CN1399404A - 相位差检测电路 - Google Patents
相位差检测电路 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1399404A CN1399404A CN02124895A CN02124895A CN1399404A CN 1399404 A CN1399404 A CN 1399404A CN 02124895 A CN02124895 A CN 02124895A CN 02124895 A CN02124895 A CN 02124895A CN 1399404 A CN1399404 A CN 1399404A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- phase
- mentioned
- input signal
- delay
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 claims description 25
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 6
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 2
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/087—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal using at least two phase detectors or a frequency and phase detector in the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03D—DEMODULATION OR TRANSFERENCE OF MODULATION FROM ONE CARRIER TO ANOTHER
- H03D13/00—Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations
- H03D13/003—Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0816—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/099—Details of the phase-locked loop concerning mainly the controlled oscillator of the loop
- H03L7/0991—Details of the phase-locked loop concerning mainly the controlled oscillator of the loop the oscillator being a digital oscillator, e.g. composed of a fixed oscillator followed by a variable frequency divider
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Measuring Phase Differences (AREA)
Abstract
用模拟量表示相位差检测结果。因此,难以实现相位差检测电路后级电路的数字化,进而妨碍了PLL电路或DLL电路的数字化。为解决此问题,设置比较输入信号A的相位和输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路2;比较通过延迟电路1P1~1Pn延迟的输入信号A的相位和输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路3P1~3Pn;比较输入信号A的相位和通过延迟电路1N1~1Nn延迟的输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路3N1~3Nn。
Description
技术领域
本发明涉及检测2个输入信号的相位差的相位差检测电路。
现有技术
伴随着LSI细微化的进步,为了提高晶体管的可靠性,实现低能耗,就要进行电源电压的低电压化。电源电压的低电压化对模拟电路来说,设计安全系数较低,而且也隐藏着模拟电路的设计本身为不可能的可能性。
因此应考虑的是作为现有模拟电路设计了的电路的数字化。
PLL(Phase Locked Loop)电路或DLL(Delay Locked Loop)电路也随其潮流被逼向必须数字化。
图7是表示置于PLL电路的现有相位差检测电路的结构图,图8是表示现有的相位差检测电路动作的时间图。
其次,说明相位差检测电路的动作。
现有的相位差检测电路如图8所示,例如,输入信号A的相位比输入信号B的相位超前时,输出与输入信号A和输入信号B的相位差相称的脉冲幅的输出信号A。
由于现有的相位差检测电路如上构成,所以用模拟量表示相位差的检测结果(输出信号A的脉冲幅表示相位差)。因此,产生了相位差检测电路后级电路的数字化难以实现,成为PLL电路或DLL电路数字化的障碍等的课题。
发明内容
本发明是为了解决上述课题而实施,目的为获得可用数字量表示相位差的检测结果的相位差检测电路。
涉及本发明的相位差检测电路,设置了比较第1输入信号的相位和第2输入信号的相位,并输出其比较结果的第1相位的比较装置;比较第2输入信号和通过第1延迟电路延迟的第1输入信号的相位,并输出其比较结果的第2相位的比较装置;比较第1输入信号和通过第2延迟电路延迟的第2输入信号的相位,并输出其比较结果的第3相位的比较装置。
涉及本发明的相位差检测电路的从第1到第3相位比较装置,含有触发器电路,该触发器电路当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位超前时,从对应第1输入信号的输出端口输出H电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出L电平的信号,另一方面当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位延迟时,从对应第1输入信号的输出端口输出L电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出H电平的信号。
涉及本发明的相位差检测电路,设置了比较第1输入信号的相位和第2输入信号的相位,并输出其比较结果的第1相位比较装置;比较第2输入信号和通过多个第1延迟电路分别延迟的第1输入信号的相位,并输出其比较结果的多个第2相位比较装置;比较第1输入信号和通过多个第2延迟电路分别延迟的第2输入信号的相位,并输出其比较结果的多个第3相位比较装置。
涉及本发明的相位差检测电路的第1相位比较装置、多个第2相位比较装置及多个第3相位比较装置的每一个,都分别含有触发器电路,该触发器电路当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位超前时,从对应第1输入信号的输出端口输出H电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出L电平的信号,另一方面当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位延迟时,从对应第1输入信号的输出端口输出L电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出H电平的信号。
涉及本发明的相位差检测电路的多个第1延迟电路分别串联连接不同个数的延迟单元而构成,多个第2延迟电路分别串联连接不同个数的延迟单元而构成。
涉及本发明的相位差检测电路的多个第1延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数及多个第2延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数各自具有指数关系。
涉及本发明的相位差检测电路的多个第1延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数及多个第2延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数各自具有比例关系。
涉及本发明的相位差检测电路适用于PLL电路的相位差检测部件。
涉及本发明的相位差检测电路适用于DLL电路的相位差检测部件。
附图说明
图1是表示基于本发明实施方式1的相位差检测电路的结构图。
图2是表示图1的相位差检测电路动作的时间图。
图3是表示基于本发明实施方式2的相位差检测电路的结构图。
图4是表示图3的相位差检测电路动作的时间图。
图5是表示PLL电路结构图。
图6是表示DLL电路结构图。
图7是表示置于PLL电路的现有相位差检测电路的结构图。
图8是表示现有相位差检测电路动作的时间图。
符号说明
1N1~1Nn延迟电路;1P1~1Pn延迟电路;2触发器电路(第1相位比较装置);3N1~3Nn触发器电路(第3相位比较装置);3P1~3Pn触发器电路(第2相位比较装置)。
实施方式
以下参照附图说明本发明的实施方式。
实施方式1
图1是表示本发明实施方式1的相位差检测电路的结构图,在图1中,1P1~1Pn是将输入信号A(第1输入信号)延迟相互不同时间的延迟电路(第1延迟电路),延迟电路1P1由1个延迟单元构成,延迟电路1P2由2个延迟单元构成,延迟电路1Pn由n个延迟单元构成。1N1~1Nn是将输入信号B(第2输入信号)延迟相互不同时间的延迟电路(第2延迟电路),延迟电路1N1由1个延迟单元构成,延迟电路1N2由2个延迟单元构成,延迟电路1Nn由n个延迟单元构成。
2是比较输入信号A的相位和输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路(第1相位比较装置);3P1~3Pn是比较通过延迟电路1P1~1Pn延迟的输入信号A和输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路(第2相位比较装置);3N1~3Nn是比较输入信号A和通过延迟电路1N1~1Nn延迟的输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路(第3相位比较装置)。
其中,触发器电路2,3P1~3Pn,3N1~3Nn在输入信号A的相位比输入信号B的相位超前时,从对应输入信号A的输出端口Q输出H电平的信号,同时从对应输入信号B的输出端口QC输出L电平的信号。另一方面,当输入信号A的相位比输入信号B的相位延迟时,触发器电路2,3P1~3Pn,3N1~3Nn从输出端口Q输出L电平的信号,同时从输出端口QC输出H电平的信号。但是,当同时输入了输入信号A和输入信号B时,从输出端口Q输出H电平的信号,从输出端口QC输出L电平的信号。
下面说明有关相位差检测电路的动作。
例如,输入信号A的相位比输入信号B的相位超前4个延迟单元时,如图2所示,相位差检测电路,由于延迟电路1N1~1Nn使输入信号B的输入进一步延迟,所以从输入了输入信号A的时刻开始,从触发器电路2,3N1~3Nn的各输出端口Q输出H电平的信号。
另外,相位差检测电路,虽然延迟电路1P1~1P4使输入信号A的输入延迟,但即使这样,由于输入信号A比输入信号B先输入,所以到输入输入信号B为止,从触发器电路3P1~3P4的各输出端口Q输出H电平的信号。
而且,相位差检测电路,由于通过延迟电路1P5~1Pn使输入信号A的输入延迟,输入信号B比输入信号A先输入,所以从触发器电路3P5~3Pn的各输出端口Q输出L电平的信号。
因而,若着眼于触发器电路3Nn~3N1,2,3P1~3Pn的各输出端口Q所输出的信号电平“H...HHHHLL...L”,则相位差检测电路的后级电路如果检测出在何处存在“H”和“L”的分界,就可以检测出输入信号A和输入信号B的相位差。在图2的例子中,由于触发器电路3P4的输出信号A4P和触发器电路3P5的输出信号A5P之间有分界,所以可知道输入信号A和输入信号B的相位差是4个延迟单元。
正如以上所明确的那样,若根据实施方式1,相位差检测电路的结构为设置:比较输入信号A的相位和输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路2;比较通过延迟电路1P1~1Pn延迟的输入信号A和输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路3P1~3Pn;比较输入信号A和通过延迟电路1N1~1Nn延迟的输入信号B的相位,并输出其比较结果的触发器电路3N1~3Nn,则可以达到用数据量表示相位差的检测结果的效果。
实施方式2
在上述实施方式1中,各延迟电路1P1~1Pn,1N1~1Nn将含有的延迟单元的个数设为“1,2,3,4,5...,n”,表示延迟单元的个数是一个一个增加,但各延迟电路1P1~1Pn,1N1~1Nn含有的延迟单元的个数也可以设为具有指数关系。
例如图3所示,各延迟电路1P1~1Pn,1N1~1Nn含有的延迟单元的个数设为“1,2,4,8,16...,2n-1”,延迟单元的个数是被2倍设定的。图4是表示图3的相位差检测电路动作的时间图。
由此,可以达到不增加触发器电路的个数,而扩大相位差的检测范围的效果。
其中,延迟单元个数的倍数不限于2倍,例如,也可以是3倍或4倍。
实施方式3
在上述实施方式1中,各延迟电路1P1~1Pn,1N1~1Nn将含有的延迟单元的个数设为“1,2,3,4,5...,n”,表示延迟单元的个数是一个一个增加,但延迟电路1P1~1Pn,1N1~1Nn含有的延迟单元的个数也可以设为具有比例关系。
例如,各延迟电路1P1~1Pn,1N1~1Nn含有的延迟单元的个数也可设为“1,3,5,7,9...,2n-1”,延迟单元的个数是按增加2个设定的。
由此,可以达到不增加触发器电路的个数,而扩大相位差的检测范围的效果。
实施方式4
在上述实施方式1~3中未特别言及,但是上述实施方式1~3中的相位差检测电路也适用于图5所示的PLL电路的相位差检测部件。
由此,可以达到谋求PLL电路数字化的效果。
实施方式5
在上述实施方式1~3中未特别言及,但是上述实施方式1~3中的相位差检测电路也适用于图6所示的DLL电路的相位差检测部件。
由此,可以达到谋求DLL电路数字化的效果。
以上这样,由于根据本发明的相位差检测电路构成为:设置比较第1输入信号的相位和第2输入信号的相位,并输出其比较结果的第1相位的比较装置;比较第2输入信号和通过第1延迟电路延迟的第1输入信号的相位,并输出其比较结果的第2相位的比较装置;比较第1输入信号和通过第2延迟电路延迟的第2输入信号的相位,并输出其比较结果的第3相位的比较装置,所以可以达到用数字量表示相位差检测结果的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路构成为:从第1到第3相位比较装置含有触发器电路,该触发器电路当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位超前时,从对应第1输入信号的输出端口输出H电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出L电平的信号,另一方面当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位延迟时,从对应第1输入信号的输出端口输出L电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出H电平的信号,所以有可以避免结构的复杂化,输出相位的比较结果的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路构成为:设置比较第1输入信号的相位和第2输入信号的相位,并输出其比较结果的第1相位比较装置;比较第2输入信号和通过多个第1延迟电路分别延迟的第1输入信号的相位,并输出其比较结果的多个第2相位比较装置;比较第1输入信号和通过多个第2延迟电路分别延迟的第2输入信号的相位,并输出其比较结果的多个第3相位比较装置,所以可以达到用数字量表示相位差检测结果的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路构成为:第1相位比较装置、多个第2相位比较装置及多个第3相位比较装置的每一个,都含有触发器电路,该触发器电路当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位超前时,从对应第1输入信号的输出端口输出H电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出L电平的信号,另一方面当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位延迟时,从对应第1输入信号的输出端口输出L电平的信号,同时从对应第2输入信号的输出端口输出H电平的信号,所以可以达到避免结构的复杂化,输出相位的比较结果的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路的多个第1延迟电路分别串联连接不同个数的延迟单元而构成,多个第2延迟电路分别串联连接不同个数的延迟单元而构成,所以可以达到简单的延迟输入信号的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路构成为:多个第1延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数及多个第2延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数各自具有指数关系,所以可以达到不增加相位比较装置的个数,而扩大相位差的检测范围的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路构成为:多个第1延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数及多个第2延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数各自具有比例关系,所以可以达到不增加相位比较装置的个数,而扩大相位差的检测范围的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路构成为:适用于PLL电路的相位差检测部件,所以可以达到谋求PLL电路的数字化的效果。
由于根据本发明的相位差检测电路构成为:适用于DLL电路的相位差检测部件,所以可以达到谋求DLL电路的数字化的效果。
Claims (9)
1.一种相位差检测电路,具备:
第1相位比较装置,比较第1输入信号的相位和第2输入信号的相位,并输出其比较结果;
使上述第1输入信号延迟的第1延迟电路;
使上述第2输入信号延迟的第2延迟电路;
第2相位比较装置,比较上述第2输入信号的相位和通过上述第1延迟电路延迟的第1输入信号的相位,并输出其比较结果;
第3相位比较装置,比较上述第1输入信号的相位和通过上述第2延迟电路延迟的第2输入信号的相位,并输出其比较结果。
2.权利要求1记载的相位差检测电路,其特征在于:
第1到第3相位比较装置,分别含有当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位超前时,从对应上述第1输入信号的输出端口输出H电平的信号,同时从对应上述第2输入信号的输出端口输出L电平的信号,另一方面当上述第1输入信号的相位比上述第2输入信号的相位延迟时,从对应上述第1输入信号的输出端口输出L电平的信号,同时从对应上述第2输入信号的输出端口输出H电平的信号的触发器电路。
3.一种相位差检测电路,具备:
第1相位比较装置,比较第1输入信号的相位和第2输入信号的相位,并输出其比较结果;
多个第1延迟电路,使上述第1输入信号分别延迟不同时间;
多个第2延迟电路,使上述第2输入信号分别延迟不同时间;
多个第2相位比较装置,比较上述第2输入信号和通过上述多个第1延迟电路分别延迟的第1输入信号的相位,并输出其比较结果;
多个第3相位比较装置,比较上述第1输入信号和通过上述多个第2延迟电路分别延迟的第2输入信号的相位,并输出其比较结果。
4.权利要求3记载的相位差检测电路,其特征在于:
第1相位比较装置、多个第2相位比较装置及多个第3相位比较装置,分别含有当第1输入信号的相位比第2输入信号的相位超前时,从对应上述第1输入信号的输出端口输出H电平的信号,同时从对应上述第2输入信号的输出端口输出L电平的信号,另一方面当上述第1输入信号的相位比上述第2输入信号的相位延迟时,从对应上述第1输入信号的输出端口输出L电平的信号,同时从对应上述第2输入信号的输出端口输出H电平的信号的触发器电路。
5.权利要求3记载的相位差检测电路,其特征在于:
多个第1延迟电路分别串联连接不同个数的延迟单元而构成;多个第2延迟电路分别串联连接不同个数的延迟单元而构成。
6.权利要求5记载的相位差检测电路,其特征在于:
多个第1延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数以及多个第2延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数各自具有指数关系。
7.权利要求5记载的相位差检测电路,其特征在于:
多个第1延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数以及多个第2延迟电路的每一个具备的延迟单元的个数各自具有比例关系。
8.权利要求1至权利要求7之一记载的相位差检测电路,其特征在于:
适用于PLL电路的相位差检测部件。
9.权利要求1至权利要求7之一记载的相位差检测电路,其特征在于:
适用于DLL电路的相位差检测部件。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001222098A JP2003037486A (ja) | 2001-07-23 | 2001-07-23 | 位相差検出回路 |
JP222098/2001 | 2001-07-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1399404A true CN1399404A (zh) | 2003-02-26 |
Family
ID=19055649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN02124895A Pending CN1399404A (zh) | 2001-07-23 | 2002-06-24 | 相位差检测电路 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20030016766A1 (zh) |
JP (1) | JP2003037486A (zh) |
KR (1) | KR20030011239A (zh) |
CN (1) | CN1399404A (zh) |
DE (1) | DE10227839B4 (zh) |
TW (1) | TW560182B (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1694181B (zh) * | 2004-05-06 | 2010-05-26 | 海力士半导体有限公司 | 延迟闭锁回路装置 |
CN101206236B (zh) * | 2006-12-22 | 2011-01-26 | 旺玖科技股份有限公司 | 相位差检测装置及其相位检测方法 |
CN102176319A (zh) * | 2011-01-31 | 2011-09-07 | 华为技术有限公司 | 一种降低同步翻转噪声的方法和装置 |
CN101105510B (zh) * | 2006-07-11 | 2012-04-25 | 联发科技股份有限公司 | 相位误差测量电路与其方法 |
CN102466779A (zh) * | 2010-11-16 | 2012-05-23 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 触发器延时的内建测试方法及电路 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10104663A (ja) * | 1996-09-27 | 1998-04-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置およびその作製方法 |
KR100808055B1 (ko) * | 2006-10-31 | 2008-02-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 지연 고정 루프와 그의 구동 방법 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4322643A (en) * | 1980-04-28 | 1982-03-30 | Rca Corporation | Digital phase comparator with improved sensitivity for small phase differences |
TW234796B (zh) * | 1993-02-24 | 1994-11-21 | Advanced Micro Devices Inc | |
US5451894A (en) * | 1993-02-24 | 1995-09-19 | Advanced Micro Devices, Inc. | Digital full range rotating phase shifter |
JPH07162296A (ja) * | 1993-12-08 | 1995-06-23 | Hitachi Ltd | ディジタル位相同期回路 |
JP2882385B2 (ja) * | 1996-09-20 | 1999-04-12 | 日本電気株式会社 | クロック位相同期回路 |
JP3481065B2 (ja) * | 1997-01-17 | 2003-12-22 | 富士通株式会社 | 位相比較回路および半導体集積回路 |
KR19980083125A (ko) * | 1997-05-12 | 1998-12-05 | 유기범 | 동기식 전송모드의 디지털 위상비교기 |
KR100261287B1 (ko) * | 1997-12-22 | 2000-07-01 | 이계철 | 신호 천이 방식에 의한 위상 비교 검출기 및 검출방법 |
US6011412A (en) * | 1998-05-01 | 2000-01-04 | International Business Machines Corporation | Frequency shift detection circuit with selectable granularity |
JP3049050B1 (ja) * | 1999-03-31 | 2000-06-05 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | ディジタルpll回路とその制御方法 |
-
2001
- 2001-07-23 JP JP2001222098A patent/JP2003037486A/ja active Pending
-
2002
- 2002-04-30 TW TW091109032A patent/TW560182B/zh active
- 2002-05-09 US US10/141,116 patent/US20030016766A1/en not_active Abandoned
- 2002-06-19 KR KR1020020034201A patent/KR20030011239A/ko active IP Right Grant
- 2002-06-21 DE DE10227839A patent/DE10227839B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2002-06-24 CN CN02124895A patent/CN1399404A/zh active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1694181B (zh) * | 2004-05-06 | 2010-05-26 | 海力士半导体有限公司 | 延迟闭锁回路装置 |
CN101105510B (zh) * | 2006-07-11 | 2012-04-25 | 联发科技股份有限公司 | 相位误差测量电路与其方法 |
CN101206236B (zh) * | 2006-12-22 | 2011-01-26 | 旺玖科技股份有限公司 | 相位差检测装置及其相位检测方法 |
CN102466779A (zh) * | 2010-11-16 | 2012-05-23 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 触发器延时的内建测试方法及电路 |
CN102466779B (zh) * | 2010-11-16 | 2014-01-15 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 触发器延时的内建测试方法及电路 |
CN102176319A (zh) * | 2011-01-31 | 2011-09-07 | 华为技术有限公司 | 一种降低同步翻转噪声的方法和装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20030011239A (ko) | 2003-02-07 |
US20030016766A1 (en) | 2003-01-23 |
DE10227839B4 (de) | 2004-07-08 |
JP2003037486A (ja) | 2003-02-07 |
DE10227839A1 (de) | 2003-02-20 |
TW560182B (en) | 2003-11-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8612651B2 (en) | FIFO buffer | |
CN1222857C (zh) | 产生内部时钟信号的电路和方法 | |
CN1449119A (zh) | 具有加大建立和保持时间的容限的串行器-解串器电路 | |
CN1691203A (zh) | 用在半导体存储器件中的工作周期校正设备及方法 | |
CN1905366A (zh) | 用于动态地改变时钟信号的频率的方法和电路 | |
CN1921309A (zh) | 一种同步信号检测装置 | |
CN1399404A (zh) | 相位差检测电路 | |
CN1450464A (zh) | 半导体器件 | |
CN1224178C (zh) | 恢复时钟信号及其数据的抗噪、猝发模式接收设备和方法 | |
Chen et al. | Fpga-accelerated samplesort for large data sets | |
CN1252932C (zh) | 半导体集成电路 | |
CN1892528A (zh) | 产生数字信号处理器和存储器的时钟信号的电路和方法 | |
CN1147047C (zh) | 用于一数字倍频器的组合延迟电路 | |
CN1666290A (zh) | 用于延迟电路的方法和装置 | |
CN1750396A (zh) | 多相位时钟发生器电路 | |
CN101470553A (zh) | 触摸屏控制器数据预处理排序电路及方法 | |
CN1191420A (zh) | 串并转换器 | |
CN1275177C (zh) | 基于可满足性的组合电路等价性检验方法 | |
CN1921315A (zh) | 时脉信号调整方法与装置 | |
US20220303483A1 (en) | Digital serial read-out architecture | |
Petrut et al. | Configurable fpga architecture for hardware-software merge sorting | |
CN1588639A (zh) | 集成电路复位方法及复位系统 | |
CN100339793C (zh) | 选通信号及并列数据信号的输出电路 | |
CN1315018C (zh) | 时钟脉冲切换系统及其时钟脉冲切换方法 | |
CN1167989C (zh) | 用于将非同步脉冲信号转换为同步脉冲信号的同步元件 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
AD01 | Patent right deemed abandoned | ||
C20 | Patent right or utility model deemed to be abandoned or is abandoned |