CN217755788U - 一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，包括两个吸嘴，吸嘴由吸嘴座、吸嘴杆和吸嘴头依次连接组成，吸嘴座连接有压板，吸嘴杆连接有限位块，吸嘴头连接有吸嘴支座，压板上设有圆形结构的两个第一安装孔，吸嘴杆上设有限位板，限位块的靠近压板的侧面设有第二限位槽，吸嘴支座的靠近压板的侧面设有安装槽，吸嘴支座的远离压板的侧面设有两个定位块，定位块中间设有第二安装孔，定位块的每个侧边均设有挡边，每相邻两个挡边之间设有缺口，吸嘴支座的远离压板的侧面设有多个第二定位孔。本实用新型的有益效果是：实现两个芯片的同步传送，芯片的传动效率高，定位精准，芯片测试效率高；该双工位吸嘴安装结构的组装容易，结构设计紧凑。

Description

一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构。

背景技术

随着科技的发展，芯片产业发展越来越快，芯片的小型化、多功能是现代芯片产业的发展趋势。由于芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片测试环节至关重要。芯片测试需要将芯片放置于测试治具上进行测试，通常采用吸嘴吸附，将芯片搬运至测试治具上。而传统的吸嘴在将芯片在放置于测试治具上时，需要对芯片的位置进行定位，然后才能够进行测试，导致芯片的测试效率低下；同时，在现有的芯片测试中，芯片通常为一个一个传送，传送效率低，且吸嘴无法对芯片进行定位。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，包括两个吸嘴，所述吸嘴由吸嘴座、吸嘴杆和吸嘴头依次连接组成，所述吸嘴座连接有压板，所述吸嘴杆连接有限位块，所述吸嘴头连接有吸嘴支座，所述压板上设有圆形结构的两个第一安装孔，两个所述第一安装孔内分别安装有一个吸嘴座，所述吸嘴杆上设有限位板，所述限位块的靠近压板的侧面设有第二限位槽，所述吸嘴支座的靠近压板的侧面设有安装槽，所述吸嘴支座的远离压板的侧面设有两个定位块，所述定位块为矩形块状结构，其中间设有用于吸嘴头安装的第二安装孔，所述定位块的每个侧边均设有挡边，所述挡边凸出于定位块的远离压板的侧面，每相邻两个所述挡边之间设有缺口，所述吸嘴支座的远离压板的侧面设有多个第二定位孔，所述限位块和压板螺接，所述吸嘴支座与压板螺接。

进一步优选，所述限位板呈腰形结构设计，所述限位板的一个弧形侧边上设有第一限位槽。

进一步优选，所述第二限位槽为配合限位板的矩形结构，两个所述限位板上的第一限位槽设置于两个限位板的靠近侧面。

进一步优选，所述第二定位孔有两个，两个所述第二定位孔设置于两个定位块之间。

进一步优选，所述压板上设有矩形阵列排列的四个第一连接孔，所述吸嘴支座上设有配合第一连接孔的四个第二连接孔，所述第二连接孔采用沉孔结构设计。

进一步优选，所述压板上设有多个第一定位孔，所述吸嘴支座上设有配合第一定位孔的多个第三定位孔，所述第一定位孔和第三定位孔的靠近定位块端均采用锥形孔结构设计。

进一步优选，四个所述挡边的外侧面均采用斜面结构设计且向第二安装孔方向倾斜。

有益效果：本实用新型的芯片测试用双工位吸嘴安装结构，通过两个吸嘴实现两个芯片的同步传送，芯片的传动效率高，芯片测试效率高；通过压板实现吸嘴座的安装，通过限位块实现吸嘴杆的安装定位，通过吸嘴支座实现吸嘴头的安装，吸嘴的各部件的连接容易，该双工位吸嘴安装结构的组装容易，结构设计紧凑，实现对吸嘴的整体保护及与传动结构的连接；通过挡边实现吸嘴对吸附的芯片的精准定位，保证芯片能够准确放入到测试孔内，无需对芯片再次定位，且定位精准，提高芯片的准确度，提高芯片的传送效率，提高芯片的测试效率；通过缺口保证定位块能够顺畅插入到测试孔内，保证芯片的精准传送；该双工位吸嘴安装结构的结构设计巧妙，实现芯片的精准定位和测试，且易于加工、组装。

附图说明

图1为本实用新型实施例所公开的芯片测试用双工位吸嘴安装结构的分解结构示意图；

图2为本实用新型实施例所公开的芯片测试用双工位吸嘴安装结构的另一视角分解结构示意图；

图3为本实用新型实施例所公开的芯片测试用双工位吸嘴安装结构的轴测结构示意图；

图4为本实用新型实施例所公开的芯片测试用双工位吸嘴安装结构的另一视角轴测结构示意图；

图5为本实用新型实施例所公开的双工位吸嘴安装结构在测试基座上的结构示意图。

附图标记：1-吸嘴，11-吸嘴座，12-吸嘴杆，13-吸嘴头，14-限位板，15-第一限位槽，2-压板，21-第一安装孔，22-第一连接孔，23-第一定位孔，3-限位块，31-第二限位槽，4-吸嘴支座，41-安装槽，42-定位块，421-第二安装孔，422-挡边，423-缺口，43-第二定位孔，44-第二连接孔，45-第三定位孔，5-测试基座，51-测试孔，52-定位销。

具体实施方式

以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。

如图1-5所示，一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，包括两个吸嘴1，吸嘴1由吸嘴座11、吸嘴杆12和吸嘴头13依次连接组成，吸嘴座11连接有压板2，吸嘴杆12连接有限位块3，吸嘴头13连接有吸嘴支座4，压板2上设有圆形结构的两个第一安装孔21，两个第一安装孔21内分别安装有一个吸嘴座11，吸嘴杆12上设有限位板14，限位块3的靠近压板2的侧面设有第二限位槽31，吸嘴支座4的靠近压板2的侧面设有安装槽41，吸嘴支座4的远离压板2的侧面设有两个定位块42，定位块42为矩形块状结构，其中间设有用于吸嘴头13安装的第二安装孔421，定位块42的每个侧边均设有挡边422，挡边422凸出于定位块42的远离压板2的侧面，每相邻两个挡边422之间设有缺口423，吸嘴支座4的远离压板2的侧面设有多个第二定位孔43。本申请中，该双工位吸嘴安装结构用于芯片测试中芯片的传动，通过吸嘴1实现芯片的吸附，该吸嘴安装结构中安装有两个吸嘴1，每次可实现两个芯片的同步传送，芯片的传动效率高，芯片测试效率高。

其中，吸嘴1的吸嘴座11安装于压板2的第一安装孔内，吸嘴杆12穿过限位块3后穿设于吸嘴支座4内，吸嘴头13安装于定位块42上的第二安装孔421内，限位板14卡设于限位块3上的第二限位槽31内，限位块3安装于吸嘴支座4的安装槽41内，限位块3和压板2螺接，吸嘴支座4与压板2螺接，实现吸嘴1的各部件的安装，吸嘴1的各部件的连接容易，该双工位吸嘴安装结构的组装容易，结构设计紧凑，实现对吸嘴1的整体保护及与传动结构（机械手或伺服传动结构）的连接。四个挡边422围合呈一个凹槽结构，实现吸嘴1对吸附的芯片的精准定位，保证该双工位吸嘴安装结构吸附的芯片能够准确放入到测试基座5的测试孔51内，无需对芯片再次定位，且定位精准，提高芯片的准确度，提高芯片的传送效率，提高芯片的测试效率；缺口423保证定位块42能够顺畅插入到测试基座5的测试孔51内，保证芯片的精准传送；多个第二定位孔43保证吸嘴支座4与测试基座5的精准定位和导向，通过第二定位孔43与定位销52相配合，实现精准定位，实现芯片的精准放置及测试。

本申请中，限位板14呈腰形结构设计，第二限位槽31为配合限位板14的矩形结构，实现限位板14的位置定位，保证吸嘴杆12安装后不会发生转动，保证吸嘴1的安装稳定；限位板14的一个弧形侧边上设有第一限位槽15，两个限位板14上的第一限位槽15设置于两个限位板14的靠近侧面，用于限位板14的安装限位，保证限位块3的安装顺畅。

本申请中，第二定位孔43有两个，两个第二定位孔43设置于两个定位块42之间，其与测试基座5上的两个定位销52相配合，实现吸嘴支座4与测试基座5的配合。

本申请中，压板2上设有矩形阵列排列的四个第一连接孔22，吸嘴支座4上设有配合第一连接孔22的四个第二连接孔44，第二连接孔44采用沉孔结构设计，通过第二连接孔44和第一连接孔22的配合，实现压板2与吸嘴支座4的连接，并通过螺钉实现压板2与吸嘴支座4锁合，保证吸嘴1的安装牢固。

本申请中，压板2上设有多个第一定位孔23，吸嘴支座4上设有配合第一定位孔23的多个第三定位孔45，第一定位孔23和第三定位孔45的靠近定位块42端均采用锥形孔结构设计，便于销钉的插入，实现压板2和吸嘴支座4的精准组装。

本申请中，四个挡边422的外侧面均采用斜面结构设计且向第二安装孔421方向倾斜，便于定位块42能够顺畅插入到测试基座5的测试孔内，提高芯片的传送效率。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型性的保护范围之内的实用新型内容。

Claims (7)

1.一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，包括两个吸嘴（1），所述吸嘴（1）由吸嘴座（11）、吸嘴杆（12）和吸嘴头（13）依次连接组成，所述吸嘴座（11）连接有压板（2），所述吸嘴杆（12）连接有限位块（3），所述吸嘴头（13）连接有吸嘴支座（4），其特征在于：所述压板（2）上设有圆形结构的两个第一安装孔（21），两个所述第一安装孔（21）内分别安装有一个吸嘴座（11），所述吸嘴杆（12）上设有限位板（14），所述限位块（3）的靠近压板（2）的侧面设有第二限位槽（31），所述吸嘴支座（4）的靠近压板（2）的侧面设有安装槽（41），所述吸嘴支座（4）的远离压板（2）的侧面设有两个定位块（42），所述定位块（42）为矩形块状结构，其中间设有用于吸嘴头（13）安装的第二安装孔（421），所述定位块（42）的每个侧边均设有挡边（422），所述挡边（422）凸出于定位块（42）的远离压板（2）的侧面，每相邻两个所述挡边（422）之间设有缺口（423），所述吸嘴支座（4）的远离压板（2）的侧面设有多个第二定位孔（43），所述限位块（3）和压板（2）螺接，所述吸嘴支座（4）与压板（2）螺接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，其特征在于：所述限位板（14）呈腰形结构设计，所述限位板（14）的一个弧形侧边上设有第一限位槽（15）。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，其特征在于：所述第二限位槽（31）为配合限位板（14）的矩形结构，两个所述限位板（14）上的第一限位槽（15）设置于两个限位板（14）的靠近侧面。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，其特征在于：所述第二定位孔（43）有两个，两个所述第二定位孔（43）设置于两个定位块（42）之间。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，其特征在于：所述压板（2）上设有矩形阵列排列的四个第一连接孔（22），所述吸嘴支座（4）上设有配合第一连接孔（22）的四个第二连接孔（44），所述第二连接孔（44）采用沉孔结构设计。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，其特征在于：所述压板（2）上设有多个第一定位孔（23），所述吸嘴支座（4）上设有配合第一定位孔（23）的多个第三定位孔（45），所述第一定位孔（23）和第三定位孔（45）的靠近定位块（42）端均采用锥形孔结构设计。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试用双工位吸嘴安装结构，其特征在于：四个所述挡边（422）的外侧面均采用斜面结构设计且向第二安装孔（421）方向倾斜。

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