CN116338358A - 一种显示模组高低温老化测试方法及设备 - Google Patents
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- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 77
- 238000010998 test method Methods 0.000 title abstract description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 100
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 54
- 230000008569 process Effects 0.000 description 24
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 19
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 12
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 7
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 7
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 7
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 7
- 238000007590 electrostatic spraying Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 210000003811 finger Anatomy 0.000 description 5
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 5
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 4
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 3
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical class [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 239000010445 mica Substances 0.000 description 2
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 2
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 2
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002277 temperature effect Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 210000005224 forefinger Anatomy 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/003—Environmental or reliability tests
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
- Ecology (AREA)
- Environmental Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
本发明提出一种显示模组高低温老化测试方法及设备，该方法包括：将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内；多个显示模组与多个承载窗口一一对应；多个承载窗口呈阵列排布；托盘反面开设有与承载窗口的底部贯通的通气孔；通气孔在托盘反面上的正投影至少部分延伸至承载窗口在托盘反面上的正投影外；托盘反面还设有多个垫脚；将带有显示模组的托盘置于托架的承载板上，垫脚使托盘与承载板之间形成空隙；将带有托盘的托架放入高低温老化测试装置中，在预设测试条件下，对显示模组进行高低温老化测试。将待测试显示模组置于托盘的承载窗口内，遇到高低温老化测试装置中气流较大时，测试显示模组放置稳固，避免出现测试产品晃动掉落的风险。
Description
技术领域
本发明涉及显示模组测试技术领域，尤其涉及一种显示模组高低温老化测试方法及设备。
背景技术
显示模组，如Micro OLED、Micro LED等，是指以自发光的微米量级的LED为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED阵列的显示技术。在空间显示、柔性透明显示、可穿戴设备、光通信、光互联、医疗探测、智能车灯等诸多领域具有重要的应用。
显示模组在出厂前，需要进行各方面性能测试，其中，显示模组的高低温老化性能测试是较为重要的检测环节。对显示模组的高低温老化性能检测的过程中，现有技术方案中关于高低温老化测试地方法较多，有的是将显示模组通过单件吊挂的方式进行测试，该方式无法实现批量测试；有的是将显示模组放置于一平板上，该方式使老化炉内的气体不能均匀地到达显示模组的底部，从而影响到对显示模组高低温老化性能测试的效果。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种显示模组高低温老化测试方法及设备，旨在解决上述技术问题，旨解决现有技术中无法实现对显示模组的批量测试，以及因高低温老化测试装置内传热效果不均匀而导致的高低温老化性能测试效果差的技术问题。
作为本发明实施例的一个方面，提供一种高低温老化测试方法，所述方法包括：
将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内；所述多个显示模组与所述多个承载窗口一一对应；所述多个承载窗口呈阵列排布；托盘反面开设有与所述承载窗口的底部贯通的通气孔；所述通气孔在所述托盘反面上的正投影至少部分延伸至所述承载窗口在所述托盘反面上的正投影外；所述托盘反面还设有多个垫脚；
将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙；
将带有托盘的托架放入高低温老化测试装置中，在预设测试条件下，对所述显示模组进行高低温老化测试。
在一个或一些可选的实施例中，所述托盘正面还开设有与所述多个承载窗口连通的凹槽，所述凹槽的中心线与所述托盘正面的至少一条边缘平行；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
将所述多个显示模组一一放入托盘正面的与所述凹槽连通的多个承载窗口内。
在一个或一些可选的实施例中，所述承载窗口为台阶状承载窗口；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
将所述多个显示模组一一放入托盘正面的与所述凹槽连通的多个台阶状承载窗口内。
在一个或一些可选的实施例中，所述托盘为至少一个；所述托架包括多个立柱，以及沿所述立柱的长度方向，依次安装在所述立柱上的多个承载板；所述一个承载板仅可容纳一个托盘；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的至少一个托盘置于托架的至少一个承载板上，每个托盘的垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙。
在一个或一些可选的实施例中，所述承载板的顶面安装有多个限位块，所述多个限位块围合形成放置区域；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板的放置区域内，所述垫脚处于所述放置区域内，使所述托盘与所述承载板之间形成空隙。
在一个或一些可选的实施例中，所述托盘上设置有指向标识；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的托盘按照所述指向标示置于托架的承载板的放置区域内，所述垫脚处于所述放置区域内，使所述托盘与所述承载板之间形成空隙。
在一个或一些可选的实施例中，所述托架的承载板布置有若干通孔；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述承载板上的若干通孔与所述托盘的通气孔通过所述托盘与所述承载板之间形成的空隙形成气体连通。
在一个或一些可选的实施例中，与所述凹槽连通的多个承载窗口是等间距分布的；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
按照等间距布置的方式将所述多个显示模组一一放入托盘正面的与所述凹槽连通的多个承载窗口内。
在一个或一些可选的实施例中，所述通气孔包括沿所述凹槽的轴线设置的至少一个标识孔；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
针对每一所述显示模组，将所述显示模组沿着承载窗口边沿移动，当所述显示模组的元器件能容纳于所述标识孔时，将显示模组完全落入承载窗口中。
作为本发明实施例的另一个方面，提供一种显示模组高低温老化测试设备，应用于上述的方法，包括所述高低温老化测试装置、所述托盘以及所述托架。
本发明与现有技术相比存在的有益效果是：
本发明实施例提供的显示模组高低温老化方法，通过设置托架和托盘，将待测试显示模组置于托盘，将托盘置于托架内，从而在高低温老化测试装置内实现高低温老化测试，由于托盘可以设置多个承载窗口，不仅方便在承载窗口中取放显示模组，而且能够实现单次测试更多数量的显示模组，适用于显示模组的批量化的高低温老化测试；将待测试显示模组置于托盘的承载窗口内，在高低温老化测试过程中，遇到高低温老化测试装置中气流较大时，测试显示模组放置稳固，避免了测试产品晃动掉落的风险；并且，由于托盘均设置有通气孔，保证了高低温老化测试过程中高低温气流的均匀扩散，保证了批量化测试过程中各显示模组的性能均衡，而且，使得托盘不易发生老化，延长了托盘的使用寿命。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的显示模组高低温老化测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的显示模组高低温老化测试设备的立体结构示意图；
图3为本发明实施例提供的托盘的立体结构示意图；
图4为本发明实施例提供的托盘的俯视结构示意图；
图5为本发明实施例提供的托盘的仰视结构示意图；
图6为本发明实施例提供的托盘的左视结构示意图；
图7为本发明实施例提供的图4中凹槽所选A区域的局部放大图；
图8为本发明实施例提供的凹槽的A-A剖面图；
图9为本发明实施例提供的托架的结构示意图。
附图标记说明如下：
1、托盘；101、凹槽；102、第一面层；103、第二面层；104、承载窗口；105、指向标识；106、垫脚；107、通气孔；2、托架；201、承载板；202、立柱；203、限位块；204、放置区域；205通孔；3、高低温老化测试装置；100、显示模组。
具体实施方式
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
本发明的发明人发现，现有的显示模组高低温老化性能测试方法存在以下几方面的缺陷：(1)单次进行的高低温老化测试的产品数量少，不适用于批量实验；(2)采用单层平板放置的方式时，实验过程中，高低温气流因底部贴平老化炉内腔体底部，而不能将热量均匀地传递到待检测产品；(3)单层平板表面无透气设置，且表面易老化，使用寿命短；(4)单件吊挂式的方式，当遇到老化炉中气流较大时，产品有晃动掉落的风险。有鉴于此，发明人提出一种显示模组高低温老化测试方法。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例一
首先，介绍一下应用于本发明具体实施方式的显示模组高低温老化测试方法的高低温老化测试设备，请参阅图2，所述高低温老化测试设备包括高低温老化测试装置3、置于所述高低温老化测试装置3内的托架2以及托盘1。结合图1所示，该高低温老化的方法包括以下步骤：
步骤S110，将多个显示模组100一一放入托盘1正面的多个承载窗口104内；所述多个显示模组100与所述多个承载窗口104一一对应；所述多个承载窗口104呈阵列排布；托盘1反面开设有与所述承载窗口104的底部贯通的通气孔107；所述通气孔107在所述托盘1反面上的正投影至少部分延伸至所述承载窗口104在所述托盘1反面上的正投影外。
本发明实施例中，通过设置通气孔107在托盘1反面上的正投影至少部分延伸至所述承载窗口104在所述托盘1反面上的正投影外，从而保证气流不但会流向显示模组100的底部，还会从显示模组100的侧面流过，保证了高低温老化测试过程中高低温气流的均匀扩散，保证了批量化测试过程中各显示模组100的性能均衡。
在一些实施例中，所述托盘1正面还开设有与所述多个承载窗口104连通的凹槽101，所述凹槽101的中心线与所述托盘1正面的至少一条边缘平行；
所述将多个显示模组100一一放入托盘1正面的多个承载窗口104内，包括：将所述多个显示模组100一一放入托盘1正面的与所述凹槽101连通的多个承载窗口104内。
本发明实施例中，通过在托盘1正面开设与所述多个承载窗口104连通的凹槽101，可以更方便操作人员的手指从承载窗口104内取出显示模组100，也更方便将显示模组100放置在所述承载窗口104内。
在一些实施例中，为了在实验过程中，减少对显示模组100的损坏，避免将显示模组100的底部元器件损坏，参照图8所示，该承载窗口104可以设置为台阶状承载窗口。
所述将多个显示模组100一一放入托盘1正面的多个承载窗口104内，包括：将所述多个显示模组100一一放入托盘1正面的多个台阶状承载窗口104内。
在一些实施例中，与所述凹槽101连通的多个承载窗口104是等间距分布的；
所述将多个显示模组100一一放入托盘1正面的多个承载窗口104内，包括：
按照等间距布置的方式将所述多个显示模组100一一放入托盘1正面的与所述凹槽101连通的多个承载窗口104内。
本发明实施例中，按照等间距布置的方式将所述多个显示模组100一一放入托盘1正面的与所述凹槽101连通的多个承载窗口104内，可以提高老化测试效率。
在一些实施例中，所述承载窗口104的通气孔107包括沿所述凹槽101的轴线设置的至少一个标识孔，结合图4、图7和图8所示，该标识孔可以为椭圆孔，可以利用握持工具将每一所述显示模组100沿着承载窗口104边沿移动，当所述显示模组100的元器件能容纳于所述标识孔时，将显示模组100完全落入承载窗口104中，再移除握持工具。该标识孔一方面能增加气流流动空间，保证了高低温老化测试过程中高低温气流的均匀扩散，各显示模组100的性能均衡，另一方面还能起到标识作用，以保证显示模组100按照正确的方向放置。该握持工具可以是能夹持显示模组100的工具，也可以是机械手、工人手指等，本发明实施例对此不做限制。
具体的，在一可选的实施例中，结合图4、图5、图7和图8所示，该通气孔107即标识孔，包括有两个椭圆孔。更具体的，该两个椭圆孔的长度可以是不同的。通过设置该两个椭圆孔的尺寸不同，若显示模组100的放置方向正确，则承载窗口104能避让显示模组100的PCB上不同位置的元器件；若放置方向错误，则显示模组100的PCB上的元器件会被承载窗口104限制，无法实现显示模组100的平稳放置。
优选的，为了进一步提高测试效率，方便握持工具准确放置显示模组100，在一些实施例中，结合图4、图5和图7所示，所述通气孔107还包括垂直所述凹槽101的轴线设置的至少一个握持孔，可以利用握持工具将每一所述显示模组100沿着承载窗口104边沿移动，当握持工具能完全嵌入所述握持孔时，将显示模组100完全落入承载窗口104中，再移除握持工具。在一具体实施例中，参照图7所示，所述承载窗口104垂直于所述凹槽101的轴线对称设置有两个握持孔。
步骤S120，将带有所述显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201上，所述垫脚106使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙；其中，所述托盘1反面还设有多个垫脚106。
本发明实施例中，垫脚106的数量可以根据实际情况进行设置，例如可以设置为四个，且分别设置在矩形托盘1的四个角，在实际应用中，垫脚106可以根据实际情况进行增减，并设置与不同的位置。通过设置垫脚106可以使得托盘1与承载板201之间具有一定间隙，从而在高低温老化测试过程中，可以保证气流正常均匀流向托盘1。
在一实施例中，所述托盘1为至少一个；所述托架2包括多个立柱202，以及沿所述立柱202的长度方向，依次安装在所述立柱202上的多个承载板201；所述一个承载板201仅可容纳一个托盘1。所述将带有所述显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201上，所述垫脚106使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组100的至少一个托盘1置于托架2的至少一个承载板201上，每个托盘1的垫脚106使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙。
在一具体实施例中，参照图9所示，该托架2具有三个承载板201，这三个承载板201平行安装在托架2的多个立柱202上，可以在每一承载板201上容纳一托盘1，在该托盘1放置于承载板201上时，由于托盘1反面设置有垫脚106，从而托盘1与承载板201之间形成有空隙。
在一实施例中，参照图9所示，所述承载板201的顶面安装有多个限位块203，所述多个限位块203围合形成放置区域204。所述将带有所述显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201上，所述垫脚106使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201的放置区域204内，所述垫脚106处于所述放置区域204内，使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙。
在一可选的实施例中，如图9所示，所述承载板201上设置有四个限位块203，分别设置于矩形承载板201的四个角，围合形成放置区域204，用于固定托盘1。在本步骤中，将托盘1的一角抵住一个限位块203，然后以该限位块203为基准旋转托盘1以使各限位块203固定托盘1的所有角，该托盘1能水平放置于该承载板201的放置区域204内。
在一些实施例中，如图2所示，所述托盘1包括第一面层102以及凸起于所述第一面层102的第二面层103，所述凹槽101设置于所述第二面层103，且所述凹槽101的底面高度高于所述第一面层102的顶面。在实际应用中将每一所述显示模组100放置于所述托盘1的第二面层103的凹槽101内，如此设计，增强了托盘1的整体强度，可以保证显示模组100放置稳固，避免了测试产品晃动掉落的风险。在一具体实施例中，垫脚106的高度高于所述托盘1的第一面层102与第二面层103之间的高度差，不仅便于多层托盘1叠放，能节省试验空间，还能保证相邻两层托盘1之间具有一定间隙，当托盘1层叠放置于所述承载板201上时，可以保证气流正常均匀流向每层托盘1。
在一些实施例中，当矩形托盘1的至少两个角设有垫脚106时，可以首先将托盘1的一垫脚106抵住一个限位块203，然后以该限位块203为基准旋转托盘1以使每个限位块203分别固定一垫脚106，该托盘1能水平放置于该承载板201上，在保证显示模组100放置的稳固性同时还保证了气流的正常均匀流动，批量化测试过程中各显示模组100的性能均衡。
在一些实施例中，结合图4所示，所述托盘1上设置有指向标识105。所述将带有所述显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201上，所述垫脚106使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组100的托盘1按照所述指向标示置于托架2的承载板201的放置区域204内，所述垫脚106处于所述放置区域204内，使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙。
本发明实施例中，通过在托盘1上设置指向标识105，按照指向标识105将带有显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201的放置区域204内，从而，更方便将托盘1放置在托架2。
在一些实施例中，结合图9所示，所述托架2的承载板201布置有若干通孔205。所述将带有所述显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201上，所述垫脚106使所述托盘1与所述承载板201之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201上，所述承载板201上的若干通孔205与所述托盘1的通气孔107通过所述托盘1与所述承载板201之间形成的空隙形成气体连通。
本发明实施例中，通过在承载板201设置若干通孔205，使承载板201上的若干通孔205与托盘1的通气孔107通过所述托盘1与所述承载板201之间形成的空隙形成气体连通，热量能较快的传递到显示模组100，保证批量化测试过程中显示模组100受到的热量均衡托盘1在高温作用下不易发生老化，延长了托盘1使用的寿命。
步骤S130，将带有托盘1的托架2放入高低温老化测试装置3中，在预设测试条件下，对所述显示模组100进行高低温老化测试。
本发明实施例里中，该高低温老化测试装置3可以为老化测试箱或称为老化箱。所述预设测试条件包括：温度、N2气流速度、湿度、时间等。
本发明实施例提供的显示模组100高低温老化的方法，通过设置托架2和托盘1，将待测试显示模组100置于托盘1，将托盘1置于托架2内，从而在高低温老化测试装置3内实现高低温老化测试，由于托盘1可以设置多个承载窗口104，不仅方便在承载窗口104中取放显示模组100，而且能够实现单次测试更多数量的显示模组100，适用于显示模组100的批量化的高低温老化测试；将待测试显示模组100置于托盘1的承载窗口104内，在高低温老化测试过程中，遇到高低温老化测试装置3中气流较大时，测试显示模组100放置稳固，避免了测试产品晃动掉落的风险；并且，由于托盘1均设置有通气孔107，所述通气孔107在所述托盘1反面上的正投影至少部分延伸至所述承载窗口104在所述托盘1反面上的正投影外，保证了高低温老化测试过程中高低温气流的均匀扩散，保证了批量化测试过程中各显示模组100的性能均衡，而且，使得托盘1不易发生老化，延长了托盘1的使用寿命。
实施例二
基于同一发明构思，本实施例还提供了一种高低温老化测试设备，包括：高低温老化测试装置3、置于所述高低温老化测试装置3内的托架2以及托盘1。结合图2至图9所示，具体的：
所述托架2包括至少一个承载板201，至少一层所述托盘1置于所述承载板201上。所述托盘正面设置有多个承载窗口104，呈阵列排布。
所述托盘1反面开设有与所述承载窗口104的底部贯通的通气孔107；所述通气孔107在所述托盘1反面上的正投影至少部分延伸至所述承载窗口104在所述托盘1反面上的正投影外。所述托盘1反面还设有多个垫脚106。
本发明实施例中，通过设置通气孔107在托盘1反面上的正投影至少部分延伸至所述承载窗口104在所述托盘1反面上的正投影外，从而保证气流不但会流向显示模组100的底部，还会从显示模组100的侧面流过，保证了高低温老化测试过程中高低温气流的均匀扩散，保证了批量化测试过程中各显示模组100的性能均衡。
本发明实施例中，通过设置垫脚106可以使得托盘1与承载板201之间具有一定距离，从而在高低温老化测试过程中，可以保证气流正常均匀流向托盘1。
在一可选的实施例中，如图3所示，所述托盘1正面还开设有与所述多个承载窗口104连通的凹槽101，所述凹槽101的中心线与所述托盘1正面的至少一条边缘平行；
本发明实施例中，通过在托盘1正面开设与所述多个承载窗口104连通的凹槽101，可以更方便操作人员的手指从承载窗口104内取出显示模组100，也更方便将显示模组100放置在所述承载窗口104内。比如人用大拇指和食指拾取显示模组100后，可以将手指的端部放入凹槽101，以便将显示模组100放入承载窗口104内。
本发明实施例中，通过设置凹槽101的中心线与所述托盘1正面的至少一条边缘平行，从而可最大化凹槽101的数量，在托盘1设置更多的承载窗口104，以增加承载显示模组100的数量。
在一具体实施例中，所述托盘1的与所述凹槽101连通的多个承载窗口104是等间距分布的，通过承载窗口104等间距分布的设置方式，以便于托盘1的机械加工成型。
在一可选的实施例中经过精确计算，同一排中相邻两承载窗口104的间距为24.1mm，相邻两排承载窗口104之间的间距为20.8mm。
本发明实施例中，通过设置托架2和托盘1，将待测试显示模组100置于托盘1，将托盘1置于托架2内，从而在高低温老化测试装置3内实现高低温老化测试，由于托盘1的每一凹槽101均可以设置多个承载窗口104，因此，能够实现单次测试更多数量的显示模组100，适用于显示模组100的批量化的高低温老化测试。
本发明实施例中，通过将待测试显示模组100置于托盘1的承载窗口104内，相比于单件吊挂式的方式，在高低温老化测试过程中，遇到高低温老化测试装置3中气流较大时，测试显示模组100放置稳固，避免了测试产品晃动掉落的风险；而且，使得托盘1不易发生老化，延长了托盘1的使用寿命。
本发明实施例中，相比于采用单层平板放置的方式，由于托盘1设置有多个通气孔107，保证了高低温老化测试过程中高低温气流的均匀扩散，通透性好，将热量均匀地传递到待检测产品，保证了批量化测试过程中各显示模组100的性能均衡。
在一些实施例中，为了在实验过程中，减少对显示模组100的损坏，避免将显示模组100的底部元器件损坏，参照图8所示，该承载窗口104可以设置为台阶状承载窗口。
在一可选的实施例中，参照图3所示，该托盘1包括第一面层102和第二面层103，所述托盘1的边缘向下凹陷形成第一面层102，所述托盘1的第二面层103凸起于所述第一面层102。
所述凹槽101设置于所述第二面层103，且所述凹槽101的底面高度高于所述第一面层102的顶面。
本发明实施例中，托盘1通过两个层面设计的方式，保证托盘1厚度能加工完成，加工方便，加工工艺简单点，并且，通过设置凹槽101的底面高度高于所述第一面层102的顶面，不仅增强了托盘1的整体强度，而且由于凹槽101的底面高于第一面层102的顶面，便于拾取显示模组100。
在一些实施例中，所述承载窗口104的通气孔107包括沿所述凹槽101的轴线设置的至少一个标识孔，结合图4、图7和图8所示，该标识孔可以为椭圆孔，可以利用握持工具将每一所述显示模组100沿着承载窗口104边沿移动，当所述显示模组100的元器件能容纳于所述标识孔时，将显示模组100完全落入承载窗口104中，再移除握持工具。该标识孔一方面能增加气流流动空间，保证了高低温老化测试过程中高低温气流的均匀扩散，各显示模组100的性能均衡，另一方面还能起到标识作用，以保证显示模组100按照正确的方向放置。该握持工具可以是能夹持显示模组100的工具，也可以是机械手、工人手指等，本发明实施例对此不做限制。
具体的，在一可选的实施例中，结合图4、图5、图7和图8所示，该通气孔107即标识孔，包括有两个椭圆孔。更具体的，该两个椭圆孔的长度可以是不同的。通过设置该两个椭圆孔的尺寸不同，若显示模组100的放置方向正确，则承载窗口104能避让显示模组100的PCB上不同位置的元器件；若放置方向错误，则显示模组100的PCB上的元器件会被承载窗口104限制，无法实现显示模组100的平稳放置。
优选的，为了进一步提高测试效率，方便握持工具准确放置显示模组100，在一些实施例中，结合图4、图5和图7所示，所述通气孔107还包括垂直所述凹槽101的轴线设置的至少一个握持孔，可以利用握持工具将每一所述显示模组100沿着承载窗口104边沿移动，当握持工具能完全嵌入所述握持孔时，将显示模组100完全落入承载窗口104中，再移除握持工具。在一具体实施例中，参照图7所示，所述承载窗口104垂直于所述凹槽101的轴线对称设置有两个握持孔。
在一具体实施例中，垫脚106的高度高于所述托盘1的第一面层102与第二面层103之间的高度差，不仅便于多层托盘1叠放，节省试验空间，而且，使得相邻两层托盘1之间具有一定间隙，从而当至少两层托盘1，托盘1层叠放置于所述承载板201上时，可以保证气流正常均匀流向每层托盘1。
在一可选的实施例中，参照图9所示，所述托盘1为至少一个；所述托架2包括多个立柱202，以及沿所述立柱202的长度方向，依次安装在所述立柱202上的多个承载板201；所述一个承载板201仅可容纳一个托盘1。通过在托架2设置多个承载板201，可以实现在托架2中放置更多数量的托盘1，以承载更多的待测试产品，有利于实现显示模组100的批量化高低温老化测试。
在一具体实施例中，参照图9所示，该托架2具有三个承载板201，这三个承载板201平行安装在托架2的多个立柱202上，可以在每一承载板201上容纳一托盘1，在该托盘1放置于承载板201上时，由于托盘1反面设置有垫脚106，从而托盘1与承载板201之间形成有空隙。
在一实施例中，所述承载板201的顶面安装有多个限位块203，所述多个限位块203围合形成放置区域204。如图9所示，所述承载板201上设置有四个限位块203，分别设置于矩形承载板201的四个角，围合形成放置区域204，用于固定托盘1。
在一些实施例中，结合图4所示，所述托盘1上设置有指向标识105。通过在托盘1上设置指向标识105，按照指向标识105将带有显示模组100的托盘1置于托架2的承载板201的放置区域204内，从而，更方便将托盘1放置在托架2。
在一些实施例中，结合图9所示，所述托架2的每一承载板201均布置有若干通孔205，所述承载板201上的通孔205与所述托盘1的通气孔107通过所述托盘1与所述承载板201之间形成的空隙形成气体连通。通过在承载板201设置若干通孔205，使承载板201上的若干通孔205与托盘1的通气孔107通过所述托盘1与所述承载板201之间形成的空隙形成气体连通，热量能较快的传递到显示模组100，保证批量化测试过程中显示模组100受到的热量均衡托盘1在高温作用下不易发生老化，延长了托盘1使用的寿命。
在一可选的实施例中，所述托盘1的材料为铝材或铝合金材料；所述托盘1通过下述方式制备：
将托盘1主体结构做脱脂碱蚀；
对所述托盘1主体结构进行硬质阳极氧化；
对所述托盘1主体结构进行静电喷涂；
对所述托盘1主体结构进行着色前处理；
对所述托盘1主体结构进行表面着色处理，得到所述托盘1。
在一可选的实施例中，在高低温老化测试用的托盘1的制备过程中，通过下述方式对所述托盘1主体结构进行硬质阳极氧化：
将所述托盘1主体结构沉浸在电解液体中，在温度16-22℃、电流密度2.5A/dm2条件下，氧化12小时，在所述托盘1主体结构表面形成60～200微米的氧化膜层。
在一可选的实施例中，在高低温老化测试用的托盘1的制备过程中，在对所述托盘1主体结构进行静电喷涂之前，还包括：
对所述托盘1主体结构进行除油和除尘处理。
本发明实施例中，对所述托盘1主体结构进行静电喷涂是使用静电材料喷涂托盘1外表面。静电喷涂是指利用电晕放电原理使雾化涂料在高压直流电场作用下荷负电，并吸附于荷正电基底表面放电的涂装方法，包括但不限于已知的空气雾化法和液压雾化法，所用的静电材料可以是：炭黑或石墨粉、短切导电纤维、导电云母粉(包覆一层ATO)、NFL防静电材料。
本发明实施例中，通过对托盘1进行硬质阳极氧化，提高了其硬度和耐磨性，良好的耐热性，硬质阳极氧化膜熔点高达2320K；优良的绝缘性，耐击穿电压高达2000V；增强了抗腐蚀性能，在ω＝0.03NaCl盐雾中经几千小时不腐蚀。
本发明实施例中，通过对托盘1进行表面着色，经过表面钝化的零件着色会更充分，在着色的电解液中加入防静电剂，着色完成后开零件制作完成。
实施例三
在一些实施例中，为了保证高低温老化测试过程中热量能均匀的传递到显示模组100，需要一种通透性、耐久性良好、使用寿命长的托盘1，因此本发明实施例将以铝托盘1为例公开一种托盘1的制备方法。具体的，托盘1的制备方法至少包括：
S211，将托盘1主体结构做脱脂碱蚀。
S212，对所述托盘1主体结构进行硬质阳极氧化。
在一些实施例中，可以将所述托盘1主体结构沉浸在电解液体中，在温度16-22℃、电流密度2.5A/dm2条件下，氧化12小时，在所述托盘1主体结构表面形成60～200微米的氧化膜层。本发明实施例中，通过对托盘1进行硬质阳极氧化，提高了其硬度和耐磨性，良好的耐热性，硬质阳极氧化膜熔点高达2320K；优良的绝缘性，耐击穿电压高达2000V；增强了抗腐蚀性能，在ω＝0.03NaCl盐雾中经几千小时不腐蚀。
S213，对所述托盘1主体结构进行静电喷涂。
具体的，静电喷涂是指利用电晕放电原理使雾化涂料在高压直流电场作用下荷负电，并吸附于荷正电基底表面放电的涂装方法，包括但不限于已知的空气雾化法和液压雾化法，所用的静电材料可以是：炭黑或石墨粉、短切导电纤维、导电云母粉(包覆一层ATO)、NFL防静电材料。
S214，对所述托盘1主体结构进行表面着色处理，得到所述托盘1。
可以理解的，一般需要对所述托盘1主体结构进行着色前处理，可以消除托盘1表面的污垢，提高托盘1表面的着色效果。经过表面钝化的零件着色会更充分，在着色的电解液中加入防静电剂，着色完成后开零件制作完成。
在一些实施例中，在步骤S212、S213之间还需要对所述托盘1主体结构进行除油和除尘处理，以提高涂料在托盘1表面的附着力。
本实施例公开的托盘1的制备方法能保证托盘1在老化测试过程中，热量能较快的传递到显示模组100，保证批量化测试过程中显示模组100受到的热量均衡，喷涂处理后的托盘1在高温作用下不易发生老化，延长了托盘1使用的寿命。
上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然，为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的，但是本领域普通技术人员应该认识到，各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此，本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外，就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”，该词的涵盖方式类似于术语“包括”，就如同“包括”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外，使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或者”是要表示“非排它性的或者”。
Claims (10)
1.一种显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内；所述多个显示模组与所述多个承载窗口一一对应；所述多个承载窗口呈阵列排布；托盘反面开设有与所述承载窗口的底部贯通的通气孔；所述通气孔在所述托盘反面上的正投影至少部分延伸至所述承载窗口在所述托盘反面上的正投影外；所述托盘反面还设有多个垫脚；
将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙；
将带有托盘的托架放入高低温老化测试装置中，在预设测试条件下，对所述显示模组进行高低温老化测试。
2.如权利要求1所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述托盘正面还开设有与所述多个承载窗口连通的凹槽，所述凹槽的中心线与所述托盘正面的至少一条边缘平行；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
将所述多个显示模组一一放入托盘正面的与所述凹槽连通的多个承载窗口内。
3.如权利要求2所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述承载窗口为台阶状承载窗口；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
将所述多个显示模组一一放入托盘正面的与所述凹槽连通的多个台阶状承载窗口内。
4.如权利要求3所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述托盘为至少一个；所述托架包括多个立柱，以及沿所述立柱的长度方向，依次安装在所述立柱上的多个承载板；所述一个承载板仅可容纳一个托盘；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的至少一个托盘置于托架的至少一个承载板上，每个托盘的垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙。
5.如权利要求1所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述承载板的顶面安装有多个限位块，所述多个限位块围合形成放置区域；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板的放置区域内，所述垫脚处于所述放置区域内，使所述托盘与所述承载板之间形成空隙。
6.如权利要求1所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述托盘上设置有指向标识；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的托盘按照所述指向标示置于托架的承载板的放置区域内，所述垫脚处于所述放置区域内，使所述托盘与所述承载板之间形成空隙。
7.如权利要求1所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述托架的承载板布置有若干通孔；
所述将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述垫脚使所述托盘与所述承载板之间形成空隙，包括：
将带有所述显示模组的托盘置于托架的承载板上，所述承载板上的若干通孔与所述托盘的通气孔通过所述托盘与所述承载板之间形成的空隙形成气体连通。
8.如权利要求2所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，与所述凹槽连通的多个承载窗口是等间距分布的；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
按照等间距布置的方式将所述多个显示模组一一放入托盘正面的与所述凹槽连通的多个承载窗口内。
9.如权利要求2所述的显示模组高低温老化测试方法，其特征在于，所述通气孔包括沿所述凹槽的轴线设置的至少一个标识孔；
所述将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内，包括：
针对每一所述显示模组，将所述显示模组沿着承载窗口边沿移动，当所述显示模组的元器件能容纳于所述标识孔时，将显示模组完全落入承载窗口中。
10.一种显示模组高低温老化测试设备，应用于权利要求1～9任一项所述的方法，包括所述高低温老化测试装置、所述托盘以及所述托架。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310330504.9A CN116338358B (zh) | 2023-03-29 | 2023-03-29 | 一种显示模组高低温老化测试方法及设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310330504.9A CN116338358B (zh) | 2023-03-29 | 2023-03-29 | 一种显示模组高低温老化测试方法及设备 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116338358A true CN116338358A (zh) | 2023-06-27 |
| CN116338358B CN116338358B (zh) | 2024-06-04 |
Family
ID=86878571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310330504.9A Active CN116338358B (zh) | 2023-03-29 | 2023-03-29 | 一种显示模组高低温老化测试方法及设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116338358B (zh) |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116338358B (zh) | 2024-06-04 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |