CN116848416A - 自动分析装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的目的在于提供一种自动分析装置,其能够实现光源的长寿命化,并且在测定前使光量在短时间内稳定。因此,本发明的自动分析装置具备:光源,其具有波长不同的两个以上的LED元件;分析部,其基于照射到反应容器的光进行分析;以及电流调整部,其调整向每个所述LED元件供给的电流量,所述电流调整部使非分析状态下的每个所述LED元件的电流量为相对于分析状态下的电流量单独减少后的值。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明涉及自动分析装置。
背景技术
在分析血液等检体的自动分析装置中,光源是影响分析性能的重要部件之一。从光源发出的光经过将试剂和检体混合后的反应液,由分光器分光为特定数的波长,并由检测器检测。以往,光源使用卤素灯,但作为新的光源,提出了使用LED的自动分析装置。例如,在专利文献1中公开了在测定(分析)时,使波长不同的多个LED光源按顺序周期性地发光,在待机状态等非测定时,也使多个LED光源按顺序周期性地发光来排除光量的偏差(段落0093等)。另外,在该专利文献1中还公开了波长短的LED光源由于直到光量稳定为止所需要的时间比其他波长的LED光源短,所以在非测定时不发光(段落0094等)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2017-156105号公报
发明内容
发明所要解决的课题
专利文献1所记载的技术在测定时和非测定时都以基本相同的控制使多个光源发光,因此在非测定时提供给光源的电流量变得过多,光源的寿命有可能变短。另外,专利文献1所记载的技术在非测定时完全关闭一部分光源,因此在从非测定时转移到测定时,光源的稳定来不及,有可能对测定结果造成影响。
本发明的目的在于提供一种自动分析装置,能够实现光源的长寿命化,并且在测定前使光量在短时间内稳定。
用于解决课题的手段
为了实现上述目的,本发明在自动分析装置中具备:光源,其具有波长不同的2个以上的LED元件;分析部,其基于照射到反应容器的光来进行分析;以及电流调整部,其调整向每个所述LED元件供给的电流量,所述电流调整部使非分析状态下的每个所述LED元件的电流量为相对于分析状态下的电流量单独减少的值。
发明效果
根据本发明,能够提供实现了光源的长寿命化,并且在测定前使光量在短时间内稳定的自动分析装置。
附图说明
图1是实施方式的自动分析装置的整体结构图。
图2表示实施方式的自动分析装置的模块连接例。
图3表示实施方式的自动分析装置所使用的光学系统和配置在其周边的装置。
图4是表示实施例1的电流调整部在分析开始以后向光源供给的电流值的推移的曲线图。
图5是表示实施例1的从自动分析装置启动时到架接收模式转移时的处理的流程图。
图6是表示实施例1的自动分析装置的分析刚结束后的架接收模式中的处理的流程图。
图7A是表示实施例1的从自动分析装置的电源断开的状态开始电流调整部向光源供给的电流值的推移的曲线图。
图7B是表示实施例1的从自动分析装置的电源断开的状态开始的光量的推移的曲线图。
图8是表示实施例1的光量监视处理的流程图。
图9A是表示实施例2的电流调整部向光源供给的电流值的推移的曲线图。
图9B是表示实施例2的电流调整部向LED元件A、B供给的电流值的推移的曲线图。
具体实施方式
以下,使用图1~图3对本发明的实施方式的自动分析装置100的结构及动作进行说明。如以下所示,自动分析装置100进行利用了生物化学反应的比色分析。
首先,使用图1对本实施方式的自动分析装置100的整体结构进行说明。图1是实施方式的自动分析装置100的整体结构图。自动分析装置100由输送线101、转子102、试剂盘103、反应盘104、分注机构105、搅拌机构106、分光器107、反应池清洗机构108、喷嘴清洗机构109、控制部115、输入部123、显示部124等构成。
输送线101将用于保持放入了检体的检体容器110的检体架111输送需要的距离直到检体分注位置121为止。分注机构105在检体分注位置121从检体容器110向反应池112(反应容器)分注检体。输送线101还与转子102连接。通过使转子102旋转,与其他输送线101之间进行检体架111的交换。
试剂盘103用于保持放入了试剂的试剂容器113,将试剂容器113旋转移送到分注机构105能够进行分注动作的位置。分注机构105在试剂分注位置122从试剂容器113向反应池112分注试剂。另外,将试剂向反应池112分注比色分析所需要的量,与成为分析对象的检体中的成分进行反应。
反应盘104保持反应池112,将成为各动作的对象的反应池112旋转移送到表示进行比色分析的分光器107、搅拌机构106、反应池清洗机构108等各自进行动作的位置的动作位置。另外,反应池112被水等恒温介质保温。由此,在作为检体与试剂的混合物的反应液中,促进检体中的成分与试剂的化学反应。
分注机构105从检体容器110吸取进行比色分析的检体,并排出到反应池112。分注机构105从试剂容器113吸取与分析对象对应的试剂,并排出到反应池112。分注机构105具备臂118、喷嘴116、分注机构用电动机119。臂118保持喷嘴116和液面传感器117。喷嘴116与液面传感器117连接。液面传感器117根据静电电容变化来检测液体的有无。在分注机构105进行分注动作的位置的附近设置有屏蔽部114。分注机构用电动机119使分注机构105在上下方向或旋转方向上移动。
搅拌机构106搅拌反应池112中的反应液,以促进从检体容器110排出到反应池112的检体中的分析对象成分与从试剂容器113排出到反应池112的试剂的反应。
光源120向由搅拌机构106进行了搅拌并进行了化学反应的反应液照射输出光。分光器107对经过了反应液的透射光进行分光。基于分光后的透射光,进行基于吸光度测定的比色分析。
反应池清洗机构108从比色分析结束后的反应池112进行反应液的吸取,并排出洗涤剂等从而进行反应池112的清洗。
喷嘴清洗机构109清洗分注了检体或试剂的分注机构105的喷嘴116的前端。由此,附着在喷嘴116的残留物被去除,不会对下一个分析对象造成影响。控制部115由处理器、存储器等构成,控制各机构以及装置等。
输入部123由键盘、鼠标、触摸面板等构成,将来自用户的指示输入到控制部115。显示部124由LCD(Liquid Crystal Display:液晶显示器)等构成,显示操作画面等。
接着,使用图2说明本实施方式的自动分析装置100的模块连接例。图2表示实施方式的自动分析装置100的模块连接例。自动分析装置100具备投入/收纳部201、ISE部202(电解质测定部)、检体输送部203、比色分析部204。
投入/收纳部201用于投入和收纳检体架111。投入到投入/收纳部201的检体架111向检体输送部203移动。
之后,检体架111经由转子102(图2中未图示)向ISE部202输送。在ISE部202中,仅测定不使用光源120的项目。测定后,检体架111经由转子102返回检体输送部203。返回到检体输送部203的检体架111被输送到比色分析部204的检体分注位置121。
在清洗反应池112,执行池空白测定后,分注机构105进行分注动作。之后,比色分析部204使用光源120进行比色分析。之后使用图3对池空白测定的详细内容进行叙述。
接着,使用图3对本实施方式的自动分析装置100所使用的光学系统和配置在其周边的装置进行说明。图3表示实施方式的自动分析装置100所使用的光学系统和配置在其周边的装置。
首先,光源120由波长不同的2个以上的LED元件构成。生物化学自动分析存在多个测定项目,在各个测定项目中使用的光的波长不同,在340~800nm的范围内将12波长的光用于测定。以往使用的卤素灯能够用一个单元输出12波长的光,但在LED元件中需要使用能够分别输出不同波长的光的两个以上的LED元件。单独设定向各个LED元件供给的电流值。
来自光源120的光在反应盘104的动作过程中照射到经过光源120与衍射光栅304之间的测光位置的反应池112。在反应池112内的混合液中,被检试样的测定项目成分与试剂发生反应,与该测定项目成分的浓度成比例地生成或消耗测光对象物质。另外,在反应槽303与反应池112之间存在反应槽水(恒温介质)。
在照射到混合液的光中,与测光对象物质对应的吸收区域的波长的光被测光对象物质吸收。透射了反应液的光入射到凹状的衍射光栅304。衍射光栅304按每个波长对入射光进行分光,并将分光后的光输出至光检测器305。光检测器305将光量转换为电信号,并将该电信号输出至吸光度计算部306。吸光度计算部306基于从光检测器305输出的电信号计算吸光度,并将计算出的吸光度向控制部115输出。控制部115基于从吸光度计算部306输出的吸光度进行比色分析。
在执行比色分析时,对全部的反应池112分注池空白水,测定340~800nm的各波长的光的吸光度(池空白测定)。控制部115保持(存储)该测定结果来作为池空白值。控制部115将池空白值与分析对象的混合液的吸光度进行比较来修正吸光度,将修正后的吸光度作为测定数据输出到用户接口(显示在显示部124的画面等)。
电流检测部307监视(测定)流过光源120的电流。电流调整部308具有以下的电路,该电路在不影响分析的定时使向光源120供给的电流量降低或者使光源120的电源断开。
在此,在使光源120的电源从断开状态恢复到分析时的测定光量时,直到光量稳定为止要花费约5分钟左右的时间,这在自动分析装置中成为大的课题。因此,本实施方式的自动分析装置100具有如下功能:通过电流调整部308调整向光源120供给的电流,不完全断开而继续进行供给低电流的控制和脉冲控制,从而维持能够立即转移到分析时的测定光量的空闲状态。
实施例1
实施例1是在光源120为空闲状态时由电流调整部308进行用于供给低电流(相对于分析状态下的电流量减少的值)的控制的例子。图4是表示实施例1的电流调整部308在分析开始后向光源120供给的电流值的推移的曲线图。
如图4所示,首先,在从时刻T0至时刻T1期间,自动分析装置100为测定状态(测定模式),从时刻T1转移至架接收模式。
在此,在本实施例中,作为待机状态,存在第一待机模式和能够以比第一待机模式短的时间转移到分析状态的第二待机模式。第一待机模式是不仅分注机构105停止,清洗机构以及反应盘104也停止的休眠模式。第二待机模式是虽然分注机构105停止但清洗机构以及反应盘104未停止的架接收模式。因此,在架接收模式下,在从用户接收到测定委托时,能够省略分析前准备动作而转移到测定。
另外,在本实施例中,使用两个LED元件作为光源120。LED元件A在从电源断开的状态供给了测定时电流值(第一电流值)时,直至以测定时的光量稳定为止的时间比LED元件B长。例如,设为LED元件A是可见光线,LED元件B是波长比LED元件A短的紫外线。因此,在时刻T1自动分析装置100转移到架接收模式(第二待机模式)时,从LED元件A的测定时电流值IA1向空闲状态的电流值(第四电流值)IA2的减少比例被设定为比LED元件B的从测定时电流值IB1向空闲状态的电流值(第四电流值)IB1的减少比例小。由此,在转移到测定模式时,能够使稳定时间不同的两种LED元件在相同的定时稳定。
接着,在时刻T2,自动分析装置100使分析动作停止,转移到休眠模式(第一待机模式)。此时,使向各个LED元件供给的电流值向在睡眠模式下使用的空闲电流值(第二电流值)IA3、IB3变化。该IA3、IB3的值被设定为从测定时电流值IA1、IB1的减少比例比IA2、IB2大。如上所述,在睡眠模式下由于自动分析装置100的测定动作停止,所以从用户的执行指示直至转移到测定状态的时间比架接收模式要长。其结果是,在休眠模式下,直到使光源120稳定为止的时间余裕比架接收模式长,因此将电流值的减少比例设定得大,能够降低待机状态下的LED元件的消耗电力和对寿命的负荷。通过这样的控制,在本实施例的自动分析装置100中,能够在测定前使光量在短时间内稳定,并且实现光源120的长寿命化。
接着,使用图5说明本实施例的自动分析装置100启动时的处理。图5是表示实施例1的从自动分析装置100的启动时到架接收模式转换时为止的处理的流程图。
首先,当用户启动了自动分析装置100时(将自动分析装置100的电源接通时),控制部115执行初始化模式(步骤S500),同时启动光源120(步骤S510)。初始化模式是进行必要的最小限度的初始化和测定准备的模式,在初始化模式的动作中包含分注机构105的复位动作、池空白测定等。在该初始化模式时,控制部115使测定时使用的量的电流流过(供给测定时电流值),由此使光源120点亮。在不进行测定的初始化模式时,通过与测定模式时相同等级的电流量使光源120点亮,因此LED元件被加热,能够在初始化模式期间使光量稳定。此时,进行是否达到测定时的光量的监视(步骤S511)。稍后叙述光量监视的详细处理。当达到测定时的光量时,初始化模式结束。
在初始化模式结束后,没有分析委托等的情况下,控制部115转移到休眠模式(步骤S501),同时使光源120转移到空闲状态(步骤S512)。在空闲状态(非分析状态)下,电流调整部308将每个LED元件的电流量设为相对于测定时(分析状态)的电流量单独减少的值。具体而言,电流调整部308使波长短的LED元件B的电流量的减少比例比波长长的LED元件A的电流量的减少比例大。
接着,用户使用输入部123输入分析委托(测定的执行指示)。控制部115响应来自用户的分析委托,开始比色分析前动作(步骤S502),对光源120供给超过测定时电流值的电流(步骤S513)。在分析前动作中,进行架输送、池空白测定等。控制部115在从供给了超过测定时电流值的电流后经过一定时间(例如60秒左右)时,使电流量减少至测定时电流值(步骤S514),再次进行是否达到测定时的光量的监视(步骤S515)。当达到测定时的光量时,光源120转移到测定状态(步骤S516),控制部115开始分析动作(测定模式)(步骤S503)。在测定模式下,比色分析部204基于照射到反应池112的光进行分析(测定)。当分析结束时(步骤S504),控制部115判定是否设定了架接收模式(步骤S520),在设定的情况下,使自动分析装置100转移到架接收模式。在此,与通常的待机模式(睡眠模式)相比,在架接收模式下,从模式中的分析委托转移到分析状态的时间短,直到使光源120稳定为止的时间余裕短,因此向光源120供给的电流量的减少比例被设定为比通常的空闲状态小。
接着,使用图6说明本实施例的自动分析装置100的分析结束后立即进行的架接收模式中的处理。图6是表示实施例1的自动分析装置100的分析刚结束后的架接收模式中的处理的流程图。此外,用户能够选择架接收模式的有效/无效。
首先,控制部115使自动分析装置100转移到架接收模式(步骤S600),使光源120也转移到空闲状态(步骤S610)。在架接收模式中从用户有分析委托时,控制部115使自动分析装置100开始分析前动作(步骤S601),向光源120供给测定时电流值(步骤S611)。之后,控制部115监视来自光源120的光是否达到测定时的光量(步骤S612)。在来自光源120的光达到测定时的光量的情况下,控制部115使光源120转移到测定状态(步骤S613),使自动分析装置100开始分析动作(步骤S602)。之后,当分析结束时(步骤S603),控制部115从测定模式再次向架接收模式转移(步骤S600)。
接着,使用图7A来具体说明本实施例的自动分析装置100向光源120供给的电流量的整体的推移。图7A是表示实施例1的从自动分析装置100的电源断开的状态开始电流调整部308向光源120供给的电流值的推移的曲线图。在图7A中,纵轴表示向光源120供给的电流I,横轴表示时间T。另外,在图7A中,实线表示如本实施例那样在测定开始前将光源预先设为空闲状态时的推移,虚线表示作为比较例直到测定开始为止将光源的电源断开时的推移。
如图7A所示,将自动分析装置100的电源被接通的时刻设为时刻t0。在初始化模式开始的时刻t1,电流调整部308将向光源120供给的电流量设为测定时电流值(第一电流值)i1。之后,在初始化模式结束的时刻t2,电流调整部308使电流量减少至在空闲状态下使用的第二电流值i2。可以将电流量的减少比例设定为针对每个LED元件而不同(例如LED元件A减50%,LED元件B减30%)。从时刻t2到时刻t3相当于睡眠模式,但睡眠模式的持续期间根据自动分析装置100的使用状况而不同。此外,在睡眠模式的期间,向光源120供给的电流量维持空闲状态的第二电流值i2。
之后,在开始分析前动作的时刻t3,电流调整部308将向光源120供给的电流量设为比测定时电流值高的电流值(第三电流值)i3。由此,LED元件的温度上升,直至光量稳定为止的时间缩短。并且,在时刻t4,电流调整部308使电流量减少至测定时电流值i1,在进行分析动作的期间维持该值。然后,在时刻t5,分析动作结束,自动分析装置100转移到架接收模式,光源120也转移到空闲状态。如上所述,由于分析紧后的架接收模式能够在比通常的待机模式(睡眠模式)短的时间转移到分析状态,所以向光源120供给比通常的空闲状态高的电流值(第四电流值)i4。
在转移到架接收模式后,当用户在预先指定的时间以内的某个时刻(在图7A中为时刻t6)进行了下一个分析委托时,自动分析装置100迅速地转移到测定模式。与此相伴,向光源120供给的电流值也变更为测定时电流值i1。另一方面,在转移到机架接收模式后,当用户未在预先指定的时间以内进行下一个分析委托时,自动分析装置100转移到通常的待机模式(休眠模式),与此相伴,电流值也变更为空闲状态的第二电流值i2。
接着,使用图7B对本实施例的自动分析装置100的光源120的光量的整体推移进行具体说明。图7B是表示实施例1的从自动分析装置100的电源断开的状态开始的光量的推移的曲线图。在图7B中,纵轴表示由光检测器305测定的来自光源120的光量L,横轴表示时间T。另外,在图7B中,实线表示如本实施例那样在测定开始前预先使光源为空闲状态时的推移,虚线表示作为比较例直到测定开始为止将光源的电源断开时的推移。
如图7B所示,在供给测定时电流值i1的时刻t1,光源120的光量逐渐上升,最终达到作为测定时光量的l1。之后,在初始化模式结束的时刻t2,当供给电流值减少至第二电流值i2时,光量也减少至l2。该光量维持到根据来自用户的分析委托从待机模式转移到测定模式为止。接着,在转移到测定状态的时刻t3,向光源120供给比测定时电流值大的第三电流值i3,光量上升到l3。如上所述,通过暂时供给超过测定时电流值i1的电流量来实现光量的稳定。之后,在时刻t4,电流值减少至测定时电流值i1,光量也变化为l1,在分析动作中维持该光量。当在分析动作结束的时刻t5设定了架接收模式时,供给电流值减少到第四电流值i4,光量减少到l4。
另一方面,作为比较例,在时刻t3进行了分析委托而首次供给了测定时电流值i1的电流量的情况下,与本实施例的情况相比,直到成为测定时光量l3为止需要长时间,在转移到分析动作之前无法使光量稳定。
接着,使用图8对本实施例的自动分析装置100的光量监视进行说明。图8是表示实施例1中的光量监视的处理的流程图。
供给测定时电流值后直到光源120的光量稳定为止的时间不仅根据在供给测定时电流紧前光源120是否为空闲状态而不同,还根据光源120的个体差异和使用状况而存在偏差。因此,本实施例的控制部115具备控制电流检测部307及吸光度计算部306来确认来自光源120的光量是否稳定的功能。
具体而言,电流检测部307通过检测光源120的电流值来监视电流,吸光度计算部306基于透射了反应池112的光来计算吸光度,由此监视吸光度。然后,控制部115使用由电流检测部307检测出的电流值和由吸光度计算部306计算出的吸光度,监视光量的稳定是否存在异常。
如图8所示,在向光源120供给测定时电流值时,电流检测部307监视电流,吸光度计算部306监视全部波长的吸光度。将电流检测部307检测出的光源120的电流值和由吸光度计算部306计算出的吸光度发送到控制部115。
控制部115判断电流的监视值相对于电流调整部308的设定值是否在一定范围内(例如设定电流值的±1%以内),并且吸光度的监视值与前次值的差值是否在一定范围内(步骤S801-1)。在此,关于与吸光度的监视值进行比较的前次值,使用在从测定时电流值转移到其他电流值之前计算出的吸光度的最新的值。例如,在初始化模式时进行的光量监视(图5的步骤S511)中,在自动分析装置100的电源断开之前计算出的池空白值的最后的值被设为前次值。
在步骤S801-1中,在电流的监视值和吸光度的监视值均满足条件的情况下,控制部115判断池空白中的全部波长的吸光度的标准偏差是否在一定范围内(步骤S802)。
在步骤S802中,在池空白中的全部波长的吸光度的标准偏差在一定范围内的情况下,吸光度的偏差少,因此控制部115在自动分析装置100为初始化模式时结束初始化模式,向睡眠模式转移。另外,控制部115在自动分析装置100处于分析前动作中时结束分析前动作,开始分析动作。
另一方面,在步骤S801-1中,电流的监视值和吸光度的监视值中的任一个不满足条件的情况下,或者在步骤S802中,池空白中的全部波长的吸光度的标准偏差不在一定范围内的情况下,控制部115判断供给测定时电流值后是否经过了一定时间(步骤S801-2)。此外,在初始化模式下,光量稳定为止的时间比从空闲状态转移到测定状态时长,因此成为步骤S801-2中的判断阈值的一定时间也被设定为比其他情况长。
在不满足步骤S801-2的条件的情况下,控制部115返回步骤S800,继续电流的监视和吸光度的监视。
另一方面,在满足步骤S801-2的条件的情况下,控制部115看作光源的稳定存在异常,在显示部124显示系统警报(步骤S801-3)。
接着,对本实施例的自动分析装置100的寿命监视进行说明。光源120的寿命根据图7A中的以测定时电流值i1点亮时的总和期间来计算。但是,向光源120供给的电流值并非始终限于测定时电流值i1,希望考虑在光源120断开时、空闲状态下电流供给比例减少时的点亮期间。因此,本实施例的控制部115考虑向光源120供给了与测定状态相比减小的值的电流量的期间及其减少比例,对总和点亮期间进行修正。因此,控制部115记录向光源120供给电流的时间和电流量。例如,在光源120处于空闲状态,所供给的电流量减少了50%的情况下,控制部115考虑该减少比例,将实际的点亮期间的50%记录为修正后的点亮期间。然后,控制部115基于所记录的点亮期间来预测光源120的寿命,并将光源更换时期显示在显示部124,由此对于用户而言,能够掌握难以进行作业的光源120的更换服务的提供时机。
实施例2
实施例2是在光源120为空闲状态时,电流调整部308进行脉冲(交替地重复测定时电流值和断开时电流值)控制的例子。图9A是表示实施例2的电流调整部308向光源120供给的电流值的推移的曲线图。在图9A中,纵轴表示向光源120供给的电流I,横轴表示时间T。
如图9A所示,将自动分析装置100的电源被接通的时刻设为时刻t0。在从时刻t0到时刻t1的期间,光源120为断开的状态,此时使向光源120供给的电流值为断开时电流值i0。在初始化模式开始的时刻t1,电流调整部308向光源120供给测定时电流值i1。
之后,在初始化模式结束的时刻t2,控制部115使光源120向空闲状态转移。在光源120为空闲状态时,电流调整部308对于向光源120供给的电流值,交替地切换断开时电流值i0和测定时电流值i1,从而进行脉冲控制。如上所述,在使光源120从完全断开的状态恢复时,要花费5分钟以上的时间。因此,如本实施例那样,通过脉冲控制不产生完全断开的状态,由此能够缩短恢复时间。另外,LED元件的寿命受到运转时的温度影响,具有温度越低寿命越延长的特征。因此,与持续供给测定时电流值相比,脉冲控制使光源120的断开时间增加,因此温度下降,能够实现光源120的长寿命化。而且,与接通的持续时间和断开的持续时间相同的脉冲控制相比,断开的持续时间比接通的持续时间长的脉冲控制使温度进一步下降,因此能够使光源120进一步长寿命化。
另外,即使是断开时间和接通时间相同的脉冲控制,脉冲的周期越长,也能够实现光源120的长寿命化。但是,如果脉冲的周期长,则直到光源120的光量稳定为止的时间变长。因此,在本实施例中,将脉冲控制的周期TI设定为在进行分析之前来得及使光量的稳定且使光源120的寿命尽可能长的值。
在从时刻t2到时刻t3的期间,自动分析装置100为休眠模式,电流调整部308维持脉冲控制。接着,在时刻t3,自动分析装置100转移到测定模式。此时,电流调整部308结束脉冲控制,向光源120供给测定时电流值i1。并且,在从时刻t3到时刻t4的期间,自动分析装置100为测定模式,电流调整部308将向光源120供给的电流值维持为测定时电流值i1。
然后,在测定模式结束的时刻t4,如果设定了架接收模式,则控制部115转移到架接收模式,电流调整部308以周期TII开始脉冲控制。如上所述,在架接收模式中,从模式中的分析委托转移到测定模式的时间比休眠模式的情况短。因此,将周期TII设定为比TI短的值。此外,在架接收模式和休眠模式中,也可以改变脉冲的断开的持续时间来代替改变脉冲的周期。
接着,在从时刻t4到时刻t5的期间,自动分析装置100是架接收模式,电流调整部308维持脉冲控制。在从架接收模式转移到测定模式的时刻t5,电流调整部308结束脉冲控制,向光源120供给测定时电流值i1。
通过进行这样的脉冲控制,根据本实施例,能够实现兼顾光源120的稳定时间的缩短和光源120的长寿命化。另外,本实施例的控制也与实施例1的控制同样地,在测定时不使光源120周期性地发光而是连续地发光,因此也能够应用于使反应盘旋转来处理大量的检体的后分光方式的自动分析装置那样的测光时间短的自动分析装置。
接着,使用图9B来说明对于构成光源120的每个LED元件进行不同的脉冲控制的例子。图9B是表示实施例2的电流调整部308向LED元件A、B供给的电流值的推移的曲线图。在图9B中,纵轴表示向光源120供给的电流I,横轴表示时间T。
光源120存在两个LED元件,使LED元件A在从电源断开的状态开始供给了测定时电流值时,直到以测定时的光量稳定为止的时间比LED元件B长。IA1是电流调整部308向LED元件A供给的电流值,IB1是电流调整部308向LED元件B供给的电流值。在光源120为空闲状态时,电流调整部308对于向LED元件A和LED元件B分别供给的电流进行脉冲控制。将对于LED元件A进行的脉冲控制的周期设为TA,将对于LED元件B进行的脉冲控制的周期设为TB。如上所述,LED元件A的稳定时间比LED元件B长。因此,将周期TA设定为比周期TB短的值。通过进行这样的脉冲控制,能够使稳定时间不同的两个LED元件同时稳定。
如以上说明的那样,根据本实施方式,能够实现光源的长寿命化,并且能够缩短分析时的光量的稳定时间。并且,通过监视光量的功能,能够防止基于异常光量的测定。另外,通过监视使用状况下的光源寿命,能够提供最佳的更换服务。
本发明不限于上述实施例,包含各种变形例。例如,上述实施例是为了容易理解地说明本发明而详细说明的实施例,并不一定限于具备所说明的全部结构。能够将某实施例的一部分结构置换为其他实施例的结构,也能够对某实施例的结构追加其他实施例的结构。对于各实施例的一部分结构,能够进行其他结构的追加、删除、置换。
附图标记说明
101…输送线、102…转子、103…试剂盘、104…反应盘、105…分注机构、106…搅拌机构、107…分光器、108…反应池清洗机构、109…喷嘴清洗机构、110…检体容器、111…检体架、112…反应池、113…试剂容器、114…屏蔽部、115…控制部、116…喷嘴、117…液面传感器、118…臂、119…分注机构用电动机、120…光源、121…检体分注位置、122…试剂分注位置、123…输入部、124…显示部、201…投入/收纳部、202…ISE部、203…检体输送部、204…比色分析部、303…反应槽、304…衍射光栅、305…光检测器、306…吸光度计算部、307…电流检测部、308…电流调整部。

Claims (13)

1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:
光源,其具有波长不同的2个以上的LED元件;
分析部,其基于照射到反应容器的光来进行分析;以及
电流调整部,其调整向每个所述LED元件供给的电流量,
所述电流调整部使非分析状态下的每个所述LED元件的电流量为相对于分析状态下的电流量单独减少后的值。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述电流调整部使波长短的所述LED元件的电流量的减少比例大于波长长的所述LED元件的电流量的减少比例。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
作为非分析状态的模式,具有第一待机模式和能够以比所述第一待机模式短的时间转移到分析状态的第二待机模式,
所述电流调整部使所述第二待机模式下的所述LED元件的电流量的减少比例小于所述第一待机模式下的所述LED元件的电流量的减少比例。
4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
所述自动分析装置具备:
清洗机构,其进行所述反应容器的清洗;
反应盘,其保持所述反应容器来使所述反应容器移动至预定的位置;以及
分注机构,其对检体或试剂进行分注,
所述第一待机模式是不仅所述分注机构停止,所述清洗机构和所述反应盘也停止的模式,
所述第二待机模式是虽然所述分注机构停止,但所述清洗机构和所述反应盘不停止的模式。
5.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
当自动分析装置的电源接通时,在执行了初始化模式后,经过待机模式而成为分析状态,
所述电流调整部使所述初始化模式下的所述LED元件的电流量大于所述待机模式下的所述LED元件的电流量。
6.根据权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
所述电流调整部使所述初始化模式下的所述LED元件的电流量为分析状态下的电流量。
7.根据权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
所述电流调整部在从所述待机模式到分析状态的途中,使所述LED元件的电流量暂时为比分析状态大的电流量。
8.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述自动分析装置具备:
电流检测部,其检测所述光源的电流值;
吸光度计算部,其基于透射了所述反应容器的光来计算吸光度;以及
控制部,其使用所述电流检测部检测出的电流值和所述吸光度计算部计算出的吸光度,来监视光量的稳定是否存在异常。
9.根据权利要求8所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部在即使供给分析状态下的电流量后经过了一定时间,由所述电流检测部检测出的电流值相对于所述电流调整部的设定值不在一定范围内的情况下,或者所述吸光度计算部计算出的吸光度与前次值的差值不在一定范围内的情况下,作为光量的稳定存在异常而输出警报。
10.根据权利要求8所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部在即使供给分析状态下的电流量后经过了一定时间,由所述吸光度计算部计算出的吸光度的标准偏差不在一定范围内的情况下,作为光量的稳定存在异常而输出警报。
11.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述自动分析装置具备:
控制部,考虑向所述LED元件供给了比分析状态减少的值的电流量的期间及其减少比例,来预测所述光源的更换时期;以及
显示部,显示由所述控制部预测出的所述光源的更换时期。
12.一种自动分析装置,其特征在于,具备:
光源,其具有波长不同的两个以上的LED元件;
分析部,其基于照射到反应容器的光进行分析;以及
电流调整部,其调整对每个所述LED元件供给的电流量,
所述电流调整部在非分析状态下通过脉冲来供给电流,使波长短的所述LED元件时的断开持续时间比波长长的所述LED元件时的断开持续时间长。
13.根据权利要求12所述的自动分析装置,其特征在于,
作为非分析状态的模式,具有第一待机模式和能够以比所述第一待机模式短的时间转移到分析状态的第二待机模式,
所述电流调整部使所述第二待机模式下的脉冲的断开持续时间比所述第一待机模式下的脉冲的断开持续时间短。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007127583A (ja) * 2005-11-07 2007-05-24 Toshiba Corp 自動分析装置
US7248361B2 (en) * 2005-12-22 2007-07-24 Palo Alto Research Center Incorporated Fluorescence reader based on anti-resonant waveguide excitation
JP2011237384A (ja) * 2010-05-13 2011-11-24 Hitachi High-Technologies Corp 分析用光学系及びその光学系を用いた分析装置
JP6279234B2 (ja) * 2013-07-01 2018-02-14 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
DE102016225817B4 (de) * 2016-12-21 2019-07-04 Bayer Pharma Aktiengesellschaft Verfahren und System für Messungen im Hochdurchsatz-Screening mit hoher Zeitauflösung
WO2019204841A1 (de) * 2018-04-23 2019-10-31 Meon Medical Solutions Gmbh & Co Kg Automatischer analysator und optisches messverfahren zur gewinnung von messsignalen von flüssigen medien

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