KR20220060011A - Pcb 커넥터용 납땜 검사장치 - Google Patents

Pcb 커넥터용 납땜 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20220060011A
KR20220060011A KR1020200144425A KR20200144425A KR20220060011A KR 20220060011 A KR20220060011 A KR 20220060011A KR 1020200144425 A KR1020200144425 A KR 1020200144425A KR 20200144425 A KR20200144425 A KR 20200144425A KR 20220060011 A KR20220060011 A KR 20220060011A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
connector
soldering
pcb
lower body
circuit pattern
Prior art date
Application number
KR1020200144425A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102474867B1 (ko
Inventor
강호욱
Original Assignee
주식회사 디에이치솔루션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 디에이치솔루션 filed Critical 주식회사 디에이치솔루션
Priority to KR1020200144425A priority Critical patent/KR102474867B1/ko
Publication of KR20220060011A publication Critical patent/KR20220060011A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102474867B1 publication Critical patent/KR102474867B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2812—Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G01R13/0281—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form using electro-optic elements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2853—Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

본 발명은 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 관한 것으로서, 특히 휴대가 가능하여 시간적, 공간적 제약없이 TV 백라이트로 사용되는 PCB 기판의 커넥터 납땜 불량을 검사할 수 있으며, LED TV의 인치별로 다른 연결구조를 가지는 커넥터도 검사할 수 있도록, 회로패턴이 형성되고 상기 회로패턴을 따라 전원이 인가되도록 커넥터가 구비되며 상기 회로패턴과 커넥터의 각 단자가 연결되어 납땜된 복수 개의 납땜부가 일단 측에 형성된 PCB 기판이 상측에 놓여지고, 커넥터와 결합되어 커넥터를 통해 PCB 기판에 전원을 인가하는 소켓이 구비된 하부몸체; 상기 하부몸체의 상측에 마련되고 사용자의 조작에 의해 상하방향으로 이동하며 하방으로 이동시 복수 개의 납땜부에 각각 접하는 복수 개의 프로브를 포함하는 프로브모듈이 구비된 상부몸체;를 포함하되, 상기 하부몸체는, PCB 기판에 전원이 인가된 상태에서 복수 개의 프로브가 이에 대응되는 납땜부에 접할 시 폐회로가 형성될 수 있도록 상기 회로패턴과 커넥터의 각 단자가 연결된 타입에 따라 사용자가 조작하는 스위치가 구비되어, 상기 폐회로의 형성 여부에 따라 납땜부의 불량 여부를 판별할 수 있는 것을 특징으로 하는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 관한 것이다.

Description

PCB 커넥터용 납땜 검사장치{Apparatus for testing soldering of PCB connector}
본 발명은 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 관한 것으로서, 특히 TV 백라이트로 사용되는 PCB의 커넥터 납땜 불량을 검사할 수 있는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 관한 것이다.
고휘도 특성 및 긴 수명 특성을 갖는 LED 광원을 백라이트로 이용한 LED TV의 기술 개발이 진행되고 있다. LED TV에 LED 광원을 백라이트로 사용하기 위해서는 LED 바(LED bar)가 널리 사용되고 있는데, LED 바는 바(bar) 형상을 갖는 PCB 기판(인쇄 회로 기판)에 구비된 LED 및 PCB 기판에 구비된 각 LED들에 외부 전원을 제공하기 위한 커넥터를 포함한다.
LED 바는 제조 후 커넥터가 제대로 납땜이 되었는지 확인하는 과정을 거치며, 이를 위해 커넥터의 납땜 상태를 전용으로 테스트 하는 장치가 사용된다. 이러한 커넥터 테스트 장치는, PCB 기판을 한번에 여러 장 검사할 수 있게끔 제작되는데, 해당 장치의 제작 단가가 비싸고 별도의 설치 공간을 필요로 한다.
또한, LED 바는 LED TV의 인치(inch)에 따라 PCB 기판에 형성된 회로패턴과 커넥터 단자가 연결되는 구조가 상이한바, 인치별로 테스트 신호가 입력되는 프로브가 장착되는 핀 블럭(pin block)을 각각 제작하여야 하고, 인치가 달라질 시 해당 핀 블럭으로 교체하여야 하는 불편이 따른다.
1. 대한민국 등록특허 제10-0785309호 '에프피씨비 검사지그'
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서 휴대가 가능하여 시간적, 공간적 제약없이 TV 백라이트로 사용되는 PCB 기판의 커넥터 납땜 불량을 검사할 수 있으며, LED TV의 인치별로 다른 연결구조를 가지는 커넥터도 검사할 수 있는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치를 제공함에 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치는, 회로패턴이 형성되고 회로패턴을 따라 전원이 인가되도록 커넥터가 구비되며 회로패턴과 커넥터의 각 단자가 연결되어 납땜된 복수 개의 납땜부가 일단 측에 형성된 PCB 기판이 상측에 놓여지고, 커넥터와 결합되어 커넥터를 통해 PCB 기판에 전원을 인가하는 소켓이 구비된 하부몸체; 상기 하부몸체의 상측에 마련되고 사용자의 조작에 의해 상하방향으로 이동하며 하방으로 이동시 복수 개의 납땜부에 각각 접하는 복수 개의 프로브를 포함하는 프로브모듈이 구비된 상부몸체;를 포함하되, 상기 하부몸체는, PCB 기판에 전원이 인가된 상태에서 복수 개의 프로브가 이에 대응되는 납땜부에 접할 시 폐회로가 형성될 수 있도록 회로패턴과 커넥터의 각 단자가 연결된 타입에 따라 사용자가 조작하는 스위치가 구비되어, 상기 폐회로의 형성 여부에 따라 납땜부의 불량 여부를 판별할 수 있다.
또한, 상기 하부몸체는, 전원을 공급하는 배터리와, 신호음을 발생시키는 부저가 구비되되, 상기 복수 개의 프로브가 이에 대응되는 납땜부에 접하여 형성되는 폐회로는, 배터리와 부저에 전류가 흐르게끔 구성되어, 상기 부저가 울리지 않으면 납땜부가 불량으로 판별될 수 있다.
또한, 상기 하부몸체의 상면에는, 일단으로부터 소켓이 구비된 지점을 향해 PCB 기판의 폭과 대응되는 폭을 가지는 가이드홈이 함입형성되며, 상기 가이드홈을 따라 진입되어 소켓과 결합되는 PCB 기판 중 커넥터 하측 부분의 상면 가장자리를 덮는 가이드턱이 형성될 수 있다.
또한, 상기 상부몸체는, 상면을 관통하도록 구비되어 탄성적으로 가압될 수 있는 누름구가 구비되되, 상기 프로브모듈은, 누름구를 사용자가 가압시 하방으로 이동되어 복수 개의 프로브가 이에 대응되는 납땜부에 접할 수 있다.
또한, 상기 스위치는 온(On)/오프(Off)로 조작되며 복수 개가 구비되고, 상기 상부몸체 또는 하부몸체에는 상기 회로패턴과 커넥터의 각 단자가 연결된 타입에 따라 복수 개의 스위치 각각을 온(On) 또는 오프(Off) 할지를 사용자에게 알려주는 표시부가 구비될 수 있다.
본 발명에 따르면, 사용자가 휴대하고 다니면서 커넥터 납땜 불량 검사가 필요한 장소에서 검사하고자 하는 PCB 기판을 하부몸체에 놓고 프로브모듈을 하방으로 이동시켜 복수 개의 프로브가 이에 대응되는 PCB 기판 상의 납땜부에 접하도록 하여, 폐회로가 형성되는지 여부에 따라 커넥터가 PCB 기판에 제대로 납땜이 이루어져 연결되었는지 확인이 가능한바, 공간적 제약없이 TV 백라이트로 사용되는 PCB 기판의 커넥터 납땜 불량을 검사할 수 있다.
또한, 스위치 조작을 통해 PCB 기판을 검사하기에 적합한 폐회로가 형성될 수 있도록 할 수 있는바, LED TV의 인치별로 사용되는 PCB 기판 각각을 검사하기 위한 장치를 마련하지 않아도 되므로, 비용절감과 검사효율을 증대시킬 수 있다.
도 1은 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치의 구조를 보여주는 정사시도,
도 2는 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치의 구조를 보여주는 배면사시도,
도 3은 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 의해 검사되는 PCB 기판의 구조를 보여주는 평면도,
도 4는 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 PCB 기판이 진입되는 상태를 보여주는 예시도,
도 5는 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 PCB 기판이 진입되어 하부몸체의 상측에 놓인 상태를 보여주는 예시도,
도 6은 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 적용되는 소켓과 커넥터가 결합된 상태로 PCB 기판이 하부몸체에 놓여진 상태를 보여주는 부분확대도,
도 7 및 도 8은 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 적용되는 프로브모듈이 동작하여 납땜부와 접하게 되는 과정을 보여주는 단면도,
도 9는 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 적용되는 구성 간의 전기적 연결상태를 보여주는 회로도,
도 10 및 도 11은 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치에 적용되는 스위치가 표시부에 따라 조작된 상태를 보여주는 예시도.
본 발명에서는 휴대가 가능하여 시간적, 공간적 제약없이 TV 백라이트로 사용되는 PCB 기판의 커넥터 납땜 불량을 검사할 수 있으며, LED TV의 인치별로 다른 연결구조를 가지는 커넥터도 검사할 수 있도록, 회로패턴이 형성되고 상기 회로패턴을 따라 전원이 인가되도록 커넥터가 구비되며 상기 회로패턴과 커넥터의 각 단자가 연결되어 납땜된 복수 개의 납땜부가 일단 측에 형성된 PCB 기판이 상측에 놓여지고, 커넥터와 결합되어 커넥터를 통해 PCB 기판에 전원을 인가하는 소켓이 구비된 하부몸체; 상기 하부몸체의 상측에 마련되고 사용자의 조작에 의해 상하방향으로 이동하며 하방으로 이동시 복수 개의 납땜부에 각각 접하는 복수 개의 프로브를 포함하는 프로브모듈이 구비된 상부몸체;를 포함하되, 상기 하부몸체는, PCB 기판에 전원이 인가된 상태에서 복수 개의 프로브가 이에 대응되는 납땜부에 접할 시 폐회로가 형성될 수 있도록 상기 회로패턴과 커넥터의 각 단자가 연결된 타입에 따라 사용자가 조작하는 스위치가 구비되어, 상기 폐회로의 형성 여부에 따라 납땜부의 불량 여부를 판별할 수 있는 것을 특징으로 하는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치를 제안한다.
본 발명의 권리범위는 이하에서 설명하는 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 기술분야의 통상적인 지식을 가진자에 의하여 다양하게 변형 실시될 수 있다.
이하, 본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치는 첨부된 도 1 내지 도 11을 참고로 상세하게 설명한다.
본 발명인 PCB 커넥터용 납땜 검사장치는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 검사하고자 하는 PCB 기판(10)이 놓여지는 하부몸체(100)와, 검사를 위한 프로브모듈(210)이 구비된 상부몸체(200)를 포함한다.
본 발명에서의 PCB 기판(10)은, LED TV 백라이트로 사용되는 것으로 소정의 간격으로 복수 개의 LED(14)가 배치된 구조를 이룰 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 일부 도면에서 PCB 기판(10) 상에 설치될 수 있는 LED(14)는 도시를 생략하였다. PCB 기판(10)에는 도 3에 도시된 바와 같이 회로패턴(11)이 형성되어 있으며, 일 예로 LED TV의 인치별로 상이한 회로패턴(11)이 형성될 수 있다. 그리고 PCB 기판(10)에는 일단에 회로패턴(11)을 따라 전원이 인가되도록 하는 커넥터(12)가 구비된다. 이때, 커넥터(12)의 각 단자는 회로패턴(11)에 따라 연결되는 구조가 상이하여 다양한 타입의 연결구조를 이룰 수 있다. 또한, PCB 기판(10)에는 회로패턴(11)과 커넥터(12)의 각 단자가 접점되고 해당 부분이 납땜된 복수 개의 납땜부(13)가 형성되며, 복수 개의 납땜부(13)는 일 예로 PCB 기판(10)의 일단 측에 커넥터(12)와 인접되어 일렬로 형성될 수 있다.
하부몸체(100)는 일 예로, 사각 함체 형태로 형성될 수 있으며, 도 4 내지 도 8에 도시된 바와 같이 상측에 상술한 PCB 기판(10)이 놓여지고, PCB 기판(10)에 구비된 커넥터(12)와 결합되어 커넥터(12)를 통해 PCB 기판(10)에 전원을 인가하는 소켓(110)이 구비된다. 하부몸체(100)는 PCB 기판(10) 전체가 놓여지도록 형성될 수 있으나, 휴대성과 소형화를 고려하였을 때 PCB 기판(10)의 일부가 놓여지도록 형성됨이 바람직하다. 일 예로, 하부몸체(100)는 중앙을 기준으로 일측편 상면에 소켓(110)이 구비되고, 소켓(110)으로부터 일단까지 하부몸체(100)의 길이방향을 따라 PCB 기판(10)의 일부가 놓여지도록 형성될 수 있다.
이때, 하부몸체(100)의 상면에는 일부만이 상측에 놓여진 상태에서도 PCB 기판(10)이 안정적으로 놓여지고 커넥터(12)가 소켓(110)과 견고히 결합된 상태를 이룰 수 있도록, 도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이 가이드홈(130)과 가이드턱(140)이 형성될 수 있다. 가이드홈(130)은 하부몸체(100)의 일단으로부터 소켓(110)이 구비된 지점을 향해 PCB 기판(10)의 폭과 대응되는 폭을 가지도록 하부몸체(100)의 상면이 하방으로 함입됨에 따라 형성될 수 있다. 따라서, 사용자는 도 4에 도시된 바와 같이 가이드홈(130)을 따라 PCB 기판(10)을 진입시켜 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 커넥터(12)가 소켓(110)에 결합되도록 할 수 있다. 가이드턱(140)은 가이드홈(130)을 따라 진입되어 소켓(110)과 결합되는 PCB 기판(10) 중 커넥터(12) 하측 부분의 상면 가장자리를 덮게끔 하부몸체(100)의 상면에 형성된다. 일 예로, 가이드턱(140)은 도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이 하부몸체(100)의 양측 가장자리로부터 가이드홈(130)과 직교하는 하부몸체(100)의 폭방향을 따라 형성될 수 있으며, 가이드턱(140)의 끝단은 소켓(110)과 결합된 커넥터(12)에 이르지 않으면서 커넥터(12) 하측인 PCB 기판(10) 부분을 덮게끔 형성될 수 있다. 따라서, 도 6에 도시된 바와 같이 소켓(100)이 결합된 PCB 기판(10)의 하측 부분은 가이드턱(140)에 의해 양측 가장자리가 걸려 상측으로 들리지 않게 되므로, 커넥터(12)가 소켓(110)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다.
그리고 하부몸체(100)는 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 PCB 기판(10)이 놓여지는 부분을 제외한 나머지 부분의 상면이 하방으로 함입되어 수용공간이 형성될 수 있다. 상기 수용공간에는 소켓(110)과 연결되어 소켓(110)에 결합된 커넥터(12)를 통해 PCB 기판(100)으로 전원을 공급하는 배터리(150)가 구비될 수 있다.
상부몸체(200)는 하부몸체(100)의 상측에 마련되는 것으로, 일 예로 사각 함체 형태로 형성될 수 있으며, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 하부몸체(100)와 동일한 폭을 가지면서 하부몸체(100)보다 길이가 짧게 형성될 수 있다. 이때, 상부몸체(200)는 PCB 기판(10)이 상측에 놓여지는 하부몸체(100)의 부분을 제외한 나머지 부분에 대응되는 길이를 가지도록 형성되어, PCB 기판(10)이 하부몸체(100)의 상면에 놓여지고 납땜부(13)를 육안으로 확인할 수 있도록 함이 바람직하다.
이러한 상부몸체(200)는 하부몸체(100)와 분리되게끔 구성되어 하부몸체(100)의 상측에 결합될 수 있으나, 분리구성시 하부몸체(100)와 상부몸체(200)에 포함되어 전기적으로 동작하는 구성에 대한 상호 연결이 어려우며 분실 및 고장의 우려가 있는바, 도 2에 도시된 바와 같이 하부몸체(100)와 힌지결합됨이 바람직하다. 일 예로, 하부몸체(100)의 타단과, 이와 인접한 상부몸체(200)의 타단은 힌지결합될 수 있다.
이때, 상부몸체(200)의 일단 측 양측면에는 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이 하단부가 하부몸체(100)에 이르도록 형성되고 중앙부가 축결합되어 하단부가 외측으로 회동할 수 있는 걸림구(270)가 구비될 수 있으며, 걸림구(270)의 하단부에는 걸림돌기(271)가 내측을 향해 형성될 수 있다. 그리고 하부몸체(200)의 양측면에는 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이 내측으로 회동된 걸림구(270)의 걸림돌기(271)가 걸리도록 형성된 걸림턱(171)을 포함하면서 걸림구(270)의 하단부가 수용될 수 있도록 내측으로 함입된 걸림홈(170)이 형성될 수 있다. 따라서, 사용자는 걸림구(270)의 상단부를 눌러 걸림구(270)의 하단부를 외측으로 회동시켜 걸림턱(171)에 걸린 걸림돌기(271)의 걸림을 해제함으로써, 상부몸체(200)를 회동시킬 수 있다.
상부몸체(200)는 도 1 및 도 5에 도시된 바와 같이 상하방향으로 이동하며 하방으로 이동시 하부몸체(100)의 상측에 놓인 PCB 기판(10) 상의 복수 개의 납땜부(13)에 각각 접하는 복수 개의 프로브(211)를 포함하는 프로브모듈(210)이 구비되며, 프로브모듈(210)은 상부몸체(200)의 일단으로부터 돌출되게끔 구비될 수 있다. 복수 개의 프로브(211)는 수직을 이루면서 하방으로 이동시 가이드턱(140)과 인접한 가이드홈(130) 부분의 내측에 위치되도록 구비될 수 있으며, 각각 복수 개의 납땜부(13)에 접할 시 전류가 흐르도록 구성된다. 즉, 복수 개의 프로브(211)는 하부몸체(100) 내에 구비되는 배터리(150)와 전선에 의해 연결된다.
이러한 프로브모듈(210)은 사용자의 조작에 의해 이동될 수 있도록 구성된다. 일 예로, 상부몸체(200)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 상면을 관통하도록 구비되어 탄성적으로 가압될 수 있는 누름구(220)가 구비될 수 있으며, 누름구(220)는 프로브모듈(210)과 물리적으로 연동되게끔 구성된다. 구체적으로, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 상부몸체(200)는 내측 하부에 고정된 지지판(240)이 구비될 수 있으며, 지지판(240)의 상측으로 상면에 누름구(220)가 결합되고, 일단이 상부몸체(200)의 외측으로 돌출되고 돌출된 부분에 프로브모듈(210)이 결합되는 이동판(250)이 구비될 수 있다. 이동판(250)은 지지판(240)으로부터 상방으로 구비된 스프링(260)에 의해 탄성적으로 지지된 상태를 이룰 수 있다.
따라서, 도 8에 도시된 바와 같이 사용자가 누름구(220)를 하방으로 가압하면, 누름구(220)와 일체를 이루는 이동판(250)이 지지판(240)을 향해 이동하고, 이동판(250)에 결합된 프로브모듈(210)도 이동판(250)과 함께 하방으로 이동되는바, 복수 개의 프로브(221)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접하게 된다.
상술한 바와 같은 본 발명은, 하부몸체(100)에 놓인 PCB 기판(10)에 전원을 인가하고, 상부몸체(200)에 구비된 프로브모듈(210)이 하방으로 이동하여 복수 개의 프로브(211)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접할 시, PCB 기판(10)과 커넥터(12)의 연결 및 납땜이 정상적으로 이루어진 제품일 경우 폐회로가 형성되고, PCB 기판(10)과 커넥터(12)의 연결 및 납땜이 제대로 이루어지지 않은 제품일 경우 폐회로가 형성되지 않는다.
이때, 본 발명은 복수 개의 프로브(211)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접할 시, 폐회로가 구성되는 여부를 사용자가 손쉽게 판별할 수 있도록 하는 판별수단을 더 포함할 수 있다. 상기 판별수단의 일 예로, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 상기 수용공간에는 특정 신호음을 발생시키는 부저(160)가 구비될 수 있다. 구체적인 일 예로, 납땜부(13)의 불량 여부를 검사시, 부저(160)가 울릴 경우 검사대상인 PCB 기판(10)와 커넥터(12)의 납땜부(13)가 정상적으로 연결되고 납땜이 제대로 이루어진 것으로 판별할 수 있으며, 부저(160)가 울리지 않을 경우 검사대상인 PCB 기판(10)과 커넥터(12)의 납땜부(13)가 제대로 연결되지 않았거나 납땜이 제대로 이루어지지 않아 불량인 것으로 판별할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 사용자가 휴대하고 다니면서 커넥터(12)의 납땜 불량 검사가 필요한 장소에서 검사하고자 하는 PCB 기판(10)을 하부몸체(100)에 놓고 프로브모듈(210)을 하방으로 이동시켜 복수 개의 프로브(211)가 이에 대응되는 PCB 기판(10) 상의 납땜부(13)에 접하도록 하여, 폐회로가 형성되는지 여부에 따라 커넥터(12)가 PCB 기판(10)에 제대로 납땜이 이루어져 연결되었는지 확인이 가능한바, 공간적 제약없이 TV 백라이트로 사용되는 PCB 기판(10)의 커넥터(12) 납땜 불량을 검사할 수 있다.
특히, 본 발명은 PCB 기판(10)이 사용되는 제품의 종류(일 예로, LED TV의 인치(inch)) 등에 따라 상이하게 형성되는 회로패턴(11)과, 이에 연결되는 커넥터(12)의 각 단자가 연결된 구조가 다르더라도, 정상 제품인 경우 폐회로가 형성될 수 있도록 하여 납땜부(13)의 불량 여부를 판별할 수 있도록 구성된다.
이를 위해, 하부몸체(100)는 도 1 및 도 9에 도시된 바와 같이 PCB 기판(10)에 전원이 인가된 상태에서 복수 개의 프로브(211)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접할 시 폐회로가 형성될 수 있도록 회로패턴(11)과 커넥터(12)의 각 단자가 연결된 타입에 따라 사용자가 조작하는 스위치(120)가 구비된다. 즉, 스위치(120)는 복수 개의 프로브(211)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접할 시 정상 제품인 경우 폐회로가 구성되도록, 각 프로브(211)를 통해 각 납땜부(13)로 전류를 흘려보내야 하는지 전류를 흘려보내지 말아야 하는지를 결정하는 역할을 한다.
이에 따라, 스위치(120)는 온(On)/오프(Off)로 조작되게끔 구성될 수 있다. 스위치(120)가 온(On) 상태인 경우 해당 스위치(120)와 연결된 프로브(211)를 통해서는 납땜부(13)로 전류가 흐르게 되며, 스위치(120)가 오프(Off) 상태인 경우 해당 스위치(120)와 연결된 프로브(211)를 통해서는 납땜부(13)로 전류가 흐르지 않게 된다. 이러한 스위치(120)는 프로브(211)의 개수에 대응되거나 이보다 적은 수로 구성될 수 있으나, PCB 기판(10) 상에 복수 개의 납땜부(13)가 형성되어 있는바, 복수 개가 구비됨이 바람직하다.
그리고 상부몸체(200) 또는 하부몸체(100)에는, 도 10 및 도 11에 도시된 바와 같이 검사대상인 PCB 기판(10)에 형성된 회로패턴(11)과 커넥터(12)의 각 단자가 연결된 타입에 따라 복수 개의 스위치(120) 각각을 온(On) 또는 오프(Off) 할지를 사용자에게 알려주는 표시부(230)가 구비될 수 있다. 일 예로, 표시부(230)는 스위치(120)가 구비되는 하부몸체(100)의 일측면과 인접한 상부몸체(100)의 일측면에 구비될 수 있다. 본 발명을 통해, 검사하고자 하는 PCB 기판(10)이 LED TV 백라이트에 사용되는 것인 경우, 표시부(230)는 PCB 기판(10)이 사용되는 LED TV의 인치에 따라 복수 개의 스위치(120)를 온(On) 또는 오프(Off) 하여 검사를 진행하여야 하는지 안내한다. 일 예로, 표시부(230)는, 도 10에 도시된 바와 같이 49인치 LED TV 백라이트로 사용되는 PCB 기판(10)의 납땜 불량을 검사하고자 할 때 사용자가 1번 스위치 On, 2번 스위치 Off, 3번 스위치 Off, 4번 스위치 On, 5번 스위치 On 하도록 표시되고, 도 11에 도시된 바와 같이 55인치 LED TV 백라이트로 사용되는 PCB 기판(10)의 납땜 불량을 검사하고자 할 시, 사용자가 1번 내지 5번 스위치를 On 하도록 표시될 수 있다.
관련하여, 도 9의 회로 동작을 간략히 설명하면, 각각의 스위치(120)에는 세 개의 회로 라인이 연결되어 있는데, 중앙 회로 라인으로부터 인입된 전류는 사용자의 스위치 조작에 따라 온(On)일 경우 좌측 회로 라인을 통해 납땜부(13)를 통해 PCB 기판(10)으로 유입되어 해당 LED(14)들에 전류를 공급하며, 오프(Off)일 경우 우측 회로 라인을 통해 곧바로 다음 스위치로 흐르게 된다. 부연하면, 도 9에서 공급 전류는 제 1 스위치 → 제 2 스위치 → 제 3 스위치 → 제 4 스위치 → 제 5 스위치 순으로 흘러간 다음 제 5 스위치에서 부저(160)로 공급된다. 사용자는 제 1 스위치와 제 2 스위치와 제 3 스위치 및 제 4 스위치를 각각 조작하여 공급 전류가 좌측 회로 라인 또는 우측 회로 라인을 통해 흐르게 할 수 있으며, 제 5 스위치는 항상 좌측 라인 라인으로 흐르도록 스위칭 온 상태로 유지시킬 수 있다.
이처럼 본 발명은 스위치(120) 조작을 통해 PCB 기판(10)을 검사하기에 적합한 폐회로가 형성될 수 있도록 할 수 있는바, LED TV의 인치별로 사용되는 PCB 기판(10) 각각을 검사하기 위한 장치를 마련하지 않아도 되므로, 비용절감과 검사효율을 증대시킬 수 있다.
10 : PCB 기판 11 : 회로패턴
12 : 커넥터 13 : 납땜부
14 : LED
100 : 하부몸체 110 : 소켓
120 : 스위치 130 : 가이드홈
140 : 가이드턱 150 : 배터리
160 : 부저 170 : 걸림홈
171 : 걸림턱
200 : 상부몸체 210 : 프로브모듈
211 : 프로브 220 : 누름구
230 : 표시부 240 : 지지판
250 : 이동판 260 : 스프링
270 : 걸림구 271 : 걸림돌기

Claims (5)

  1. 회로패턴(11)이 형성되고 회로패턴(11)을 따라 전원이 인가되도록 커넥터(12)가 구비되며 회로패턴(11)과 커넥터(12)의 각 단자가 연결되어 납땜된 복수 개의 납땜부(13)가 일단 측에 형성된 PCB 기판(10)이 상측에 놓여지고, 커넥터(12)와 결합되어 커넥터(12)를 통해 PCB 기판(10)에 전원을 인가하는 소켓(110)이 구비된 하부몸체(100);
    상기 하부몸체(100)의 상측에 마련되고 사용자의 조작에 의해 상하방향으로 이동하며 하방으로 이동시 복수 개의 납땜부(13)에 각각 접하는 복수 개의 프로브(211)를 포함하는 프로브모듈(210)이 구비된 상부몸체(200);를 포함하되,
    상기 하부몸체(100)는, PCB 기판(10)에 전원이 인가된 상태에서 복수 개의 프로브(211)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접할 시 폐회로가 형성될 수 있도록 회로패턴(11)과 커넥터(12)의 각 단자가 연결된 타입에 따라 사용자가 조작하는 스위치(120)가 구비되어, 상기 폐회로의 형성 여부에 따라 납땜부(13)의 불량 여부를 판별할 수 있는 것을 특징으로 하는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 하부몸체(100)는, 전원을 공급하는 배터리(150)와, 신호음을 발생시키는 부저(160)가 구비되되,
    상기 복수 개의 프로브(211)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접하여 형성되는 폐회로는, 배터리(150)와 부저(160)에 전류가 흐르게끔 구성되어, 상기 부저가 울리지 않으면 납땜부(13)가 불량으로 판별되는 것을 특징으로 하는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 하부몸체(100)의 상면에는, 일단으로부터 소켓(110)이 구비된 지점을 향해 PCB 기판(10)의 폭과 대응되는 폭을 가지는 가이드홈(130)이 함입형성되며, 상기 가이드홈(130)을 따라 진입되어 소켓(110)과 결합되는 PCB 기판(10) 중 커넥터(12) 하측 부분의 상면 가장자리를 덮는 가이드턱(140)이 형성되는 것을 특징으로 하는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 상부몸체(200)는, 상면을 관통하도록 구비되어 탄성적으로 가압될 수 있는 누름구(220)가 구비되되,
    상기 프로브모듈(210)은, 누름구(220)를 사용자가 가압시 하방으로 이동되어 복수 개의 프로브(221)가 이에 대응되는 납땜부(13)에 접하는 것을 특징으로 하는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 스위치(120)는 온(On)/오프(Off)로 조작되며 복수 개가 구비되고,
    상기 상부몸체(200) 또는 하부몸체(100)에는 회로패턴(11)과 커넥터(12)의 각 단자가 연결된 타입에 따라 복수 개의 스위치(120) 각각을 온(On) 또는 오프(Off) 할지를 사용자에게 알려주는 표시부(230)가 구비되는 것을 특징으로 하는 PCB 커넥터용 납땜 검사장치.
KR1020200144425A 2020-11-02 2020-11-02 Pcb 커넥터용 납땜 검사장치 KR102474867B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200144425A KR102474867B1 (ko) 2020-11-02 2020-11-02 Pcb 커넥터용 납땜 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200144425A KR102474867B1 (ko) 2020-11-02 2020-11-02 Pcb 커넥터용 납땜 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220060011A true KR20220060011A (ko) 2022-05-11
KR102474867B1 KR102474867B1 (ko) 2022-12-07

Family

ID=81607135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200144425A KR102474867B1 (ko) 2020-11-02 2020-11-02 Pcb 커넥터용 납땜 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102474867B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100785309B1 (ko) 2006-10-17 2007-12-17 이종욱 에프피씨비 검사지그
KR101141962B1 (ko) * 2011-11-28 2012-05-04 주식회사 세인블루텍 플렉시블 회로기판 테스트용 툴
JP2015075366A (ja) * 2013-10-08 2015-04-20 日置電機株式会社 フレキシブル基板、フレキシブル基板アッセンブリ、及び基板検査装置
KR200482205Y1 (ko) * 2015-10-14 2016-12-29 허필연 휴대용 도통 시험기

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100785309B1 (ko) 2006-10-17 2007-12-17 이종욱 에프피씨비 검사지그
KR101141962B1 (ko) * 2011-11-28 2012-05-04 주식회사 세인블루텍 플렉시블 회로기판 테스트용 툴
JP2015075366A (ja) * 2013-10-08 2015-04-20 日置電機株式会社 フレキシブル基板、フレキシブル基板アッセンブリ、及び基板検査装置
KR200482205Y1 (ko) * 2015-10-14 2016-12-29 허필연 휴대용 도통 시험기

Also Published As

Publication number Publication date
KR102474867B1 (ko) 2022-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101406033B1 (ko) 핀 블록 교체가 가능한 검사용 소켓
KR100864435B1 (ko) 기판검사용 접촉자, 기판검사용 치구 및 기판검사장치
KR102042923B1 (ko) 비젼 정렬을 위한 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록
CN111721979B (zh) 探针卡测试装置及其信号转接模块
US10739382B2 (en) Testing apparatus having a configurable probe fixture
KR102474867B1 (ko) Pcb 커넥터용 납땜 검사장치
KR102451715B1 (ko) Atm용 pcb 기능검사장치
JP2007278852A (ja) 基板検査装置及び基板検査方法
KR20180056335A (ko) 프로브 카드의 전기적 특성 측정장치
TWI498570B (zh) 基板檢查裝置
JP2001033520A (ja) Ｉｃハンドラ装置のｉｃコンタクト部
KR100905804B1 (ko) 프로브 카드용 피시비에 부착된 릴레이의 테스트 장치
JP3858595B2 (ja) 液晶パネル検査装置
KR100765490B1 (ko) Ｐｃｂ 전극판
KR20000047802A (ko) 전기부품 접촉유니트 및 전기부품 접촉유니트를 사용한전기부품 검사용 유니트
KR200147786Y1 (ko) 액정표시소자 고정 및 검사용 지그
KR100618147B1 (ko) 인쇄회로기판 검사장치
KR200393798Y1 (ko) 이동통신 단말기 검사장치
JP2006234639A (ja) 電気回路検査用プローブ装置
KR20100018964A (ko) 프로브 카드를 테스트하기 위한 장치
TWI385391B (zh) 高效率和高準確度之測試治具
JPH05215814A (ja) 半導体デバイスの検査装置
JP3134296U (ja) 基板検査用治具に用いる受具
JPH11242065A (ja) 配線基板検査装置
KR100861253B1 (ko) 잡 체인지용 점퍼보드가 구비된 평판디스플레이 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant