CN1442850A - 光盘、光盘装置和光盘记录方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光盘、光盘装置和光盘记录方法。当应用于小型光盘(CD)时，打算减小再现时的跳动，并确实地再现已记录的数据。检测调制信号(S2)的改变样式，并根据这个改变样式来校正调制信号(S1)的定时，以发射激光光束L。

Description

光盘、光盘装置和光盘记录方法

本申请是申请号为97115405.8，申请日为1997年7月16日，发明名称为“光盘、光盘装置和光盘记录方法”的分案申请。

技术领域

本发明涉及光盘、光盘装置和光盘记录方法。本发明例如可应用于小型光盘(compact disk，CD)。藉助于根据调制信号的改变样式校正调制信号的定时，可以减小再现时的跳动(jitter)，因而能确实地再现已记录的数据。

背景技术

在普通的小型光盘中，要被记录的数据要先经受数据处理然后经受EFM调制(8到14编码调制)。对于一个预定的基本周期T，由此形成了周期在3T至11T范围内的凹坑(pit)序列。这样来记录例如音频数据等数据。

与此相应，CD播放机将一个激光光束射在CD上，然后接收从CD反射回来的光。于是CD播放机获得了一个再现信号，该信号的信号电平随反射光束的光量而变化，藉助于使用预定的限制(slice)电平，将这个再现信号变换成二进制值，然后产生一个二进制信号。此外，通过使用再现时钟，CD播放机响应于这个二进制信号，通过使用再现时钟驱动一个PLL电路以产生一个再现时钟和锁存器二进制信号。这样，CD播放机产生再现数据，其周期在3T到11T的范围内，并且与CD上形成的凹坑序列相对应。

CD播放机相应于在记录时所作的数据处理对如此产生的再现数据进行数据处理。用这种方法，CD播放机再现记录在CD上的音频数据等数据。

附带说说，在普通的CD播放机中，在再现信号中含有跳动。可以认为这个跳动是由多种原因造成的，诸如用于读出的激光光束的噪声、电系统的热噪声、光盘噪声等。跳动减小了再现信号的相位容限(phase margin)。在极端的情形下，跳动使得难以正确再现数据。

然而，这种跳动基本上是由字符间干扰(由前后凹坑造成)引起的(参见Shigeo Kubota，“在数字光盘系统中再现无跳动信号所需的消球差条件”，App.Optics，1987，Vol.26，No.18，pp.3961-3970)。跳动随在激光光束照射位置前后的表面(land)和凹坑而改变。

发明内容

考虑到上述的观点，作出了本发明。本发明打算提出能够减小在再现时产生的跳动而确实再现记录数据的光盘、光盘装置和光盘记录方法。

为了解决上述的问题，在按照本发明的光盘装置和光盘记录方法中，根据调制信号的改变样式来校正调制信号的定时。

此外，在光盘中，根据位于边沿前后的凹坑长度和表面长度，改变边沿的位置，使之离开边沿的基本位置。

此外，在光盘装置和光盘记录方法中，按互连关系将激光光束的光量升至写操作用的光量的定时校正为切换写操作的光量的定时。

此外，在光盘中，根据凹坑宽度的差异形成高反射区和低反射区。为了校正由凹坑宽度差引起的反射光的改变，形成赋予相同数据的凹坑，从而凹坑的长度不同。

通过校正调制信号的定时，能够校正再现时由信号电平引起的改变。如果这种定时校正是根据调制信号的改变样式作出的，则能够校正再现信号，从而根据这种改变样式校正字符间干扰的改变。结果，能够减小再现信号的跳动。

对应于此，从而在光盘中根据位于边沿前后的凹坑长度和表面长度，从边沿的基本位置改变边沿的位置，由此形成凹坑。这样，相应于调制信号的改变样式改变凹坑的形状。结果，能够避免由字符间干扰引起的跳动。

此外，如果按互连关系将激光光束的光量升至写操作用的光量的定时校正为切换写操作的光量的定时，则能够校正由光量切换改变的不对称性。

对应于此，从而在光盘中根据凹坑宽度的差形成高反射区和低反射区。这样，能够在信息记录表面上记录字符等，从而可用肉眼观察。如果在此时形成赋予相同数据的凹坑，从而凹坑的长度不相同，以校正由凹坑宽度的差引起的反射光的改变，则能够校正在高反射区和低反射区中有差异的不对称性。

附图说明

图1是示出按照本发明第一实施例的一种光盘装置的方框图；

图2A至2E的每一幅图是一信号波形图，用这些图来描述包括在图1的光盘装置中的边沿位置校正电路的工作；

图3是示出包括在图1的光盘装置中的上升沿校正电路的方框图；

图4是示出制作包括在图1的光盘装置中的校正值表的过程图；

图5是示出在图4的过程中计算机处理过程的流程图；

图6是示出按照本发明第二实施例的一种光盘装置的方框图；

图7是示出包括在图6的光盘装置中的字符信号产生电路的方框图；

图8是示出由图6的光盘装置制作的CD的顶视图；

图9是示出用100％光量的一部分CD的再现信号的信号波形图；

图10是示出用85％光量的一部分CD的再现信号的信号波形图；

图11是示出由于光量的差异引起的限制电平改变的信号波形图；以及

与图11相比较，图12是示出由图8的CD的得到的再现信号的信号波形图。

具体实施方式

下面，参看附图，描述按照本发明实施例的光盘、光盘装置和光盘记录方法。

(第一实施例)

图1是示出按照本发明第一实施例的一种光盘装置的方框图。此光盘装置1通过将一原始盘2暴露于光束而记录从数字音频磁带录音机3输出的音频数据D1。在一种光盘制造方法中，此原始盘2先要经显影，再要经电成型处理。由此，制作出一个母盘。从这个母盘，再制作出一个压模。此外，在光盘制造方法中，从这样制得的压模中生产出盘状基片。在这片盘状基片上形成一层反光膜和一层保护膜，就生产出了CD。

即，在这套光盘装置1中，由一台主轴电动机4驱动和旋转原始盘2。从安装在原始盘下部的FG信号发生器输出FG信号，其信号电平在每个预定的旋转角处升高。根据原始盘2的曝光位置，主轴伺服电路5驱动主轴电动机4，从而使此FG信号的频率等于预定的频率。结果，驱动原始盘2使之在恒线速的条件下旋转。

由一台气体激光器或类似的装置构成记录激光器7，它发射出激光光束L用于原始盘的曝光。用一个电-声-光元件来构成光调制器8，通过使用调制信号S1来对激光光束L进行开关控制，以发射一个合成光束。反射镜10使激光光束L的光路弯折并将合成光束射向原始盘2。物镜11把由反射镜10反射的光束聚焦在原始盘2上。用一个未图示的滑板(sled)机构将反射镜10和物镜11与原始盘2的旋转同步地沿原始盘2的径向接连地移动。结果，对激光光束L的曝光位置沿原始盘2的外周界方向接连地位移。

在光盘装置1中驱动和旋转原始盘2这样一种状态中，由于反射镜10和物镜11的移动使得形成的光道为螺旋形，并且在此光道上相应于调制信号S1接连地形成凹坑。

从数字音频磁带录音机3将音频数据D1输入至调制电路13。此外，把与音频数据D1相应的子代码(subcode)数据输入至调制电路13。调制电路13用一种为CD规定的数据处理方案对音频数据D1和子代码数据进行数据处理。换言之，调制电路13将纠错码加至音频数据D1和子代码数据，然后对其进行交错处理，接着进行EFM调制，并输出EFM信号S2。

边沿位置校正电路14检测EFM信号S2的改变样式并按照这一改变样式校正EFM信号S2的定时，从而在再现时有效地避免字符间干扰。

具体地说，在边沿位置校正电路14中，电平变换电路15把具有1(V)输出幅度值的EFM信号S2的信号电平变换至具有5(V)输出幅度的TTL电平。从该电路输出得到的信号。PLL电路16根据EFM信号S2(图2A)产生时钟CK(图2B)，并且输出时钟CK。在EFM信号S2中，信号电平在3T到11T的范围内随周期而改变(基本周期为T)。所以，PLL电路16如此产生时钟CK，它按照与EFM信号S2同步的基本周期T改变信号电平。

如图3所示，上升沿校正电路17A包括13个串联连接并且由时钟CK使之工作的锁存器电路19A至19M。把电平转换电路15的输出信号S3输入至锁存器电路19A至19M的串联电路。上升沿校正电路17A以时钟CK的定时对电平变换电路15的输出信号S3采样，并且根据13个连接点的采样结果检测EFM信号S2的改变样式。即，例如在获得锁存器输出为“0001111000001”的情形中，可以识别出改变样式包括长度为4T的凹坑后面跟长度为5T的空间。与此类似，例如在获得锁存器输出为“0011111000001”的情形中，可以识别出改变样式包括长度为5T的凹坑后面跟长度为5T的空间。

校正值表20由存储多个校正数据的只读存储器构成。通过将锁存器电路19A至19M的锁存器输出用作地址，校正值表20相应于EFM信号S2的改变样式输出校正值数据DF。单稳态多谐振荡器(MM)21接收位于13个串联连接的锁存器电路9A至19M的中心的锁存器电路19G的锁存器输出作为输入。通过使用此锁存器输出的上升定时作为基准，单稳态多谐振荡器21输出一个上升脉冲信号，对于一预定的时间间隔(比周期3T短得多的间隔)，该脉冲信号的信号电平上升。

延迟电路22具有12级的抽头输出。把各个抽头之间的延迟时间差设置成等于边沿位置校正电路14中调制信号定时校正的分辨率。延迟电路22接连地延迟从单稳态多谐振荡器21输出的上升脉冲信号，并从每个抽头输出经延迟的信号。选择器23根据校正值数据DF选择并输出延迟电路22的一个抽头输出。结果，从选择器23选择并输出一个上升脉冲信号SS(图2D)，该信号根据校正值数据DF改变延迟时间。

由此，上升沿校正电路17A产生上升沿信号SS，响应于EFM信号的信号电平的每次上升，上升沿信号SS的信号电平上升。相对于EFM信号S2的每个上升沿的延迟时间，诸如Δr(3，3)，Δr(4，3)，Δr(3，4)，Δr(5，3)，…，将根据由EFM信号S2相应的上升沿(即，由前后总共13次采样操作)检测得的EFM信号S2的改变样式而改变。

在图3中，调制信号S2的改变样式由凹坑长度p和凹坑间隔b来表示，而将时钟(即，通道时钟)的一个周期CK作为单位。从上升沿算起的延迟时间用Δr(p，b)来表示。所以，在图2D中，第二延迟时间Δr(4，3)是这样一种情形的延迟时间，其中，长度为3个时钟周期的空白在长度为4个时钟周期的凹坑之前。在校正表20中，事先存储相应于p和b的所有组合的校正值数据DF。

通常，根据EFM信号S2将CD对激光光束L曝光，从而在盘上形成凹坑。对于12T的范围(这里将基本周期T取作单位)，上升沿校正电路17A检测形成于CD上的凹坑的样式，并根据此样式产生上升沿信号SS。

下降沿校正电路17B具有与上升沿校正电路17A相同的结构，只是单稳态多谐振荡器21根据锁存器输出的下降沿工作，并且校正值表20的内容不同。

由此，下降沿校正电路17B产生一个下降沿信号SR(图2C)，响应于EFM信号S2的信号电平的每次下降，该下降沿信号的信号电平上升。相对于EFM信号S2的每个下降沿的延迟时间，诸如Δf(3，3)，Δf(4，4)，Δf(3，3)，Δf(5，4)，…，将根据由EFM信号S2相应的下降沿(即，由总共13次采样操作)检测得的EFM信号S2的改变样式而改变。在图3中，与上升沿的延迟时间的表示方法相同，从每个下降沿算起的延迟时间用凹坑长度p和凹坑空间b以Δf(p，b)来表示。

对于12T的范围(这里将基本周期T取作单位)，下降沿校正电路17B检测形成于CD上的凹坑的样式，根据其样式来校正EFM信号S2的下降沿的定时(它用作对激光光束曝光终结的定时)，并产生下降沿信号SR。

触发器(F/F)25(图1)组合上升沿信号SS和下降沿信号SR，并输出一个合成信号。换言之，将上升沿信号SS和下降沿信号SR分别输入至触发器25的置位端S和复位端R。结果，触发器25产生一个调制信号S5，该信号的信号电平响应于上升沿信号SS的信号电平的每个上升沿而上升，然后该信号的信号电平响应于下降沿信号SR的信号电平的每个上升沿而下降。电平逆变换电路26校正这个具有TTL电平输出幅度的调制信号S5的信号电平，并以原先1V的输出幅度将它输出。

结果，输出了调制信号S1，它的上升沿和下降沿的定时根据位于前后的凹坑长度和表面长度来校正。与此相应，原始盘2对激光光束L曝光的定时也根据位于前后的凹坑长度和表面长度来校正。所以，在用这个原始盘2生产的CD中，根据位于前后的凹坑长度和表面长度，每个边沿位置发生改变而离开其基本位置。结果，在赋予相同数据的凹坑之间，凹坑长度有改变。由此，光盘装置1在再现时校正了每个凹坑的前沿和后沿的位置，从而减少了由字符间干扰引起的跳动。

图4是用于说明产生校正值表20的过程图，该表用于校正边沿定时。通过在光盘装置1中合适地设置此校正值表20，能够将每个凹坑的前沿和后沿的位置设置为最佳位置，并且再现信号能够根据与时钟CK同步的正确定时而改变。具体说来，即使凹坑大小和前后空白区的长度发生改变，再现信号仍以与时钟CK同步的正确定时通过预定的限制电平。结果，能够获得跳动减小的再现信号。校正值表20存在于上升沿校正电路17A和下降沿校正电路17B中。二者的设置方法相同。所以，现在限于对上升沿校正电路17A加以说明。

在此方法中，在原始盘上设置一个校正值表，用光盘装置1根据由这个原始盘生产出的CD的再现结果作出评价。

当这个用于评价的原始盘做出后，把用作评价基准的校正值表20设置在光盘装置1中。在这个用于评价基准的校正值表20中，设置校正值数据DF，从而总是由选择器23选择和输出延迟电路22的中心抽头输出。所以，在此方法中，如在由EFM信号S3直接驱动光调制器8的情形中那样(即，如在生产普通的CD的方法中那样)，原始盘2在相同的条件下曝光。

在此方法中，使如此曝光的原始盘2经受显影，然后经受电成型处理。由此，做出一个母盘。从这个母盘做出一个压模40。此外，用与生产普通的CD的相同的方法从压模40生产出一块CD41。

CD播放机42对于这样做出的用于评价的CD41进行再现操作。此时，CD播放机42在计算机44的控制下切换其操作，并从它的内部信号处理电路输出一个再现信号RF至一台数字示波器43。这个再现信号RF具有根据从CD获得的反射光束的光量改变的信号电平，并且经过一个预定的缓冲电路从光头的输出端输出该信号。这样，在与普通的CD相同的条件下做出这块CD41。如果在数字示波器43上通过将再现时钟用作触发脉冲来观察再现信号RF，则能够观察到跳动。

数字示波器43在计算机44的控制下切换其操作，以采样频率(它是通道时钟频率的20倍)对再现信号RF进行模-数变换，并将得到的数字信号输出至计算机44。

除了控制数字示波器43的操作之外，计算机44对于从数字示波器43输出的数字信号进行信号处理，并由此接连计算校正值数据DF。此外，计算机44驱动一个ROM写入器45以在只读存储器中接连地存储算得的校正值数据DF，并且由此构成校正值表20。在此方法中，通过使用这个校正值表20最后制造出CD。

图5是示出计算机44中的处理过程的流程图。在此处理过程中，计算机44从步骤SP1进至步骤SP2，并将跳动检测结果Δr(p，b)和跳动测量次数n(p，b)的值设置为0。围绕每个边沿(它是跳动检测的对象)，计算机44对于凹坑长度p和凹坑间隔b的每种组合，计算跳动检测结果Δr(p，b)，并对跳动测量次数n(p，b)进行计数。所以，在步骤SP2，计算机44将所有的跳动检测结果Δr(p，b)和跳动测量次数n(p，b)设置为初始值。

接着，计算机44进至步骤SP3。通过把从数字示波器43输出的数字信号与一个预定的限制电平作比较，计算机将再现信号RF变换为二进制值，并由此产生一个数字二进制信号。在此处理中，计算机44将数字信号变换为二进制值，从而向限制电平或更大的数字信号提供值1，而向小于限制电平的数字信号提供值0。

接着，计算机44进至步骤SP4，并且从二进制信号形成的数字信号产生一个再现时钟。这里，计算机44通过根据二进制信号进行计算处理而模拟PLL电路的工作，由此产生一个再现时钟。

在后一个步骤SP5中，计算机44在如此产生的再现时钟的每个下降沿的定时处对二进制信号采样，由此对EFM信号译码。(下面，把已如此译码的EFM信号称为已译码EFM信号。)

接下来，计算机44进至步骤SP6，并且检测从二进制信号的上升沿的时刻至最接近前面提到的下降沿的再现时钟的下降沿的时刻测得的时间差e。由此，计算机44在此边沿测量跳动的时间。接下来，在步骤SP7，计算机44从已译码的EFM信号对于边沿检测前后凹坑的长度p和凹坑间隙b，该边沿的时刻已在步骤SP6测得。

接下来在步骤SP8，计算机44相应于前后凹坑长度p和凹坑间隙b把在步骤SP6检测得的时间差e加至跳动检测结果Δr(p，b)，并且将相应的跳动测量的次数n(p，b)加一个值1。接下来，计算机进至步骤SP9，并确定是否已完成所有上升沿的时间测量。如果在这里得到否定的结果，则计算机返回至步骤SP5。

结果，计算机44重复步骤SP5-SP6-SP7-SP8-SP9-SP5的处理过程，累积在再现信号RF中出现每个改变样式的时刻测得的跳动检测结果，并对相加次数进行计数。

如果已对所有的边沿完成了跳动时间测量，则在步骤SP9获得肯定的结果。结果，计算机44进至步骤SP10。对于在再现信号RF中出现的每个改变样式，计算机把测得的跳动检测结果对时间求均。即，在步骤SP6检测得的跳动受噪声影响。通过如此对跳动检测结果的求均，计算机44改进了跳动测量的精度。在如此对跳动检测结果求均后，计算机接着进至步骤SP11。根据检测结果，计算机对于每个改变样式产生校正值数据DF，并将每个校正值数据DF输出至ROM写入器45。把延迟电路22中抽头之间的延迟时间差用τ来表示，通过作出下述式(1)的计算处理，计算出校正值数据DF： $\mathrm{Hr}1(p,b)=\frac{-a\·\mathrm{\Δr}(p,b)}{\mathrm{\τ}}+\mathrm{Hr}0(p,b)......\left(1\right)$

这里，Hr1(p，b)表示由校正值数据DF选出的延迟电路22的一个抽头。如果值为0，则表示中心抽头。此外，Hr0(p，b)表示由校正值数据DF(它是初始值)选出的延迟电路22的一个抽头。在本实施例中，把Hr0(p，b)预置为0。此外，“a”是一个常数。在本实施例中，把“a”的值设置为1或更小(例如，诸如0.7等)。作出乘法，从而即使有噪声等的影响，还能使校正值确实地收敛。

在这样把校正值数据DF存储在ROM写入器45之后，计算机44进至步骤SP12而终结这个处理过程。接下来，计算机44对于数字二进制信号的下降沿施行类似的处理过程，由此完成校正值表20。

在上述结构中，把包括在光盘装置1(图1)中的在上升沿校正电路17A和下降沿校正电路17B中的校正值表20设置为初始值。在与普通盘片生产条件相同的条件下，做出用于评价的原始盘2(图4)。从这个原始盘2做出评价用的CD41。

在评价用的CD41中，通过EFM信号以等于基本周期T整数倍的周期改变信号电平，使激光光束L经受开-关控制。将原始盘2接连地曝光，并形成凹坑。所以在评价用的CD41中，再现信号遭受来自相邻凹坑和表面的字符间干扰。所以，根据位于前后的凹坑和表面的形状(即，根据EFM信号的改变样式)，从这块CD41获得的再现信号与限制电平相交的定时发生改变。这样，就出现了跳动。

这块CD41经受由CD播放机42实行的再现操作。用数字示波器43将再现信号RF变换为数字信号。此后，由计算机44产生二进制信号、已译码的EFM信号和再现时钟。此外，对于来自CD41的二进制信号的每个边沿，从已译码的EFM信号检测位于前后的凹坑和表面，并且检测EFM信号的改变样式。对于每个改变样式，以时间的形式测量再现时钟每个边沿的跳动量。

此外，对于每个改变样式，把这些时间测量结果加以平均。对于每个改变样式，检测由字符间干扰引起的跳动量。通过使用这样检测得的跳动量，CD41执行式(1)的计算处理，该式根据延迟电路22(图3)的抽头之间的延迟时间差t，并且包括了跳动校正单位。通过取延迟电路22的中心抽头作为基准，检测出能够消除检测得的跳动量的延迟电路22的抽头位置。把规定这个抽头位置的数据作为校正值数据DF存储在只读存储器中。结果，形成了校正值表20。

通过这样形成校正值表20，从数字音频磁带录音机3(图1)输入的音频数据D1和子代码数据在调制电路13中经受规定的数据处理，并且变换为EFM信号S2，当把基本周期T取为单位时，该EFM信号的信号电平发生改变。通过电平变换电路15将这个EFM信号S2的电平变换为TTL的电平。此后，由PLL电路16再现时钟CK。在上升沿校正电路17A和下降沿校正电路17B(图3)中，将信号接连地锁存在13级的锁存器电路19A至19M中，并检测改变样式。

此外，把EFM信号S2从位于锁存器电路19A至19M中央的锁存器电路输入至单稳态多谐振荡器21。在上升沿校正电路17A中，在上升沿的定时处触发单稳态多谐振荡器21，而在下降沿校正电路17B中，在下降沿的定时处触发单稳态多谐振荡器21。在上升沿校正电路17A和下降沿校正电路17B中，分别产生上升脉冲信号和下降脉冲信号，它们分别在上升沿和下降沿的定时处升高信号电平。

在上升沿校正电路17A和下降沿校正电路17B的延迟电路22中，分别接连地延迟上升脉冲信号和下降脉冲信号，而取用计算校正值数据DF的延迟时间t作为单位。将此延迟电路22的抽头输出输出至选择器23。对于用锁存器电路19A至19M检测得的EFM信号S2的改变样式，通过使用锁存器电路19A至19M的锁存器输出，对校正值表20进行访问，得出了相应的校正值数据DF的检测。用这个校正值数据DF，切换选择器23的触点。

从上升沿校正电路17A和下降沿校正电路17B的选择器23分别输出上升沿信号SS和下降沿信号SR，它们分别按EFM信号S2的上升沿和下降沿的定时校正，从而校正了在评价用的CD41中检测到的跳动。

由触发器25来组合上升沿信号SS和下降沿信号SR(图1)。由电平逆变换电路26校正触发器25的输出信号S5的信号电平。结果，产生了调制信号S1，该信号按EFM信号S2的每个边沿的定时进行校正，从而校正了在评价用的CD41上检测到的跳动，即，减小了字符间干扰。用这个调制信号S1，进行原始盘2的曝光。

结果，接连地在原始盘2上形成边沿位置经过校正的凹坑，从而消除了字符间干扰。从这块原始盘2，可以生产出与普通的CD相比跳动显著减少的CD。

在上述结构中，通过根据EFM信号S2的改变样式校正EFM信号S2的定时来产生调制信号S1，并且通过使用这个调制信号S1来使原始盘2曝光。结果，与普通的CD相比，能够显著地减少由字符间干扰(它根据改变样式而改变)引起的跳动。

此外，此刻，做出了评价用的CD，并且产生了校正值数据DF。所以，即使CD的生产条件发生了改变，通过新提供的校正值数据DF，仍可用始终是合适的校正值数据DF生产出CD。

(2)第二实施例

图6是示出根据本发明第二实施例的光盘装置的方框图。在这个光盘装置50中，是激光光束L的光量在预定的定时处上升，并将原始盘2曝光。由此，局部形成了宽度变宽的凹坑，因而局部地改变了CD的光反射。在这个光盘装置50中，在CD的信息记录面上记录字符、图象等，为的是使由光反射的局部变化而作出的字符、图象等可以用肉眼来观察和确认。自图6所示的元件中，与前述第一实施例的光盘装置1相同的元件用相应的标号来表示，并省略重复的描述。

即，在光盘装置50中，字符信号产生电路51输出光量切换信号SC1，驱动插在激光光束L的光路中的光调制器52，由此切换和控制激光光束L的光量。

在字符信号产生电路51中，如图7所示，由环形计数器构成一个模N计数器53，对FG信号FG进行计数，并输出计数值CT1。在主轴电动机4的旋转周期处，将计数值切换至0。此时，输出一个光道信号C1。

模M计数器54由对光道信号C1进行计数的模M计数器构成，并输出计数值CT2。通过使用模N计数器53和模M计数器54，字符信号产生电路51输出计数值CT1和CT2，它们分别表示原始盘2沿圆周方向和径向的位置。

由一个只读存储器电路构成字符信号产生表55，该只读存储器保存各种字符信息的象素值。通过使用计数值CT1和CT2作为地址，字符信号产生表55输出每个象素值的数据。每个象素值的数据由每一位的数据构成，后者以位图(bit map)的形式表示要被记录在原始盘2上的字符和图象。

电平变换电路56接连地锁存接连地输入的象素值数据，并以适合于驱动光调制器52的信号电平将它们输出(图6)。在本实施例中，这样驱动光调制器52以切换激光光束L的光量，从100％光量至85％光量。结果，把字符、图象等记录在图8所示的盘片面上。

如果这样控制激光光束L的光量，使之从100％光量切换至85％光量，则再现信号也改变。具体地说，如图9和10所示，再现信号的幅度W1和W2分别改变图11所示使用100％光量和85％光量的再现信号的可见图形(illustrating eye patterns)。如果将它作为一个连续波形来观察，则在100％光量的情形下用于正确地把再现信号变换为二进制值的限制电平SL1不同于在85％光量的情形下用于正确地把再现信号变换为二进制值的的限制电平SL2。换言之，以100％光量获得的部分中的不对称性与以85％光量获得的部分中的不对称性相比改变很大。

普通的CD播放机具有一个限制电平自动调节电路用于根据这一不对称性的改变校正限制电平。如果激光光束L的光量急剧改变以突出轮廓，从而使记录的字符、图象等可由肉眼清楚地观察和确认，然而，这最终使得限制电平自动调节电路难于跟随这一急剧改变。所以，在字符、图象等的边界部分出现了很长的突发错误。

因此，在本实施例中，把分别相应于100％光量和85％光量的调制信号S1A和S1B从两个边沿校正电路57A和57B输出。由数据选择器58以与激光光束L的光量的切换互连的关系来选择调制信号S1A或S1B。

于是，在光盘装置50中，对激光光束L的光量进行切换，并选择调制信号S1A或S1B，以根据由此改变的凹坑宽度改变激光光束的曝光定时。结果，改变每个凹坑的边沿位置以相应于凹坑宽度的改变。在由这个原始盘2生产出的CD中，形成了赋予相同数据的凹坑，但这些凹坑的长度不同，从而校正由凹坑宽度不同引起的反射光的改变。

此时，由于凹坑宽度的改变，使得符号间干扰的程度对于各种光量也有改变。所以，根据EFM信号S2的改变样式，调制信号S1A和S1B的定时也分别由边沿位置校正电路57A和57B来改变。结果，减少了跳动。这样，边沿位置校正电路57A和57B在校正值表中保持了分别由100％和85％光量产生的校正值数据DF。

如示出在一个实验中观察到的结果的图12所示，通过切换调制信号的定时，能够有效地避免不对称性的改变。所以，利用限制电平SL，能够将由100％光量获得的再现信号和由85％光量获得的再现信号准确地变换为二进制值。

在图6所示的结构中，调制信号S1A和S1B由数据选择器58切换，从而按与激光光束的光量切换互连的关系来切换调制信号的定时。结果，通过使用单个限制电平，能够将再现信号准确地变换为二进制值。因而，能够有效地避免错误而精确地再现数据。

(3)其他实施例

在上述实施例中，已经描述了这样的情形，其中，直接使用了通过使用评价用CD产生的校正值表来生产CD。然而，本发明不限于此，而可以通过使用由评价用CD产生的校正值表，再新做出一块评价用的CD，从而通过使用新做出的评价用的CD来修改校正值表。如果这样反复修改校正值表，则必定能将跳动减小那样一个量。

在上述的实施例中，已经描述了这样的情形，其中，对EFM信号作了13次采样，以检测改变样式。然而，本发明不限于此，如果需要，可以增加采样点数，以适应较长的记录信息样式。

在上述的实施例中，已经描述了这样的情形，其中，通过根据基本时钟测量二进制信号的时间来测量跳动量，并且根据测量结果产生校正值数据。然而，本发明不限于此。在能够确保实际上精度足够的情形中，可以根据基本时钟而不是根据用此时间测量所作的跳动量测量，通过再现信号的信号电平检测来产生校正值数据。在此情形中，计算从再现信号的检测得的信号电平与限制电平的误差电压，并从误差电压和再现信号的瞬态响应特性计算出校正值数据。

在上述的实施例中，已经描述了这样的情形，其中，根据以表格形式存储的校正值数据来校正调制信号的定时。然而，本发明不限于此。在能够确保实际上精度足够的情形中，可以通过计算处理而不是预先检测的校正值数据来计算校正值数据，并且通过使用这样算得的校正值数据来校正调制信号的定时。

在上述的实施例中，已经描述了这样的情形，其中，使用了评价用的CD来计算校正值数据。然而，本发明不限于此。在应用本发明的情形中，例如，在一次写入(write-once)型光盘装置中，可以根据在所谓试写区的试写结果来计算校正值数据。

在上述的实施例中，已经描述了这样的情形，其中，将本发明应用于CD。然而，本发明不限于此，本发明可以广泛地应用于以凹坑来记录各种数据的光盘装置。本发明可以广泛地应用于这样的光盘装置，藉助于再现信号的瞬态响应特性的不同，这些装置适于进行各种数据的多值记录。

根据本发明，如上所述，按照调制信号的改变样式来校正调制信号的定时。结果，能够减小由符号间干扰引起的跳动。读出范围(reading margin)可以改善那样一个量，因而能确实地再现已记录的数据。

此外，按与激光光束的光量切换互连的关系来校正调制信号的定时。由此，校正了不对称性，并且能够用单个限制电平准确地再现数据。此外，能够有效地避免由激光光束的光量切换引起的跳动的变坏。由这些事实，可以记录图象、字符等，并确实再现已记录的数据。

已经结合附图描述了本发明的较佳实施例，应该理解，本发明不限于上述实施例，熟悉本领域的人员能够做出各种改变和变更而不偏离由所附的权利要求书所限定的本发明的精神和范围。

Claims (7)

1.一种光盘制作装置，它包括母盘和ROM盘，所述母盘经电成型处理制成，从所述母盘制作出一个压模，并用所述压模制作所述ROM盘，所述母盘通过以下方式制作，即根据要记录的数据，在等于预定基本周期之整数倍的周期处，切换调制信号的信号电平，通过使用所述调制信号对激光光束进行开-关控制，其特征在于，所述光盘制作装置包括：

边沿位置校正手段，它包括一校正值表；

调制信号生成手段，用于从所述边沿位置校正手段获得一调制信号；和

校正值表生成手段，它包括用于从ROM盘再现数据的信号再现手段、用于检测跳动值的跳动检测手段，其中每个跳动值与凹坑长度和凹坑间隔长度的组合相对应并且从所述ROM盘中检测到、和用于计算与每个凹坑长度和每个凹坑间隔长度之组合相对应的校正值的计算手段；

其中，所述边沿位置校正手段还包括用于延迟所述调制信号的信号延迟手段，延迟时间用所述调制信号和存储在校正值表中的值来确定；并且

所述校正值表生成手段校正所述调制信号的定时，从而当用一预定限制电平将来自所述ROM盘的再现数据转换成二进制信号时，所述二进制信号改变，同时取所述预定基本周期为单位。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述边沿位置校正手段根据存储在校正值表中的校正值，校正所述调制信号的定时，并且所述校正值是根据评价用的盘状记录媒体的再现结果来设置的。

3.一种光盘制作方法，它包括母盘和ROM盘，用于根据将用压模从所述母盘记录到所述ROM盘的的数据，在等于预定基本周期之整数倍的周期处，切换调制信号的信号电平，通过使用所述调制信号对激光光束进行开-关控制，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

从所述ROM盘再现数据；

检测与凹坑长度和凹坑间隔长度之组合相对应的跳动值，所述每个跳动值是从所述ROM盘检测到的；

计算与每个凹坑长度和凹坑间隔长度之组合相对应的校正值；

根据所述校正值，生成一校正值表；

从包括校正值表和信号延迟装置的边沿位置校正装置中获得一调制信号；和

从所述调制信号和存储在校正值表中的校正值确定延迟时间；

其中用于获得所述调制信号的所述步骤包括下述步骤，校正所述调制信号的定时，从而当用一预定限制电平将来自所述ROM盘的再现数据转换成二进制信号时，所述二进制信号改变，同时取所述预定基本周期为单位。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，把预定的数据记录在单独的盘状记录媒体上，并得到再现结果，或者把所述数据记录在所述盘状记录媒体上并得到再现结果，以及再根据所述再现结果校正所述调制信号的延迟定时。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，每当所述改变样式发生时就检测所述二进制信号的边沿对于所述基本周期的延迟定时，并且所述再现结果包括所述检测的结果。

6.一种光盘制作装置，它包括母盘和ROM盘，所述母盘经电成型处理制成，从所述母盘制作出一个压模，并用所述压模制作所述ROM盘，所述母盘通过以下方式制作，即根据要记录的数据，在等于预定基本周期之整数倍的周期处，切换调制信号的信号电平，通过使用所述调制信号对激光光束进行开-关控制，其特征在于，所述光盘制作装置包括：

边沿位置校正装置，它包括一校正值表；

调制信号生成装置，用于从所述边沿位置校正装置获得一调制信号；和

校正值表生成装置，它包括用于从ROM盘再现数据的信号再现装置、用于检测跳动值的跳动检测装置，其中每个跳动值与凹坑长度和凹坑间隔长度的组合相对应并且从所述ROM盘中检测到、和用于计算与每个凹坑长度和每个凹坑间隔长度之组合相对应的校正值的计算装置；

其中，所述边沿位置校正装置还包括用于延迟所述调制信号的信号延迟装置，延迟时间用所述调制信号和存储在校正值表中的值来确定；并且

所述校正值表生成装置校正所述调制信号的定时，从而当用一预定限制电平将来自所述ROM盘的再现数据转换成二进制信号时，所述二进制信号改变，同时取所述预定基本周期为单位。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述边沿位置校正装置根据存储在校正值表中的校正值，校正所述调制信号的定时，并且所述校正值是根据评价用的盘状记录媒体的再现结果来设置的。

Images