Verzögerungs-Inverters D_INV1. Ein
Verzögerungskondensator
Cd ist zwischen dem Ausgangsanschluss des ersten Verzögerungs-Inverters D_INV1
und dem Masseanschluss eingeschleift. Der zweite Inverter D_INV2
zur Verzögerung
umfasst einen PMOS-Transistor D_P5 und einen NMOS-Transistor D N2.
Ein Gate-Anschluss des PMOS-Transistors D_P5 und ein Gate-Anschluss
des NMOS-Transistor D_N2 sind miteinander verbunden, um an den Ausgangsanschluss
des ersten Inverters D_INV1 zur Verzögerung gekoppelt zu werden.
Ein Drain-Anschluss des PMOS-Transistors D_P5 und ein Drain-Anschluss
des NMOS-Transistors D_N2 sind miteinander verbunden und bilden
einen Ausgangsanschluss DGSTOP, der mit
einem Eingangsanschluss des ODER-Gatters 890 gekoppelt
ist. Ein Source-Anschluss
des PMOS-Transistors D_P5 ist mit der Chipversorgungs spannung VDD gekoppelt und ein Source-Anschluss des
NMOS-Transistors
D_N2 ist mit dem Masseanschluss gekoppelt.
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Die Funktion der Störimpuls-Detektionsschaltung
mit den Mitteln zum Anhalten der Störimpulserkennung aus 8 wird nachfolgend beschrieben.
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Wenn es notwendig ist, die Störimpulserkennung
für eine
bestimmte Zeitdauer anzuhalten, wird von der Detektionsstopsignalquelle
das Detektionsstopsignal GSTOP 1200 mit einem hohen logischen Pegel
erzeugt. Dadurch wird die Spannung am Knoten S4 zwischen dem ersten
Spannungskomparator 842 und den ersten Puffermitteln 862 auf
einem hohen Pegel, d.h. auf dem Pegel der Versorgungsspannung VDD, gehalten, und die Spannung am Knoten
S5 zwischen dem zweiten Spannungskomparator 844 und den
zweiten Puffermitteln 864 wird auf einem niedrigen Pegel
gehalten, d.h. auf dem Pegel der Massespannung 0V. Dadurch
werden durch jede der Puffermittel Signale mit einem hohen Logikpegel
erzeugt und in die UND-Verknüpfungsmittel 870 eingegeben,
um ein Detektionssignal mit einem hohen Logikpegel am Detektorausgangsanschluss
DOUT zu erzeugen. Das Detektionssignal mit
einem hohen Logikpegel wird am anderen Ende in das ODER-Gatter 890 eingegeben,
so dass ein Signal mit einem hohen Logikpegel am Ausgangsanschluss
DOUT_F des ODER-Gatters 890 erzeugt
wird, um die Störimpulserkennung
anzuhalten.
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Jedoch werden, wenn ein Detektionsstopsignal
GSTOP von der Detektionsstopsignalquelle empfangen wird, die PMOS-Transistoren
D_P1, D_P2, D_P3 und D_P4 des ersten Inverters D_INV1 zur Verzögerung alle
leitend geschaltet und der NMOS-Transistor D_N1 wird sperrend geschaltet. Deshalb
nimmt das Ausgangssignal des ersten Inverters D_INV1 zur Verzögerung einen
hohen Pegel an und am Ausgangsanschluss DGSTOP des
zweiten Inverters D_INV2 zur Verzögerung wird ein Signal mit einem
niedrigen Logikpegel erzeugt, das am anderen Ende in das ODER-Gatter 890 eingegeben
wird. Die PMOS-Transistoren der Spannungsteiler 822, 824 und 826 und
der Spannungskomparatoren 842 und 844 sind leitend
geschaltet und der Pull-up-PMOS-Transistor PU_P1 und der Pull-down-NMOS-Transistor
PD_N1 sind sperrend geschaltet. Deshalb arbeitet die in 8 dargestellte Störimpuls-Detektionsschaltung
auf die gleiche Weise wie die in 5 dargestellte
Störimpuls-Detektionsschaltung.
Deshalb ändert
sich der Zustand des Ausgangs von jedem Spannungskomparator entsprechend
dem Auftreten eines Störimpulses,
so dass die Störimpuls-Detektionsschaltung
normal arbeitet. Die UND-Verknüpfung
zur Erzeugung des Signals am Ausgangsanschluss dieser Störimpuls-Detektionsschaltung
wird von einem UND-Gatter durchgeführt. Dadurch werden die Signale
an den Ausgangsanschlüssen
an das ODER-Gatter 890 gekoppelt. Weil vom zweiten Inverter
zur Verzögerung
am Ausgangsanschluss DGSTOP ein Signal mit einem niedrigen Logikpegel
erzeugt wird, ist das Ausgangssignal des ODER-Gatters 890 vom
Ausgangssignal des UND-Gatters 870 abhängig.