CN213581027U - 一种测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公布了一种测试夹具,该测试夹具包括:上针座和下针座,下针座具有片针模组和浮动模组,片针模组设有下测试针组和下针板,下测试针组在第一方向具有第一接触点,在第二方向具有第二接触点,第二接触点与PCB板电连接;浮动模组设有至少部分容下测试针组伸入的定位槽,下测试针组在第一方向上设有放置框;浮动模组与下针板座之间设置有弹力支撑件,当浮动模组被上针座施加荷载时,第一接触点进入放置框与被测物电连接,使上测试针组、被测试物、下测试针组以及PCB板形成“通”路,且弹力支撑件对浮动模组施加使被测物与第一接触点分离的弹性力;本实用新型提出一种测试夹具,能够起到导向和预压作用,从而不会对被测物造成损坏。
Description
技术领域
本申请涉及测试领域,具体是涉及一种测试夹具。
背景技术
目前,在3C类电子产品(手机、相机、笔记本)等电子部件模块的制造工序中,需要进行导通检查和动作特性检查等,这些检查通过使用探针 (probe pin)将用于与设置在电子部件模块上的主体基板连接的端子和检查装置的端子连接来进行。
现有技术中,作为这样的测试装置,一方面无法保证被测物精准定位,容易使测试针损坏;另一方面,现有技术中的上针座和下针座之间在进行检测时刚性接触,容易造成被测物、测试针、各零部件挤压损坏,影响其使用寿命,同时现有技术中的测试装置功能单一,只能进行通断测试。
发明内容
本实用新型的目的在于提出了一种能够进行多场合使用的测试夹具。
为实现上述目的,本实用新型的一个示例的测试夹具,该测试夹具包括:
上针座,该上针座具有上测试针组,所述上测试针组在被施加荷载下与被测物电接触;以及
下针座,所述下针座具有片针模组和浮动模组,其中,所述片针模组设有下测试针组和下针板,所述下测试针组在第一方向具有第一接触点,在第二方向具有第二接触点,所述第二接触点与PCB板电连接;所述浮动模组设有至少部分容下测试针组伸入的定位槽,所述下测试针组在第一方向上设有用于放置被测物的放置框;所述浮动模组与下针板座之间设置有弹力支撑件,当所述浮动模组被上针座施加荷载时,所述第一接触点进入放置框与被测物电连接,使上测试针组、被测试物、下测试针组以及PCB 板形成“通”路,且所述弹力支撑件对所述浮动模组施加使被测物与第一接触点分离的弹性力。
进一步地,所述浮动模组包括托盘架和托盘,所述托盘配设在所述托盘架上,所述托盘架朝下针板座设有定位口,所述下针板座上设置有与所述定位口配合的定位轴承。
进一步地,其中,所述上针座还包括:
上固定板,所述上固定板设有插头连接部,所述插头连接部可与检查对象物或检测装置连接;
上针板,所述上测试针组的下端至少部分穿设出所述上针板,与所述下针座形成数个检测区;以及
侧板,其用于连接上固定板和上针板,使所述上针座形成一立方体。
进一步地,所述上针板设置有缓冲器,所述缓冲器的伸出距离大于所述上测试针组伸出所述上针板的距离。
进一步地,所述浮动模组还包括与所述托盘配合连接的定位钢片,所述定位钢片在被测物置于所述定位槽后与所述托盘连接。
进一步地,所述的下测试针组包括:
固定座,其具有收纳测试针的腔体,使测试针的主体部分配置在腔体内,并使主体部分两端的第一触点和第二触点分别露出所述固定座;以及
配置在固定座上与固定座弹性连接的定位座,其中定位座上具有定位被测物的放置框,所述放置框内设有与第一触点相适配的槽口,当对定位座施加荷载的状态下,使第一触点从槽口伸出进入放置框。
进一步地,在所述定位座与固定座之间设置有弹簧,使定位座与固定座弹性连接。
进一步地,在所述固定座的腔体内配置有装夹多组测试针的绝缘隔离板,使接触待测物单个触点的测试针彼此绝缘。
进一步地,所述隔离板的板面上具有放置测试针主体部分的配置槽,所述配置槽的数量为两个,沿隔离板中线对称设置。
与现有技术相比,本实用新型提供的一种测试夹具,分为上针座部分和下针座部分,下针座上具有放置被测物的定位槽和定位钢片,以起到提高测试准确率的目的;同时,由于下针座上的托盘放置在托盘架上,托盘架通过弹力支撑件安装在下针板座上,使在被下压时,弹力支撑件能够起到导向和预压作用,从而不会对被测物造成损坏;本实用新型的其它有益效果,在具体实施方式中进一阐明。
附图说明
图1示意性地披露了一种测试夹具的分解图。
图2示意性地披露了一种测试夹具的剖视图。
图3示意性地披露了下测试针组的结构图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明进行详细说明,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,当组件被称为“固定于”另一个组件,它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
在一些实施例中,本申请提出的一种测试夹具,可以运用在3C连接器领域,通过对被测物的固定,实现对PCM的定位、测试、焊锡、点胶等功能,较现有技术而言,具有多种场合使用的特点。
具体的,为了更好的对所述测试夹具进行说明,本实施例提供了一种测试夹具,如图1-图3所示,包括:
由DB37型号的插头连接部10、上固定板11、侧板12、上测试针组13 以及上针板14组成的上针座100;和由浮动模组20和片针模组组成的下针座200。
重点请参照图3,所述浮动模组20与片针模组之间至少部分连接,其中,片针模组至少包括下测试针组21和下针板22,下针板22通过前后、左右侧板和底板围合成一个立方体,该立方体上设有型号为GX16-10的航空公座23,可与外部检测装置的母座连接,来检查被测物;浮动模组20通过弹力支撑件24与下针板22连接成一个在受荷载下可以上下浮动的缓冲体;可以理解的是,当浮动模组20受到来自上针座100的下压后,浮动模组20能够通过弹力支撑件24进行缓冲,避免上针座100和下针座200刚性触碰,同时还可以在下针板22上设置下定位轴承26,在浮动模组20上设置定位口(未图示),以此在下压时进行定位,既可以提高其使用寿命,又能确保测试的准确度。
在一些实施例中,所述的弹力支撑件24可以是缓冲弹力针,均匀的分布在浮动模组20和下针板22之间,但本实用新型的保护范围并不限于此,其它实施中,所述的弹力支撑件24可以为弹簧、橡胶垫等,均涵盖在内。
如图3所示,本申请披露了一个实施例下对应下测试针组21的结构,所述的下测试针组21包括:固定座210和定位座211,固定座210与定位座211之间弹性连接;其中:
固定座210具有收纳测试针212的腔体2100,使测试针212的主体部分配置在腔体2100内,并使测试针212主体部分的第一触点2120和第二触点2121分别在第一方向和第二方向上露出所述固定座210,如在某些实施例中,第一触点2120在第一方向受荷载后与被测物电连接,第二触点2121 在第二方向上通过信号转接板电连接PCB板25。
定位座211上具有定位被测物的放置框2110,所述放置框2110内设有与第一触点2120相适配的槽口2111,当对定位座211施加荷载时,定位座 211向下移动,使第一触点2120从槽口2111伸出进入放置框2110,将置于内部的第一触点2120外漏与被测物接触;在未被施加荷载时,第一触点 2120能够处于定位座211内部,以达到防护的目的,而定位座211所具有的放置框2110可以对被测物进行初定位,放置框2110沿长度方向贯通的槽口2111可以使测试针212的第一触点2120在伸出时,对第一触点2120 起到校正的作用,使第一触点2120能够精准的插入到被测物槽内或平面进行检测,更好保护被测产品均匀受力。
优选的,在所述定位座211与固定座210之间设置有弹簧(未图示),使定位座211与固定座210弹性连接,并使弹簧在被压缩状态下,能够为定位座211提供自动复位的弹性力。
此外,固定座210的腔体2100内配置有装夹多组测试针212的绝缘隔离板213,使接触被测物单个触点的测试针212彼此之间能够绝缘,对测试针212起到定向锁附作用,其中隔离板213的板面上具有放置测试针212 主体部分的配置槽,单个隔离板213上所具有的配置槽数量为两个,沿隔离板中线对称设置,中间部位为隔离板,使测试不同位置的测试针不会电接触,并使测试针能够对测试方向进行导向,保持与水平面垂直,同时用配置槽来限制所使用的测试针长度。
在一下实施例中,所述浮动模组20可以包括定位钢片201、托盘202 和托盘架203,所述托盘202和托盘架203上设有容放置框2110伸出的定位槽,待被测物置于所述放置框2110后,用定位钢片201铺设在其托盘202 和被测物的上表面,对被测物进行第二次定位。
在一些实施例中,上固定板11、侧板12以及上针板14围合形成一个立方体,插头连接部10可与检查对象物或检测装置连接;上测试针组13 安装在上针板14上,其触头部位穿出所述上针板14,当上测试针组13和下测试针组21为多排设置时,上针座100与下针座200之间可以形成数个检测区300,在浮动模组20受上针座100的下压荷载后,可以联动定位座211朝第二方向位移,浮动模组20在进行下压时,可以起到导向和预压的作用,从而不会对被测物造成影响;下压到一定位置时,第一接触点2120 与被测物电连接,上测试针组13、被测试物、下测试针组21以及PCB板 25形成“通”路,当为“通”路状态后,弹力支撑件24对所述浮动模组 20施加使被测物与第一接触点2120分离的弹性力,以对撤回压力后的各部件进行自动复位。
在一些实施例中,所述上针板14还具有缓冲器15和上定位轴承16,在未施加任何荷载下,所述缓冲器15的伸出距离大于所述上测试针组13 伸出所述上针板14的距离,所述定位轴承16在上针座100施加荷载时,能够通过定位轴承16与托盘202进行定位。
本技术实用新型不局限于上述实施方式,只要是说明书中提及的方案均落在本实用新型的保护范围之内。
以上应用了具体个例对本实用新型进行阐述,只是用于帮助理解本实用新型,并不用以限制本实用新型。对于本实用新型所属技术领域的技术人员,依据本实用新型的思想,还可以做出若干简单推演、变形或替换。
Claims (9)
1.一种测试夹具,其特征在于,该测试夹具包括:
上针座,该上针座具有上测试针组,所述上测试针组在被施加荷载下与被测物电接触;以及
下针座,所述下针座具有片针模组和浮动模组,其中,所述片针模组设有下测试针组和下针板,所述下测试针组在第一方向具有第一接触点,在第二方向具有第二接触点,所述第二接触点与PCB板电连接;所述浮动模组设有至少部分容下测试针组伸入的定位槽,所述下测试针组在第一方向上设有用于放置被测物的放置框;所述浮动模组与下针板座之间设置有弹力支撑件,当所述浮动模组被上针座施加荷载时,所述第一接触点进入放置框与被测物电连接,使上测试针组、被测试物、下测试针组以及PCB板形成“通”路,且所述弹力支撑件对所述浮动模组施加使被测物与第一接触点分离的弹性力。
2.根据权利要求1所述的一种测试夹具,其特征在于,所述浮动模组包括托盘架和托盘,所述托盘配设在所述托盘架上,所述托盘架朝下针板座设有定位口,所述下针板座上设置有与所述定位口配合的定位轴承。
3.根据权利要求1所述的一种测试夹具,其特征在于,其中,所述上针座还包括:
上固定板,所述上固定板设有插头连接部,所述插头连接部可与检查对象物或检测装置连接;
上针板,所述上测试针组的下端至少部分穿设出所述上针板,与所述下针座形成数个检测区;以及
侧板,其用于连接上固定板和上针板,使所述上针座形成一立方体。
4.根据权利要求3所述的一种测试夹具,其特征在于,所述上针板设置有缓冲器,所述缓冲器的伸出距离大于所述上测试针组伸出所述上针板的距离。
5.根据权利要求2所述的一种测试夹具,其特征在于,所述浮动模组还包括与所述托盘配合连接的定位钢片,所述定位钢片在被测物置于所述定位槽后与所述托盘连接。
6.根据权利要求1所述的一种测试夹具,其特征在于,所述的下测试针组包括:
固定座,其具有收纳测试针的腔体,使测试针的主体部分配置在腔体内,并使主体部分两端的第一触点和第二触点分别露出所述固定座;以及
配置在固定座上与固定座弹性连接的定位座,其中定位座上具有定位被测物的放置框,所述放置框内设有与第一触点相适配的槽口,当对定位座施加荷载的状态下,使第一触点从槽口伸出进入放置框。
7.根据权利要求6所述的一种测试夹具,其特征在于,在所述定位座与固定座之间设置有弹簧,使定位座与固定座弹性连接。
8.根据权利要求6所述的一种测试夹具,其特征在于,在所述固定座的腔体内配置有装夹多组测试针的绝缘隔离板,使接触待测物单个触点的测试针彼此绝缘。
9.根据权利要求8所述的一种测试夹具,其特征在于,所述隔离板的板面上具有放置测试针主体部分的配置槽,所述配置槽的数量为两个,沿隔离板中线对称设置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202021788269.8U CN213581027U (zh) | 2020-08-25 | 2020-08-25 | 一种测试夹具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202021788269.8U CN213581027U (zh) | 2020-08-25 | 2020-08-25 | 一种测试夹具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN213581027U true CN213581027U (zh) | 2021-06-29 |
Family
ID=76556130
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202021788269.8U Active CN213581027U (zh) | 2020-08-25 | 2020-08-25 | 一种测试夹具 |
Country Status (1)
Country | Link |
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