JP2009115477A - 電気的接続装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 接触子の装着時の熱による隣の装着部の損傷を防止して、接触子の配置ピッチをさらに小さくすることにある。
【解決手段】 電気的接続装置は、少なくとも座部の形状及びアーム部の高さ位置が異なる少なくとも4種類の接触子を用いる。それらの接触子は、基板の装着部に装着される座部と、該座部の下端から左右方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から下方へ伸びる針先部であって下端に針先を有する針先部とを備える。それらの接触子は、少なくとも座部の形状及びアーム部の高さ位置が異なる。それら接触子は、基板への装着位置を左右方向にずらされて、前後方向に交互に片持ち梁状に並列的に装着されている。
【選択図】 図3

Description

本発明は、半導体集積回路のような平板状被検査体の通電試験に用いる電気的接続装置に関する。
半導体集積回路のような平板状被検査体は、それが仕様書通りに製造されているか否かの通電試験をされる。この種の通電試験は、被検査体の電極に個々に押圧される複数のプローブすなわち接触子を備えた、プローブカード、ICソケット、プローブブロック、プローブユニット等、電気的接続装置を用いて行われる。この種の電気的接続装置は、被検査体の電極と、テスターとを電気的に接続するために利用される。
この種のIC用プローブカードの1つとして、特許文献1及び2に記載されているように、多数の板状のプローブすなわち接触子を、配線基板やプローブ基板等の基板の装着部に片持ち梁状に装着して、半導体ウエーハ状の未切断の多数の集積回路を同時に又は数回に分けて通電するものがある。
特開2005−203606号公報 特開2005−201844号公報
これら従来の技術は、いずれも、複数の板状の接触子を一列に配置した少なくとも1つの接触子群を備え、各接触子を配線基板、プローブ基板等の基板の配線、接続ランド等の装着部に半田のような導電性接着材により接着している。装着部への接触子の装着は、接触子の配置ピッチが小さく、同時に装着することが技術的に難しいことから、接触子毎に行われる。
また、接触子を装着部に装着する際に隣に既に装着されている接触子を損傷しないようにするため、及びICソケットに組み立てられた状態において隣り合う接触子が電気的に緩衝しないようにするために、装着部への装着位置を接触子の配列方向と交差する方向に変位、すなわちジグザグに位置させている。
一方、近年では、1つの半導体ウエーハに形成される集積回路の数が多くなり、したがって電極の配置ピッチが小さくなっている。そのようなことは、今後さらに進む傾向にある。
しかし、従来の装置では、いずれも、1つの接触子群の接触子を装着位置が接触子の配列方向に交差する方向に異なる2つのサブグループに分けているにすぎないため、上記のように電極が強ピッチに配置された集積回路の通電試験に適用可能にしようとすると、隣り合う接触子が接触してしまい、実際には通電試験を行うことができない。
本発明の目的は、接触子の装着時の熱による隣の装着部の損傷を防止して、接触子の配置ピッチをさらに小さくすることにある。
本発明に係る電気的接続装置は、前後方向に間隔をおいた複数の装着部をそれぞれ備える第1、第2、第3及び第4の装着部群であって各装着部群の前記装着部が他の装着部群の前記装着部に対し左右方向にずれるように当該基板の下面に配置された第1、第2、第3及び第4の装着部群を備える基板と、複数の板状の接触子をそれぞれ含む第1、第2、第3及び第4の接触子群であって当該第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子が、それぞれ、前記第1、第2、第3及び第4の装着部群の装着部に一対一の形に対応されて対応する前記装着部から同じ方向に伸びる状態に該装着部に片持ち梁状に装着されていると共に、前記基板への装着位置を左右方向にずらされた第1、第2、第3及び第4の接触子群とを含む。
各接触子は、前記対応する装着部に上端部において装着された座部と、該座部の下端から左右方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から下方へ伸びる針先部であって下端に針先を有する針先部とを備える。
前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の、前記針先の高さ位置は同じであるが、前記座部の形状は互いに異なる。また、前記第1の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置は、少なくとも前記第3及び第4の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置と異なる。
前記第1及び第2の接触子群の前記接触子の前記アーム部の高さ位置は同じであってもよく、また前記第3及び第4の接触子群の前記接触子の前記アーム部の高さ位置は同じであってもよい。
前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の各座部は、前記基板に対し前記左右方向における一方側又は他方側に傾斜された傾斜部を有することができる。
前記第1の接触子群の各接触子の前記座部は前記左右方向における一方側に傾斜されており、前記第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の各座部の前記傾斜部は前記左右方向における他方側に傾斜されていてもよい。
前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の前記座部は、前記基板への装着位置が前記左右方向における前記針先の位置から前記第1、第2、第3及び第4の装着部群の順に漸次大きく離間された状態に、前記装着部に装着されていてもよい。
前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子は、前記第1、第3、第2及び第4の接触子群の接触子の順に、又は前記第1、第4、第2及び第3の接触子群の前記接触子の順に前記前後方向に交互に位置されていてもよい。
前記前後方向に隣り合う接触子は、上方から見て前記アーム部の一部を重畳されていてもよい。
前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の針先は、前記前後方向へ伸びる共通の仮想線上に整列されていてもよい。
前記基板は、さらに、それぞれが前記第1、第2、第3及び第4の装着部群の装着部から前記左右方向における前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の各接触子の前記針先の位置よりさらに離間された位置に複数の装着部を備える第5、第6、第7及び第8の装着部群であって前後方向に交互に位置するように各装着部群の前記装着部が他の装着部群の前記装着部に対し前後方向にずれるように前記下面に配置された第5、第6、第7及び第8の装着部群を備え、当該電気的接続装置は、さらに、複数の板状の接触子をそれぞれ含む第5、第6、第7及び第8の接触子群であって当該第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子が、それぞれ、前記第5、第6、第7及び第8の装着部群の装着部に一対一の形に対応されて対応する前記装着部から前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の側に伸びる状態に該装着部に片持ち梁状に装着されていると共に、前記基板への装着位置を左右方向にずらされた第5、第6、第7及び第8の接触子群を含む。
前記第5、第6、第7及び第8の接触子群の各接触子は、前記対応する装着部に上端部において装着された座部と、該座部の下端から左右方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から下方へ伸びる針先部であって下端に針先を有する針先部とを備える。
前記第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子の、前記針先の高さ位置は同じであるが、前記座部の形状は互いに異なる。また、前記第5の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置は、少なくとも前記第7及び第8の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置と異なる、請求項1に記載の電気的接続装置。
前記第5、第6、第7及び第8の接触子群の前記接触子の針先は、前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の針先が整列された前記仮想線から前記前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の側と反対側に離間されて前記前後方向へ伸びる共通の第2の仮想線上に整列されていてもよい。
第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の基板への装着位置が左右方向に変位されており、また第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の、針先の高さ位置は同じであるが、座部の形状は互いに異なり、さらに第1の接触子群の接触子のアーム部の高さ位置が少なくとも第3及び第4の接触子群の接触子のアーム部の高さ位置と異なると、前後方向に隣り合う第1、第2,第3及び第4の接触子の基板への装着位置の左右方向における中心位置間距離が大きくなるのみならず、各接触子群の前後方向に隣り合う接触子同士の基板への装着位置の前後方向における中心位置間距離も大きくなる。
上記の結果、接触子の配置ピッチを小さくしても、基板への接触子の装着時の熱が前後方向に隣り合う接触子及び装着部に影響を与えることが防止されて、既に装着された隣の接触子及び隣の装着部の損傷が防止され、接触子の配置ピッチをさらに小さくすることができる。
[用語について]
本発明においては、図3において、左右方向を左右方向又はX右方向(接触子の伸長方向)といい、紙背方向を前後方向又はY方向(各接触子群の接触子の配列方向)といい、上下方向を上下方向又はZ方向といい、X方向及びY方向を含む面を水平面という。しかし、それらの方向及び面は、被検査体を検査装置に配置する姿勢により異なる。
したがって、上記の方向及び面は、実際の検査装置に応じて、X方向及びY方向を含む面が、鉛直線に垂直の水平面、該水平面に対し傾斜する傾斜面、及び該水平面に垂直の垂直面のいずれかの面内となるように決定してもよいし、それらの面の組み合わせとなるように決定してもよい。
また、本発明においては、接触子の針先の側を先端側又は前方側といい、それと反対の側を後端側又は後方側という。
図1〜図10を参照するに、電気的接続装置10は、未切断の多数の集積回路領域(被検査領域)をマトリクス状に有する半導体ウエーハを平板状の被検査体12とし、またそのような多数の集積回路領域すなわち被検査領域の通電試験を同時に一回で又は複数回に分けて行うことができるように構成されている。
各被検査領域は、複数のパッド電極14(図7参照)を左右方向に間隔をおいて2列に、すなわち、2つの電極列の形に有している。左右方向における一方に位置する前記電極列の複数のパッド電極14は第1の電極群を構成しており、左右方向における他方に位置する電極列の複数のパッド電極14は第2の電極群を構成している。
各電極群の電極14は、前後方向に間隔をおいて一列に整列されている。前後方向に隣り合う被検査領域の各電極群の電極14の左右方向における位置は、一致されている。
電気的接続装置10は、円形の配線基板20と、配線基板20の下面に配置された矩形のプローブ基板22と、プローブ基板22の下面に配置された複数の接触子24とを含む。
配線基板20は、テスターの電気回路に接続される複数のテスターランド26を当該配線基板20の上面の周縁部に有しており、また図示してはいないがテスターランド26に一対一の形に電気的に接続された複数の配線を下面及び内部に有している。
プローブ基板22は、それぞれが導電性を有する複数の装着部28を電気絶縁性板30の下面に有しており、また装着部28に一対一の形に電気的に接続された複数の配線(図示せず)を電気絶縁性板30に有している。
装着部28は、図示の例では、プローブ基板22の内部配線に電気的に接続された独立したプローブランドであるが、前記内部配線のプローブ基板22の下面に露出された部分であってもよい。
プローブ基板22の各配線は、配線基板20の図示しない前記配線に電気的に接続されている。このため、各装着部28は、配線基板20の配線に一対一の形に電気的に接続されている。多数の接触子24及び多数の装着部28のそれぞれが、同時に検査すべき被検査領域毎に割り当てられている。接触子24及び装着部28は、互いに及び電極14に一対一の形に対応されている。
配線基板20及びプローブ基板22は、これらを厚さ方向に貫通する複数の位置決めピン(図示せず)により相対的位置決めをされており、また複数のねじ部材(図示せず)により相互に結合されている。
被検査領域に割り当てられた多数の装着部28は、前後方向に間隔をおいた複数の装着部28をそれぞれが含みかつ左右方向における電極14の位置に対応されて前後方向へ伸びる仮想線に関して左右方向一方側に位置された第1、第2、第3及び第4の装着部群と、前後方向に間隔をおいた複数の装着部28をそれぞれが含みかつ前記仮想線に関して左右方向他方側に位置された第5、第6、第7及び第8の装着部群とに分けられている。
図示の例では、第1、第2、第3及び第4の装着部群の装着部を、それらの符号28に、それぞれ、アルファベットのa,b,c及びdを付して示していると共に、第5、第6、第7及び第8の装着部群の装着部を、それらの符号28に、それぞれ、アルファベットのa,b,c及びdを付して示している。
図3,4及び9に示すように、第1、第2、第3及び第4の装着部群の装着部28a,28b,28c,28dは、それらが相互に左右方向に離間されかつ左右方向におけるそれらの位置が第1、第2、第3及び第4の装着部群の装着部の順に一方の前記電極列の電極14の左右方向における位置に対応する仮想線から離間するように、基板20に形成されている。
第5、第6、第7及び第8の装着部群の装着部28a,28b,28c,28dも、上記と同様に、それらが相互に左右方向に離間されかつ左右方向にけるそれらの位置が第5、第6、第7及び第8の装着部群の装着部の順に前記仮想線から離間するように、基板20に形成されている。
第1、第2、第3及び第4の装着部群の各装着部群の装着部28a,28b,28c,28dのそれぞれは、他の装着部群の装着部に対し前後方向に変位されており、またそれら装着部が前後方向に装着部28a,28d,28b,28c,28a・・・と繰り返すように位置されている。
上記と同様に、第5、第6、第7及び第8の装着部群の装着部28a,28b,28c,28dのそれぞれも、他の装着部群の装着部に対し前後方向にずらされており、またそれら装着部が前後方向に装着部28a,28d,28b,28c,28a・・・と繰り返すように位置されている。
図10に示すように、各接触子24は、対応する装着部28に上端部において装着された板状の座部32と、座部32の下端から左右方向へ伸びる板状のアーム部34と、アーム部34の先端部から下方へ伸びる板状の針先部36とを備える板状をしたブレードタイプの針とされている。針先部36はその下端に針先38を有する。
座部32及びアーム部34は、これらを厚さ方向に貫通する穴を有している。アーム部34の穴は左右方向に長い長穴である。これにより、アーム部34は、オーバードライブが接触子24に作用したときに、容易に弾性変形をする。
各接触子24は、その厚さ方向が前後方向となり、かつ針先28が一方又は他方の前記電極列の電極14の位置に対応する仮想線と一致する状態に、座部32においてプローブ基板22の対応する装着部28に片持ち梁状に装着されている。
被検査領域に割り当てられた多数の接触子24は、前後方向に変位された複数の接触子24をそれぞれが含みかつ左右方向における電極14の位置に対応する前記仮想線に関して左右方向一方側に位置された第1、第2、第3及び第4の装着部群と、それぞれが前後方向に変位された複数の接触子24をそれぞれが含みかつ前記仮想線に関して左右方向他方側に位置された第5、第6、第7及び第8の装着部群とに分けられている。
図示の例では、第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子を、それらの符号24に、それぞれ、アルファベットのa,b,c及びdを付して示していると共に、第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子を、それらの符号24に、それぞれ、アルファベットのa,b,c及びdを付して示している。
図3から図7に示すように、第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子24a,24b,24c,24dは、それらが相互に左右方向に離間されかつ左右方向にけるそれらのプローブ基板22への装着位置が第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の順に前記電極列の他方の電極14の左右方向における位置に対応する仮想線から離間するように、プローブ基板22に取り付けられている。
第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子24a,24b,24c,24dも、上記と同様に、それらが相互に左右方向に離間されかつ左右方向におけるそれらのプローブ基板22への装着位置が第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子の順に前記仮想線から離間するように、プローブ基板22に取り付けられている。
第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子24a,24b,24c,24dのそれぞれは、他の接触子群の接触子に対し前後方向にずらさており、またそれら接触子が前後方向に接触子24a,24d,24b,24c,24a・・・と繰り返すように位置されている。
上記と同様に、第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子24a,24b,24c,24dのそれぞれも、他の接触子群の接触子に対し前後方向にずらさており、またそれらの接触子が前後方向に接触子24a,24d,24b,24c,24a・・・と繰り返すように位置されている。
電極群から装着部28までの距離寸法が前記したように装着部群同士で異なることから、接触子24a,24d,24b,24cの各部位は、異なる。これについて、以下に図10を参照して説明する。
対応する装着部28a,28b,28c,28dからの各接触子群の接触子24a,24d,24b,24cの針先の高さ位置(対応する装着部28から針先38までの接触子28の高さ寸法)は同じとされている。
上下方向におけるアーム部34の寸法(幅寸法)同士、前後方向における座部32及びアーム部34の寸法(厚さ寸法)同士、及び左右方向におけるアーム部34の寸法(長さ寸法)同士も、それぞれ、同じとされている。
第1、第2、第5及び第6の接触子群の接触子24a,24bの座部32の高さ寸法(対応する装着部28から針先38までの接触子24の高さ寸法)は、同じとされている。
第3、第4、第7及び第8の接触子群の接触子24c,24dの座部32の高さ寸法は、相互に同じとされているが、第1、第2、第5及び第6の接触子群の各接触子24a,24bの座部32の高さ寸法よりアーム部34の幅寸法に数μmから数十μm程度を加算した分だけ大きい。
上記のことから、第3、第4、第7及び第8の接触子群の接触子24c,24dのアーム部34の高さ位置は、第1、第2、第5及び第6の接触子群の各接触子24a,24bのアーム部34の高さ位置より大きい。
各接触子群の接触子24a,24bの針先部36及び針先38の前後方向における寸法(厚さ寸法)は、相互に同じとされているが、座部32及びアーム部34の厚さ寸法より小さくされている。
第1、第2、第5及び第6の接触子群の接触子24a,24bの針先部36の高さ寸法は、同じである。しかし、第3、第4、第7及び第8の接触子群の接触子24c,24dの針先部36の上下方向における寸法(長さ寸法)は、相互に同じとされているが、第1、第2、第5及び第6の接触子群の接触子24a,24bの針先部36のそれより座部32の高さ寸法の差分だけ小さくされている。
第1から第8の接触子群の接触子24a,24b,24c及び24dの座部32の左右方向における長さ寸法(座部32の対応する装着部28への装着箇所の後端からアーム部34までの寸法)は、接触子24a,24b,24c,24dの準に漸次大きくされている。
第1及び第5の接触子群の接触子24aの座部32は、斜め下向きの傾斜面40aを電極群の側に有する。第2及び第6の接触子群の接触子24bの座部32は、斜め上向きの傾斜面40bを電極群の側に有する。
第3及び第7の接触子群の接触子24cの座部32は、斜め上向きの傾斜面40cを電極群の側に有する。第4及び第8の接触子群の接触子24dの座部32は、斜め上向きの傾斜面40dを電極群の側に有する。
各接触子24は、レーザのような加熱源と半田付のような導電性接着剤とを用いて、所定の装着部28に接着される。
上記のような接触子24を備えたプローブ基板22は、以下のような手順で組み立てることができる。
先ず、図11(A)に示すように、多数の装着部を備えたプローブ基板22が準備される。これと平行して、上記した多数の接触子24a,24b,24c及び24dが準備される。
次いで、図11(B)に示すように、第1の接触子群の接触子24aが所定に装着部28に取り付けられる。次いで、図11(C)に示すように、第2の接触子群の接触子24bが所定に装着部28に取り付けられる。次いで、図11(D)に示すように、第3の接触子群の接触子24cが所定に装着部28に取り付けられる。次いで、図11(E)に示すように、第4の接触子群の接触子24dが所定に装着部28に取り付けられる。
上記の結果、図10(E)に示すように、第1,第2,第3及び第4の接触子群の各接触子28を備えたプローブ基板22が組み立てられる。
第5,第6,第7及び第8の接触子群の接触子28は、上記と同様にして所定の装着部に取り付けられる。
電気的接続装置10は、配線基板20が上方となり、接触子28が下方となる状態に、テスターに取り付けられる。テスターに取り付けられた状態において、電気的接続装置10は、各接触子24の針先38を被検査体12のパッド電極14に押圧される。
これにより、オーバードライブが各接触子24に作用し、各接触子24はアーム部34において弾性変形する。この状態で、テスターから、テスターランド26、配線基板20の配線及びプローブ基板22の配線を介して、所定の接触子24に通電され、所定の接触子24から電気信号がテスターに出力される。
電気的接続装置10においては、前後方向に隣り合う接触子28の基板20への装着位置の左右方向における中心位置間距離、及び前後方向に隣り合う接触子24の装着位置の前後方向における中心位置間距離が、いずれも大きくなる。
上記の結果、接触子24の配置ピッチを小さくしても、接触子24の装着時の熱が隣の装着部28に影響を与えることが防止されて、隣の装着部28の損傷が防止される。また、隣り合う接触子24の座部34及びアーム部36が対向しないから、隣り合う接触子24の間における電気的干渉が防止又は低減される。
また、第1から第4の接触子群の接触子24と、第5から第8の接触子群の接触子24とを、それらの間を前後方向へ伸びる仮想線に対し対称的となるように配置しているから、各被検査領域により多数の電極14を備えた被検査体の電気的試験に適用することができる。
上記実施例では、第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子24a,24b,24c及び24d、並びに第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子24a,24b,24c及び24dを、それら接触子が前後方向に接触子24a,24d,24b,24c,24a・・・と繰り返すように配置している。
しかし、図12に示すように、第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子24a,24b,24c及び24d、並びに第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子24a,24b,24c及び24dを、それら接触子が前後方向に接触子24a,24c,24b,24d,24a・・・と繰り返すように配置してもよい。
上記の場合、装着部28a,28b,28c,28cを図13に示すように配置したプローブ基板22が用いられる。
本発明は、第1、第2、第3,第4の接触子群の接触子24a,24b,24c,24d、及び第5、第6、第7,第8の接触子群の接触子24a,24b,24c,24dのいずれか一方を備えていなくてもよい。
また、本発明は、複数の電極を検査領域に2列に有する被検査体用の電気的接続装置のみならず、複数の電極を被検査領域に1列に又は3列以上に有する被検査体用の電気的接続装置にも適用することができる。
さらに、本発明は、接触子を配線基板に直接都立けら電気的接続装置にも適用することができる。
本発明は、上記実施例に限定されず、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更することができる。
本発明に係る電気的接続装置の一実施例を示す底面図である。 図1に示す電気的接続装置の正面図である。 図1における3−3線に沿って得た拡大断面図である。 図1に示す電気的接続装置の一部を拡大して示す底面図である。 図4における右側面図である。 図1に示す電気的接続装置の一部を拡大して及び上下を逆にして示す斜視図である。 図4における7−7線に沿って得た拡大断面図である。 図1に示す電気的接続装置における被検査体の電極とプローブ基板の装着部との関係を示す図である。 装着部の配置例を示す配置図である。 各種接触子の形状を説明するための図である。 図1に示す電気的接続装置におけるプローブ基板の組み立て方法を説明するための図である。 接触子の他の配置例を、拡大して及び上下を逆にして示す斜視図である。 図12に示す他の配置例を示す図9に類似した図である。
符号の説明
10 電気的接続装置
12 被検査体
14 パッド電極
20 配線基板
22 プローブ基板
24,24a、24b、24c、24d 接触子
26 テスターランド
28,28a、28b、28c、28d 装着部
30 電気絶縁性板
32 座部
34 アーム部
36 針先部
38 針先
40a,40b,40c,40d 傾斜面

Claims (10)

  1. 前後方向に間隔をおいた複数の装着部をそれぞれ備える第1、第2、第3及び第4の装着部群であって各装着部群の前記装着部が他の装着部群の前記装着部に対し左右方向にずれるように当該基板の下面に配置された第1、第2、第3及び第4の装着部群を備える基板と、
    複数の板状の接触子をそれぞれ含む第1、第2、第3及び第4の接触子群であって当該第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子が、それぞれ、前記第1、第2、第3及び第4の装着部群の装着部に一対一の形に対応されて対応する前記装着部から同じ方向に伸びる状態に該装着部に片持ち梁状に装着されていると共に、前記基板への装着位置を左右方向にずらされた第1、第2、第3及び第4の接触子群とを含み、
    各接触子は、前記対応する装着部に上端部において装着された座部と、該座部の下端から左右方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から下方へ伸びる針先部であって下端に針先を有する針先部とを備え、
    前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の、前記針先の高さ位置は同じであるが、前記座部の形状は互いに異なり
    前記第1の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置は、少なくとも前記第3及び第4の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置と異なる、電気的接続装置。
  2. 前記第1及び第2の接触子群の前記接触子の前記アーム部の高さ位置は同じであり、また前記第3及び第4の接触子群の前記接触子の前記アーム部の高さ位置は同じである、請求項1に記載の電気的接続装置。
  3. 前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の各座部は、前記基板に対し前記左右方向における一方側又は他方側に傾斜された傾斜部を有する、請求項2に記載の電気的接続装置。
  4. 前記第1の接触子群の各接触子の前記座部は前記左右方向における一方側に傾斜されており、前記第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の各座部の前記傾斜部は前記左右方向における他方側に傾斜されている、請求項3に記載の電気的接続装置。
  5. 前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の前記座部は、前記基板への装着位置が前記左右方向における前記針先の位置から前記第1、第2、第3及び第4の装着部群の順に漸次大きく離間された状態に、前記装着部に装着されている、請求項2に記載の電気的接続装置。
  6. 前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子は、前記第1、第3、第2及び第4の接触子群の接触子の順に、又は前記第1、第4、第2及び第3の接触子群の前記接触子の順に前記前後方向に交互に位置されている、請求項2に記載の電気的接続装置。
  7. 前記前後方向に隣り合う接触子は、上方から見て前記アーム部の一部を重畳させている、請求項6に記載の電気的接続装置。
  8. 前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の前記接触子の針先は、前記前後方向へ伸びる共通の仮想線上に整列されている、請求項1に記載の電気的接続装置。
  9. 前記基板は、さらに、それぞれが前記第1、第2、第3及び第4の装着部群の装着部から前記左右方向における前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の各接触子の前記針先の位置よりさらに離間された位置に複数の装着部を備える第5、第6、第7及び第8の装着部群であって前後方向に交互に位置するように各装着部群の前記装着部が他の装着部群の前記装着部に対し前後方向にずれるように前記下面に配置された第5、第6、第7及び第8の装着部群を備え、
    当該電気的接続装置は、さらに、複数の板状の接触子をそれぞれ含む第5、第6、第7及び第8の接触子群であって当該第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子が、それぞれ、前記第5、第6、第7及び第8の装着部群の装着部に一対一の形に対応されて対応する前記装着部から前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の側に伸びる状態に該装着部に片持ち梁状に装着されていると共に、前記基板への装着位置を左右方向にずらされた第5、第6、第7及び第8の接触子群を含み、
    前記第5、第6、第7及び第8の接触子群の各接触子は、前記対応する装着部に上端部において装着された座部と、該座部の下端から左右方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から下方へ伸びる針先部であって下端に針先を有する針先部とを備え、
    前記第5、第6、第7及び第8の接触子群の接触子の、前記針先の高さ位置は同じであるが、前記座部の形状は互いに異なり
    前記第5の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置は、少なくとも前記第7及び第8の接触子群の接触子の前記アーム部の高さ位置と異なる、請求項1に記載の電気的接続装置。
  10. 前記第5、第6、第7及び第8の接触子群の前記接触子の針先は、前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の針先が整列された前記仮想線から前記前記第1、第2、第3及び第4の接触子群の接触子の側と反対側に離間されて前記前後方向へ伸びる共通の第2の仮想線上に整列されている、請求項9に記載の電気的接続装置。
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