TW202102873A - 針座結構及採用該針座結構的測試治具 - Google Patents

針座結構及採用該針座結構的測試治具 Download PDF

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Abstract

一種針座結構，用於固定探針，包括底座，所述底座上設有第一收容腔，所述第一收容腔內設有貫穿所述底座的第一通孔，所述探針設於所述第一通孔中且兩端凸伸出所述第一通孔，所述針座結構還包括限位塊，所述限位塊設於所述底座上且與所述第一收容腔相對設置，所述限位塊上設有與所述第一通孔對應的第二通孔，所述探針的一端凸伸入所述第二通孔並抵持於所述限位塊上，所述探針的另一端抵持於所述底座上。還涉及採用上述針座結構的測試治具，上述針座結構結構簡單，有效避免出現所述探針掉出所述針座結構的情況。

Description

針座結構及採用該針座結構的測試治具
本發明涉及一種針座結構及採用該針座結構的測試治具。
在一些產品的制程中，如攝像模組的制程中，需要利用測試治具對組裝完畢的模組或產品進行功能性的測試。測試時治具針座內的探針、轉接板及模組連接器要呈一個導通的狀態。原有的針座由於探針下方的穴位為通孔設計，無任何止擋設計，而使得探針容易從針座上掉落，且探針體積小，掉落後難以找回，安裝也不易，進而影響了對被測品的測試效率。目前為了避免出現探針從針座上掉落的問題，採取的方法是在針座的下方鐵膠帶，將探針黏在針座上，安裝轉接板時，再將膠帶去掉，但是在這一過程中仍然會出現探針從針座中掉落。
有鑑於此，有必要提供一種針座結構及採用該針座結構的測試治具，旨在將探針固定在針座上，避免出現探針掉落的情況。
一種針座結構，用於固定探針，包括底座，所述底座上設有第一收容腔，所述第一收容腔內設有貫穿所述底座的第一通孔，所述探針設於所述第一通孔中且兩端凸伸出所述第一通孔，所述針座結構還包括限位塊，所述限位塊設於所述底座上且與所述第一收容腔相對設置，所述限位塊上設有與所述第一通孔對應的第二通孔，所述探針的一端凸伸入所述第二通孔並抵持於所述限位塊上，所述探針的另一端抵持於所述底座上。
在至少一個實施方式中，所述第二通孔包括連通的第一圓柱孔和第二圓柱孔，所述第二圓柱孔的直徑小於所述第一圓柱孔的直徑，所述第一圓柱孔和所述第二圓柱孔的連通位置處形成用於抵持所述探針的第一抵持部。
在至少一個實施方式中，所述限位塊上設有引導斜面，所述引導斜面用於引導所述探針進入所述第二通孔。
在至少一個實施方式中，所述底座設有與所述限位塊相適配的第二收容腔，所述限位塊設於所述第二收容腔中。
在至少一個實施方式中，所述限位塊和所述底座之間的對應位置設有相互配合的彈片和卡槽。
在至少一個實施方式中，所述限位塊和所述底座之間的對應位置設有相互配合的鎖緊部和固定孔。
在至少一個實施方式中，所述第一通孔包連通的第三圓柱孔和第四圓柱孔，所述第四圓柱孔的直徑小於所述第三圓柱孔的直徑，所述第三圓柱孔和所述第四圓柱孔的連通位置處形成用於抵持所述探針的第二抵持部。
一種測試治具，包括固定板及設於所述固定板上的針座結構，所述針座結構為上述中所述的針座結構。
在至少一個實施方式中，所述固定板設有第三通孔，所述針座結構設於所述第三通孔位置處，所述探針靠近所述限位塊的一端凸伸出所述第三通孔。
在至少一個實施方式中，所述測試治具還包括轉接板，當所述轉接板設於所述固定板上時，所述探針與所述轉接板連接。
上述提供的針座結構及測試治具通過在底座設有第一收容腔，所述第一收容腔內設有貫穿的第一通孔，在所述第一收容腔相對一側設有限位塊，所述限位塊設有與所述第一通孔對應的第二通孔，所述探針置於所述第一通孔中且兩端分別凸伸出所述第一通孔，所述探針的一端進一步凸伸入所述第二通孔中並抵持於所述限位塊上，所述探針的另一端抵持於所述底座上。還涉及採用上述針座結構的測試治具。使用上述的針座結構能夠將所述探針有效固定在所述底座上，結構簡單，也能夠避免出現探針掉落出底座的情況。
下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。
需要說明的是，當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。當一個元件被認為是“設於”另一個元件，它可以是直接設置在另一個元件上或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術語“頂”、“底”、“上”、“下”、“左”、“右”、 “前” 、“後”、以及類似的表述只是為了說明的目的。
除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬於本發明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本發明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在於限制本發明。
請參閱圖1和圖2，在一實施方式中，提供一種測試治具（圖未標示）用於檢測產品，為了使得所述測試治具內的各結構連通，需要通過探針300進行連通，進一步地，為了固定所述探針300，採用一種針座結構100對所述探針300進行固定。在一實施方式中，被檢測的產品為攝像模組。
請參閱圖3和圖4，所述針座結構100，用於固定探針300，包括底座10，所述底座10上設有第一收容腔11，所述第一收容腔11內設有貫穿所述底座10的第一通孔12，所述探針300設於所述第一通孔12中且兩端凸伸出所述第一通孔12，所述針座結構100還包括限位塊20，所述限位塊20設於所述底座10上且與所述第一收容腔11相對設置，所述限位塊20上設有與所述第一通孔12對應的第二通孔21，所述探針300的一端凸伸入所述第二通孔21並抵持於所述限位塊20上，所述探針300的另一端抵持於所述底座10上。
請參閱圖3、圖4和圖5，所述底座10大致為一方形塊，且中間設有一收容空間（圖未標示），所述收容空間用於收容被測的攝像模組。進一步地，在所述收容空間內設有第一收容腔11，所述第一收容腔11的底部位置處設有多個從其底部端面貫穿所述底座10的第一通孔12。在一實施方式中，所述第一通孔12圍成一長方形。所述第一通孔12包括連通的第三圓柱孔121和第四圓柱孔122，所述第四圓柱孔122的直徑小於所述第三圓柱孔121的直徑，在所述第三圓柱孔121和所述第四圓柱孔122的連通位置處形成用於抵持所述探針300的第二抵持部123。所述第四圓柱孔122靠近所述第一收容腔11，所述第三圓柱孔121從與所述第四圓柱孔122的連通處延伸至所述底座10的底部端面。當所述第一通孔12中設有所述探針300時，所述探針300的一端凸伸出所述第一收容腔11的底面，以能夠和被檢測的產品連接。
所述底座10設有與所述限位塊20相適配的第二收容腔13，所述限位塊20設於所述第二收容腔13中。具體地，所述第二收容腔13和所述第一收容腔11設於所述底座10的相對兩側。可以理解的是，所述底座10的形狀不限於此，具體可根據需要檢測的產品進行設計。所述第一通孔12的數量和排列方式也可根據需要檢測的產品進行替換，如檢測另一款攝像模組時，可將所述探針300設為互相平行的三列結構。
請參閱圖3、圖4和圖5，所述限位塊20大致呈一長方體形，所述限位塊20上設有與所述第一通孔12一一對應的第二通孔21，即所述第二通孔21圍成的形狀和所述第一通孔12圍成的形狀相一致。所述第二通孔21包括連通的第一圓柱孔211和第二圓柱孔212，所述第二圓柱孔212的直徑小於所述第一圓柱孔211的直徑，所述第一圓柱孔211和所述第二圓柱孔212的連通位置處形成用於抵持所述探針300的第一抵持部213。所述第一圓柱孔211的一端與所述第三圓柱孔121相對應，所述第一圓柱孔211的另一端與所述第二圓柱孔212連通，所述第二圓柱孔212延伸至所述限位塊20的底面，以使得所述探針300能凸伸所述限位塊20和其他結構連接。
請參閱圖3，所述探針300包括第一針體31和與所述第一針體31連接的的第二針體32。所述第一針體31的直徑大於所述第二針體32的直徑，且所述第一針體31的兩端分別連接有所述第二針體32。所述第一針體31的直徑和所述第一圓柱孔211及所述第三圓柱孔121的直徑大致相同，所述第一圓柱孔211和所述第三圓柱孔121與所述第一針體31採用間隙配合，使得所述第一針體31能順利凸伸入其中。所述第二針體32的直徑和所述第二圓柱孔212及所述第四圓柱孔122的直徑大致相同，同樣的，所述第二針體32和所述第二圓柱孔212及所述第四圓柱孔122採用間隙配合，以使得所述第二針體32能夠伸入其中。可以理解是，在其他實施方式中，所述探針300可換為結構的探針，如在所述第一針體31的兩端設置不同直徑的第二針體32。相對應的，所述第一通孔12和所述第二通孔21的直徑也隨之變換。
優選的，在一實施方式中，所述底座10和所述限位塊20之間的對應位置處設有相互配合的固定孔14和鎖緊件23。具體地，所述底座10上設有固定孔14，所述限位塊20上設有鎖緊件23。當將所述限位塊20固定在所述底座10上時，所述限位塊20通過所述鎖緊件23與所述固定孔14之間的配合固定在所述底座10上。進一步地，所述鎖緊件23為一鎖緊螺絲，所述固定孔14為一螺紋孔。在本實施方式中，所述限位塊20通過兩鎖緊件23固定在所述底座10上。在其他實施方式中，所述鎖緊件23可為換位其他數量，如4個。
在另一實施方式中，可在所述限位塊20上的相對兩端設置彈片（圖未標示），所述底座10在對應位置處設有卡槽（圖為標示）。當將所述限位塊20固定在所述底座10上時，將所述彈片向相互靠近的方向施力，使得所述彈片變形，再將所述彈片移至所述底座10的對應卡槽處，釋放所述彈片，使得所述彈片卡固於所述卡槽上，從而將所述限位塊20固定在所述底座10上。可以理解的是，在其他實施方式中，所述限位塊20和所述底座10之間的連接還可替換為其他方式。
請參閱圖5，當將所述探針300從所述第二收容腔13的一端置於所述底座10中時，所述第二針體32部分置於所述第四圓柱孔122中，部分顯露於所述第一收容腔11中，所述第一針體31部分置於所述第三圓柱孔121中，且所述第一針體31的一端抵持於所述第二抵持部123上，部分顯露於所述第二收容腔13中。進一步地，將所述限位塊20固定在所述底座10上時，部分顯露於所述第二收容腔13中的第一針體31置於所述第一圓柱孔211中，且所述第一針體31的另一端抵持於所述第一抵持部213上，另一所述第二針體32部分置於所述第二圓柱孔212中，部分凸伸處所述第二圓柱孔212外。所述探針300固定於所述針座結構100中。
請參閱圖6和圖7，所述測試治具包括固定板40，所述固定板40上設有第三通孔（圖未標示），所述針座結構100設於所述第三通孔位置處。所述測試治具還可包括轉接板50，當將所述轉接板50設於所述固定板40上時，從所述限位塊20一端凸伸出所述探針300與所述轉接板50連接。而當將被測產品放置於所述底座10的收容空間中時，所述探針300將所述被測產品與所述轉接板50連接，進一步地結合其他構件對所述被測產品進行檢測。
請參閱圖8，優選的，在一實施方式中，所述限位塊20上設有引導斜面22，所述引導斜面22用於引導所述探針300進入所述第二通孔21中。具體地，所述第二通孔21靠近所述探針300的一端與所述限位塊20的端面間形成所述引導斜面22，在使得所述探針300的一端凸伸入所述第二通孔21中時，若所述探針300未準確進入所述第二通孔21中，在移動所述限位塊20或所述底座10時，可使得所述探針300沿所述引導斜面22進入所述第二通孔21中。
綜上所述，本發明實施方式中提供針座結構100及採用該針座結構100的測試治具，通過在所述底座10上設置第一通孔12，在所述限位塊20上設置與所述第一通孔12對應的第二通孔21，且在所述第一通孔12和所述第二通孔21中形成用於抵持所述探針300的第一抵持部213和第二抵持部123，將所述探針300固定在所述針座結構100上。進一步地，通過測試治具對被測產品進行測試。上述的針座結構100結構簡單、方便操作，在所述底座10上直接設置於其相適配的限位塊20，在安裝所述轉接板50時，也無需要將所述限位塊20拆卸下來，有效避免出現所述探針300從所述底座10上掉落的情況。當要更換所述探針300時，所述針座結構100也便於拆卸。
另外，本技術領域的普通技術人員應當認識到，以上的實施方式僅是用來說明本發明，而並非用作為對本發明的限定，只要在本發明的實質精神範圍之內，對以上實施例所作的適當改變和變化都落在本發明要求保護的範圍之內。
100:針座結構 10:底座 11:第一收容腔 12:第一通孔 121:第三圓柱孔 122:第四圓柱孔 123:第二抵持部 13:第二收容腔 14:固定孔 20:限位塊 21:第二通孔 211:第一圓柱孔 212:第二圓柱孔 213:第一抵持部 22:引導斜面 23:鎖緊件 300:探針 31:第一針體 32:第二針體 40:固定板 50:轉接板
圖1為針座結構的立體圖。
圖2為圖1所示的針座結構的另一視角立體圖。
圖3為針座結構的分解圖。
圖4為圖3所示的針座結構的另一視角的分解圖。
圖5為探針固定於針座結構中沿V-V方向的剖視圖。
圖6為針座結構設於固定板中示意圖。
圖7為圖6中固定板設有轉接板的示意圖。
圖8為另一實施方式中的限位塊。
無。
10:底座
11:第一收容腔
12:第一通孔
20:限位塊
21:第二通孔
23:鎖緊件
300:探針
31:第一針體
32:第二針體

Claims (10)

  1. 一種針座結構，用於固定探針，包括底座，其中，所述底座上設有第一收容腔，所述第一收容腔內設有貫穿所述底座的第一通孔，所述探針設於所述第一通孔中且兩端凸伸出所述第一通孔，所述針座結構還包括限位塊，所述限位塊設於所述底座上且與所述第一收容腔相對設置，所述限位塊上設有與所述第一通孔對應的第二通孔，所述探針的一端凸伸入所述第二通孔並抵持於所述限位塊上，所述探針的另一端抵持於所述底座上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之針座結構，其中，所述第二通孔包括連通的第一圓柱孔和第二圓柱孔，所述第二圓柱孔的直徑小於所述第一圓柱孔的直徑，所述第一圓柱孔和所述第二圓柱孔的連通位置處形成用於抵持所述探針的第一抵持部。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之針座結構，其中，所述限位塊上設有引導斜面，所述引導斜面用於引導所述探針進入所述第二通孔。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之針座結構，其中，所述底座設有與所述限位塊相適配的第二收容腔，所述限位塊設於所述第二收容腔中。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之針座結構，其中，所述限位塊和所述底座之間的對應位置設有相互配合的彈片和卡槽。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之針座結構，其中，所述限位塊和所述底座之間的對應位置設有相互配合的鎖緊部和固定孔。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之針座結構，其中，所述第一通孔包連通的第三圓柱孔和第四圓柱孔，所述第四圓柱孔的直徑小於所述第三圓柱孔的直徑，所述第三圓柱孔和所述第四圓柱孔的連通位置處形成用於抵持所述探針的第二抵持部。
  8. 一種測試治具，包括固定板及設於所述固定板上的針座結構，其中，所述針座結構為申請專利範圍第1項中所述的針座結構。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之測試治具，其中，所述固定板設有第三通孔，所述針座結構設於所述第三通孔位置處，所述探針靠近所述限位塊的一端凸伸出所述第三通孔。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之測試治具，其中，所述測試治具還包括轉接板，當所述轉接板設於所述固定板上時，所述探針與所述轉接板連接。
TW108127432A 2019-07-10 2019-08-01 針座結構及採用該針座結構的測試治具 TW202102873A (zh)

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