CN210222136U - 一种易于扩容的电子产品老化测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种易于扩容的电子产品老化测试设备,该设备包括前测装置、至少一可扩容老化室、后测装置以及自动输送线,该自动输送线包括用于承载产品治具的上位传输线,每一可扩容老化室包括运送轨道、设置在该运送轨道的机器人操作装置、设置在该运送轨道两侧的若干老化仓以及设置在该自动输送线一侧的对接装置,该机器人操作装置通过该对接装置从该上位传输线取下依次传送的产品治具并送入对应老化仓老化,再将完成老化的产品治具通过对接装置送回该上位传输线。本实用新型的设备可在自动输送线上扩容多个老化室并建立测试产品治具的循环线路,可全自动实现大容量的电子产品老化和测试作业。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品老化与电性能测试技术领域,特别涉及一种易于扩容的电子产品老化测试设备。
背景技术
随着电力电子技术的发展与工业化水平的提高,各类电子产品,比如开关电源广泛应用于社会生产的各个环节。电源运行可靠与否直接关系到系统运行的安全性和准确性,影响到人们的生活安全。电子领域的电子产品因为功率较大,组装工艺复杂,必须在生产装配完成后,进行老化和电性能测试,确保工艺问题可以在出厂前被及时发现并解决。
开关电源生产过程中经过超声波处理后到出厂之前,中间还需要经过老化、ATE测试、耐压测试以及贴标或镭射、包装等工艺流程。其中老化、ATE测试、耐压测试属于开关电源的电性能测试。贴标或镭射、包装属于开关电源的外观处理环节。
在传统电子产品的测试中,电子产品产品的老化、ATE测试、耐压测试以及后处理工艺都是各种设置测试工位,单独完成各项电性能测试。比如,每一开关电源测试完成后至少需要经过四次的安装和拆卸的过程。并且传统开关电源的各项测试中,开关电源产品在老化、ATE测试、耐压测试的装夹安装过程都是靠人工来完成。
因此,传统电子产品电性能测试占用大量的人力资源、效率低、成本高;并且,传统电子产品在老化和电性能测试中需要多次插拔测试产品的输入、输出接口,影响产品的性能与使用寿命;传统电子产品在老化和电性能测试中,产品的输入输出接口没有做到标准化很多不防呆,人工操作时很容易出现插坏或者错插的情况,造成人为操作损坏产品降低成品率。并且,传统电子产品电性能测试受老化室容量的限制,老化和测试的效率不高。
因此,现有的电子产品老化与电性能测试技术还有待于改进和发展。
发明内容
本实用新型的主要目的是提供一种测试容量大,自动化程度高的易于扩容的电子产品老化测试设备。
为实现上述目的,本实用新型实施方式提供的技术方案是:提供一种易于扩容的电子产品老化测试设备,包括前测装置、至少一可扩容老化室、后测装置以及自动输送线,该自动输送线串接该前测装置、至少一可扩容老化室以及后测装置,该自动输送线包括用于承载产品治具的上位传输线与用于承载空治具的下位传输线,每一可扩容老化室包括运送轨道、设置在该运送轨道的机器人操作装置、设置在该运送轨道两侧的若干老化仓以及设置在该自动输送线一侧的对接装置,该机器人操作装置通过该对接装置从该上位传输线取下依次传送的产品治具并送入对应老化仓老化,再将完成老化的产品治具通过对接装置送回该上位传输线。
为了组成循环线路,该自动输送线的一端设置用于将该下位传输线上的空治具切换至该上位传输线的第一升降装置,该自动输送线的另一端设置用于将该上位传输线上的空治具切换至该下位传输线的第二升降装置。
具体实施时,该可扩容老化室还包括控制器,该机器人操作装置、对接装置以及该若干老化仓连接该控制器,该机器人操作装置包括支撑架、X轴位移组件、Z轴位移组件以及机械手装拆组件,该机械手装拆组件包括治具托盘、导向定位机构以及治具抓取机构,该导向定位机构包括设置在治具托盘上的Y轴导轨、推拉电机以及设置在治具托盘两侧一对限位导向板,该推拉电机的输出驱动Y轴滚珠丝杆。
其中,该治具抓取机构包括滑动安装在该Y轴导轨的拉取机械手以及操作该拉取机械手的升降气缸,该拉取机械手包括多个拉取挂钩。
为了保证该机器人操作装置的稳定性,每一可扩容老化室在该运送轨道上方设置上导轨,该支撑架顶部设置与该上导轨配合的导向机构,该机械手装拆组件从该上位传输线取下产品治具,根据该控制器指令放入该可扩容老化室的对应老化仓中。
其中,该X轴位移组件包括第一驱动电机、X轴导轨以及第一齿轮齿条组,该Z轴位移组件包括Z轴导轨、Z轴传动丝杆以及第二驱动电机。
优选地,该X轴导轨的长度与该可扩容老化室的长度等长;该Y轴滚珠丝杆的行程大于产品治具的长度;该传动丝杆的高度与该可扩容老化室的高度等齐。
优选地,每一治具包括座体以及对接部,该座体上设置若干测试工位,该对接部上设置定位销以及电连接该若干测试工位的多个第一电连接器,可扩容老化室的每一老化仓上设置一接口板,该接口板包括多个第二电连接器,并对应该定位销开设定位孔,该多个第一电连接器与该多个第二电连接器可插拔连接。
为了自动对接该上位传输线与下位传输线,该第一升降装置包括对接该上位传输线和下位传输线的升降架以及升降仓,该升降架上设置升降导轨以及驱动该升降导轨的升降气缸,该升降仓安装在该升降导轨上。
该前测装置与该第一升降装置之间设置上料工位,该后测装置与该第二升降装置之间设置卸料工位。
本实用新型实施方式的有益效果是:本实施例的易于扩容的电子产品老化测试设备,设置自动输送线连接多个可扩容老化室以及各个测试装置,并建立测试产品治具的测试老化线路和空返线路,该测试老化线路和空返线路组成循环线路,可高效大容量高效全自动实现电子产品的老化和测试。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的立体图;
图2为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的上料工位的结构示意图;
图3为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的机器人操作装置的立体结构图;
图4为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的前测装置的结构示意图;
图5为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的可扩容老化室的结构图;
图6为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的产品治具与老化仓接口板的立体结构图;
图7为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的产品治具与接口板的组装结构图;
图8为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的对接装置的结构示意图;
图9为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的治具方向调整装置的立体结构图;以及
图10为本实用新型的易于扩容的电子产品老化测试设备的第二升降装置的结构示意图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要说明,若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
如图1所示,总体上,本实施例的易于扩容的电子产品老化测试设备,包括第一升降装置3、上料工位51、前测装置6、第一治具方向调整装置71、可扩容老化室、第二治具方向调整装置72、后测装置9、卸料工位52以及第二升降装置4。还包括贯穿连接前述机构的自动输送线。该自动输送线连接该第一升降装置3、上料工位51、前测装置6、第一治具方向调整装置71、可扩容老化室、第一治具方向调整装置、后测装置9、卸料工位52以及第二升降装置4。
该自动输送线包括用于承载产品治具10的上位传输线2与用于承载空治具的下位传输线1,该自动输送线的一端设置用于将该下位传输线1上的空治具切换至该上位传输线2的第一升降装置3,该自动输送线的另一端设置用于将该上位传输线2上的空治具切换至该下位传输线1的第二升降装置4。本实用新型的设备通过自动输送线连接多个可扩容老化室81、82和各个测试装置并建立测试产品治具10的循环线路,以实现自动化完成老化和测试。该多个可扩容老化室。
如图5所示,每一可扩容老化室包括运送轨道814、设置在该运送轨道814的机器人操作装置813、设置在该运送轨道814两侧的若干老化仓以及设置在该自动输送线一侧的对接装置84。该机器人操作装置813通过该对接装置84从该上位传输线的上位传输线2取下依次传送的产品治具并送入对应老化仓老化,再将完成老化的产品治具通过该对接装置84送回该上位传输线2。
本实施例中,该老化仓设置在可扩容老化室的左右两侧,包括设置在可扩容老化室左侧的老化仓组811以及设置在该可扩容老化室右侧的老化仓组812。
使用时,在上料工位51从该第一升降装置3返回的空治具上放置电子产品,比如开关电源。由该上位传输线2运送至前测装置6,前测装置6做完ATE测试和耐压测试后,该第一治具方向调整装置71将竖向放置的产品治具转为横向放置后送入第一可扩容老化室81。可以理解的是在控制器的操控下,其它组的产品治具由该自动输送线送至该第二可扩容老化室82完成老化作业。在各个可扩容老化室中,由各自的机器人操作装置送入指定的老化仓。
在该可扩容老化室81、82完成老化工艺后,由该上位传输线2运送至该第二治具方向调整装置72,将横向放置的产品治具转为竖向放置后送入后测装置9,比如ATE装置与HI/P测试装置。在后测装置9完成电性能测试后,在该卸料工位52由人工卸下完成老化和测试的电子产品,再由该上位传输线2将空治具运送该第二升降装置4。该第二升降装置4将空治具下降运送至该下位传输线1,并由该下位传输线1返回至该第一升降装置3处,并由该第一升降装置3将空治具升起至该上位传输线2上,进入下一个循环,再次装入电子产品循环使用。
本实用新型的设备整个老化和测试设置自动输送线连接多个可扩容老化室以及各个测试装置,并建立测试产品治具的测试老化线路和空返线路,该测试老化线路和空返线路组成循环线路,可高效大容量高效全自动实现电子产品的老化和测试。
具体实施例
请一并参考图1与图2,以下具体介绍本实施例的易于扩容的电子产品老化测试设备。
本实施例的易于扩容的电子产品老化测试设备,包括第一升降装置3、上料工位51、前测装置6、第一治具方向调整装置71、可扩容老化室、第一治具方向调整装置、后测装置9、卸料工位52以及第二升降装置4。还包括贯穿连接前述机构的自动输送线。该自动输送线连接该第一升降装置3、上料工位51、前测装置6、第一治具方向调整装置71、可扩容老化室、第二治具方向调整装置72、后测装置9、卸料工位52以及第二升降装置4。
该自动输送线包括用于承载产品治具10的上位传输线2与用于承载空治具的下位传输线1,该自动输送线的一端设置用于将该下位传输线1上的空治具切换至该上位传输线2的第一升降装置3,该自动输送线的另一端设置用于将该上位传输线2上的空治具切换至该下位传输线1的第二升降装置4。本实用新型的设备通过自动输送线连接多个可扩容老化室81、82和各个测试装置并建立测试产品治具10的循环线路,以实现自动化完成老化和测试。该多个可扩容老化室。
为了便于说明,本实施例中,该多个可扩容老化室设置为两个,包括第一可扩容老化室81和第二可扩容老化室82,以下说明以第一可扩容老化室81为例加以说明,该第二可扩容老化室82的结构与该第一可扩容老化室81的结构相同。可以理解的是,三个以及更多的可扩容老化室均可以通过该自动输送线整合为一体。
如图5所示,该第一可扩容老化室81和第二可扩容老化室82内左右两侧分别设置若干位置编码的老化仓。以该第一可扩容老化室81为例,每一可扩容老化室包括运送轨道814、设置在该运送轨道814的机器人操作装置813、设置在该运送轨道814两侧的若干老化仓以及设置在该自动输送线一侧的对接装置84。该机器人操作装置813通过该对接装置84从该上位传输线的上位传输线2取下依次传送的产品治具并送入对应老化仓老化,再将完成老化的产品治具通过该对接装置84送回该上位传输线2。
本实施例中,该老化仓设置在可扩容老化室的左右两侧,包括设置在可扩容老化室左侧的老化仓组811以及设置在该可扩容老化室右侧的老化仓组812。
请一并参考图2和图4,本实施例中,该前测装置6可为ATE测试装置和/或耐压测试装置,该后测装置9为ATE测试装置和/或耐压测试装置。
该前测装置6包括治具顶升机构、测试控制机构62以及若干测试接口631。该若干测试接口631连接控制器。该前测装置6在测试接口631相对位置设置测试控制机构62。该测试控制机构62包括支架、安装在该支架上的治具推拉组件623以及导向轴621,该治具推拉组件623由推拉气缸622驱动,使该治具推拉组件623在该导向轴621的支撑下实现前后移动。该治具顶升机构包括顶升板64。该顶升板64连接若干顶升导向轴641,并由顶升气缸642驱动上下运动,以将产品治具顶起至测试位置。该一侧设置第一治具阻挡器611。
请一并参考图3和图4,从自动输送线上送来的产品治具10经过前测装置6完成ATE测试装置和/或耐压测试装置后,由该第一治具方向调整装置71将竖向放置的产品治具10转为横向放置后送入第一可扩容老化室81。可以理解的是在控制器的操控下,其它组的产品治具10可由该自动输送线送至该第二可扩容老化室82或者其它扩容的老化室完成老化作业。在各个可扩容老化室中,由各自的机器人操作装置送入指定的老化仓。
在老化室完成老化工艺后,从各个扩容老化室送出的产品治具由该上位传输线2运送至该第二治具方向调整装置72,将横向放置的产品治具转为竖向放置后送入后测装置9,比如ATE装置与HI/P测试装置。完成后测后,在该卸料工位52由人工取出产品,剩下空治具在该上位传输线2上,经由该第二升降装置4下沉至该下位传输线1,有该下位传输线1输送至该第一升降装置3,并由该第一升降装置3将空治具升起至该上位传输线2上,在上料工位51处人工装入新的产品后,进入下一个老化测试循环。
该可扩容老化室还包括控制器,该机器人操作装置813、对接装置84以及该若干老化仓连接该控制器。
请一并参考图3,该机器人操作装置813包括支撑架、X轴位移组件、Z轴位移组件以及机械手装拆组件。
该X轴位移组件包括底座851、第一驱动电机、X轴导轨853以及第一齿轮齿条组852。该Z轴位移组件包括Z轴导轨875、Z轴传动丝杆873以及第二驱动电机。为了适应不同老化室的工作需求,该X轴导轨的长度与该可扩容老化室的长度等长;该Y轴滚珠丝杆的行程大于产品治具的长度;该传动丝杆的高度与该可扩容老化室的高度等齐。
该机械手装拆组件包括Z轴连接部898、治具托盘891、导向定位机构以及治具抓取机构。该Z轴连接部滑动安装在该Z轴导轨875上。该治具托盘891、导向定位机构以及治具抓取机构安装在该Z轴连接部898上。
该导向定位机构包括设置在治具托盘891上的Y轴导轨894、推拉电机以及设置在治具托盘891两侧一对限位导向板892。该推拉电机的输出驱动Y轴滚珠丝杆893。该治具抓取机构可在该Y轴导轨894上在该限位导向板892的约束下滑动。
该治具抓取机构包括滑动安装在该Y轴导轨894的拉取机械手896以及操作该拉取机械手896的升降气缸897。本实施例中,该拉取机械手896包括多个拉取挂钩。
为了保证该机器人操作装置的稳定性,每一可扩容老化室在该运送轨道814上方设置上导轨,该支撑架顶部设置与该上导轨配合的导向机构874。该机械手装拆组件从该上位传输线2取下产品治具,根据该控制器指令放入对应可扩容老化室的对应老化仓中。
本实施例的老化仓采用抽屉式结构。在控制器的控制下,该机器人操作装置813获取完成电子产品老化的老化仓位置信息,在X轴位移组件、机械手装拆组件、Z轴位移组件以及该对接装置84的作用下自动将完成老化的电子产品治具拔出并运送至上位传输线2上。在控制器的控制下,该机器人操作装置813获取对应可扩容老化室中空的老化仓位置信息,在X轴位移组件、Z轴位移组件、机械手装拆组件以及对接装置84的作用下自动将上位传输线2上装有被测电子产品的产品治具送至空档的老化仓。
如图8所示,该对接装置84,用于将该身为传输线2上的产品治具中转至该机器人操作装置813的拉取机械手896上,以衔接该自动传输线与不同的机器人操作装置813。该对接装置84包括架体以及安装在架体下方的第二顶升机构以及安装在该架体上方的夹取升降机构。该第二顶升机构包括顶升台841、导向轴842、第二升降气缸843以及第二治具阻挡器844。该夹取升降机构包括相对夹持的夹手845、夹手导向杆846以及夹持气缸847。
如图9所示,该第一治具方向调整装置71与该第二治具方向调整装置72结构相同。在此仅介绍该第一治具方向调整装置71。
该第一治具方向调整装置71包括方向调整组件以及旋转组件。该方向调整组件包括旋转板719、连接该旋转板719的第三导向轴713。该旋转板719有第三顶升气缸714驱动上下运动。该旋转组件包括安装在该旋转板719上的旋转台711,该旋转台711的两侧安装有治具限位板716。该治具相位板716内侧设置输送带718。该输送带718由输送电机驱动。
请一并参考图6以及图7,本实施例的每一治具10包括座体以及对接部11,该座体上设置若干测试工位12。该对接部11上设置定位销114以及电连接该若干测试工位的多个第一电连接器112。
本实施例中,每一老化仓后部设置一接口板83。每一接口板83包括多个第二电连接器831,并对应该定位销开设定位孔832,该多个第一电连接器112与该多个第二电连接器831可插拔连接。
如图10所示,该第一升降装置3包括对接该上位传输线2和下位传输线1的升降架40以及升降仓45。该升降架40上设置升降导轨42以及驱动该升降导轨42的升降气缸46,该升降仓45安装在该升降导轨42上。
该第二升降装置4的构造与该第一升降装置3的构造相同,该第二升降装置4与该第一升降装置3的升降仓的朝向不同,相对设置。
本实施例的易于扩容的电子产品老化测试设备,设置自动输送线连接可扩容老化室81、82和各个测试装置并建立测试产品治具10的测试老化线路和空返线路,该测试老化线路和空返线路组成循环线路,可大容量高效全自动实现电子产品的老化和测试。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的实用新型构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间隔运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,包括前测装置、至少一可扩容老化室、后测装置以及自动输送线,所述自动输送线串接所述前测装置、至少一可扩容老化室以及后测装置,所述自动输送线包括用于承载产品治具的上位传输线与用于承载空治具的下位传输线,每一可扩容老化室包括运送轨道、设置在所述运送轨道的机器人操作装置、设置在所述运送轨道两侧的若干老化仓以及设置在所述自动输送线一侧的对接装置,所述机器人操作装置通过所述对接装置从所述上位传输线取下依次传送的产品治具并送入对应老化仓老化,再将完成老化的产品治具通过对接装置送回所述上位传输线。
2.根据权利要求1所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,所述自动输送线的一端设置用于将所述下位传输线上的空治具切换至所述上位传输线的第一升降装置,所述自动输送线的另一端设置用于将所述上位传输线上的空治具切换至所述下位传输线的第二升降装置。
3.根据权利要求1所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,所述可扩容老化室还包括控制器,所述机器人操作装置、对接装置以及所述若干老化仓连接所述控制器,所述机器人操作装置包括支撑架、X轴位移组件、Z轴位移组件以及机械手装拆组件,所述机械手装拆组件包括治具托盘、导向定位机构以及治具抓取机构,所述导向定位机构包括设置在治具托盘上的Y轴导轨、推拉电机以及设置在治具托盘两侧一对限位导向板,所述推拉电机的输出驱动Y轴滚珠丝杆。
4.根据权利要求3所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,所述治具抓取机构包括滑动安装在所述Y轴导轨的拉取机械手以及操作所述拉取机械手的升降气缸,所述拉取机械手包括多个拉取挂钩。
5.根据权利要求4所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,每一可扩容老化室在所述运送轨道上方设置上导轨,所述支撑架顶部设置与所述上导轨配合的导向机构,所述机械手装拆组件从所述上位传输线取下产品治具,根据所述控制器指令放入所述可扩容老化室的对应老化仓中。
6.根据权利要求4所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,所述X轴位移组件包括第一驱动电机、X轴导轨以及第一齿轮齿条组,所述Z轴位移组件包括Z轴导轨、Z轴传动丝杆以及第二驱动电机。
7.根据权利要求6所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,所述X轴导轨的长度与所述可扩容老化室的长度等长;所述Y轴滚珠丝杆的行程大于产品治具的长度;所述传动丝杆的高度与所述可扩容老化室的高度等齐。
8.根据权利要求2所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,每一治具包括座体以及对接部,所述座体上设置若干测试工位,所述对接部上设置定位销以及电连接所述若干测试工位的多个第一电连接器,可扩容老化室的每一老化仓上设置一接口板,该接口板包括多个第二电连接器,并对应所述定位销开设定位孔,所述多个第一电连接器与所述多个第二电连接器可插拔连接。
9.根据权利要求8所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,所述第一升降装置包括对接所述上位传输线和下位传输线的升降架以及升降仓,所述升降架上设置升降导轨以及驱动所述升降导轨的升降气缸,所述升降仓安装在所述升降导轨上。
10.根据权利要求8所述的易于扩容的电子产品老化测试设备,其特征在于,所述前测装置与所述第一升降装置之间设置上料工位,所述后测装置与所述第二升降装置之间设置卸料工位。
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Cited By (5)
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---|---|---|---|---|
CN112098753A (zh) * | 2020-09-11 | 2020-12-18 | 北京无线电测量研究所 | 一种电子组件老化测试系统、方法 |
CN112986740A (zh) * | 2021-03-18 | 2021-06-18 | 东莞首航新能源有限公司 | 一种光伏产品的老化测试装置 |
WO2022077802A1 (zh) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | 东莞市冠佳电子设备有限公司 | 老化产品运输机构 |
WO2022077803A1 (zh) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | 东莞市冠佳电子设备有限公司 | 并联自动老化生产线 |
CN116859168A (zh) * | 2023-08-31 | 2023-10-10 | 立臻精密智造(昆山)有限公司 | 产品老化检测系统及产品老化检测方法 |
-
2019
- 2019-03-21 CN CN201920366320.7U patent/CN210222136U/zh active Active
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112098753A (zh) * | 2020-09-11 | 2020-12-18 | 北京无线电测量研究所 | 一种电子组件老化测试系统、方法 |
CN112098753B (zh) * | 2020-09-11 | 2023-05-16 | 北京无线电测量研究所 | 一种电子组件老化测试系统、方法 |
WO2022077802A1 (zh) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | 东莞市冠佳电子设备有限公司 | 老化产品运输机构 |
WO2022077803A1 (zh) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | 东莞市冠佳电子设备有限公司 | 并联自动老化生产线 |
CN112986740A (zh) * | 2021-03-18 | 2021-06-18 | 东莞首航新能源有限公司 | 一种光伏产品的老化测试装置 |
CN116859168A (zh) * | 2023-08-31 | 2023-10-10 | 立臻精密智造(昆山)有限公司 | 产品老化检测系统及产品老化检测方法 |
CN116859168B (zh) * | 2023-08-31 | 2023-12-19 | 立臻精密智造(昆山)有限公司 | 产品老化检测系统及产品老化检测方法 |
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Denomination of utility model: An easily expandable aging testing equipment for electronic products Effective date of registration: 20230509 Granted publication date: 20200331 Pledgee: Shenzhen small and medium sized small loan Co.,Ltd. Pledgor: SHENZHEN JIA CHUANG DT. SCIENCE CO.,LTD. Registration number: Y2023980040134 |