KR101141962B1 - 플렉시블 회로기판 테스트용 툴 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 플렉시블 회로기판 테스트용 툴에 관한 것으로 구체적으로는 테스트용 측정핀의 안전성 확보와 테스트용 툴의 취급 용이성 그리고 플렉시블PCB에 대한 측정핀의 안정적 접촉을 도모할 수 있는 플렉시블 회로기판 테스트용 툴을 제공할 수 있도록 한 것이다.
즉, 저면 중앙에 결합편이 형성되고 일 측 가압부에는 다수개의 측정핀이 끼워져 측정핀 하단이 아래로 돌출되는 작동체와; 상기 작동체의 결합편과 힌지 결합되는 고정편이 형성되고 일 측에는 플렉시블PCB선단 안착용 안착부를 가진 고정체와; 상기 작동체 및 고정체의 후방에 탄설되어 작동체의 가압부 및 고정체의 안착부가 서로 밀착 되도록 하는 스프링과; 상기 작동체의 가압부 하측에 소정의 간격을 두고 마련되고 중앙에는 가압부의 측정핀이 삽입되는 보호구멍이 여러 개 형성된 가압판과; 상기 작동체의 가압부 하측에 소정의 간격을 두고 마련되어 양측이 가압부 저면에 고정되는 한 개 이상의 이음핀에 의해 낙하가 방지되면서 상기 이음핀을 따라 상하로 유동 되는 가압판을 포함한 플렉시블 회로기판 테스트용 툴을 제공할 수 있도록 한 것이다.
즉, 저면 중앙에 결합편이 형성되고 일 측 가압부에는 다수개의 측정핀이 끼워져 측정핀 하단이 아래로 돌출되는 작동체와; 상기 작동체의 결합편과 힌지 결합되는 고정편이 형성되고 일 측에는 플렉시블PCB선단 안착용 안착부를 가진 고정체와; 상기 작동체 및 고정체의 후방에 탄설되어 작동체의 가압부 및 고정체의 안착부가 서로 밀착 되도록 하는 스프링과; 상기 작동체의 가압부 하측에 소정의 간격을 두고 마련되고 중앙에는 가압부의 측정핀이 삽입되는 보호구멍이 여러 개 형성된 가압판과; 상기 작동체의 가압부 하측에 소정의 간격을 두고 마련되어 양측이 가압부 저면에 고정되는 한 개 이상의 이음핀에 의해 낙하가 방지되면서 상기 이음핀을 따라 상하로 유동 되는 가압판을 포함한 플렉시블 회로기판 테스트용 툴을 제공할 수 있도록 한 것이다.
Description
본 발명은 소형 플렉시블 회로기판(PCB)의 테스트를 보다 정밀하게 수행함과 동시 편의성과 안정성을 가지도록 한 플렉시블 회로기판 테스트용 툴에 관한 것이다.
일반적으로 휴대폰이나 디지털 카메라에 사용되는 플렉시블 회로기판(이하 '플렉시블PCB' 라 칭함)은 소형 및 세밀화된 패턴형성으로 그 작동 여부의 테스트가 매우 까다로운 문제점을 안고 있는 바, 근래 이러한 문제점을 해결하면서 그 테스트 작업의 신속,편리성을 추구하는 플렉시블PCB 테스트용 툴이 안출된 바 있다.
이를 보다 상세히 설명하자면 플렉시블PCB의 작동유무 및 그 패턴의 접속불량을 검사하는 종래의 테스트 툴은 중앙부의 결합편(11)과 고정편(21)이 힌지(11') 결합됨과 동시에 그 일측 선단으로 각각 다수 측정핀(3)이 설치되는 가압부(12)와 안착부(22)가 형성되고 또 타측에는 스프링(4)이 게재되어 상기 가압부(12)와 안착부(22)가 상호 밀착된 상태를 유지하도록 한 작동체(1)와 고정체(2)로 구성되는 것으로,
플렉시블PCB의 테스트시 상기 고정체(2)로 부터 작동체(1)의 타측을 편심되게 눌러 일측 선단의 가압부(12)와 안착부(22)를 일정범위 벌어지도록 한 다음 그 내에 플렉시블PCB선단(a)을 밀어 넣어 누르고 있는 작동체(1)을 놓는다. 그러면 작동체(1)의 가압부(12)에 설치된 다수의 측정핀(3) 하단이 작동체(1)와 고정체(2) 사이에 게재된 스프링(4)의 가압력에 의해 일정하게 플렉시블PCB선단(a)에 형성된 패턴과 가압 접촉되면서 전기적 신호를 검사장치(c)와 기기(도면의 미도시)로 전달하여 테스트가 이루어지게 한다.
측정핀(3)들은 상단이 검사장치(c)의 단자판(b)과 연결되어 전기적 신호를 위와 같이 전달하게 된다.
상술한 바와 같이 종래의 테스트 툴은 플렉시블PCB의 세밀화된 패턴의 테스트를 매우 신속하면서도 편리하게 도모하여 주는 이점을 제공하고 있음을 알 수 있다. 그러나 근래에 들어 상기 테스트 툴의 사용시 노출된 측정핀 구성으로 인해 잦은 파손과 그에 따른 고가의 비용손실 그리고 플렉시블PCB의 많은 테스트 오류 등으로 신뢰성 저하 및 기피현상이 일어나고 있음이 지적되었다.
즉, 전기한 구성을 살펴보면 다수의 측정핀이 작동체의 가압부에 끼움되어 그 하단부가 외부에 완전 노출되어 있음을 알 수 있는데,
이 경우 취급 부주의 내지는 외부환경으로부터 측정핀이 쉽게 파손 및 훼손될 우려가 상당히 높아 고가의 비용적 손실을 초래함은 물론 작업의 효율성을 저해하게 되고, 특히 가장 대두되었던 문제가 플렉시블PCB선단을 밀어 넣거나 빼낼 때 조금의 부주의에도 플렉시블PCB와 소형이면서도 충격에 약한 측정핀이 서로 부딪쳐 상호 훼손되는 문제가 많았으므로 측정핀의 미세 휨에 의한 접촉불량으로 테스트의 잦은 오류가 일어나 제품의 신뢰성과 품질을 크게 저해하였던 문제가 있었다.
또한 다수 측정핀들은 작동체와 고정체에 게재된 스프링의 탄발력에 의해 플렉시블PCB를 가압접촉시키게 되는데, 만약 작업자가 작동체와 고정체의 누름 상태를 순간 일시적으로 해제 또는 뜻하지 않게 미끄러졌을 경우, 스프링의 탄발력이 순간 강하게 발생하면서 다수 측정핀들을 플렉시블PCB의 패턴에 타격시켜 패턴은 물론 측정핀의 훼손을 야기하였던 문제까지 지적되고 있었다.
본 발명은 전기한 종래의 다수 문제를 보완하기 위하여 발명된 것으로 특히 가압부 하부위치에 완충스프링이 게재된 가압판을 설치하여 측정핀 안전이 최대한 확보될 수 있도록 함과 동시에 플렉시블PCB의 테스트 정밀성이 극대화되도록 한 플렉시블 회로기판 테스트용 툴을 제공함에 그 목적이 있다.
한편 작동체와 고정체를 집게형태로 사용할 때, 그 사용의 안전성과 편의성을 가지도록 함에 또 다른 목적이 있다.
본 발명에 따른 플렉시블 회로기판 테스트용 툴은,
저면 중앙에 결합편이 형성되고 일 측 가압부에는 다수개의 측정핀이 끼워져 측정핀 하단이 아래로 돌출되는 작동체와; 상기 작동체의 결합편과 힌지 결합되는 고정편이 형성되고 일 측에는 플렉시블PCB선단 안착용 안착부를 가진 고정체와; 상기 작동체 및 고정체의 후방에 탄설되어 작동체의 가압부 및 고정체의 안착부가 서로 밀착 되도록 하는 스프링과; 상기 작동체의 가압부 하측에 소정의 간격을 두고 마련되고 중앙에는 가압부의 측정핀이 삽입되는 보호구멍이 여러 개 형성된 가압판과; 상기 작동체의 가압부 하측에 소정의 간격을 두고 마련되어 양측이 가압부 저면에 고정되는 한 개 이상의 이음핀에 의해 낙하가 방지되면서 상기 이음핀을 따라 상하로 유동 되는 가압판을 포함한 것을 특징으로 한 것이다.
본 발명은 테스트용 측정핀의 안전을 최대한 확보하여 테스트용 툴의 취급이 보다 자유로워 질 수 있도록 함과 동시에 사용의 편리성을 가지게 하고 특히 플렉시블PCB로 측정핀의 접촉을 안정적으로 유도하여 상호간의 접촉 안전성과 테스트의 정밀성을 향상시켜 제품의 신뢰도를 높여 주면서 테스트용 툴의 반영구적인 사용을 도모하여 종래 크게 대두 되었던 비용적 손실을 막아 주는 효과가 있다.
한편 본 발명은 작동체에 경사돌부를 형성함으로써 테스트용 툴의 사용 편리성을 제공함은 물론 미끄러짐 등에 의한 오작동을 예방할 수 있는 효과도 있다.
도 1은 본 발명의 예시도,
도 2는 본 발명의 조립예시도,
도 3은 가 - 가'선 단면 사용상태도,
도 4는 나 - 나'선 단면 사용상태도,
도 5는 본 발명의 가압판 작용상태를 나타낸 부분확대 단면도.
도 2는 본 발명의 조립예시도,
도 3은 가 - 가'선 단면 사용상태도,
도 4는 나 - 나'선 단면 사용상태도,
도 5는 본 발명의 가압판 작용상태를 나타낸 부분확대 단면도.
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 상세히 설명하기로 한다.
또한 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 2에서와 같이 본 발명에서 제시하는 플렉시블 회로기판 테스트용 툴은 작동체(1)의 결합편(11)과 고정체(2)의 고정편(21)을 상호 힌지(11') 결합한 후 작동체(1)와 고정체(2) 타측단 내측에 다수의 스프링(4)을 게재하여 집게와 같은 기능을 수행할 수 있도록 구성하되, 상기 작동체(1)는 그 일측 가압부(12)로 다수의 측정핀(3)을 끼움,설치하여 측정핀(3) 하단이 가압부(12) 하부 측에 일정길이 하향,돌출되도록 한다.
그리고 상기 고정체(2)는 전방의 양쪽 단부(22') 사이에 안착 홈 형태 등의 안착부(22)를 형성하여 작동체(1)의 측정핀(3) 하단이 위치하도록 구성하는데, 이때 상기 안착부(22)의 형상은 통상 플렉시블PCB선단(a) (테스트할 접속패턴이 형성된 부위)이 안착될 수 있는 형상 내지는 플렉시블PCB에 설치되는 컨넥터(도면 미 도시)가 안착 될 수 있는 형상으로 형성함이 바람직하고, 또 안착부(22)를 안착 홈 형태로 하면 안착 되는 플렉시블PCB선단(a)의 안착을 용이하게 할 수 있음은 물론 안착 상태를 안정적으로 유지할 수 있다,
또한, 본 발명에서는 도 2에서와 같이 작동체(1)의 가압부(12) 하측으로 소정의 간격을 두고 가압판(5)을 배치하되, 상기 가압판(5)은 그 양측으로 관통구멍(55)을 형성하여 그 내에 가압부(12) 저면에 결합되는 이음핀(51)을 끼워 가압판(5)이 이음핀(51)을 따라 소정의 간격 상,하 유동되게 한다.
또한, 본 발명에서는 도 2에서와 같이 작동체(1)의 가압부(12) 하측으로 소정의 간격을 두고 가압판(5)을 배치하되, 상기 가압판(5)은 그 양측으로 관통구멍(55)을 형성하여 그 내에 가압부(12) 저면에 결합되는 이음핀(51)을 끼워 가압판(5)이 이음핀(51)을 따라 소정의 간격 상,하 유동되게 한다.
이때, 상기 이음핀(51)은 그 중심부로 결합나사(52)를 하에서 상 방향으로 관통시켜 가압부(12) 저면에 체결시켜 고정한다.
그리고 상기 가압판(5)이 이음핀(51)을 따라 상,하 유동 될 때, 이음핀(51) 하단에 형성된 걸림턱(51')에 의해 가압판(5) 양측 관통구멍(55)의 저면 둘레가 걸림되어 가압판(5) 낙하가 방지된다.
그리고 상기 가압판(5)이 이음핀(51)을 따라 상,하 유동 될 때, 이음핀(51) 하단에 형성된 걸림턱(51')에 의해 가압판(5) 양측 관통구멍(55)의 저면 둘레가 걸림되어 가압판(5) 낙하가 방지된다.
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또 가압부(12)와 가압판(5) 사이에 다수의 완충스프링(53)을 게재하여 가압부(12)로부터 가압판(5)이 완충스프링(53)의 탄성에 의해 소정의 간격을 유지하도록 한다.
상기 완충스프링(53)은 유동방지를 위하여 가압부(12) 저면과 가압판(5) 상면에 형성된 스프링안치홈(53')에 그 상,하단이 걸림,설치되게 한다.
또 상기 가압판(5) 중심부로 가압부(12)의 측정핀(3)과 동일 선상이 되도록 다수의 보호구멍(54)을 형성하여 측정핀(3) 하단이 상기 보호구멍(54) 내에 삽입,음폐되도록 한다.
따라서, 상기와 같이 구성된 테스트용 툴은 작동체(1)와 고정체(2)가 스프링(4)에 의해 그 일측이 가압접촉되는 집게기능을 가지는 것으로, 작동체(1)와 고정체(2)의 타측단을 눌러 가압판(5)과 안착부(22)를 일정범위 개방한 후 그 내에 플렉시블PCB 선단(a)을 넣고 누름 상태를 해제하면, 다수의 측정핀(3)이 플렉시블PCB선단(a) 패턴에 접촉되어 검사장치(c)의 전기적 신호를 해당 기기로 전달하여 그 작동 유,무를 테스트하게 된다.
상기 측정핀(3)은 통상 그 상단을 검사장치(c)의 단자판(b)과 연결하여 전기적신호가 전달되도록 한다.
이를 상세히 설명하자면, 도 3에서와 같이 작동체(1)와 고정체(2)의 타측단 즉, 스프링(4)이 게재된 부위를 동시 또는 작동체(1)만을 누르게 되면 일측 가압판(5)과 안착부(22)가 상대적으로 벌어지면서 일정범위 개방되어 진다.
그러면 상기 개방된 가압판(5)과 안착부(22) 사이로 플렉시블PCB선단(a)을 삽입하여 안착부(22) 상에 위치시키는데(테스트 준비단계), 이때 가압부(12) 하측의 완충스프링(53)이 가압판(5)을 양측 이음핀(51)을 따라 하부로 밀어 가압부(12)로부터 일정거리를 가지도록 함과 동시에 가압판(5)내에 측정핀(3) 하단을 음폐시켜 플렉시블PCB선단(a)과 충돌을 예방한다.
이는 가압판(5)을 통해 측정핀(3)의 안전을 최대한 보장한 상태에서 플렉시블PCB선단(a)을 고정체(2)의 안착부(22)에 삽입되도록 하는 것으로, 상호간의 충돌방지로 작업의 효율성, 정밀성, 그리고 신속성이 증대되는 효과를 가지게 하였다.
한편 위 작용을 통해 고정체(2)의 안착부(22)로 플렉시블PCB선단(a)을 안전하게 정 위치시키면, 작업자는 작동체(1)와 고정체(2)의 누름상태를 해제하여 가압판(5)과 안착부(22)를 초기 상태로 가압 밀착시켜 테스트를 실시한다.
상세하게는 작동체(1)와 고정체(2)가 타측 탄력스프링(4)에 의해 초기 상태가 되면, 상기 작동체(1)는 그 복귀력에 의해 일측 가압부(12)를 하강시켜 먼저, 가압판(5)을 안착부(22)에 위치한 플렉시블PCB선단(a)으로 가압고정되게 하고 동시에 완충스프링(53)에 의해 유지된 가압판(5)과 가압부(12)사이의 폭 만큼 계속 더 진행(하강)하면서, 측정핀(3) 하단이 가압판(5) 저면에 고정된 플렉시블PCB선단(a)에 형성된 패턴과 접촉되게 한다.
여기서, 가압판(5)은 플렉시블PCB선단(a)을 가압,고정하여 플렉시블PCB선단의 흔들림이나 이탈 등의 문제를 예방하고 또 측정핀(3)과의 정확한 접촉을 유도하며, 특히 작동체(1)의 복귀속도를 가압판(5)과 가압부(12) 사이의 다수 완충스프링(53)으로 일부 상쇄시켜 플렉시블PCB선단(a)과 가압판(5) 및 측정핀(3)의 접촉이 보다 안정적으로 이루어질 수 있도록 하였다.
참고로 상기 작동체(1)의 복귀속도를 상쇄시키지 않을 경우 플렉시블PCB선단(a)과 가압판(5)이 강하게 부딪쳐 플렉시블PCB의 위치를 흩트릴 우려가 있으므로 테스트의 오류를 유발하고 또 측정핀(3)의 하단이 도면에서와 같이 뾰족하여 플렉시블PCB의 패턴을 찍어 훼손시킬 수 있는 우려가 있다.
아울러, 본 발명에서는 작동체(1)의 타측 상부로 경사돌부(1')를 형성하여 작업자가 테스트용 툴을 이용할 때 그 파지 및 사용의 용이성을 가지도록 함과 동시에 미끄러짐 등을 막아 뜻하지 않은 오작동을 예방하도록 하였다.
이상의 구체적인 실시 예를 통해 살펴본 본 발명은 작동체에 설치된 측정핀의 안전을 최대한 확보함과 동시에 테스트의 정밀성을 향상시켜 그 신뢰성의 극대화를 꾀하도록 하였다.
그리고 본 발명은 필요에 따라 작동체와 고정체를 반대로 구성하여도 무관하다.
또 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 청구항에서 청구한 범위를 벗어남 없이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 변형실시되는 것은 가능하며 이러한 변형실시는 본 발명의 범위에 속한다 할 것이다.
1 : 작동체 1' : 경사돌부
11 : 결합편 11' : 힌지
12 : 가압부 2 : 고정체
21 : 고정편 22 : 안착부
22' : 단부 3: 측정핀
4 : 스프링 5 : 가압판
51 : 이음핀 51' : 걸림턱
52 : 결합나사 53 : 완충스프링
53' : 스프링안치홈 54 : 보호구멍
55 : 관통구멍 a : 플렉시블PCB선단
b : 검사장치 c : 단자판
11 : 결합편 11' : 힌지
12 : 가압부 2 : 고정체
21 : 고정편 22 : 안착부
22' : 단부 3: 측정핀
4 : 스프링 5 : 가압판
51 : 이음핀 51' : 걸림턱
52 : 결합나사 53 : 완충스프링
53' : 스프링안치홈 54 : 보호구멍
55 : 관통구멍 a : 플렉시블PCB선단
b : 검사장치 c : 단자판
Claims (5)
- 저면 중앙에 결합편(11)이 형성되고 일 측 가압부(12)에는 다수개의 측정핀(3)이 끼워져 측정핀(3) 하단이 아래로 돌출되는 작동체(1)와;
상기 작동체(1)의 결합편(11)과 힌지(11') 결합되는 고정편(21)이 형성되고 일측에는 플렉시블PCB선단(a) 안착용 안착부(22)를 가진 고정체(2)와;
상기 작동체(1) 및 고정체(2)의 후방에 탄설되어 작동체(1)의 가압부(12) 및 고정체(2)의 안착부(22)가 서로 밀착 되도록 하는 스프링(4)과;
상기 작동체(1)의 가압부(12) 하측에 소정의 간격을 두고 마련되고 중앙에는 가압부(12)의 측정핀(3)이 삽입되는 보호구멍(54)이 여러 개 형성된 가압판(5)과;
상기 작동체(1)의 가압부(12) 하측에 소정의 간격을 두고 마련되어 양측이 가압부(12) 저면에 고정되는 한 개 이상의 이음핀(51)에 의해 낙하가 방지되면서 상기 이음핀(51)을 따라 상하로 유동 되는 가압판(5)을 포함한 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트용 툴.
- 제 1항에 있어서,
플렉시블PCB선단(a) 안착용 안착부(22)를 안착 홈으로 한 것으로 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트용 툴.
- 제 1항에 있어서,
가압판(5)의 양측에 형성되는 관통구멍(55)에 이음핀(51)을 관통시켜 관통구멍(55) 저면 둘레가 이음핀(51)의 걸림턱(51')에 안치되도록 하되 상기 이음핀(51)은 이음핀(51) 중심을 통과하여 가압부(12) 저면에 체결되는 결합나사(52)로 고정되도록 함으로써 가압판(5)의 낙하가 방지되도록 한 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트용 툴.
- 제 1항에 있어서,
상기 가압부(12)와 가압판(5) 사이에 다수의 완충스프링(53)을 게재하여 가압판(5)의 상하 유동에 탄력을 부여한 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트용 툴.
- 제 1항에 있어서,
상기 작동체(1)의 타측 상부로 경사돌부(1')를 형성함을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 테스트용 툴.
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KR1020110124819A KR101141962B1 (ko) | 2011-11-28 | 2011-11-28 | 플렉시블 회로기판 테스트용 툴 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180041075A (ko) * | 2016-10-13 | 2018-04-23 | 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 | 처리 장치 및 처리 방법 |
KR20220060011A (ko) * | 2020-11-02 | 2022-05-11 | 주식회사 디에이치솔루션 | Pcb 커넥터용 납땜 검사장치 |
CN115792565A (zh) * | 2022-11-11 | 2023-03-14 | 东莞市虎山电子有限公司 | 一种高集成度的fpc测试头及其生产工艺 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200372568Y1 (ko) | 2004-09-17 | 2005-01-14 | 서승환 | Fpc 검사용 지그 |
JP2005025969A (ja) | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2006343269A (ja) | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 検査装置 |
JP2008249661A (ja) | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 検査装置 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005025969A (ja) | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
KR200372568Y1 (ko) | 2004-09-17 | 2005-01-14 | 서승환 | Fpc 검사용 지그 |
JP2006343269A (ja) | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 検査装置 |
JP2008249661A (ja) | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 検査装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180041075A (ko) * | 2016-10-13 | 2018-04-23 | 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 | 처리 장치 및 처리 방법 |
KR101973864B1 (ko) * | 2016-10-13 | 2019-04-29 | 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 | 처리 장치 및 처리 방법 |
KR20220060011A (ko) * | 2020-11-02 | 2022-05-11 | 주식회사 디에이치솔루션 | Pcb 커넥터용 납땜 검사장치 |
KR102474867B1 (ko) * | 2020-11-02 | 2022-12-07 | 주식회사 디에이치솔루션 | Pcb 커넥터용 납땜 검사장치 |
CN115792565A (zh) * | 2022-11-11 | 2023-03-14 | 东莞市虎山电子有限公司 | 一种高集成度的fpc测试头及其生产工艺 |
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