CN215067098U - 主板测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种主板测试工装，涉及电路板检测技术领域，本实用新型提供的主板测试工装，包括：承载座、测试板组件和压盖组件；承载座设有与待测电路板相适配的内嵌槽，测试板组件的探针延伸至内嵌槽的底部；承载座安装在测试板组件和压盖组件之间，待测电路板被夹持在承载座和压盖组件之间。本实用新型提供的主板测试工装，测试板组件的探针可与待测电路板导通，无需使用接插件反复插拔，便于测试操作，可以提高电路板测试效率。

Description

主板测试工装

技术领域

本实用新型涉及电路板检测技术领域，尤其是涉及一种主板测试工装。

背景技术

针对3D结构光模组电路板在完成表面贴装后，需要对电路板功能和电压进行检测。检测过程中，需要反复插拔电路接插件，由此易导致电路连接器损坏，进而产生因接触不良而造成的测试误判。此外，反复插拔接插件费时费力，降低了电路板的检测效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种主板测试工装，以缓解现有技术中电路板检测易导致电路连接器损坏的技术问题。

第一方面，本实用新型提供的主板测试工装，包括：承载座、测试板组件和压盖组件；

所述承载座设有与待测电路板相适配的内嵌槽，所述测试板组件的探针延伸至所述内嵌槽的底部；

所述承载座安装在所述测试板组件和所述压盖组件之间，所述待测电路板被夹持在所述承载座和所述压盖组件之间。

结合第一方面，本实用新型提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述承载座包括：底座和浮动限位框；

所述底座设有限位槽，所述浮动限位框安装在所述限位槽内；

所述内嵌槽设置于所述浮动限位框上。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本实用新型提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述底座设有与所述测试板组件相适配的孔位，所述孔位与所述限位槽连通。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本实用新型提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述底座设有与所述限位槽连通的手抠槽。

结合第一方面，本实用新型提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述测试板组件包括：测试板和转接件；

所述转接件安装在所述承载座和所述测试板之间，所述转接件的探针延伸至所述内嵌槽的底部。

结合第一方面的第四种可能的实施方式，本实用新型提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，所述转接件包括：第一针板、第二针板和第三针板；

所述第一针板安装在所述承载座背离所述压盖组件的一侧，所述第二针板和所述第三针板皆安装在所述第一针板和所述测试板之间。

结合第一方面的第五种可能的实施方式，本实用新型提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，所述第一针板背离所述承载座的一侧设有安装槽，所述安装槽用于容纳所述第二针板和所述第三针板。

结合第一方面，本实用新型提供了第一方面的第七种可能的实施方式，其中，所述压盖组件包括盖板，所述盖板与所述承载座连接，所述待测电路板被夹持在所述盖板和所述承载座之间。

结合第一方面的第七种可能的实施方式，本实用新型提供了第一方面的第八种可能的实施方式，其中，所述压盖组件还包括卡扣；

所述盖板与所述承载座铰接，所述卡扣连接于所述盖板和所述承载座。

结合第一方面的第七种可能的实施方式，本实用新型提供了第一方面的第九种可能的实施方式，其中，所述压盖组件还包括压板，所述压板安装在所述盖板与所述待测电路板之间。

本实用新型实施例带来了以下有益效果：采用承载座设有与待测电路板相适配的内嵌槽，测试板组件的探针延伸至内嵌槽的底部，承载座安装在测试板组件和压盖组件之间，待测电路板被夹持在承载座和压盖组件之间，测试板组件的探针可与待测电路板导通，无需使用接插件反复插拔，便于测试操作，可以提高电路板测试效率。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或相关技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或相关技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的主板测试工装的爆炸图；

图2为本实用新型实施例提供的主板测试工装的剖视图；

图3为本实用新型实施例提供的主板测试工装的底座的示意图；

图4为本实用新型实施例提供的主板测试工装的浮动限位框的示意图；

图5为本实用新型实施例提供的主板测试工装的第一针板的示意图。

图标：100－承载座；101－内嵌槽；110－底座；111－限位槽；112－孔位；113－手抠槽；120－浮动限位框；200－测试板组件；210－测试板；220－转接件；221－第一针板；222－第二针板；223－第三针板；300－压盖组件；310－盖板；320－卡扣；330－压板；400－待测电路板。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。公式中的物理量，如无单独标注，应理解为国际单位制基本单位的基本量，或者，由基本量通过乘、除、微分或积分等数学运算导出的导出量。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例一

如图1和图4所示，本实用新型实施例提供的主板测试工装，包括：承载座100、测试板组件200和压盖组件300；承载座100设有与待测电路板400相适配的内嵌槽101，测试板组件200的探针延伸至内嵌槽101的底部；承载座100安装在测试板组件200和压盖组件300之间，待测电路板400被夹持在承载座100和压盖组件300之间。

具体的，测试板组件200安装在承载座100的底部，测试板组件200的探针自下向上延伸，且测试板组件200的探针延伸至内嵌槽101内。当待测电路板400被安装在内嵌槽101中时，待测电路板400与测试板组件200的探针导通。压盖组件300与承载座100连接，待测电路板400被夹持在承载座100和压盖组件300之间，通过压盖组件300的挤压，从而确保待测电路板400始终与测试板组件200的探针紧密接触。

如图1、图2、图3和图4所示，在本实用新型实施例中，承载座100包括：底座110和浮动限位框120；

底座110设有限位槽111，浮动限位框120安装在限位槽111内；

内嵌槽101设置于浮动限位框120上。

具体的，测试板组件200的探针抵接于待测电路板400的底面，压盖组件300抵接于待测电路板400的顶面，浮动限位框120可在限位槽111内上下浮动，从而使待测电路板400在压盖组件300和测试板组件200之间保持平稳，进而避免待测电路板400因受力不均而产生倾斜，可以使待测电路板400始终与测试板组件200的探针紧密接触。

如图1、图2和图3所示，底座110设有与测试板组件200相适配的孔位112，孔位112与限位槽111连通。

具体的，多个孔位112间隔设置，多个孔位112与测试板组件200的多个凸起部一一对应，测试板组件200的探针可穿过孔位112，且测试板组件200的探针抵接于待测电路板400。

进一步的，底座110设有与限位槽111连通的手抠槽113。其中，限位槽111的两侧分别设有手抠槽113，手指可伸入手抠槽113中，以便将限位槽111中的浮动限位框120取出。

如图1所示，测试板组件200包括：测试板210和转接件220；

转接件220安装在承载座100和测试板210之间，转接件220的探针延伸至内嵌槽101的底部。

具体的，测试板210与承载座100连接，转接件220被挤压在测试板210和承载座100之间，测试板210经转接件220与待测电路板400导通。

转接件220包括：第一针板221、第二针板222和第三针板223；

第一针板221安装在承载座100背离压盖组件300的一侧，第二针板222和第三针板223皆安装在第一针板221和测试板210之间。

具体的，第二针板222和第三针板223皆贴合在第一针板221背离承载座100的一侧，且第二针板222和第三针板223皆被挤压在第一针板221和测试板210之间。

如图1和图5所示，第一针板221背离承载座100的一侧设有安装槽，安装槽用于容纳第二针板222和第三针板223。通过安装槽对第二针板222和第三针板223起到限位作用，从而确保第二针板222和第三针板223相对于第一针板221的安装位置准确。

如图1和图2所示，压盖组件300包括盖板310，盖板310与承载座100连接，待测电路板400被夹持在盖板310和承载座100之间。通过盖板310向下挤压待测电路板400，从而确保待测电路板400与测试板组件200的探针紧密接触。

进一步的，压盖组件300还包括卡扣320；盖板310与承载座100铰接，卡扣320连接于盖板310和承载座100。

具体的，卡扣320具有沟槽，当卡扣320连接于盖板310和承载座100时，底座110和盖板310被夹持在卡扣320的沟槽内，从而可使待测电路板400被稳定地夹持在压盖组件300和承载座100之间，进而使待测电路板400与测试板组件200的探针始终紧密接触。

进一步的，压盖组件300还包括压板330，压板330安装在盖板310与待测电路板400之间。压板330位于盖板310和待测电路板400之间，盖板310通过压板330挤压待测电路板400，从而使待测电路板400与测试板组件200的探针紧密接触。

本实施方式提供的主板测试工装具备以下技术效果：

(1)主板测试工装的体积较小，便于携带；

(2)待测电路板400被夹持在承载座100和压盖组件300之间，便可使待测电路板400与测试板组件200的探针紧密接触，无需反复插拔接插件，提高了测试效率，且测试信号传输稳定；

(3)浮动限位框120可相对于底座110上下浮动，从而确保待测电路板400的位置平稳且准确，进而使待测电路板400能够与测试板组件200的探针始终保持紧密接触；

(4)测试时采用卡扣320连接于盖板310和承载座100，可使待测电路板400被稳定地夹持在压盖组件300和承载座100之间；待测试结束后，通过拆卸卡扣320，或者通过旋转卡扣320以将其解锁，从而可将盖板310翻开，以便将待测电路板400取出，便于测试人员操作。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种主板测试工装，其特征在于，包括：承载座(100)、测试板组件(200)和压盖组件(300)；

所述承载座(100)设有与待测电路板(400)相适配的内嵌槽(101)，所述测试板组件(200)的探针延伸至所述内嵌槽(101)的底部；

所述承载座(100)安装在所述测试板组件(200)和所述压盖组件(300)之间，所述待测电路板(400)被夹持在所述承载座(100)和所述压盖组件(300)之间。

2.根据权利要求1所述的主板测试工装，其特征在于，所述承载座(100)包括：底座(110)和浮动限位框(120)；

所述底座(110)设有限位槽(111)，所述浮动限位框(120)安装在所述限位槽(111)内；

所述内嵌槽(101)设置于所述浮动限位框(120)上。

3.根据权利要求2所述的主板测试工装，其特征在于，所述底座(110)设有与所述测试板组件(200)相适配的孔位(112)，所述孔位(112)与所述限位槽(111)连通。

4.根据权利要求2所述的主板测试工装，其特征在于，所述底座(110)设有与所述限位槽(111)连通的手抠槽(113)。

5.根据权利要求1所述的主板测试工装，其特征在于，所述测试板组件(200)包括：测试板(210)和转接件(220)；

所述转接件(220)安装在所述承载座(100)和所述测试板(210)之间，所述转接件(220)的探针延伸至所述内嵌槽(101)的底部。

6.根据权利要求5所述的主板测试工装，其特征在于，所述转接件(220)包括：第一针板(221)、第二针板(222)和第三针板(223)；

所述第一针板(221)安装在所述承载座(100)背离所述压盖组件(300)的一侧，所述第二针板(222)和所述第三针板(223)皆安装在所述第一针板(221)和所述测试板(210)之间。

7.根据权利要求6所述的主板测试工装，其特征在于，所述第一针板(221)背离所述承载座(100)的一侧设有安装槽，所述安装槽用于容纳所述第二针板(222)和所述第三针板(223)。

8.根据权利要求1所述的主板测试工装，其特征在于，所述压盖组件(300)包括盖板(310)，所述盖板(310)与所述承载座(100)连接，所述待测电路板(400)被夹持在所述盖板(310)和所述承载座(100)之间。

9.根据权利要求8所述的主板测试工装，其特征在于，所述压盖组件(300)还包括卡扣(320)；

所述盖板(310)与所述承载座(100)铰接，所述卡扣(320)连接于所述盖板(310)和所述承载座(100)。

10.根据权利要求8所述的主板测试工装，其特征在于，所述压盖组件(300)还包括压板(330)，所述压板(330)安装在所述盖板(310)与所述待测电路板(400)之间。

Images