CN211402572U - 老化测试盒及双侧老化测试柜 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种老化测试盒及双侧老化测试柜，其中，该老化测试盒包括底座和电路板。所述底座设置有用于放置电子产品的产品放置槽和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口，且一个所述产品放置槽对应一个所述接口，所述底座至少相对的两侧面设置有连接器；所述电路板设置于所述底座内，所述电路板分别与所述接口以及所述连接器连接。老化测试盒通过设置在相对两侧的连接器与双侧老化测试柜连接，方便适配双侧老化测试柜，使得双侧老化测试柜不需要设置旋转机构，能够简化双侧老化测试柜结构，减小双侧老化测试柜的尺寸，减少双侧老化测试柜的占地面积。

Description

老化测试盒及双侧老化测试柜

技术领域

本实用新型涉及老化测试技术领域，特别涉及一种老化测试盒及双侧老化测试柜。

背景技术

随着现代科学技术的发展和进步，很多行业都取得了突飞猛进的发展，特别是电子产品行业，越来越多的产品采用了新的材料或者新的工艺，但是为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先经过老化测试，来确定产品性能的稳定性，从而保证产品出厂的合格率，或在产品出现故障需返厂维修时，也需运用老化测试技术对产品进行检测。其中老化测试柜是针对高性能电子产品，仿真出一种高温、恶劣工作环境测试的设备。

多个电子设备集中放置在老化测试盒中，然后将老化测试盒放置在老化测试柜内进行老化测试。但现有的老化测试盒不便于适配双侧老化测试柜，双侧老化测试柜需要通过旋转机构旋转老化测试盒，动作复杂，且旋转机构导致整个双侧老化测试柜尺寸偏大，占地面积大。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种老化测试盒和双侧老化测试柜，旨在解决老化测试盒不便于适配双侧老化测试柜的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种老化测试盒包括底座和电路板。所述底座设置有用于放置电子产品的产品放置槽和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口，且一个所述产品放置槽对应一个所述接口，所述底座至少相对的两侧面设置有连接器；所述电路板设置于所述底座内，所述电路板分别与所述接口以及所述连接器连接。

可选地，所述底座相对的两个侧面设置有所述连接器，或所述底座的四个侧面均设置有所述连接器。

可选地，所述连接器包括触板和设置于所述触板长度方向两侧的定位机构。

可选地，所述触板包括触板本体和多个设置于所述触板本体的铜柱。

可选地，所述触板本体为赛钢板。

可选地，所述铜柱的直径为2mm-4mm。

可选地，所述接口通过4pin快接口与所述电路板连接。

可选地，所述产品放置槽内设置有防火泡棉。

可选地，所述电子产品为手机。

本实用新型还提出一种双侧老化测试柜，包括如上所述的老化测试盒。该老化测试盒包括底座和电路板。所述底座设置有用于放置电子产品的产品放置槽和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口，且一个所述产品放置槽对应一个所述接口，所述底座至少相对的两侧面设置有连接器；所述电路板设置于所述底座内，所述电路板分别与所述接口以及所述连接器连接。

本实用新型技术方案通过在所述底座至少相对的两侧面设置有连接器，通过设置在两侧的连接器与双侧老化测试柜连接，便于适配双侧老化测试柜，使得双侧老化测试柜不需要设置旋转机构，能够简化双侧老化测试柜结构，减小双侧老化测试柜的尺寸，减少双侧老化测试柜的占地面积。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型老化测试盒一实施例的结构示意图；

图2为图1中老化测试盒的俯视图；

图3为图1中老化测试盒的右视图；

图4为图1中老化测试盒的左视图；

图5为图1中老化测试盒的俯视图的电路板和接口的连接结构示意图；

图6为图5中A处的局部放大示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				1	老化测试盒	10	底座
11	产品放置槽	12	接口
				13	连接器	131	触板
131a	触板本体	131b	铜柱
				132	定位机构	14	4pin快接口
15	把手	20	电路板

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出了老化测试盒及包含有该老化测试盒的双侧老化测试柜。

参照图1至图6，本实用新型的提出一种老化测试盒。该老化测试盒1包括底座10和电路板20。所述底座10设置有用于放置电子产品的产品放置槽11和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口12，且一个所述产品放置槽11对应一个所述接口12，所述底座10至少相对的两侧面设置有连接器13；所述电路板20设置于所述底座10内，所述电路板20分别与所述接口12以及所述连接器13电连接。

所述底座10呈矩形设置，在底座10一端设置有把手15，把手15便于老化测试盒1的移动，在把手9上设有橡胶套或塑胶套，橡胶套或塑胶套上设有防滑纹路，防止手滑和提高工人握把手15的舒适性。所述底座10的上表面开设有若干所述产品放置槽11，若干所述产品放置槽11呈矩形阵列排布，每个所述产品放置槽11的外侧设置有所述接口12，所述接口12与设置于所述底座10内的所述电路板20电连接，所述接口12可以是Micro usb接口、Type-C接口、lighting接口、30-pin充电接口等等接口，所述底座10至少相对的两侧面设置有用于与老化测试柜连接的连接器13。

所述底座10相对的两个侧面设置有所述连接器13，也可以是，所述底座10的四个侧面均设置有所述连接器13。通过相对两侧的所述连接器13与双侧老化测试柜(未图示)连接，使得双侧老化测试柜不需要设置旋转机构。在老化测试时，两个所述连接器13均与双侧老化测试柜连接，先通过一侧的所述连接器13与双侧老化测试柜数据交换，在进行完该侧的老化测试后，再通过另外一侧的所述连接器13与双侧老化测试柜进行数据交换，进行下部分的老化测试，由此，在进行两侧的老化测试时，老化测试盒1无需移动，节省两部分的老化测试之间的衔接时间。或者，在老化测试时，先通过一侧的所述连接器13与双侧老化测试柜连接并进行数据交换，在进行完该侧的老化测试后，再通过另一侧的所述连接器13与双侧老化测试柜连接并进行数据交换，进行下部分的老化测试，由此，在进行两侧的老化测试时，老化测试盒1只需移动而不需要转动。

需要说明的是，本实用新型的老化测试盒1不仅适用于双侧老化测试柜，也适用于单侧老化测试柜。

本实用新型技术方案通过在所述底座10至少相对的两侧面设置有用于与老化测试柜连接的连接器13，通过设置在两侧的连接器13与双侧老化测试柜连接，方便适配双侧老化测试柜，使得双侧老化测试柜不需要设置旋转机构，能够简化双侧老化测试柜结构，减小双侧老化测试柜的尺寸，减少双侧老化测试柜的占地面积。

在本实用新型的一些实施例中，参阅图1至图4，所述连接器13包括触板131和设置于所述触板131长度方向两侧的定位机构132。详细的，所述触板131呈矩形设置，所述定位机构132呈圆形设置，连接器13与老化测试柜连接时，通过所述定位机构132定位，使得连接器13与老化测试柜对接更容易。

在本实用新型的一些实施例中，参阅图1至图4，所述触板131包括触板本体131a和多个设置于所述触板本体131a的铜柱131b。通过设置多个所述铜柱131b，使得连接器13与老化测试柜连接的触点面积增大，连接器13与老化测试柜对接更容易。进一步的，所述铜柱131b的直径为2mm-4mm。即所述铜柱131b的直径可以为2mm、2.5mm、3mm、3.5mm、4mm等等。

在本实用新型的一些实施例中，参阅图1至图4所述触板本体131a为赛钢板。赛钢板是用塑料粒子通过挤出机高温挤出，经过相应的模具口挤出得到不同厚度的板材。是一种高熔点、高结晶性的热塑性工程塑料。

在本实用新型的一些实施例中，所述电子产品为手机。详细的，所述产品放置槽11呈矩形设置，便于手机放置，且7寸及7寸以下型号手机均能放置在所述产品放置槽11内，使得老化测试盒1的兼容性强。

在本实用新型的一些实施例中，参阅图5和图6，所述接口12通过4pin快插头14与所述电路板20连接，方便更换接口12，以适应具有不同充电插口的电子产品，并且维护简单，能够降低换线成本。

在本实用新型的一些实施例中，参阅图1和图2，所述产品放置槽11内设置有防火泡棉(未图示)，防火泡棉能保护手机避免划伤，且使用安全，能够避免部分电子产品烧坏后起火引起火灾。

本实用新型还提出一种双侧老化测试柜，包括如上所述的老化测试盒1。该老化测试盒1包括底座10和电路板20。所述底座10设置有用于放置电子产品的产品放置槽11和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口12，且一个所述产品放置槽11对应一个所述接口12，所述底座10至少相对的两侧面设置有连接器13；所述电路板20设置于所述底座10内，所述电路板20分别与所述接口12以及所述连接器13电连接。该双侧老化测试柜的具体结构参照上述实施例，由于本双侧老化测试柜采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种老化测试盒，其特征在于，包括：

底座，设置有用于放置电子产品的产品放置槽和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口，且一个所述产品放置槽对应一个所述接口，所述底座至少相对的两侧面设置有连接器；

电路板，设置于所述底座内，所述电路板分别与所述接口以及所述连接器连接。

2.如权利要求1所述的老化测试盒，其特征在于，所述底座相对的两个侧面设置有所述连接器，或所述底座的四个侧面均设置有所述连接器。

3.如权利要求1或2所述的老化测试盒，其特征在于，所述连接器包括触板和设置于所述触板长度方向两侧的定位机构。

4.如权利要求3所述的老化测试盒，其特征在于，所述触板包括触板本体和多个设置于所述触板本体的铜柱。

5.如权利要求4所述的老化测试盒，其特征在于，所述触板本体为赛钢板。

6.如权利要求4或5所述的老化测试盒，其特征在于，所述铜柱的直径为2mm-4mm。

7.如权利要求1或2所述的老化测试盒，其特征在于，所述接口通过4pin快接口与所述电路板连接。

8.如权利要求1或2所述的老化测试盒，其特征在于，所述产品放置槽内设置有防火泡棉。

9.如权利要求8所述的老化测试盒，其特征在于，所述电子产品为手机。

10.一种双侧老化测试柜，其特征在于，包括如权利要求1至9任一项所述的老化测试盒。

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