DE102011000835C5 - Abtastmikroskop und Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes - Google Patents

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CN201280005556.9A CN103339547B (zh) 2011-02-21 2012-02-20 扫描显微镜和用于物体的光显微成像的方法
PCT/EP2012/052863 WO2012113752A1 (de) 2011-02-21 2012-02-20 Abtastmikroskop und verfahren zur lichtmikroskopischen abbildung eines objektes
JP2013554859A JP5642301B2 (ja) 2011-02-21 2012-02-20 走査型顕微鏡、および試料の光学検鏡画像形成のための方法
US13/978,165 US9030734B2 (en) 2011-02-21 2012-02-20 Scanning microscope, and method for light microscopy imaging of a specimen

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110687670A (zh) * 2019-10-16 2020-01-14 西湖大学 平铺光片显微镜及其使用方法

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5220172B2 (ja) * 2011-08-22 2013-06-26 キヤノン株式会社 画像取得装置、画像取得システム、および対物光学系
JP2014056078A (ja) * 2012-09-12 2014-03-27 Canon Inc 画像取得装置、画像取得システム及び顕微鏡装置
DE102012218920A1 (de) * 2012-10-17 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probe
DE102012110077A1 (de) * 2012-10-23 2014-06-26 Karlsruher Institut für Technologie Mikroskop mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl in Form einer Lichtscheibe
US9874736B2 (en) * 2013-04-29 2018-01-23 The Regents Of The University Of California Apparatus and method for an inclined single plane imaging microscope box (iSPIM box)
DE102013105586B4 (de) 2013-05-30 2023-10-12 Carl Zeiss Ag Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
DE102013211426A1 (de) * 2013-06-18 2014-12-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und optische Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben
JP6210754B2 (ja) * 2013-06-24 2017-10-11 オリンパス株式会社 走査型光学顕微鏡
GB2520541A (en) * 2013-11-25 2015-05-27 European Molecular Biology Lab Embl Optical arrangement for imaging a sample
US10061111B2 (en) 2014-01-17 2018-08-28 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Systems and methods for three dimensional imaging
DE102014102215A1 (de) 2014-02-20 2015-08-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102014104977B4 (de) 2014-04-08 2023-11-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie sowie Mikroskopobjektiv für die Lichtblattmikroskopie
EP4235255B1 (en) 2014-04-08 2026-05-06 European Molecular Biology Laboratory An optical arrangement and method for imaging a sample
WO2015164843A1 (en) * 2014-04-24 2015-10-29 Vutara, Inc. Galvo scanning mirror for super-resolution microscopy
DE102014113827A1 (de) * 2014-09-24 2016-03-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
EP3035101A1 (en) * 2014-12-17 2016-06-22 Olympus Corporation Scanning apparatus and confocal observation apparatus
JP6671725B2 (ja) * 2014-12-23 2020-03-25 グローバル・ライフ・サイエンシズ・ソリューションズ・ユーエスエー・エルエルシー 選択的平面照明顕微鏡法機器
DE102015103802A1 (de) * 2015-03-16 2016-09-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe
WO2016166151A1 (de) * 2015-04-13 2016-10-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer probe
JP6914241B2 (ja) * 2015-07-17 2021-08-04 ザ トラスティース オブ コロンビア ユニバーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク 3次元イメージングのためのシステムおよび方法
CN104991402B (zh) * 2015-07-23 2018-01-09 中国科学院广州生物医药与健康研究院 一种自动对焦的装置及方法
JP6590366B2 (ja) * 2015-09-25 2019-10-16 オリンパス株式会社 顕微鏡装置、オートフォーカス装置、及び、オートフォーカス方法
CN105467572B (zh) * 2016-01-18 2018-06-01 北京大学 单波长实现多光子脉冲sted-spim显微系统
LU93021B1 (de) 2016-04-08 2017-11-08 Leica Microsystems Verfahren und Mikroskop zum Untersuchen einer Probe
EP3465316A1 (de) * 2016-06-03 2019-04-10 Leica Microsystems CMS GmbH Lichtblattmikroskop und mikroskopisches verfahren mit einem lichtblattmikroskop
EP3497501B1 (de) 2016-08-15 2022-01-19 Leica Microsystems CMS GmbH Lichtblattmikroskop
JP7109423B2 (ja) 2016-08-15 2022-07-29 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ライトシート顕微鏡
JP7130628B2 (ja) 2016-09-16 2022-09-05 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 光学顕微鏡
DE102016011227C5 (de) 2016-09-19 2020-04-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem und Verfahren zur Abbildung einer Probe unter Verwendung eines Mikroskopsystems
DE102016119268B3 (de) * 2016-10-10 2017-12-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Schiefebenenmikroskop
DE102016119727A1 (de) * 2016-10-17 2018-04-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Strahlmanipulation für ein Scanning-Mikroskop und Mikroskop
DE102017101829A1 (de) * 2017-01-31 2018-08-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Auflösungssteigerung eines Laser-Scanning-Mikroskops
DE102017214189A1 (de) * 2017-08-15 2019-02-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Betrieb einer Mikroskopieranordnung und Mikroskopieranordnung mit einem ersten Mikroskop und mindestens einem weiteren Mikroskop
DE102018203247A1 (de) * 2018-03-05 2019-09-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Vorrichtung, optisches Modul und Mikroskop zum Abtasten großer Proben
DE102018204940B4 (de) * 2018-03-29 2023-03-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Optisches System mit verkippter Beleuchtungsebene und Verfahren zum Beleuchten eines Probenvolumens in einem optischen System mit verkippter Beleuchtungsebene
WO2020056423A1 (en) * 2018-09-14 2020-03-19 Umech Technologies, Llc Multi-range imaging system and method
ES2749742B2 (es) * 2018-09-21 2021-04-06 Univ Madrid Carlos Iii Microscopio y procedimiento de haz láser plano para muestras extensas
LU101084B1 (de) * 2018-12-21 2020-06-22 Abberior Instruments Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum punktförmigen Beleuchten einer Probe in einem Mikroskiop
DE102018222876A1 (de) * 2018-12-21 2020-06-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und Verfahren zur mikroskopischen Untersuchung großer Proben
WO2020176591A1 (en) * 2019-02-27 2020-09-03 Calico Life Sciences Llc Oblique plane microscopy system and method
DE102019109832B3 (de) * 2019-04-12 2020-04-23 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtblattmikroskop und Verfahren zum Erfassen einer Messgröße
DE102019110157B4 (de) * 2019-04-17 2021-06-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Fluoreszenz-Rastermikroskop und Verfahren zur Abbildung einer Probe
CN110960198B (zh) * 2019-11-06 2021-09-24 浙江大学 基于多维调节架的近红外二区共聚焦显微成像系统
WO2021097300A1 (en) * 2019-11-13 2021-05-20 University Of Washington Open-top light-sheet microscopy with a non-orthogonal arrangement of illumination and collection objectives
FR3103894B1 (fr) * 2019-12-03 2024-12-13 Damae Medical Dispositifs et procédés de microscopie à balayage linéaire
EP3929567A1 (en) * 2020-06-25 2021-12-29 Leica Microsystems CMS GmbH Method and device for optically examining a biological sample
WO2022026952A1 (en) * 2020-07-31 2022-02-03 The Board Of Regents Of The University Of Texas System Systems and methods for live projection imaging for fluorescence microscopy
DE102020213714A1 (de) 2020-11-01 2022-05-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur Lichtfeldmikroskopie mit Lichtblattanregung sowie zur konfokalen Mikroskopie
CN115685515A (zh) * 2022-11-04 2023-02-03 华中科技大学 一种单物镜光片的共轴成像系统及方法
LT7019B (lt) 2023-01-24 2023-08-25 Vilniaus Gedimino technikos universitetas Erdvinio mikroobjekto matmenų ir jo paviršiaus reljefo nustatymo sistema ir būdas
CN117031720B (zh) * 2023-09-28 2023-12-29 微纳动力(北京)科技有限责任公司 一种自动化集成光学装置及系统
US20250347978A1 (en) * 2024-05-10 2025-11-13 Perceptron, Inc. Liquid lens shutter synchronization for optical profilometry

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4416558C2 (de) 1994-02-01 1997-09-04 Hell Stefan Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5952668A (en) 1994-07-15 1999-09-14 Baer; Stephen C. Resolution in microscopy and microlithography
DE10055176A1 (de) * 2000-11-08 2002-05-23 Leica Microsystems Anordnung zur visuellen und quantitativen 3-D-Untersuchung von Proben
JP2005003909A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Japan Science & Technology Agency 光学系の薄層斜光照明法
JP2005140925A (ja) * 2003-11-05 2005-06-02 Nikon Corp 顕微鏡
DE102005027077A1 (de) 2004-11-04 2006-05-11 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtscheibenmikroskop
DE102005007756A1 (de) 2005-02-16 2006-08-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop
WO2006127692A2 (en) 2005-05-23 2006-11-30 Hess Harald F Optical microscopy with phototransformable optical labels
DE102006021317B3 (de) 2006-05-06 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
US20080032414A1 (en) 2006-08-07 2008-02-07 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction image resolution and other imaging techniques
EP1912089A1 (de) * 2002-12-09 2008-04-16 Europäisches Laboratorium Für Molekularbiologie (Embl) Mikroskop mit der Beobachtungsrichtung senkrecht zur Beleuchtungsrichtung
DE102007015063A1 (de) * 2007-03-29 2008-10-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007045897A1 (de) 2007-09-26 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen Abbildung einer Probe
US20090135432A1 (en) 2004-11-23 2009-05-28 Robert Eric Betzig Optical lattice microscopy
DE102008019957A1 (de) * 2008-04-21 2009-11-26 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum Bestrahlen einer Probe mit Licht und Fluoreszenzlichtmikroskop mit einer Beleuchtungseinheit zum Bestrahlen einer Probe mit Licht
DE102008024568A1 (de) 2008-05-21 2009-12-03 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer interessierenden Struktur einer Probe
WO2010012980A1 (en) 2008-07-31 2010-02-04 Imperial Innovations Limited Optical arrangement for oblique plane microscopy
DE102009044984A1 (de) * 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10063276C2 (de) * 2000-12-19 2002-11-07 Leica Microsystems Scanmikroskop
JP2009229715A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Olympus Corp 顕微鏡
JP2010015026A (ja) * 2008-07-04 2010-01-21 Olympus Corp 超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子
JP5208825B2 (ja) 2008-09-12 2013-06-12 オリンパス株式会社 光学顕微鏡
WO2011059833A2 (en) * 2009-10-29 2011-05-19 California Institute Of Technology Dual-mode raster point scanning/light sheet illumination microscope

Patent Citations (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4416558C2 (de) 1994-02-01 1997-09-04 Hell Stefan Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5952668A (en) 1994-07-15 1999-09-14 Baer; Stephen C. Resolution in microscopy and microlithography
DE10055176A1 (de) * 2000-11-08 2002-05-23 Leica Microsystems Anordnung zur visuellen und quantitativen 3-D-Untersuchung von Proben
EP1912089A1 (de) * 2002-12-09 2008-04-16 Europäisches Laboratorium Für Molekularbiologie (Embl) Mikroskop mit der Beobachtungsrichtung senkrecht zur Beleuchtungsrichtung
JP2005003909A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Japan Science & Technology Agency 光学系の薄層斜光照明法
JP2005140925A (ja) * 2003-11-05 2005-06-02 Nikon Corp 顕微鏡
DE102005027077A1 (de) 2004-11-04 2006-05-11 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtscheibenmikroskop
US20090135432A1 (en) 2004-11-23 2009-05-28 Robert Eric Betzig Optical lattice microscopy
DE102005007756A1 (de) 2005-02-16 2006-08-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop
WO2006127692A2 (en) 2005-05-23 2006-11-30 Hess Harald F Optical microscopy with phototransformable optical labels
DE102006021317B3 (de) 2006-05-06 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
WO2007128434A1 (de) 2006-05-06 2007-11-15 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden abbilden einer struktur einer probe
US20080032414A1 (en) 2006-08-07 2008-02-07 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction image resolution and other imaging techniques
DE102007015063A1 (de) * 2007-03-29 2008-10-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007045897A1 (de) 2007-09-26 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen Abbildung einer Probe
DE102008019957A1 (de) * 2008-04-21 2009-11-26 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum Bestrahlen einer Probe mit Licht und Fluoreszenzlichtmikroskop mit einer Beleuchtungseinheit zum Bestrahlen einer Probe mit Licht
DE102008024568A1 (de) 2008-05-21 2009-12-03 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer interessierenden Struktur einer Probe
WO2010012980A1 (en) 2008-07-31 2010-02-04 Imperial Innovations Limited Optical arrangement for oblique plane microscopy
DE102009044984A1 (de) * 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop

Non-Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A.H. Voie et al.: „Orthogonal-plane fluorescence optical sectioning: three-dimensional imaging of macroscopic biological specimens", Journal of Microscopy 170, 229-236 (1993)
C. Dunsby: „Optically sectioned imaging by oblique plane mirror microscopy", Optics Express Vol. 16, 25 (2008)
Current Opinion in Neurobiology 2009, 18, Seiten 1 bis 9 *
F. Fahrbach, A. Rohrbach: „Microscopy with non diffracting beams", FOM 2009, Krakau
J. Huisken, J. Swoger, F. Del Bene, J. Wittbold, E. H. K. Stelzer: „Optical sectioning deep inside live embryos by selective plane illumination microscopy", Science 305, 1007 (2004)
NATURE METHODS, Bd. 5, Nr. 2, Februar 2008, Seiten 159 bis 161 *
OPTICS EXPRESS, Bd. 18, Nr. 23, November 2010, Seiten 24229 bis 24244 *
OPTICS LETTERS, Bd. 32, Nr. 17, September 2007, Seiten 2608 bis 2610 *
Sciencexpress, 9. Oktober 2008, Seiten 1 bis 6 und Anlagen *
The Plant Journal 2008, Bd. 53, Seiten 186 bis 196 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110687670A (zh) * 2019-10-16 2020-01-14 西湖大学 平铺光片显微镜及其使用方法

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