CN214011404U - 一种老化测试设备 - Google Patents

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CN214011404U CN202120081794.4U CN202120081794U CN214011404U CN 214011404 U CN214011404 U CN 214011404U CN 202120081794 U CN202120081794 U CN 202120081794U CN 214011404 U CN214011404 U CN 214011404U
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黄立成
刘宝庆
李志明
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Guangzhou Asensing Technology Co Ltd
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Abstract

本申请实施例提供一种老化测试设备,涉及老化测试技术领域。该老化测试设备包括老化托盘和供电板;所述老化托盘上设置有多列定位装置,所述多列定位装置之间平行布置,所述定位装置包括多个定位凹槽,所述定位凹槽的形状与被测零部件的形状相互匹配,所述被测零部件可拆卸地安装在所述定位凹槽;所述供电板固定安装在所述老化托盘上,所述供电板与所述定位装置之间相互平行。该设备可以实现快速定位和放置被测零部件,提高老化托盘的有效利用率的技术效果。

Description

一种老化测试设备
技术领域
本申请涉及老化测试技术领域,具体而言,涉及一种老化测试设备。
背景技术
目前,老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程,该实验主要针对塑胶材料,常见的老化主要有光照老化,湿热老化,热风老化。对于电子器件,无论是原件、部件、零部件、整机等都需要进行老化测试。通常,老化测试在工序上是先老化后测试,电子器件在使用后,比如十几个小时、一个月、一年、三年后可能会发现多种毛病,这些毛病如果没有经过一定的老化设置在测试中是检测不出来的。因此,为了避免电子产品在后续使用中可能出现的这些问题,国内或国外不少标准规定在电子电器检测中必须进行老化测试。老化测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成,其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改,让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。
现有技术中,对电子零部件进行老化测试时,现有一般情况零星放置在老化托盘上,由于没有定位,托盘能够放置的零部件数量偏低,托盘在取出或放置老化设备时,由于倾斜等原因,零部容易聚集在一起,甚至跌落,影响测试效率。
实用新型内容
本申请实施例的目的在于提供一种老化测试设备,该设备可以实现快速定位和放置被测零部件,提高老化托盘的有效利用率的技术效果。
本申请实施例提供了一种老化测试设备,包括老化托盘和供电板;
所述老化托盘上设置有多列定位装置,所述多列定位装置之间平行布置,所述定位装置包括多个定位凹槽,所述定位凹槽的形状与被测零部件的形状相互匹配,所述被测零部件可拆卸地安装在所述定位凹槽;
所述供电板固定安装在所述老化托盘上,所述供电板与所述定位装置之间相互平行。
在上述实现过程中,该老化测试设备设置有多列定位装置,定位装置包括多个定位凹槽,从而通过定位凹槽可快速定位并放置被测零部件(被测零部件即需要进行老化测试的零部件),而且可以避免被测零部件在老化托盘上聚集、跌落等情况的发生,提高测试效率;由于具有多列定位装置,每列定位装置上都包括多个定位凹槽,该老化测试设备可以放置更多的被测零部件,从而提高老化托盘有效利用率;通过上述方式,该老化测试设备可以实现快速定位和放置被测零部件,提高老化托盘的有效利用率的技术效果。
进一步地,所述定位装置中每个所述定位凹槽相互之间的距离相同。
在上述实现过程中,每一列的定位装置中,定位凹槽为等间距,使得在老化托盘上放置被测零部件时井然有序,提高测试效率。
进一步地,所述设备包括多个所述供电板,多个所述供电板之间相互平行,相邻两个所述供电板之间设置有两列所述定位装置。
在上述实现过程中,供电板可以给被测零部件供电,在相邻两个供电板之间设置有两列定位装置的情况下,每列供电板都可以同时给两侧的定位装置上的被测零部件供电,提高被测零部件的放置数量的同时,方便快速插拔电源。
进一步地,所述供电板上设置有多个供电接口。
在上述实现过程中,通过在供电板上设置多个供电接口,使一个供电板可以同时给多个被测零部件进行供电,提高测试效率。
进一步地,相邻两列定位装置之间设置散热孔阵列。
在上述实现过程中,通过设置散热孔阵列,合理增加开孔,便于该老化测试设备的内部对流传热,保证被测零部件在进行老化测试时的准确性。
进一步地,所述散热孔阵列包括多个等间距设置的散热孔。
在上述实现过程中,散热孔相互之间等间距设置,可以保证内部对流传热的传热效率,进而保证被测零部件在进行老化测试时的准确性。
进一步地,所述供电板安装在所述散热孔阵列的散热孔上。
在上述实现过程中,通过将供电板安装在散热孔阵列的散热孔上,进一步保证该老化测试设备的内部对流传热的传热效率。
进一步地,所述设备还包括槽口,所述槽口安装在所述老化托盘的边缘位置。
在上述实现过程中,槽口一方面可以方便操作人员持握老化托盘,另一方面可以在将老化测试设备放置在其他设备上时,实现定位。
进一步地,所述设备包括多个所述槽口,多个所述槽口均安装在所述老化托盘的边缘位置,多个所述槽口相互之间等间距设置。
进一步地,所述设备还包括电源,所述电源与所述供电板电连接。
在上述实现过程中,电源用于给供电板进行供电,保证该老化测试设备的正常运行。
本申请公开的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,或者,部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定,或者通过实施本申请公开的上述技术即可得知。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的老化测试设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本申请中,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本申请及其实施例,并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位,或以特定方位进行构造和操作。
并且,上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外,还可能用于表示其他含义,例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解这些术语在本申请中的具体含义。
此外,术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”应做广义理解。例如,可以是固定连接,可拆卸连接,或整体式构造;可以是机械连接,或点连接;可以是直接相连,或者是通过中间媒介间接相连,又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的联通。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
此外,术语“第一”、“第二”等主要是用于区分不同的装置、元件或组成部分(具体的种类和构造可能相同也可能不同),并非用于表明或暗示所指示装置、元件或组成部分的相对重要性和数量。除非另有说明,“多个”的含义为两个或两个以上。
本申请实施例提供了一种老化测试设备,可以应用于对被测零部件的老化测试过程中;该老化测试设备设置有多列定位装置,定位装置包括多个定位凹槽,从而通过定位凹槽可快速定位并放置被测零部件(被测零部件即需要进行老化测试的零部件),而且可以避免被测零部件在老化托盘上聚集、跌落等情况的发生,提高测试效率;由于具有多列定位装置,每列定位装置上都包括多个定位凹槽,该老化测试设备可以放置更多的被测零部件,从而提高老化托盘有效利用率;通过上述方式,该老化测试设备可以实现快速定位和放置被测零部件,提高老化托盘的有效利用率的技术效果。
请参见图1,图1为本申请实施例提供的一种老化测试设备的结构示意图,该老化测试设备包括老化托盘100和供电板200,老化托盘100上安装有被测零部件300。
示例性地,老化托盘100上设置有多列定位装置110,多列定位装置110之间平行布置,定位装置110包括多个定位凹槽111,定位凹槽111的形状与被测零部件的形状相互匹配,被测零部件300可拆卸地安装在定位凹槽111。
示例性地,供电板200固定安装在老化托盘100上,供电板200与定位装置110之间相互平行。
示例性地,该老化测试设备设置有多列定位装置110,定位装置110包括多个定位凹槽111,从而通过定位凹槽111可快速定位并放置被测零部件300(被测零部件即需要进行老化测试的零部件),而且定位凹槽111可以避免被测零部件300在老化托盘100上聚集、跌落等情况的发生,提高测试效率;由于具有多列定位装置110,每列定位装置110上都包括多个定位凹槽111,该老化测试设备可以放置更多的被测零部件300,从而提高老化托盘100的有效利用率;通过上述方式,该老化测试设备可以实现快速定位和放置被测零部件300,提高老化托盘100的有效利用率的技术效果。
示例性地,定位装置110中每个定位凹槽111相互之间的距离相同。
示例性地,每一列的定位装置110中,定位凹槽111为等间距,使得在老化托盘100上放置被测零部件300时井然有序,提高测试效率。
示例性地,该老化测试设备包括多个供电板200,多个供电板200之间相互平行,相邻两个供电板200之间设置有两列定位装置110。
示例性地,供电板200可以给被测零部件300供电,在相邻两个供电板200之间设置有两列定位装置110的情况下,每列供电板都可以同时给两侧的定位装置110上的被测零部件供电,提高被测零部件300的放置数量的同时,方便快速插拔电源。
示例性地,供电板200上设置有多个供电接口。
示例性地,通过在供电板200上设置多个供电接口,使一个供电板200可以同时给多个被测零部件300进行供电,提高测试效率。
示例性地,相邻两列定位装置110之间设置散热孔阵列120。
示例性地,通过设置散热孔阵列120,合理增加开孔,便于该老化测试设备的内部对流传热,保证被测零部件300在进行老化测试时的准确性。
示例性地,散热孔阵列120包括多个等间距设置的散热孔121。
示例性地,散热孔121相互之间等间距设置,可以保证内部对流传热的传热效率,进而保证被测零部件300在进行老化测试时的准确性。
示例性地,供电板200安装在散热孔阵列120的散热孔121上。
示例性地,通过将供电板200安装在散热孔阵列120的散热孔121上,进一步保证该老化测试设备的内部对流传热的传热效率。
示例性地,该老化测试设备还包括槽口400,槽口400安装在老化托盘100的边缘位置。
示例性地,槽口400一方面可以方便操作人员持握老化托盘100,另一方面可以在将老化测试设备放置在其他设备上时,实现定位。
示例性地,设备包括多个槽口400,多个槽口400均安装在老化托盘100的边缘位置,多个槽口400等间距设置。
在一些实施方式中,老化托盘100的两侧边缘均设置有槽口400。
示例性地,该老化测试设备还包括电源,电源与供电板200电连接。
示例性地,电源用于给供电板200进行供电,保证该老化测试设备的正常运行。
在一些实施场景中,该老化测试设备设置有多列定位装置110,定位装置110包括多个定位凹槽111,从而通过定位凹槽111可快速定位并放置被测零部件300(被测零部件即需要进行老化测试的零部件),而且定位凹槽111可以避免被测零部件300在老化托盘100上聚集、跌落等情况的发生,提高测试效率;由于具有多列定位装置110,每列定位装置110上都包括多个定位凹槽111,该老化测试设备可以放置更多的被测零部件300,从而提高老化托盘100的有效利用率;通过上述方式,该老化测试设备可以实现快速定位和放置被测零部件300,提高老化托盘100的有效利用率的技术效果。
在本申请所有实施例中,“大”、“小”是相对而言的,“多”、“少”是相对而言的,“上”、“下”是相对而言的,对此类相对用语的表述方式,本申请实施例不再多加赘述。
应理解,说明书通篇中提到的“在本实施例中”、“本申请实施例中”或“作为一种可选的实施方式”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此,在整个说明书各处出现的“在本实施例中”、“本申请实施例中”或“作为一种可选的实施方式”未必一定指相同的实施例。此外,这些特定特征、结构或特性可以以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于可选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。
在本申请的各种实施例中,应理解,上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的必然先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应与权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种老化测试设备,其特征在于,包括老化托盘和供电板;
所述老化托盘上设置有多列定位装置,所述多列定位装置之间平行布置,所述定位装置包括多个定位凹槽,所述定位凹槽的形状与被测零部件的形状相互匹配,所述被测零部件可拆卸地安装在所述定位凹槽;
所述供电板固定安装在所述老化托盘上,所述供电板与所述定位装置之间相互平行。
2.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述定位装置中每个所述定位凹槽相互之间的距离相同。
3.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述设备包括多个所述供电板,多个所述供电板之间相互平行,相邻两个所述供电板之间设置有两列所述定位装置。
4.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述供电板上设置有多个供电接口。
5.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,相邻两列定位装置之间设置散热孔阵列。
6.根据权利要求5所述的老化测试设备,其特征在于,所述散热孔阵列包括多个等间距设置的散热孔。
7.根据权利要求5所述的老化测试设备,其特征在于,所述供电板安装在所述散热孔阵列的散热孔上。
8.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述设备还包括槽口,所述槽口安装在所述老化托盘的边缘位置。
9.根据权利要求8所述的老化测试设备,其特征在于,所述设备包括多个所述槽口,多个所述槽口均安装在所述老化托盘的边缘位置,多个所述槽口相互之间等间距设置。
10.根据权利要求1所述的老化测试设备,其特征在于,所述设备还包括电源,所述电源与所述供电板电连接。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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