KR101348423B1 - 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치 - Google Patents

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장경훈
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주식회사 아이티엔티
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Abstract

본 발명은 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 DUT(Device Under Test)의 반도체 디바이스와 커넥터를 매개로 전기적으로 연결 접속되어 반도체 디바이스의 전기적인 성능 검사를 수행하는 PE(Pin Electronics) 카드의 탈/부착을 위한 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치로서, 상기 PE 카드의 일면에 일체로 설치 고정되는 클램프 헤드; 상기 클램프 헤드의 양쪽 끝단에서 래치 핀을 매개로 각각이 축 설치되고, 상기 클램프 헤드와 일체로 고정되는 상기 PE 카드의 탈/부착을 위해 지렛대의 원리로 탄성 회전하는 한 쌍의 이젝터 래치; 및 일단이 상기 클램프 헤드에 고정된 스프링 포스트에 체결되고, 다른 일단이 상기 이젝터 래치에 체결되는 복수의 탄성 스프링을 포함하여 구성하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
본 발명에서 제안하고 있는 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치에 따르면, 자동 테스트 장비의 PE 카드에 일체화로 이젝터 장치를 구성함으로써, PE 카드의 탈/부착을 위한 별도의 이젝터 도구를 구비해야 하는 번거로움 없이 PE 카드에 일체화된 이젝터 장치를 이용하여 PE 카드의 탈/부착이 용이하게 이루어질 수 있도록 할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, PE 카드에 이젝터 장치를 일체화로 구성함에 있어, 한 쌍의 이젝터 래치를 이용한 탄성 회전의 지렛대 원리를 이용함으로써, 무리한 힘을 가하지 않은 상태에서도 수월하게 탈/부착의 작업이 이루어지고, 정확한 접촉을 확보하며, 사용상의 편의성이 향상될 수 있도록 할 수 있다.
뿐만 아니라, 본 발명은, 이젝터 장치의 클램프 헤드에 역 삽입 방지용 코딩키를 구성함으로써, 작업자에 의한 PE 카드의 역 삽입의 오류가 방지됨은 물론, PE 카드의 특성상 역 삽입 시에 PE 카드의 회로부품에 번트(burnt)가 발생하여 일어날 수 있는 화재 우려를 예방할 수 있도록 할 수 있다.

Description

자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치{EJECTOR DEVICE FOR TEST BOARD OF AUTOMATIC TEST EQUIPMENT}
본 발명은 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 별도의 이젝터 도구를 구비할 필요 없이 자동 테스트 장비(ATE)의 PE 카드의 탈/부착이 용이하게 이루어질 수 있도록 PE 카드에 일체화로 구성하는 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치에 관한 것이다.
일반적으로 각종 반도체 디바이스의 제조 과정에서, 소정의 조립 공정을 거쳐 제조된 반도체 디바이스는 최종적으로 특정 기능을 발휘하는지 여부를 체크하는 테스트 공정을 거치게 된다. 반도체 디바이스에 대한 테스트는 자동 테스트 장비(ATE)를 이용하여 DC, AC, 기능(function)의 3가지 특성을 측정하는 과정으로 이루어지게 된다. 즉, 반도체 디바이스의 기능 테스트는 주로 자동 테스트 장비(ATE)에서 소정의 패턴을 발생하여 각 핀들로 입력하고, 이 때 출력되는 패턴을 예측 패턴과 비교함으로써 이루어진다. 따라서 자동 테스트 장비는 측정하고자 하는 반도체 디바이스(DUT)의 모든 핀들과 전기적으로 연결될 수 있어야 한다. 즉, DUT와 전기적으로 접속시켜 주는 장치가 PE 카드(핀 일렉트로닉스)로서, 자동 테스트 장비(ATE)의 테스트 헤드에 포함된다.
통상적으로 PE 카드에는 다수의 비교기 및 드라이버가 포함되며, 비교기 및 드라이버는 하나의 쌍을 이루고 있다. 패턴 메모리에 들어 있는 패턴 데이터가 드라이버를 통해 DUT의 핀으로 인가되고, DUT의 핀을 통해 출력되는 데이터는 비교기에서 예측 데이터와 비교된다. 이때, 출력 데이터가 예측 데이터와 동일하면 DUT는 정상이고, 출력 데이터가 예측 데이터와 동일하지 않으면 불량으로 판정된다.
상술한 바와 같이, 자동 테스트 장비(ATE) 내에는 반도체 디바이스의 성능 테스트를 가능하게 하고 여러 기능을 수행하는 PE(Pin electronics) 카드들이 존재한다. 즉, 여러 종류의 PE 카드들이 존재함과 동시에 각각의 PE 카드에는 신호전달을 위한 다수의 커넥터(Connector)들이 사용되고 있다. 따라서 야기되는 문제는 다수의 커넥터를 사용하게 될 경우 접촉력(Contact Force)으로 인하여 PE 카드의 정확한 탈부착이 어려워지게 되는 문제가 있으며, PE 카드의 인/아웃(in/out)을 사람이 해야 할 경우 별도의 이젝터(Ejector)가 필요하게 되는 것이다. 현재 대부분의 자동 테스트 장비(ATE)에는 별도의 이젝터를 준비해 사용하고 있으며, 도구(Tool)를 준비해야 하는 번거로움이 존재하는 문제가 있었다.
본 발명은 기존에 제안된 방법들의 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 자동 테스트 장비의 PE 카드에 일체화로 이젝터 장치를 구성함으로써, PE 카드의 탈/부착을 위한 별도의 이젝터 도구를 구비해야 하는 번거로움 없이 PE 카드에 일체화된 이젝터 장치를 이용하여 PE 카드의 탈/부착이 용이하게 이루어질 수 있도록 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
또한, 본 발명은, PE 카드에 이젝터 장치를 일체화로 구성함에 있어, 한 쌍의 이젝터 래치를 이용한 탄성 회전의 지렛대 원리를 이용함으로써, 무리한 힘을 가하지 않은 상태에서도 수월하게 탈/부착의 작업이 이루어지고, 정확한 접촉을 확보하며, 사용상의 편의성이 향상될 수 있도록 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치를 제공하는 것을 또 다른 목적으로 한다.
뿐만 아니라, 본 발명은, 이젝터 장치의 클램프 헤드에 역 삽입 방지용 코딩키를 구성함으로써, 작업자에 의한 PE 카드의 역 삽입의 오류가 방지됨은 물론, PE 카드의 특성상 역 삽입 시에 PE 카드의 회로부품에 번트(burnt)가 발생하여 일어날 수 있는 화재 우려를 예방할 수 있도록 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치를 제공하는 것을 또 다른 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치는,
DUT(Device Under Test)의 반도체 디바이스와 커넥터를 매개로 전기적으로 연결 접속되어 반도체 디바이스의 전기적인 성능 검사를 수행하는 PE(Pin Electronics) 카드의 탈/부착을 위한 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치로서,
상기 PE 카드의 일면에 일체로 설치 고정되는 클램프 헤드;
상기 클램프 헤드의 양쪽 끝단에서 래치 핀을 매개로 각각이 축 설치되고, 상기 클램프 헤드와 일체로 고정되는 상기 PE 카드의 탈/부착을 위해 지렛대의 원리로 탄성 회전하는 한 쌍의 이젝터 래치; 및
일단이 상기 클램프 헤드에 고정된 스프링 포스트에 체결되고, 다른 일단이 상기 이젝터 래치에 체결되는 복수의 탄성 스프링을 포함하여 구성하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 클램프 헤드는,
상기 이젝터 래치와 축 설치되는 상기 래치 핀을 상부에서 가압하여 고정하는 스프링과 볼트의 결합구조로 구성되는 가압 고정부를 더 포함하여 구성할 수 있다.
더욱 바람직하게는, 상기 클램프 헤드는,
상기 가압 고정부의 양측으로 설치되는 코드 락 캡을 더 포함하여 구성할 수 있다.
바람직하게는, 상기 클램프 헤드는,
상기 PE 카드의 역 삽입으로 인한 회로부품의 번트(burnt)의 발생을 방지하기 위하여 상기 클램프 헤드의 바 형태 구조 중 일 측으로 역 삽입 방지용 코딩키를 더 구성할 수 있다.
바람직하게는, 상기 이젝터 래치는,
일면이 개방된 U자형의 구조로 형성되고, 개방된 부분은 2단 구조의 걸쇠 형태로 구성할 수 있다.
더욱 바람직하게는, 상기 이젝터 래치는,
상기 탄성 스프링이 수용 체결되는 스프링 체결 공을 U자형 구조에 쌍으로 대향되게 구성할 수 있다.
본 발명에서 제안하고 있는 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치에 따르면, 자동 테스트 장비의 PE 카드에 일체화로 이젝터 장치를 구성함으로써, PE 카드의 탈/부착을 위한 별도의 이젝터 도구를 구비해야 하는 번거로움 없이 PE 카드에 일체화된 이젝터 장치를 이용하여 PE 카드의 탈/부착이 용이하게 이루어질 수 있도록 할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, PE 카드에 이젝터 장치를 일체화로 구성함에 있어, 한 쌍의 이젝터 래치를 이용한 탄성 회전의 지렛대 원리를 이용함으로써, 무리한 힘을 가하지 않은 상태에서도 수월하게 탈/부착의 작업이 이루어지고, 정확한 접촉을 확보하며, 사용상의 편의성이 향상될 수 있도록 할 수 있다.
뿐만 아니라, 본 발명은, 이젝터 장치의 클램프 헤드에 역 삽입 방지용 코딩키를 구성함으로써, 작업자에 의한 PE 카드의 역 삽입의 오류가 방지됨은 물론, PE 카드의 특성상 역 삽입 시에 PE 카드의 회로부품에 번트(burnt)가 발생하여 일어날 수 있는 화재 우려를 예방할 수 있도록 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 사시도 구성을 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 일 측 요부 분해사시도 구성을 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 정면도 구성을 도시한 도면.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 평면도 구성을 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 측면도 구성을 도시한 도면.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 동작 상태를 도시한 도면.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 ‘연결’ 되어 있다고 할 때, 이는 ‘직접적으로 연결’ 되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 ‘간접적으로 연결’ 되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 구성요소를 ‘포함’ 한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 사시도 구성을 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 일 측 요부 분해사시도 구성을 도시한 도면이다. 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치(100)는, 클램프 헤드(110), 한 쌍의 이젝터 래치(120), 및 복수의 탄성 스프링(130)을 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치(100)는, 도 1에 도시된 바와 같이, DUT(Device Under Test)의 반도체 디바이스와 커넥터(11)를 매개로 전기적으로 연결 접속되어 반도체 디바이스의 전기적인 성능 검사를 수행하는 PE(Pin Electronics) 카드(10)의 커넥터(11) 탈/부착을 위해 자동 테스트 장비(ATE)의 PE 카드(10)에 일체화로 구성한 장치이다. 이러한 이젝터 장치(100)는 기존의 PE 카드(10)의 인/아웃(in/out)을 위한 탈/부착에 필요한 이젝터와 도구(Tool)를 별도로 준비해야 하는 번거로움 없이 PE 카드(10)를 탈/부착이 용이하도록 일체화로 구성하여 사용이 가능하도록 한다.
클램프 헤드(110)는, 길이가 긴 막대 형태의 바 형상으로 구성되며, PE 카드(10)의 일면에 일체로 설치 고정되는 구성이다. 이러한 클램프 헤드(110)는 이젝터 래치(120)와 축 설치되는 래치 핀(101)을 상부에서 가압하여 고정하는 스프링(112)과 볼트(113)의 결합구조로 구성되는 가압 고정부(114)를 더 포함하여 구성한다. 또한, 클램프 헤드(110)는 가압 고정부(114)의 양측으로 설치되는 코드 락 캡(115)을 더 포함하여 구성할 수 있다. 또한, 클램프 헤드(110)는 PE 카드(10)의 역 삽입으로 인한 회로부품의 번트(burnt)의 발생을 방지하기 위하여 클램프 헤드(110)의 바 형태 구조 중 일 측으로 역 삽입 방지용 코딩키(116)를 더 구성한다. 이는 PE 카드(10)의 특성상 역 삽입이 되면 PE 카드(10)에 설치된 회로부품의 번트(burnt)가 발생하여 화재의 우려가 있어 이를 방지하기 위함이다.
한 쌍의 이젝터 래치(120)는, 클램프 헤드(110)의 양쪽 끝단에서 래치 핀(101)을 매개로 각각이 축 설치되고, 클램프 헤드(110)와 일체로 고정되는 PE 카드(10)의 탈/부착을 위해 지렛대의 원리로 탄성 회전하는 구성이다. 이러한 이젝터 래치(120)는 도 2에 도시된 바와 같이, 일면이 개방된 U자형의 구조로 형성되고, 개방된 부분은 2단 구조의 걸쇠 형태로 구성한다. 또한, 이젝터 래치(120)는 탄성 스프링(130)이 수용 체결되는 스프링 체결 공(121)을 U자형 구조에 쌍으로 대향되게 구성한다. 즉, 이젝터 래치(120)는 클램프 헤드(110)의 양쪽 끝단에서 한 쌍으로 이루어지며, 각각의 이젝터 래치(120)는 래치 핀(101)을 매개로 클램프 헤드(110)의 끝단에서 축 연결된다.
복수의 탄성 스프링(130)은, 일단이 클램프 헤드(110)에 고정된 스프링 포스트(111)에 체결되고, 다른 일단이 이젝터 래치(120)에 체결되는 구성이다. 이러한 탄성 스프링(130)은 하나의 이젝터 래치(120)에 쌍으로 구성되어 설치가 이루어지게 된다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 정면도 구성을 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 평면도 구성을 도시한 도면이며, 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 측면도 구성을 도시한 도면이고, 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치의 동작 상태를 도시한 도면이다. 도 3 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 이젝터 장치(100)는 자동 테스트 장비(ATE) 내에 설치되어 사용되는 디지털 보드인 PE 카드(10)를 안정적으로 탈/부착하여 정확한 접촉(Contact)을 확보하고, 사용자가 무리한 힘을 가하지 않더라도 용이하게 탈/부착될 수 있도록 구성하게 된다. 이러한 이젝터 장치(100)는 도 6의 사용 상태도에 도시된 바와 같이, PE 카드(10)에 일체화로 고정 설치된 상태에서 클램프 헤드(110)의 양쪽 끝단에서 래치 핀(101)을 매개로 힌지 축 결합되고, 탄성 스프링(130)으로 체결된 상태에서 한 쌍의 이젝터 래치(120)를 지렛대의 원리로 탄성 회전시킴에 따라 PE 카드(10)에 구비된 커넥터(11)의 탈/부착이 용이하게 이루어지게 된다. 즉, 본 발명에 따른 이젝터 장치(100)는 별도의 이젝터 도구를 사용하지 않더라도 지렛대의 원리를 이용하여 사용자가 수월하게 작업할 수 있음은 물론, 탈/부착의 인/아웃 기능도 모두 만족할 수 있게 된다. 또한, PE 카드(10)의 특성상 역 삽입이 되면, 회로부품의 번트(burnt)가 발생하여 화재의 우려가 있다. 본 발명의 이젝터 장치(100)에서는 클램프 헤드(110)에 역 삽입을 방지하기 위하여 4개의 코딩키를 구성하고, 이를 조합하여 유저(User)가 사용하는 방식을 적용한 역 삽입 방지용 코딩키(116)를 구성하고 있다.
이상 설명한 본 발명은 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 다양한 변형이나 응용이 가능하며, 본 발명에 따른 기술적 사상의 범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.
10: PE(Pin Electronics) 카드 11: 커넥터
100: 이젝터 장치 101: 래치 핀
110: 클램프 헤드 111: 스프링 포스트
112: 스프링 113: 볼트
114: 가압 고정부 115: 코드 락 캡
116: 역 삽입 방지용 코딩키 120: 이젝터 래치
121: 스프링 체결 공 130: 탄성 스프링

Claims (6)

  1. DUT(Device Under Test)의 반도체 디바이스와 커넥터(11)를 매개로 전기적으로 연결 접속되어 반도체 디바이스의 전기적인 성능 검사를 수행하는 PE(Pin Electronics) 카드(10)의 탈/부착을 위한 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치(100)로서,
    상기 PE 카드(10)의 일면에 일체로 설치 고정되는 클램프 헤드(110);
    상기 클램프 헤드(110)의 양쪽 끝단에서 래치 핀(101)을 매개로 각각이 축 설치되고, 상기 클램프 헤드(110)와 일체로 고정되는 상기 PE 카드(10)의 탈/부착을 위해 지렛대의 원리로 탄성 회전하는 한 쌍의 이젝터 래치(120); 및
    일단이 상기 클램프 헤드(110)에 고정된 스프링 포스트(111)에 체결되고, 다른 일단이 상기 이젝터 래치(120)에 체결되는 복수의 탄성 스프링(130)을 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 클램프 헤드(110)는,
    상기 이젝터 래치(120)와 축 설치되는 상기 래치 핀(101)을 상부에서 가압하여 고정하는 스프링(112)과 볼트(113)의 결합구조로 구성되는 가압 고정부(114)를 더 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 클램프 헤드(110)는,
    상기 가압 고정부(114)의 양측으로 설치되는 코드 락 캡(115)을 더 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 클램프 헤드(110)는,
    상기 PE 카드(10)의 역 삽입으로 인한 회로부품의 번트(burnt)의 발생을 방지하기 위하여 상기 클램프 헤드(110)의 바 형태 구조 중 일 측으로 역 삽입 방지용 코딩키(116)를 더 구성하는 것을 특징으로 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이젝터 래치(120)는,
    일면이 개방된 U자형의 구조로 형성되고, 개방된 부분은 2단 구조의 걸쇠 형태로 구성하는 것을 특징으로 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 이젝터 래치(120)는,
    상기 탄성 스프링(130)이 수용 체결되는 스프링 체결 공(121)을 U자형 구조에 쌍으로 대향되게 구성하는 것을 특징으로 하는, 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20190125727A (ko) 2018-04-30 2019-11-07 세메스 주식회사 반도체 소자들을 테스트하기 위한 테스트 헤드
CN113494997A (zh) * 2020-04-08 2021-10-12 Oppo(重庆)智能科技有限公司 卡托检测装置及方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980081806A (ko) * 1997-04-30 1998-11-25 모토하시마사오 테스트보드 착탈장치
JP2009503435A (ja) 2005-08-03 2009-01-29 株式会社アドバンテスト 標準化テスト計測器シャーシ内の回路カード同期
KR20110134469A (ko) * 2009-03-11 2011-12-14 테라다인 인코퍼레이티드 고성능, 저가의 자동화된 테스트 장비용 핀 일렉트로닉스 액체 냉각식 멀티모듈

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980081806A (ko) * 1997-04-30 1998-11-25 모토하시마사오 테스트보드 착탈장치
JP2009503435A (ja) 2005-08-03 2009-01-29 株式会社アドバンテスト 標準化テスト計測器シャーシ内の回路カード同期
KR20110134469A (ko) * 2009-03-11 2011-12-14 테라다인 인코퍼레이티드 고성능, 저가의 자동화된 테스트 장비용 핀 일렉트로닉스 액체 냉각식 멀티모듈

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190125727A (ko) 2018-04-30 2019-11-07 세메스 주식회사 반도체 소자들을 테스트하기 위한 테스트 헤드
CN113494997A (zh) * 2020-04-08 2021-10-12 Oppo(重庆)智能科技有限公司 卡托检测装置及方法

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