DE10111710B4 - Befestigungsverfahren für elektrische Bauteile - Google Patents
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- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/85399—Material
- H01L2224/854—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/85401—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of less than 400°C
- H01L2224/85411—Tin (Sn) as principal constituent
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- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/85399—Material
- H01L2224/854—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/85417—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/85424—Aluminium (Al) as principal constituent
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- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
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- H01L2224/854—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/85438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/85439—Silver (Ag) as principal constituent
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- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/85399—Material
- H01L2224/854—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/85438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/85444—Gold (Au) as principal constituent
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- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
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- H01L2224/854—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/85438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/85447—Copper (Cu) as principal constituent
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- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
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- H01L2224/85438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/85455—Nickel (Ni) as principal constituent
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- H01L2224/85463—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than 1550°C
- H01L2224/85464—Palladium (Pd) as principal constituent
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- H01L2224/91—Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
- H01L2224/92—Specific sequence of method steps
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- H01L2224/91—Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
- H01L2224/92—Specific sequence of method steps
- H01L2224/922—Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
- H01L2224/9222—Sequential connecting processes
- H01L2224/92242—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
- H01L2224/92247—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
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- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
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Abstract
Befestigungsverfahren für wenigstens ein elektronisches Bauteil mit den folgenden Schritten:
Anordnen eines leitfähigen Verbindungsmaterials (40) über einem Verdrahtungssubstrat (10), welches einen Verdrahtungsabschnitt (12) enthält;
Anordnen des wenigstens einen elektronischen Bauteiles (20) auf dem Verdrahtungssubstrat (10) mittels dem leitfähigen Verbindungsmaterial (40);
Ausbilden eines Drahtbondierkissens (50) aus Metall an einem Abschnitt des Verdrahtungsabschnittes (12), der drahtbondiert werden soll; und
Drahtbondieren des elektronischen Bauteils (20) an dem Verdrahtungsabschnitt (12) über das Drahtbondierkissen (50), wobei
das Drahtbondierkissen (50) ausgebildet wird, bevor das leitfähige Verbindungsmaterial über dem Verdrahtungssubstrat (10) angeordnet wird, und
das Drahtbondierkissen (50) durch Abreiben des Abschnittes des Verdrahtungsabschnittes (12), der drahtbondiert werden soll, mit einem Bauteil (K3) gebildet wird, so dass das Drahtbondierkissen (50) in Filmform ausgebildet wird.
Anordnen eines leitfähigen Verbindungsmaterials (40) über einem Verdrahtungssubstrat (10), welches einen Verdrahtungsabschnitt (12) enthält;
Anordnen des wenigstens einen elektronischen Bauteiles (20) auf dem Verdrahtungssubstrat (10) mittels dem leitfähigen Verbindungsmaterial (40);
Ausbilden eines Drahtbondierkissens (50) aus Metall an einem Abschnitt des Verdrahtungsabschnittes (12), der drahtbondiert werden soll; und
Drahtbondieren des elektronischen Bauteils (20) an dem Verdrahtungsabschnitt (12) über das Drahtbondierkissen (50), wobei
das Drahtbondierkissen (50) ausgebildet wird, bevor das leitfähige Verbindungsmaterial über dem Verdrahtungssubstrat (10) angeordnet wird, und
das Drahtbondierkissen (50) durch Abreiben des Abschnittes des Verdrahtungsabschnittes (12), der drahtbondiert werden soll, mit einem Bauteil (K3) gebildet wird, so dass das Drahtbondierkissen (50) in Filmform ausgebildet wird.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Montage- oder Befestigungsverfahren für elektrische oder elektronische Bauteile, bei welchem ein elektrisches Bauteil mit einem Verdrahtungsabschnitt drahtkontaktiert oder drahtgebondet wird.
- Bei einem herkömmlichen Montageverfahren wird für gewöhnlich ein leitfähiges Verbindungsmaterial, beispielsweise ein leitfähiger Kleber oder ein Lot, über einem Keramiksubstrat angeordnet, auf dessen Oberfläche mit Kupfer oder Silber ein Verdrahtungsabschnitt aufplattiert ist, und ein elektronisches Bauteil, beispielsweise ein IC-Chip, wird auf dem leitfähigen Verbindungsmaterial angeordnet. Danach werden der Verdrahtungsabschnitt und das elektronische Bauteil elektrisch durch eine Drahtbondierung mit Gold verbunden.
- Bei diesem Montageverfahren ist die Verbindungsfähigkeit oder Drahtbondierfähigkeit zwischen dem Verdrahtungsabschnitt und dem Golddraht schlecht. Die
JP 10-112471 A - Das herkömmliche oder bekannte Montageverfahren hat jedoch Probleme insofern, als die Oberfläche des Verdrahtungsabschnittes mit dem leitfähigen Verbindungsmaterial verunreinigt ist, beispielsweise durch das ”Ausbluten” des leitfähigen Klebstoffes (das heißt, durch das Phänomen, daß die Komponente in dem Kunstharz, welche in dem leitfähigen Kleber enthalten ist, nicht aushärtet, sondern ausfließt) oder durch das Ausfließen von Lotflußmittel oder durch die Oxidation der Oberfläche des Verdrahtungsabschnittes durch das Erhitzen zum Zeitpunkt des Lötens oder zum Zeitpunkt des Aushärtens des leitfähigen Klebers.
- Wenn somit bei dem herkömmlichen Verfahren das Goldkügelchen an dem Drahtbondierabschnitt im Verdrahtungsabschnitt ausgebildet wird, wird die Verbindungsfähigkeit zwischen dem Goldkügelchen und dem Verdrahtungsabschnitt durch die oben erwähnte Verunreinigung der Oberfläche des Verdrahtungsabschnittes verschlechtert, so daß wiederum die Drahtbondierfähigkeit im Verdrahtungsabschnitt verschlechtert wird.
- Die
DE 197 44 266 A1 offenbart ein Befestigungsverfahren für wenigstens ein elektronisches Bauteil mit den folgenden Schritten: Anordnen eines Verbindungsmaterials über einem Verdrahtungssubstrat, welches einen Verdrahtungsabschnitt enthält; Anordnen des wenigstens einen elektronischen Bauteiles auf dem Verdrahtungssubstrat mittels dem Verbindungsmaterial; Ausbilden eines Drahtbondierkissens aus Metall an einem Abschnitt des Verdrahtungsabschnittes, der drahtbondiert werden soll; und Drahtbondieren des elektronischen Bauteils an dem Verdrahtungsabschnitt über das Drahtbondierkissen. - Aus der
JP 08-340019 A - Die
US 196 41 730 A1 - Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein aus der
DE 197 44 266 A1 bekanntes Verfahren derart weiterzuentwickeln, dass eine bessere Verbindung zwischen dem Drahtbondierkissen und dem Verdrahtungssubstrat hergestellt wird. - Zur Lösung dieser Aufgabe schlägt die vorliegende Erfindung die im Anspruch 1 angegebenen Merkmale vor, wobei vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungsformen Gegenstand der Unteransprüche sind.
- Es wird ein Befestigungsverfahren für elektrische Bauteile offenbart, bei welchem ein Verdrahtungsabschnitt eines Verdrahtungssubstrates und ein auf dem Substrat mittels eines leitfähigen Verbindungsmaterials angeordnetes elektronisches Teil drahtbondiert werden, wobei die Verunreinigung oder Kontamination des Verdrahtungsabschnittes mit dem leitfähigen Verbindungsmaterial verhindert ist, wodurch die Verbindungsfähigkeit zwischen dem Substratteil und dem Verdrahtungsabschnitt verbessert wird.
- Erfindungsgemäß wird ein Drahtbondierungskissen durch Abreiben eines Abschnittes eines Verdrahtungsabschnittes, der drahtbondiert werden soll, mit einem Bauteil gebildet, so daß das Drahtbondierkissen in Filmform ausgebildet wird und zwar bevor ein leitfähiges Verbindungsmaterial über einem Verdrahtungssubstrat angeordnet wird.
- Das Problem der Verunreinigung des Verdrahtungsabschnittes mit dem leitfähigen Verbindungsmaterial wird somit quasi inhärent vermieden.
- Wenn weiterhin das leitfähige Verbindungsmaterial angeordnet oder aufgebracht wird und ein elektronisches Bauteil angeordnet wird, nachdem das Kissen ausgebildet worden ist, wird die Zeitperiode, bis das Kissen ausgebildet ist, verkürzt. Von daher wird eine Zeitperiode, während der die Oberflächen der Drahtbondierabschnitte auf den Verdrahtungsabschnitten freiliegen, verkürzt, was eine Oxidation der Oberflächen auf ein Minimum beschränkt. Infolgedessen ist die Verunreinigung der Verdrahtungsabschnitte mit dem leitfähigen Verbindungsmaterial verhindert, um die Verbindungsfähigkeit zwischen dem Kissen oder dem Substratbauteil und den Verdrahtungsabschnitten zu verbessern.
- Weitere Einzelheiten, Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung und den Zeichnungen.
- Es zeigt:
-
1 ein Flußdiagramm eines Verfahrens zum Montieren oder Befestigen elektronischer Bauteile; -
2A –2F einzelne Stufen zur Erläuterung des Verfahrens von1 ; -
3A –3E erläuternde Darstellungen, welche verschiedene Verfahren zur Ausbildung von Kissen zeigen, wobei in3D eine Ausführungsform dargestellt ist; -
4A –4D erläuternde Darstellungen, welche ein Verfahren zur Ausbildung von Kissen durch Wärmekontaktbondieren eines Goldblattes zeigen; -
5 eine Draufsicht, welche die Draufsichtform des Kissens zeigt; -
6A und6B erläuternde Darstellungen, welche einen Verbindungszustand eines Drahtes zeigen, wobei6A ein vorstehendes oder hochragendes Kissen zeigt und6B ein flaches Kissen zeigt; -
7A –7D erläuternde Darstellungen, welche erste und zweite Beispiele eines Kissenausbildungsverfahren zeigen; -
8A –8D erläuternde Darstellungen, welche ein Beispiel zeigen, bei dem eine Maske mit einer Kissenausbildungsvertiefung im zweiten Beispiel des Kissenausbildungsverfahrens verwendet wird; und -
9A –9F erläuternde Darstellungen, welche eine Mehrzahl von Abwandlungen zeigen, wie das Kissen leicht in dem Formungsverfahren unter Verwendung der Maske zerstörbar oder verformbar ist. -
3A ,3B ,3C ,3E ,4A –4D ,6A ,7A –7D ,8A –8D und9A –9F betreffen Beispiele zur Erläuterung der Erfindung. -
1 ist ein Flußdiagramm; welches ein Verfahren zum Montieren oder Befestigen in festen Baugruppen (”packaging”) elektronischer Bauteile gemäß eines ersten Beispiels zur Erläuterung der Erfindung zeigt, und die2A –2F zeigen die einzelnen Stufen des Montageverfahrens.2A –2E sind schematische Schnittdarstellungen an Zwischenschritten zur Herstellung der Montagestruktur eines drahtgebondeten elektronischen Teiles, wie es in2F gezeigt ist. - Die Montagestruktur gemäß
2F weist ein Keramiksubstrat10 aus einer Keramik, beispielsweise Aluminiumoxid, auf. Auf einer oberen Fläche dieses Keramiksubstrates10 sind Verdrahtungsabschnitte12 angeordnet, welche Oberflächen aus Kupfer, Silber oder dergleichen haben. Diese Verdrahtungsabschnitte12 können beispielsweise aus einem Substrat aus Wolfram oder Molybdän gemacht sein, welches mit Kupfer oder Silber plattiert ist. - Auf Teilen der Verdrahtungsabschnitte
12 ist ein leitfähiger Kleber40 angeordnet, über den ein IC-Chip20 und ein anderes Bauteil, beispielsweise ein Kondensator30 (d. h. ein Teil, welches nicht drahtgebondet wird und welches nachfolgend als ”nicht-WB-Teil” bezeichnet wird, wobei ”WB” für ”wire-bonded” steht), elektrisch mit den Verdrahtungsabschnitten verbunden und auf der Fläche11 des Keramiksubstrates10 angeordnet sind. Der leitfähige Kleber40 kann durch Mischen eines leitfähigen Füllstoffs, beispielsweise Ag, Ag/Pd, Ag/Pt, Au, Cu oder Ni, in einen thermisch aushärtenden Kleber hergestellt werden, beispielsweise Epoxyharz, um Leitfähigkeit durch körperlichen Kontakt herzustellen. - Über den Verdrahtungsabschnitten
12 um den IC-Chip20 herum sind Bondierkissen50 (oder Substratbauteile) ausgebildet, welche aus Gold gefertigt sind. Hierbei können die Kissen50 aus Metall oder einer Legierung, ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Gold (Au), Silber (Ag), Aluminium (Al), Kupfer (Cu), Palladium (Pd), Platin (Pt), Zinn (Sn) und Nickel (Ni) sein. Das Kissen50 und der IC-Chip20 sind elektrisch durch Drähte60 verbunden, welche durch das Drahtbondieren von Gold gebildet werden. Nachfolgend wird ein Verfahren zum Erstellen dieser Struktur nacheinander in der Reihenfolge der einzelnen Schritte erläutert. - Zunächst wird in einem Substratvorbereitungsschritt S1 gemäß
2A das Keramiksubstrat10 vorbereitet, welches auf der oberen Fläche11 die Verdrahtungsabschnitte12 hat. Nachfolgend wird ein Plasmareinigungsschritt S2 durchgeführt, in dem das Keramiksubstrat in der Kammer einer nicht gezeigten Plasmaerzeugungsvorrichtung angeordnet wird. - Gemäß
2B wird eine Atmosphäre eines Mischgases aus Argon und Wasserstoff in der Kammer durch Anlegen eines elektrischen Feldes zwischen einem Paar von Elektroden in der Vorrichtung aufbereitet (z. B. 500 bis 750 W, 1 bis 3 Minuten lang), so daß die Ionenpartikel (Ar+, H+ oder dergleichen), welche durch die Plasmaentladung erzeugt werden, auf die Fläche11 des Substrates10 auftreffen können, um die Fläche11 zu reinigen, welche die Verdrahtungsabschnitte12 enthält. - Nachfolgend werden in einem Kissenausbildungsschritt S3 in den Verdrahtungsabschnitten
12 , welche drahtbondiert werden, die Drahtbondierkissen50 aus Gold ausgebildet, wie in2C gezeigt. Bezugnehmend auf die3 und4 wird nachfolgend eine Anzahl von Verfahren beschrieben, um in dem Kissenausbildungsschritt S3 die Kissen50 auszubilden. - Gemäß
3A werden die Kissen50 durch Verwendung von Drahtbondierdrähten und dem Kugelbondierverfahren gebildet. Bei diesem Verfahren werden die Kissen50 in einer Vielzahl von vorstehenden oder hochragenden (z. T. unregelmäßigen) Formen ausgebildet, wie in3A gezeigt. Genauer gesagt, wie beispielsweise in derJP 10-112471 A 50 durch Ausbilden von Erhebungen durch das Kugelbondierverfahren gebildet werden. - Gemäß der
3B und3C wird das Kissen50 durch Verwendung eines Drahtbondierdrahtes und dem Keilbondierverfahren ausgebildet. Genauer gesagt, gemäß3B wird ein Keilbondierungswerkzeug K1 verwendet, um einen Golddraht K2 durch Ultraschallvibration auf den Verdrahtungsabschnitt12 zu stoßen. Danach wird gemäß3C der unnötige Abschnitt abgeschnitten, um das im wesentlichen flache Kissen50 zu bilden. - Gemäß
3D wird der Verdrahtungsabschnitt12 an seiner Oberfläche manuell oder unter Verwendung eines Werkzeuges oder eines Bauteils (z. B. eines Goldstabes) K3 abgerieben, um das Kissen50 in Filmform auf der Oberfläche des Verdrahtungsabschnittes12 zu bilden. - Gemäß
3E wird ein Goldblatt (ein Stück Blattgold) auf die Oberfläche des Verdrahtungsabschnittes12 durch einen Kleber K4 angeheftet, um das Kissen50 in Blattform zu bilden. - Das Verfahren zum Ausbilden des Blattkissens
50 läßt sich durch ein Verfahren durch Wärmekontaktbondieren eines Goldblattes veranschaulichen, wie in4 gezeigt. Bei diesem Verfahren wird ein Goldblatt (bzw. ein Stück Blattgold) mit einer Dicke von 0,5 Mikron (μm) und dem Bezugszeichen K5 zunächst gemäß4A mit seiner einen Seite auf die Verdrahtungsabschnitte12 über dem Keramiksubstrat10 abgelegt. Ein Wärmekontaktbondierwerkzeug K6 mit Vorsprüngen entsprechend den Drahtbondierabschnitten der Verdrahtungsabschnitte12 wird gemäß4B verwendet, um das Goldblatt K5 an den Oberflächen der Verdrahtungsabschnitte12 von der Außenseite des Goldblattes K5 her durch Wärmekontakt anzubondieren. - Nachfolgend wird ein Schneidwerkzeug K7 gemäß
4C verwendet, um die Umgebung der wärmekontaktbondierten Abschnitte des Goldblattes K5 abzuschneiden, um unnötige oder überflüssige Abschnitte des Goldblattes K5 gemäß4D zu entfernen. Somit werden die blattförmigen Kissen50 ausgebildet, welche an den Oberflächen der Verdrahtungsabschnitte12 wärmebondiert sind. - Wie oben beschrieben, können die Kissen
50 durch verschiedene Verfahren oder Vorgehensweisen ausgebildet werden, beispielsweise durch das Kugelbondierverfahren, das Keilbondierverfahren, das Aufreibverfahren des Goldbauteiles und das Anheftverfahren des Goldblattes oder Blattgoldes. Die Draufsichtform des Kissens50 , welches über dem Verdrahtungsabschnitt12 ausgebildet wird, ist in5 dargestellt, wo auch die Verbindung über den Draht60 dargestellt ist. Unter Berücksichtigung oder Betrachtung einer Versetzungsbreite A und der Präzision des Drahtes60 beim Drahtbondieren wird gemäß5 das (gestrichelt dargestellte) Kissen50 größer als der Zielbondierbereich gemacht. - Nachdem das Kissen
50 in dem Kissenausbildungsschritt S3 ausgebildet worden ist, erfolgt ein Erwärmungs- oder Heizschritt S4. In diesem Schritt S4 werden das Kissen50 und der Verdrahtungsabschnitt12 erwärmt oder erhitzt, um zu bewirken, daß die Gold- oder Kupferatome hiervon thermisch über die Grenze (z. B. die Grenze zwischen Gold und Kupfer) zwischen Kissen50 und Verdrahtungsabschnitt12 diffundieren, um die Anhaftung zwischen dem Kissen50 und dem Verdrahtungsabschnitt12 zu verbessern. - Die Wärmebehandlung in diesem Heizschritt S4 wird bevorzugt in einer Stickstoffgasatmosphäre oder einer Wasserstoffgasatmosphäre eines Heizofens durchgeführt, so daß die verbleibenden Abschnitte, beispielsweise die Verdrahtungsabschnitte
12 ohne Kissen50 , an einer Oxidation gehindert werden. Die bevorzugten Heizbedingungen liegen bei 200°C oder höher (z. B. 300°C bei diesem Beispiel zur Erläuterung der Erfindung) für 10 Minuten oder länger (bei diesem Beispiel zur Erläuterung der Erfindung). - Nachfolgend wird ein Schritt S5 des Aufdruckens eines leitfähigen Klebers durchgeführt, d. h. ein Schritt des Anordnens eines leitfähigen Verbindungsmaterials auf dem Verdrahtungssubstrat. Gemäß
2D wird der gewünschte Abschnitt, d. h. der Abschnitt des Verdrahtungsabschnittes12 , auf welchem der IC-Chip20 oder das nicht-WB-Teil30 angeordnet werden, mit einem pastenförmigen leitfähigen Kleber unter Verwendung einer Aufbringvorrichtung110 , beispielsweise einer Rakel, bedruckt. Hierbei ist die obere Seite11 des Keramiksubstrates10 mit einer Maske100 mit entsprechenden Öffnungen abgedeckt. - Diese Maske ist aus Metall, beispielsweise rostfreiem Stahl. In der Maske
100 dieser Ausführungsform sind zurückgestufte Abschnitte oder Kissenschutzausnehmungen101 mit einer Tiefe oder einem Rücksprung zumindest gleich der Dicke der Kissen50 an solchen Positionen der der Fläche11 des Keramiksubstrates10 zugewandten Fläche ausgebildet, daß sie den Kissen50 auf den Verdrahtungsabschnitten12 entsprechen. Im Ergebnis werden die Kissen50 in den Ausnehmungen oder Vertiefungen101 aufgenommen und geeignet geschützt, so daß sie an einer Verformung oder dergleichen gehindert werden können. - Nachfolgend wird gemäß
2E ein Teileanordnungsschritt oder Montageschritt S6 für ein elektronisches Bauteil oder elektronische Bauteile durchgeführt, um den IC-Chip20 und das nicht-WB-Teil30 auf dem Keramiksubstrat10 mittels des leitfähigen Klebers40 anzuordnen. Nachfolgend wird ein Aushärtungsschritt S7 durchgeführt, um den pastenförmigen leitfähigen Kleber40 auszuhärten, um die Verdrahtungsabschnitte12 über dem Keramiksubstrat10 und den IC-Chip20 und das nicht-WB-Teil30 anzukleben und elektrisch zu verbinden. Hierbei wird im Aushärtungsschritt S7 die Wärmebehandlung (beispielsweise bei 150°C über 10 Minuten hinweg) bevorzugt in einer Stickstoffatmosphäre (N2) durchgeführt, so daß die verbleibenden Verdrahtungsabschnitte12 nicht oxidieren. - Nach den voranstehenden einzelnen Schritten S1 bis S7 wird ein Drahtbondierschritt S8 durchgeführt. Genauer gesagt, die Drahtbondierung erfolgt unter Verwendung von Golddrähten, wobei der IC-Chip
20 auf die primäre Bondierseite und die Kissen50 auf die sekundäre Bondierseite gesetzt werden. Somit werden der IC-Chip20 und die Kissen50 elektrisch durch die Drähte60 verbunden, um die fertige montierte Struktur gemäß2F zu bilden. - Hierbei wird bei dem Montageverfahren oder Anordnungsverfahren gemäß dem vorliegenden Beispiel zur Erläuterung der Erfindung vor dem Aufdruckschritt des leitfähigen Klebers (d. h. dem Schritt des Anordnens des leitfähigen Verbindungsmaterials auf dem Verdrahtungssubstrat, also vor dem Schritt S5) der Kissenausbildungsschritt S3 durchgeführt, um die Drahtbondierkissen
60 aus Gold an den Abschnitten der Verdrahtungsabschnitte12 auszubilden, welche drahtbondiert werden sollen. Im Ergebnis entsteht nicht das Problem einer Verunreinigung der Oberflächen der Verdrahtungsabschnitte12 mit dem leitfähigen Kleber40 , beispielsweise durch ”Ausschwitzen” oder ”Ausbluten” des leitfähigen Klebers40 , oder einer Oxidation der Oberflächen der Verdrahtungsabschnitte12 durch das Erhitzen im Aushärtungsschritt. - Das leitfähige Verbindungsmaterial kann beispielsweise ein Lot sein. Genauer gesagt, anstelle des Aufdruckschrittes S5 für den leitfähigen Kleber wird ein pastenförmiges Lot aufgedruckt oder sonstwie aufgebracht und dann wird der Teileanordnungsschritt S6 durchgeführt. Anstelle des Aushärtungsschrittes S7 wird das Lot aufgeschmolzen, um den IC-Chip
20 etc. festzulegen. Auch bei Verwendung eines Lotes ist es bei dem erfindungsgemäßen Montageverfahren möglich, das Problem der Oberflächenverunreinigung der Verdrahtungsabschnitte12 durch das Lot (oder das leitfähige Verbindungsmaterial allgemein) zu vermeiden, also beispielsweise durch das Ausfließen des Lotflußmittels oder die Oxidation der Oberflächen der Verdrahtungsabschnitte12 , wie es durch das Erhitzen beim Aufschmelzen des Lotes erfolgen könnte. - Weiterhin werden bei dem erfindungsgemäßen Montageverfahren der Anordnungsschritt S5 für das leitfähige Verbindungsmaterial und der Anordnungsschritt S6 für das mindestens eine elektronische Bauteil, welche im Stand der Technik vor dem Kissenausbildungsschritt durchgeführt werden, nach dem Kissenausbildungsschritt S3 durchgeführt, so daß die Taktzeitdauer bis zum Kissenausbildungsschritt S3 verkürzt ist. Somit kann die Zeitdauer, während der die Oberflächen der Drahtbondierabschnitte der Verdrahtungsabschnitte
12 freiliegen, verkürzt werden, um eine Oxidation dieser Oberflächen auf ein Minimum zu begrenzen. Daher wird die Verunreinigung der Verdrahtungsabschnitte12 mit dem leitfähigen Verbindungsmaterial40 verhindert, wodurch die Verbindungsfähigkeit zwischen den Kissen50 und den Verdrahtungsabschnitten12 verbessert wird. - Bei dem Montageverfahren können, wenn die Kissen
50 unter Verwendung der Drahtbondierdrähte gemäß den3A bis3C ausgebildet werden, diese durch die Drahtbondiervorrichtung gebildet werden, welche im Drahtbondierschritt S8 verwendet wird, um die Anlagenkosten zu verringern und die Herstellungsschritte zu vereinfachen. - In dem oben beschriebenen ersten Beispiel zur Erläuterung der Erfindung werden die Kissen
50 durch verschiedene Verfahren, beispielsweise das Kugelbondierverfahren, das Keilbondierverfahren, das Aufreibverfahren des Goldbauteils und das Goldblatt-Anhaftverfahren, gebildet. Wenn das Kugelbondierverfahren verwendet wird, werden die Kissen50 in einer vorstehenden oder hochragenden Form ausgebildet, wie in3A gezeigt. Wenn das Keilbondierverfahren, das Aufreibverfahren des Goldbauteiles oder das Goldblatt-Anhaftverfahren verwendet werden, ergeben sich Kissen50 in flacher Form, wie in3C gezeigt. - Die
6A und6B sind schematische Schnittdarstellungen, welche einen Verbindungszustand des Drahtbondierdrahtes60 zeigen.6A zeigt hierbei den Fall eines hochragenden Kissens50 , wohingegen6B den Fall eines flachen Kissens50 zeigt. Wenn das Kugelbondierverfahren verwendet wird, ist die Form des Kissens50 komplizierter als bei den anderen Verfahren. Von daher ist eine hohe Präzision notwendig, um auf der sekundären Bondierseite zu positionieren, um die Verbindungsfestigkeit zwischen Draht60 und Kissen50 zu verbessern. - Selbst wenn das Kissen
50 durch das Kugelbondierverfahren gebildet worden ist, ist es daher bevorzugt, zumindest den oberen Abschnitt (den Drahtbondierabschnitt) des Kissens50 abzuflachen. Das vorliegende Beispiel zur Erläuterung der Erfindung befaßt sich mit einem Montageverfahren, bei welchem das vorstehende oder hochragende Kissen50 durch das Kugelbondierverfahren gebildet worden ist und dann (um)geformt wird, und wird hauptsächlich unter Berücksichtigung der Unterschiede zum voranstehenden ersten Beispiel zur Erläuterung der Erfindung beschrieben. - Die
7A –7D sind schematische Schnittdarstellungen, welche ein erstes Beispiel (7A und7B ) und ein zweites Beispiel (7C und7D ) eines Kissen(um)formverfahrens gemäß diesem Beispiel zur Erläuterung der Erfindung zeigen. Das erste Verfahren gemäß den7A und7B ist ein Abscherverfahren. Bei diesem Verfahren wird zunächst das Kissen50 in der mehr oder weniger unregelmäßig aufragenden Form ausgebildet und sein vorderer (oberer) endseitiger Abschnitt wird durch ein Abscherwerkzeug oder eine Klinge K8, beispielsweise einen Cutter, abgeschnitten, um die Oberfläche des verbleibenden Abschnittes abzuschneiden. - Im zweiten Beispiel gemäß den
7C und7D wird das Kissen50 wieder zunächst in der mehr oder weniger unregelmäßig aufragenden Form ausgebildet und seine vordere (obere) Endseite wird durch ein geeignetes Werkzeug niedergedrückt oder gestaucht, um diese Oberfläche abzuflachen. Im gezeigten Beispiel wird die Maske100 zur Verwendung in dem bereits erläuterten Aufdruckschritt S5 für den leitfähigen Kleber als das Druckwerkzeug verwendet. - Wenn in den
7C und7D die obere Fläche11 des Keramiksubstrates10 mit der Maske100 abgedeckt wird, wird die Oberseite des Vorsprunges des aufragenden Kissens50 durch die Substratabdeckfläche der Maske100 , welche die obere Fläche11 des Keramiksubstrates10 abdeckt, niedergedrückt oder gequetscht. Dieses Niederdrücken wird unter Verwendung des Drucks (Anpreßdruck) des Werkzeuges110 (Rakel) während des Druckschrittes S5 aufgebracht. - In den
7C und7D hat die das Substrat abdeckende Fläche der Maske100 nicht die Kissenausnehmung100 gemäß2D , sondern ist im wesentlichen flach. Es ist jedoch bevorzugt, da eine derartige Ausnehmung oder derartige Ausnehmungen ausgebildet werden. Bevorzugte Vorgehensweisen beim zweiten Beispiel werden an speziellen Formen und Bedingungen unter Bezugnahme auf die Abfolgeansichten gemäß den8A –8D , welche schematische Schnittdarstellungen sind, näher erläutert. -
8A zeigt den Zustand, nachdem das Kissen50 unter Verwendung des Kugelbondierverfahrens ausgebildet wurde, das heißt, nach dem Heizschritt S4 in dem voranstehendem ersten Beispiel zur Erläuterung der Erfindung. An den Abschnitten der Verdrahtungsabschnitte12 des Keramiksubstrates10 , welche drahtbondiert werden, sind die vorstehenden oder hochragenden Kissen50 ausgebildet. In diesem Beispiel hat das Kissen50 eine Höhe H1 von 60 Mikron und eine Breite oder maximal Weite W1 von 120 Mikron. - In der Maske
100 ist gemäß8B eine Ausnehmung102 in einem derartigen Abschnitt der Fläche, welche in Richtung der oberen Fläche11 des Substratsubstrates10 weist, ausgebildet, daß die obere Endseite des Kissens50 niedergedrückt werden kann. Die Ausnehmung102 ist eine Kissenformungsausnehmung und hat eine Aufgabe unterschiedlich zu derjenigen der Kissenschutzausnehmung101 von2D . Kurz gesagt, die Ausnehmung102 ist so geformt, daß der Grad der Zerstörung und/oder Deformation des freien Endes des Kissens50 bei dem Druckvorgang eingestellt oder reguliert wird. - Im Falle dieses Beispiels, in welchem der IC-Chip
20 einen Anschlußabstand von 400 Mikron und eine Anschlußgröße von 140 Quadratmikron (μm2) hat, wird die Maske100 beispielsweise durch eine rostfreie Stahlmaske mit einer Tiefe D1 von 70 Mikron ausgebildet. Weiterhin kann die Ausnehmung102 , d. h. die Kissenformungsnehmung, in diesem Beispiel durch ein Ätzen oder Plattierverfahren ausgebildet werden, um eine Tiefe H2 von 35 Mikron und einen Innendurchmesser W2 von 200 Mikron zu haben. - Gemäß
8C wird das metallische Druckwerkzeug110 oder die Rakel110 verwendet, um die Maske100 in einer bestimmten Richtung zu schieben und zu bewegen, um hierbei den leitfähigen Kleber40 oder das Lot aufzudrucken. Zu dieser Zeit wird das Kissen50 in der Ausnehmung102 durch den Aufpreßdruck an seinem oberen freien Ende (teilweise) zerstört oder aufgebrochen und verformt, so daß die Oberfläche des freien Endes des Kissens50 schließlich flach deformiert ist, wie in8D gezeigt. In diesem Beispiel können beim Druckvorgang der Aufpreßdruck 10 kg und die Druckbewegungsgeschwindigkeit 30 cm/s betragen, so daß das letztendlich geformte Kissen50 eine Dicke oder Höhe H3 von 35 bis 40 Mikron hat. - Die Tiefe der Ausnehmung
102 wird hierbei dahingehend bestimmt, wie das Kissen50 aufzubrechen und zu verformen ist. Genauer gesagt, die Tiefe der Ausnehmung102 kann geringer gemacht werden, wenn das Kissen50 stärker deformiert werden soll. Weiterhin müssen Durchmesser und Form der Ausnehmung102 entsprechend der letztendlich gewünschten Form des Kissens50 geeignet ausgewählt werden. - Der Aufpreßdruck wird durch die Form des Kissens
50 , welches aufzubrechen und zu verformen ist, bestimmt. Ein hoher Druck kann für mehr Verformung aufgebracht werden. Der Aufpreßdruck wird auch durch die Härte des Kissens50 bestimmt. Hohe Härte macht entsprechend hohen Druck notwendig. Abhängig von der Bewegungsgeschwindigkeit des Druckwerkzeuges110 ist der Verformungsvorgang am Kissen50 unterschiedlich dahingehend, daß er mit sinkender Geschwindigkeit höher wird. Aufgrund der erwähnten Faktoren ist es daher notwendig, die korrekten Bedingungen einzustellen und sicherzustellen. - Weiterhin wird die Maske
100 beim Schubvorgang durch das Werkzeug110 durch den Einfluß des Kissens50 angehoben, so daß die Menge von aufgebrachtem oder übergetragenem leitfähigem Kleber40 oder vom Lot anwachsen kann. Unter Berücksichtigung dieser Möglichkeit müssen die oben erwähnten Druckbedingungen bestimmt werden. - Was die zu verwendende Maske
100 betrifft, ist eine Maske aus Metall bevorzugt, es kann jedoch auch eine Siebmaske verwendet werden, wenn die Kissenformungsausnehmung102 nicht notwendig ist und wenn das Kissen50 weich ist. Ein geeignetes Material für die Maske muß abhängig von der Härte des Kissens50 , welches zu verformen ist, und/oder den Aufdruckbedingungen ausgewählt werden. Die Tiefe der Ausnehmung102 muß ebenfalls berücksichtigt werden, da sie durch das Material der Maske100 eingeschränkt ist. - Bei dem zweiten Beispiel zur Erläuterung der Erfindung gemäß obiger Beschreibung wird der Formungsschritt des Kissens den Schritten des voranstehenden ersten Beispiels zur Erläuterung der Erfindung hinzugefügt. Da jedoch die Oberfläche des Kissens
50 , welches zu bondieren ist, abgeflacht werden kann, ist es möglich, die Probleme der komplizierten Form des Kissens50 und die Anforderung nach einer hohen Präzision bei der Positionierung der sekundären Bondierposition und des Kissens50 zu vermeiden. Daher ist es möglich, das Drahtbondieren zu erleichtern und Schwankungen in der Verbindungsfestigkeit zwischen dem Draht60 und dem Kissen50 zu vermeiden. - Bei diesem Formungsverfahren unter Verwendung der Maske
100 als Druckwerkzeug kann das Kissen50 gleichzeitig mit dem erwähnten Aufdruckschritt S5 für den leitfähigen Kleber geformt werden, so daß sich die Anzahl von Herstellungsschritten gegenüber dem voranstehenden ersten Beispiel zur Erläuterung der Erfindung nicht erhöht. Bei dem Formungsverfahren unter Verwendung der Maske mit der Kissenformungsausnehmung102 kann weiterhin die Verformung des Kissens50 durch den Druckvorgang leicht durch geeignete Ausbildung der Ausnehmung102 den gewünschten Bedingungen angepaßt werden. - Bei dem Formungsverfahren unter Verwendung der Maske
100 kann eine Vielzahl von Abwandlungen vorgenommen werden, wie in den9A –9F gezeigt, wo Ausbildungsformen gezeigt sind, mit denen das Kissen50 noch stärker aufbrech- und verformbar ist. Gemäß den9A –9D wird die Bodenfläche der Ausnehmung102 , welche in Anlage mit dem Kissen50 zum Zeitpunkt der Formung gerät, geschärft. Gemäß9E wird die Bodenfläche der Ausnehmung102 durch Einsatz von gehärtetem Stahl103 (gehärteter Abschnitt) gehärtet. Weiterhin kann gemäß9F das Keramiksubstrat10 auf einem Heizer K9 angeordnet sein, und das Kissen50 wird erhitzt und aufgeweicht für die nachfolgenden Formungs- und Aufdruckvorgänge. - <Modifikationen und Abwandlungen>
- Das Verdrahtungssubstrat ist nicht auf das erwähnte Keramiksubstrat
10 beschränkt, sondern kann auch beispielsweise ein Glasepoxysubstrat sein, wo der Verdrahtungsabschnitt aus Kupfer oder Silber wie in dem erwähnten Beispiel zur Erläuterung der Erfindung ist. Alternativ kann der Körper des ”lead frames” mit Silber plattiert sein. In diesem Fall entspricht der Körper des ”lead frames” dem Verdrahtungssubstrat und das aufplattierte Silber entspricht dem Verdrahtungsabschnitt. - Die erwähnten Plasmareinigungsschritte S2 und Heizschritte S4 können, wenn notwendig, durchgeführt werden, können jedoch auch weggelassen werden; dies hängt von den jeweiligen Bedingungen ab. Die Anordnung des leitfähigen Verbindungsmaterials muß nicht durch einen Maskenaufdruckvorgang erfolgen, sondern kann auch durch ein selektives Aufbringverfahren erfolgen.
- Zusammengefaßt stellt die vorliegende Erfindung ein Montageverfahren oder Anordnungsverfahren für elektronische Bauteile dar, bei welchem wenigstens ein elektronisches Bauteil auf einem Verdrahtungssubstrat über ein leitfähiges Verbindungsmaterial angeordnet wird, welches auf einem Verdrahtungssubstrat angeordnet ist, und wobei ein Verdrahtungsabschnitt auf dem Verdrahtungssubstrat und das wenigstens eine elektronische Bauteil drahtbondiert werden. Wesentlich ist, daß der Kissenausbildungsschritt S3 vor dem Aufbringschritt S5 für das leitfähige Verbindungsmaterial durchgeführt wird. Details hierzu können geeignet modifiziert werden.
- Beim Schritt des Bedruckens eines Verdrahtungsabschnittes eines Keramiksubstrates mit einem leitfähigen Kleber zur Anordnung eines IC-Chips oder eines Bauteils anders als der IC-Chip, beispielsweise eines Kondensators, wird somit gemäß der Erfindung ein Drahtbondierkissen aus Gold durch ein Kugelbondierverfahren oder dergleichen am Abschnitt des Verdrahtungsabschnittes ausgebildet, wo die Drahtbondierung erfolgen soll. Nachdem das Kissen ausgebildet worden ist und bevor der leitfähige Kleber aufgedruckt wird, wird eine Wärmebehandlung durchgeführt, um zwischen dem Verdrahtungsabschnitt und dem Kissen eine thermische Diffusion zu bewirken, so daß die Verbindungsfähigkeit oder Anhaftung verbessert wird.
Claims (9)
- Befestigungsverfahren für wenigstens ein elektronisches Bauteil mit den folgenden Schritten: Anordnen eines leitfähigen Verbindungsmaterials (
40 ) über einem Verdrahtungssubstrat (10 ), welches einen Verdrahtungsabschnitt (12 ) enthält; Anordnen des wenigstens einen elektronischen Bauteiles (20 ) auf dem Verdrahtungssubstrat (10 ) mittels dem leitfähigen Verbindungsmaterial (40 ); Ausbilden eines Drahtbondierkissens (50 ) aus Metall an einem Abschnitt des Verdrahtungsabschnittes (12 ), der drahtbondiert werden soll; und Drahtbondieren des elektronischen Bauteils (20 ) an dem Verdrahtungsabschnitt (12 ) über das Drahtbondierkissen (50 ), wobei das Drahtbondierkissen (50 ) ausgebildet wird, bevor das leitfähige Verbindungsmaterial über dem Verdrahtungssubstrat (10 ) angeordnet wird, und das Drahtbondierkissen (50 ) durch Abreiben des Abschnittes des Verdrahtungsabschnittes (12 ), der drahtbondiert werden soll, mit einem Bauteil (K3) gebildet wird, so dass das Drahtbondierkissen (50 ) in Filmform ausgebildet wird. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das leitfähige Verbindungsmaterial (
40 ) über dem Verdrahtungssubstrat (10 ) durch Aufdrucken des leitfähigen Verbindungsmaterials (40 ) angeordnet wird, wobei ein Maskenbauteil (100 ) mit einer Öffnung an einem gewünschten Abschnitt das Verdrahtungssubstrat (10 ) abdeckt und wobei das Maskenbauteil (100 ) eine Ausnehmung (101 ) in seinem Abschnitt zum Abdecken des Drahtbondierkissens (50 ) hat, wobei die Ausnehmung (101 ) eine Dicke wenigstens gleich dem Drahtbondierkissen (50 ) hat. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Drahtbondierkissen (
50 ) und der Verdrahtungsabschnitt (12 ) mit dem Drahtbondierkissen (50 ) nach Ausbildung des Drahtbondierkissens (50 ) und vor der Anordnung des leitfähigen Verbindungsmaterials über dem Verdrahtungssubstrat (10 ) wärmebehandelt werden. - Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Wärmebehandlung in einer Stickstoffgasatmosphäre oder Wasserstoffgasatmosphäre durchgeführt wird.
- Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Wärmebehandlung bei 200°C oder mehr für 10 Minuten oder länger erfolgt.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Drahtbondierkissen (
50 ) aus Metall, ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Gold (Au), Silber (Ag), Aluminium (Al), Kupfer (Cu), Palladium (Pd), Platin (Pt), Zinn (Sn) und Nickel (Ni) hergestellt ist. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Drahtbondierkissen (
50 ) aus Gold (Au) ist, der Verdrahtungsabschnitt (12 ) aus Kupfer (Cu) ist und ein Draht (60 ) für die Drahtbondierung aus Gold (Au) ist. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Plasmareinigung zum Reinigen des Verdrahtungssubstrates (
10 ) mit dem Verdrahtungsabschnitt (12 ) vor Ausbildung des Drahtbondierkissens (50 ) durchgeführt wird. - Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Plasmareinigung in einer Atmosphäre eines Mischgases aus Argon und Wasserstoff durch Anlegen eines elektrischen Feldes von 500–750 W für 1–3 Minuten durchgeführt wird.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20120316 |
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R084 | Declaration of willingness to licence | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20131001 |