JP2661017B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
- Publication number
- JP2661017B2 JP2661017B2 JP61177286A JP17728686A JP2661017B2 JP 2661017 B2 JP2661017 B2 JP 2661017B2 JP 61177286 A JP61177286 A JP 61177286A JP 17728686 A JP17728686 A JP 17728686A JP 2661017 B2 JP2661017 B2 JP 2661017B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reaction tube
- reagent
- unit
- reaction
- washing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/04—Details of the conveyor system
- G01N2035/0401—Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
- G01N2035/0437—Cleaning cuvettes or reaction vessels
Landscapes
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は自動分析装置に関する。さらに詳しくは生
化学分析等の分野に用いる自動分析装置に適し、ことに
反応管を直接測光する方式でランダムアクセス可能な自
動分析装置に関する。 （ロ）従来の技術 反応管直接測光方式の自動分析装置には、被検試料搬
送ラインと、試薬循環ラインと、測光部、洗浄部を有し
多数の反応管（反応測光セル）をこれらに循環する測定
ラインとからなり、被検試料搬送ラインと測定ラインと
との間に設置され被検試料を測定ラインの反応管に供給
する試料供給手段と、試薬循環ラインと測定ラインとの
間に設置され試薬循環ライン上の試薬を測定ライン上の
反応管に分注する試薬分注手段とを備え、反応管は測光
後洗浄部で洗浄されて繰返し使用されるよう構成されて
いるものがある。 （ハ）発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記自動分析装置では測定項目によっ
ては反応測光セル内面への吸着性が強く一定の洗浄操作
では完全に汚れを除去できない可能性がある。このよう
な場合、次の測定に大きな誤差を与えるだけでなく、顕
著な場合その反応測光セルは使用できなくなり装置全体
の処理に支障をきたすことになる。従来このような問題
に対しては洗浄後の反応測光セルに水を分注してその吸
光度（セルブランク値）を基準にして次の測定を行うこ
とにより誤差を小さくしたり、その吸光度自身を清浄な
ときの吸光度と比較し別に設定した範囲を越えた場合警
報を出すなどの手段を装置に付加することが行われてい
たが、前者の方法では誤差を完全に除くことは不可能で
あり、また後者の方法でも汚染された反応測光セルの処
理についてはいまだ解決されていない。 この発明はかかる状況に鑑み試されたものであり、こ
とに反応管が汚染度により使用の適否を判断しかつ使用
不可能と判断された場合にも連続分析に支障を与えない
自動分析装置を提供しようとするものである。 （ニ）問題点を解決するための手段 かくしてこの発明によれば、被検試料搬送ラインと、
試薬循環ラインと、測光部、洗浄部を有し多数の反応管
をこれらに循環する測定ラインとからなり、被検試料搬
送ラインと測定ラインとの間に設置され被検試料を測定
ラインの反応管に供給する試料供給手段と、試薬循環ラ
インと測定ラインとの間に設置され試薬循環ライン上の
試薬を測定ライン上の反応管に分注する試薬分注手段と
を備えてなり、測定後の反応管廃棄することなくを循環
使用しうるよう構成された反応管直接測光方式の自動分
析装置であって、 洗浄部が洗浄手段、洗浄確認手段および洗剤液供給手
段を有しかつ洗浄確認手段が反応管の汚染度測定用測光
部と、該汚染度測定用測光部による洗浄後の反応管のブ
ランク吸光度値A0と予め設定された許容限界値Ａとの大
小関係を演算し汚染の有無を判断する演算部とから構成
されてなり、 A0＞Ａの際の演算部からの汚染反応管検出信号に基づ
いて該反応管へ洗剤液を供給しかつ該反応管への被検試
料および試薬の供給を停止するよう洗剤液供給手段、供
給試料手段および試薬供給手段を制御する制御部とを備
え、この制御部は前記汚染反応管検出信号がA0≦Ａとな
らない限り、反応管への洗剤液供給・試料および試薬供
給停止の両動作を繰り返し継続させ、A0≦Ａとなった以
降は該反応管への洗剤液供給を停止して試料および試薬
供給を再開させるように制御することを特徴とする自動
分析装置が提供される。 この発明の自動分析装置は、洗浄後の反応管（反応測
光セル）の再使用の適否を自動的に判断し、使用不可能
と判断された反応管を連続分析を中断することなく試料
・試薬の供給をスキップしかつ測定ライン循環中に洗剤
液により浸漬洗浄しうるよう構成されたことを特徴とす
る。 この発明の装置において、汚染反応管と判断された反
応管を上記のごとくスキップしうるには、例えば汚染反
応管検出信号に基づいて該当する反応管の番号を記憶す
る記憶部を備えた制御部等の構成が挙げられる。 この発明の装置において、被検試料搬送ライン、試薬
循環ラインおよび測定ラインのそれぞれの駆動、試料供
給手段および試薬供給手段の作動、測定部および洗浄部
の作動等の作動系制御部と演算部とはすべてマイクロコ
ンピュータ等を内蔵した制御部により制御される。 この発明の装置は、反応管が汚染される前の分析項目
を記憶し、該項目に応じて洗剤の濃度、種類を自動的に
変えるよう洗浄手段および洗剤液供給手段を制御しうる
機構を付加したものであってもよい。また、使用不可能
な反応管の個数を表示し、有る時点で予め設定された個
数を越えると自動的にサンプルストップをかけるよう制
御しうる機構を付加したものであってもよい。このよう
なものであれば、使用不可能な反応管が増加して装置の
分析処理能力が著しく低下した場合にはこのような状態
を継続することなく処理を停止させるため、使用不可能
な反応管を交換するなどの処置をとることができ、装置
全体としての処理能力を一定水準以上に常時維持・管理
することができる。 （ホ）作用 この発明によれば、測定ライン上を循環する反応管を
洗浄後そのブランク吸光度を測定して許容限界値との大
小を演算することにより自動的に反応管の再使用の適否
を判断する。汚染反応管には演算部からの汚染反応検出
信号に基づいて洗剤液が供給されて測定用清浄反応管と
共に測定ラインを循環するとともに該汚染反応管には試
料供給および試薬供給が自動的に停止され、再度洗浄部
で汚染度が判断される。 以下実施例によりこの発明を詳細に説明するが、これ
によりこの発明は限定されるものではない。 （ヘ）実施例 第１図はこの発明の一実施例の自動分析装置の構成説
明図である。 図において、自動分析装置（１）は、各サンプルカッ
プ（21）に用意されたそれぞれの被検試料を順次搬送す
るサンプルラック（２）と、多数の反応測光セル（31）
を反時計方向に間欠的に循環する反応ターンテーブル
（３）と、第１試薬群を循環する試薬トレイ（４）およ
び第２試薬群を循環する試薬トレイ（５）と、サンプル
ラック（２）と反応ターンテーブル（３）との間に設定
されたサンプルラック（２）上の被検試料を反応ターン
テーブル（３）上の反応測光セル（31）に供給するサン
プラー（６）と、反応ターンテーブル（３）と試薬トレ
イ（４）（５）との間に設定され、それぞれの試薬群か
らの試薬を反応ターンテーブル（３）上の反応測光セル
（31）に分注する試薬ノズル（７）（８）とから構成さ
れている。 上記試薬トレイ（４）（５）はそれぞれ独立して回転
・停止するよう構成されている。 反応ターンテーブル（３）には試薬分注後一定時間経
過後に反応測光セル（31）内の反応液の光学濃度を測定
する測光手段（９）および測光後の反応測光セル（31）
を洗浄する洗浄部（10）が設定されており、上記測光手
段（９）は演算装置（14）に電気接続されている。また
すべての反応測光セル（31）は図示しない恒温装置によ
り一定に温度が保たれている。 上記洗浄部（10）には反応測光セル（31）を洗浄・乾
燥する洗浄ノズル部（11）と、洗浄後の反応測光セル
（31）の汚染度を吸光度により確認する汚染度測定用測
光装置（12）と、該測光装置（12）の測定結果により作
動する洗剤液供給ノズル（13）が設置されている。洗浄
ノズル部（11）および洗剤供給ノズル（13）は第２図に
示すように配設され、洗浄ノズル部（11）には吸引・吐
出可能な３本のノズルおよび風乾用のノズル１本が設定
され、上記３本のノズルは順に純水（111）、洗剤（11
2）、純水（113）がそれぞれ供給可能に構成されてい
る。上記汚染度測定用測光装置（122）は上記演算装置
（14）に接続され、該演算装置（14）はさらに記憶装置
（15）に電気接続されており、記憶装置（15）には前記
洗剤液供給ノズル（13）が電気接続されている。 またこの装置の駆動および測定はすべて図示しない制
御部により制御され、該制御部には上記演算装置（1
4）、記憶装置（15）が接続されている。 次にこの自動分析装置の作動を説明する。 サンプルラック（２）上のサンプルカップ（21）中の
各被検試料は、サンプラー（６）により反応ターンテー
ブル（３）に設置された各反応測光セル（31）内に順次
分注される。被検試料がそれぞれ分注された各反応測光
セル（31）はそれぞれの測定項目にしたがって試薬トレ
イ（４）および（５）からそれぞれ相当する第１および
／または第２試薬が試薬ノズル（７）および／または
（８）により供給される。上記反応測光セル（31）は反
応開始直後から一定時間経過後にその吸光度が測光手段
（９）により測定され、この測定信号は演算装置（14）
に送られて目的成分の濃度が計算され、図示しない出力
装置に出力される。 測定の終了した反応測光セル（31）は洗浄部（10）に
送られる。洗浄部（10）において反応測光セル（31）は
まず洗浄ノズル部（11）のノズル（111）により反応液
の吸引、純水の吐出・吸引が繰返された１回目の洗浄が
なされ、次いでノズル（112）により洗剤による同様の
洗浄が繰返された後、さらにノズル（113）により２回
目の純水の吐出・吸引が行われる。 上記洗浄後の反応測光セル（31）は汚染度測定用測光
装置（12）によりセルブランク値（A0）が測定される。
すなわち洗浄を終了した反応測光セル（31）に一定量の
純水が分注された。これについての吸光度が汚染度測定
用測光装置（12）により測定される。測定されたA0は演
算装置（14）に送られ、予め設定されている許容限界値
Ａとの大小が判定される。 A0≦Ａと判断された反応測光セルはノズル（114）に
より乾燥操作が行われ、再び上記と同様に測定に供され
る。 一方、A0＞Ａのときは出力装置に該当する反応測光セ
ルの番号を出力して記憶装置（15）に記憶すると同時に
この反応測光セルを測定に使用しない旨の指示信号を制
御装置に送る。次いでこの反応測光セルは洗剤液供給ノ
ズル（13）により特別の洗剤（例えばクリーン99−Ｋ）
が供給され、この洗剤液を充填したまま反応ターンテー
ブル（３）を循環し他の反応測光セルの測定と並行して
この間に浸漬洗浄される。またこの反応測光セルに対し
ては制御装置からの信号に基づいてサンプラー（６）試
薬ノズル（７）（８）および測光手段（９）が作動しな
いよう制御され、これによって測定を中断することなく
汚染反応測光セルが測定からスキップされる。こうして
再び洗浄部（10）に送られて通常の洗浄をうけた後上記
と同様の洗浄確認が行われ、使用の可否が判断される。
もし汚染が除かれ測定使用可能となった反応測光セルに
ついては再び出力装置に該反応測光セルの番号を出力
し、記憶装置（15）の記憶を解除するとともに次の測定
に使用する指示を出し正常動作に復帰する。しかし依然
として汚染されていると判断された場合は、上記記憶が
解除されず再度サンプラー（６）、試薬ノズル（７）
（８）および測光手段（９）が作動しないよう制御され
る。 上記動作の制御例としては、例えば第３図に示すよう
なフローチャート図に従って制御されるものが挙げられ
る。 （ト）発明の効果 この発明によれば、洗浄後の反応管の汚染度が予め設
定されている許容限界値以下に押さえられるので、汚染
による測定誤差を殆ど生じない。また洗浄後の反応管の
再使用の適否を自動的に判断するとともに使用不可能と
判断された場合においても連続分析を中断することなく
測定ラインを循環中に反応管が洗浄できかつ洗浄により
再使用可能となった反応管は自動的に測定に組み入れら
れ、反応管取り替え、装置停止等の煩わしい操作が不要
となり分析が効率良く行われる。
化学分析等の分野に用いる自動分析装置に適し、ことに
反応管を直接測光する方式でランダムアクセス可能な自
動分析装置に関する。 （ロ）従来の技術 反応管直接測光方式の自動分析装置には、被検試料搬
送ラインと、試薬循環ラインと、測光部、洗浄部を有し
多数の反応管（反応測光セル）をこれらに循環する測定
ラインとからなり、被検試料搬送ラインと測定ラインと
との間に設置され被検試料を測定ラインの反応管に供給
する試料供給手段と、試薬循環ラインと測定ラインとの
間に設置され試薬循環ライン上の試薬を測定ライン上の
反応管に分注する試薬分注手段とを備え、反応管は測光
後洗浄部で洗浄されて繰返し使用されるよう構成されて
いるものがある。 （ハ）発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記自動分析装置では測定項目によっ
ては反応測光セル内面への吸着性が強く一定の洗浄操作
では完全に汚れを除去できない可能性がある。このよう
な場合、次の測定に大きな誤差を与えるだけでなく、顕
著な場合その反応測光セルは使用できなくなり装置全体
の処理に支障をきたすことになる。従来このような問題
に対しては洗浄後の反応測光セルに水を分注してその吸
光度（セルブランク値）を基準にして次の測定を行うこ
とにより誤差を小さくしたり、その吸光度自身を清浄な
ときの吸光度と比較し別に設定した範囲を越えた場合警
報を出すなどの手段を装置に付加することが行われてい
たが、前者の方法では誤差を完全に除くことは不可能で
あり、また後者の方法でも汚染された反応測光セルの処
理についてはいまだ解決されていない。 この発明はかかる状況に鑑み試されたものであり、こ
とに反応管が汚染度により使用の適否を判断しかつ使用
不可能と判断された場合にも連続分析に支障を与えない
自動分析装置を提供しようとするものである。 （ニ）問題点を解決するための手段 かくしてこの発明によれば、被検試料搬送ラインと、
試薬循環ラインと、測光部、洗浄部を有し多数の反応管
をこれらに循環する測定ラインとからなり、被検試料搬
送ラインと測定ラインとの間に設置され被検試料を測定
ラインの反応管に供給する試料供給手段と、試薬循環ラ
インと測定ラインとの間に設置され試薬循環ライン上の
試薬を測定ライン上の反応管に分注する試薬分注手段と
を備えてなり、測定後の反応管廃棄することなくを循環
使用しうるよう構成された反応管直接測光方式の自動分
析装置であって、 洗浄部が洗浄手段、洗浄確認手段および洗剤液供給手
段を有しかつ洗浄確認手段が反応管の汚染度測定用測光
部と、該汚染度測定用測光部による洗浄後の反応管のブ
ランク吸光度値A0と予め設定された許容限界値Ａとの大
小関係を演算し汚染の有無を判断する演算部とから構成
されてなり、 A0＞Ａの際の演算部からの汚染反応管検出信号に基づ
いて該反応管へ洗剤液を供給しかつ該反応管への被検試
料および試薬の供給を停止するよう洗剤液供給手段、供
給試料手段および試薬供給手段を制御する制御部とを備
え、この制御部は前記汚染反応管検出信号がA0≦Ａとな
らない限り、反応管への洗剤液供給・試料および試薬供
給停止の両動作を繰り返し継続させ、A0≦Ａとなった以
降は該反応管への洗剤液供給を停止して試料および試薬
供給を再開させるように制御することを特徴とする自動
分析装置が提供される。 この発明の自動分析装置は、洗浄後の反応管（反応測
光セル）の再使用の適否を自動的に判断し、使用不可能
と判断された反応管を連続分析を中断することなく試料
・試薬の供給をスキップしかつ測定ライン循環中に洗剤
液により浸漬洗浄しうるよう構成されたことを特徴とす
る。 この発明の装置において、汚染反応管と判断された反
応管を上記のごとくスキップしうるには、例えば汚染反
応管検出信号に基づいて該当する反応管の番号を記憶す
る記憶部を備えた制御部等の構成が挙げられる。 この発明の装置において、被検試料搬送ライン、試薬
循環ラインおよび測定ラインのそれぞれの駆動、試料供
給手段および試薬供給手段の作動、測定部および洗浄部
の作動等の作動系制御部と演算部とはすべてマイクロコ
ンピュータ等を内蔵した制御部により制御される。 この発明の装置は、反応管が汚染される前の分析項目
を記憶し、該項目に応じて洗剤の濃度、種類を自動的に
変えるよう洗浄手段および洗剤液供給手段を制御しうる
機構を付加したものであってもよい。また、使用不可能
な反応管の個数を表示し、有る時点で予め設定された個
数を越えると自動的にサンプルストップをかけるよう制
御しうる機構を付加したものであってもよい。このよう
なものであれば、使用不可能な反応管が増加して装置の
分析処理能力が著しく低下した場合にはこのような状態
を継続することなく処理を停止させるため、使用不可能
な反応管を交換するなどの処置をとることができ、装置
全体としての処理能力を一定水準以上に常時維持・管理
することができる。 （ホ）作用 この発明によれば、測定ライン上を循環する反応管を
洗浄後そのブランク吸光度を測定して許容限界値との大
小を演算することにより自動的に反応管の再使用の適否
を判断する。汚染反応管には演算部からの汚染反応検出
信号に基づいて洗剤液が供給されて測定用清浄反応管と
共に測定ラインを循環するとともに該汚染反応管には試
料供給および試薬供給が自動的に停止され、再度洗浄部
で汚染度が判断される。 以下実施例によりこの発明を詳細に説明するが、これ
によりこの発明は限定されるものではない。 （ヘ）実施例 第１図はこの発明の一実施例の自動分析装置の構成説
明図である。 図において、自動分析装置（１）は、各サンプルカッ
プ（21）に用意されたそれぞれの被検試料を順次搬送す
るサンプルラック（２）と、多数の反応測光セル（31）
を反時計方向に間欠的に循環する反応ターンテーブル
（３）と、第１試薬群を循環する試薬トレイ（４）およ
び第２試薬群を循環する試薬トレイ（５）と、サンプル
ラック（２）と反応ターンテーブル（３）との間に設定
されたサンプルラック（２）上の被検試料を反応ターン
テーブル（３）上の反応測光セル（31）に供給するサン
プラー（６）と、反応ターンテーブル（３）と試薬トレ
イ（４）（５）との間に設定され、それぞれの試薬群か
らの試薬を反応ターンテーブル（３）上の反応測光セル
（31）に分注する試薬ノズル（７）（８）とから構成さ
れている。 上記試薬トレイ（４）（５）はそれぞれ独立して回転
・停止するよう構成されている。 反応ターンテーブル（３）には試薬分注後一定時間経
過後に反応測光セル（31）内の反応液の光学濃度を測定
する測光手段（９）および測光後の反応測光セル（31）
を洗浄する洗浄部（10）が設定されており、上記測光手
段（９）は演算装置（14）に電気接続されている。また
すべての反応測光セル（31）は図示しない恒温装置によ
り一定に温度が保たれている。 上記洗浄部（10）には反応測光セル（31）を洗浄・乾
燥する洗浄ノズル部（11）と、洗浄後の反応測光セル
（31）の汚染度を吸光度により確認する汚染度測定用測
光装置（12）と、該測光装置（12）の測定結果により作
動する洗剤液供給ノズル（13）が設置されている。洗浄
ノズル部（11）および洗剤供給ノズル（13）は第２図に
示すように配設され、洗浄ノズル部（11）には吸引・吐
出可能な３本のノズルおよび風乾用のノズル１本が設定
され、上記３本のノズルは順に純水（111）、洗剤（11
2）、純水（113）がそれぞれ供給可能に構成されてい
る。上記汚染度測定用測光装置（122）は上記演算装置
（14）に接続され、該演算装置（14）はさらに記憶装置
（15）に電気接続されており、記憶装置（15）には前記
洗剤液供給ノズル（13）が電気接続されている。 またこの装置の駆動および測定はすべて図示しない制
御部により制御され、該制御部には上記演算装置（1
4）、記憶装置（15）が接続されている。 次にこの自動分析装置の作動を説明する。 サンプルラック（２）上のサンプルカップ（21）中の
各被検試料は、サンプラー（６）により反応ターンテー
ブル（３）に設置された各反応測光セル（31）内に順次
分注される。被検試料がそれぞれ分注された各反応測光
セル（31）はそれぞれの測定項目にしたがって試薬トレ
イ（４）および（５）からそれぞれ相当する第１および
／または第２試薬が試薬ノズル（７）および／または
（８）により供給される。上記反応測光セル（31）は反
応開始直後から一定時間経過後にその吸光度が測光手段
（９）により測定され、この測定信号は演算装置（14）
に送られて目的成分の濃度が計算され、図示しない出力
装置に出力される。 測定の終了した反応測光セル（31）は洗浄部（10）に
送られる。洗浄部（10）において反応測光セル（31）は
まず洗浄ノズル部（11）のノズル（111）により反応液
の吸引、純水の吐出・吸引が繰返された１回目の洗浄が
なされ、次いでノズル（112）により洗剤による同様の
洗浄が繰返された後、さらにノズル（113）により２回
目の純水の吐出・吸引が行われる。 上記洗浄後の反応測光セル（31）は汚染度測定用測光
装置（12）によりセルブランク値（A0）が測定される。
すなわち洗浄を終了した反応測光セル（31）に一定量の
純水が分注された。これについての吸光度が汚染度測定
用測光装置（12）により測定される。測定されたA0は演
算装置（14）に送られ、予め設定されている許容限界値
Ａとの大小が判定される。 A0≦Ａと判断された反応測光セルはノズル（114）に
より乾燥操作が行われ、再び上記と同様に測定に供され
る。 一方、A0＞Ａのときは出力装置に該当する反応測光セ
ルの番号を出力して記憶装置（15）に記憶すると同時に
この反応測光セルを測定に使用しない旨の指示信号を制
御装置に送る。次いでこの反応測光セルは洗剤液供給ノ
ズル（13）により特別の洗剤（例えばクリーン99−Ｋ）
が供給され、この洗剤液を充填したまま反応ターンテー
ブル（３）を循環し他の反応測光セルの測定と並行して
この間に浸漬洗浄される。またこの反応測光セルに対し
ては制御装置からの信号に基づいてサンプラー（６）試
薬ノズル（７）（８）および測光手段（９）が作動しな
いよう制御され、これによって測定を中断することなく
汚染反応測光セルが測定からスキップされる。こうして
再び洗浄部（10）に送られて通常の洗浄をうけた後上記
と同様の洗浄確認が行われ、使用の可否が判断される。
もし汚染が除かれ測定使用可能となった反応測光セルに
ついては再び出力装置に該反応測光セルの番号を出力
し、記憶装置（15）の記憶を解除するとともに次の測定
に使用する指示を出し正常動作に復帰する。しかし依然
として汚染されていると判断された場合は、上記記憶が
解除されず再度サンプラー（６）、試薬ノズル（７）
（８）および測光手段（９）が作動しないよう制御され
る。 上記動作の制御例としては、例えば第３図に示すよう
なフローチャート図に従って制御されるものが挙げられ
る。 （ト）発明の効果 この発明によれば、洗浄後の反応管の汚染度が予め設
定されている許容限界値以下に押さえられるので、汚染
による測定誤差を殆ど生じない。また洗浄後の反応管の
再使用の適否を自動的に判断するとともに使用不可能と
判断された場合においても連続分析を中断することなく
測定ラインを循環中に反応管が洗浄できかつ洗浄により
再使用可能となった反応管は自動的に測定に組み入れら
れ、反応管取り替え、装置停止等の煩わしい操作が不要
となり分析が効率良く行われる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の自動分析装置の一例の構成説明図、
第２図は第１図の装置の洗浄ノズル部および洗浄供給ノ
ズルの一配設例の構成説明図、第３図はこの発明の装置
の制御の一例を示すフローチャート図である。 （２）……サンプルラック、 （３）……反応ターンテーブル、 （４）、（５）……試薬トレイ、（６）……サンプラ、 （７）、（８）……試薬ノズル、（９）……測光手段、 （10）……洗浄部、（11）……洗浄ノズル部、 （12）……汚染度測定用測光装置、 （13）……洗剤液供給ノズル、（14）……演算装置、 （15）……記憶装置、（31）……反応測光セル。
第２図は第１図の装置の洗浄ノズル部および洗浄供給ノ
ズルの一配設例の構成説明図、第３図はこの発明の装置
の制御の一例を示すフローチャート図である。 （２）……サンプルラック、 （３）……反応ターンテーブル、 （４）、（５）……試薬トレイ、（６）……サンプラ、 （７）、（８）……試薬ノズル、（９）……測光手段、 （10）……洗浄部、（11）……洗浄ノズル部、 （12）……汚染度測定用測光装置、 （13）……洗剤液供給ノズル、（14）……演算装置、 （15）……記憶装置、（31）……反応測光セル。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．被検試料搬送ラインと、試薬循環ラインと、測光
部、洗浄部を有し多数の反応管をこれらに循環する測定
ラインとからなり、被検試料搬送ラインと測定ラインと
の間に設置され被検試料を前記ラインの反応管に供給す
る試料供給手段と、試薬循環ラインと測定ラインとの間
に設置され試薬循環ライン上の試薬を測定ライン上の反
応管に分注する試薬分注手段とを備えてなり、測定後の
反応管を廃棄することなく循環使用し得るよう構成され
た反応管直接測光方式の自動分析装置であって、 洗浄部が洗浄手段、洗浄確認手段および洗剤液供給手段
を有しかつ洗浄確認手段が反応管の汚染度測定用測光部
と、該汚染度測定用測光部による洗浄後の反応管のブラ
ンク吸光度値A0と予め設定された許容限界値Ａとの大小
関係を演算し汚染の有無を判断する演算部とから構成さ
れてなり、 A0＞Ａの際の演算部からの汚染反応管検出信号に基づい
て該反応管へ洗剤液を供給しかつ該反応管への被検試料
および試薬の供給を停止するよう、洗剤液供給手段、試
料供給手段および試薬供給手段を制御する制御部とを備
え、この制御部は前記汚染反応管検出信号がA0≦Ａとな
らない限り、反応管への洗剤液供給・試料および試薬供
給停止の両動作を繰り返し継続させ、A0≦Ａとなった以
降は該反応管への洗剤液供給を停止して試料および試薬
供給を再開させるように制御することを特徴とする自動
分析装置。 ２．制御部は、A0＞Ａと判定された分析使用不可能な状
態にある反応管の個数を計数し、その数が予め設定され
た個数を越えた際には自動的に全分析操作を停止させる
ように制御する機能を付加したことを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61177286A JP2661017B2 (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61177286A JP2661017B2 (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6333662A JPS6333662A (ja) | 1988-02-13 |
| JP2661017B2 true JP2661017B2 (ja) | 1997-10-08 |
Family
ID=16028372
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61177286A Expired - Lifetime JP2661017B2 (ja) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2661017B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007064943A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Fujifilm Corp | 全反射減衰を利用した測定方法及び装置 |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07119770B2 (ja) * | 1988-02-18 | 1995-12-20 | 日本電子株式会社 | ランダムアクセス生化学自動分析装置 |
| JPH02287260A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-11-27 | Shimadzu Corp | 自動分析装置 |
| JP2786767B2 (ja) * | 1991-12-17 | 1998-08-13 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置および容器の汚染判定方法 |
| JP4861042B2 (ja) * | 2006-04-17 | 2012-01-25 | 株式会社日立ハイテクマニファクチャ＆サービス | 分光光度計 |
| JP2007333645A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Fujifilm Corp | スクリーニング方法、及び、スクリーニング装置 |
| JP2009014505A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Olympus Corp | 汚れ検出装置および分析装置 |
| JP2009085616A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Olympus Corp | 自動分析装置及び自動分析装置における液体試料の分注制御方法 |
| JP4966879B2 (ja) * | 2008-01-24 | 2012-07-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP2010160109A (ja) * | 2009-01-09 | 2010-07-22 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| JP2011149831A (ja) * | 2010-01-22 | 2011-08-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| WO2014171346A1 (ja) | 2013-04-18 | 2014-10-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP6289084B2 (ja) * | 2013-12-25 | 2018-03-07 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
| EP3101427B1 (en) * | 2014-01-29 | 2020-06-24 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device |
| JP6970152B2 (ja) * | 2018-10-04 | 2021-11-24 | 日東電工株式会社 | 耐熱離型シート及び熱圧着方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59182347A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-17 | Shimadzu Corp | 自動分析装置 |
| JP2510152B2 (ja) * | 1985-11-19 | 1996-06-26 | オリンパス光学工業株式会社 | 自動分析装置 |
-
1986
- 1986-07-28 JP JP61177286A patent/JP2661017B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007064943A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Fujifilm Corp | 全反射減衰を利用した測定方法及び装置 |
| US7838301B2 (en) | 2005-09-02 | 2010-11-23 | Fujifilm Corporation | Method and apparatus for assay in utilizing attenuated total reflection |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6333662A (ja) | 1988-02-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2661017B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| JP2595063B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| CN104024867B (zh) | 自动分析装置和试样分注探针清洗方法 | |
| US4754414A (en) | Reagent managing system | |
| CA2021054A1 (en) | Method and apparatus for automatically analyzing a plurality of test items | |
| JP2000146987A (ja) | 自動分析装置及び自動分析方法 | |
| WO2001051929A1 (fr) | Analyseur automatique et dispositif de transfert de portoir | |
| JP2008281454A (ja) | 自動分析装置 | |
| JP2010048695A (ja) | 自動分析装置および恒温槽安定化方法 | |
| JP2009036723A (ja) | 自動分析装置および動作環境設定方法 | |
| CN116848416A (zh) | 自动分析装置 | |
| JP6928712B2 (ja) | 自動分析装置 | |
| JP2019178938A (ja) | 自動分析装置および自動分析方法 | |
| US20190369130A1 (en) | Automatic Analyzer | |
| EP0683431A1 (en) | Automatic developing apparatus for developing a photosensitive material | |
| JP2001228160A (ja) | 自動分析装置 | |
| JP3344178B2 (ja) | 自動化学分析装置 | |
| JP2786767B2 (ja) | 自動分析装置および容器の汚染判定方法 | |
| JPH08313538A (ja) | 自動分析装置 | |
| JPH06100607B2 (ja) | 自動化学分析装置 | |
| JP2002296284A (ja) | 自動分析装置 | |
| JPH10154681A (ja) | 基板浸漬処理装置 | |
| JPH07280816A (ja) | 自動分析装置 | |
| JPH07120475A (ja) | 分析装置および洗浄水供給装置 | |
| JP7229060B2 (ja) | 自動分析装置 |