CZ383292A3 - Method of testing electronic circuits and an integrated circuit tested in such a manner - Google Patents

Method of testing electronic circuits and an integrated circuit tested in such a manner Download PDF

Info

Publication number
CZ383292A3
CZ383292A3 CS923832A CS383292A CZ383292A3 CZ 383292 A3 CZ383292 A3 CZ 383292A3 CS 923832 A CS923832 A CS 923832A CS 383292 A CS383292 A CS 383292A CZ 383292 A3 CZ383292 A3 CZ 383292A3
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
test
channel
gateway
passive
active
Prior art date
Application number
CS923832A
Other languages
English (en)
Inventor
Cornelis Hermanus Van Berkel
Maria Elizabeth Roncken
Ronald Wilhelm Johan J Saeijs
Original Assignee
Koninkl Philips Electronics Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninkl Philips Electronics Nv filed Critical Koninkl Philips Electronics Nv
Publication of CZ383292A3 publication Critical patent/CZ383292A3/cs

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318558Addressing or selecting of subparts of the device under test
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/267Reconfiguring circuits for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

Zcftsob zkoušení elektronických obvodů a integrovaný obvod testovatelný tímto způsobem
Oblast techniky
Vynález se týká zkoušení elektronických obvodů s větším počtem funkčních součástek vzájemně spojených přejímkovými kanály.
Dosavadní stav techniky
Testovatelnost integrovaných obvodů byla řešena různými způsoby, mimo jiné v závislosti na technologii obvodů, přičemž se používá modelu poruchy a zkušebních opatření, která mohou existovat fyzicky nebo imaginárně. Známá oaptření zahrnují snímací test nebo LSSD, a test snímání hranice, u kterých se obou přistupuje k obvodu jako k jediné černé skříňce. Patentový spis DSA č.4 656 592 stejného přihlašovatele popisuje rozdělování složitých obvodů na částečné obvody, které udržují vzájemnou synchronizaci pomocí přejímkového postupu v korespondenčním provozu (handshaking). To umožňuje zkoušení po blocích v tak specifických podmínkách okolí, že částečné obvody pracují synchronizované a pouze vzájemné působení mezi jednotlivými obvody je vykonáváno přejímkami v korespondenčním provozu. Během prací na vynálezu se ukázalo, že široké použití funkčních součástek v korespondenčním provozu je přednostní metodou pro to, aby se rozvoj asynchronních soustav udržel ovladatelný. Vzhledem k asynchronnímu provedení zůstává vytvoření zkoušek problémem, který se víceméně rozšiřuje exponenciálně s velikostí obvodu, což vede k tomu, že malé obvody potřebují velký počet zkušebních kombinací a/nebo časů přinést řešení, které do kanálů a Pod pojmem kanál se spojení od bodu k bodu, které má aktivní bránu na prvním konci a pasivní bránu na druhém konci. Pojem aktivní/pasivní obvodových takovému
Vynález si klade za úkol vnikání (breaking-into) (breaking-out) z kanálů.
mimořádně zkoušek.
předpokládá vystupování zde rozumí
--)se vztahuje k úrovni komunikačního protokolu a nikoliv ke směru přenosu dat. To znamená, že data mohou proudit ze strany pasivní brány ke straně aktivní brány. Popřípadě nemusí vůbec docházet ke přenodu dat, je-li jediným cílem komunikace například synchronizace.
Podstata vynálezu
Mimo jiné se vynález zaměřuje na vytvoření infrastruktury pro strukturální testování obvodů v korespondenčním provozu (handshaking) na nízké úrovni organizační složitosti. Podle předpokládaného okolí je přejímkový obvod síť asynchronních obvodových bloků, které vykazují vzájemnou synchronizaci a mohou si vyměňovat informace.
Podle jednoho znaku přináší vynález způsob zkoušení elektronických obvodů majících větší počet funkčních součástek vzájemně spojených přejímkovými komunikačními kanály zakončenými každý na příslušných funkčních součástkách aktivní bránou, z níž je iniciována komunikace, a pasivní bránou, kde je komunikace očekávána, při kterém se jeden z kanálů opatří spojením pro vnikání, čímž se vytvoří zkušební součástka, které jinak, není-li testována, pouze tvoří část vnitrokanálového korespondenčního provozu, přičemž se při způsobu vniká přes pasivní bránu uvedeného spojeni s prvním zkušební signalizací jako alternativou na jakoukoli vnitrokanálovou signalizaci směrem ke vnitrokanálové pasivní bráně uvedeného spojení, přičemž uvedená první zkušební signalizace reprezentuje zkušební signalizaci pro uvedený kanál při zkoušce jakékoli součástky s pasivní bránou na uvedeném kanálu a včetně jakékoli kanálové části mezi uvedenou součástkou a uvedenou zkušební součástkou.
Řešení pro testovatelnost může navázat na organizaci podle patentového spisu USA č.5 005 136 stejného přihlašovatele, nakterý se zde odvoláváme pokus jde o odpovídající terminologii. Bylo zjištěno, že vnikání přes spojení by i v nepřítomnosti jakéhokoli přenosu dat, pomocí vraceného synchroniačního signálu, dovolilo provádění zkoušky. Jestliže
-3se signál nevrací, může to signalizovat nepodařenou zkoušku. Je třeba poznamenat, že vynález nemusí nutně obsahovat sled: poskytni zkušební kombinaci, vykonej zkoušku, extrahuj výslednou kombinaci. Předkládání zkušební kombinace může nebo memusí mít za následek vrácený synchronizační signál. Výsledná kombinace může vyplývat z vykonání zkoušky pomocí zkušební kombinace, která byla uložena dříve. Zkouška může být samočinná zkouška, přičemž řízení se dočasně provádí lokálně bez vnějšího zásahu.
Přesněji řečeno vynález přináší způsob zkoušení elektronických obvodů majících větší počet součástek vzájemně spojených přejímkovými komunikačními kanály zakončenými každý na příslušných funkčních součástkách aktivní bránou, z níž je iniciována komunikace, a pasivní bránou, kde je komunikace očekávána, při kterém se jeden nebo více kanálů opatří spojením pro vnikání a/nebo jeden nebo více z uvedených kanálů se opatří přepínačem pro vystupování, čímž se vytvoří soubor zkušebních součástek, které jinak tvoří, nejsou-li testovány, pouze část prvků ve vnitrokanálovéro korespondenčním provozu, přičemž se při způsobu vniká přes pasivní bránu uvedeného spojení s první zkušební signalizací jako alternativou na jakoukoli vnitrokanálovou signalizaci směrem ke vnitrokanálové pasivní bráně uvedeného spojení, při řízení vnějším řídicím signálem na řídicí bránu přepínače na druhém kanálu, přičemž se z vystupuje s druhou zkušební signalizací přes aktivní kanálovou vnější bránu jako alternativou na jakoukoli další vnitrokanálovou signalizaci přes jakoukoli další aktivní bránu uvedeného přepínače druhého kanálu, přičemž uvedená první nebo druhá zkušební signalizace je zkušební signalizace pro uvedený první nebo druhý kanál při zkoušení jakékoli součástky s pasivní bránou na uvedeném prvním kanálu, popř. s aktivní bránou na uvedeném druhém kanálu, a včetně jakékoli kanálové části mezi uvedenými součástkami a uvedenými zkušebními součástkami. Zpravidla bude složitý obvod potřebovat větší počet spojení a větší počet přepínačů. Za určitých okolností
-4jedna kategorie z obou uvedených může chybět. Podobně jako spojení může přepínač pracovat v izolaci. V případě zkoušku vnitřní řízení vytvoří nebo nevytvoří výsledková data na výstupu přepínače.
Vynález dovoluje zjednodušit problém tím, že se rozdělí na části. Vloženi takových prostředků pro vstupování a vystupování vede k menší hloubce stavových diagramů vzhledem ke zkoušení, Je třeba poznamenat, že jak uvedené první, tak i uvedené druhé signalizace mohou obsahovat příslušné složené signály a/nebo mnohobitové kombinace, z nichž žádná nemusí obsahovat data, neboť některá z nich může obsahovat pouze základní komunikační signály. Je vhodné poznamenat, Že patentový spis USA č.4 656 592 neuvádí nic konkrétního, jak by byla zkouška účinně vykonávána na úrovni základních synchronizačních signálů.
S výhodou se alespoň jeden kanál opatři přepínačem, který je v jeho zkušební signalizaci řízen jak ve zkušebním módu na vystupování vnitrokanálových signalizací uvnitř uvedeného alespoň jednoho kanálu, jakož i v nezkušebním módu na pokračování nitrokanálových signalizací. To by v nezkušebních situacích dovolilo standardní funkčnost. S výhodou se při způsobu opatří alespoň jeden kanál jak se spojením tak i přepínačem jako součástkovou dvojicí dovolující jak zkušební opatření pro vnikání tak i pro vystupování pro uvedený alespoň jeden kanál. Vedle sebe ležící spojení a přepínač nyní tvoří konkrétní fyzickou zkušební součástkovou dvojici. Tím, že se nechá rozpětí takových součástkových dvojic navzájem překrývat, jakákoli část kanálu nyní krytá takovým překrýváním se stane testovatelná. Zejména může kanál kromě vodičů obsahovat takové prvky jako vyrovnávací paměti nebo invertory, které se nyní stávají testovatelné. Rozvíjená metodologie může být aplikována na různých úrovních, jako je desková úroveň, v rámci jednoho čipu, jakož i na čipi mezi bloky různých úrovní složitosti. Dále může být použita jako částečná metoda, jáko pro konkrétní testování těch částí obvodů, které je obtížné řídit, kontrolovat nebo
-ojinak pozorovat.
S výhodou přináší vynález způsob pro provádění většího počtu zkoušek na příslušných funkčních součástkách, přičemž se uvedeným obvodů předkládá sloučený zkušební signál zahrnující sloučené řídicí signály, z nichž se extrahují první zkušební signalizace pro vnikání na různá spojení a také odpovídající vnější řídicí signály pro předkládání různým přepínačům a také odpovídající druhé zkušební signalizace pro vystupování z řady přepínačů. To dovoluje přístup zevně bud po dráze menší šířky nebo při nižším množství přenášených dat. Organizace vlastního řazení, extrakce, slučování různých zkoušek a řídicích signálů může být získáno z organizačních struktur, jaké jsou k dispozici pro přejímkové obvody, jako pro (de)multiplexování, paralelní skládání, a struktury sekvenčního skládání, jak je popsáno v patentovém spisu USA č.5 005 136. Kromě toho může být v různých případech použito přídavně překladových tabulek, upravovačích postupů a generování příznaků. Použití různých spojení a přepínačů v komunikačních kanálech obvodové sour stavy je přímé hardwarové odrážení řešení pro testovatelnost a testovací metody samotné. Kromě toho může být použití příslušných zkušebních součástek použito v organizaci samočinných zkoušek. Samočinná zkouška, je zde definována tak, že ve sloučeném zkušebním signálu poskytovaném zevně, je použita ve spojení s různými předem předkládanými nebo předem uloženými zkušebními signalizacemi uvnitř obvodu, bud explicině nebo implicitně, pro vykonávání většího počtu elementárních zkušebních pochodů, po kterých se větší počet elementárních zkušebních výsledků připojí, opatří příznaky nebo se jinak vyhodnotí pro signalizování celkového vyhodnocení zkoušky vně zkoušené obvodové soustavy. Sám o sobě byl takový samozkušební princip s ohledem na statickou paměť RAM popsán v patentové přihlášce USA 752 166 a zveřejněné evropské patentové přihlášce 350 538 stejného přihlašovatele, na kterou se zde odvoláváme.
Je obzvláště výhodné provádět vynález pro zkoušení
-6uvedené elektronické obvodové soustavy obsahující větší počet integrovaných obvodů tak, že se přiřazuje kterémukoli kanálu křižujícímu kteroukoli hranici mezi oddělenými integrovanými obvody fiktivní funkční součástka na uvedené hranici, takže obě strany uvedené hranice tvoří samostatný kanál jako příslušný kanál z přejímkových kanálů. Jestliže obvodová soustava sestává z více než jednoho samostatného integrovaného obvodu, není předem známo, jaký bude sousední obvod. Mohl by mít zkušební opatření podle vynálezu, nebo nikoliv. A i v kladném případě by oba kanály mohly mít poněkud odlišné protokoly na úrovni, která by kolidovala se zkoušním, i když by tak tomu být nemělo při standardním přejímce při korespondenčním provozu. Zejména by poslední opatření dovolilo provést zkoušku hranice nebo vzájemného spojení, jako alternativní přístup vzhledem k standardnímu testu snímání hranice podle JTAG, nyní IEEE 1149.1. Na jiné úrovni může být vynález použit pro zkušební znaky podle samočinných zkušebních priní|cpů na různých úrovních složitosti.
Integrovaný obvod testovatelný způsobem podle vynálezu obsahuje větší počet testovatelných funkčních součástek, které jsou spojeny přejímkovými komunikačními kanály, zakončenými každý na příslušných funkčních součástkách aktivní bránou iniciující komunikaci a pasivní bránou očekávající komunikaci, přičemž alespoň část uvedených kanálů je opatřena spojením pri vnikání nebo přepínačem pro vystupování, čímž se vytvoří soubor zkušebních součástek, který mimo zkoušení pouze tvoří část vnitrokanálového přejímkového provozu, přičemž kterékoli z uvedených spojení má první pasivní kanálovou bránu pro vnitrokanálově iniciované zkušební komunikace a druhou pasivní zkušební bránu pro vně iniciované zkušební komunikace, a první aktivní kanálovou bránu pro šíření obou uvedených typů iniciovaných komunikací, přičemž kterýkoli z uvedených přepínačů má třetí pasivní kanálovou bránu pro vnitrokanálově iniciované komunikace, a druhou aktivní ka-Ίná1ovou bránu pro vnitrokanálové šíření těchto iniciovaných komunikací, a v každém z alespoň části uvedených přepínačů kombinaci třetí aktivní zkušební brány pro šíření těchto iniciovaných komunikací vně kanálu, a čtvrté pasivní řídicí brány pro volbu pro šíření mezi uvedenou druhou aktivní kanálovou bránou a uvedenou třetí aktivní zkušební bránou, přičemž uvedený obvod dále obsahuje zkušební řídicí prostředek pro vnikání na kterékoli druhé pasivní zkušební bráně s uvedenou vně iniciovanou zkušební kombinací. Testovatelné součástky se mohou testovatelnými stát bud přímo prostřednictvím vůči nim vnitřních prostředků, nebo nepřímo, a to zkoušením vzájemných spojení mezi těmito součástkami a jejich okolím. Jindy než při zkoušení zkušební součásti prostě tvoří součást vnitrokanálového korespondenčního provozu.
S výhodou je integrovaný obvod upraven tak, že nejméně jeden kanál obsahuje jak spojení, tak i přepínače, které dohromady tvoří dvojici zkušebních součástek, čímž umožňují zkušební schopnost pro uvedený alespoň jeden kanál jak pro vnikání, tak i vystupování. Vytvoření dvojic zkušebních součástek, jako výše uvedených součástkových dvojic, zvyšuje standard testovatelnosti.
Zejména testovatelné bloky nebo funkční součástky jsou bez hodin na granulami úrovni kanálové přejímky. To znamená, že bud bloky pracují asynchronně, nebo jejich hodiny mají kmitočty v časovém rámci, které jsou neviditelné na úrovni přejímky při korespondenčním provozu. Jsou-li jejich hodiny mnohem rychlejší, spojí to signály na chod s časově diskrétní organizací, která je téměř analogová z hlediska přejímky. Jsou-li jejich hodiny mnohem pomalejší, jeví se z hlediska přejímky při korespondenčním provozu funkční součástky jako statické.
Všeobecně redukuje použití vynálezu zkoušení na problém s nižší mírou složitosti.
S výhodou obvod obsahuje 'samozkušební prostředek pro přijímání vnéjSího aktivačního signálu a mající odvozovací
-8prostředek pro odvozování z poskytovaného složeného zkušebního signálu zahrnujícího řídicí signál různých elementárních zkušebních signalizací a řídicích signalizací pro uvedená spojení a přepínače, a pro přijímání a slučování různých elementárních výsledných signalizací na sloučený výsledný signál pro inspekci vně uvedeného obvodu. To umožňuje značné zkrácení celkové doby zkoušky, takže je všeobecně požadováno mnohem méně komunikace ze zkoušeného obvodu do stroje pro řízení a/nebo vyhodnocování zkoušky. Je opět třeba poznamenat, že řízení přepínače a synchronizace spojení jsou zaměřeny dopovídajícím způsobem směrem k přepínači a spojení. Synchronizace přepínače vychází z přepínače. Směr přenosu dat může však být jakýkoli, takže jak přepínač, tak i spojení může jak přijímat, tak i vysíkat data na jejich vnějších kanálových přípojích. Určité přípoje mohou být dvousměrné s ohledem na přenášená data.
S výhodou může mít spojení elektronickou součástku společnou s některou po kanálu přilehlou součástkou. Takové uspořádání zmenší velikost potřebného přídavného hardwaru. Kromě společnosti s funkční součástkou může mít vedle sebe ležící dvojice spojení a přepínače, zejména v konkrétní dvojici zkušebních součástek, určité elektronické součásti společné, čímž se zmenší nároky na hardware.
S výhodou obsahuje obvod podle vynálezu potvrzovací prostředek v nejméně jedné funkční součástce, aby vydával po dokončení výše uvedené zkoušky potvrzovací signál nepatřící ke standardním signálům kanálové přejímky z takové funkční součástky. Obzvláště pro funkční prvek regenerativního zesilovače, jak bude popsán níže, je taková signalizace opatření šetřící čas. Potvrzování může být nyní vysilanáno na kanálech, které jsou určeny pro standardní funkce obvodu.
Pro jasnost popisu jsou poskytnuty následující definice speciálních termínů používaných při vysvětlování a definování vynálezu:
- Přejímkový obvod (handshake Circuit): Schéma, s kanály
-9jako okraji, a složkami v korespondenčním provozu jako uzly, a s opatřením pro inicializaci.
- Přejímková součástka (hanshake component): Elektronický obvod, který vzájemně působí se svým okolím komunikováním po zprostředkujících kanálech. Každá komunikace je organizována jako přejímka při korespondenčním provozu (handshake). Inciativa ke komunikování se může po komunikacích měnit. Pro ilustrování vynálezu stanovit iniciativy na kanál.
- Kanál: Dvousměrné spojení spojení vodičem mezi přejímkovou součástkou a jejím okolím. Pro ilustrování vynálezu stačí posuzovat kanály jako spojení z bodu do bodu s jednosměrnými dráty. Dvě koncové svorky kanálu se nazývají brány.
- Brána: Kanálová svorka v přejímkové součástce. Jestliže součástka iniciuje komunikace po kanálu, brána je označována jako aktivní. Jestliže okolí přebírá iniciativu, brána je označována jako pasivní.
- Komunikace, nebo přejímka při korespondenčním provozu: Konečný sled komunikačních událostí po kanálu, organizovaný jako přejímkový protokol, t.j. iniciativa pro příští událost se střídá mezi komunikujícími partnery.
- Komunikační událost: Soubor přechodů podél jednoho nebo více vodičů kanálu, který je opatřen kritériem dokončeni.
Jako referenční model pro účelnost a úplnost zkoušky používáme pojem zkušební obligace. Předpokládáme, že je k dispozici kritérium správnosti pro vyrobené součinné obvody, a že okolí může detektovat, zda se obvod zastavuje v počátečním stavu nebo nikoliv. Zkoušení začíná z inicializovaných obvodů. Teoreticky může být nemožné pohánět konkrétní vadný obvod do jeho zamýšleného počátečního stavu, ale následující chování obvodu potom ještě více prozradí takovou vadnost. Možnost vadného chování, která není zjištěna, zůstane nepoznána.
- Zkušební obligace: Soubor komunikačních událostí po kanálech obvodu, v čase částečně uspořádaný, dle možnosti s inicializační událostí na konci. Zkušební obligace uspojednotlivých stačí pevně
-10kojují omezení, že správný obvod reaguje na všechny události ve zkušební obligaci a končí v počátečním stavu.
- Zkouška: Soubor zkušebních obligací, uspokojující dvě omezení, že každá zkušební obligace je předávána úspěšně správným obvodem, a že nesprávný obvod selže při nektěré zkušební obligaci, protože nemůže reagovat na některé události v jejím průběhu. To znamená, že zkouška je úplný soubor stimulů a odezev pro dosažení cíle znát, zda vyrobený obvod je či není v pořádku.
- Zkušební soubor: Soubor zkoušek, reprezentující různé možnosti testovat obvod.
Přehled obrázků na výkresech
Vynález je blíže vysvětlen v následujícím popisu na příkladech provedení s odvoláním na připojené výkresy, ve kterých znázorňuje obr.l testovatelný obvod podle vynálezu, obr.2 dvě funkční součástky vzájemně spojené kanálem, obr.3 připojení přepínače a spojení k poslednímu schématu jako dvou zkušebních součástek, obr.4 vzájemné zaměnění přídavných sío$í z obr.3 podle vynálezu, obr.5 schéma elektronického obvodu pro řadicí přejímkovou součástku, obr.6 seznam za sebou jdoucích kombinací v této součástce, když pracuje ve správném okolí, obr.7 úplné uspořádání pro testovatelnost poněkud komplikovanějšího obvodu pracujícího jako duplikační souprava, obr.8 uspořádání zkušebních součástek vhodné pro testování hranic nebo vzájemného připojení, obr.9a,b,c schémata různých organizací přejímkového kanálu, obr ,10a,b,c,d schémata čtyř základních přejímkových součástek jako provedení, obr.11 schéma kombinace takových součástek ve formě duplikační soupravy, obr.12 schéma elektronického obvodu pro přejímkové součástky regenerativního zesilovače, obr.13 schéma elektronického obvodu pro proměnlivou přejímkovou součástku pro jedno čtení-jeden zápis, obr.14 schéma optimalizované verze z obr.4 pro použití ve výhodném provedení, obr.5 podobně optimalizovanou verzi obr.7, obr.16 plné uspořádání pro zkoušení proměnlivé
-11součástky pro jedno čtení-jeden zápis, obr.17a,b schéma částečného uspořádání pro zkoušení řetězové dupiikační soupravy s exponenciální redukcí doby zkoušky, poněkud odlišné provedení řetězové duplikační lineární dobou zkoušky a obr.19 schéma účinné realizace operačního módu na příkladě multiplexorové přejímkové součástky MIX.
obr.18a,b,c soupravy s elektronické proveditelné
Příklady provedení vynálezu
V popisu nejsou v zájmu stručnosti vnější zkušební zařízení, použití zkušebních kombinací a provedení v úrovni registrů, jakož i veškeré vyhodnocování zkoušek detailně popisovány, jelikož jsou považovány za standardní problematiku v oboru. Pouze spojovací kanály a jejich vztah vzhledem k testovatelnosti jsou plně vysvětleny, stejně jako určité dílčí součástky obvodů, které jsou bud nebo jsou příslušenství takového zkoušení.
Kromě toho nejde popis do úrovně tranzistorů a pouze málo do úrovně hradel, jelikož tyto úrovně jsou považovány při realizaci elektronických obvodů za předmět běžných všeobecných znalostí.
K obecným zásadám zkoušení je možno poznamenat následující. Jako u synchronních obvodů je problém nalézt zkoušky pro libovolné přejímkové obvody komplikovaný. Zvětšování velikosti úlohy (jako je počet kanálů) zvětšuje počet řešení (například kombinací) exponenciálně. To vyžaduje přídavný hardware na každý bod a ovlivňuje tak výkonnost. Zkušební náklady a výkonnost lze ladit vhodnou volbou vnitřních bodů. Výsledný obvod má dva operační módy, a to standardní mód pro původní chování a zkušební mód. Zkušební přístup pro přejímkové obvody má určité podobnosti.
Jelikož klíčem ke zkoušení přejímkového obvodu je jeho komunikační chování, schopnost ovladatelnosti a pozorovatelnosti se týká kanálů. Aby bylo možno zkoušet přejímkový obvod nezávisle na jeho okolí, vytvoří se proto samostatné rozhraní vřazením pfejímkových součástek pro
-12možnost zkoušení do mezilehlých kanálů.
Obr.l ukazuje obvod, který lze zkoušet podle vynálezu. Obvod 100 má čtyři funkční součástky 102, 104, 106 a 108. V zájmu stručnosti není rozebírána povaha jejich funkce, protože toto nemá vztah k vlastnímu vynálezu. Funkční součástky pracují asynchronně a jsou vzájemně propojeny přejímkovými kanály 100, 112, 114 a 116, které mají každý dvojici spojení pro vnikání a přepínače pro vystupování, které budou podrobněji popsány níže. V určitých situacích může kanál mít pouze jedinou zkušební součástku, a to bud spojení nebo přepínač, jak je vysvětleno níže. Na obrázku jsou dvojice symbolizovány bloky 120, 122, 124 a 126, které jsou spojeny, v případě potřeby dvousměrně, se zkušebním řídicím blokem 128. Obvod 100 je ve spojení pro vykonávání svých standardních funkcí s vnějšími obvody, pro jednoduchost neznázorněnými, podél kanálů 130, 132. Hranice mezi obvodem 100 a vnějším světem je symbolizována fiktivními funkčními součástkami 142, 133, které nepřidávají další funkce. Kanály 130, 132 mezi funkčními součástkami 106, 108 a jejich protějšky tvořenými fiktivními součástkami mají odpovídající dvojici 134, 136 spojení pro vnikání (inbreaking) a přepínače pro vystupování (outbreaking).
Na obrázku mají také vnější kanály 146, 158 svoje odpovídající dvojice 138, 140 spojení pro vnikání a přepínače pro vystupování, které nejsou ve spojení se zkušebním řídicím blokem 128. Pro zjednodušení není znázorněn jejich vlastní zkušební řídicí blok. Zkušební řídicí blok 128 přijímá z vnějšího světa (zkušebního přístroje) kombinovaný zkušební signál. Ten může zahrnovat inicializaci, zkušební kombinace, zamýšlené výsledné kombinace a jakékoli další řízení, které je zapotřebí. Toto řízení může určovat, které zkoušky nebo dílčMí zkoušky by měly být vykonávány v jakém sledu, ovládat odvozování zkušebních kombinací od celkového zkušebního signálu, předepisování pro slučování výsledných kombinací do celkového výsledkového signálu, předběžné zpracovávací řízení výslených kombinací,
-13jakož porovnávání ? očekávaným výsledkem a různé c-jo hody.
Obr. 2 má dva obvody A a P vzájemně spojeným) ;·.ό.,:οι·; c. Obvod A je připojen ke kanálu svojí aktivní brč»;·· >
značenou plným kroužkem, zatímco obvod P je přípoj<r. >· ' , : pasivní bránou, vyznačenou nevyplněným kroužkem, ' ’ j jsou-li nějaká, mohou procházet zleva doprava. Akt ·· pasivní brána se účastní součinnosti. Je třeba si poví? roi ’· ·> toho, že data mohou být fyzicky na samostat ném . ro (vlákně, kmitočtu atd.), paralelním vůči zná>> ‘^·Ό·ηι>
přejímkovému kanálu. Alternativně mohou data samotní; nést přejímkový protokol. Kanál může být uvnitř jednoho integrovaného obvodu nebo může vzájemně spojovat dva integrované obvody. Samozřejmě může mít jakákoli funkční součástka libovolný počet brán. Obr.3 ukazuje přídavné součástky S (přepínač) a J (spojení) mezi pře jímkovými obvody A, P. Přepínač S je módově řízen na svém pasivní řídicí vstupní bráně vně kanálu. Spojení J nepotřebuje takové řízení. Při tento sestavení mohou být komunikační činnosti iniciované obvodem A a/nebo přijímané obvodem P řízeny a pozorovány. Jak řízení, tak i pozorování se děje vnikáním (inbreaking) na první kanál s prvními zkušebními signalizacemi na spojení pro vnikání (inbreaking junction), a vystupováním (outbreaking) na druhém zkušebním kanále se druhými zkušebními signalizacemi na přepínači pro vystupování (outbreaking switch). Takové pozorování a řízení má však pomocí přepínače S pouze funkčnost pro vystopování vzhledem k obvodu A, zatímco spojení J může být z hledika obvodu A opomenuto. Podobně může být z hlediska obvodu P opominut přepínač S.
Zkouška používající uspořádání znázorněné na obr.2 však není účinná pro zprostředkující kanál mezi přepínačem S a spojením J. Obr.4 má proto přepínač a spojení vzájemně zaměněny. V kombinaci nyní tvoří dvojici zkušebních součástek, u nichž se jejich předměty zkoušek překrývají, pokud jde o kanálovou část c. Pro určitý kanál je volba mezi oběma
-14uspořádáními testovate1nosti určována rozdělením chyb ve výrobním procesu, požadovaným krytím chyb, a s tím spojenou snadností zkoušení. V následujícím popisu se budeme hlavně soustředit na uspořádání znázorněné na obr.4.
Sled čar c“, c, cp na obr.4 představuje nyní původní kanál mezi obvody nebo součástkami A a Ρ. V tomto kanálu je spojení 22, které má pasivní zkušební bránu v kanále, pasivní zkušební bránu vně kanálu a aktivní bránu v kanálu. Komunikace na obě pasivní brány jsou předávány přes jedinou aktivní bránu a nemusí se překrývat. Kanál má dále přepínač 24, který má pasivní bránu v kanálu, vnější pasivní bránu pro řízení módu, aktivní bránu v kanálu a druhou aktivní zkušební bránu vně kanálu. Přejímková komunikace na kanálu prochází jednou z obou aktivních brán v závislosti na módu. Tímto způsobem jsou všechny části kanálu c“, c, cp řiditelné a pozorovatelné během zkoušení. Spojení dovoluje inciciovat komunikace (vnikání-breaking in), přepínač zachycovat komunikace (vystupování-breaking out). Jestliže zkušební události na ct“ a na ctp jsou shodné s odpovídajícími událostmi na c· a cp, potom a ctp mají stejné schopnosti řídit a pozorovat obvody A a P, jako mají c* a cp. Často stačí slabší vztahy než rovnost mezi vnitrokanálovými spojeními a jejich zkušebními protějšky pro získání těchto stejných schopností.
Z hlediska jeho tělesného vytvoření tedy obsahuje integrovaný obvod, testovatelný způsobem podle vynálezu, větší počet testovatelných funkčních součástek, které jsou spojeny přejímkovými komunikačními kanály, zakončenými každý na příslušných funkčních součástkách A, P aktivní bránou 20A iniciující komunikaci a pasivní bránou 26P očekávající komunikaci. Alespoň část uvedených kanálů c je opatřena spojením 22 pro vnikání nebo přepínačem 24 pro vystupování, čímž se vytvoří soubor zkušebních součástek, který mimo zkoušení pouze tvoří část vnitrokanálového korespondenčního provozu, přičemž kterékoli z uvedených spojení 22 má první pasivní kanálovou bránu 22PI pro vnitrokanálově iniciované
-15zkušební komunikace a druhou pasivní zkušební bránu 22PE pro vně iniciované zkušební komunikace, a první aktivní kaná)ovou bránu 22A pro šíření obou uvedených typů iniciovaných komunikací. Kterýkoli z uvedených přepí ne á 2 4 má dále třetí pasivní kanálovou bránu 24P pro vnitrokanálově iniciované komunikace, a druhou aktivní kanálovou bráně 24AI pro vnitrokanálové šíření těchto iniciovaných komuniké·- í a v každém z alespoň části uvedených přepínačů kombinaci třetí aktivní zkušební brány 24AE pro šíření těchto iniciovaných komunikací vně kanálu, a čtvrté pasivní řídicí brány 24PE pro volbu pro šíření mezi uvedenou druhou aktivní kanálovou bránou 24AE a uvedenou třetí aktivní zkušební bránou ?4AI. Uvedený obvod dále obsahuje zkušební řídicí prostředek pro vnikání na kterékoli druhé pasivní zkušební bráně 22PE s uvedenou vně iniciovanou zkušební kombinací.
Pokud jde o generování zkoušek, je třeba poznamenat, že zkouška, která je vhodná pro základní součástku, bude také vhodná pro zkoušení stejné součástky v uspořádání znázorněném na obr.4, za podmínky že nahradíme kanálové komunikace jejich zkušebními protějšky a že nastavíme odpovídající přepínače před zahájením do zkušebního módu, V uspořádání podobném obr.4 se část této zkoušky týká signálů, které prochází přepínači tvořícími součást okolí. Tyto posledně j«menované přepínače jsou proto řízeny ve standardním módu. Tento postup může být vytříben, aby se hodil pro elementárnější úroveň zkušebních obligací.
Když nyní abstrahujeme od zkoušení samotrvch zkoušených součástek, je možné výše uvedený zkušební postup snadno rozšířit na přejíifikové obvody obecně tím, že se postupně aplikuje na všechny základní součástky v obvodu. Jakékoli složení místních zkušebních postupů bude skutečně stačit, pokud se konfliktní módy nebo komunikace nepřihodí současně.
Během zkoušky se zkoušené součástky střídají mezi zkušebním a standardním módem. Je možné je navrhnout Uk. .<«.· jejich role ve zkoušení součinných obvodů ' je samodjag-16nostická: zkoušením původního obvodu se celá organizace pro zlepšení testovatelnosti samočinně zkouší.
Obr.5 ukazuje elektronický obvod pro řadicí přejímkovou součástku, jaká je popsána v patentovém spisu USA č.5 005 136. Vykonává prostou součinnost podél tří kanálů a (aO, al, , b (bO, bl) a c (cO, cl) , které sestávají každý ze dvou fyzicky jednosměrných vodičů, jak je patrné. Vnitřně obsahuje obvod dvě součinová hradla AND 28, 30, mající každý invertovaný vstup, jak je vyznačeno otevřeným kroužkem. Konečně je přítomen tak zvaný Mullerův C-prvek 32. Takový prvek má výstup, který je znázorněn dvakrát (w) na obrázku a může mít jakýkoli počet vstupů. Jeho výstupní signály se mění pouze tehdy, jestliže všechny stupy mají opačnou hodnotu proudové výstupní hodnoty, jinak výstupní signály zůstávají nezměněné. Obr.6 shrnuje po sobě následující kombinace stabilního stavu, pracuje-li se ve správném okolí. Když je součástka aktivována po kanálu a, komunikuje jednou po kanálu bO a potom jednou po kanálu cO.
Obr.7 ukazuje úplné uspořádání zkušebních opatření pro poněkud složitější obvod. Je znázorněn řadicí obvod 34, který v zásadě odpovídá obvodu z obr.5, a směšovací obvod 36, který bezpodmínečně směruje jakoukoli komunikaci iniciovanou na jedné z pasivních brán na jeho jedinou aktivní bránu. Tento obrázek ukazuje, že zlepšení testovatelnosti podle vynálezu značně zvyšuje počet vnějších kanálů. To může být problém pro integrované obvody, s pouze několika desítkami vnějších kanálů. Částečná integrace zkušebního postupu může zmenšit počet přídavných vnějších kanálů na pouze několik, za cenu přídavného hardwaru. Jako zkoušené součástky může mít tento hardware samodiagnostickou roli při zkoušení přejímkového obvodu. Úplná integrace zkušebních postupů poskytuje synchronní ekvivalenci obvodu s vestavěným samotestem, kde pouze vnější kanály na hranici obvodu zbývají, aby byly samostatně testovány. Možnost provádět samostatné hraniční testy usnadňuje zkoušení rozhraní mezi obvodem a jeho okolím.
-18laděny náklady na zkoušku a provedení tím, že se berou jako základní složky větší nebo menší struktury přejímkových součástek. Obecně je taková základní složka skupinou elektronických obvodů nemajících opatření z obr.4.
V rámci vynálezu je mnoho alternativních řešení na výše uvedené téma uzpůsobení obvodů pro zkoušení. Je často výhodné používat složených konstrukcí, které kombinují původní přejímkové součástky a součástky pro vnikání (inbreaking compoments) a vystupování (outbreaking components). Výsledný obvod bude menší a rychlejší, než vedle sebe položené součástky, protože mezilehlé zprostředkující kanály jsou zbytečné. Také mohou kombinace se zkušebními postupy nebo prvky součástek výrazně zmenšit problém testování.
Před popisem příkladů výhodného provedení vynálezu je vhodné uvést následující zásady:
- Inicializování součinného obvodu odpovídá uvedení všech vnějších vstupních přívodů na nízké napětí a čekání po určitou dobu, až se obvod ustálí ve stabilním stavu, který je počáteční stav pro správně fungující obvod. Doba ustálení může být vypočítána z obvodu.Okolí je tak obeznámeno s tím, že obvod je nominálně v počátečním stavu, když jsou vnější vývody a přívody po dobu alespoň tak dlouhou, jako je doba ustálení, na nízké napěťové nebo proudové úrovni.
- Kanály jsou spojení z bodu do bodu, s jednosměrnými vodiči. Iniciativa komunikovat je fixována na kanál. Synchronizační kanál a má dva vodiče: ae z aktivní brány do pasivní brány, a ax z pasivní brány do aktivní brány. Datový kanál má jediný synchronizační vodič, na němž jsou data požadována nebo potrvrzována, a soubor vodičů, po nichž data komunikují. Datové komunikace jsou jednosměrné a v dvoutrasovém kódování, t.j. na bit jsou dva vodiče, a to bO pro nulovou hodnotu a bl pro jedničkovou hodnotu. Schémata pro realizace kanálů poskytují obr.9a,b,c.
- Rozlišují se následující komunikační události:
- nastav synchronizační vodič w: wf
-17iniciována komunikace, a komunikace očekávána. Oba kanály spojením 22-3 pro vnikání a jeden z opatří přepínačem soubor zkušebních testovány, pouze c2 ,
Způsob zkoušení elektronických obvodů při uspořádání podle obr. bude nyní popsán oři použití podobných symbolů, jako v souvislosti s popisem uspořádáni na obr.4. Zapojení má větší počet součástek vzájemně spojených přejímkovými komunikačními kanály c2 , c3 zakončenými každý na příslušných funkčních součástkách A,P aktivní bránou 34A, z níž je pasivní bránou 36 , kde je c3 jsou opatřeny uvedených kanálů se 24-2 pro vystupování, čímž se vytvoří součástek, které jinak tvoří, nejsou-li část vnitrokanálového korespondenčního provozu. Přes pasivní bránu 22-3PE uvedeného spojení 22-3 prvního kanálu c3 se vniká s první zkušební signalizací jako alternativou na jakoukoli vnitrokanálovou signalizaci směrem ke vnitrokanálové pasivní bráně 22-3 PE uvedeného spojení, při řízení vnějším řídicím signálem na řídicí bránu 24-2PE přepínače 24-2 na druhém kanálu c2. Přitom se z něj vystupuje s druhou zkušební signalizací přes aktivní kanálovou vnější bránu 24-2AE jako alternativou na jakoukoli další vnitrokanálovou signalizaci přes jakoukoli další aktivní bránu 24-2AE uvedeného přepínače 24-2 druhého kanálu. přičemž uvedená první nebo druhá zkušební signalizace je zkušební signalizace pro uvedený první c3 nebo druhý kanál c2 při zkoušení jakékoli součástky 34 s pasivní bránou 34P na uvedeném prvním kanálu c3, popř. s aktivní bránou 34AR na uvedeném druhém kanálu c2, a včetně jakékoli kanálové části mezi uvedenými součástkami a uvedenými zkušebními součástkami.
Obr.8 poskytuje možné uspořádání spojení a přepínačů podél spojovacího kanálu c mezi dvěma integrovanými obvody A a P, například podél kanálu 130/140 na obr.l. Dráha, po které probíhá propojovací test je vyznačena, tečkovanou čarou. Kromě spojovacího kanálu c nejsou ve hře žádné další části obou obvodů.
Při návrhu pro testovatelnost mohou být vzájemně
-19- znovunastav (nebo nuluj) synchronizační vodič w: w| -nastav data d: bOl nebo bl * pro všechny datové bity b v souboru datových vodičů d;
zkrácený záznam: d^ , nebo div, jestliže v je příslušná datová hodnota
-znovunastav (nebo nuluj) data: bOj , nebo bl^ pro všechny datové bity b v souboru datových vodičů d; zkrácený záznam: d| , nebo d|y, jestliže v je příslušná datová hodnota.
Odpovídající kriteria dokončení jsou podle očekávání:
-w 1 je dokončeno, když w = 1 -w | je dokončeno, když w = 0
-dl (df v) je dokončeno, když bO = 1 nebo bl = 1, ale nikoliv obě rovné 1, pro všechny datové bity b v d - d| (div) je dokončeno, když bO =1 a bl =1, pro všechny datové bity b v d.
- Komunikace je organizována jako čtyřfázová přejímka, při níž jsou datové a synchronizační vodiče nastavovány a znovunastavovány, a to:
3ol; Sil; ao4; aij .
Zde značí středník ; uspořádání výše i dále uváděných signálů za sebou. Dále jestliže a je datový kanál, potom bud ao je synchronizační vodič a ax je shroraaždování datových vodičů nebo naopak (viz obr.9).
Následující programovací sestavy jsou použity pro specifikování chování brán přejímkového obvodu v podmínkách výše uvedených událostí. Předpokládejme, že ' E zahrnuje aritmetické výrazy a a jména brán. Budeme používat undexy pro označování, že inciativa pro sled událostí na bráně je vnitřní (.•=aktivní) nebo vnější (.e=pasivní) afe je zkrácený záznam pro ao}; aif, a a|® pro aoJ.; ax|, kde iniciativa je u okolí. Podobně a θ?χ, a θ?χ, a °!E, a a|°ÍE.
aj* je zkrácený záznam pro aef; axl, a aj* pro aoj; axJ, kde iniciativa je u okolí. Podobně al*?x, a|*?x, af*)E, a aX*!E.
-20Existují různé způsoby skládání existujících chování P.o a Px . Zde používáme operátory í ve zmenšujícím se pořadí pnontv) 1, CL, Ji ”, jak je definováno níže. Jako obvykle jsou používány dvojice závorek (.) a [.] pro unikání z priorit a pro objasnění syntaktické struktury.
Složení za sebou Po; PX1 nejprve Po, a potom Px , je zkrácený zápis pro at °; a |°, a a°?x pro at0?*;
a4°?x. Podobně pro a°?x, a° 1E, a·, a*?x a a°iE.
Nekonečné opakování *PO: nekonečně často Po Paralelní složení Po || Px znamená Pe a Px paralelně af°: Pe znamená aot; Po; axf, a a|°; Po znamená aoJ;Po; ax|, kde iniciativa pro a je vnější.
af·: Po znamená aot; (Po JI ax|), kde iniciativa pro a je vnitřní.
Vnější nondeterminismus Po J Px: bud Po nebo Px, jak je zvoleno okolím.
Vnitřní nondeterminismus Eo ·* P® □ Ex -»PX, v závislosti na platnosti odpovídajících booleovských výrazů Eo a Ex.
Vnitřní proměnná x typu Z je deklarována jako x: var T. Deklarace proměnné jsou oddělovány symboly Pasivní brána a pro data typu T je deklarována jako a°?T pro vstupy, a a“!T pro výstupy. Aktivní brána pro data typu T je deklarována jako a*?T pro vstupy a a*lT pro výstupy. Deklarace brán jsou oddělovány symboly Programové sestavy pro základní přejímkové součástky jsou tvaru:
(deklarace brán), {[deklarace proměnné l Po nebo, bez vnitřních deklarací proměnné:
(deklarace brán).Po.
Obr.10a až lOd poskytují příklady přejímkových součástek, a to řadicí obvod (a), multiplexor (b), regenerativní zesilovač (c) a proměnlivou přejímkovou součástku (d).
Řadicí obvod SEQ.(a°, b*, c·) na obr.10a komunikuje, když je aktivován po a, po odpovídajících kanálech ba c.
-21Specifikace v podmínkách komunikačních událostí je:
SEQ. (a°,b-,c·) ( a° , b~ , c-) . * [ at° : ( b-/.cf° > ; aj° : cl* 1 .
Multiplexor MIX.íb'-', b°, d*) na obr.10b předává komunikace po jak b a c do d:
MIX.(b‘,c°,d·) = (b°,c°,d*).*[bt®:d|·: bj°:dj·
Jct-.-dt·; cj°:dj· ) .
Regenerativní zesilovač REP.(a°,b*) na obr.10c opakovaně komunikuje po b, jakmile je jednou aktivován po a: REP.(a°,b·)= (a°,b·).af°:*[b*l.
1-bitová proměnlivá součástka pro jedno čtení-jeden zápis VAR<it χ>.(a°,b°) na obr.lOd ukládá poslední bitovou hodnotu přiváděnou po a a vysílá ji na požádání po b: VAR(1,1).(a°,bo)= (aeIl, be?l) fix: var 1 *Ia°?x l b°Ix] i
Obr.11 kombinuje řadicí obvod a multiplexor s duplikátorem. Pro každou komunikaci po a iniciuje dvě komunikace d.
Nyní bude popsán zvolený testovací model. Jako pro synchronní obvody, je kriterium správnosti pro vyrobené obvody založeno na modelu chybnosti. V modelech chybnosti pro součinné obvody jsou chyby vztaženy k chybným komunikacím, jako je neschopnost přenášet určité hodnoty pro úplnou komunikaci (zablokování). V následujícím popisu se budeme soustředit na zablokování. Pro čtyřfázovou přejímku s dvoutrasovým přenosem dat odpovídá zablokování neschopnosti nastavit nebo znovunastavit některý kanálový vodič. Zablokování se také vztahují na poruchy ve vnitřních vodičích, což může být ilustrováno pomocí obr.5. Předpokládané chování je:
.0 0c j. t ; a i f · ; a o :
b,3l°; bi?°; w1 ; b„|·; bij0; col·; w| ; c.4·; c |° ; aj·] - viz SEQ(a°,b·,c-) .
Jak nastavováni tak znovunastavování vnitřního kanálu w jsou následovány určitou vnější událostí: wf událostí bo|, a w j. událostí co|. Je-li jedna z vnitřních událostí znemožněna, například v trvalých poruch na w, potom dojde k vnější události ax|, což vyvolá zablokování na kanálu a.
Obr.12 ukazuj/e konkrétní obvod pro základní součástku REP.(a°,b*), také z patentového spisu USA č.5 005 136. Ukazuje, co již bylo uvedeno dříve: nepřítomnost události aif, a potřebu inicializace pro skončení výpočtu a zkoušení ao|.
Obr.13 ukazuje konkrétní obvod pro základní součástku VAR(1.1>.(a°,b°) podle nizozemské patentové přihlášky 9000544, odpovídající patentové přihlášce USA 659 805, na niž se zde odvoláváme. Uloží-li se hodnota 0 do proměnlivé součástky a po té se čte, jsou vodiče ao0, ax, be a biO zkoušeny na poruchy trvalé 0/1, vodič q0 se zkouší na trvalou jedničku, a ql se zkouší na trvalou nulu. Když se uloží 1 a potom se čte, zkouší se vodiče a«l, bxl na poruchy trvalé 0/1. qO ma trvalou nulu a ql na trvalou jedničku. Úplná zkouška se tak získá tím, že se obojí vykoná ve sledu za sebou. V důsledku dvoutrasového kódováni není nutné kontrolovat přijatou hodnotu proti uložené hodnotě. Při výše uvedeném zkušebním modelu se hodí následující testy pro zkoušení základních součástek na obr.10:
- Zkušební soubor pro SEQ.(a°,b*,c*) obsahuje jedinou zkoušku s jedinou zkušební obligací, specifikovanou:
af·: (be;cf°) ; a|°:c4.e
- Zkušební soubor pro MIX,(b°,c°,d·) obsahuje jedinou zkoušku se dvěma zkušebními obligacemi: b1°:dt° ;b|*:d|°; c|-, d|°.
- Zkušební soubor pro REP.(a°, b*) obsahuje nekonečný počet jednotlivých testů, jako je těst,, s n>0 dokončených komunikací po b.
-23test„ - inicializuj.
- Zkušební soubor pro proměnlivou součástku obsahuje jedinou zkoušku se dvěma zkušebními obligacemi: a· ΐ 0; b*?y a a* 1 ; b*?y.
Kde je to vhodné, budeme dále definovat jednotlivou zk...-?,. uvedením jejího jednoho prvku.
Pro obvody s dvoutrasovým kódováním dat :-1 ;ej testovat nastavování a znovunastavování datových výstupů, odlišné obvody s jednotrasovým datovým kódováním, kde ne hodnoty rovněž důležité. Také pro samotnou synchronizaci nepostačující testovat na nastavování a znovunastavování synchronizačních vodičů. Zkušební rozhraní pro součástky pio vnikání (inbreaking) a pro vystupování (outbreaking) může být proto jednodušší, než standardní rozhraní (viz obr.jí jako optimalizovaná verze obr.4). Zde vymezuje nepřerušovaná šipka zkušební dráhu pro součástku A, nepřerušovaná šipku vymezuje zkušební dráhu pro součástku P.
Vnikání do synchronizačního kanálu se děje s následujícím typem spojení:
SPOJENÍ<-,->·(p-°, pt°, p*) = (p_°, pt°, p·).
t PtJ°:pt·; p4O;PI* )
Je třeba si povšimnout toho, že multiplexor MTX.(p«° pt°, p* ) vyhovuje této specifikaci. Spojení pro vnikán? ut datových vstupních kanálů s W bity jsou specifikována následovně :
SPOJENÍ<7.w>.(p.°, pt°, ρ·)= (p-° ?W,pt° ?W,p*!W).
([ x : var W l*(p.í°?x: ρ?·!χ; p-4°?x: p j·! X l ptl°?x: pt*ix; ptl°?x: ρ|·'χ.
-24Spojení pro vnikání do datových výstupních kanálů s 3 bity, SPOJENÍwρ»0,pt°,p·), jsou specifikována:
SPOJENÍ < : ,w> · (p.°,pt°,p·) = (p.° !W,pt°, p*?W>.
[ x : v a r W l*[p_t°!x : ρϊ·?χ; p_|°!x : ρ]·?χ I ptt°: ρ!·?χ ; Ρ4β:ρ|·?χ ] i
Způsob činnosti při unikání ze součástek je řízen řízen booleovskou bránou am a vnitřní booleovskou proměnnou t: falše pro standardní mód, a true pro nestandardní mód. Přepínače pro vystupování ze synchronizačních kanálů jsou specifikovány následovně:
PŘEPÍNAČ(aw·, at· am°, a°)= (a.*, at·, ara°? bool, a°) ([ t: var bool l * ( ara e?t | al°: [7t->a.f· □ t-»přeskočl; laj [7t-»a.|· □ t-*přeskoč] ]
i
Přepínače pro vystupování ze vstupních kanálů s W bity jsou specifikovány:
PREPINAC<*y,v*/) · (a e , am° , a° ) — (a_*?W,at·? W,am° ? bool, a°!W).
([ t: var bool & x: var W I * [ ara°?t aj°: IX: nt-*a.f?X □ t-*at7‘?X] ;
a|e: lX:I“lt-»a.4*?X □ t-»ae|*?Xl ]
i
Přepínače pro vystupování z datových výstupních kanále s W bity jsou specifikovány následovně:
-25PŘEPÍNAČ, t . . ia.·, , a° ) -'a.·? W,at· ?W,am°?bool,a°?K).
[ t: var boo1 & x: var W 1 * [ am°?t aÝ°!x: í~Jt—»a_ t* í W Π t-» přeskoč ] ; a ° i x : [lt —>a_^- !W M t—>přeskoč ] i
Obr.15 poskytuje protějšek obr.7 pro základní součástky SEQ.(a°,b“,c*) a MIX.(b°,c°,d·), v jejich kombinaci jako duplikátor. Brány s indexem 0 jsou částí zkušebního rozhraní s okolím, brány s indexem 1 tvoří rozhraní součástky SEQ.(a°,b*,c·), a brány s indexem 2 tvoří rozhraní součástky MIX.(b°,c°,d·).
Obr.16 poskytuje odpovídající protějšek pro součástku VAR<i,i>.(a°,b°) se spojeními a přepínači pro data.
Možný zkušební protějšek pro součástku SEQ.(a°,b*,c*) v uspořádání z obr.15 je:
<ara <ofalše U bm‘1 ’*!true II c„‘1 ’♦ l true) ;at ‘1 ’*·
Možný zkušební protějšek součástky MIX.<be,c®,de) v uspořádání z obr.15 je:
( bmx ’·! falše li cTO‘1 ’· Ifalse lt dra‘ 2 ’ ·! true ); bt<2>·; ct<2>*.
Zkouška pro úplný duplikátor z obr.15 zahrnuje zkoušení hranice, t.j. kanálů a. a d.. Možná zkouška hranice t *:d.t
It d„‘ 2 ’ · 1 false ) ; (a.° ii <dt‘· je:
(am‘°·!true d^;*:d_i°)).
Je několik možností kombinovat tyto výsledky pro zkoušku úplného duplikátoru.
Příklad, kde jsou součástky zkoušeny postupně za sebou je:
( am ‘ ’ · i f a 1 se U bm <x>*ítrue J| cmll>*!true);at<x>*;
( bm '1 ’ · 1 f a 1 se II cm'1 ’ * 1 f a 1 se 1) dm.‘ 2 ’ * 11 rue ) ; ‘ 2 ’ ·; ct <2>·;
dm ' 2 ’ · 1 f al se ) ; (a.· [[ ( dt ‘ ° >Ť · : d. f ° ;
II
-26Příklad, kde }sou zkoušky prokládány je:
( b,n' 1 ' · i f a 1 se J| cm ‘ x ' · i t rue U 1 2 ’* ! true ) ; bt'2’·;
(am 1°’*!fa 1 se H b„‘1’·itrue);an11 *;
cm ll,*:false ; ct2>*;
( am ‘ ® ’ · ! true Q dm2 ’ · ! f al se ) ; (a.“ íl (dt' ° ’ t* : d.1 * ; d.|-:d_i,°) )
Je třeba si povšimnout toho, že chování všech spojení během těchto zkoušek pokrývá zkušební obligace, jak byly definovány pro MIX.(.®,.®,.·): spojení hrají samodiagnostickou roli. To platí také o přepínačích.
Zkoušení přejímkové součástky s daty ve stejně podporovaném uspořádání je podobné. Zkouška pro základní přejímkovou součástku VAR, a., x > . (a®, b®) na obr.16 je například :
(amo>ífalse Π bm‘o>ífalse); a^^-íO ; btťi’· ;at<o>*ll; btt3-’·
Použití zkoušky a chování z hlediska nákladů mohou být laděny vhodnou volbou vnitřních bodů pro podporování testovatelnosti, jak je znázorněno s použitím obr.17a,b. Bez podpory testovatelnosti, jako na obr.17a, je počet zkušebních událostí v tomto řetězu n duplikátorů 0<2nX!. Vkládání opatření pro testovatelnost v půli cesty uprostřed řetězu, jako na obr.17b, poskytuje významnou exponenicální redukci na 0(2tn*1>/2) zkušebních událostí.
Jiné řešení je znázorněno na obr.18a, kde byla součástka MIX.(b®,c®,d·) nahražena novou základní součástkou MIX^.(m°,b°,c“,d®). Nová součástka je složení původní součástky s přepínačem pro vystupování z kanálu c (viz obr.18b). Její chování je následující:
MIX-6·. (m®,b®,c®,d·)= (m®?bool,b®,c®,d*).
{ít: var bool ) * [ m®?t bt®: dt® ;b|° i i c f® : [ 1 t—>d t® CL t-*pteskoč ]
-27'-·|ο : [ ~Ι t ->d^,a □. t —> přeskoč ]
Možná zkouška pro MIXC . ( m0 , b10 , c° , d* ) , která se dobře napojuje na SEQ.(a°,b°,c“)-součástky v duplikátoru je: m“ltrue; bf* : df'0; b|* rdi3; c*; 1 falše.
Toto činí platnou následující zkoušku pro úplný řetěz v obr.18a:
(mx*!true j) . . . )| mn*!true) at*:d ° ;aj*; (πΐχ-lfalse (j . . . // mn*I falše ) .
Odpovídající počet zkušebních událostí je 0(n).
Protože jazyk zkoušek je podobný programovacímu jazyku, může být usnadněna automatická (částečná) integrace zkoušky kompilátorem. Jestliže například části (mi· ítrueJJ . . . |{ m„· !true).(mx· Ifalse JJ . .. |{ m„· ífalse) jsou vestavěné, zmenší se počet přídavných vnějších kanálů na 2: mas. Zkouška obvodu se zmenšuje na:
(s· Π m*!true ; aí*:d® ;a|· ; (s· || m”ífalse).
Přidá se však značný počet obvodů.
Alternativním řešením, se stejnými výhodami, ale bez nadměrnosti obvodů, je použít jediný vodič pro nastavování obvodu v odpovídajícím operačním módu (viz obr.19). Tento vodič, zde označovaný jako t, je jak vnější vstup, tak i vnější výstup obvodu, a je směrován přes všechny základní součástky mající zkušební mód. Toho je možné docílit tak, že když všechny přejímkové součástky jsou ve zkušebním módu, slouží události na výstupní straně vodiče t jako potvrzení událostí na vstupní straně t: po té, co všechny události na vstupní straně t se staly pozorovatelnými na výstupní straně t, je zbytek obvodu nastaven v odpovídajícím módu dříve, než uplynulo pevné časové období.
Pokud jde o inicializaci, může být množství času pro ustálení vypočítáno z obvodu. Prvek t tak může být uvažován jako kanál se dvěma vodiči. Zde použijeme dvoufázový přejímkový protokol pro komunikování po t, kde t=.l představuje zkušební mod a t=0 standardní operační mód. Součástky se
-28zkušebním módem, t.j. kde je chování při zkoušce odlišné od standardního '-hování, jsou lehce změněné. Možná specifikace pro MI '0 . ( t·3 , b'J , c° , d· ) je uvedena níže.
MIXe.(te,b°,c°,d*)= (t°,b°,c°,d·) * í tt“ (
i bt°:dt* ; bj°:dt“
J c ° : [ t =0-> dt* ΓΤ t = l-> přeskoč 1 c|° : [ t = 0-*d αO t = l—►přeskoč 1 ]
Zkouška pro úplný řetěz je nyní:
tt· ; a|·:de ; a|·; t.

Claims (8)

  1. i. Způsob zkoušení elektronických obvodů majících větší počet funkčních součástek vzájemně spojených přejímkovými komunikačními kanály zakončenými každý na příslušných funkčních součástkách (A,P) aktivní bránou (20A), z níž je iniciována komunikace, a pasivní bránou (26P), kde je komunikace očekávána, při kterém se jeden z kanálů (c) opatří spojením (22) pro vnikání, čímž se vytvoří první zkušební součástka, která jinak tvoří, není-li testována, pouze část vnitrokanálového korespondenčního provozu, přičemž se při způsobu vniká přes pasivní bránu (22PE) uvedeného spojení (22) s první zkušební signalizací jako alternativou na jakoukoli vnitrokanálovou signalizaci směrem ke vnitrokanálové pasivní bráně (22PI) uvedeného spojení (22), přičemž uvedená první zkušební signalizace reprezentuje zkušební signalizaci pro uvedený kanál (c) při zkoušce jakékoli součástky s pasivní bránou na uvedeném kanálu (c) a včetně jakékoli kanálové části mezi uvedenou součástkou a uvedenou zkušební součástkou.
  2. 2. Způsob zkoušení elektronických obvodů majících větší počet součástek vzájemně spojených přejímkovými komunikačními kanály (c2,c3) zakončenými každý na příslušných funkčních součástkách (A,P) aktivní bránou (34A), z níž je iniciována komunikace, a pasivní bránou (36P), kde je komunikace očekávána, při kterém se jeden nebo více kanálů (c2, c3) opatří spojením (22-3) pro vnikání a/nebo jeden nebo více z uvedených kanálů se opatří přepínačem (24-2) pro vystupování, čímž se vytvoří soubor zkušebních součástek, které jinak tvoří, nejsou-li testovány, pouze část vnitrokanálového korespondenčního provozu, přičemž se při způsobu vniká přes pasivní bránu (22-3 PE) uvedeného spojení (22-3) prvního kanálu <c3) s první zkušební signalizací jako alternativou na jakoukoli vnitrokanálovou signalizaci směrem ke vnitrokanálové pasivní bráně C22-3 PE) uvedeného spojení, při řízení vnějším řídicím signálem na řídicí bránu (24-2
    -30PE) přepínače (24-2) na druhém kanálu (c2), přičemž se z něj signalizací přes aktivní AE) jako alternativou na signalizaci přes jakoukoli s
    a a
    se v
    vystupuje s druhou zkušební kanálovou vnější bránu (24-2 jakoukoli další vnitrokanálovou další aktivní bránu (24-2 AE) uvedeného přepínače (24-2) druhého kanálu, přičemž uvedená první nebo druhá zkušební signalizace je zkušební signalizace pro uvedený první (c3) nebo druhý kanál (c2) při zkoušení jakékoli součástky (34) s pasivní bránou (34P) na uvedeném prvním kanálu (c3), popř aktivní bránou (34AR) na uvedeném druhém kanálu (c2), včetně jakékoli kanálové části mezi uvedenými součástkami uvedenými zkušebními součástkami.
  3. 3. Způsob podle nároku 1 nebo 2 vyznačený tím, že alespoň jeden kanál (c) opatři přepínačem (24), který je jeho zkušební signalizaci řízen jak ve zkušebním módu pro vystupování vnitrokanálových signalizací uvnitř uvedeného alespoň jednoho kanálu (c), jakož i v nezkušebním módu pro pokračování vnitrokanálových signalizací.
  4. 4. Způsob podle nároku 1 nebo 3 pro provádění většího počtu zkoušek na příslušných funkčních součástkách, vyznačený tím, že se uvedeným obvodů předkládá sloučený zkušební signál zahrnující sloučené řídicí signály, z nichž se extrahují první zkušební signalizace pro vnikání na různá spojení (22) a také odpovídající vnější řídicí signály pro předkládání různým přepínačům (24) a také odpovídající druhé zkušební signalizace pro vystupování z řady přepínačů (24).
  5. 5. Způsob podle kteréhokoli z nároků 1 až 4 pro zkoušení uvedené elektronické obvodové soustavy obsahující větší počet integrovaných obvodů vyznačený tím, že se přiřazuje kterémukoli kanálu křižujícímu kteroukoli hranici mezi oddělenými integrovanými obvody fiktivní funkční součástka na uvedené hranici, takže obě strany uvedené hranice tvoří samostatný kanál jako příslušný kanál z přejímkových kanálů, a pro vykonávání zkoušky vzájemného spojení prostřednictvím vnikání odpovídajících zkušebních signalizací a vystupovaní s nimi na uvedených příslušných samo-31statných kanálech pe dvojicích sponenych uvedem-j íjm :· n . f u n kn i s o uč á s t κ o u .
    ó. Integrovaný obvod testovatelný způsobem po-He kteréhokoli z nároků 1 až 5, obsahující větší počet testovatelných funkčních součástek, které jsou sp-’irnv přejímkovými komunikačními kanály, zakončenými ka?'o na příslušných funkčních součástkách (A, P) aktivní ^Óhju <20A) iniciující komunikaci a pasivní bránou ι?ήΡ) očekávající komunikaci, přičemž alespoň část uvocený-n kanálů (c) je opatřena spojením (22) pro vnikán· i i .·> přepínačem (24) pro vystupování, čímž se vytvoří soubor zkušebních součástek, který mimo zkoušení pouze tvoři .·· >.t vnitrokanálového korespondenčního provozu, přičemž kterékoli z uvedených spojení (22) má první pasivní kanálovou bránu (22PI) pro vnitrokanálové iniciované zkušební komunikace a druhou pasivní zkušební bránu (22PE) pro vně iniciované zkušební komunikace, a první aktivní kanálovou bránu Í22A) pro šíření obou uvedených typů iniciovaných komunikací, přičemž kterýkoli z uvedených přepínačů (24) má třetí pasivní kanálovou bránu (24P) pro vnitrokanálově iniciované komunikace, a druhou aktivní kanálovou bránu (24A1) pro vnitrokanálové šíření těchto iniciovaných komunikací, a v každém z alespoň části uvedených přepínačů kombinaci třetí aktivní zkušební brány (24AE) pro šíření těchto iniciovaných komunikací vně kanálu, a čtvrté pasivní řídicí brány (24)’E> pro volbu pro šíření mezi uvedenou druhou aktivní kanálovou bránou (24AE) a uvedenou třetí aktivní zkušební bi/nou (24AI), přičemž uvedený obvod dále obsahuje zkušební řídicí prostředek pro vnikání na kterékoli druhé pasivní zkušební bráně (22PE) s uvedenou vně iniciovanou zkušební kombinací.
  6. 7. Integrovaný obvod podle nároku 6 vyznačený tím, že nejméně jeden kanál (c,cl,c2,c3) obsahuje jak spojení (22), tak i přepínače (24), které dohromady tvoří dvojici zkušebních součástek, čímž umožňují zkušební schopnost. i ro uvedený alespoň jeden kanál (c) jak pro vnikáni, tak i vystupování.
    -328. Integrovaný obvod podle nároku 6 nebo 7 vyznačený tím, že obsahuje další kanál zakončený fiktivní funkční součástkou pro připojení k dalšímu integrovanému obvodu a uvedený další kanál je opatřen spojením (22) a přepínačem (24) jako dvojicí zkušebních součástek.
  7. 9. Obvod podle kteréhokoli z nároků 6 až 8 vyznačený tím, že obsahuje samozkušební prostředek pro přijímání vnějšího aktivačního signálu a mající odvozovací prostředek pro odvozování z poskytovaného složeného zkušebního signálu zahrnujícího řídicí signál různých elementárních zkušebních signalizací a řídicích signalizací pro uvedená spojení (22) a přepínače (24), a pro přijímání a slučování různých elementárních výsledných signalizací na sloučený výsledný signál pro inspekci vně uvedeného obvodu.
  8. 10. Obvod podle kteréhokoli z nároků 6 až 9 vyznačený tím, že alespoň jedno spojení (22) má elektronickou součástku společnou s některou po kanálu přilehlou součástkou a přičemž alespoň jeden přepínač (24) má elektronickou součástku společnou s nějakou po kanálu přilehlou součástkou.
CS923832A 1992-02-18 1992-12-22 Method of testing electronic circuits and an integrated circuit tested in such a manner CZ383292A3 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP92200455 1992-02-18

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CZ383292A3 true CZ383292A3 (en) 1994-03-16

Family

ID=8210432

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS923832A CZ383292A3 (en) 1992-02-18 1992-12-22 Method of testing electronic circuits and an integrated circuit tested in such a manner

Country Status (9)

Country Link
US (1) US5590275A (cs)
EP (1) EP0556894B1 (cs)
JP (1) JPH0666894A (cs)
KR (1) KR100284626B1 (cs)
CN (1) CN1082302C (cs)
BR (1) BR9300579A (cs)
CZ (1) CZ383292A3 (cs)
DE (1) DE69315364T2 (cs)
SG (1) SG44012A1 (cs)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1060304C (zh) * 1996-01-25 2001-01-03 深圳市华为技术有限公司 程控交换设备的整机测试装置和方法
US5898886A (en) * 1996-11-19 1999-04-27 Advanced Micro Devices, Inc. Multimedia devices in computer system that selectively employ a communications protocol by determining the presence of the quaternary interface
US6199182B1 (en) * 1997-03-27 2001-03-06 Texas Instruments Incorporated Probeless testing of pad buffers on wafer
DE69822694T2 (de) 1997-04-25 2004-08-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma Verfahren zum prüfgerechten Entwurf, Verfahren zur Prüfsequenzerzeugung und integrierte Halbleiterschaltung
US6405335B1 (en) 1998-02-25 2002-06-11 Texas Instruments Incorporated Position independent testing of circuits
US6728915B2 (en) 2000-01-10 2004-04-27 Texas Instruments Incorporated IC with shared scan cells selectively connected in scan path
US6769080B2 (en) 2000-03-09 2004-07-27 Texas Instruments Incorporated Scan circuit low power adapter with counter
JP5213982B2 (ja) * 2011-03-30 2013-06-19 アンリツ株式会社 移動体通信端末試験システム、解析方法、及び解析プログラム

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4494066A (en) * 1981-07-02 1985-01-15 International Business Machines Corporation Method of electrically testing a packaging structure having n interconnected integrated circuit chips
US4556471A (en) * 1983-10-14 1985-12-03 Multi-Arc Vacuum Systems Inc. Physical vapor deposition apparatus
NL8303536A (nl) * 1983-10-14 1985-05-01 Philips Nv Geintegreerde schakeling op grote schaal welke verdeeld is in isochrone gebieden, werkwijze voor het machinaal ontwerpen van zo een geintegreerde schakeling, en werkwijze voor het machinaal testen van zo een geintegreerde schakeling.
US5005136A (en) * 1988-02-16 1991-04-02 U.S. Philips Corporation Silicon-compiler method and arrangement
DE3886038T2 (de) * 1988-07-13 1994-05-19 Philips Nv Speichergerät, das einen zur Ausführung einer Selbstprüfung adaptierten statischen RAM-Speicher enthält und integrierte Schaltung, die als eingebauten statischen RAM-Speicher ein solches Gerät enthält.
NL8900151A (nl) * 1989-01-23 1990-08-16 Philips Nv Werkwijze voor het testen van een schakeling, alsmede schakeling geschikt voor een dergelijke werkwijze.
US5043986A (en) * 1989-05-18 1991-08-27 At&T Bell Laboratories Method and integrated circuit adapted for partial scan testability
US5079696A (en) * 1989-09-11 1992-01-07 Sun Microsystems, Inc. Apparatus for read handshake in high-speed asynchronous bus interface
US5132974A (en) * 1989-10-24 1992-07-21 Silc Technologies, Inc. Method and apparatus for designing integrated circuits for testability
US5119480A (en) * 1989-11-13 1992-06-02 International Business Machines Corporation Bus master interface circuit with transparent preemption of a data transfer operation
EP0434137B1 (en) * 1989-12-19 1997-04-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. System for partitioning and testing submodule circuits of an integrated circuit
NL9000544A (nl) * 1990-03-09 1991-10-01 Philips Nv Schrijf-erkenningscircuit bevattende schrijfdetector en bistabiel element voor vier-fase hand-shake signalering.
JP2627464B2 (ja) * 1990-03-29 1997-07-09 三菱電機株式会社 集積回路装置
US5166604A (en) * 1990-11-13 1992-11-24 Altera Corporation Methods and apparatus for facilitating scan testing of asynchronous logic circuitry

Also Published As

Publication number Publication date
US5590275A (en) 1996-12-31
CN1082302C (zh) 2002-04-03
BR9300579A (pt) 1993-08-24
DE69315364D1 (de) 1998-01-08
KR100284626B1 (ko) 2001-03-15
KR930018280A (ko) 1993-09-21
JPH0666894A (ja) 1994-03-11
EP0556894A1 (en) 1993-08-25
CN1080447A (zh) 1994-01-05
DE69315364T2 (de) 1998-05-28
SG44012A1 (en) 1997-11-14
EP0556894B1 (en) 1997-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2725258B2 (ja) 集積回路装置
US9097762B2 (en) Method and apparatus for diagnosing an integrated circuit
JPH02181676A (ja) 境界走査試験セル
JPH03182138A (ja) 多段交換網およびスイッチ
KR20070007092A (ko) 테스트 랩퍼 아키텍처, 랩퍼 입/출력 셀 및 이의 테스트방법, 집적회로, 자동 테스트 장치
JP2007187458A (ja) スキャンフリップフロップ回路、及び、半導体集積回路装置
CZ383292A3 (en) Method of testing electronic circuits and an integrated circuit tested in such a manner
KR100564894B1 (ko) 반도체 집적회로 및 테스트 용이화 회로의 자동삽입방법
US10288682B2 (en) Integrated electronic device having a test architecture, and test method thereof
JPS61272668A (ja) システムlsi
JPH10185999A (ja) テスト回路及びテスト方法
EP1367404A2 (en) Scan-path flip-flop circuit for integrated circuit memory
US5894483A (en) Integrated circuit arrangement
KR960011446A (ko) 테스트 용이화 반도체 집적회로장치
US6140840A (en) Macro cell signal selector and semiconductor integrated circuit including these parts
Cota et al. Test and diagnosis of routers
JPH01140361A (ja) チャネル診断機能付データ処理システム
JPH07174821A (ja) バウンダリスキャンセルおよびテスト回路の検証方法
JPH10233783A (ja) セル導通診断方式
JPH11281710A (ja) バウンダリスキャンレジスタ
Zaki et al. Offline Test and Diagnosis of Network-on-Chips
JPH0377454A (ja) 通信回線診断方式
Ali et al. A SpaceWire Implementation of Chainless Boundary Scan Architecture for Embedded Testing
JP2001235513A (ja) 半導体集積回路装置及びそのテスト方法
JPS6086630A (ja) アドレススキヤン方式