CN220381789U - 测试治具和测试设备 - Google Patents

测试治具和测试设备 Download PDF

Info

Publication number
CN220381789U
CN220381789U CN202321538569.4U CN202321538569U CN220381789U CN 220381789 U CN220381789 U CN 220381789U CN 202321538569 U CN202321538569 U CN 202321538569U CN 220381789 U CN220381789 U CN 220381789U
Authority
CN
China
Prior art keywords
usb
plate
detection structures
test
row
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202321538569.4U
Other languages
English (en)
Inventor
张建龙
何虎象
陈超
罗居勇
刘玉
马化沭
余骏东
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Shi Creative Electronics Co.,Ltd.
Original Assignee
Shenzhen Shichuangyi Electronic Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Shichuangyi Electronic Co ltd filed Critical Shenzhen Shichuangyi Electronic Co ltd
Priority to CN202321538569.4U priority Critical patent/CN220381789U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN220381789U publication Critical patent/CN220381789U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本申请公开了一种测试治具和测试设备,涉及测试技术领域;所述测主式治具包括测试主板、转接板、多条转接线和电木结构,所述转接板设置在所述测试主板上,与所述测试主板通过线路连接,所述电木结构设置在所述测试主板的一侧,所述转接板上设有多个USB接口,所述电木结构上设有多个USB检测结构,其中,多个所述USB接口与多个所述USB检测结构通过多条所述转接线一一对应连接;本申请通过以上设计,测试方便,且测试效率高。

Description

测试治具和测试设备
技术领域
本申请涉及测试技术领域,尤其涉及一种测试治具和测试设备。
背景技术
移动固态硬盘作为一种信息存储移动便携的固态硬盘,使用方便,而且一般移动固态硬盘较为小巧不但便于携带有时甚至可作为一种装饰品来使用,因此移动固态硬盘需求量较大,而移动固态硬盘使用久后,需要对其进行老化测试。
现有技术依赖于测试电脑的USB3.0接口进行传输测试,而主流电脑上最多只有3个USB3.0接口,因此主流电脑每次只能测试3片产品,测试效率低下。
实用新型内容
本申请的目的是提供一种测试方便,且测试效率高的测试治具和测试设备。
本申请公开了一种测试治具,包括测试主板、转接板、多条转接线和电木结构,所述转接板设置在所述测试主板上,与所述测试主板通过线路连接,所述电木结构设置在所述测试主板的一侧,所述转接板上设有多个USB接口,所述电木结构上设有多个USB检测结构,其中,多个所述USB接口与多个所述USB检测结构通过多条所述转接线一一对应连接。
可选的,所述电木结构包括电木结构本体和多个固定孔位,所述电木结构本体为矩形结构,包括固定板、第一支撑板、第二支撑板和挡板,所述固定板设置在所述第一支撑板和所述第二支撑板之间,所述第一支撑板与所述第二支撑板相对设置,且所述第一支撑板的一端和所述第二支撑板的一端分别与所述固定板垂直连接,所述挡板设置在所述固定板的一侧,且分别与所述固定板、所述第一支撑板和所述第二支撑板固定连接;多个所述固定孔位设置在所述固定板上,多个所述USB检测结构与多个所述固定孔位一一对应设置。
可选的,所述转接板包括第一转接板和第二转接板,所述第一转接板与所述第二转接板并列设置;所述转接线包括第一转接线和第二转接线,多个所述USB检测结构在所述固定板上呈四列竖向设置,每个所述USB检测结构包括相互连接的连接接口与检测接口,所述连接接口与所述检测接口分别设置在所述固定孔位上,且相互背离;所述第一转接板的多个USB接口通过多条所述第一转接线与其中两列USB检测结构的连接接口一一对应连接,所述第二转接板的多个USB接口通过多条所述第二转接线与另外两列USB检测结构的连接接口一一对应连接。
可选的,所述第一转接板的多个USB接口通过多条所述第一转接线与第一列所述USB检测结构的连接接口和第二列所述USB检测结构的连接接口一一对应连接;所述第二转接板的多个USB接口通过多条所述第二转接线与第三列所述USB检测结构的连接接口和第四列所述USB检测结构的连接接口一一对应连接;其中,第一列所述USB检测结构与第二列所述USB检测结构的间距,大于第二列所述USB检测结构与第三列所述USB检测结构的间距,大于第三列所述USB检测结构与第四列所述USB检测结构的间距;其中,所述二列所述USB检测结构与第三列所述USB检测结构的间距,等于第三列所述USB检测结构与第四列所述USB检测结构的间距。
可选的,所述USB检测结构还包括锁定结构,所述锁定结构设置在所述检测接口的两侧,所述转接线与所述连接接口连接的一端设有锁扣件,所述锁扣件与所述锁定结构配合锁紧。
可选的,所述锁定结构包括第一锁紧件和第二锁紧件,所述第一锁紧件和所述第二锁紧件相对设置,所述检测接口设置在所述第一锁紧件与所述第二锁紧件之间,所述第一锁紧件、所述第二锁紧件和所述检测接口均凸出于所述固定板的上表面,且所述第一锁紧件与所述第二锁紧件的下表面与所述固定板的上表面部分抵接;所述第一锁紧件和所述第二锁紧件上均设有锁孔,所述转接线的锁扣件与所述锁孔配合锁紧。
可选的,每个所述USB检测结构的检测接口的高度均一致。
可选的,所述第一支撑板和所述第二支撑板上均设有散热孔。
可选的,所述第一转接板和所述第二转接板的USB接口的数量均为12个,所述USB检测结构的数量为24个。
本申请还公开了一种测试设备,包括显示组件以及如上所述的测试治具,所述显示组件设置在所述测试治具的一侧。
相对于现有技术中每次只能测试3片产品的方案来说,本申请的测试治具包括测试主板、转接板、多条转接线和电木结构,转接板设置在测试主板上,与测试主板通过线路连接,电木结构设置在测试主板的一侧,转接板上设有多个USB接口,电木结构上设有多个USB检测结构,其中,多个USB接口与多个USB检测结构通过多条转接线一一对应连接,这样可通过在电木结构上设置数量对应的USB检测结构,只要通过转接线与转接板连接,即可实现同时测试更多数量的待测试产品,测试方便,且测试效率高。
附图说明
所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解,其构成了说明书的一部分,用于例示本申请的实施方式,并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1是本申请的一种测试设备的结构示意图;
图2是本申请实施例的电木结构的正视结构示意图;
图3是本申请实施例的电木结构的俯视结构示意图;
图4是本申请实施例的转接线与连接接口连接的结构示意图。
其中:10、测试设备;100、测试治具;110、测试主板;120、转接板;121、第一转接板;122、第二转接板;123、USB接口;130、转接线;131、第一转接线;132、第二转接线;133、锁扣件;140、电木结构;141、电木结构本体;142、固定孔位;143、固定板;144、第一支撑板;145、第二支撑板;146、挡板;147、散热孔;150、USB检测结构;151、连接接口;152、检测接口;153、锁定结构;154、第一锁紧件;155、第二锁紧件;156、锁孔;200、显示组件。
具体实施方式
需要理解的是,这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节,仅仅是为了描述具体实施例,是代表性的,但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现,不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示相对重要性,或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,除非另有说明,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征;“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形,意为不排他的包含,可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
图1是本申请一种测试设备的结构示意图,如图1所示,本申请公开了一种测试设备10,包括显示组件200和测试治具100,所述显示组件200设置在所述测试治具100的一侧,用于操作测试,以及查看测试结果。
具体的,所述测试治具100包括测试主板110、转接板120、多条转接线130和电木结构140,所述转接板120设置在所述测试主板110上,与所述测试主板110通过线路连接,所述电木结构140设置在所述测试主板110的一侧,所述转接板120上设有多个USB接口123,所述电木结构140上设有多个USB检测结构150,其中,多个所述USB接口123与多个所述USB检测结构150通过多条所述转接线130一一对应连接。
相对于现有技术中每次只能测试3片产品的方案来说,本申请的测试治具100包括测试主板110、转接板120、多条转接线130和电木结构140,转接板120设置在测试主板110上,与测试主板110通过线路连接,电木结构140设置在测试主板110的一侧,转接板120上设有多个USB接口123,电木结构140上设有多个USB检测结构150,其中,多个USB接口123与多个USB检测结构150通过多条转接线130一一对应连接,这样可通过在电木结构140上设置数量对应的USB检测结构150,只要通过转接线130与转接板120连接,即可实现同时测试更多数量的待测试产品,从而提高测试效率。
其中,可以在显示组件200内设置测试系统,根据测试系统来测试,本测试设备10可应用于PSSD协议固态硬盘的老化测试,且转接板120采用PCIeX16接口转接的方式,配合高速传输的转接线130。下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。
图2是本申请实施例的电木结构的正视结构示意图,图3是本申请实施例的电木结构的俯视结构示意图,结合图2-3可知,所述电木结构140包括电木结构本体141和多个固定孔位142,所述电木结构本体141为矩形结构,包括固定板143、第一支撑板144、第二支撑板145和挡板146,所述固定板143设置在所述第一支撑板144和所述第二支撑板145之间,所述第一支撑板144与所述第二支撑板145相对设置,且所述第一支撑板144的一端和所述第二支撑板145的一端分别与所述固定板143垂直连接,所述挡板146设置在所述固定板143的一侧,且分别与所述固定板143、所述第一支撑板144和所述第二支撑板145固定连接。
所述固定板143、第一支撑板144、第二支撑板145和挡板146组成了一个镂空结构,其中,与挡板146相对的一侧没有再设置另一块挡板146,这样方便用于转接线130与转接板120的连接,不会对转接线130造成阻挡,且方便将线路进行隐藏收纳到电木结构140的内部镂空的区域中,保证整体美观、整洁。
其中,多个所述固定孔位142设置在所述固定板143上,多个所述USB检测结构150与多个所述固定孔位142一一对应设置,即USB检测结构150位于顶面的位置,这样待测试固定硬盘与USB检测结构150插接后,相比于将USB检测结构150设置在电木结构140的侧边,占位面积较小,而且不会对测试人员的行动造成不便和阻碍,避免在操作过程中将待测试的固定硬盘弄掉甚至弄断。
如图1所示,可以设置第一转接板121和第二转接板122两个转接板120用于转接,以增加检测接口152的数量,具体的,所述第一转接板121与所述第二转接板122并列设置;所述转接线130包括第一转接线131和第二转接线132,多个所述USB检测结构150在所述固定板143上呈四列竖向设置,每个所述USB检测结构150包括相互连接的连接接口151与检测接口152,所述连接接口151与所述检测接口152分别设置在所述固定孔位142上,且相互背离;所述第一转接板121的多个USB接口123通过多条所述第一转接线131与其中两列USB检测结构150的连接接口151一一对应连接,所述第二转接板122的多个USB接口123通过多条所述第二转接线132与另外两列USB检测结构150的连接接口151一一对应连接。
其中,所述第一转接板121和所述第二转接板122的USB接口123的数量均为12个,所述USB检测结构150的数量为24个,即一台电木结构140上具有24个连接接口151和24个检测接口152,即通过一台电木结构140可同时测试24个待测试的固定硬盘,这样比原本的平台利用率提高了8倍,满足USB3.0 5Gb/s带宽要求的BIT测试,极大的节省了测试硬件成本、人力成本,节省了测试空间。而且,每个所述USB检测结构150的检测接口152的高度均一致。当然,也可以根据测试主板110的内存以及转接板120的接口的类型来设置检测接口152的数量。
如图3所示,所述第一转接板121的多个USB接口123通过多条所述第一转接线131与第一列所述USB检测结构150的连接接口151和第二列所述USB检测结构150的连接接口151一一对应连接;所述第二转接板122的多个USB接口123通过多条所述第二转接线132与第三列所述USB检测结构150的连接接口151和第四列所述USB检测结构150的连接接口151一一对应连接;其中,第一列所述USB检测结构150与第二列所述USB检测结构150的间距,大于第二列所述USB检测结构150与第三列所述USB检测结构150的间距,大于第三列所述USB检测结构150与第四列所述USB检测结构150的间距;其中,所述二列所述USB检测结构150与第三列所述USB检测结构150的间距,等于第三列所述USB检测结构150与第四列所述USB检测结构150的间距。即第一列所述USB检测结构150与第二列所述USB检测结构150的间距较大,这是由于第一转接板121和第二转接板122的USB接口123均分别要与电木结构140上的连接接口151连接,即每一个USB接口123均需要接一条转接线130,这就导致一共需要连接24条转接线130,而每列连接连口需要连接6条转接线130。
结合图1可知,第一转接板121和第二转接板122的两侧分别设置6个USB接口123,而连接时,需将第一转接板121和第二转接板122侧向安装,其中,第一转接板121和第二转接板122其中一侧的USB接口123朝向电木结构140,另一侧的USB接口123则朝向背离电木结构140的方向,此时,第一转接线131连接第一转接板121朝向电木结构140一侧的USB接口123,第二转接线132连接第二转接板122朝向电木结构140一侧的USB接口123后,则这两部分的转接线130相对比较集中,全部集中位于第一列所述USB检测结构150与第二列所述USB检测结构150下方的位置,因此,需将第一列USB检测结构150与第二列所述USB检测结构150错开位置较大,以更好容纳这两部分的转接线130,而第一转接板121和第二转接板122另外一侧的USB接口123通过转接线130再连接到对应的连接接口151后,由于另外这两部分的转接线130空间需要比较小,这样,全部的USB接口123与连接接口151都连接起来后,这四部分的线路正好中和错开,不会造成相互阻挡的作用,以避免线路断线的情况。当然,也可以将第一转接板121和第二转接板122的位置相调换,或者根据实际工作台的面积来摆放连接第一转接板121和第二转接板122。
图4是本申请实施例的转接线与连接接口连接的结构示意图,如图4所示,所述USB检测结构150还包括锁定结构153,所述锁定结构153设置在所述检测接口152的两侧,所述转接线130与所述连接接口151连接的一端设有锁扣件133,通过所述锁扣件133与所述锁定结构153配合对连接端进行锁紧。具体的,所述锁定结构153包括第一锁紧件154和第二锁紧件155,所述第一锁紧件154和所述第二锁紧件155相对设置,所述检测接口152设置在所述第一锁紧件154与所述第二锁紧件155之间,所述第一锁紧件154、所述第二锁紧件155和所述检测接口152均凸出于所述固定板143的上表面,且所述第一锁紧件154与所述第二锁紧件155的下表面与所述固定板143的上表面部分抵接;所述第一锁紧件154和所述第二锁紧件155上均设有锁孔156,所述转接线130的锁扣件133与所述锁孔156配合锁紧。
其中,所述销扣件可以为锁紧螺钉,而在锁孔156内设置有锁紧螺母,通过将锁紧螺钉插入锁孔156内后,顺时针旋转,与锁紧螺母配合起到锁紧的效果,而逆时针旋转,则打开。当然,也可以采用其它的锁紧方式。
而当所有的转接线130与连接接口151都连接后,运行该测试治具100,那么在检测运行的过程中,各组件开始工作,必然产生热量,导热电木结构140内的温度上升,因此,可以在两侧的所述第一支撑板144和所述第二支撑板145上都设置散热孔147,有利于散热,其中,散热孔147可以为条形状,且分布多条散热孔147,散热孔147也可以为圆形状,多个圆形状的散热孔147均匀分布,将热量分散进行散发,当然,所述散热孔147也可以为其它形状,具体根据实际需求设计,在此不做限定。
需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例,但是申请文件的篇幅有限,无法一一列出,因而,在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例,各实施例或技术特征组合之后,将会增强原有的技术效果。
以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明,不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试治具,其特征在于,包括测试主板、转接板、多条转接线和电木结构,所述转接板设置在所述测试主板上,与所述测试主板通过线路连接,所述电木结构设置在所述测试主板的一侧,所述转接板上设有多个USB接口,所述电木结构上设有多个USB检测结构,其中
多个所述USB接口与多个所述USB检测结构通过多条所述转接线一一对应连接。
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述电木结构包括电木结构本体和多个固定孔位,所述电木结构本体为矩形结构,包括固定板、第一支撑板、第二支撑板和挡板,所述固定板设置在所述第一支撑板和所述第二支撑板之间,所述第一支撑板与所述第二支撑板相对设置,且所述第一支撑板的一端和所述第二支撑板的一端分别与所述固定板垂直连接,所述挡板设置在所述固定板的一侧,且分别与所述固定板、所述第一支撑板和所述第二支撑板固定连接;
多个所述固定孔位设置在所述固定板上,多个所述USB检测结构与多个所述固定孔位一一对应设置。
3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述转接板包括第一转接板和第二转接板,所述第一转接板与所述第二转接板并列设置;
所述转接线包括第一转接线和第二转接线,多个所述USB检测结构在所述固定板上呈四列竖向设置,每个所述USB检测结构包括相互连接的连接接口与检测接口,所述连接接口与所述检测接口分别设置在所述固定孔位上,且相互背离;
所述第一转接板的多个USB接口通过多条所述第一转接线与其中两列所述USB检测结构的连接接口一一对应连接,所述第二转接板的多个USB接口通过多条所述第二转接线与另外两列所述USB检测结构的连接接口一一对应连接。
4.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,所述第一转接板的多个USB接口通过多条所述第一转接线与第一列所述USB检测结构的连接接口和第二列所述USB检测结构的连接接口一一对应连接;所述第二转接板的多个USB接口通过多条所述第二转接线与第三列所述USB检测结构的连接接口和第四列所述USB检测结构的连接接口一一对应连接;
其中,第一列所述USB检测结构与第二列所述USB检测结构的间距,大于第二列所述USB检测结构与第三列所述USB检测结构的间距,大于第三列所述USB检测结构与第四列所述USB检测结构的间距;
其中,所述二列所述USB检测结构与第三列所述USB检测结构的间距,等于第三列所述USB检测结构与第四列所述USB检测结构的间距。
5.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,所述USB检测结构还包括锁定结构,所述锁定结构设置在所述检测接口的两侧,所述转接线与所述连接接口连接的一端设有锁扣件,所述锁扣件与所述锁定结构配合锁紧。
6.根据权利要求5所述的测试治具,其特征在于,所述锁定结构包括第一锁紧件和第二锁紧件,所述第一锁紧件和所述第二锁紧件相对设置,所述检测接口设置在所述第一锁紧件与所述第二锁紧件之间,所述第一锁紧件、所述第二锁紧件和所述检测接口均凸出于所述固定板的上表面,且所述第一锁紧件与所述第二锁紧件的下表面与所述固定板的上表面部分抵接;
所述第一锁紧件和所述第二锁紧件上均设有锁孔,所述转接线的锁扣件与所述锁孔配合锁紧。
7.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,每个所述USB检测结构的检测接口的高度均一致。
8.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述第一支撑板和所述第二支撑板上均设有散热孔。
9.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于,所述第一转接板和所述第二转接板的USB接口的数量均为12个,所述USB检测结构的数量为24个。
10.一种测试设备,其特征在于,包括显示组件以及如权利要求1-9任意一项所述的测试治具,所述显示组件设置在所述测试治具的一侧。
CN202321538569.4U 2023-06-15 2023-06-15 测试治具和测试设备 Active CN220381789U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202321538569.4U CN220381789U (zh) 2023-06-15 2023-06-15 测试治具和测试设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202321538569.4U CN220381789U (zh) 2023-06-15 2023-06-15 测试治具和测试设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN220381789U true CN220381789U (zh) 2024-01-23

Family

ID=89570548

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202321538569.4U Active CN220381789U (zh) 2023-06-15 2023-06-15 测试治具和测试设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN220381789U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN220381789U (zh) 测试治具和测试设备
CN106124904A (zh) 一种电连接器电性检测系统
KR101509357B1 (ko) 확장카드 서포팅 프레임
CN210863949U (zh) 混合集成电路老炼试验工装
CN218003647U (zh) 一种可靠性测试板及系统
TW202102873A (zh) 針座結構及採用該針座結構的測試治具
CN211698066U (zh) Qfp封装集成电路的电性检测仪
CN214011404U (zh) 一种老化测试设备
CN213071644U (zh) 转接板及转接器
CN211402572U (zh) 老化测试盒及双侧老化测试柜
CN211785921U (zh) 一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备
CN210720643U (zh) 一种芯片测试装置
CN210376668U (zh) 一种雷达高低温测试装置
US10698001B2 (en) Integrated modular integrated circuit test fixture and handler interface
KR101348423B1 (ko) 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치
CN211698067U (zh) 用于半导体集成芯片的可靠性检测装置
US7696744B2 (en) Screw-less latching system for securing load boards
CN207851118U (zh) 一种用于短波红外探测器芯片的快速测试座
TWM591621U (zh) 檢測裝置
CN218729019U (zh) 一种板卡总线数据传输测试装置
CN221726147U (zh) 一种弹簧针射频特性用s参数的测试装置
CN112285524B (zh) 一种混合集成电路老炼试验工装及方法
CN212410773U (zh) 核电站用便携式模拟量处理板件校验装置
CN212966147U (zh) 一种用于电源模块验证及程序烧录的装置
CN112968263B (zh) 便携式侦察天线快速展开定位及复位装置及其方法

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP03 Change of name, title or address

Address after: 518000 floor 1, floor 2 and floor 3, No. 7, Xinfa East Road, Xiangshan community, Xinqiao street, Bao'an District, Shenzhen, Guangdong Province; No.5 1st, 2nd and 3rd floors

Patentee after: Shenzhen Shi Creative Electronics Co.,Ltd.

Country or region after: China

Address before: Shenzhen Shishi Creative Electronics Co., Ltd., No. 5, Xinfa East Road, Xinqiao Street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province, 518000

Patentee before: SHENZHEN SHICHUANGYI ELECTRONIC CO.,LTD.

Country or region before: China

CP03 Change of name, title or address