CN1877342A - 能够将测试对象精确连接至基底的测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种对测试对象进行测试的测试装置，连接器由所述测试装置的内框架保持并电连接至基底。推动器由所述内框架可滑动地保持。所述推动器具有用于接纳所述测试对象的插入槽。所述推动器和内框架相互协作以将所述测试对象定位在与所述连接器对应的位置。所述推动器移动以使所述测试对象与所述连接器接触。
Description
本申请要求日本专利申请JP2005-170734的优先权，其内容在此通过引用并入本申请。
技术领域
本发明涉及用于对测试对象的电特性进行测试的测试装置，所述测试对象例如是通常被称为柔韧印制板(FPC)的柔韧电路板。
背景技术
例如，日本专利公开出版物(JP-B)H7-19812公开了一种测试具有多个小节距设置的电极的半导体器件或者LCD(液晶显示器)的测试装置。所述测试装置包括设有多个接触部分的绝缘膜。所述接触部分包括多个形成为探针(probe)的导电线。在开始进行测试操作时，所述接触部分与基底的电极接触以测试基底的电特性。为了指示基底的电极与绝缘膜的接触部分之间的相对定位，绝缘膜设有标记。
在所述节距在基底的电极处和在绝缘膜的接触部分处相对较大的情况下，通过目视观测可以容易并精确地进行它们之间的定位。
但是，如果所述节距非常小，很难使基底的电极和绝缘膜的接触部分相对彼此精确定位。
发明内容
因此，本发明的一个目的是提供一种能够将测试对象精确连接至基底的测试装置。
本发明的另一目的是提供一种能够简便地执行测试操作的测试装置。
随着说明的进行，本发明的其他目的将变得更清楚。
根据本发明的一个方面，提供一种对测试对象进行测试的测试装置，所述测试装置包括基底、与所述基底相连接的内框架、由所述内框架保持并电连接至所述基底的连接器、和由所述内框架可滑动地保持并具有用于接纳所述测试对象的插入槽的推动器，所述推动器和内框架相互协作以将所述测试对象定位在与所述连接器对应的位置，所述推动器移动以使所述测试对象与所述连接器接触。
附图说明
图1是根据本发明第一实施例的测试装置的外观的透视图；
图2是图1所示测试装置的放大正视图；
图3是图1所示测试装置的分解透视图；
图4A和4B是从不同方向看到的图1所示测试装置中内框架和低接触压力连接器组合的透视图；
图5A至5C是用于说明图4A和4B所示低接触压力连接器及其制造方法的透视图；
图6是显示图1所示测试装置在FPC插入其中之前的截面图；
图7是图1所示测试装置在FPC插入其中后特征部分的截面图；
图8是图1所示测试装置在FPC连接其上时的截面图；
图9是图8中特征部分的放大视图；
图10是根据本发明第二实施例的测试装置的外观的透视图；
图11是图10中测试装置的一部分的放大分解透视图。
具体实施方式
首先参照图1至图3说明根据本发明的测试装置从总体上进行说明。
图中所示测试装置也被称为测试探针并适于对作为测试对象的FPC的电特性进行测试。测试装置或测试探针11包括也作为支撑件的底盖12、安装在底盖12上的基底13、安装在基底13上的内框架14、沿底盖12、基底13、内框架14在垂直方向上可移动的推动器15、安装在基底13和内框架14上的底座17、和连接至底座17以围绕轴19旋转的顶盖18。
内框架14具有彼此隔开间隔W的一对推动器导向件14a。例如，考虑到FPC的宽度，间隔W等于15.6mm。
推动器15通过插入至导向孔15b的推动器导向件14a的引导而进行垂直运动并且通过一对升降螺旋弹簧(lifting coil spring)16推动。推动器15具有彼此面对的一对上和下导向器15c。垂直导向器15c限定形成在与内框架14的间隙W对应的位置处的插入槽15a以接纳FPC。插入槽15a具有最窄部分，考虑到FPC的厚度，所述最窄部分例如具有等于0.5mm的高度H。
底座17和顶盖18具有分别用于插入轴19的轴孔17a和18a。轴19通过轴孔17a和18a插入以使顶盖18被连接至底座17。具有连接至其上的顶盖18的底座17通过利用四个螺钉21和四个螺母22与基底13和内框架14一起固定至底盖12。螺钉21插入分别形成在底座17、内框架14、基底13和底盖12中的通孔17d、14d、13a和12a并与螺母22接合。顶盖18由一对关闭螺旋弹簧20沿关闭方向推压。
请参看图4A和4B，将说明内框架14。
内框架14设有形成在其底表面上的大凸起14b和小凸起14c。通过利用凸起14b和14c，将在后面说明的低接触压力连接器2被定位。具体而言，低接触压力连接器2包括芯件5，芯件5设有形成在其相对侧上的大孔5a和小孔5b。大孔5a和小孔5b分别套在内框架14的大凸起14b和小凸起14c上。另外，凸起14b和14c装配至在基底13中形成在装配孔13b和13c。因而，低接触压力连接器2被可靠地固定在基底13和内框架14之间。
请参看图5A至5C，将说明低接触压力连接器2及其制造过程。
首先，制备厚度为几个微米的薄膜3。如图5A所示，在薄膜3的一个表面上，数个导体4通过溅射、蚀刻或者电镀而形成图案。随后，如图5B所示，薄膜3被折叠为两个，导体4暴露至外部。
另一方面，芯件5由聚酰亚胺等制成。作为芯件5的每个相对表面的一部分，形成有硅橡胶等的弹性层6。薄膜3与芯件5结合从而使被折叠为两个的薄膜3把弹性层6和芯件5夹入中间。另外，薄膜3通过利用双面胶带(未示出)固定至弹性层6。因而，完成了图5所示的低接触压力连接器2。
低接触压力连接器2具有下面的结构，其中导体4形成在把弹性层6夹在其间的薄膜3的表面上。因此，即使在低接触压力的情况下，可以通过表面接触或者多点接触建立电连接。另外，即使某些异物介入，也能够实现电连接。由于所述低接触压力，可以防止FPC31或者基底13上的电极被损坏。另外，由于使用薄膜3，低接触压力连接器2可以形成为小的外形。
请参看图6至9，将说明通过利用探针11测试FPC31的方法。
在图6中，顶盖18的操作部分18b由手指沿着箭头A1所示方向推压。随后，顶盖18围绕轴19顺时针旋转以压缩螺旋弹簧20。此时，推动器15由升降螺旋弹簧16向上升起，从而推动器15的凸起15d跟随顶盖18的接触部分18c。在此情况下，FPC31沿箭头A2所示方向水平地插入至推动器15的插入槽15a。此时，内框架14和推动器15相互协作以引导FPC31的插入并定位FPC31。因此，不需要目视观测来进行定位，从而测试操作简单并且定位更精确。
当FPC31插入至推动器15的插入槽15a中时，假设FPC31如图7所示相对于水平方向倾斜角度θ。上和下导向器15c这样设计，即使在这种情况下，FPC31的前端与低接触压力连接器2分开距离L。具体而言，下导向器15c设有具有三角形截面的部分，从而即使θ＝大约12°，L≥1mm。采用这种结构，可以防止插入FPC31时FPC31的前端与低接触压力连接器2接触。因此，低接触压力连接器2被损坏的风险降低，从而低接触压力连接器2的修复和更换的频率降低。
随后，如图8所示，手指沿箭头所示方向从顶盖18的操作部分18b分开。因而，螺旋弹簧20伸长，从而顶盖18围绕轴19逆时针旋转。然后，推动器15由顶盖18向下推压，从而压缩螺旋弹簧20。如图9所示，FPC31由推动器15的平面挤压，从而在FPC31底表面上形成的触点图案31a通过低接触压力连接器2的导体4与基底13的触点图案13b相接触。因此，FPC31电连接至基底13，从而FPC31的电特性可以得到测试。
采用上述结构，不需要固定操作(例如焊接)。修复操作简单，并且修复和更换操作的时间可以缩短。
下面请参看图10和11，将说明根据本发明第二实施例的测试装置。相同部分用相同的附图标记表示并且省略对其的说明。
测试装置或者探针11具有形成在底座17的四个位置和底盖12的四个位置的凹陷结构17c和12b，从而能够装配至螺钉21或者螺母22。为了将FPC插入至插入槽15a，底盖12被压下。
采用上述结构，如果触点图案形成在FPC的顶表面，探针11如图10所示沿垂直方向翻转并且螺钉21和螺母22交换。因此，无论触点图案形成在FPC的顶表面或者底表面，FPC的电特性都能够很简单地得到测试。
虽然根据几个优选实施例说明了本发明，在不脱离所附权利要求书范围的前提下可以对本发明进行各种方式的修改。虽然是以测试FPC的情况为例进行说明，但显然所述测试装置还可以测试不同于FPC的其他测试对象。
Claims (10)
1.一种对测试对象进行测试的测试装置，所述测试装置包括：
基底；
与所述基底相连接的内框架；
由所述内框架保持并电连接至所述基底的连接器；和
由所述内框架可滑动地保持并具有用于接纳所述测试对象的插入槽的推动器，所述推动器和内框架相互协作以将所述测试对象定位在与所述连接器对应的位置，所述推动器移动以使所述测试对象与所述连接器接触。
2.根据权利要求1所述的测试装置，进一步包括：
与所述基底和内框架至少之一相连接的底座；
由所述底座可旋转地保持并且一端与所述推动器接合的操作件；
用于沿所述推动件的推动方向连续地挤压所述操作件的第一弹性件；和
用于沿与所述推动方向相反的方向连续地挤压所述推动件的第二弹性件。
3.根据权利要求2所述的测试装置，进一步包括支撑件，所述基底放置在所述支撑件上，所述底座固定至所述支撑件。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其中所述内框架设置在所述支撑件和底座之间并固定至所述支撑件。
5.根据权利要求3所述的测试装置，其中所述基底设置在所述支撑件和底座之间并固定至所述支撑件。
6.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述内框架具有一对推动器导向件，所述推动器导向件彼此隔开并适于引导所述推动器的运动，所述推动器导向件与所述插入槽协作以定位所述测试对象。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述连接器包括：
弹性层；
把所述弹性层夹入中间的薄膜；和
形成在所述薄膜表面上的导体。
8.根据权利要求7所述的测试装置，其中所述连接器进一步包括保持所述弹性层的芯件，所述芯件由所述内框架保持。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述芯件具有孔，所述内框架具有通过所述孔插入的凸起，所述基底具有套在所述凸起上的装配孔。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述底座和支撑件具有可以配合至螺钉或者螺母的凹陷结构。
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| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20100421 Termination date: 20180609 |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |