CN217443396U - 一种oled老化测试夹具 - Google Patents
一种oled老化测试夹具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN217443396U CN217443396U CN202220356917.5U CN202220356917U CN217443396U CN 217443396 U CN217443396 U CN 217443396U CN 202220356917 U CN202220356917 U CN 202220356917U CN 217443396 U CN217443396 U CN 217443396U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- oled
- probe
- module
- hole
- cover plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02B—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
- Y02B20/00—Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
- Y02B20/30—Semiconductor lamps, e.g. solid state lamps [SSL] light emitting diodes [LED] or organic LED [OLED]
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型提出了一种OLED老化测试夹具,包括电路板、模组、探针和盖板,所述模组放置于电路板上,所述模组设置有多个阶梯槽,所述阶梯槽包括工位槽和探针槽,所述工位槽用于放置OLED产品,所述探针槽中放置有一组探针;所述探针一端连接所述电路板,另一端用于连接所述OLED产品;所述盖板与所述模组可拆卸地连接,以将所述OLED产品固定于所述模组中。本实用新型提出的一种OLED老化测试夹具,通过在所述模组设置多个用于放置OLED产品的工位槽,所述盖板与所述模组连接,将所述OLED产品固定于所述模组中,该夹具可以同时实现多个OLED产品的老化测试,且通过盖板对多个OLED产品进行固定,结构更加小巧紧凑,且实现了OLED产品的批量化测试,提高了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子显示器件测试设备技术领域,特别涉及一种OLED老化测试夹具。
背景技术
OLED(Organic Light-Emitting Diode)又称有机发光半导体,是一种电流型的有机发光器件。OLED显示屏具有轻薄、亮度高、功耗低、响应快、清晰度高、柔性好、发光效率高等优点,能满足消费者对显示技术的新需求。
为提高产品的出厂良率并降低产品在使用中的故障率,在OLED生产的终端环节会进行一些可靠性试验。其中长时间点亮OLED进行老化试验是其中一个环节。此环节具有同一时间待测试产品数量多及老化时间长等特点。
实用新型内容
本实用新型申请人发现:现有的OLED老化测试夹具一般为扳手式垂直夹钳压紧结构,这种结构体积较大,且不能实现批量化测试,测试的效率较低。鉴于上述问题,有必要提出一种OLED老化测试夹具以解决或部分解决上述问题,本实用新型提出的技术方案如下:
本实用新型提出了一种OLED老化测试夹具,包括电路板、模组、探针和盖板,其中:
所述模组放置于电路板上,所述模组设置有多个阶梯槽,所述阶梯槽包括工位槽和探针槽,所述工位槽用于放置OLED产品,所述探针槽中放置有一组探针;
所述探针一端连接所述电路板,另一端用于连接所述OLED产品;
所述盖板与所述模组可拆卸地连接,以将所述OLED产品固定于所述模组中。
进一步的,所述工位槽中开有多个阶梯孔,所述阶梯孔中间部位的直径大于两端部位的直径;
所述探针放置于所述阶梯孔中,所述探针的形状与所述阶梯孔相对应。
进一步的,所述探针采用高频双头测试探针,所述探针中部设置有弹簧伸缩结构,以使得所述探针的两端能伸缩。
进一步的,所述工位槽的尺寸大于所述OLED产品的外形尺寸。
进一步的,所述工位槽的侧壁设置有第一缺口,所述探针槽的侧壁设置有第二缺口。
进一步的,所述模组包括自上而下依次放置的上层板、中层板和下层板,所述上层板上设置有第一通孔,所述中层板上设置有第二通孔,所述下层板设置有第三通孔,所述第二通孔的直径大于所述第一通孔和第三通孔的直径,所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔形成所述阶梯孔,所述工位槽贯穿于所述上层板、中层板和下层板。
进一步的,所述上层板设置有至少两个第一卡槽,所述盖板的侧面设置有与所述第一卡槽对应的挂钩,所述盖板与所述模组装配为一体时所述挂钩与所述第一卡槽配合,以使得所述OLED产品固定于所述模组中。
进一步的,所述模组还包括中框,所述中框设置于所述上层板上方,所述中框设置有至少两个第二卡槽,所述盖板的侧面设置有与所述第二卡槽对应的挂钩,所述盖板与所述模组装配为一体时所述挂钩与所述第二卡槽配合。
进一步的,所述挂钩与所述盖板通过销轴连接,所述挂钩与所述盖板之间还设置有弹簧。
进一步的,所述盖板设置有凸起,所述盖板与所述模组装配为一体时,所述凸起穿过所述中框的容纳空间且抵压所述OLED产品。
进一步的,所述凸起采用非导电树脂材料。
进一步的,所述盖板上设置有与所述工位槽对应的观察窗。
基于上述技术方案,本实用新型较现有技术而言的有益效果为:
本实用新型提出了一种OLED老化测试夹具,通过在所述模组设置多个用于放置OLED产品的工位槽,所述盖板与所述模组连接,将所述OLED产品固定于所述模组中,该夹具可以同时实现多个OLED产品的老化测试,且通过盖板对多个OLED产品进行固定,结构更加小巧紧凑,且实现了OLED产品的批量化测试,提高了测试效率。
附图说明
图1是本实用新型实施例中,OLED老化测试夹具的结构示意图;
图2是本实用新型实施例中,OLED老化测试夹具去掉盖板的结构示意图;
图3是本实用新型实施例中,盖板和挂钩的结构示意图;
图4是本实用新型实施例中,探针的结构示意图;
图5是本实用新型实施例中,盖板和挂钩的局部视图的剖视图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
本实用新型实施例提出了一种OLED老化测试夹具,参照图1-图5所示,包括电路板1、模组2、探针3和盖板4,其中:
所述模组2放置于电路板1上且与所述电路板1连接,所述模组2设置有多个阶梯槽21,所述阶梯槽21包括工位槽211和探针槽212,所述工位槽211用于放置OLED产品,所述探针槽212中放置有一组探针3;
所述探针3一端连接所述电路板1,另一端用于连接所述OLED产品;
所述盖板4与所述模组2连接,以将所述OLED产品固定于所述模组2中。
具体的,本实施例中,根据OLED产品的外形尺寸设计了一款3×3布局的9宫格夹具,工位槽211有9个,通过探针3连接所述电路板1和所述OLED产品,以形成测试线路,盖板4将所述OLED产品固定于所述模组2中,可进行老化测试。工位槽211还可以按2×3或者4×4的宫格布置。当然,工位槽211的数量和放置方式不限于本实施例中显示的一种,可以根据实际的OLED产品尺寸和测效率需求进行设置。
本实用新型实施例提出的OLED老化测试夹具,通过在所述模组2设置多个用于放置OLED产品的工位槽211,所述盖板4与所述模组2连接,将所述OLED产品固定于所述模组2中,该夹具可以同时实现多个OLED产品的老化测试,且通过盖板4对多个OLED产品进行固定,结构更加小巧紧凑,且实现了OLED产品的批量化测试,提高了测试效率。
在一个具体实施例中,所述工位槽211中开有多个阶梯孔,所述阶梯孔中间部位的直径大于两端部位的直径;所述探针3放置于所述阶梯孔中,所述探针3为阶梯状,中间部位的直径大于两端的直径,所述探针3中间部位的直径等于所述阶梯孔中间部位的直径,以避免所述探针3从所述阶梯孔中脱出。具体的,所述阶梯孔中间部位的直径设置为0.5-0.6mm,两端部位的直径设置为0.3-0.5mm;探针3中间部位的直径为0.4-0.6mm,两端的直径为0.2-0.4mm,如此设置,探针3中间部分卡在阶梯孔的中间部位中,探针3不会从阶梯孔中脱出,提高了夹具的可靠性。
在一个具体实施例中,如图4所示,所述探针3采用高频双头测试探针,所述探针3中部设置有弹簧伸缩结构31,以使得所述探针3的两端能伸缩。通过设置探针3的两端均具有伸缩性,探针3一端连接电路板1,另一端连接OLED产品,工作中探针的两端同时压缩,可以避免因平面度等客观原因导致的接触不良,大大提高了夹具使用的稳定性。
在一个具体实施例中,所述工位槽211的尺寸比所述OLED产品的外形尺寸大0.05~0.18mm。如此设置,可以避免产品卡在槽中,且不会因产品与工位槽211之间的间隙过大而导致OLED产品上的测试点与探针3错位,方便了OLED产品的取放,且提高了夹具的稳定性。
在一个具体实施例中,所述工位槽211的侧壁设置有第一缺口2111,所述探针槽212的侧壁设置有第二缺口2121。具体的,如图2所示,通过在工位槽211的侧壁设置第一缺口2111,在所述探针槽212的侧壁设置第二缺口2121,取放OLED产品时,有很好的的空间去进行操作,且可以调整OLED产品的平整度。选优的,相邻两个阶梯槽21的第一缺口2111和第二缺口2121可以设置于同一条直线上,便于模组2的开模,可以减低成本。
在一个具体实施例中,所述模组2包括自上而下依次放置的上层板22、中层板23和下层板24,所述上层板22上设置有第一通孔,所述中层板23上设置有第二通孔,所述下层板24设置有第三通孔,所述第二通孔的直径大于所述第一通孔和第三通孔的直径,所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔形成所述阶梯孔,所述第二通孔的直径等于所述探针3中间部位的直径,所述工位槽211贯穿于所述上层板22、中层板23和下层板24。具体的,所述第二通孔的直径设置为0.5-0.6mm,所述第一通孔和第三通孔的直径设置为0.3-0.5mm,探针3中间部位的直径为0.4-0.6mm,两端的直径为0.2-0.4mm,探针3中间部位嵌入所述中层板23的第二通孔中,由于第一通孔和第三通孔的直径小于探针3中间部位的直径,上层板22和下层板24使得探针3中间部位不能从第二通孔中脱出。
在一个具体实施例中,所述上层板22设置有至少两个第一卡槽(图中未示出),所述盖板4的侧面设置有与所述第一卡槽对应的挂钩5,所述盖板4与所述模组2装配为一体时所述挂钩5与所述第一卡槽配合,以使得所述OLED产品固定于所述模组2中。
当然,模组2与盖板4之间的连接方式还可以是螺钉连接、铰链连接等方式,不限于上面所述的方式,只要能实现模组2与盖板4之间的活动连接即可。
在另一个具体实施例中,所述模组2还包括中框25,所述中框25设置于所述上层板22上方,所述中框25设置有至少两个第二卡槽251,所述盖板4的侧面设置有与所述第二卡槽251对应的挂钩5,所述盖板4与所述模组2装配为一体时所述挂钩5与所述第二卡槽251配合。具体的,如图2所示,中框25设置于上层板22上且与上层板22连接,中框25有两个边的边长比所述上层板22对应边的边长大,第二卡槽251设置于中框25的另外两个边上,这样设置可以是的上层板22与中层板23、下层板24的外形尺寸保持一致,可以降低成本,且可以较容易地保证第三通孔与第一通孔、第二通孔的同轴性,便于探针3放置于模组2中。
在进一步的实施例中,如图5所示,所述挂钩5与所述盖板4通过销轴6连接,所述挂钩5与所述盖板4之间还设置有弹簧7,所述弹簧7用于在挂钩5与所述第一卡槽或第二卡槽251配合时顶住所述挂钩5。具体的,用手夹住两个挂钩5的上端,弹簧7压缩,挂钩5张开,将盖板4扣在模组2上,手松开时,弹簧7伸长,弹簧7的顶出力将挂钩5紧紧挂在第一卡槽或第二卡槽251上,使用弹簧7可以较为便利的进行盖板4的拆装,且固定较为牢靠。
在一个具体实施例中,所述盖板4上设置有与所述工位槽211对应的观察窗41。如图3所示,通过在盖板4上设置观察窗41,可以实时观测OLED产品的显示情况,可以更准确的记录OLED产品在老化过程中的状态数据,能够大大提高测试结果的准确性,从而提高产品的出厂良率。
在一个具体实施例中,所述盖板4设置有凸起42,所述盖板4与所述模组2装配为一体时,所述凸起42穿过所述中框25的容纳空间且抵压所述OLED产品。如图3所示,通过凸起42抵压OLED产品,所述盖板4与所述模组2连接装配为一体,实现OLED产品的固定,避免因OLED产品在测试过程中移动导致的接触不良,提高夹稳定性。
在一个具体实施例中,所述凸起42采用非导电树脂材料。采用非导电树脂材料,一方面可以实现绝缘,另一方面可以防止材质太硬对产品有损伤。
在上述的详细描述中,各种特征一起组合在单个的实施方案中,以简化本公开。不应该将这种公开方法解释为反映了这样的意图,即,所要求保护的主题的实施方案需要清楚地在每个权利要求中所陈述的特征更多的特征。相反,如所附的权利要求书所反映的那样,本实用新型处于比所公开的单个实施方案的全部特征少的状态。因此,所附的权利要求书特此清楚地被并入详细描述中,其中每项权利要求独自作为本实用新型单独的优选实施方案。
上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然,为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的,但是本领域普通技术人员应该认识到,各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此,本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外,就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”,该词的涵盖方式级似于术语“包括”,就如同“包括,”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外,使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或者”是要表示“非排它性的或者”。
Claims (12)
1.一种OLED老化测试夹具,其特征在于,包括电路板、模组、探针和盖板,其中:
所述模组放置于电路板上,所述模组设置有多个阶梯槽,所述阶梯槽包括工位槽和探针槽,所述工位槽用于放置OLED产品,所述探针槽中放置有一组探针;
所述探针一端连接所述电路板,另一端用于连接所述OLED产品;
所述盖板与所述模组可拆卸地连接,以将所述OLED产品固定于所述模组中。
2.如权利要求1所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述工位槽中开有多个阶梯孔,所述阶梯孔中间部位的直径大于两端部位的直径;
所述探针放置于所述阶梯孔中,所述探针的形状与所述阶梯孔相对应。
3.如权利要求2所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述探针采用高频双头测试探针,所述探针中部设置有弹簧伸缩结构,以使得所述探针的两端能伸缩。
4.如权利要求3所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述工位槽的尺寸大于所述OLED产品的外形尺寸。
5.如权利要求4所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述工位槽的侧壁设置有第一缺口,所述探针槽的侧壁设置有第二缺口。
6.如权利要求5所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述模组包括自上而下依次放置的上层板、中层板和下层板,所述上层板上设置有第一通孔,所述中层板上设置有第二通孔,所述下层板设置有第三通孔,所述第二通孔的直径大于所述第一通孔和第三通孔的直径,所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔形成所述阶梯孔,所述工位槽贯穿于所述上层板、中层板和下层板。
7.如权利要求6所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述上层板设置有至少两个第一卡槽,所述盖板的侧面设置有与所述第一卡槽对应的挂钩,所述盖板与所述模组装配为一体时所述挂钩与所述第一卡槽配合,以使得所述OLED产品固定于所述模组中。
8.如权利要求6所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述模组还包括中框,所述中框设置于所述上层板上方,所述中框设置有至少两个第二卡槽,所述盖板的侧面设置有与所述第二卡槽对应的挂钩,所述盖板与所述模组装配为一体时所述挂钩与所述第二卡槽配合。
9.如权利要求8所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述挂钩与所述盖板通过销轴连接,所述挂钩与所述盖板之间还设置有弹簧。
10.如权利要求9所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述盖板设置有凸起,所述盖板与所述模组装配为一体时,所述凸起穿过所述中框的容纳空间且抵压所述OLED产品。
11.如权利要求10所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述凸起采用非导电树脂材料。
12.如权利要求1-8任一所述的OLED老化测试夹具,其特征在于,所述盖板上设置有与所述工位槽对应的观察窗。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202220356917.5U CN217443396U (zh) | 2022-02-22 | 2022-02-22 | 一种oled老化测试夹具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202220356917.5U CN217443396U (zh) | 2022-02-22 | 2022-02-22 | 一种oled老化测试夹具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN217443396U true CN217443396U (zh) | 2022-09-16 |
Family
ID=83212639
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202220356917.5U Active CN217443396U (zh) | 2022-02-22 | 2022-02-22 | 一种oled老化测试夹具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN217443396U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115674065A (zh) * | 2023-01-05 | 2023-02-03 | 拓荆科技(上海)有限公司 | 一种半导体设备腔体盖板对中工装及对中方法 |
CN116338358A (zh) * | 2023-03-29 | 2023-06-27 | 无锡美科微电子技术有限公司 | 一种显示模组高低温老化测试方法及设备 |
-
2022
- 2022-02-22 CN CN202220356917.5U patent/CN217443396U/zh active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115674065A (zh) * | 2023-01-05 | 2023-02-03 | 拓荆科技(上海)有限公司 | 一种半导体设备腔体盖板对中工装及对中方法 |
CN116338358A (zh) * | 2023-03-29 | 2023-06-27 | 无锡美科微电子技术有限公司 | 一种显示模组高低温老化测试方法及设备 |
CN116338358B (zh) * | 2023-03-29 | 2024-06-04 | 无锡美科微电子技术有限公司 | 一种显示模组高低温老化测试方法及设备 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN217443396U (zh) | 一种oled老化测试夹具 | |
US20080076297A1 (en) | Interface apparatus for electronic device test apparatus | |
CN217820702U (zh) | 一种接触稳定的芯片老化测试座 | |
CN213633714U (zh) | 一种用于柔性线路板的射频测试探针模块 | |
CN218995427U (zh) | 一种无人机电路板贴片处理触压式通电调试装置 | |
CN218036996U (zh) | 一种用于大电流芯片的开尔文测试座 | |
KR20140112658A (ko) | 반도체 디바이스 테스트 장치 | |
CN211785921U (zh) | 一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备 | |
CN201392349Y (zh) | 贴片式电阻老化试验夹具 | |
CN213813710U (zh) | Pcb射频信号同轴测试探针及自动对位夹具 | |
CN209878823U (zh) | 一种自动紧锁式bga老化测试装置 | |
CN220381177U (zh) | 一种便于定位的耐压测试装置 | |
CN218272423U (zh) | 一种电源测试治具 | |
CN219533243U (zh) | 一种环形元器件测试基座 | |
CN213069053U (zh) | 一种弹片端子测试工装 | |
CN213813708U (zh) | 一种用于测试治具的整体冲压成型弹片探针 | |
CN215340192U (zh) | 集成电路批量测试底座 | |
CN220584672U (zh) | 一种浮动拔插机构及测试设备 | |
CN210155461U (zh) | 一种液晶模组测试夹 | |
CN220525947U (zh) | 一种电池组保护板测试治具 | |
CN219695199U (zh) | 一种芯片测试装置 | |
CN219532716U (zh) | 一种用于模压表贴元器件机械试验的治具 | |
CN214624442U (zh) | Sop多site存储芯片测试插座 | |
CN218866037U (zh) | 一种测试治具及测试模组 | |
CN213210431U (zh) | 一种连扳排线测试装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |