JP2009025267A - 電気的接続装置 - Google Patents

電気的接続装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009025267A
JP2009025267A JP2007191638A JP2007191638A JP2009025267A JP 2009025267 A JP2009025267 A JP 2009025267A JP 2007191638 A JP2007191638 A JP 2007191638A JP 2007191638 A JP2007191638 A JP 2007191638A JP 2009025267 A JP2009025267 A JP 2009025267A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
arm
electrical connection
connection device
probes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007191638A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshie Hasegawa
義榮 長谷川
Masashi Hasegawa
昌志 長谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP2007191638A priority Critical patent/JP2009025267A/ja
Publication of JP2009025267A publication Critical patent/JP2009025267A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 横方向へ伸びる伸長部を有するプローブを用いるにもかかわらず、1つの集積回路の電極数と同数のプローブをその集積回路に対応する大きさのプローブ配置領域内に配置することにある。
【解決手段】 電気的接続装置は、少なくとも1つのプローブ配置領域を一方の面に有しかつプローブ配置領域内に複数のランドを有するプローブ取付体と、平面的に見てプローブ配置領域内に位置された複数のプローブとを含む。各プローブは、ランドからプローブ配置領域と交差する縦方向に伸びる取付部であってこれの一端部においてランドに取り付けられた取付部と、該取付部の他端部から横方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から取付部の側と反対側に伸びる伸長部と、該伸長部の先端側に設けられた針先とを有する。少なくとも1つのプローブのアーム部は、少なくとも1つの他のプローブのアーム部から他のプローブの取付部の側又は伸長部の側に間隔をおいて他のプローブのアーム部を横切る方向へ伸びている。
【選択図】図2

Description

本発明は、複数の電極を有する半導体要素をプローバの電気回路に接続する電気的接続装置に関する。
半導体集積回路のような平板状の半導体要素すなわち被検査体は、それが仕様書通りに製造されているか否かの電気的試験をされる。この種の試験すなわち検査は、被検査体の電極に個々に押圧される複数の接触子すなわちプローブを備えた、プローブカード、プローブブロック、プローブユニット等、電気的接続装置を用いて行われる。この種の電気的接続装置は、被検査体の電極とテスターの電気回路とを電気的に接続するために利用される。
この種の電気的接続装置の1つとして、特許文献1に記載されているように、複数のプローブを、配線基板、プローブ基板、プローブシート等、プローブ取付体の平坦な装着部すなわちランドに片持ち梁状に装着したものがある。
特開2005―203606号公報
この従来の電気的接続装置は、半導体ウエーハに形成された未切断の多数の集積回路であってそれぞれが一方向へ伸びる共通の仮想直線上に位置しかつその仮想直線の方向に間隔をおいた複数の電極を備える多数の集積回路の試験に用いられる。
上記従来の電気的接続装置において、各プローブは、上記ランドから該ランドと交差する縦方向に伸びる座部すなわち取付部であってこれの一端部において前記ランドに導電性接着剤により取り付けられた取付部と、該取付部の他端部から横方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から前記アーム部の側と反対側に伸びる針先部すなわち伸長部と、該伸長部の先端側に設けられた針先とを有する。
上記従来の電気的接続装置は、各集積回路用の複数のプローブを対応する集積回路と同じ大きさのプローブ領域内に配置することにより、未切断の多数の集積回路を一回で又は複数回に分けて試験をすることを可能にしている。
そのようなプローブは、正確な検査をする上で集積回路の電極及び電気的接続装置のプローブの大きさを小さくすることが難しいこと、ランドへのプローブの取付作業を容易にすること等から、それらの針先が共通の仮想直線上に位置しかつその仮想直線の方向に間隔をおくように、及びアーム部が平行に伸びるように、仮想直線に関してジグザグに配置されている。
しかし、被検査体としての半導体要素すなわち集積回路は、今後小型化及び高密度化されて、各集積回路の電極数を少なくすることなく、電極の配置密度を高くすることを要求される。この場合、各集積回路の複数の電極を共通の仮想直線上に配置するだけでは、仮想直線上に配置可能の電極数が目的とする電極数より大きく下回る。
上記のことから、矩形の集積回路の各辺、特に少なくとも隣り合う2つの辺に複数の電極を配置することにより、必要な電極数を確保することが考えられる。しかし、上記従来の電気的接続装置では、針先が共通の仮想線上に位置するにすぎないから、そのような集積回路の検査に用いることができない。
少なくとも隣り合う2つの辺に複数の電極を配置した集積回路の試験には、複数のプローブを、それらの針先が矩形の少なくとも隣り合う2つの辺に位置するように、少なくとも2つのグループに分けて取付体に配置しなければならない。
しかし、上記したように、取付部の先端部から横方向へ伸びるアーム部を有するプローブを用いると、1つの集積回路の電極数と同数のプローブをその集積回路に対応する大きさのプローブ配置領域内に配置することが難しい。
本発明の目的は、横方向へ伸びる伸長部を有するプローブを用いるにもかかわらず、1つの集積回路の電極数と同数のプローブをその集積回路に対応する大きさのプローブ配置領域内に配置することにある。
本発明に係る電気的接続装置は、少なくとも1つのプローブ配置領域を一方の面に有しかつ前記プローブ配置領域内に複数のランドを有するプローブ取付体と、平面的に見て前記プローブ配置領域内に位置された複数のプローブとを含む。
各プローブは、前記ランドから前記プローブ配置領域と交差する縦方向に伸びる取付部であってこれの一端部において前記ランドに取り付けられた取付部と、該取付部の他端部から横方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から前記取付部の側と反対側に伸びる伸長部と、該伸長部の先端側に設けられた針先とを有する。
少なくとも1つのプローブの前記アーム部は、少なくとも1つの他のプローブの前記アーム部から前記他のプローブの前記取付部の側又は前記伸長部の側に間隔をおいて前記他のプローブの前記アーム部を横切る方向へ伸びている。
前記少なくとも1つのプローブの前記アーム部から前記針先の先端までの長さ寸法と前記他のプローブの対応する箇所の長さ寸法とは、前記縦方向における少なくとも前記アーム部の寸法分以上異なっていてもよい。
前記少なくとも1つのプローブの前記取付部から前記アーム部の先端までの長さ寸法と前記他のプローブの対応する箇所の長さ寸法とは、前記縦方向における少なくとも前記アーム部の寸法分異なっていてもよい。
前記少なくとも1つのプローブは複数のプローブを含むことができ、またそれらの前記針先は仮想直線上に該仮想直線の方向に間隔をおいて配置されていてもよい。
前記プローブ配置領域は矩形の領域であり、前記少なくとも1つのプローブの前記針先は前記矩形の隣り合う2つの辺が交差する隅角部又はその近傍に位置されていてもよい。
前記少なくとも1つのプローブは、前記隣り合う2つの辺が交差する隅角部に前記針先が位置された隅角プローブを含むことができる。
上記の代わりに、前記少なくとも1つのプローブは、前記隣り合う2つの辺が交差する隅角部の近傍に前記針先が位置された少なくとも1つの近傍プローブを含むことができる。
好ましい実施例においては、前記少なくとも1つのプローブは、前記隣り合う2つの辺が交差する隅角部に前記針先が位置された隅角プローブと、前記針先が前記隅角部の近傍に位置された少なくとも1つの近傍プローブとを含む。
前記複数のプローブは、前記針先が前記隣り合う2つの辺の一方と平行の第1の仮想直線に整列された第1のグループに属するプローブと、前記針先が前記隣り合う2つの辺の他方と平行の第2の仮想直線に整列された第2のグループに属するプローブとに分けられていてもよい。前記墨角プローブの前記アーム部は前記1の仮想直線と交差する方向に伸びていてもよい。前記近傍プローブの前記アーム部は前記1の仮想直線の方向に伸びていてもよい。前記第1のグループに属するプローブのうち、前記他のプローブの前記アーム部は前記1の仮想直線と交差する方向に伸びていてもよいし、前記第2のグループに属するプローブのうち、前記他のプローブの前記アーム部は前記2の仮想直線と交差する方向に伸びていてもよい。
各プローブは板の形状を有することができる。各プローブの前記取付部並びに前記アーム部及び前記伸長部は同じ平面内を伸びていてもよい。
好ましい実施例においては、電気的接続装置は、板状又はシート状のプローブ取付体であって矩形をした少なくとも1つのプローブ配置領域を一方の面に有しかつ前記プローブ配置領域内に複数のランドを有するプローブ取付体と、平面的に見て前記プローブ配置領域内に位置された複数のプローブとを含み、各プローブは、前記ランドから前記プローブ配置領域と交差する縦方向に伸びる取付部であってこれの一端部において前記ランドに取り付けられた取付部と、該取付部の他端部から横方向へ伸びるアーム部と、該伸長部の先端部から前記アーム部の側と反対側に伸びる伸長部と、該伸長部の先端側に設けられた針先とを有し、前記矩形の隣り合う2つの辺が交差する隅角部又はその近傍に前記針先が位置する少なくとも1つの隅角部プローブの前記アーム部は、少なくとも1つの他のプローブの前記アーム部から前記他のプローブの前記取付部の側又は前記伸長部の側に間隔をおいて前記他のプローブの前記アーム部を横切る方向へ伸びており、前記少なくとも1つのプローブの前記アーム部から前記針先の先端までの長さ寸法又は前記少なくとも1つのプローブの前記取付部から前記アーム部の先端までの長さ寸法と、前記他のプローブの対応する箇所の長さ寸法とは、前記縦方向における少なくとも前記アーム部の寸法分以上異なる。
本発明においては、少なくとも1つのプローブのアーム部が少なくとも1つの他のプローブのアーム部から他のプローブの取付部の側又は伸長部の側に間隔をおいて他のプローブのアーム部を横切る方向へ伸びている。このため、本発明によれば、少なくとも1つのプローブのアーム部が少なくとも1つの他のプローブのアーム部と干渉しない。その結果、各プローブが横方向へ伸びるアーム部を有するにもかかわらず、1つの集積回路の電極数と同数のプローブをその集積回路に対応する大きさのプローブ配置領域内に配置することができる。
複数のプローブが、針先が矩形の隣り合う2つの辺の一方と平行の第1の仮想直線に整列された第1のグループに属するプローブと、針先が前記隣り合う2つの辺の他方と平行の第2の仮想直線に整列された第2のグループに属するプローブとに分けられており、しかも前記少なくとも1つのプローブが、第1又は第2のグループに属し、また隣り合う2つの辺が交差する隅角部に針先が位置された隅角プローブ、前記隅角部の近傍に針先が位置された少なくとも1つの近傍プローブを含むと、プローブが矩形の隅角部又はその近傍にも配置され、その結果電極が矩形の隅角部又はその近傍にも配置された被検査体の試験にも用いることができる。
[用語の説明]
以下の実施例の説明において、上下方向とは、図2における上下方向のことをいう。しかし、本発明でいう上下方向は、プローバに対する検査時の被検査体の姿勢により異なる。したがって、本発明でいう上下方向は、実際の検査装置(テスター)に応じて、上下方向、その逆の方向、水平方向、及び水平面に対し傾斜する傾斜方向のいずれかの方向となるように決定してもよい。
[実施例の説明]
図1から図5を参照するに、電気的接続装置10は、未切断の矩形をした複数の集積回路すなわち被検査領域をマトリクス状に有する図5に示す半導体ウエーハを平板状の被検査体12とし、またそのような複数の被検査領域の通電試験を同時に又は複数回に分けて行うことができるように構成されている。
各被検査領域は、矩形の各辺に所定の配置ピッチで一列に配置された複数のパッド電極14を上面に有している。各被検査領域の電極14は、矩形の短辺に対応された2つの第1のグループと、矩形の長辺に対応された2つの第2のグループとに分けられている。各グループの電極14は、対応する辺の延在方向に間隔をおいて一列に配置されている。このため、電極14は矩形の4つの隅角部のそれぞれにも配置されている。
接続装置10は、上面及び下面を有する板状又はシート状のプローブ取付体20と、取付体20の下面に配置された導電性の複数の接触子すなわちプローブ22とを含む。
取付体20は、配線基板、プローブ基板、プローブシート等のように、複数のプローブ22を取り付けるために絶縁材料で製作された基板又はシートである。図示の例では、取付体20は配線基板である。
取付体20が配線基板である場合、取付体20は、テスターの電気回路に接続される導電性の複数のテスターランドを上面の周縁部に有していると共に、プローブ22を取り付けるための平坦な複数の取付部すなわち取付ランド24を下面に有しており、またテスターランドと取付ランド24とを一対一の形に電気的に接続する複数の配線を内部に有している。
取付体20がプローブ基板である場合、取付体20は、配線基板の配線に電気的に接続される平坦な導電性の複数の接続ランドを上面に有すると共に、プローブ22を取り付けるための平坦な複数の取付ランド24を下面に有しており、また接続ランドと取付ランド24とを一対一の形に電気的に接続する複数の配線を内部に有している。
取付体20がプローブ基板の場合、配線基板とプローブ基板とは、これらを厚さ方向に貫通する複数の位置決めピンにより相対的位置決めをされて、複数のねじ部材により相互に結合されている。
取付体20がプローブシートである場合、取付体20は、配線基板、プローブ基板等の配線に電気的に接続される平坦な導電性の複数の接続ランドを上面に有すると共に、プローブ22を取り付けるための平坦な複数の取付ランド24を下面に有しており、また接続ランドと取付ランド24とを一対一の形に電気的に接続する複数の配線を内部に有している。
取付体20がプローブシートの場合、取付体20は、配線基板、プローブ基板、支持体等の支持部材に取り付けられてそれに支持される。
取付体20は、その下面に複数のプローブ配置領域26を有する。それらのプローブ配置領域26は、同時に試験すべき集積回路(被検査領域)毎に1対1の関係に割り当てられたている。図は、1つの集積回路用の矩形のプローブ配置領域26を示すにすぎないが、実際には同時に試験することができる集積回路数と同数の複数のプローブ配置領域26が備えられている。
各プローブ配置領域26には、対応する集積回路に備えられている電極数と同数の取付ランド24が設けられている。各ランド24は、導電性材料で長方形の形状に作られている。
各被検査領域のランド24は、矩形(プローブ配置領域26)の短辺に対応する2つの第1のグループと、矩形の長辺に対応する2つの第2のグループとに分けられている。各グループのランド24は、対応する辺が延在する方向に間隔をおいて一列に配置されて、被検査体の電極14に個々に対応されている。
各プローブ22は、その1つを図5に代表して示すように、ランド24からプローブ配置領域26と交差する下方へ伸びる取付部30と、取付部30の下端部から水平方向へ伸びるアーム部32と、アーム部32の下端部から取付部30の側と反対側の下方へ伸びる伸長部34と、伸長部34の下端から下方に突出する針先36とを有している。
各プローブ22は、導電性材料により板状をしたブレード針とされている。図示の例では、延長部28,各アーム部30及び各伸長部32の幅寸法及び厚さ寸法は同じとされている。しかし、それらの幅寸法及び厚さ寸法は異なっていてもよい。
プローブ22の伸長部32は針先部として作用する。針先24の幅寸法及び厚さ寸法は、延長部28,各アーム部30及び各伸長部32の厚さ寸法同じとすることができる。しかし、針先24の幅寸法及び厚さ寸法の少なくとも一方を、延長部28等の厚さ寸法より小さくしてもよい。
各プローブ22の取付部30は、座部40と、座部40から下方へ伸びる延長部42とを有しており、また座部40の上端部において半田のような導電性接着剤により対応するランド24に接着されている。各プローブ22は、被検査体12の電極14に1体1の関係に対応されて、針先36が対応する電極14に対向可能に取付体20に配置されている。
各プローブ22の取付部30、アーム部32及び伸長部34のそれぞれは、帯板状の形状を有しており、またそれぞれの長手方向に長い長穴44を有している。
プローブ22は、矩形の短辺に対応されて針先36が対応する短辺と平行の仮想直線上に位置された2つの第1のグループと、矩形の長辺に対応されて針先36が対応する長辺と平行な仮想直線上に位置された2つの第2のグループとに分けられている。各グループのプローブ22は、被検査体12の対応する電極14に個々に対応されて、針先34が対応する電極と対向可能に取付体20に配置されている。
各プローブ22は、取付部30の上端からアーム部32までの縦方向長さ寸法L1,アーム部32から針先36の下端までの縦方向長さ寸法L2、及び取付部30から伸長部34までの横方向長さ寸法L3を有しており、またL1と、L2と、アーム部32の縦方向幅寸法L4との和である総長さ寸法L0を有する。
プローブ22の総長さ寸法L0と、横方向長さ寸法L3と、縦方向幅寸法L4とは、プローブ22相互の間で同じであるが、縦方向長さ寸法L1及びL2は、プローブ22の配置位置に応じて異なる。
針先36が矩形の隅角部に位置された各墨角プローブ22aは、第1及び第2のグループのいずれか一方に属するが、第1及び第2のグループのいずれにも属さないようにしてもよい。しかし、各墨角プローブ22aは、アーム部32が矩形の短辺が延在する方向に伸びるように、対応するランド24に取り付けられている。
針先36が矩形の隅角部の近傍に位置された各近傍プローブ22bは、図示の例では、第2のグループに属しており、またアーム部32が矩形の長辺の延在方向に伸びるように、対応するランド24に取り付けられている。しかし、各近傍プローブ22bを第1及び第2のグループのいずれか一方に属するように配置してもよい。
図示の例では、針先36を隅角部の近傍とされた2つの近傍プローブ22bが各隅角部の近傍に配置されている。針先36が矩形の短辺に位置された各他のプローブ22cは、第1のグループに属するが、アーム部32が矩形の短辺を横切る方向に伸びるように、対応するランド24に取り付けられている。
針先36が矩形の長辺に位置された各他のプローブ22dは、第2のグループに属するが、アーム部32が矩形の長辺を横切る方向に伸びるように、対応するランド24に取り付けられている。
しかし、上記のようなグループ分けは、矩形の短辺及び長辺の側をそれぞれ上記したように第1及び第2のグループとした場合であるから、前記とは逆に矩形の短辺及び長辺の側をそれぞれ第2及び第1のグループとした場合は前記と逆になる。
各墨角プローブ22aは、第1のグループに属する複数の他のプローブ22cのアーム部32の上側をそれら他のプローブ22cを横切る方向へ伸びている。このため、各墨角プローブ22aの寸法L1は他のプローブ22cのそれより小さく、各墨角プローブ22aの寸法L2は他のプローブ22cのそれより大きい。
各近傍プローブ22bは、第2のグループに属する複数の他のプローブ22dのアーム部32の上側をそれら他のプローブ22dを横切る方向へ伸びている。このため、各近傍プローブ22bの寸法L1は他のプローブ22dのそれより小さく、各近傍プローブ22bの寸法L2は他のプローブ22dのそれより大きい。
針先36が最も隅角部の近くに位置された各近傍プローブ22bは、他の近傍プローブ22bのアーム部32の上側をその他の近傍プローブ22bのアーム部32の長手方向へ伸びている。このため、針先36が最も隅角部の近くに位置された各近傍プローブ22bの寸法L1は他の近傍プローブ22bのそれより小さく、針先36が最も隅角部の近くに位置された各近傍プローブ22bの寸法L2は他の近傍プローブ22bのそれより大きい。
電気的接続装置10は、針先36が下方側となる状態に、テスターに取り付けられる。テスターに取り付けられた状態において、電気的接続装置10は、各プローブ22の針先36を被検査体12のパッド電極14に押圧される。
これにより、オーバードライブが各プローブ22に作用し、各プローブ22はアーム部32において弾性変形する。この状態で、テスターから取付体20のランド24を介して、所定のプローブ22に通電され、所定のプローブ22から電気信号がテスターの電気回路に返される。
電気的接続装置10においては、墨角プローブ22a及び近傍プローブ22bのアーム部32がそれぞれ他のプローブ22c及び22dのアーム部32と干渉しない。その結果、各プローブ22が横方向へ伸びるアーム部32を有するにもかかわらず、1つの集積回路の電極数と同数のプローブ22をその集積回路に対応する大きさのプローブ配置領域26内に配置することができる。
電気的接続装置10においては、また、プローブ22が矩形の隅角部及びその近傍にも配置されるから、電極14が矩形の隅角部及びその近傍にも配置された被検査体12の試験にも用いることができる。
電気的接続装置10においては、さらに、プローブ22の横方向長さ寸法を小さくすることができる。
墨角プローブ22a及び近傍プローブ22bのアーム部32は、上記実施例では、それぞれ、他のプローブ22d及び22cのアーム部32の上側を横方向に伸びているが、他のプローブ22d及び22cのアーム部32の下側を横方向に伸びていてもよい。
また、図示の例では、墨角プローブ22a及び近傍プローブ22bの両者を備えているが、それらの一方のみを備えていてもよい。
さらに、各プローブ22の針先36を矩形の辺と平行の仮想直線上に位置させる代わりに、アーム部32が少なくとも1つの他のプローブ22のアーム部32を横切る方向へ伸びている少なくとも1つのプローブ22を備えていてもよい。
さらにまた、ブレードタイプのプローブを用いる代わりに、導電性金属細線を用いたニードルタイプのプローブを用いてもよい。
本発明は、上記実施例に限定されず、特許請求の範囲に記載の趣旨を逸脱しない限り、種々に変更することができる。
本発明に係る電気的接続装置の一実施例を示す底面図である。 図1示す電気的接続装置を図1における矢印2方向から見た斜視図である。 図1示す電気的接続装置を図1における矢印3方向から見た図である。 図1示す電気的接続装置を図1における矢印4方向から見た図である。 図1示す電気的接続装置で用いるプローブの一実施例を示す図である。
符号の説明
10 電気的接続装置
12 被検査体
14 パッド電極
20 プローブ取付体
22 プローブ
22a 墨角プローブ
22b 近傍プローブ
22c,22d 他のプローブ
24 取付ランド
26 プローブ配置領域
30 取付部
32 アーム部
34 伸長部
36 針先
40 座部
42 延長部
44 長穴

Claims (12)

  1. 板状又はシート状のプローブ取付体であって少なくとも1つのプローブ配置領域を一方の面に有しかつ前記プローブ配置領域内に複数のランドを有するプローブ取付体と、平面的に見て前記プローブ配置領域内に位置された複数のプローブとを含み、
    各プローブは、前記ランドから前記プローブ配置領域と交差する縦方向に伸びる取付部であってこれの一端部において前記ランドに取り付けられた取付部と、該取付部の他端部から横方向へ伸びるアーム部と、該アーム部の先端部から前記取付部の側と反対側に伸びる伸長部と、該伸長部の先端側に設けられた針先とを有し、
    少なくとも1つのプローブの前記アーム部は、少なくとも1つの他のプローブの前記アーム部から前記他のプローブの前記取付部の側又は前記伸長部の側に間隔をおいて前記他のプローブの前記アーム部を横切る方向へ伸びている、電気的接続装置。
  2. 前記少なくとも1つのプローブの前記アーム部から前記針先の先端までの長さ寸法と前記他のプローブの対応する箇所の長さ寸法とは、前記縦方向における少なくとも前記アーム部の寸法分以上異なる、請求項1に記載の電気的接続装置。
  3. 前記少なくとも1つのプローブの前記取付部から前記アーム部の先端までの長さ寸法と前記他のプローブの対応する箇所の長さ寸法とは、前記第1の方向における少なくとも前記アーム部の寸法分異なる、請求項1又は2に記載の電気的接続装置。
  4. 前記少なくとも1つのプローブは複数のプローブを含み、それらの前記針先は仮想直線上に該仮想直線の方向に間隔をおいて配置されている、請求項1又は2に記載の電気的接続装置。
  5. 前記プローブ配置領域は矩形の領域であり、前記少なくとも1つのプローブの前記針先は前記矩形の隣り合う2つの辺が交差する隅角部又はその近傍に位置されている、請求項1に記載の電気的接続装置。
  6. 前記少なくとも1つのプローブは、前記隣り合う2つの辺が交差する隅角部に前記針先が位置された隅角プローブを含む、請求項5に記載の電気的接続装置。
  7. 前記少なくとも1つのプローブは、前記隣り合う2つの辺が交差する隅角部の近傍に前記針先が位置された少なくとも1つの近傍プローブを含む、請求項5に記載の電気的接続装置。
  8. 前記少なくとも1つのプローブは、前記隣り合う2つの辺が交差する隅角部に前記針先が位置された隅角プローブと、前記針先が前記隅角部の近傍に位置された少なくとも1つの近傍プローブとを含む、請求項5に記載の電気的接続装置。
  9. 前記複数のプローブは、前記針先が前記隣り合う2つの辺の一方と平行の第1の仮想直線に整列された第1のグループに属するプローブと、前記針先が前記隣り合う2つの辺の他方と平行の第2の仮想直線に整列された第2のグループに属するプローブとに分けられており、
    前記墨角プローブの前記アーム部は前記1の仮想直線と交差する方向に伸びており、
    前記近傍プローブの前記アーム部は前記1の仮想直線の方向に伸びており、
    前記第1のグループに属するプローブのうち、前記他のプローブの前記アーム部は前記1の仮想直線と交差する方向に伸びており、
    前記第2のグループに属するプローブのうち、前記他のプローブの前記アーム部は前記2の仮想直線と交差する方向に伸びている、請求項9に記載の電気的接続装置。
  10. 各プローブは板の形状を有する、請求項1に記載の電気的接続装置。
  11. 各プローブの前記取付部並びに前記アーム及び伸長部は同じ平面内を伸びている、請求項1に記載の電気的接続装置。
  12. 板状又はシート状のプローブ取付体であって矩形をした少なくとも1つのプローブ配置領域を一方の面に有しかつ前記プローブ配置領域内に複数のランドを有するプローブ取付体と、平面的に見て前記プローブ配置領域内に位置された複数のプローブとを含み、
    各プローブは、前記ランドから前記プローブ配置領域と交差する縦方向に伸びる取付部であってこれの一端部において前記ランドに取り付けられた取付部と、該取付部の他端部から横方向へ伸びるアーム部と、該伸長部の先端部から前記取付部の側と反対側に伸びる伸長部と、該伸長部の先端側に設けられた針先とを有し、
    前記矩形の隣り合う2つの辺が交差する隅角部又はその近傍に前記針先が位置する少なくとも1つの隅角部プローブの前記アーム部は、少なくとも1つの他のプローブの前記アーム部から前記他のプローブの前記取付部の側又は前記伸長部の側に間隔をおいて前記他のプローブの前記アーム部を横切る方向へ伸びており、
    前記少なくとも1つのプローブの前記アーム部から前記針先の先端までの長さ寸法又は前記少なくとも1つのプローブの前記取付部から前記アーム部の先端までの長さ寸法と、前記他のプローブの対応する箇所の長さ寸法とは、前記縦方向における少なくとも前記第1の領域の寸法分以上異なる、電気的接続装置。
JP2007191638A 2007-07-24 2007-07-24 電気的接続装置 Pending JP2009025267A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007191638A JP2009025267A (ja) 2007-07-24 2007-07-24 電気的接続装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007191638A JP2009025267A (ja) 2007-07-24 2007-07-24 電気的接続装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009025267A true JP2009025267A (ja) 2009-02-05

Family

ID=40397194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007191638A Pending JP2009025267A (ja) 2007-07-24 2007-07-24 電気的接続装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009025267A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200115219A (ko) * 2019-03-29 2020-10-07 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 프로브 카드

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296297A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Isao Kimoto 接触子組立体
JP2003057264A (ja) * 2001-08-13 2003-02-26 Micronics Japan Co Ltd 接触子及びプローブカード
JP2005203606A (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
JP2007086044A (ja) * 2005-09-19 2007-04-05 Isao Kimoto プローバ装置及びこれに用いるプローブ組立体

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296297A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Isao Kimoto 接触子組立体
JP2003057264A (ja) * 2001-08-13 2003-02-26 Micronics Japan Co Ltd 接触子及びプローブカード
JP2005203606A (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
JP2007086044A (ja) * 2005-09-19 2007-04-05 Isao Kimoto プローバ装置及びこれに用いるプローブ組立体

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200115219A (ko) * 2019-03-29 2020-10-07 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 프로브 카드
KR102182216B1 (ko) 2019-03-29 2020-11-24 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 프로브 카드

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4583766B2 (ja) 接触子及び電気的接続装置
KR100329293B1 (ko) 프로브 카드
US7791364B2 (en) Electronic device probe card with improved probe grouping
JP4434371B2 (ja) プローブユニット及びプローブカード
JP5096825B2 (ja) プローブ及び電気的接続装置
JPH10185954A (ja) 検査用ヘッド
JP4455940B2 (ja) 電気的接続装置
JP4060984B2 (ja) プローブカード
US20010016437A1 (en) Electrical connection apparatus
US7559773B2 (en) Electrical connecting apparatus
JP2009025267A (ja) 電気的接続装置
JP2003035725A (ja) 電気的接続装置
KR100543191B1 (ko) 프로브 가이드 조립체
JP2001165956A (ja) プローブシート組立体及びプローブカード
JP4471424B2 (ja) プローブカード
JP4060985B2 (ja) プローブカード
KR200340108Y1 (ko) 프로브 가이드 조립체
JP4306911B2 (ja) 電気的接続装置
JP2006003252A (ja) 電気的接続装置
JP4778164B2 (ja) 接触子及びプローブカード
JP2001033486A (ja) プローブユニット及びプローブカード
JP2005037229A (ja) 電気的接続装置
KR101106607B1 (ko) 반도체 장치의 시험 장치
JP4074677B2 (ja) 検査用ヘッド
JP2001021585A (ja) プローブカード

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100709

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120110

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120221

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20120221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120911

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130205